JPH0642967A - 水準測量装置 - Google Patents
水準測量装置Info
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- JPH0642967A JPH0642967A JP4217491A JP21749192A JPH0642967A JP H0642967 A JPH0642967 A JP H0642967A JP 4217491 A JP4217491 A JP 4217491A JP 21749192 A JP21749192 A JP 21749192A JP H0642967 A JPH0642967 A JP H0642967A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 水準測量において、各測点Ａ，Ｂ間の高精度
での測定可能距離を長くすると共に、夜間等暗い条件で
の測量も高精度で行う。 【構成】 高さ方向移動自在な水準調整体１２と、これ
に固定された三角プリズム１４及び水平反射鏡１５と、
スタッフ本体１１の下部に固定された鉛直反射鏡１６と
を備える反射スタッフ１０を既知点Ａと未知点Ｂに立
て、水準調整体１２によって三角プリズム１４及び水平
反射鏡１５の高さを光波測距機３０の水平光路Ｌ1 ，Ｌ
2 の水準と一致させ、光波測距機３０によって、三角プ
リズム１４を通って鉛直反射鏡１６に至る距離Ｄ1 ，Ｄ
3 を検出すると共に、水平反射鏡１５までの水平距離Ｄ
2 ，Ｄ4 を検出し、既知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈを、 Ｈ＝（Ｄ3 −Ｄ4 ）−（Ｄ1 −Ｄ2 ） として求めることができる。
での測定可能距離を長くすると共に、夜間等暗い条件で
の測量も高精度で行う。 【構成】 高さ方向移動自在な水準調整体１２と、これ
に固定された三角プリズム１４及び水平反射鏡１５と、
スタッフ本体１１の下部に固定された鉛直反射鏡１６と
を備える反射スタッフ１０を既知点Ａと未知点Ｂに立
て、水準調整体１２によって三角プリズム１４及び水平
反射鏡１５の高さを光波測距機３０の水平光路Ｌ1 ，Ｌ
2 の水準と一致させ、光波測距機３０によって、三角プ
リズム１４を通って鉛直反射鏡１６に至る距離Ｄ1 ，Ｄ
3 を検出すると共に、水平反射鏡１５までの水平距離Ｄ
2 ，Ｄ4 を検出し、既知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈを、 Ｈ＝（Ｄ3 −Ｄ4 ）−（Ｄ1 −Ｄ2 ） として求めることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、既知点と未知点との高
低差を光学的に測量するための水準測量装置に関する。
低差を光学的に測量するための水準測量装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】各測点間の高低差等を測る水準測量は、
従来から、典型的には図５に示すように、既知点Ａと未
知点Ｂに鉛直に立てた水準スタッフ１，２の目盛１ａ，
２ａを水準測量機３を用いて水平な視準線上で目視によ
って読み取り、既知点Ａにおける水準スタッフ１の視準
線上の読み取り高さがｈ1 、未知点Ｂにおける水準スタ
ッフ２の視準線上の読み取り高さがｈ2 である場合、既
知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈを、次式； Ｈ＝ｈ2 −ｈ1 ・・・・・・・・・・・ によって求めているのが現状である。
従来から、典型的には図５に示すように、既知点Ａと未
知点Ｂに鉛直に立てた水準スタッフ１，２の目盛１ａ，
２ａを水準測量機３を用いて水平な視準線上で目視によ
って読み取り、既知点Ａにおける水準スタッフ１の視準
線上の読み取り高さがｈ1 、未知点Ｂにおける水準スタ
ッフ２の視準線上の読み取り高さがｈ2 である場合、既
知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈを、次式； Ｈ＝ｈ2 −ｈ1 ・・・・・・・・・・・ によって求めているのが現状である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の水準測量技術によれば、測量作業者が水準測量機３
から目視によって水準スタッフ１，２の目盛１ａ，２ａ
を読み取っているので、水準測量機３から水準スタッフ
１あるいは２までの距離は、最大でもせいぜい40〜50ｍ
程度にしなければならず、それ以上の長距離になると、
測定精度が低くなったり測定不能になってしまう。した
がって、測量回数が多くならざるを得ず、測量に多大な
時間がかかってしまうことが避けられなかった。また、
夜間や坑内等、暗い条件での測量の場合は、水準スタッ
フ１，２を懐中電灯等で照明する必要があり、しかも測
量誤差が生じやすくなるといった問題があった。
来の水準測量技術によれば、測量作業者が水準測量機３
から目視によって水準スタッフ１，２の目盛１ａ，２ａ
を読み取っているので、水準測量機３から水準スタッフ
１あるいは２までの距離は、最大でもせいぜい40〜50ｍ
程度にしなければならず、それ以上の長距離になると、
測定精度が低くなったり測定不能になってしまう。した
がって、測量回数が多くならざるを得ず、測量に多大な
時間がかかってしまうことが避けられなかった。また、
夜間や坑内等、暗い条件での測量の場合は、水準スタッ
フ１，２を懐中電灯等で照明する必要があり、しかも測
量誤差が生じやすくなるといった問題があった。
【０００４】本発明は、上記のような事情からなされた
もので、その技術的課題とするところは、水準測量にお
いて、各測点間を高精度で測定可能な距離を長くすると
共に、夜間等暗い条件での水準測量も高精度で行うこと
ができるようにすることにある。
もので、その技術的課題とするところは、水準測量にお
いて、各測点間を高精度で測定可能な距離を長くすると
共に、夜間等暗い条件での水準測量も高精度で行うこと
ができるようにすることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上述した技術的課題は、
本発明によって有効に解決することができる。すなわ
ち、本発明に係る水準測量装置は、所定の光波を水平に
送受波して未知の距離間における波数及び位相差から距
離を測定する光波測距機と、この光波測距機による任意
の測点に立設する反射スタッフとからなり、この反射ス
タッフが、スタッフ本体に高さ方向移動自在に設けた水
準調整体と、前記水準調整体に固定されると共に水平に
入射された光波を鉛直方向に、鉛直に入射された光波を
水平方向に反射する三角プリズムと、前記水準調整体に
固定されると共に前記光波を再び前記光波測距機へ反射
する水平反射鏡と、前記スタッフ本体の下部に固定され
ると共に前記三角プリズムからの鉛直な光波を入射して
再び前記三角プリズムへ反射する鉛直反射鏡とを備えて
なるものである。
本発明によって有効に解決することができる。すなわ
ち、本発明に係る水準測量装置は、所定の光波を水平に
送受波して未知の距離間における波数及び位相差から距
離を測定する光波測距機と、この光波測距機による任意
の測点に立設する反射スタッフとからなり、この反射ス
タッフが、スタッフ本体に高さ方向移動自在に設けた水
準調整体と、前記水準調整体に固定されると共に水平に
入射された光波を鉛直方向に、鉛直に入射された光波を
水平方向に反射する三角プリズムと、前記水準調整体に
固定されると共に前記光波を再び前記光波測距機へ反射
する水平反射鏡と、前記スタッフ本体の下部に固定され
ると共に前記三角プリズムからの鉛直な光波を入射して
再び前記三角プリズムへ反射する鉛直反射鏡とを備えて
なるものである。
【０００６】
【作用】本発明の水準測量装置によれば、標高の既知点
に立てた反射スタッフにおける水準調整体を、この水準
調整体に固定された三角プリズム及び水平反射鏡が光波
測距機の水平光路の高さと一致するように移動調整し、
光波を水平に送受波する前記光波測距機によって、三角
プリズムを通って既知点上のスタッフ本体下部の鉛直反
射鏡に至る距離Ｄ1 を検出すると共に、光波測距機から
水平反射鏡までの水平距離Ｄ2 を検出する。標高の未知
点においても同様であり、すなわちスタッフ本体におけ
る三角プリズム及び水平反射鏡の高さを光波測距機から
の水平光路の高さと一致するように水準調整体を移動調
整し、光波測距機から三角プリズムを通ってスタッフ本
体下部の鉛直反射鏡に至る距離Ｄ3 を検出すると共に、
光波測距機から水平反射鏡までの水平距離Ｄ4 を検出す
ることによって、既知点と未知点の高低差Ｈを、次式； Ｈ＝（Ｄ3 −Ｄ4 ）−（Ｄ1 −Ｄ2 ） ・・・・・・・・・・ によって求める。
に立てた反射スタッフにおける水準調整体を、この水準
調整体に固定された三角プリズム及び水平反射鏡が光波
測距機の水平光路の高さと一致するように移動調整し、
光波を水平に送受波する前記光波測距機によって、三角
プリズムを通って既知点上のスタッフ本体下部の鉛直反
射鏡に至る距離Ｄ1 を検出すると共に、光波測距機から
水平反射鏡までの水平距離Ｄ2 を検出する。標高の未知
点においても同様であり、すなわちスタッフ本体におけ
る三角プリズム及び水平反射鏡の高さを光波測距機から
の水平光路の高さと一致するように水準調整体を移動調
整し、光波測距機から三角プリズムを通ってスタッフ本
体下部の鉛直反射鏡に至る距離Ｄ3 を検出すると共に、
光波測距機から水平反射鏡までの水平距離Ｄ4 を検出す
ることによって、既知点と未知点の高低差Ｈを、次式； Ｈ＝（Ｄ3 −Ｄ4 ）−（Ｄ1 −Ｄ2 ） ・・・・・・・・・・ によって求める。
【０００７】
【実施例】以下、本発明に係る水準測量装置の典型的な
一実施例の構成を、図１ないし図４を参照しながら、そ
の作用と共に詳細に説明する。
一実施例の構成を、図１ないし図４を参照しながら、そ
の作用と共に詳細に説明する。
【０００８】まず、図１は測標として用いられる反射ス
タッフ１０を示す概略的な斜視図である。この反射スタ
ッフ１０は、正面が開放された上下に長尺な箱形のスタ
ッフ本体１１内に、同じく正面が開放された箱形の水準
調整体１２が長手方向（高さ方向）に対して移動自在に
設けられており、スタッフ本体１１にその長手方向に対
して直交するように固定された図示しない気泡水準器等
の水平検出手段によって、測点に鉛直に立てることがで
きるようになっている。
タッフ１０を示す概略的な斜視図である。この反射スタ
ッフ１０は、正面が開放された上下に長尺な箱形のスタ
ッフ本体１１内に、同じく正面が開放された箱形の水準
調整体１２が長手方向（高さ方向）に対して移動自在に
設けられており、スタッフ本体１１にその長手方向に対
して直交するように固定された図示しない気泡水準器等
の水平検出手段によって、測点に鉛直に立てることがで
きるようになっている。
【０００９】水準調整体１２は、その側壁１２１に、ス
タッフ本体１１の側壁１１１に長手方向に延在されるス
リット１１２を通じて調整螺子１２２がねじ込まれてお
り、これによって、スタッフ本体１１の長手方向におけ
る任意の位置に移動・固定することができる。この水準
調整体１２内には、水準センサ１３と、三角プリズム１
４と、水平反射鏡１５が定着されており、前記スタッフ
本体１１の下部には鉛直反射鏡１６が定着されている。
また、水準調整体１２の下端壁１２３には、三角プリズ
ム１４と鉛直反射鏡１６の間に形成される鉛直な光路を
遮断することのないように、孔又は切欠１２４が形成さ
れている。
タッフ本体１１の側壁１１１に長手方向に延在されるス
リット１１２を通じて調整螺子１２２がねじ込まれてお
り、これによって、スタッフ本体１１の長手方向におけ
る任意の位置に移動・固定することができる。この水準
調整体１２内には、水準センサ１３と、三角プリズム１
４と、水平反射鏡１５が定着されており、前記スタッフ
本体１１の下部には鉛直反射鏡１６が定着されている。
また、水準調整体１２の下端壁１２３には、三角プリズ
ム１４と鉛直反射鏡１６の間に形成される鉛直な光路を
遮断することのないように、孔又は切欠１２４が形成さ
れている。
【００１０】水準センサ１３は、受波面がスタッフ本体
１１及び水準調整体１２の開放された正面を向いた光波
検出部１３１と、ブザーによる出力部１３２とを有し、
特定の光波を受波することによって、ブザー音を出力す
る。また三角プリズム１４は、前記正面を向いた鉛直面
１４１と、下端の水平面１４２と、この両面１４１，１
４２に対して45°に傾斜した反射面１４３が形成された
透明体からなる。
１１及び水準調整体１２の開放された正面を向いた光波
検出部１３１と、ブザーによる出力部１３２とを有し、
特定の光波を受波することによって、ブザー音を出力す
る。また三角プリズム１４は、前記正面を向いた鉛直面
１４１と、下端の水平面１４２と、この両面１４１，１
４２に対して45°に傾斜した反射面１４３が形成された
透明体からなる。
【００１１】水平反射鏡１５は、正面を向いた三個の反
射プリズム１５１を有する三素子型構造となっていて、
各反射プリズム１５１は図２に示すように、断面が直角
三角形状の円錐形反射面１５１ａが形成されており、こ
の反射面１５１ａへの入射光Ｌに対して、その向きに拘
らず反射光Ｌ’が前記入射光Ｌと平行に発せられ、スタ
ッフ本体１１の正面側から水平に入射された光波を水平
に反射する。また、鉛直反射鏡１６も前記水平反射鏡１
５と同様に三個の反射プリズム１６１を有するものであ
って、各反射プリズム１６１は、水準調整体１２の下端
壁１２３における切欠１２４を通じて、三角プリズム１
４の下端の水平面１４２と対向しており、三角プリズム
からの鉛直方向の光波を反射して、再びこの三角プリズ
ム１４の水平面１４２から反射面１４３へ入射させる。
射プリズム１５１を有する三素子型構造となっていて、
各反射プリズム１５１は図２に示すように、断面が直角
三角形状の円錐形反射面１５１ａが形成されており、こ
の反射面１５１ａへの入射光Ｌに対して、その向きに拘
らず反射光Ｌ’が前記入射光Ｌと平行に発せられ、スタ
ッフ本体１１の正面側から水平に入射された光波を水平
に反射する。また、鉛直反射鏡１６も前記水平反射鏡１
５と同様に三個の反射プリズム１６１を有するものであ
って、各反射プリズム１６１は、水準調整体１２の下端
壁１２３における切欠１２４を通じて、三角プリズム１
４の下端の水平面１４２と対向しており、三角プリズム
からの鉛直方向の光波を反射して、再びこの三角プリズ
ム１４の水平面１４２から反射面１４３へ入射させる。
【００１２】次に図３において、参照符号２０は水準測
量機で、ほぼ水平に据え付けられることによって高精度
に自動的に整準された特定の光波を発射可能となる公知
の補償機構を備えた送波部２１と、前後左右の水平をみ
るための複数の気泡水準器２２とを有し、脚部２４を有
する基台２３上に複数の調整螺子２５を介して固定され
ている。また、参照符号３０は光波測距機で、送受波部
３１において、周波数変調された光波を未知点に設置し
た測標の反射鏡へ向けて送波すると共にこの反射鏡から
の反射波を入射し、送波されてから受波されるまでの光
波の波数及び送波における位相と受波における位相の差
を検出する検出手段を内蔵し、この検出手段によって未
知点までの距離を検出するもので、その検出値は、図示
しない出力部に出力される。この光波測距機３０は、前
記水準測量機２０の上部に支持部材３２を介して一体的
に固定されている。
量機で、ほぼ水平に据え付けられることによって高精度
に自動的に整準された特定の光波を発射可能となる公知
の補償機構を備えた送波部２１と、前後左右の水平をみ
るための複数の気泡水準器２２とを有し、脚部２４を有
する基台２３上に複数の調整螺子２５を介して固定され
ている。また、参照符号３０は光波測距機で、送受波部
３１において、周波数変調された光波を未知点に設置し
た測標の反射鏡へ向けて送波すると共にこの反射鏡から
の反射波を入射し、送波されてから受波されるまでの光
波の波数及び送波における位相と受波における位相の差
を検出する検出手段を内蔵し、この検出手段によって未
知点までの距離を検出するもので、その検出値は、図示
しない出力部に出力される。この光波測距機３０は、前
記水準測量機２０の上部に支持部材３２を介して一体的
に固定されている。
【００１３】なお、水準測量機２０における送波部２１
と、光波測距機３０における送受波部３１との位置関係
は、上述の反射スタッフ１０における水準センサ１３の
光波検出部１３ａと、三角プリズム１４及び水平反射鏡
１５との高低差に対応するように、調整螺子２５によっ
て予め調整される。
と、光波測距機３０における送受波部３１との位置関係
は、上述の反射スタッフ１０における水準センサ１３の
光波検出部１３ａと、三角プリズム１４及び水平反射鏡
１５との高低差に対応するように、調整螺子２５によっ
て予め調整される。
【００１４】次に、上述の構成の水準測量装置によって
水準測量を行う場合について説明すると、図４に示すよ
うに、例えば、まず、標高の既知点Ａと未知点Ｂの間で
あってその双方を視認可能な地点Ｃに、水準測量機２０
及びその上部に一体的に固定された光波測距機３０を設
置し、水準測量機２０を水平調整して、その送波部２１
から高精度に整準された所定の光波を発する。一方、既
知点Ａに反射スタッフ１０を鉛直に立てると共に、水準
調整体１２に定着された水準センサ１３が、光波検出部
１３１で前記送波部２１からの光波Ｌを受波してブザー
音を出力する位置となるように、スタッフ本体１１に対
する水準調整体１２の高さを調整し、調整螺子１２２で
その高さに固定する。これによって、水準調整体１２内
の三角プリズム１４及び水平反射鏡１５が、前記送受波
部３１からの水平な光路Ｌ0 と同一水準に調整される。
水準測量を行う場合について説明すると、図４に示すよ
うに、例えば、まず、標高の既知点Ａと未知点Ｂの間で
あってその双方を視認可能な地点Ｃに、水準測量機２０
及びその上部に一体的に固定された光波測距機３０を設
置し、水準測量機２０を水平調整して、その送波部２１
から高精度に整準された所定の光波を発する。一方、既
知点Ａに反射スタッフ１０を鉛直に立てると共に、水準
調整体１２に定着された水準センサ１３が、光波検出部
１３１で前記送波部２１からの光波Ｌを受波してブザー
音を出力する位置となるように、スタッフ本体１１に対
する水準調整体１２の高さを調整し、調整螺子１２２で
その高さに固定する。これによって、水準調整体１２内
の三角プリズム１４及び水平反射鏡１５が、前記送受波
部３１からの水平な光路Ｌ0 と同一水準に調整される。
【００１５】ここで、前記光波測距機３０の送受波部３
１から反射スタッフ１０の三角プリズム１４及び水平反
射鏡１５へ向けて、光波を水平に送波すると、水平光路
Ｌ1を通って送波された光波は、三角プリズム１４の傾
斜した反射面１４３へ入射され、そこから下方へ反射さ
れて、鉛直光路Ｌ1'上を鉛直反射鏡１６に到達し、さら
に反射プリズム１６１により折り返し鉛直に反射され、
再び三角プリズム１４を通って前記送受波部３１で受波
されるので、鉛直反射鏡１６までの光路Ｌ1 ，Ｌ1'の距
離Ｄ1 が光波測距機３０に内蔵された検出手段で検出さ
れる。また、水平光路Ｌ2 を通って送波された光波は、
水平反射鏡１５に到達してその反射プリズム１５１によ
り折り返し水平に反射され、前記送受波部３１で受波さ
れるので、これによって、光波測距機３０から水平反射
鏡１５までの距離すなわち既知点Ａまでの水平距離Ｄ2
が検出される。なお、このとき反射スタッフ１０の正面
が正確に光波測距機３０を向いていなくても、水平反射
鏡１５は、図２に示す作用によって、光波を確実に光波
測距機３０の送受波部３１へ向けて反射する。
１から反射スタッフ１０の三角プリズム１４及び水平反
射鏡１５へ向けて、光波を水平に送波すると、水平光路
Ｌ1を通って送波された光波は、三角プリズム１４の傾
斜した反射面１４３へ入射され、そこから下方へ反射さ
れて、鉛直光路Ｌ1'上を鉛直反射鏡１６に到達し、さら
に反射プリズム１６１により折り返し鉛直に反射され、
再び三角プリズム１４を通って前記送受波部３１で受波
されるので、鉛直反射鏡１６までの光路Ｌ1 ，Ｌ1'の距
離Ｄ1 が光波測距機３０に内蔵された検出手段で検出さ
れる。また、水平光路Ｌ2 を通って送波された光波は、
水平反射鏡１５に到達してその反射プリズム１５１によ
り折り返し水平に反射され、前記送受波部３１で受波さ
れるので、これによって、光波測距機３０から水平反射
鏡１５までの距離すなわち既知点Ａまでの水平距離Ｄ2
が検出される。なお、このとき反射スタッフ１０の正面
が正確に光波測距機３０を向いていなくても、水平反射
鏡１５は、図２に示す作用によって、光波を確実に光波
測距機３０の送受波部３１へ向けて反射する。
【００１６】次に、未知点Ｂに反射スタッフ１０を鉛直
に立て、既知点Ａの場合と同様に、水準センサ１３によ
って、スタッフ本体１１に対する水準調整体１２の高さ
調整によって、三角プリズム１４及び水平反射鏡１５
を、光波測距機３０における送受波部３１と同一水準に
調整し、この送受波部３１から水平に光波を発すること
によって、光波測距機３０から未知点Ｂ上の三角プリズ
ム１４を通って鉛直反射鏡１６に至る距離Ｄ3 を測定す
ると共に、未知点Ｂ上の水平反射鏡１５までの水平距離
Ｄ4 を測定する。そして、これらの検出値Ｄ1 〜Ｄ4 か
ら、既知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈが、先に述べた式
によって算出される。なお、図４におけるｈは、スタッ
フ本体１１の下端接地面から鉛直反射鏡１６の反射面ま
での高さである。
に立て、既知点Ａの場合と同様に、水準センサ１３によ
って、スタッフ本体１１に対する水準調整体１２の高さ
調整によって、三角プリズム１４及び水平反射鏡１５
を、光波測距機３０における送受波部３１と同一水準に
調整し、この送受波部３１から水平に光波を発すること
によって、光波測距機３０から未知点Ｂ上の三角プリズ
ム１４を通って鉛直反射鏡１６に至る距離Ｄ3 を測定す
ると共に、未知点Ｂ上の水平反射鏡１５までの水平距離
Ｄ4 を測定する。そして、これらの検出値Ｄ1 〜Ｄ4 か
ら、既知点Ａと未知点Ｂの高低差Ｈが、先に述べた式
によって算出される。なお、図４におけるｈは、スタッ
フ本体１１の下端接地面から鉛直反射鏡１６の反射面ま
での高さである。
【００１７】したがって、本発明の水準測量装置は、従
来のように目視によって測標の目盛を読み取るといった
作業を全く含まず、作業者の視力等の読み取り能力に依
存するものでないことから、高低差Ｈが反射スタッフ１
０における水準調整体１２の高さ調整可能範囲であって
既知点Ａと未知点Ｂ間に光波に対する障碍物がない場所
である限り、一回で 1,000ｍ以上離れた地点間の水準測
量も高精度で行うことができ、測量回数を少なくして測
量に要する労力や時間を大幅に軽減することができる。
しかも、夜間や坑内等、暗い条件において同様に、高精
度で測量を行うことができる。
来のように目視によって測標の目盛を読み取るといった
作業を全く含まず、作業者の視力等の読み取り能力に依
存するものでないことから、高低差Ｈが反射スタッフ１
０における水準調整体１２の高さ調整可能範囲であって
既知点Ａと未知点Ｂ間に光波に対する障碍物がない場所
である限り、一回で 1,000ｍ以上離れた地点間の水準測
量も高精度で行うことができ、測量回数を少なくして測
量に要する労力や時間を大幅に軽減することができる。
しかも、夜間や坑内等、暗い条件において同様に、高精
度で測量を行うことができる。
【００１８】なお、本発明は、図示の実施例に限定され
るものではない。例えば、スタッフ本体１１の長さや水
準調整体１２の形状、水準調整体１２内における水準セ
ンサ１３と水平反射鏡１５及び三角プリズム１４の配置
等は任意であり、水平反射鏡１５及び鉛直反射鏡１６も
一素子型等、他の構造のものを用いても良い。また、上
述の実施例では、光波測距機３０を水準測量機２０の上
部に固定したが、光波測距機３０自体に、水平調整機構
や、水準センサ１３へ整準された光波を発する送波手段
を設ける等、種々の変更が可能である。
るものではない。例えば、スタッフ本体１１の長さや水
準調整体１２の形状、水準調整体１２内における水準セ
ンサ１３と水平反射鏡１５及び三角プリズム１４の配置
等は任意であり、水平反射鏡１５及び鉛直反射鏡１６も
一素子型等、他の構造のものを用いても良い。また、上
述の実施例では、光波測距機３０を水準測量機２０の上
部に固定したが、光波測距機３０自体に、水平調整機構
や、水準センサ１３へ整準された光波を発する送波手段
を設ける等、種々の変更が可能である。
【００１９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、水準測量機から目視によって水準スタッフの
目盛を読み取るものではなく、距離測定のための光波測
距機を利用して水準測量を行い得るようにしたことか
ら、測定可能距離を長くすることができ、 1,000ｍ以上
離れた地点間の水準測量も高精度で行うことができるよ
うになった。このため、広い区域で測量を行う場合も、
測量回数を激減することができ、しかも、夜間や坑内
等、暗い条件でも、測量の精度が低下しないといった優
れた効果を奏する。
によると、水準測量機から目視によって水準スタッフの
目盛を読み取るものではなく、距離測定のための光波測
距機を利用して水準測量を行い得るようにしたことか
ら、測定可能距離を長くすることができ、 1,000ｍ以上
離れた地点間の水準測量も高精度で行うことができるよ
うになった。このため、広い区域で測量を行う場合も、
測量回数を激減することができ、しかも、夜間や坑内
等、暗い条件でも、測量の精度が低下しないといった優
れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る水準測量装置の一実施例における
反射スタッフの長手方向の一部を省略した概略的な斜視
図である。
反射スタッフの長手方向の一部を省略した概略的な斜視
図である。
【図２】上記反射スタッフにおける反射鏡の作用説明図
である。
である。
【図３】上記実施例の一実施例における光波測距機とこ
の光波測距機を固定している水準測量機を示す概略的な
斜視図である。
の光波測距機を固定している水準測量機を示す概略的な
斜視図である。
【図４】上記実施例の水準測量装置による水準測量作業
の説明図である。
の説明図である。
【図５】従来の水準測量装置及びそれによる水準測量作
業の説明図である。
業の説明図である。
１０ 反射スタッフ １１ スタッフ本体 １２ 水準調整体 １３ 水準センサ １４ 三角プリズム １５ 水平反射鏡 １５１，１６１ 反射プリズム １６ 鉛直反射鏡 ２０ 水準測量機 ２１ 送波部 ３０ 光波測距機 ３１ 送受波部
Claims (1)
- 【請求項１】 所定の光波を水平に送受波して未知の距
離間における波数及び位相差から距離を測定する光波測
距機と、 この光波測距機による任意の測点に立設する反射スタッ
フとからなり、 この反射スタッフは、 スタッフ本体に高さ方向移動自在に設けた水準調整体
と、 前記水準調整体に固定されると共に水平に入射された光
波を鉛直方向に、鉛直に入射された光波を水平方向に反
射する三角プリズムと、 前記水準調整体に固定されると共に前記光波を再び前記
光波測距機へ反射する水平反射鏡と、 前記スタッフ本体の下部に固定されると共に前記三角プ
リズムからの鉛直な光波を入射して再び前記三角プリズ
ムへ反射する鉛直反射鏡と、を備えることを特徴とする
水準測量装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4217491A JPH0642967A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 水準測量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4217491A JPH0642967A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 水準測量装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0642967A true JPH0642967A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=16705075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4217491A Pending JPH0642967A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 水準測量装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0642967A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5860307A (en) * | 1995-10-27 | 1999-01-19 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for forming a bent pipe |
| JPH11179040A (ja) * | 1997-12-17 | 1999-07-06 | Sophia Co Ltd | 遊技機設置島 |
| CN102252655A (zh) * | 2011-04-29 | 2011-11-23 | 西南交通大学 | 精密量测觇标高的装置 |
-
1992
- 1992-07-24 JP JP4217491A patent/JPH0642967A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5860307A (en) * | 1995-10-27 | 1999-01-19 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for forming a bent pipe |
| JPH11179040A (ja) * | 1997-12-17 | 1999-07-06 | Sophia Co Ltd | 遊技機設置島 |
| CN102252655A (zh) * | 2011-04-29 | 2011-11-23 | 西南交通大学 | 精密量测觇标高的装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020522 |