JPH0646632B2 - スピンオングラス焼成方法及び装置 - Google Patents
スピンオングラス焼成方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0646632B2 JPH0646632B2 JP11777487A JP11777487A JPH0646632B2 JP H0646632 B2 JPH0646632 B2 JP H0646632B2 JP 11777487 A JP11777487 A JP 11777487A JP 11777487 A JP11777487 A JP 11777487A JP H0646632 B2 JPH0646632 B2 JP H0646632B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spin
- wafer
- glass
- chamber
- firing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 48
- 238000010304 firing Methods 0.000 title claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000006837 decompression Effects 0.000 claims description 18
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 スピンオングラス層を有するウエーハを載置するステー
ジAを備えた減圧室と、ウエーハを載置するステージB
を備えた焼成室と、減圧室と焼成室とを仕切るゲートバ
ルブとを備えたスピンオングラス焼成装置を用いて、ス
ピンオングラス層の内部に含有されている有機成分の除
去を可能にしたスピンオングラス焼成方法。
ジAを備えた減圧室と、ウエーハを載置するステージB
を備えた焼成室と、減圧室と焼成室とを仕切るゲートバ
ルブとを備えたスピンオングラス焼成装置を用いて、ス
ピンオングラス層の内部に含有されている有機成分の除
去を可能にしたスピンオングラス焼成方法。
本発明は、半導体装置の製造方法及び装置に係り、特に
スピンオングラス層の焼結方法及び装置に関するもので
ある。
スピンオングラス層の焼結方法及び装置に関するもので
ある。
半導体装置の製造工程において、基板表面の平坦化のた
め等に用いられるスピンオングラス層の焼結は、その焼
結工程の初期において急激に加熱すると、表面層のみが
固化して内部に有機成分が残留し、その後の加熱工程に
おいて有機成分が気化して分離する障害が発生してい
る。
め等に用いられるスピンオングラス層の焼結は、その焼
結工程の初期において急激に加熱すると、表面層のみが
固化して内部に有機成分が残留し、その後の加熱工程に
おいて有機成分が気化して分離する障害が発生してい
る。
以上のような状況からスピンオングラス層の内部に有機
成分が残留しない、スピンオングラス焼成方法及び装置
が要望されている。
成分が残留しない、スピンオングラス焼成方法及び装置
が要望されている。
従来のスピンオングラス焼成方法は、第2図に示すよう
な常圧の窒素または酸素をガス導入孔21aから導入して
炉芯管21内を窒素または酸素雰囲気にした横型或いは縦
型の電気炉を用いて、スピンオングラス層10を有するウ
エーハ9を炉芯管21内に設置し、ヒータ28で加熱して焼
成する方法である。
な常圧の窒素または酸素をガス導入孔21aから導入して
炉芯管21内を窒素または酸素雰囲気にした横型或いは縦
型の電気炉を用いて、スピンオングラス層10を有するウ
エーハ9を炉芯管21内に設置し、ヒータ28で加熱して焼
成する方法である。
炉温が450℃の場合は、通常のウエーハのローディング
速度でウエーハ9を挿入すると、炉温が一旦400℃にな
り5〜20℃/分の昇温速度で加熱されて450℃になる。
速度でウエーハ9を挿入すると、炉温が一旦400℃にな
り5〜20℃/分の昇温速度で加熱されて450℃になる。
このような昇温速度で加熱すると、スピンオングラスの
溶剤に起因する有機成分がスピンオングラス層10の中に
残っている。
溶剤に起因する有機成分がスピンオングラス層10の中に
残っている。
以上説明の従来のスピンオングラス焼成方法で問題とな
るのは、加熱の際の昇温速度が早いために、スピンオン
グラス内部に含有されている溶剤に起因する有機成分が
放出される前に表面が固化するので、有機成分がスピン
オングラス層の中に残留することである。
るのは、加熱の際の昇温速度が早いために、スピンオン
グラス内部に含有されている溶剤に起因する有機成分が
放出される前に表面が固化するので、有機成分がスピン
オングラス層の中に残留することである。
熱処理後の赤外線吸収スペクトル分析によって、このス
ピンオングラス層の中の有機溶剤の残留が確認されてい
る。
ピンオングラス層の中の有機溶剤の残留が確認されてい
る。
本発明は以上のような問題点を解決するために簡単且つ
容易にスピンオングラスの焼成をすることが可能なスピ
ンオングラス焼成方法及び装置の提供を目的としたもの
である。
容易にスピンオングラスの焼成をすることが可能なスピ
ンオングラス焼成方法及び装置の提供を目的としたもの
である。
上記問題点は、スピンオングラス層を有するウエーハを
載置するステージAを備え、このスピンオングラス中の
溶剤を揮発させるための減圧室と、このウエーハを載置
するステージBを備えた焼成室と、減圧室と焼成室とを
仕切るゲートバルブとを備え、溶剤揮発処理後のウエー
ハを大気にさらすことなく減圧室から焼成室へ移送可能
に両室がゲートバルブを介して結合されている本発明に
よるスピンオングラス焼成装置による焼成方法によって
解決される。
載置するステージAを備え、このスピンオングラス中の
溶剤を揮発させるための減圧室と、このウエーハを載置
するステージBを備えた焼成室と、減圧室と焼成室とを
仕切るゲートバルブとを備え、溶剤揮発処理後のウエー
ハを大気にさらすことなく減圧室から焼成室へ移送可能
に両室がゲートバルブを介して結合されている本発明に
よるスピンオングラス焼成装置による焼成方法によって
解決される。
即ち本発明においては、スピンオングラス層を有するウ
エーハを減圧室内に搬入してステージAの上に載置し、
この減圧室内の空気を排気して室内を減圧雰囲気にする
と、スピンオングラス層に含有されている有機成分がス
ピンオングラス層から室内に放出されて排出される。
エーハを減圧室内に搬入してステージAの上に載置し、
この減圧室内の空気を排気して室内を減圧雰囲気にする
と、スピンオングラス層に含有されている有機成分がス
ピンオングラス層から室内に放出されて排出される。
その後、減圧室と焼成室の室内圧を同じ圧力の高真空に
し、ゲートバルブを通してウエーハを焼成室に搬入して
ウエーハをステージBに載置し、ヒータにより加熱する
と、既に減圧室においてスピンオングラス層内の有機成
分が除去されているので、有機成分を含有しない状態で
スピンオングラス層を焼結することが可能となる。
し、ゲートバルブを通してウエーハを焼成室に搬入して
ウエーハをステージBに載置し、ヒータにより加熱する
と、既に減圧室においてスピンオングラス層内の有機成
分が除去されているので、有機成分を含有しない状態で
スピンオングラス層を焼結することが可能となる。
以下第1図について本発明の一実施例を説明する。
第1図に示すように減圧室1と焼成室2とはゲートバル
ブ5によって仕切られ、それぞれの室内にはステージA
6とステージB7が設けられてウエーハ9を載置できる
ようになっており、その間をウエーハ移送手段12により
ウエーハ9の移動が行えるようになっている。
ブ5によって仕切られ、それぞれの室内にはステージA
6とステージB7が設けられてウエーハ9を載置できる
ようになっており、その間をウエーハ移送手段12により
ウエーハ9の移動が行えるようになっている。
減圧室1と焼成室2には、室内圧を変化し得るように真
空排気孔1a及び2a、窒素導入孔1b及び2bが設けられてお
り、共用の真空ポンプ11で排気され、それぞれの室内圧
を等しくできるようになっている。
空排気孔1a及び2a、窒素導入孔1b及び2bが設けられてお
り、共用の真空ポンプ11で排気され、それぞれの室内圧
を等しくできるようになっている。
焼成室2の上部にはヒータ8が設けられており、ウエー
ハ9が加熱されてスピンオングラス層10が焼結される。
ハ9が加熱されてスピンオングラス層10が焼結される。
ウエーハ9の表面にはスピンオングラス、例えば東京応
化社製のOCDがコータにより4,000rpmで塗布れ、850
±50Åのスピンオングラス層10が形成される。
化社製のOCDがコータにより4,000rpmで塗布れ、850
±50Åのスピンオングラス層10が形成される。
減圧室1の室内圧を常圧にし、扉A3を開いてスピンオ
ングラス層10を形成したウエーハ9をウエーハ移送手段
12によって搬入し、ステージA6に載置し、扉A3を閉
じる。
ングラス層10を形成したウエーハ9をウエーハ移送手段
12によって搬入し、ステージA6に載置し、扉A3を閉
じる。
この状態で真空排気孔1aから真空ポンプ11を用いて室内
圧を10-2Torr以上の高真空にして少なくとも一分間以上
保持してスピンオングラス層10内に含まれている有機成
分を室内に放出させて排気する。
圧を10-2Torr以上の高真空にして少なくとも一分間以上
保持してスピンオングラス層10内に含まれている有機成
分を室内に放出させて排気する。
この後、真空排気孔2aから真空排気して焼成室2の室内
圧を減圧室1の室内圧と同じ圧力にする。
圧を減圧室1の室内圧と同じ圧力にする。
次にゲートバルブ5を開きウエーハ9をステージA6か
らウエーハ移送手段12により移動してステージB7に載
置し、ゲートバルブ5を閉じる。
らウエーハ移送手段12により移動してステージB7に載
置し、ゲートバルブ5を閉じる。
この状態でヒータ8により450℃でスピンオングラス層1
0の焼成を行う。焼成後のスピンオングラス層10の膜厚
は650±50Åになる。
0の焼成を行う。焼成後のスピンオングラス層10の膜厚
は650±50Åになる。
このようにスピンオングラスをウエーハ9に塗布して減
圧室1に搬入した後は、減圧室1でウエーハ9の表面の
スピンオングラス層10の内部に含有する有機成分を除去
し、引き続きウエーハ9を大気に触れさせずに焼成室2
に移動し、焼成を行うのでスピンオングラス層10内に有
機成分が残留しなくなり、この有機成分に起因する障害
を防止することが可能となる。
圧室1に搬入した後は、減圧室1でウエーハ9の表面の
スピンオングラス層10の内部に含有する有機成分を除去
し、引き続きウエーハ9を大気に触れさせずに焼成室2
に移動し、焼成を行うのでスピンオングラス層10内に有
機成分が残留しなくなり、この有機成分に起因する障害
を防止することが可能となる。
以上説明したように本発明によれば極めて簡単な構成の
減圧室と焼成室とを備えた装置により、スピンオングラ
ス層内の有機成分の除去とスピンオングラス層の焼成と
を、ウエーハを大気に触れさせないで連続して処理し得
るので、良質なスピンオングラス層を形成することが可
能となり、品質の優れた半導体装置の製造が可能となる
利点があり、著しい経済的及び、信頼性向上の効果が期
待でき工業的には極めて有用なものである。
減圧室と焼成室とを備えた装置により、スピンオングラ
ス層内の有機成分の除去とスピンオングラス層の焼成と
を、ウエーハを大気に触れさせないで連続して処理し得
るので、良質なスピンオングラス層を形成することが可
能となり、品質の優れた半導体装置の製造が可能となる
利点があり、著しい経済的及び、信頼性向上の効果が期
待でき工業的には極めて有用なものである。
第1図は本発明による一実施例を示す側断面図、 第2図は従来のスピンオングラス焼成装置を示す側断面
図、 である。 図において、 1は減圧室、 1aは真空排気孔、 1bは窒素導入孔、 2は焼成室、 2aは真空排気孔、 2bは窒素導入孔、 3は扉A、 4は扉B、 5はゲートバルブ、 6はステージA、 7はステージB、 8はヒータ、 9はウエーハ、 10はスピンオングラス層、 11は真空ポンプ、 12はウエーハ移送手段、 を示す。
図、 である。 図において、 1は減圧室、 1aは真空排気孔、 1bは窒素導入孔、 2は焼成室、 2aは真空排気孔、 2bは窒素導入孔、 3は扉A、 4は扉B、 5はゲートバルブ、 6はステージA、 7はステージB、 8はヒータ、 9はウエーハ、 10はスピンオングラス層、 11は真空ポンプ、 12はウエーハ移送手段、 を示す。
Claims (2)
- 【請求項1】スピンオングラスをウエーハ上に塗布する
工程と、 減圧雰囲気中で前記スピンオングラス中の溶剤を揮発さ
せる工程と、 しかる後前記スピンオングラスを大気にさらすことなく
加熱して焼成する工程と、 を含むことを特徴とするスピンオングラス焼成方法。 - 【請求項2】スピンオングラス層(10)を有するウエーハ
(9)を載置するステージA(6)を備え、前記スピンオング
ラス層(10)中の溶剤を揮発させるための減圧室(1)と、 前記ウエーハ(9)を載置するステージB(7)を備えた焼成
室(2)と、 前記減圧室(1)と前記焼成室(2)とを仕切るゲートバルブ
(5)と、 を備え、溶剤揮発処理後の前記ウエーハ(9)を大気にさ
らすことなく前記減圧室(1)から前記焼成室(2)へ移送可
能に両室が前記ゲートバルブ(5)を介して結合されてい
ることを特徴とするスピンオングラス焼成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11777487A JPH0646632B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | スピンオングラス焼成方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11777487A JPH0646632B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | スピンオングラス焼成方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63281434A JPS63281434A (ja) | 1988-11-17 |
JPH0646632B2 true JPH0646632B2 (ja) | 1994-06-15 |
Family
ID=14719993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11777487A Expired - Fee Related JPH0646632B2 (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | スピンオングラス焼成方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0646632B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02178920A (ja) * | 1988-12-29 | 1990-07-11 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の製造方法 |
CA2017719C (en) * | 1990-05-29 | 1999-01-19 | Zarlink Semiconductor Inc. | Moisture-free sog process |
-
1987
- 1987-05-13 JP JP11777487A patent/JPH0646632B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63281434A (ja) | 1988-11-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH11124675A (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPH0646632B2 (ja) | スピンオングラス焼成方法及び装置 | |
JP2002239441A (ja) | 減圧乾燥方法及び塗布膜形成装置 | |
JP2004119070A (ja) | プラズマディスプレイパネルの封着炉及びプラズマディスプレイパネルの製造方法 | |
EP0494783A1 (en) | Furnace structure of semiconductor manufacturing apparatus | |
JPH09508494A (ja) | 半導体プロセスの改良方法 | |
JP2649611B2 (ja) | 半導体基板の熱処理方法 | |
JP2004103850A (ja) | レジスト塗布方法及び装置 | |
JPH01117319A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS63177426A (ja) | 気相成長方法及び装置 | |
JPS62122123A (ja) | 縦型熱処理装置 | |
JPH1147668A (ja) | 基板乾燥装置 | |
JPH03191063A (ja) | 連続式スパッタリング装置 | |
JP2617935B2 (ja) | アツシング方法 | |
JPH11260738A (ja) | 真空熱処理装置 | |
JP4503713B2 (ja) | 真空成膜法の基板冷却方法 | |
JPS63141319A (ja) | ドライエツチング処理装置 | |
JPS60150633A (ja) | プラズマエツチング装置のロ−ドロツク室 | |
JP2001007117A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
JP2004349518A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP3399144B2 (ja) | シリコン系被膜の形成方法 | |
JPH0471230A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0369120A (ja) | 高圧酸化炉 | |
JPH01295415A (ja) | ボートローディング方法 | |
JPS62298116A (ja) | 処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |