JPH06324094A - 磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置 - Google Patents
磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置Info
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- JPH06324094A JPH06324094A JP13268593A JP13268593A JPH06324094A JP H06324094 A JPH06324094 A JP H06324094A JP 13268593 A JP13268593 A JP 13268593A JP 13268593 A JP13268593 A JP 13268593A JP H06324094 A JPH06324094 A JP H06324094A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims abstract description 55
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 22
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 15
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015363 Au—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 実際に巻線を行なわずに、磁気コアのインダ
クタンスの測定を可能とし、測定作業効率を著しく向上
すると共に、測定後の磁気コアへのごみなどの付着を防
止することのできる磁気コアのインダクタンス測定方法
及び装置を提供する。 【構成】 一側に個々に分離されたストライプ状の導電
手段12からなる導電パターン14を配置する。一方、
他側に導電パターン14と協同して疑似巻線回路を形成
する巻線形成手段20を設ける。導電パターン14と巻
線形成手段20との間に、被測定物である磁気コア1を
配置して、前記疑似巻線回路にインピーダンスアナライ
ザを接続することによって磁気コアのインダクタンスを
測定する。
クタンスの測定を可能とし、測定作業効率を著しく向上
すると共に、測定後の磁気コアへのごみなどの付着を防
止することのできる磁気コアのインダクタンス測定方法
及び装置を提供する。 【構成】 一側に個々に分離されたストライプ状の導電
手段12からなる導電パターン14を配置する。一方、
他側に導電パターン14と協同して疑似巻線回路を形成
する巻線形成手段20を設ける。導電パターン14と巻
線形成手段20との間に、被測定物である磁気コア1を
配置して、前記疑似巻線回路にインピーダンスアナライ
ザを接続することによって磁気コアのインダクタンスを
測定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気コアのインダクタ
ンスを測定する方法及びそのための測定装置に関し、例
えば、磁気ヘッド或はトロイダルインダクターなどのイ
ンダクタンスを測定するのに好適に利用することができ
る。
ンスを測定する方法及びそのための測定装置に関し、例
えば、磁気ヘッド或はトロイダルインダクターなどのイ
ンダクタンスを測定するのに好適に利用することができ
る。
【0002】
【従来の技術】例えば、図6に磁気ディスク装置に使用
される浮上型磁気ヘッド100の一例を示すが、このよ
うな浮上型磁気ヘッド100は、Fe−Si−Al合金
磁性膜などの軟磁性薄膜を用いた磁気ヘッドチップ(ヘ
ッドコア)1が、板ばね支持機構(図示せず)に保持さ
れたスライダ102の溝部分104にガラスモールドに
より取り付けられて構成されている。又、ヘッドコア1
は、一対のコア半体、即ち、Iコア2とCコア4とがを
突き合わせ面で一体に接合され、本例ではCコア4に巻
線6が施される。
される浮上型磁気ヘッド100の一例を示すが、このよ
うな浮上型磁気ヘッド100は、Fe−Si−Al合金
磁性膜などの軟磁性薄膜を用いた磁気ヘッドチップ(ヘ
ッドコア)1が、板ばね支持機構(図示せず)に保持さ
れたスライダ102の溝部分104にガラスモールドに
より取り付けられて構成されている。又、ヘッドコア1
は、一対のコア半体、即ち、Iコア2とCコア4とがを
突き合わせ面で一体に接合され、本例ではCコア4に巻
線6が施される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような構成の浮上
型磁気ヘッド100は、製品として出荷する前に個々に
そのインダクタンスを測定しその磁気特性を検査する必
要がある。このとき、スライダ102にヘッドコア1を
取り付けた後にインダクタンスを測定したのでは、その
時点で使用範囲外であると判明した磁気ヘッド100は
使用することができず、無駄が生じることとなる。従っ
て、通常、インダクタンスの測定は、ヘッドコア1をス
ライダ102に組込む前に、ヘッドコア単独の状態で行
なわれる。
型磁気ヘッド100は、製品として出荷する前に個々に
そのインダクタンスを測定しその磁気特性を検査する必
要がある。このとき、スライダ102にヘッドコア1を
取り付けた後にインダクタンスを測定したのでは、その
時点で使用範囲外であると判明した磁気ヘッド100は
使用することができず、無駄が生じることとなる。従っ
て、通常、インダクタンスの測定は、ヘッドコア1をス
ライダ102に組込む前に、ヘッドコア単独の状態で行
なわれる。
【0004】しかしながら、ヘッドコア1のインダクタ
ンスを測定するには、導線を1本コアの穴に通す1ター
ン巻線による方法もあるが、インダクタンスの絶対値が
小さいため測定精度が悪く、少なくとも3〜5ターンの
巻線が必要なので、個々に巻線6を施して測定し、その
後、この巻線6を解く作業が必要とされる。それは、ヘ
ッドコア1をスライダ102に取り付ける際にはガラス
モールドの加熱融着が必要とされ、巻線6をしたままで
の作業は不可能か、或は極めて困難であるからである。
ンスを測定するには、導線を1本コアの穴に通す1ター
ン巻線による方法もあるが、インダクタンスの絶対値が
小さいため測定精度が悪く、少なくとも3〜5ターンの
巻線が必要なので、個々に巻線6を施して測定し、その
後、この巻線6を解く作業が必要とされる。それは、ヘ
ッドコア1をスライダ102に取り付ける際にはガラス
モールドの加熱融着が必要とされ、巻線6をしたままで
の作業は不可能か、或は極めて困難であるからである。
【0005】従って、従来のインダクタンスの測定で
は、ヘッドコアのインダクタンスそのものの測定は数秒
にて終わるものの、ヘッドコアへの巻線作業に5分/
個、更に巻線解き作業に1分/個を必要とし、測定作業
効率が極めて悪いものであった。
は、ヘッドコアのインダクタンスそのものの測定は数秒
にて終わるものの、ヘッドコアへの巻線作業に5分/
個、更に巻線解き作業に1分/個を必要とし、測定作業
効率が極めて悪いものであった。
【0006】又、巻線作業及び巻線解き作業により、巻
線の被覆が剥れ、ヘッドコアにごみが付着することがあ
り、測定後にヘッドコアをクリーニングすることが余儀
なくされた。
線の被覆が剥れ、ヘッドコアにごみが付着することがあ
り、測定後にヘッドコアをクリーニングすることが余儀
なくされた。
【0007】上記説明は、磁気ディスク装置に使用され
る浮上型磁気ヘッドを例にとって行なったが、このよう
な問題は、ビデオヘッドにおいて、更には種々の電気機
器に使用されるトロイダルインダクターなどにおいてそ
の磁気コアのインダクタンスを測定する際に同様に生じ
ている。
る浮上型磁気ヘッドを例にとって行なったが、このよう
な問題は、ビデオヘッドにおいて、更には種々の電気機
器に使用されるトロイダルインダクターなどにおいてそ
の磁気コアのインダクタンスを測定する際に同様に生じ
ている。
【0008】従って、本発明の目的は、実際に巻線を行
なわずに、磁気コアのインダクタンスの測定を可能と
し、測定作業効率を著しく向上すると共に、測定後の磁
気コアへのごみなどの付着を防止することのできる磁気
コアのインダクタンス測定方法及び装置を提供すること
である。
なわずに、磁気コアのインダクタンスの測定を可能と
し、測定作業効率を著しく向上すると共に、測定後の磁
気コアへのごみなどの付着を防止することのできる磁気
コアのインダクタンス測定方法及び装置を提供すること
である。
【0009】本発明の他の目的は、同時に多数個の磁気
コアのインダクタンスを測定し、測定作業効率を著しく
向上せしめ得る磁気コアのインダクタンス測定方法及び
装置を提供することである。
コアのインダクタンスを測定し、測定作業効率を著しく
向上せしめ得る磁気コアのインダクタンス測定方法及び
装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的は本発明に係る
磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置にて達成さ
れる。要約すれば、本発明は、一側に個々に分離された
導電手段からなる導電パターンを配置し、他側に前記導
電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線形成
手段を設け、前記導電パターンと前記巻線形成手段との
間に、被測定物である磁気コアを配置することによりこ
の磁気コアのインダクタンスを測定することを特徴とす
る磁気コアのインダクタンス測定方法である。
磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置にて達成さ
れる。要約すれば、本発明は、一側に個々に分離された
導電手段からなる導電パターンを配置し、他側に前記導
電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線形成
手段を設け、前記導電パターンと前記巻線形成手段との
間に、被測定物である磁気コアを配置することによりこ
の磁気コアのインダクタンスを測定することを特徴とす
る磁気コアのインダクタンス測定方法である。
【0011】斯かる磁気コアのインダクタンス測定方法
は、絶縁性基板と、前記基板上に形成されたストライプ
状の複数個の導電手段からなる導電パターンと、前記導
電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線形成
手段とを備え、前記巻線形成手段は、絶縁体にて作製さ
れたホルダと、このホルダの両側に整列して保持され、
その先端が前記導電手段に電気的に接触し得るように形
成された接触子と、前記ホルダの各側に配置された前記
接触子の他の端部を電気的に接続する連通導体とを有
し、前記巻線形成手段の任意の接触子にインダクタンス
測定機を接続可能としたことを特徴とする磁気コアのイ
ンダクタンス測定装置にて好適に実施し得る。
は、絶縁性基板と、前記基板上に形成されたストライプ
状の複数個の導電手段からなる導電パターンと、前記導
電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線形成
手段とを備え、前記巻線形成手段は、絶縁体にて作製さ
れたホルダと、このホルダの両側に整列して保持され、
その先端が前記導電手段に電気的に接触し得るように形
成された接触子と、前記ホルダの各側に配置された前記
接触子の他の端部を電気的に接続する連通導体とを有
し、前記巻線形成手段の任意の接触子にインダクタンス
測定機を接続可能としたことを特徴とする磁気コアのイ
ンダクタンス測定装置にて好適に実施し得る。
【0012】好ましくは、前記導電パターンは、前記絶
縁性基板上に複数形成され、それによって、複数の磁気
コアのインダクタンスが同時に測定可能とされる。
縁性基板上に複数形成され、それによって、複数の磁気
コアのインダクタンスが同時に測定可能とされる。
【0013】
【実施例】以下、本発明に係る磁気コアのインダクタン
ス測定方法及び装置を図面に則して更に詳しく説明す
る。
ス測定方法及び装置を図面に則して更に詳しく説明す
る。
【0014】図1〜図4に、本発明に係る磁気コアのイ
ンダクタンス測定方法を実施するための測定装置10の
一実施例を示す。本実施例によると、磁気コア1のため
のインダクタンス測定装置10は、矩形の平板状基板1
1を有する。この基板11上には、複数の導電手段12
にて構成される導電パターン14が形成される。本実施
例によれば、各導電手段12は、所定の長さ(L)及び
幅(W)を有した細長矩形状、即ちストライプ状に形成
され、又各導電手段12は、互いに離隔して且つ互いに
平行に配列される。本実施例では、図1及び図2を参照
すると、ストライプ状に6個形成されているがこれに限
定されるものではない。前記基板11は、絶縁性材料に
て作製され、樹脂、セラミックスなどが好適に使用され
る。又、導電手段12としては、導電性材料であれば良
く、例えば、金、銅、アルミニウムなどが好適に使用さ
れる。
ンダクタンス測定方法を実施するための測定装置10の
一実施例を示す。本実施例によると、磁気コア1のため
のインダクタンス測定装置10は、矩形の平板状基板1
1を有する。この基板11上には、複数の導電手段12
にて構成される導電パターン14が形成される。本実施
例によれば、各導電手段12は、所定の長さ(L)及び
幅(W)を有した細長矩形状、即ちストライプ状に形成
され、又各導電手段12は、互いに離隔して且つ互いに
平行に配列される。本実施例では、図1及び図2を参照
すると、ストライプ状に6個形成されているがこれに限
定されるものではない。前記基板11は、絶縁性材料に
て作製され、樹脂、セラミックスなどが好適に使用され
る。又、導電手段12としては、導電性材料であれば良
く、例えば、金、銅、アルミニウムなどが好適に使用さ
れる。
【0015】本実施例では、導電パターン14は、セラ
ミックス基板11上に、メッキにより、導電手段12と
して、長さ(L)が0.5mm、幅(W)が0.07m
m、厚さ0.01mmのストライプ状の銅層を0.1m
m間隔にて、6本平行に形成することにより作製した。
ミックス基板11上に、メッキにより、導電手段12と
して、長さ(L)が0.5mm、幅(W)が0.07m
m、厚さ0.01mmのストライプ状の銅層を0.1m
m間隔にて、6本平行に形成することにより作製した。
【0016】更に、本実施例によれば、好ましくは、各
導電手段12の両端には、接点手段16が電気的導通関
係をもって一体に設けられる。この接点手段16は、通
常の、Au、Pt、Ag或はこれらの合金などとされる
接点材料にて形成され得るが、例えばNi−Au−Sn
合金などが好適に使用される。又、好ましくは、前記導
電手段12の、両接点手段16の間の領域は、絶縁層1
8にて被覆される。絶縁層の材料としては、種々の樹脂
などを使用することができる。本実施例では、絶縁層
は、ポリイミドにて形成した。
導電手段12の両端には、接点手段16が電気的導通関
係をもって一体に設けられる。この接点手段16は、通
常の、Au、Pt、Ag或はこれらの合金などとされる
接点材料にて形成され得るが、例えばNi−Au−Sn
合金などが好適に使用される。又、好ましくは、前記導
電手段12の、両接点手段16の間の領域は、絶縁層1
8にて被覆される。絶縁層の材料としては、種々の樹脂
などを使用することができる。本実施例では、絶縁層
は、ポリイミドにて形成した。
【0017】更に、本発明によれば、測定装置10は、
巻線形成手段20を有する。巻線形成手段20の一実施
例が図3及び図4に示される。巻線形成手段20は、絶
縁体にて作製された矩形状のホルダ21を有し、このホ
ルダ21の下面両側部には、棒状の接触子(プローブ)
22の一端が取り付けられる。この接触子22は、その
先端が、前記導電手段12の各接点手段16に電気的に
接触し得るように、本実施例では、前記導電手段12の
接点手段16に対向して2列に整列して配置されてい
る。又、2列を成す各プローブ22の、前記接点手段1
6とは接触しない側のホルダ21に支持された端部は、
図4にて理解されるように、対向した対を成すプローブ
22の一つ隣のプローブ22の端部と連通導体24にて
接続される。従って、両端に位置した対を成すプローブ
22の一方側の列のプローブ22(22A、22B)に
は、連通導体24は接続されないこととなる。又、ホル
ダ21には、各プローブ22に電気的に接続された端子
26が、両側部から外方へと突出して設けられる。
巻線形成手段20を有する。巻線形成手段20の一実施
例が図3及び図4に示される。巻線形成手段20は、絶
縁体にて作製された矩形状のホルダ21を有し、このホ
ルダ21の下面両側部には、棒状の接触子(プローブ)
22の一端が取り付けられる。この接触子22は、その
先端が、前記導電手段12の各接点手段16に電気的に
接触し得るように、本実施例では、前記導電手段12の
接点手段16に対向して2列に整列して配置されてい
る。又、2列を成す各プローブ22の、前記接点手段1
6とは接触しない側のホルダ21に支持された端部は、
図4にて理解されるように、対向した対を成すプローブ
22の一つ隣のプローブ22の端部と連通導体24にて
接続される。従って、両端に位置した対を成すプローブ
22の一方側の列のプローブ22(22A、22B)に
は、連通導体24は接続されないこととなる。又、ホル
ダ21には、各プローブ22に電気的に接続された端子
26が、両側部から外方へと突出して設けられる。
【0018】上記構成の測定装置10の使用方法につい
て説明する。先ず、被測定物である磁気コア、この実施
例では、先に図6に関連して説明した浮上型磁気ヘッド
磁気ヘッドチップ(ヘッドコア)1の巻線を施す部分
が、図2に示すように、一連の導電手段12からなる導
電パターン14を横断するようにして、各導電手段12
の上に、絶縁被膜18を介して設置される。このとき、
導電パターン14の上に巻線形成手段20は配置されて
はいない。
て説明する。先ず、被測定物である磁気コア、この実施
例では、先に図6に関連して説明した浮上型磁気ヘッド
磁気ヘッドチップ(ヘッドコア)1の巻線を施す部分
が、図2に示すように、一連の導電手段12からなる導
電パターン14を横断するようにして、各導電手段12
の上に、絶縁被膜18を介して設置される。このとき、
導電パターン14の上に巻線形成手段20は配置されて
はいない。
【0019】次いで、図3に示すように、巻線形成手段
20が、両側に整列されたプローブ22がヘッドコア1
の巻線部分を跨ぐようにして、ヘッドコア1の上方より
降下され、そしてプローブ22の先端がそれぞれ、導電
手段12の両側の接点手段16に電気的に接触する。こ
のときの状態を一部誇張して図1に示す。
20が、両側に整列されたプローブ22がヘッドコア1
の巻線部分を跨ぐようにして、ヘッドコア1の上方より
降下され、そしてプローブ22の先端がそれぞれ、導電
手段12の両側の接点手段16に電気的に接触する。こ
のときの状態を一部誇張して図1に示す。
【0020】図1を参照すると理解されるように、巻線
形成手段20を導電パターン14の上に設置することに
より、各導電手段12と、プローブ22と、連通導体2
4とにより、ヘッドコア1に対して巻線が施されたと同
様の電気回路、即ち、疑似巻線回路が形成される。図1
の実施例では巻線数は5である。
形成手段20を導電パターン14の上に設置することに
より、各導電手段12と、プローブ22と、連通導体2
4とにより、ヘッドコア1に対して巻線が施されたと同
様の電気回路、即ち、疑似巻線回路が形成される。図1
の実施例では巻線数は5である。
【0021】又、巻線形成手段20の両端のプローブ2
2A、22Bからの端子26にインピーダンスアナライ
ザ(図示せず)、ライト回路(図示せず)などが接続さ
れ、ヘッドコア1のインダクタンスが測定され、そして
測定結果が記録される。このとき、インピーダンスアナ
ライザなどのインダクタンス測定機をプローブ22A、
22Bからの端子26以外の適当な端子26に接続する
ことにより、疑似巻線の数を任意に変えて測定すること
もできる。斯かる測定に使用されるインピーダンスアナ
ライザ、ライト回路などは、現在使用されているものを
使用することができ、当業者には周知のものであるの
で、その構成及び機能についての説明は省略する。
2A、22Bからの端子26にインピーダンスアナライ
ザ(図示せず)、ライト回路(図示せず)などが接続さ
れ、ヘッドコア1のインダクタンスが測定され、そして
測定結果が記録される。このとき、インピーダンスアナ
ライザなどのインダクタンス測定機をプローブ22A、
22Bからの端子26以外の適当な端子26に接続する
ことにより、疑似巻線の数を任意に変えて測定すること
もできる。斯かる測定に使用されるインピーダンスアナ
ライザ、ライト回路などは、現在使用されているものを
使用することができ、当業者には周知のものであるの
で、その構成及び機能についての説明は省略する。
【0022】測定が終了すると、巻線形成手段20を上
方へと引上げ、それによって、ヘッドコア1は、導電パ
ターン14の上から取り除くことができる。次いで、次
のヘッドコア1が導電パターン14の上に設置され、イ
ンダクタンスの測定が行なわれる。
方へと引上げ、それによって、ヘッドコア1は、導電パ
ターン14の上から取り除くことができる。次いで、次
のヘッドコア1が導電パターン14の上に設置され、イ
ンダクタンスの測定が行なわれる。
【0023】このように、本願発明によれば、個々のヘ
ッドコア1に対する巻線作業或は巻線解き作業は全く必
要なく、その分の時間を節約することができ、測定作業
効率が著しく向上する。本発明によれば、測定のための
必要時間は数秒とされる。又、巻線作業に伴なって発生
するごみの問題も全くない。
ッドコア1に対する巻線作業或は巻線解き作業は全く必
要なく、その分の時間を節約することができ、測定作業
効率が著しく向上する。本発明によれば、測定のための
必要時間は数秒とされる。又、巻線作業に伴なって発生
するごみの問題も全くない。
【0024】本発明によれば、図5に示すように、一連
の導電手段12からなる導電パターン14を同じ基板1
1上に複数形成し、又、これに対応して複数の巻線形成
手段20を設けることによって、測定装置20上に、複
数の導電パターン14を、図5には6個しか図示されて
はいないが、例えば5000個形成することによって5
000個のヘッドコア1を基板11上に同時に設置して
測定することが可能であり、この場合には5000個の
ヘッドコアの測定が短時間で完了する。
の導電手段12からなる導電パターン14を同じ基板1
1上に複数形成し、又、これに対応して複数の巻線形成
手段20を設けることによって、測定装置20上に、複
数の導電パターン14を、図5には6個しか図示されて
はいないが、例えば5000個形成することによって5
000個のヘッドコア1を基板11上に同時に設置して
測定することが可能であり、この場合には5000個の
ヘッドコアの測定が短時間で完了する。
【0025】又、上記実施例では、磁気コアは、浮上型
磁気ヘッドのヘッドコアであるとしたが、本発明は、ビ
デオヘッド用のヘッドコア、更には、種々の電気機器に
使用されるトロイダルインダクターなどのインダクタン
スを測定する際にも同様に適用することができる。
磁気ヘッドのヘッドコアであるとしたが、本発明は、ビ
デオヘッド用のヘッドコア、更には、種々の電気機器に
使用されるトロイダルインダクターなどのインダクタン
スを測定する際にも同様に適用することができる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る磁気
コアのインダクタンス測定方法は、一側に個々に分離さ
れた導電手段からなる導電パターンを配置し、他側にこ
の導電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線
形成手段を設け、導電パターンと巻線形成手段との間
に、被測定物である磁気コアを配置することによりこの
磁気コアのインダクタンスを測定する構成とされるの
で、実際に巻線を行なわずに、磁気コアのインダクタン
スの測定が可能であり、それによって、測定作業効率を
著しく向上すると共に、測定後の磁気コアへのごみなど
の付着を防止することができるという効果を有してい
る。又、本発明の方法によれば、同時に多数個の磁気コ
アのインダクタンスを測定することが可能であり、従来
に比して、測定作業効率を著しく向上せしめ得る。
コアのインダクタンス測定方法は、一側に個々に分離さ
れた導電手段からなる導電パターンを配置し、他側にこ
の導電パターンと協同して疑似巻線回路を形成する巻線
形成手段を設け、導電パターンと巻線形成手段との間
に、被測定物である磁気コアを配置することによりこの
磁気コアのインダクタンスを測定する構成とされるの
で、実際に巻線を行なわずに、磁気コアのインダクタン
スの測定が可能であり、それによって、測定作業効率を
著しく向上すると共に、測定後の磁気コアへのごみなど
の付着を防止することができるという効果を有してい
る。又、本発明の方法によれば、同時に多数個の磁気コ
アのインダクタンスを測定することが可能であり、従来
に比して、測定作業効率を著しく向上せしめ得る。
【0027】又、本発明の測定装置によれば、上記磁気
コアのインダクタンスの測定を極めて有効に実施するこ
とができる。
コアのインダクタンスの測定を極めて有効に実施するこ
とができる。
【図1】本発明に係る磁気コアのインダクタンスの測定
方法を説明するための図である。
方法を説明するための図である。
【図2】本発明に係る磁気コアのインダクタンスの測定
方法を実施するための測定装置の一実施例の平面図であ
る。
方法を実施するための測定装置の一実施例の平面図であ
る。
【図3】図2の測定装置の断面図ある。
【図4】巻線形成手段の平面図である。
【図5】本発明に係る磁気コアのインダクタンス測定装
置の他の実施例の平面図である。
置の他の実施例の平面図である。
【図6】浮上型磁気ヘッドを示す斜視図である。
1 磁気ヘッドチップ(ヘッドコア) 10 インダクタンス測定装置 11 基板 12 導電手段 14 導電パターン 16 接点手段 18 絶縁層 20 巻線形成手段 21 ホルダ 22 接触子(プローブ) 24 連通導体 26 端子
Claims (3)
- 【請求項1】 一側に個々に分離された導電手段からな
る導電パターンを配置し、他側に前記導電パターンと協
同して疑似巻線回路を形成する巻線形成手段を設け、前
記導電パターンと前記巻線形成手段との間に、被測定物
である磁気コアを配置することによりこの磁気コアのイ
ンダクタンスを測定することを特徴とする磁気コアのイ
ンダクタンス測定方法。 - 【請求項2】 絶縁性基板と、前記基板上に形成された
ストライプ状の複数個の導電手段からなる導電パターン
と、前記導電パターンと協同して疑似巻線回路を形成す
る巻線形成手段とを備え、前記巻線形成手段は、絶縁体
にて作製されたホルダと、このホルダの両側に整列して
保持され、その先端が前記導電手段に電気的に接触し得
るように形成された接触子と、前記ホルダの各側に配置
された前記接触子の他の端部を電気的に接続する連通導
体とを有し、前記巻線形成手段の任意の接触子にインダ
クタンス測定機を接続可能としたことを特徴とする磁気
コアのインダクタンス測定装置。 - 【請求項3】 前記導電パターンは、前記絶縁性基板上
に複数形成される請求項2の磁気コアのインダクタンス
測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13268593A JPH06324094A (ja) | 1993-05-10 | 1993-05-10 | 磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13268593A JPH06324094A (ja) | 1993-05-10 | 1993-05-10 | 磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06324094A true JPH06324094A (ja) | 1994-11-25 |
Family
ID=15087134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13268593A Pending JPH06324094A (ja) | 1993-05-10 | 1993-05-10 | 磁気コアのインダクタンス測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06324094A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107102214A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 具有弹性测试针的小电感金属磁环电感测试工装 |
CN107102213A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 采用弹性圆柱销进行金属磁环小电感测试的方法 |
CN115206660A (zh) * | 2022-06-21 | 2022-10-18 | 北安市恒信科技开发有限公司 | 一种磁芯灌胶封装方法 |
-
1993
- 1993-05-10 JP JP13268593A patent/JPH06324094A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107102214A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 具有弹性测试针的小电感金属磁环电感测试工装 |
CN107102213A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 采用弹性圆柱销进行金属磁环小电感测试的方法 |
CN107102214B (zh) * | 2017-03-30 | 2019-09-20 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 具有弹性测试针的小电感金属磁环电感测试工装 |
CN115206660A (zh) * | 2022-06-21 | 2022-10-18 | 北安市恒信科技开发有限公司 | 一种磁芯灌胶封装方法 |
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