JPH0675009A - 半導体ソケット - Google Patents
半導体ソケットInfo
- Publication number
- JPH0675009A JPH0675009A JP4229897A JP22989792A JPH0675009A JP H0675009 A JPH0675009 A JP H0675009A JP 4229897 A JP4229897 A JP 4229897A JP 22989792 A JP22989792 A JP 22989792A JP H0675009 A JPH0675009 A JP H0675009A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- housing
- integrated circuit
- lid
- semiconductor
- semiconductor socket
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 蓋体の内面には収納体内に収納された半導体
素子を吸着する吸着体を設けたため、収納体から半導体
素子を迅速に取り出すことができ、試験作業の効率を向
上させることができる半導体ソケットを提供する。 【構成】 本半導体ソケット１０は、集積回路１を装着
する収納体１１と、この収納体１１に対して開閉自在に
取り付けられた蓋体１２とを備えた半導体ソケット１０
において、上記蓋体１２の内面には上記収納体１１内に
収納された集積回路１を吸着する磁石１５を設けて構成
されている。
素子を吸着する吸着体を設けたため、収納体から半導体
素子を迅速に取り出すことができ、試験作業の効率を向
上させることができる半導体ソケットを提供する。 【構成】 本半導体ソケット１０は、集積回路１を装着
する収納体１１と、この収納体１１に対して開閉自在に
取り付けられた蓋体１２とを備えた半導体ソケット１０
において、上記蓋体１２の内面には上記収納体１１内に
収納された集積回路１を吸着する磁石１５を設けて構成
されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子の性能試験
等を行なう際に用いられる半導体ソケットに関する。
等を行なう際に用いられる半導体ソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の半導体ソケットを図３を参照しな
がら説明する。同図において、１は半導体素子としての
集積回路、２はこの集積回路１を収納して所定の性能試
験等を行なう際に用いられる半導体ソケットである。こ
の半導体ソケット２は、同図に示すように、上記集積回
路１を収納する収納体２Ａと、この収納体２Ａの一側に
開閉自在に取り付けられ、上記収納体２Ａを閉じる蓋体
２Ｂと、この蓋体２Ｂの内面に、上記収納体２Ａに収納
された集積回路１をその収納体２Ａ内に固定する複数の
突起２Ｃと、これらの突起２Ｃによって上記集積回路１
を固定した状態で上記蓋体２Ｂを上記収納体２Ａに留め
る保持具２Ｄとを備えて構成されている。
がら説明する。同図において、１は半導体素子としての
集積回路、２はこの集積回路１を収納して所定の性能試
験等を行なう際に用いられる半導体ソケットである。こ
の半導体ソケット２は、同図に示すように、上記集積回
路１を収納する収納体２Ａと、この収納体２Ａの一側に
開閉自在に取り付けられ、上記収納体２Ａを閉じる蓋体
２Ｂと、この蓋体２Ｂの内面に、上記収納体２Ａに収納
された集積回路１をその収納体２Ａ内に固定する複数の
突起２Ｃと、これらの突起２Ｃによって上記集積回路１
を固定した状態で上記蓋体２Ｂを上記収納体２Ａに留め
る保持具２Ｄとを備えて構成されている。
【０００３】而して、上記半導体ソケット２を使用する
場合には、蓋体２Ｂが開放された収納体２Ａ内に集積回
路１を収納した後、蓋体２Ｂで収納体２Ａを密閉し、更
に、保持具２Ｄで蓋体２Ｂを収納体２Ａに留める。そし
て、この半導体ソケット２を用いて所定の性能試験等を
終了したら、保持具２Ｄを解除して上記収納体２Ａから
蓋体２Ｂを開放した後、ピンセット等を用いて集積回路
１を挟んで収納体２Ａから集積回路１を取り出すように
している。そして、次に集積回路１を試験する場合に
は、上述した動作を繰り返して各集積回路１について試
験を行なう。
場合には、蓋体２Ｂが開放された収納体２Ａ内に集積回
路１を収納した後、蓋体２Ｂで収納体２Ａを密閉し、更
に、保持具２Ｄで蓋体２Ｂを収納体２Ａに留める。そし
て、この半導体ソケット２を用いて所定の性能試験等を
終了したら、保持具２Ｄを解除して上記収納体２Ａから
蓋体２Ｂを開放した後、ピンセット等を用いて集積回路
１を挟んで収納体２Ａから集積回路１を取り出すように
している。そして、次に集積回路１を試験する場合に
は、上述した動作を繰り返して各集積回路１について試
験を行なう。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体ソケットの場合には、集積回路１を半導体ソケッ
ト２の収納体２Ａから取り出す際には、その都度ピンセ
ット等を用いて収納体２Ａから集積回路１を取り出さな
くてはならず、その作業効率が極めて悪く、迅速な試験
を迅速に行なうことができないという課題があった。
半導体ソケットの場合には、集積回路１を半導体ソケッ
ト２の収納体２Ａから取り出す際には、その都度ピンセ
ット等を用いて収納体２Ａから集積回路１を取り出さな
くてはならず、その作業効率が極めて悪く、迅速な試験
を迅速に行なうことができないという課題があった。
【０００５】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、収納体から半導体素子を迅速に取り出すこ
とができ、試験作業の効率を向上させることができる半
導体ソケットを提供することを目的としている。
れたもので、収納体から半導体素子を迅速に取り出すこ
とができ、試験作業の効率を向上させることができる半
導体ソケットを提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体ソケット
は、蓋体の内面には収納体内に収納された半導体素子を
吸着する吸着体を設けて構成されたものである。
は、蓋体の内面には収納体内に収納された半導体素子を
吸着する吸着体を設けて構成されたものである。
【０００７】
【作用】本発明によれば、試験後に蓋体を開放すると、
蓋体の内面の吸着体が半導体素子を吸着した状態で蓋体
が開放され、この蓋体から簡単に半導体素子を外すこと
ができる。
蓋体の内面の吸着体が半導体素子を吸着した状態で蓋体
が開放され、この蓋体から簡単に半導体素子を外すこと
ができる。
【０００８】
【実施例】以下、図１及び図２に示す実施例に基づいて
本発明を説明する。尚、各図中、図１は本発明の半導体
ソケットの一実施例を示す側面図、図２は本発明の半導
体ソケットの他の実施例を示す側面図である。
本発明を説明する。尚、各図中、図１は本発明の半導体
ソケットの一実施例を示す側面図、図２は本発明の半導
体ソケットの他の実施例を示す側面図である。
【０００９】実施例１．本実施例の半導体ソケット１０
は、図１に示すように、集積回路１を収納する収納体１
１と、この収納体１１の一側に開閉自在に取り付けら
れ、上記収納体１１を閉じる蓋体１２と、この蓋体１２
の内面に、上記収納体１１に収納された集積回路１をそ
の周囲から囲んで収納体１１内に固定する複数の突起１
３と、これらの突起１３によって上記集積回路１を固定
した状態で上記蓋体１２を上記収納体１１に留める保持
具としてのフック１４とを備えて構成されている。
は、図１に示すように、集積回路１を収納する収納体１
１と、この収納体１１の一側に開閉自在に取り付けら
れ、上記収納体１１を閉じる蓋体１２と、この蓋体１２
の内面に、上記収納体１１に収納された集積回路１をそ
の周囲から囲んで収納体１１内に固定する複数の突起１
３と、これらの突起１３によって上記集積回路１を固定
した状態で上記蓋体１２を上記収納体１１に留める保持
具としてのフック１４とを備えて構成されている。
【００１０】而して、上記蓋体１２の内面には収納体１
１内に収納された集積回路１を磁気的に吸着する磁石１
５が設けられている。この磁石１５は、図１に示すよう
に、複数の上記突起１３に囲まれた位置で且つ上記収納
体１１内に収納された集積回路１の表面に略接触するよ
うに取り付けられている。
１内に収納された集積回路１を磁気的に吸着する磁石１
５が設けられている。この磁石１５は、図１に示すよう
に、複数の上記突起１３に囲まれた位置で且つ上記収納
体１１内に収納された集積回路１の表面に略接触するよ
うに取り付けられている。
【００１１】従って、上記半導体ソケット１０を使用す
る場合には、蓋体１２が開放された収納体１１内に集積
回路１を収納した後、蓋体１２で収納体１１を密閉し、
更に、フック１４で蓋体１２を収納体１１に留める。そ
して、この半導体ソケット１０を用いて所定の性能試験
等を終了したら、フック１４を解除して上記収納体１１
から蓋体１２を開放すると、図１に示すように集積回路
１は蓋体１２内面の磁石１５に吸着された状態で収納体
１１から取り出される。そして、次に集積回路１を試験
する場合には、上述した動作を繰り返して各集積回路１
について試験を行なう。
る場合には、蓋体１２が開放された収納体１１内に集積
回路１を収納した後、蓋体１２で収納体１１を密閉し、
更に、フック１４で蓋体１２を収納体１１に留める。そ
して、この半導体ソケット１０を用いて所定の性能試験
等を終了したら、フック１４を解除して上記収納体１１
から蓋体１２を開放すると、図１に示すように集積回路
１は蓋体１２内面の磁石１５に吸着された状態で収納体
１１から取り出される。そして、次に集積回路１を試験
する場合には、上述した動作を繰り返して各集積回路１
について試験を行なう。
【００１２】以上説明したように本実施例によれば、蓋
体１２の内面に収納体１１内に収納された集積回路１を
吸着する磁石１５を設けたため、収納体１１から集積回
路１をピンセット等の道具を用いることなく迅速に取り
出すことができ、試験作業の効率を向上させることがで
きる。
体１２の内面に収納体１１内に収納された集積回路１を
吸着する磁石１５を設けたため、収納体１１から集積回
路１をピンセット等の道具を用いることなく迅速に取り
出すことができ、試験作業の効率を向上させることがで
きる。
【００１３】実施例２．本実施例の半導体ソケット２０
は、図２に示すように、集積回路１を収納する収納体２
１と、この収納体２１の一側に開閉自在に取り付けら
れ、上記収納体２１を閉じる蓋体２２と、この蓋体２２
の内面に、上記収納体２１に収納された集積回路１をそ
の周囲から囲んで収納体２１内に固定する複数の突起２
３と、これらの突起２３によって上記集積回路１を固定
した状態で上記蓋体２２を上記収納体２１に留める保持
具としてのフック２４とを備えて構成されている。
は、図２に示すように、集積回路１を収納する収納体２
１と、この収納体２１の一側に開閉自在に取り付けら
れ、上記収納体２１を閉じる蓋体２２と、この蓋体２２
の内面に、上記収納体２１に収納された集積回路１をそ
の周囲から囲んで収納体２１内に固定する複数の突起２
３と、これらの突起２３によって上記集積回路１を固定
した状態で上記蓋体２２を上記収納体２１に留める保持
具としてのフック２４とを備えて構成されている。
【００１４】而して、上記蓋体２２の内面には収納体２
１内に収納された集積回路１を磁気的に吸着する吸盤１
５が設けられている。この吸盤１５は、図１に示すよう
に、複数の上記突起２３に囲まれた位置で且つ上記収納
体２１内に収納された集積回路１の表面に押圧されるよ
うに取り付けられている。つまり、本実施例では、実施
例１における吸盤１５に代えて吸盤２５を複数の突起２
３で囲まれる位置に設けた以外は実施例１と同様に構成
されている。従って、本実施例においても実施例１と同
様の作用効果を期することができる。
１内に収納された集積回路１を磁気的に吸着する吸盤１
５が設けられている。この吸盤１５は、図１に示すよう
に、複数の上記突起２３に囲まれた位置で且つ上記収納
体２１内に収納された集積回路１の表面に押圧されるよ
うに取り付けられている。つまり、本実施例では、実施
例１における吸盤１５に代えて吸盤２５を複数の突起２
３で囲まれる位置に設けた以外は実施例１と同様に構成
されている。従って、本実施例においても実施例１と同
様の作用効果を期することができる。
【００１５】尚、上記各実施例では、吸着体として磁石
１５及び吸盤２５を用いた例について説明したが、本発
明の半導体ソケットに用いられる吸着体は、磁石１５及
び吸盤２５に制限されるものではなく、半導体素子を吸
着することができるものであれば本発明と同様の作用効
果を期することができる。
１５及び吸盤２５を用いた例について説明したが、本発
明の半導体ソケットに用いられる吸着体は、磁石１５及
び吸盤２５に制限されるものではなく、半導体素子を吸
着することができるものであれば本発明と同様の作用効
果を期することができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、蓋
体の内面には収納体内に収納された半導体素子を吸着す
る吸着体を設けたため、収納体から半導体素子を迅速に
取り出すことができ、試験作業の効率を向上させること
ができる半導体ソケットを提供することができる。
体の内面には収納体内に収納された半導体素子を吸着す
る吸着体を設けたため、収納体から半導体素子を迅速に
取り出すことができ、試験作業の効率を向上させること
ができる半導体ソケットを提供することができる。
【図１】本発明の半導体ソケットの一実施例を示す側面
図である。
図である。
【図２】本発明の半導体ソケットの他の実施例を示す側
面図である。
面図である。
【図３】従来の半導体ソケットの一例を示す側面図であ
る。
る。
１ 集積回路（半導体素子） １０、２０ 半導体ソケット １１、２１ 収納体 １２、２２ 蓋体 １３、２３ 突起 １４、２４ フック（保持具） １５ 磁石 ２５ 吸盤
Claims (1)
- 【請求項１】 半導体素子を収納する収納体と、この収
納体に対して開閉自在に取り付けられた蓋体とを備えた
半導体ソケットにおいて、上記蓋体の内面には上記収納
体内に収納された半導体素子を吸着する吸着体を設けた
ことを特徴とする半導体ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4229897A JPH0675009A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 半導体ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4229897A JPH0675009A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 半導体ソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0675009A true JPH0675009A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=16899443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4229897A Pending JPH0675009A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 半導体ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0675009A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2317330A1 (en) * | 2009-09-11 | 2011-05-04 | Giga-Byte Technology Co., Ltd. | Pin connector and chip test fixture having the same |
| CN111527654A (zh) * | 2017-12-27 | 2020-08-11 | 恩普乐股份有限公司 | 电气部件用插座 |
-
1992
- 1992-08-28 JP JP4229897A patent/JPH0675009A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2317330A1 (en) * | 2009-09-11 | 2011-05-04 | Giga-Byte Technology Co., Ltd. | Pin connector and chip test fixture having the same |
| CN111527654A (zh) * | 2017-12-27 | 2020-08-11 | 恩普乐股份有限公司 | 电气部件用插座 |
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