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JPH0684985A - Transfer mold - Google Patents

Transfer mold

Info

Publication number
JPH0684985A
JPH0684985A JP23078292A JP23078292A JPH0684985A JP H0684985 A JPH0684985 A JP H0684985A JP 23078292 A JP23078292 A JP 23078292A JP 23078292 A JP23078292 A JP 23078292A JP H0684985 A JPH0684985 A JP H0684985A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
eject pin
die
lower die
cull
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23078292A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirofumi Uchida
浩文 内田
Kazuya Fujita
和弥 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP23078292A priority Critical patent/JPH0684985A/en
Publication of JPH0684985A publication Critical patent/JPH0684985A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • B29C45/27Sprue channels ; Runner channels or runner nozzles
    • B29C45/2701Details not specific to hot or cold runner channels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent flow of a foreign matter such as resin flash to a photoreceiving surface of an optical semiconductor device at the time of molding. CONSTITUTION:A transfer mold for an optical semiconductor comprises ejector pins 106a, 107a of a cull and a runner disposed on protrusions 110, 110a not on a way for mainly feeding resin. Thus, an imaging malfunction of an optical semiconductor device at the time of molding is reduced to improve its yield.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、特に、光学半導体装置
の金型として有効なトランスファモ−ルド金型に関する
ものであり、主として光学半導体の透明樹脂によるモ−
ルド成型技術の分野において利用されるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer mold which is particularly effective as a mold for an optical semiconductor device, and is mainly made of a transparent resin for an optical semiconductor.
It is used in the field of molding technology.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光学半導体用トランスファモ−ル
ド金型は、上金型、下金型より構成され、それぞれの平
面図を図11(a)、(b)に示す。金型平面図に示す
ように下金型カル部エジェクトピン206a、下金型ラ
ンナ−部エジェクトピン207aが、下金型カル部20
6および下金型ランナ−部207に、また、上金型ラン
ナ−部エジェクトピン213aが上金型ランナ−部に、
それぞれ、主に樹脂が流動する筋道に配置されている。
なお、208はキャビティ、208aはキャビティ部エ
ジェクトピン、209はゲ−トである。
2. Description of the Related Art A conventional transfer mold for an optical semiconductor is composed of an upper mold and a lower mold, and plan views thereof are shown in FIGS. 11 (a) and 11 (b). As shown in the plan view of the die, the lower die cull portion eject pin 206a and the lower die runner portion eject pin 207a are connected to the lower die cull portion 20.
6 and the lower die runner portion 207, and the upper die runner portion eject pin 213a in the upper die runner portion,
Each of them is arranged mainly in the flow path of the resin.
Reference numeral 208 is a cavity, 208a is a cavity eject pin, and 209 is a gate.

【0003】図12から図18までは従来の上下金型断
面図及び工程概略図である。以下、従来の光学半導体装
置のトランスファモ−ルド成型工程について詳述する。
12 to 18 are a sectional view and a schematic view of steps of a conventional upper and lower molds. Hereinafter, a conventional transfer mold molding process of an optical semiconductor device will be described in detail.

【0004】まず、型開きの状態での上下金型の構成を
図12について説明する。上金型212の上金型エジェ
クトピン213aは上金型エジェクトピンプレ−ト21
2aに固定されており、エジェクトピンプレ−トごとバ
ネ212bにより下方に押し下げられている。従って、
型開きの状態では、上金型エジェクトピン213aは上
金型パ−ティング面213より突き出ている。下金型2
11の下金型カル部エジェクトピン206a、及び、下
金型ランナ−部エジェクトピン207aは、下金型エジ
ェクトピンプレ−ト211aに固定されているが、バネ
は入っておらず、型開きの状態では下金型カル部20
6、下金型ランナ−部207底面から突き出ていない。
First, the structure of the upper and lower molds in the mold open state will be described with reference to FIG. The upper die eject pin 213a of the upper die 212 is the upper die eject pin plate 21.
It is fixed to 2a and is pushed down by a spring 212b together with the eject pin plate. Therefore,
In the mold open state, the upper mold eject pin 213a projects from the upper mold parting surface 213. Lower mold 2
Although the lower die cull portion eject pin 206a and the lower die runner portion eject pin 207a of 11 are fixed to the lower die eject pin plate 211a, they do not have any springs and are not opened. In the state, the lower mold cull part 20
6. The lower die runner portion 207 does not protrude from the bottom surface.

【0005】次に、図13で示すように型締めすること
により、上金型エジェクトピン柱213bが下金型パ−
ティング面214に接地するためエジェクトピンプレ−
ト212aごと持ち上がる。従って型締めの状態では、
上金型エジェクトピン213aは上金型パ−ティング面
213と同一面まで引っ込む。下金型カル部エジェクト
ピン206a、及び、下金型ランナ−部エジェクトピン
207aは型開き状態と変わらず、下金型カル部20
6、及び、下金型ランナ−部207底より突き出ていな
い。
Next, as shown in FIG. 13, by clamping the mold, the upper mold eject pin column 213b is moved to the lower mold part.
Eject pin plate for grounding to the mounting surface 214
It is lifted together with the door 212a. Therefore, in the mold clamped state,
The upper die eject pin 213a is retracted to the same surface as the upper die parting surface 213. The lower die cull portion eject pin 206a and the lower die runner portion eject pin 207a are the same as in the mold open state.
6 and the lower die runner portion 207 does not protrude from the bottom.

【0006】図14、図15で示すように、型締め状態
のポット部215から透明樹脂タブレット216を投入
しトランスファ217により、ランナ−、ゲ−ト、キャ
ビティの隅々まで注入され、一定時間型締めキュアを行
った後、型開きを行う。図16で示すように、上金型エ
ジェクトピン213aは、バネ212bにより上金型エ
ジェクトピンプレ−ト212aごと押し下げられ、上金
型パ−ティング面213より突き出る。その結果、成型
品218と上金型212との離型が行われる。最後に、
図17で示すように、下金型カル部エジェクトピン20
6a、及び、下金型ランナ−部エジェクトピン207a
を下金型エジェクトピンプレ−ト211aごと油圧機構
219により持ち上げ、成型品218を下金型211よ
り突き上げて離型される。図18で示すように、成型品
218を取り除いた後は、油圧を解除し下金型カル部エ
ジェクトピン206a、及び、下金型ランナ−部エジェ
クトピン207aを元の位置まで下げ、圧縮空気による
エアブロ−にて金型表面に付着している樹脂バリを除去
する。
As shown in FIGS. 14 and 15, a transparent resin tablet 216 is put in from the pot portion 215 in the mold clamped state, and is poured into the runner, gate, and every corner of the cavity by the transfer 217, and the mold is held for a certain period of time. After tightening and curing, the mold is opened. As shown in FIG. 16, the upper mold eject pin 213a is pushed down by the spring 212b together with the upper mold eject pin plate 212a and protrudes from the upper mold parting surface 213. As a result, the molded product 218 and the upper die 212 are released from each other. Finally,
As shown in FIG. 17, the lower die cull portion eject pin 20
6a and lower die runner-section eject pin 207a
Is lifted by the hydraulic mechanism 219 together with the lower die eject pin plate 211a, and the molded product 218 is pushed up from the lower die 211 and released. As shown in FIG. 18, after the molded product 218 is removed, the hydraulic pressure is released, and the lower die cull portion eject pin 206a and the lower die runner portion eject pin 207a are lowered to the original position and compressed air is used. Remove the resin burr adhering to the mold surface with an air blower.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】これら一連のモ−ルド
成型工程において、図11に示す従来金型を使用した場
合、型締め時に上金型ランナ−直上に設けられたエジェ
クトピン213aとエジェクトピン穴内壁の隙間から樹
脂バリが押し出され、熔融樹脂に巻き込まれてゲ−ト2
09を通りキャビティ208内へ流入してしまう。ま
た、下金型カル部206、下金型ランナ−部207につ
いても同様、前ショットの下金型カル部エジェクトピン
206a、あるいは、下金型ランナ−部エジェクトピン
207a動作時にエジェクトピンとエジェクトピン穴内
壁の隙間から押し出された樹脂バリをエアブロ−で充分
除去できていないと、熔融樹脂にまきこまれてゲ−ト2
09を通りキャビティ208へ流入してしまう。
In the series of molding processes, when the conventional mold shown in FIG. 11 is used, the eject pin 213a and the eject pin 213a provided right above the upper mold runner at the time of mold clamping are used. The resin burr is extruded from the gap of the inner wall of the hole, and is caught in the molten resin to form the gate 2
It will flow into the cavity 208 through 09. Similarly, for the lower die cull portion 206 and the lower die runner portion 207, the eject pin 206a for the lower die cull portion of the previous shot, or the eject pin and the eject pin hole when the lower die runner portion eject pin 207a operates. If the resin burr extruded from the gap of the inner wall cannot be removed sufficiently with an air blower, it will be caught in the molten resin and the gate 2
It passes through 09 and flows into the cavity 208.

【0008】その結果、キャビティ208へ流入した樹
脂バリは、光学チップ受光面上へ流れ込む可能性が非常
に大きく、そのまま硬化すると撮像テスト時に黒キズ不
良となり歩留まりを低下させるという問題があった。
As a result, the resin burr which has flowed into the cavity 208 has a very high possibility of flowing into the light receiving surface of the optical chip, and if it is cured as it is, there is a problem that black defects occur in the imaging test and the yield is reduced.

【0009】なお、上下金型のキャビティ部エジェクト
ピン208a穴内壁からも、同様に樹脂バリが発生する
が、この樹脂バリはゲ−ト209から注入される熔融樹
脂によりキャビティ208の隅に流され硬化するため問
題とならない。
A resin burr is also generated from the inner wall of the cavity eject pin 208a of the upper and lower molds, but this resin burr is made to flow to the corner of the cavity 208 by the molten resin injected from the gate 209. There is no problem as it hardens.

【0010】本発明は、この従来金型における上記問題
点を解決したトランスファモ−ルド金型を提供するもの
である。
The present invention provides a transfer mold which solves the above problems in the conventional mold.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】従来金型ではカル部、ラ
ンナ−部の主に樹脂が流動する筋道に配置していたエジ
ェクトピンを、カル部、ランナ−部にエジェクトピンを
配置できるだけの突起部を設け、その突起部で成型品を
エジェクトするように金型を改良する。
[Means for Solving the Problems] In the conventional die, the eject pin which has been arranged in the cull portion and the runner portion mainly in the passage through which the resin flows is replaced by a protrusion capable of disposing the eject pin in the cull portion and the runner portion. Parts are provided and the mold is improved so that the protrusions eject the molded product.

【0012】すなわち、本発明はカル部、ランナ−部及
びキャビティ部を有すると共に、樹脂成型品との離型を
補助するエジェクトピンを有するトランスファモ−ルド
金型において、上記カル部及びランナ−部に突起部を設
け、該突起部に上記エジェクトピンを配置させる構成と
したことを特徴とするトランスファモ−ルド金型による
ものである。
That is, the present invention provides a transfer mold having a cull portion, a runner portion, and a cavity portion, and an eject pin for assisting the mold release from a resin molded product. The transfer mold is characterized in that a projecting portion is provided on the base plate and the eject pin is arranged on the projecting portion.

【0013】[0013]

【作用】本発明によるトランスファモ−ルド金型によれ
ば、熔融樹脂がカル部、ランナ−部を通過しても、エジ
ェクトピンが、熔融樹脂が主に流動する筋道になく、カ
ル部、ランナ−部に設けた突起部にあるためエジェクト
ピン内壁から発生した樹脂バリは該突起部で滞留し、キ
ャビティ部の光学チップ受光面上へ流入しない。
According to the transfer mold of the present invention, even when the molten resin passes through the cull portion and the runner portion, the eject pin does not exist in the passage in which the molten resin mainly flows and the cull portion and the runner portion are not present. The resin burr generated from the inner wall of the eject pin stays at the protrusion because it is on the protrusion provided at the minus portion, and does not flow onto the light receiving surface of the optical chip of the cavity.

【0014】[0014]

【実施例】光学半導体装置の製造工程のアセンブリ−フ
ロ−チャ−トを図2に、トランスファモ−ルド金型にて
成型された光学半導体装置の断面図を図3に示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 2 shows an assembly flow chart of a manufacturing process of an optical semiconductor device, and FIG. 3 is a sectional view of an optical semiconductor device molded by a transfer mold.

【0015】以下、アセンブリ−フロ−チャ−トに基づ
いて、本発明の実施例を詳細に説明する。
The embodiments of the present invention will be described in detail below based on the assembly flow chart.

【0016】まず、所望のパタ−ンが形成されたウエハ
−をダイシングし(図示せず)、チップ1状態にする
(ステップT1)。
First, the wafer on which a desired pattern is formed is diced (not shown) to be in the chip 1 state (step T1).

【0017】次に、切り離されたチップ1をダイボンド
接着剤を用いてリ−ドフレ−ム2にダイボンディングを
行う(ステップT2)。
Next, the separated chip 1 is die-bonded to the lead frame 2 using a die-bonding adhesive (step T2).

【0018】ダイボンディングされたリ−ドフレ−ム2
に、Auワイヤ−3をボンディングする(ステップT
3)。
Die-bonded lead frame 2
Then, the Au wire-3 is bonded (step T
3).

【0019】ダイボンド及びワイヤ−ボンドされたリ−
ドフレ−ム2を洗浄し、チップやリ−ドフレ−ムに付着
した異物を除去する(ステップT4)。
Die-bonded and wire-bonded releas
The dray frame 2 is washed to remove foreign matters adhering to the chips and the lead frame (step T4).

【0020】リ−ドフレ−ム2を洗浄した後、トランス
ファモ−ルド金型を使用し、透明モ−ルド樹脂4にてモ
−ルド成型を行う(ステップT5)。
After washing the lead frame 2, a transfer mold is used to mold the transparent mold resin 4 (step T5).

【0021】そして、モ−ルド成型(ステップT5)し
た後は、成型パッケ−ジの裏面に社名や製造番号をマ−
クする(ステップT6)。マ−クが終了したら、リ−ド
5を所定の寸法に切断し折り曲げるフォ−ミングを行う
(ステップT7)。フォ−ミングが終了したら、電気特
性および撮像特性が仕様に適合しているか否かをテスト
し(ステップT8)光学半導体装置が完成する。ただ
し、撮像テスト時に、光学チップ受光面上4aに樹脂バ
リ等の異物が存在すると、黒キズ不良となる。
After molding (step T5), the company name and serial number are marked on the back surface of the molding package.
(Step T6). When the marking is completed, the lead 5 is cut into a predetermined size and bent (step T7). When the forming is completed, it is tested whether or not the electrical characteristics and the imaging characteristics meet the specifications (step T8), and the optical semiconductor device is completed. However, if a foreign matter such as a resin burr is present on the light receiving surface 4a of the optical chip during the image pickup test, a black defect occurs.

【0022】以下、本発明の金型を使用するモ−ルド成
型工程(ステップT5)について詳述する。
The mold molding process (step T5) using the mold of the present invention will be described in detail below.

【0023】本実施例での光学半導体用トランスファモ
−ルド金型は、上金型、下金型より構成され、それぞれ
の平面図を図1(a)、(b)に示す。
The transfer mold for optical semiconductors in this embodiment is composed of an upper mold and a lower mold, and plan views thereof are shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b).

【0024】金型平面図に示すように下金型カル部エジ
ェクトピン106a、下金型ランナ−部エジェクトピン
107aを、下金型カル部106および下金型ランナ−
部107に設けた突起部110、110aに設け、ま
た、上金型のランナ−部エジェクトピン113aを、上
金型ランナ−部に設けた突起部110bに設け、突起部
110、110a、110bで成型品をエジェクトする
ように上下金型は改良されている。突起部110、11
0a、110bは主に樹脂が流動する筋道に配置されて
いない。なお、108はキャビティ、108aはキャビ
ティ部エジェクトピン、109はゲ−トである。
As shown in the plan view of the die, the lower die cull portion eject pin 106a and the lower die runner portion eject pin 107a are connected to the lower die cull portion 106 and the lower die runner.
The protrusion pins 110, 110a provided on the portion 107, and the runner portion eject pin 113a of the upper die are provided on the protrusion portion 110b provided on the upper die runner portion. The upper and lower molds have been modified to eject molded products. Protrusions 110 and 11
0a and 110b are not mainly arranged in the flow path through which the resin flows. Reference numeral 108 is a cavity, reference numeral 108a is a cavity portion eject pin, and reference numeral 109 is a gate.

【0025】図4から図10までは本発明の上下金型断
面図及びトランスファモ−ルド工程概略図である。以
下、光学半導体装置のトランスファモ−ルド成型工程に
ついて詳述する。
4 to 10 are a sectional view of the upper and lower molds of the present invention and a schematic view of the transfer molding process. Hereinafter, the transfer molding process of the optical semiconductor device will be described in detail.

【0026】まず、型開きの状態での上下金型の構成を
図4について説明する。上金型112の上金型エジェク
トピン113aは上金型エジェクトピンプレ−ト112
aに固定されており、エジェクトピンプレ−トごとバネ
112bにより下方に押し下げられている。従って、型
開きの状態では、上金型エジェクトピン113aは上金
型パ−ティング面113より突き出ている。下金型11
1の下金型カル部エジェクトピン106a、及び、下金
型ランナ−部エジェクトピン107aは、下金型エジェ
クトピンプレ−ト111aに固定されているが、バネは
入っておらず、型開きの状態では下金型カル部106、
下金型ランナ−部107底面から突き出ていない。
First, the structure of the upper and lower molds in the mold open state will be described with reference to FIG. The upper die eject pin 113a of the upper die 112 is the upper die eject pin plate 112.
It is fixed to a and is pushed down by the spring 112b together with the eject pin plate. Therefore, in the mold open state, the upper mold eject pin 113a projects from the upper mold parting surface 113. Lower mold 11
The lower die cull portion eject pin 106a and the lower die runner portion eject pin 107a of 1 are fixed to the lower die eject pin plate 111a, but no spring is inserted and the die opening In the state, the lower mold cull portion 106,
It does not protrude from the bottom surface of the lower die runner portion 107.

【0027】次に、図5で示すように型締めすることに
より、上金型エジェクトピン柱113bが下金型パ−テ
ィング面114に接地するため上金型エジェクトピンプ
レ−ト112aごと持ち上がる。従って型締めの状態で
は、上金型エジェクトピン113aは上金型パ−ティン
グ面113と同一面まで引っ込む。下金型カル部エジェ
クトピン106a、及び、下金型ランナ−部エジェクト
ピン107aは型開き状態と変わらず、下金型カル部2
06、及び、下金型ランナ−部207底面より突き出て
いない。
Next, as shown in FIG. 5, the upper die eject pin plate 112a is lifted because the upper die eject pin column 113b is grounded to the lower die parting surface 114 by clamping the die. Therefore, in the mold clamped state, the upper mold eject pin 113a retracts to the same surface as the upper mold parting surface 113. The lower die cull portion eject pin 106a and the lower die runner portion eject pin 107a are the same as in the mold open state, and the lower die cull portion 2
06 and the lower die runner portion 207 does not protrude from the bottom surface.

【0028】図6、図7で示すように、型締め状態のポ
ット部115から透明樹脂タブレット116を投入しト
ランスファ117により、ランナ−、ゲ−ト、キャビテ
ィの隅々まで注入され、一定時間型締めキュアを行った
後、型開きを行う。図8で示すように、上金型エジェク
トピン113aは、バネ112bにより上金型エジェク
トピンプレ−ト112aごと押し下げられ、上金型パ−
ティング面113より突き出る。その結果、成型品11
8と上金型112との離型が行われる。
As shown in FIGS. 6 and 7, a transparent resin tablet 116 is loaded from the pot portion 115 in the mold clamped state, and is poured into every corner of the runner, gate, and cavity by the transfer 117, and the mold is held for a certain period of time. After tightening and curing, the mold is opened. As shown in FIG. 8, the upper die eject pin 113a is pushed down by the spring 112b together with the upper die eject pin plate 112a, and the upper die eject pin 113a is pushed down.
It projects from the tongue 113. As a result, molded product 11
8 and the upper die 112 are released.

【0029】本発明の上下金型を使用すれば、型締め時
に上金型エジェクトピン113aとエジェクトピン穴内
壁の隙間から樹脂バリが押し出され、熔融樹脂が注入さ
れても、樹脂バリは突起部110bに滞留し、キャビテ
ィ108内に流入することがない。また、下金型カル
部、ランナ−部についても同様、前ショットの下金型エ
ジェクトピン動作時に下金型カル部エジェクトピン10
6a,及び、下金型ランナ−部エジェクトピン107a
とエジェクトピン穴内壁の隙間から押し出された樹脂バ
リを、エアブロ−で充分除去できていなくても、樹脂バ
リは突起部110、110aに滞留し、キャビティ10
8内に流入することがない。その結果、良好なモ−ルド
成型品が得られる。
When the upper and lower molds of the present invention are used, when the mold is clamped, the resin burr is pushed out from the gap between the upper mold eject pin 113a and the inner wall of the eject pin hole, and even if the molten resin is injected, the resin burr is projected. It stays in 110 b and does not flow into the cavity 108. Similarly, for the lower die cull portion and the runner portion, the lower die cull portion eject pin 10 is operated during the operation of the lower die eject pin of the previous shot.
6a and lower die runner-section eject pin 107a
Even if the resin burr extruded from the gap between the inner wall of the eject pin hole and the eject pin hole is not sufficiently removed by the air blower, the resin burr stays on the protrusions 110 and 110a, and the cavity 10
It does not flow into 8. As a result, a good molded product can be obtained.

【0030】最後に、図9で示すように、下金型カル部
エジェクトピン106a、及び、下金型ランナ−部エジ
ェクトピン107aをエジェクトピンプレ−ト111a
ごと油圧機構119により持ち上げ、成型品118を下
金型111より突き上げて離型される。図10で示すよ
うに、成型品118を取り除いた後は、油圧を解除し下
金型カル部エジェクトピン106a、及び、下金型ラン
ナ−部エジェクトピン107aを元の位置まで下げ、圧
縮空気によるエアブロ−にて金型表面に付着している樹
脂バリを除去する。
Finally, as shown in FIG. 9, the lower die cull portion eject pin 106a and the lower die runner portion eject pin 107a are connected to the eject pin plate 111a.
The whole is lifted by the hydraulic mechanism 119, and the molded product 118 is pushed up from the lower mold 111 and released. As shown in FIG. 10, after removing the molded product 118, the hydraulic pressure is released, and the lower die cull portion eject pin 106a and the lower die runner portion eject pin 107a are lowered to the original position and compressed air is used. Remove the resin burr adhering to the mold surface with an air blower.

【0031】なお、本発明は上記実施例に限定されな
い。
The present invention is not limited to the above embodiment.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明よる
金型であれば、モ−ルド成型時の光学チップ受光面上へ
の異物流入が防止され、テスト時の撮像不良を低減し、
光学半導体装置の歩留まりを向上させることができる。
As described in detail above, with the mold according to the present invention, foreign matter is prevented from flowing onto the light receiving surface of the optical chip during molding, and image pickup defects during testing are reduced.
The yield of the optical semiconductor device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)は本発明の一実施例における上金型の平
面図である。(b)は本発明の一実施例における下金型
の平面図である。
FIG. 1A is a plan view of an upper die according to an embodiment of the present invention. (B) is a plan view of a lower mold in one embodiment of the present invention.

【図2】光学半導体のアセンブリ−フロ−チャ−トであ
る。
FIG. 2 is an optical semiconductor assembly flow chart.

【図3】光学半導体装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of an optical semiconductor device.

【図4】本発明の一実施例で上下金型の型開きした状態
を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state where upper and lower molds are opened in an embodiment of the present invention.

【図5】同実施例で上下金型の型締めした状態を示す断
面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which the upper and lower molds are clamped in the same example.

【図6】同実施例でポット部に透明樹脂タブレットを投
入した状態を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a transparent resin tablet is put in the pot portion in the example.

【図7】同実施例で透明樹脂を注入した状態を示す断面
図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state where transparent resin is injected in the same example.

【図8】同実施例でモ−ルド後に上下金型の型開きした
状態を示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in which the upper and lower molds are opened after being molded in the example.

【図9】同実施例で下金型エジェクトピンにより成型品
を突き上げた状態を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state in which a molded product is pushed up by a lower mold eject pin in the example.

【図10】同実施例で下金型エジェクトピンを元位置ま
で下げた状態を示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state where the lower die eject pin is lowered to the original position in the same embodiment.

【図11】(a)は従来の上金型の平面図である。
(b)は従来の下金型の平面図である。
FIG. 11A is a plan view of a conventional upper mold.
(B) is a top view of the conventional lower mold.

【図12】従来技術で上下金型の型開きした状態を示す
断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state in which the upper and lower molds are opened with a conventional technique.

【図13】従来技術で上下金型の型締めした状態を示す
断面図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state where upper and lower molds are clamped by a conventional technique.

【図14】従来技術でポット部に透明樹脂タブレットを
投入した状態を示す断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a state in which a transparent resin tablet is put in a pot portion according to a conventional technique.

【図15】従来技術で透明樹脂を注入した状態を示す断
面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a state in which a transparent resin is injected by a conventional technique.

【図16】従来技術でモ−ルド後に上下金型の型開きし
た状態を示す断面図である。
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a state where the upper and lower molds are opened after molding according to the conventional technique.

【図17】従来技術で下金型エジェクトピンにより成型
品を突き上げた状態を示す断面図である。
FIG. 17 is a cross-sectional view showing a state in which a molded product is pushed up by a lower die eject pin according to a conventional technique.

【図18】従来技術で下金型エジェクトピンを元位置ま
で下げた状態を示す断面図である。
FIG. 18 is a cross-sectional view showing a state where the lower die eject pin is lowered to the original position in the conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光学半導体チップ 2 リ−ドフレ−ム 3 Auワイヤ− 4 透明モ−ルド樹脂 4a 光学半導体チップ受光面 5 リ−ド 106 下金型カル部 106a 下金型カル部エジェクトピン 107 下金型ランナ−部 107a 下金型ランナ−部エジェクトピン 108 キャビティ 108a キャビティ部エジェクトピン 109 ゲ−ト 110,110a,110b 突起部 111 下金型 111a 下金型エジェクトピンプレ−ト 112 上金型 112a 上金型エジェクトピンプレ−ト 112b バネ 113 上金型パ−ティング面 113a 上金型エジェクトピン 113b 上金型エジェクトピン柱 114 下金型パ−ティング面 115 ポット部 116 透明樹脂タブレット 117 トランスファ 118 成型品 119 油圧機構 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical semiconductor chip 2 Lead frame 3 Au wire-4 Transparent mold resin 4a Optical semiconductor chip light-receiving surface 5 Lead 106 Lower mold cull part 106a Lower mold cull part Eject pin 107 Lower mold runner Part 107a Lower mold runner part Eject pin 108 Cavity 108a Cavity part Eject pin 109 Gate 110, 110a, 110b Protrusion part 111 Lower mold 111a Lower mold eject pin plate 112 Upper mold 112a Upper mold eject Pin plate 112b Spring 113 Upper mold parting surface 113a Upper mold ejecting pin 113b Upper mold ejecting pin column 114 Lower mold parting surface 115 Pot part 116 Transparent resin tablet 117 Transfer 118 Molded product 119 Hydraulic mechanism

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カル部、ランナ−部及びキャビティ部を
有すると共に、樹脂成型品との離型を補助するエジェク
トピンを有するトランスファモ−ルド金型において、 上記カル部及びランナ−部に突起部を設け、該突起部に
上記エジェクトピンを配置させる構成としたことを特徴
とするトランスファモ−ルド金型。
1. A transfer mold having a cull part, a runner part, and a cavity part, and an eject pin for assisting the mold release from a resin molded product, wherein the cull part and the runner part have protrusions. And a structure in which the eject pin is arranged on the protrusion, and a transfer mold die.
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