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JPH0697518B2 - 光ヘツド装置 - Google Patents

光ヘツド装置

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Publication number
JPH0697518B2
JPH0697518B2 JP62061725A JP6172587A JPH0697518B2 JP H0697518 B2 JPH0697518 B2 JP H0697518B2 JP 62061725 A JP62061725 A JP 62061725A JP 6172587 A JP6172587 A JP 6172587A JP H0697518 B2 JPH0697518 B2 JP H0697518B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
lens
photodetector
grating lens
grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62061725A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63228429A (ja
Inventor
雄三 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP62061725A priority Critical patent/JPH0697518B2/ja
Priority to EP87119014A priority patent/EP0273356B1/en
Priority to DE8787119014T priority patent/DE3778670D1/de
Publication of JPS63228429A publication Critical patent/JPS63228429A/ja
Priority to US07/968,477 priority patent/US5270996A/en
Publication of JPH0697518B2 publication Critical patent/JPH0697518B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Optical Head (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、いわゆる書換え型(E-DRAW)の光磁気ディ
スク装置の記録、再生に用いる光ヘッド装置に関する。
(従来の技術) 光磁気ディスクの従来の光ヘッド装置を第2図に示す。
光源である半導体レーザ1の放射光2は、コリメーティ
ングレンズ3でコリメート光4に変換され、ビームスプ
リッタ5を透過し、全反射プリズム6で全反射されて光
路を90゜折り曲げ、収束レンズ7でディスク面8に収束
される。光ディスク面からの反射光は逆の経路でビーム
スプリッタ5で反射される。反射された光はレンズ9で
収束光に変換され、偏光ビームスプリッタ10で互いに直
交する偏光の透過光11と反射光12に分割される。透過光
11は2分割光検出器13に入射し、光検出素子14と15の差
信号でプッシュプル法によるトラック誤差信号を得る。
一方、反射光12は、円筒レンズ16により非点収差波面と
なり、4分割光検出器17により、非点収差法によるフォ
ーカス誤差信号を得る。すなわち、光検出素子18,19,2
0,21の出力電圧を各々V(18),V(19),V(20),V(2
1)とすると、フォーカス誤差信号はV(18)+V(2
0)−V(19)−V(21)で得られる。RF信号は偏光ビ
ームスプリッタ10で分割した直交する偏光強度の差信号
として得られるので、光検出素子14,15の出力電圧を各
々V(14),V(15)とするとRF信号はV(14)+V(1
5)−V(18)−V(19)−V(20)−V(21)とな
る。第2図は従来例では、ビームスプリッタ5は非偏光
型なので、半導体レーザ1の偏光面を光学系の配置基板
に対して45゜に設定することで、偏光ビームスプリッタ
10の分割ビームを光学系の配置基板と平行にできるが、
ビームスプリッタ5の光利用効率が低い、しかしビーム
スプリッタ5を偏光型とすると偏光方向が制約されるの
で、光学系の配置基板内に光学系を配置するためにビー
ムスプリッタ5とレンズ9の間に1/2波長板を挿入して
偏光面を回転する方法がとられる。
(発明解決しようとする問題点) 上述した従来の光ヘッド装置は、実用化されているもの
でも大きさが40×40×30mm2程度以上あり、従って重量
も重く光ディスク全体を小型化、軽量化の障害となって
いた。
また、トラッキング誤差検出にブッシュプル法を採用し
ているため、トラック誤差信号にもとづき収束レンズ8
をアクチュエータ(図示せず)で光軸に垂直な方向に動
かした場合、収束レンズの光軸と、トラッキング誤差検
出用の2分割検出器の分割線にずれが生じ、光検出素子
12と13への入射光量がアンバラスになる。この結果、ト
ラッキング誤差信号に直流オフセットが発生し、トラッ
キング誤差制御の制御範囲が狭くなるという欠点を有し
ていた。又、RF信号、フォーカス誤差信号、トラック誤
差信号の間の干渉があり、サーボが不安定になるという
問題もあった。
さらに、上述した従来の光ヘッドは光学研磨が必要な光
学部品を多数使用することから調整が大変でコスト高に
なるという欠点を有していた。
本発明の目的は、上記欠点を解消して、小型かつ低価格
な光ヘッド装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明の光ヘッド装置は、光源と前記光源からの光を記
録媒体上に絞り込む結像レンズ系と、前記記録媒体から
の反射光を前記結像レンズ系の光軸外に取り出すビーム
スプリッタと、異なる特性の複数領域から成る格子レン
ズと、偏光プリズムと、受光面を複数に分割された光検
出器とから構成され、前記格子レンズは、前記ビームス
プリッタを経てきた前記記録媒体からの反射光を前記領
域ごとに回折して、1次回折光を前記光検出器の第1群
の光検出素子に導くように配置され、前記偏光プリズム
は、前記格子レンズからの0次回折光を互いに直交する
2つの偏光に分離して、前記光検出器の第2群の光検出
素子に導くようにしたことを特徴とする光ヘッド装置で
ある。
(作用) 本発明の作用・原理は次の通りである。本発明の光ヘッ
ド装置では、受光系用光学系を軽量・簡略化するために
格子レンズを用いる。格子レンズには、1次回折光の他
に格子レンズを直接透過した0次回折光がある。そこで
この0次回折光を受光してRF信号を得る。さらに本発明
では、1次回折光でフォーカス誤差信号を取り出すため
に、格子レンズを特性の異なる領域に分割することによ
り、その境界線を従来の光ヘッド装置におけるナイフエ
ッジと等価な作用をさせている。
また、トラッキング誤差信号を取り出すためにコリメー
ティングレンズの光軸と格子レンズが交わる点を中心と
してわずかに離れた、異なる格子方向を有する2つの領
域を格子レンズに形成しておくことにより、この2つの
領域からの回折光強度比較することでプッシュプル法を
原理によりトラッキング誤差信号を得ることができる。
すなわち、格子レンズに入射光をRF信号光とフォーカス
誤差信号光とトラッキング誤差検出光とに分割するビー
ムスプリッタ機能を持たさせている。
(実施例) 次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の基本構成を示す斜視図
である。光源1の放射光2は、ビームスプリッタ5を透
過し、コリメーティングレンズ3でコリメート光4に変
換され、全反射プリズム6で全反射されて光路を90゜折
り曲げ、収束レンズ7で光ディスク面8に収束される。
光ディスク面からの反射光は、逆の経路でもどり、コリ
メーティングレンズ3で収束光に変換され、ビームスプ
リッタ5で反射される。反射された光は格子レンズ22に
より回折され、8分割光検出24上の6個の光検出素子か
ら成る第1群光検出素子に入射する。0次回折光は偏光
プリズム23により直交する2つの偏光光に分割され、2
個の光検出素子から成る第2群光検出素子に入射する。
第3図は、第1図の格子レンズ22と8分割光検出器24と
の関係を説明するための部分斜視図である。第3図で
は、格子レンズ内の分割領域とトラックとの方向関係を
示すため省略線25を介して収束レンズ8とディスク面9
を同時に示してある。
格子レンズ22は、4つの格子レンズ領域から成り、コリ
メーティングレンズ3の光軸と交わる線35を境に焦点距
離と回折方向の異なるA領域格子レンズ(第1の領域)
36とB領域格子レンズ(第2の領域)37に分けられ、さ
らに、分割線35上にはA領域格子レンズ36、及びB領域
格子レンズ37と焦点距離、回折方向の異なるC領域格子
レンズ(第3の領域)38、D領域格子レンズ(第4の領
域)39がそれぞれ形成されている。A領域格子レンズ36
は0次回折光59の収束点から発散する球面波と8分割光
検出器24の分割線上の点40から発散する球面波との干渉
縞に相当する格子パターンを持っている。B領域格子レ
ンズ37は0次回折光59の収束点から発散する球面波と8
分割光検出器24の分割線上の点41から発散する球面波と
の干渉縞に相当する格子パターンを持っている。C領域
格子レンズ38は0次回折光59の収束点から発散する球面
波と、8分割光検出器の光検出素子230上の点42から発
散する球面波との干渉縞に相当するパターンを持ってい
る。D領域格子レンズ39は0次回折光59の収束点から発
散する球面波と、8分割光検出器の光検出素子29上の点
43から発散する球面波との干渉縞に相当するパターンを
持っている。
第3図では格子のピッチは配置をわかりやすくするため
に実際より大きく書いてある。このような格子レンズ22
を用いているのでディスク面8から反射して格子レンズ
に入射する光は、回折光55,56,26及び27として8分割光
検出器上の点40,41,42及び43に各々収束到達する。又、
回折を受けなかった0次回折光59は、偏光プリズム23で
直交する2つの偏光光に分割され、8分割光検出器24上
の光検出素子57,58にに収束到達する。RF信号は光検出
素子57,58の差信号として得られる。
第4図は8分割光検出器24の中央部の6分割光検出素子
上の回折光の状態を説明するための図である。第4図
(a)はディスク面8上にビームが収束している合焦状
態を示す図、A領域格子レンズ36からの回折光55および
B領域格子レンズ37からの回折光56は8分割光検出器24
の第1分割線44上に、第2分割線45をはさんで各々収束
する。第4図(b)はディスク面8が変位して収束レン
ズ7から遠ざかったデフォーカス状態の回折光を示す図
である。回折光55,56は8分割光検出器24の光検出素子3
3および光検出素子32にそれぞれ入射し、光検出素子31
および光検出素子34には入射しない。
第4図(c)はディスク面8が変位して収束レンズ7に
近づいたデフォーカス状態の回折光を示す図である。回
折光55,56は8分割光検出器24の光検出素子31と光検出
素子34にそれぞれ入射し、光検出素子33と光検出素子32
には入射しない。したがって、8分割光検出器24の中央
の4光検出素子31,32,33,34の出力をS1,S2,S3,S4とすれ
ば、焦点誤差信号は(S1+S4)−(S2+S3)から得られ
る。
一方、トラッキング誤差信号は、ディスク面8上の絞り
込みスポットがトラックの中心がずれるともどり光の強
度分布がアンバランスになることを利用する。格子レン
ズ22のC領域格子レンズ38の中心とD領域格子レンズ39
の中心を結ぶ線が収束レンズの光軸と格子レンズが交わ
る点を含み、かつ、ディスクのトラッキング誤差方向と
平行になるようにしておく。トラック誤差が発生すると
C領域格子レンズ38に入射する光量とD領域格子レンズ
39に入射する光量に差が生じる。この光量差は、2つの
光検出器29,30の出力差として検出することができ、こ
の信号の正負により、トラッキング誤差方向も検知する
ことができる。
回折素子である格子レンズを用いたフォーカス誤差検
出、トラッキング誤差検出では、半導体レーザの波長が
変動すると回折角が変化し、光検出器上の回折光の位置
ずれが生じるため、光源である半導体レーザの発振波長
変動に対する対策が必要であるが、本発明ではこの点に
関して次のような解決策が講じられている。8分割光検
出器24では、第1分割線44に平行な方向、及び直交する
方向の2方向に分けて考察する。第1分割線44に平行な
方向の位置変動について第2分割線45を越えるか、又は
光検出器からはずれない限り問題はない。第1分割線に
直交する方向の位置変動について8分割光検出器24の中
央の4光検出素子31,32,33,34の出力が変化するので注
意が必要であるが、本発明の格子レンズA,B領域は、こ
の方向の空間周波数をほとんど持たないので、この方向
の回折光の位置変動は無視できる。
また、トラッキング誤差を検出する光検出器29,30に関
しては、回折光が各光検出器の中心に入射するようにで
きるので、半導体レーザの波長が変動して問題は無い。
トラッキング誤差検出方式としてプッシュプル方式を採
用し、誤差修正のために収束レンズを動かす方法では、
誤差検出側の光学系の光軸とレンズ側の光軸にずれが生
じ、トラック誤差検出用光検出器への入射光量差が発生
するため誤差信号にオフセットが生じる。この問題点を
解決するために、本発明では次のような対策を講じてい
る。C領域、D領域の格子レンズ38,39は、光軸につい
て対称で等しい面積に入射する光を検出するように配置
されている。したがって、誤差検出系光軸に対して収束
レンズ光軸がトラックに垂直方向にずれた場合もC領
域、D領域の格子レンズ38,39には入射する光量に変化
はなく、トラック誤差オフセットの発生は抑制される。
第5図は本発明の第2の実施例に用いる格子レンズ28を
示す図である。
第1の実施例では8分割光検出器24の第1分割線44はデ
ィスクトラック方向と垂直であるが、本実施例では、8
分割光検出器24の第1分割線44はディスクのトラック方
向と平行に配置され、そのためにC領域、D領域格子レ
ンズ38,39は格子レンズ28の分割線35をはさんで両側に
配置されている。
8分割光検出器24の配置は、格子レンズへの入射光の光
軸を中心にして、第1の実施例で示した配置から、格子
レンズ22の分割線35と共に任意の角度だけ回転させた配
置ももちろん可能である。さらに、トラック誤差検出用
の光検出器29,30の配置は、C領域格子レンズ38からの
回折光24とD領域格子レンズ39からの回折光25を分離し
て独立に検出できれば任意にすることができる。第6図
は、本発明の第3の実施例に用いる格子レンズ60を示す
図である。光学系の構成は、第1図(詳細は第3図)と
同じであるので省略する。格子レンズ60は、2つの境界
線61と62により4つの領域に分割されており、第1の実
施例のA,B,C,D領域に相当するのが各63,64,65,66であ
る。したがってトラック方向を図に示す67の矢印方向に
設定することで、第1の実施例と同じ動作が得られる。
(発明の効果) 本発明の光ヘッド装置は受光系部分の光学部品が格子レ
ンズと偏光プリズムだけでよく、これまで多数の部品を
使っていた光ヘッド装置の部品を大幅に削減することが
可能であり、これまで光ディスク装置全体の小型化のネ
ックとなっていた光ヘッドのサイズを縮小することが可
能となる。また本発明に用いる格子レンズは表面凹凸型
の素子であるので、金型を作製すれば熱プレス法、ある
いはフォトポリマー法等によりレプリカが容易に得られ
るので、安価に量産することができる。又、本発明で
は、トラッキング信号を得るための領域(C,D領域)を
設けているので、上で説明したように収束レンズの移動
によるトラックオフセットが生じない。さらに、本発明
では、RF信号と誤差信号は、格子レンズをビームスプリ
ッタとして分離されているので、信号間干渉が小さくサ
ーボを安定である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1の実施例を示す斜視図、第2図
は、従来の光ヘッド装置の一例を示す斜視図、第3図
は、第1の実施例の部分斜視図、第4図は、8分割光検
出器上の回折光の状態を説明するための図、第5図及び
第6図は、各々本発明の第2及び第3の実施例に用いる
格子レンズを示す図である。 1……半導体レーザ、2……放射ビーム 3……コリメーティングレンズ、 4……コリメートビーム 5……ビームスプリッタ、6……全反射プリズム 7……収束レンズ、8……光ディスク面 9……レンズ、10……偏光 11……透過光、12……反射光 13,17……2分割光検出器、 14,15,18,19,20,21,29,30,31,32,33,34,5758……光検出
素子 16……円筒レンズ、 22,28,36,37,38,39,60,63,64,65,66……格子レンズ 23……偏光プリズム、24……8分割光検出器 25……省略線、26,27,55,56……回折光 35,61,62……境界線、40,41,42,43,57,58……収束点 44……第1分割線、45……第2分割線 59……0次回折光

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源と前記光源からの光を記録媒体上に絞
    り込む結像レンズ系と、前記記録媒体からの反射光を前
    記結像レンズ系の光軸外に取り出すビームスプリッタ
    と、異なる特性の複数領域から成る格子レンズと、偏光
    プリズムと、受光面を複数に分割して複数の光検出素子
    群として構成した光検出器とから構成され、前記格子レ
    ンズは、前記ビームスプリッタを経てきた前記記録媒体
    からの反射光を前記領域ごとに回折して、1次回折光を
    前記光検出器の第1群の光検出素子に導くように配置さ
    れ、前記偏光プリズムは、前記格子レンズからの0次回
    折光を互いに直交する2つの偏光に分離して、前記光検
    出器の第2群の光検出素子に導くようにしたことを特徴
    とする光ヘッド装置。
JP62061725A 1986-12-25 1987-03-16 光ヘツド装置 Expired - Lifetime JPH0697518B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62061725A JPH0697518B2 (ja) 1987-03-16 1987-03-16 光ヘツド装置
EP87119014A EP0273356B1 (en) 1986-12-25 1987-12-22 An optical head
DE8787119014T DE3778670D1 (de) 1986-12-25 1987-12-22 Optischer kopf.
US07/968,477 US5270996A (en) 1986-12-25 1992-10-29 Optical head with diffraction grating producing five diffracted detection light beams

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62061725A JPH0697518B2 (ja) 1987-03-16 1987-03-16 光ヘツド装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63228429A JPS63228429A (ja) 1988-09-22
JPH0697518B2 true JPH0697518B2 (ja) 1994-11-30

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JP62061725A Expired - Lifetime JPH0697518B2 (ja) 1986-12-25 1987-03-16 光ヘツド装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02101640A (ja) * 1988-10-07 1990-04-13 Nec Corp 光ヘッド装置
US5315574A (en) * 1988-10-28 1994-05-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head with polarized beam hologram

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JPS63228429A (ja) 1988-09-22

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