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JPH0656298B2 - 反射パターン認識ディテクター - Google Patents

反射パターン認識ディテクター

Info

Publication number
JPH0656298B2
JPH0656298B2 JP1027866A JP2786689A JPH0656298B2 JP H0656298 B2 JPH0656298 B2 JP H0656298B2 JP 1027866 A JP1027866 A JP 1027866A JP 2786689 A JP2786689 A JP 2786689A JP H0656298 B2 JPH0656298 B2 JP H0656298B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
specimen
photodetector
pattern recognition
detector
light beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1027866A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02206710A (ja
Inventor
秀樹 我妻
明承 藤枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP1027866A priority Critical patent/JPH0656298B2/ja
Publication of JPH02206710A publication Critical patent/JPH02206710A/ja
Publication of JPH0656298B2 publication Critical patent/JPH0656298B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザービーム等の光ビームを用いた反射パ
ターン認識デイテクターに関する。更に詳しくは光ビー
ムの取入れ孔を有し検体に相対する上平面部と、該上平
面部に直交し相対する平面が互いに平行でかつ同一大で
ある二組の平面群から構成され、隣接する平面が直交し
て構成する四本の稜長が互いに等しい側面部から成り、
各構成面の内面にフォトディテクター層を形成し、この
各面の出力検出手段を有する反射パターン認識ディテク
ターを用いて、検体(1)に光ビームをあてて発生した散
乱光を上平面部を含む少なくとも3面以上のフォトディ
テクター(2)により捕捉することを特徴とする。
〔従来の技術〕
従来、レーザービーム等の光ビームで検体の表面を検出
する時 の傷と の凹凸は本来の平滑部とは違つた散乱光を発生するので
その存在は検知できるが、そのパターンまでは判断でき
なかつた。近年あらかじめそのパターン特有の反射光特
性を覚え込ませておくことによつてある程度のパターン
の判別を行なうことは可能となつてきたが、これも測定
部付近に別の凹凸や傷などがある場合はほとんどパター
ンを判別することができなかつた。
〔本発明の解決する課題〕
本発明は、このような従来方法の欠点を改善すべく検討
の結果、レーザービーム等の光ビームを検体にあてた時
に生じる散乱光を、検体に対して各々異なる位置に設置
した上平面部を含む少なくとも3面以上のフォトディテ
クターを用いて捕捉することによつて の傷、 の凹凸その他細かい表面上の荒れや、色変り、段差やエ
ツジ部等を平滑な正常部とはもちろんのこと、その他の
パターンとも明確に区別認識できる装置を開発した。
次に本発明を図によつて説明するが、本発明はこれによ
つて何ら制限をうけるものではない。
第1図ないし第5図は本考案に係るデイテクターを箱状
体に形成した例を図示する。
この場合の本発明に係るデイテクターは第1図に示す如
く、底面のない六面体であり、その上面(3)にはレーザ
ービームあるいは白色光ビームなどの光ビームを通すピ
ンホールあるいはスリツト(4)がもうけられる。
この上面(3)のスリツト(4)部を除いたすべてと左右側面
(5),(6)、正面(7)、背面(8)のそれぞれの内面全体はフ
オトデイテクター(2)層を形成し、各面のフオトデイテ
クター(2)の出力はそれぞれ独立した増幅器に接続さ
れ、所望の強さに増幅されて、取り出される。
各内面に形成されるフオトデイテクター(2)層は、検体
の種類によつて、任意に分割することが可能であり、こ
の場合も分割されたフオトデイテクター毎に、それぞれ
独自の増幅器が接続される。
第2図は、第1図に示す箱状体デイテクターを用いて、
検体(1)を検査する方法の概要を示したものである。
まず本発明に係るデイテクターを検体(1)の上におき、
スリツト(4)から、レーザービーム等の光ビームを検体
(1)に当てながら左方向から右方向へ走査する。
この場合は、スリツト部を除いた上面(3)、左側面(5)、
右側面(6)、正面(7)および背面(8)の内面はすべて一枚
ずつのフオトデイテクター(2)層を形成し、これにそれ
ぞれ独自の増幅器(9)が接続されている。
第2図に例示するように、検体(1)の表面に の傷のある時は の左面に当つたビームは右側に反射されるためデイテ
クターの右側面(6)のフオトデイテクター(2)層に捕捉さ
れる。又全く同様に の右面に当つたビームは左側に反射されてデイテクタ
ーの左側面(5)のフオトデイテクター(2)層によつて捕捉
される。
この場合の上面(3)、左側面(5)および右側面(6)のフオ
トデイテクター(2)層に捕捉され、増幅器によつて検出
された出力の時系列分布は、第3図のようになる。
同様に と表面色変りの場合の出力の時系列分布は第4図および
第5図に示す通りである。
このように各面のフオトデイテクター(2)層に捕捉され
た出力を解析することにより、検体(1)の表面の異常の
有無だけではなく、その異常のパターンを正確に認識す
ることができる。また適当な位置決め装置と本発明に係
るデイテクターとを合せて用いると、検体(1)上の異常
のパターンとその位置を明確に検知することが可能であ
る。
第2図で例示したように、本発明に係るデイテクターを
構成する5枚のデイテクター(2)は、それぞれビームの
あたつている検体(1)の部分からみるとすべて、上、前
後、左右と別々の異なる位置にある。又、例えば右側面
(6)のフオトデイテクター(2)層が4枚のフオトデイテク
ターから成る場合であつても、各フオトデイテクター
は、検体(1)のビームの当たつている部位からみるとい
ずれも右側に位置するが、その各々がそれぞれ前後上下
に区別され検体(1)のビームの当つている部位からみる
と別々のアドレスに位置することになる。
このように各面の本発明に係るディテクターは、検体
(1)に光ビームをあてて発生した散乱光を検体(1)に対
して各々異なる位置に設置した上平面部を含む少なくと
も3面以上のフォトディテクター(2)によって捕捉する
ことを特徴としている。
以上のべたように本発明に係る反射パターン認識デイテ
クターは検体によつて生じる散乱光をフオトデイテクタ
ー層で捕捉し、その出力を解析することにより検体の表
面の異常の有無とそのパターンを認識することができる
が、検体の更に複雑な異常パターンの認識や、より精度
の高い解析の要求にはそれに応じたフオトデイテクター
層の分割、細分化により対応することができる。
本発明に係るデイテクターに使用される光ビームとして
はレーザービームの他に白色光ビームが挙げられ、レー
ザーとしてはレーザーダイオード、ヘリウム−ネオンレ
ーザー、アルゴンレーザー等が適している。更にフオト
デイテクターとしては、フオトダイオードやグラスフア
イバーアレーが望ましい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るデイテクターを箱状体として形成
した場合の概要図、第2図は第1図に示したデイテクタ
ーの使用状況を示した一部断面概要図、第3図、第4図
および第5図はそれぞれの異常パターンにおける各フオ
トデイテクターの出力の時系列分布を示す。 図中(1)は検体、(2)はフオトデイテクター、(9)は増幅
器を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ビームの取入れ孔を有し検体に相対する
    上平面部と、該上平面部に直交し相対する平面が互いに
    平行でかつ同一大である二組の平面群から構成され、隣
    接する平面が直交して構成する四本の稜長が互いに等し
    い側面部から成り、各構成面の内面に検体表面からの散
    乱光を捕捉するフォトディテクター層を形成するととも
    に各面の出力検出手段を有することを特徴とする反射パ
    ターン認識ディテクター。
JP1027866A 1989-02-07 1989-02-07 反射パターン認識ディテクター Expired - Lifetime JPH0656298B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1027866A JPH0656298B2 (ja) 1989-02-07 1989-02-07 反射パターン認識ディテクター

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1027866A JPH0656298B2 (ja) 1989-02-07 1989-02-07 反射パターン認識ディテクター

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02206710A JPH02206710A (ja) 1990-08-16
JPH0656298B2 true JPH0656298B2 (ja) 1994-07-27

Family

ID=12232824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1027866A Expired - Lifetime JPH0656298B2 (ja) 1989-02-07 1989-02-07 反射パターン認識ディテクター

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0656298B2 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63284455A (ja) * 1987-05-15 1988-11-21 Kobe Steel Ltd 表面欠陥検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02206710A (ja) 1990-08-16

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