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JPH06303255A - Cell switch - Google Patents

Cell switch

Info

Publication number
JPH06303255A
JPH06303255A JP22166993A JP22166993A JPH06303255A JP H06303255 A JPH06303255 A JP H06303255A JP 22166993 A JP22166993 A JP 22166993A JP 22166993 A JP22166993 A JP 22166993A JP H06303255 A JPH06303255 A JP H06303255A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cell data
data
buffer
cell
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22166993A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mutsumi Ito
睦 伊藤
Toshio Suzuki
敏夫 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KYUSHU NIPPON DENKI TSUSHIN SYST KK
NEC Communication Systems Ltd
Original Assignee
KYUSHU NIPPON DENKI TSUSHIN SYST KK
NEC Communication Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KYUSHU NIPPON DENKI TSUSHIN SYST KK, NEC Communication Systems Ltd filed Critical KYUSHU NIPPON DENKI TSUSHIN SYST KK
Priority to JP22166993A priority Critical patent/JPH06303255A/en
Publication of JPH06303255A publication Critical patent/JPH06303255A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 2台の交換装置を備えるセル交換機において
セルデータの損失を最小限に抑えてしかも高速に系切り
替えを行う。 【構成】 第1及び第2の交換装置21及び22はそれ
ぞれ第1及び第2のバッファ21f及び22fを備えて
おり、第1の交換装置を現用交換装置から予備交換装置
にチェンジする際、テストセルが第1及び第2のバッフ
ァにロードされる。第2のバッファから出力されるセル
データがテストセルに一致した際、第1のバッファから
出力されるセルデータがテストセルに一致するまで第2
のバッファからの読出動作が停止される。第1及び第2
のバッファからのセルデータがテストセルに一致した
後、入力セルデータは第2の交換装置にのみ与えられ
る。第1のセルデータがテストセルと一致となくても第
2のバッファに格納されたセルデータの数が予め定めら
れた数になると、入力セルデータは第2の交換装置にの
みロードされる。
(57) [Abstract] [Purpose] In a cell switch equipped with two switching devices, cell data loss is minimized and system switching is performed at high speed. [Structure] The first and second switching devices 21 and 22 are provided with first and second buffers 21f and 22f, respectively, and are tested when changing the first switching device from a current switching device to a standby switching device. Cells are loaded into the first and second buffers. When the cell data output from the second buffer matches the test cell, the second data is output until the cell data output from the first buffer matches the test cell.
The reading operation from the buffer is stopped. First and second
Input cell data is only provided to the second switching device after the cell data from the buffer of the first match the test cell. Even if the first cell data does not match the test cell, when the number of cell data stored in the second buffer reaches a predetermined number, the input cell data is loaded only in the second switching device.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はセル交換機に関する。FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a cell exchange.

【0002】[0002]

【従来の技術】セル交換機はATM通信とともに用いら
れ、入力セルデータを出力セルデータに交換する。この
セル交換機は第1及び第2の交換部を備えており、各交
換部において入力セルデータを出力セルデータに交換す
る。そして、第1及び第2の交換部の一方は現用交換部
として用いられ、他方は予備交換部として用いられる。
そして、これら第1及び第2の交換部はそれぞれ第1及
び第2のバッファを備えている。第1の交換部が現用交
換部として用いられている際、第1のバッファには複数
の入力セルデータが記憶セルデータとして記憶される。
各記憶セルデータは出力セルデータとして第1のバッフ
ァから読み出される。一方、第2のバッファは第1のバ
ッファ動作中においては空である。
Cell exchanges are used with ATM communications to exchange input cell data for output cell data. This cell exchange includes first and second exchanges, and exchanges input cell data with output cell data in each exchange. Then, one of the first and second exchanging units is used as a working exchanging unit, and the other is used as a spare exchanging unit.
And these 1st and 2nd exchange parts are provided with the 1st and 2nd buffer, respectively. When the first switching unit is used as the working switching unit, a plurality of input cell data are stored in the first buffer as storage cell data.
Each memory cell data is read from the first buffer as output cell data. On the other hand, the second buffer is empty during the operation of the first buffer.

【0003】従来、この種のセル交換機ではさらに受信
部と送信部とを備えており、受信部では受信セルデータ
を受けこの受信セルデータを入力セルデータとして現用
交換部に与える。送信部は出力セルデータの送信を行
う。
Conventionally, this type of cell switch is further provided with a receiving section and a transmitting section, and the receiving section receives the received cell data and gives the received cell data as input cell data to the working switching section. The transmission unit transmits the output cell data.

【0004】第1の交換部が現用として動作し、第2の
交換部が予備とされている際、第1の交換部の状況に応
じて第1の交換部はしばしば予備交換部とされる。この
際、まず、受信部において受信セルデータの受信が停止
される。加えて、第1の交換部では出力セルデータの生
成を停止する。その結果、幾つかの記憶セルデータが残
留セルデータとして第1のバッファに保持されることに
なる。これら残留セルデータは転送パスを介して第2の
バッファに転送される。従って、第2のバッファには第
1のバッファと同一の内容が保持されることになる。第
1のバッファから第2のバッファへの記憶セルデータの
転送が終了した後、第1の交換部は予備交換部になり、
第2の交換部は現用交換部にチェンジされる。
When the first exchanging unit operates as the working unit and the second exchanging unit is the spare unit, the first exchanging unit is often used as the spare exchanging unit depending on the situation of the first exchanging unit. . At this time, first, the receiving unit stops receiving the received cell data. In addition, the first exchange section stops the generation of output cell data. As a result, some storage cell data will be held in the first buffer as residual cell data. These residual cell data are transferred to the second buffer via the transfer path. Therefore, the same content as the first buffer is held in the second buffer. After the transfer of the memory cell data from the first buffer to the second buffer is completed, the first exchange unit becomes a spare exchange unit,
The second exchange section is changed to the working exchange section.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
セル交換機では、第1のバッファに保持された残留セル
データを第2のバッファに転送する必要があるため、高
速に第1の交換部を予備交換部にチェンジできない。ま
た、従来のセル交換機では、上記のチェンジの際、受信
部が受信セルデータの受信を停止しているため、受信パ
ス上で受信セルデータに渋滞が発生して、即ち、トラヒ
ックの輻輳が発生して幾つかの受信セルデータが受信パ
ス上で破棄されてしまう。つまり、第1の交換部から第
2の交換部へ残留セルデータを転送する間、入力セルデ
ータが破棄されてしまうという問題点がある。加えて、
大規模な交換機では残留セルデータ転送のため、大規模
な回路と高速なスループットを有するバスが必要となっ
てしまう。
However, in the conventional cell exchange, it is necessary to transfer the residual cell data held in the first buffer to the second buffer. I cannot change to the exchange department. Further, in the conventional cell exchange, at the time of the above change, the receiving unit stops receiving the received cell data, so that congestion occurs in the received cell data on the reception path, that is, traffic congestion occurs. As a result, some received cell data are discarded on the receiving path. That is, there is a problem that the input cell data is discarded while the residual cell data is transferred from the first exchange section to the second exchange section. in addition,
A large-scale exchange requires a large-scale circuit and a bus with high throughput for residual cell data transfer.

【0006】本発明の目的は高速に現用交換部を予備交
換部にチェンジすることのできるセル交換機を提供する
ことにある。
It is an object of the present invention to provide a cell exchange capable of changing a working exchange unit to a spare exchange unit at high speed.

【0007】本発明の他の目的は入力セルデータの破棄
を最小限度に抑えることのできるセル交換機を提供する
ことにある。
Another object of the present invention is to provide a cell exchange capable of minimizing discard of input cell data.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、ATM
通信に用いられ入力セルデータを出力セルデータに交換
するためのセル交換機であって、前記入力セルデータを
第1のバッファデータとして予め設定された数まで連続
的に記憶して前記第1のバッファデータを第1の出力セ
ルデータとして出力する第1のバッファ手段と、前記入
力セルデータを第2のバッファデータとして予め設定さ
れた数まで連続的に記憶して前記第2のバッファデータ
を第2の出力セルデータとして出力する第2のバッファ
手段と、受信セルデータを受け前記第1及び前記第2の
バッファ手段に前記受信セルデータを前記入力セルデー
タとして連続的に与える受信手段と、前記第1及び前記
第2の出力セルデータのうち一つを前記出力セルデータ
として送出する送出手段とを有するとともに、第1及び
第2の制御信号を生成するコントロール信号生成手段を
備え、前記受信手段は前記第1の制御信号を受けた際前
記第1のバッファ手段に前記入力セルデータを与え、前
記受信手段は前記第2の制御信号を受けた際前記第1及
び前記第2のバッファ手段に前記入力セルデータを与え
ており、さらに、前記第2の制御信号に応答して前記第
1及び前記第2のバッファ手段に前記入力セルデータと
してテストデータを与えるテストデータ供給手段と、前
記第1の出力セルデータが前記テストデータに一致した
際第1の検出信号を出力するとともに前記第2の出力セ
ルデータが前記テストデータに一致した際第2の検出信
号を出力する検出手段と、前記第2のバッファ手段を監
視して前記第2のバッファデータの数が前記予め定めら
れた数になると監視信号を出力する監視手段と、前記第
1及び前記第2の検出信号を受けた際前記受信手段及び
前記送出手段を前記第2のバッファ手段に結合するとと
もに前記監視信号を受けた際前記受信手段及び前記送出
手段を前記第2のバッファ手段に結合する制御手段とを
有することを特徴とするセル交換機が得られる。
According to the present invention, an ATM
A cell switch used for communication for exchanging input cell data for output cell data, wherein the input cell data is continuously stored as a first buffer data up to a preset number, and the first buffer is stored. A first buffer means for outputting data as first output cell data; and a second buffer data for continuously storing the input cell data as a second buffer data up to a preset number. Second output means for outputting the received cell data as the input cell data, and second receiving means for receiving the received cell data as the input cell data. And a sending means for sending one of the first and second output cell data as the output cell data, and sending the first and second control signals. Control signal generating means for generating the input cell data when the receiving means receives the first control signal, and the receiving means receives the second control signal. At this time, the input cell data is given to the first and second buffer means, and further, in response to the second control signal, the input cell data is tested in the first and second buffer means as the input cell data. A test data supplying means for giving data, and a first detection signal when the first output cell data matches the test data and a second detection signal when the second output cell data matches the test data Detecting means for outputting the detection signal and the second buffer means and outputs the monitoring signal when the number of the second buffer data reaches the predetermined number. And a receiving means and a sending means upon coupling the receiving means and the sending means to the second buffer means when receiving the first and second detection signals, and receiving the monitoring signal. Is provided to the second buffer means, and a control means for coupling the second buffer means to the second buffer means is provided.

【0009】[0009]

【実施例】以下本発明について実施例によって説明す
る。
EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples.

【0010】図1を参照して、図示のセル交換機はAT
M通信で用いられ、入力セルデータを出力セルデータに
交換する。入力セルデータ及び出力セルデータは固定長
のデータブロックを備えており、これらセルデータはア
ドレス信号が配置されるヘッダとデータ信号が配置され
るデータ領域を有している。セル交換機は周知のように
アドレス信号に応じて入力セルデータを出力セルデータ
に交換する。
Referring to FIG. 1, the illustrated cell exchange is an AT.
Used in M communication to exchange input cell data with output cell data. The input cell data and the output cell data are provided with fixed-length data blocks, and these cell data have a header in which address signals are arranged and a data area in which data signals are arranged. As is well known, the cell exchange exchanges input cell data with output cell data according to an address signal.

【0011】セル交換機は受信回路11及び送信回路1
2を備えており、受信回路11は外部受信パス13に接
続され連続的に複数の受信セルデータを受ける。受信回
路11はさらに第1及び第2の交換装置21及び22に
接続され連続的に受信セルデータを入力セルデータとし
て第1及び第2の交換装置21及び22に供給する。第
1の交換装置21では各入力セルデータを第1の出力セ
ルデータに交換(変換)して後述するようにして送信回
路12に第1の出力セルデータを送る。同様にして、第
2の交換装置22では各入力セルデータを第2の出力セ
ルデータに交換(変換)して後述するようにして送信回
路12に第2の出力セルデータを送る。送信回路12で
は後述するようにして第1及び第2の出力セルデータの
うち一つを選択的に出力セルデータとして外部送信パス
上に送出する。また、セル交換機はメイン制御回路30
及び第1及び第2の制御回路31及び32を備えてい
る。
The cell exchange comprises a receiving circuit 11 and a transmitting circuit 1.
2, the reception circuit 11 is connected to the external reception path 13 and continuously receives a plurality of reception cell data. The receiving circuit 11 is further connected to the first and second switching devices 21 and 22 and continuously supplies the received cell data to the first and second switching devices 21 and 22 as input cell data. The first exchange device 21 exchanges (converts) each input cell data into first output cell data, and sends the first output cell data to the transmission circuit 12 as described later. Similarly, the second switching device 22 exchanges (converts) each input cell data into the second output cell data and sends the second output cell data to the transmission circuit 12 as described later. In the transmission circuit 12, one of the first and second output cell data is selectively transmitted as output cell data on the external transmission path as described later. In addition, the cell exchange is the main control circuit 30.
And first and second control circuits 31 and 32.

【0012】第1の交換装置21は第1のテストセル生
成回路21a、第1のセル交換回路21b、第1の検出
回路21c、及び第1の監視回路21dを備えている。
第1のセル交換回路21bは第1の交換ユニット21e
及び第1のバッファ21fを備えている。第1の交換ユ
ニット21eは各入力セルデータを時分割手法によって
第1の交換セルデータに交換して第1の交換セルデータ
を第1の記憶セルデータとして第1のバッファ21fに
格納する。各第1の記憶セルデータは予め定められた時
間間隔で第1のバッファ21fから第1の出力セルデー
タとして読み出される。
The first exchange device 21 includes a first test cell generation circuit 21a, a first cell exchange circuit 21b, a first detection circuit 21c, and a first monitoring circuit 21d.
The first cell exchange circuit 21b is the first exchange unit 21e.
And a first buffer 21f. The first exchange unit 21e exchanges each input cell data with the first exchange cell data by the time division method and stores the first exchange cell data in the first buffer 21f as the first storage cell data. Each first memory cell data is read out from the first buffer 21f as first output cell data at a predetermined time interval.

【0013】第1のバッファ21fは予め定められた容
量を有している。つまり、第1のバッファ21fには予
め定められた数まで第1の記憶セルデータを記憶するこ
とができる。第1のバッファ21fは、例えば、先入れ
先出しメモリである。第1の監視回路21dは第1のバ
ッファ21fに格納された第1の記憶セルデータの数を
監視して、第1の記憶セルデータの数が予め定められた
数になると、第1の監視回路21dは第1の監視信号を
送出する。
The first buffer 21f has a predetermined capacity. That is, the first storage cell data can be stored in the first buffer 21f up to a predetermined number. The first buffer 21f is, for example, a first-in first-out memory. The first monitoring circuit 21d monitors the number of the first memory cell data stored in the first buffer 21f, and when the number of the first memory cell data reaches a predetermined number, the first monitor circuit 21d performs the first monitoring. The circuit 21d outputs the first supervisory signal.

【0014】同様にして、第2の交換装置22は第2の
テストセル生成回路22a、第2のセル交換回路21
b、第2の検出回路22c、及び第2の監視回路22d
を備えている。第2のセル交換回路22bは第2の交換
ユニット22e及び第2のバッファ22fを備えてお
り、第1の交換ユニット21eと同様にして、第2の交
換ユニット22eは時分割手法によって各入力セルデー
タを第2の交換セルデータに交換して第2の交換セルデ
ータを第2の記憶セルデータとして第2のバッファ22
fに格納する。各第2の記憶セルデータは予め定められ
た時間間隔で第2の出力セルデータとして第2のバッフ
ァ22fから読み出される。
Similarly, the second switching device 22 includes a second test cell generating circuit 22a and a second cell switching circuit 21.
b, the second detection circuit 22c, and the second monitoring circuit 22d
Is equipped with. The second cell exchanging circuit 22b includes a second exchanging unit 22e and a second buffer 22f, and similarly to the first exchanging unit 21e, the second exchanging unit 22e uses the time division method for each input cell. The data is exchanged for the second exchange cell data and the second exchange cell data is used as the second storage cell data in the second buffer 22.
Store in f. Each second memory cell data is read from the second buffer 22f as second output cell data at a predetermined time interval.

【0015】第2のバッファ22fは予め定められた容
量を有している。つまり、第2のバッファ22fには予
め定められた数まで第2の記憶セルデータを格納するこ
とができる。第2のバッファ22fは、例えば、先入れ
先出しメモリである。第2の監視回路22dは第2のバ
ッファ22fに格納された第2の記憶セルデータの数を
監視して、第2の記憶セルデータの数が予め定められた
数になると、第2の監視回路22dは第2の監視信号を
送出する。
The second buffer 22f has a predetermined capacity. In other words, the second storage cell data can be stored in the second buffer 22f up to a predetermined number. The second buffer 22f is, for example, a first-in first-out memory. The second monitoring circuit 22d monitors the number of the second memory cell data stored in the second buffer 22f, and when the number of the second memory cell data reaches a predetermined number, the second monitoring circuit 22d performs the second monitoring. The circuit 22d outputs the second supervisory signal.

【0016】交換動作において、第1及び第2の交換装
置21及び22の一方が現用交換装置として用いられ、
第1及び第2の交換装置21及び22の他方は予備交換
装置として用いられる。図示の例では、第1の交換装置
21が現用交換装置として用いられ、第2の交換装置2
2が予備交換装置として用いられるとする。
In the exchange operation, one of the first and second exchanges 21 and 22 is used as the active exchange.
The other of the first and second exchanges 21 and 22 is used as a spare exchange. In the illustrated example, the first switching device 21 is used as the working switching device and the second switching device 2 is used.
2 is used as a preliminary exchange device.

【0017】メイン制御回路30では外部装置(図示せ
ず)から制御パス33を介して与えられるアクティブ信
号に応じて第1及び第2の制御回路31及び32に動作
モード信号を送出する。この動作モード信号によって第
1及び第2の交換装置21及び22における現用状態又
は予備状態のいずれか一方が決定される。アクティブ信
号によって後述するようにして第1の交換装置21が現
用交換装置にセットされる。
The main control circuit 30 sends an operation mode signal to the first and second control circuits 31 and 32 in response to an active signal given from an external device (not shown) via the control path 33. This operation mode signal determines either the working state or the standby state in the first and second switching devices 21 and 22. The active signal sets the first switching device 21 to the working switching device as will be described later.

【0018】動作モード信号に応答して、第1及び第2
の制御回路31及び32はそれぞれ受信回路11及び送
信回路12に第1の受信制御信号及び第1の送信制御信
号を与える。第1の受信制御信号が与えられた際、受信
回路11は第1の交換装置21を選択して受信セルデー
タを入力セルデータとして第1の交換装置21に連続的
に供給する。第1の送信制御信号に応答して、送信回路
12では第1の交換装置22を選択して第1の出力セル
データを受信する。
First and second responsive to the operating mode signal
The control circuits 31 and 32 of 1 provide a first reception control signal and a first transmission control signal to the reception circuit 11 and the transmission circuit 12, respectively. When the first reception control signal is given, the receiving circuit 11 selects the first switching device 21 and continuously supplies the received cell data as the input cell data to the first switching device 21. In response to the first transmission control signal, the transmission circuit 12 selects the first switching device 22 to receive the first output cell data.

【0019】第1の受信制御信号及び第2の受信制御信
号は図1に示すように第1及び第2のテストセル生成回
路21a及び22aと第1及び第2の検出回路21c及
び22cとにも与えられる。第1の受信制御信号を受け
ると、第1及び第2のテストセル生成回路21a及び2
2aはそれぞれ受信したセルデータを通過させる。同様
にして、第1の送信制御信号に応答して、第1及び第2
の検出回路21c及び22cはそれぞれ受信したセルデ
ータを通過させる。図示の例では、第1のセル交換回路
21bは第1のテストセル生成回路21aと第1の検出
回路21cとの間に位置し受信回路11から第1のテス
トセル生成回路21aを介して入力セルデータを受け、
この入力セルデータを第1の出力セルデータに変換す
る。第1の出力セルデータは第1の検出回路21cを介
して送信回路12に送られ、出力セルデータとして外部
送信パス23上に送出される。
The first reception control signal and the second reception control signal are sent to the first and second test cell generation circuits 21a and 22a and the first and second detection circuits 21c and 22c as shown in FIG. Is also given. When receiving the first reception control signal, the first and second test cell generation circuits 21a and 2a
2a passes the received cell data respectively. Similarly, in response to the first transmission control signal, the first and second
The detection circuits 21c and 22c of 1) pass the received cell data. In the illustrated example, the first cell exchange circuit 21b is located between the first test cell generation circuit 21a and the first detection circuit 21c, and is input from the reception circuit 11 via the first test cell generation circuit 21a. Receive cell data,
This input cell data is converted into first output cell data. The first output cell data is sent to the transmission circuit 12 via the first detection circuit 21c, and is sent to the external transmission path 23 as output cell data.

【0020】図1を参照して、第1の交換装置21を予
備交換装置にするチェンジ動作について説明する。
With reference to FIG. 1, a change operation in which the first exchanging device 21 is used as a spare exchanging device will be described.

【0021】チェンジ動作の際、メイン制御回路30に
は制御パス33から準備命令信号が与えられる。準備命
令信号を受けると、メイン制御回路30では第1及び第
2の制御回路31及び32を制御して第1及び第2の制
御回路31及び32にそれぞれ第2の受信制御信号及び
第2の送信制御信号を送出させる。第2の受信制御信号
は第1の制御回路31から受信回路11及び第1及び第
2のテストセル生成回路21a及び22aに供給され、
一方、第2の送信制御信号は第2の制御回路32から送
信回路12及び第1及び第2の検出回路21c及び22
cに供給される。
At the time of the change operation, the main control circuit 30 is supplied with a preparation command signal from the control path 33. When receiving the preparation command signal, the main control circuit 30 controls the first and second control circuits 31 and 32 to cause the first and second control circuits 31 and 32 to receive the second reception control signal and the second reception control signal, respectively. Send a transmission control signal. The second reception control signal is supplied from the first control circuit 31 to the reception circuit 11 and the first and second test cell generation circuits 21a and 22a,
On the other hand, the second transmission control signal is transmitted from the second control circuit 32 to the transmission circuit 12 and the first and second detection circuits 21c and 22.
is supplied to c.

【0022】第2の受信制御信号に応答して、第1及び
第2のテストセル生成回路21a及び22aではそれぞ
れテストセルを生成してそれぞれテストセルを第1及び
第2のセル交換回路21b及び22bに与える。各テス
トセルはCCITTのI.361に規定されたヘッダを
備えており、さらに、予め定められたパターンを有する
テスト識別コードが配置されたテストセル領域を備えて
いる。テストセル生成の後、第2の受信制御信号に応答
して、受信回路11は第1及び第2の交換装置21及び
22の両方に受信セルデータを入力セルデータとして供
給する。
In response to the second reception control signal, the first and second test cell generation circuits 21a and 22a generate test cells, and the test cells are respectively converted into first and second cell switching circuits 21b and 21b. 22b. Each test cell is CCITT I.D. 361 is provided, and a test cell area in which a test identification code having a predetermined pattern is arranged is further provided. After generating the test cell, the receiving circuit 11 supplies the received cell data as the input cell data to both the first and second switching devices 21 and 22 in response to the second reception control signal.

【0023】図1及び図2を参照して、ここでは、図2
(A)に示すように、第1のバッファ21fにはすでに
記憶セルデータC1乃至C4が第1の記憶セルデータと
してロードされ、第2のバッファ22fは空状態にある
ものとする。この状況において、テストセルTCには第
1及び第2の交換ユニット21e及び22eから供給さ
れた交換セルデータC5乃至C8が続く。つまり、交換
セルデータC5乃至C8は共通に第1及び第2のバッフ
ァ21f及び22fに供給され、これらは互いに同一で
ある第1及び第2の交換セルデータに等しい。
Referring to FIGS. 1 and 2, here, FIG.
As shown in (A), it is assumed that the memory cell data C1 to C4 have already been loaded into the first buffer 21f as the first memory cell data, and the second buffer 22f is empty. In this situation, the test cell TC is followed by the exchanged cell data C5 to C8 supplied by the first and second exchange units 21e and 22e. That is, the exchanged cell data C5 to C8 are commonly supplied to the first and second buffers 21f and 22f, which are equal to the same first and second exchanged cell data.

【0024】図2(B)に示すように、第1の時間間隔
においてテストセルTCは第1及び第2のバッファ21
f及び22fに記憶テストセルTCとして記憶される。
この場合、テストセルTCは第1のバッファ21fの最
終段に記憶テストセルとしてロードされ、同一のテスト
セルTCが第2のバッファ22fの最前段にロードされ
る。第1の時間間隔において、記憶セルデータC1は先
入れ先出し手法によって第1の出力セルデータとして第
1のバッファ21fから読み出される。一方、第1の時
間間隔において、第2のバッファ22fからはセルデー
タは読み出されない。
As shown in FIG. 2B, the test cell TC operates in the first and second buffers 21 in the first time interval.
It is stored in f and 22f as a storage test cell TC.
In this case, the test cell TC is loaded as the storage test cell in the final stage of the first buffer 21f, and the same test cell TC is loaded in the front stage of the second buffer 22f. In the first time interval, the memory cell data C1 is read from the first buffer 21f as the first output cell data by the first-in first-out method. On the other hand, cell data is not read from the second buffer 22f in the first time interval.

【0025】上述したように、チェンジ動作の間、第1
の検出回路21cには第2の送信制御信号が与えられ、
これによって、第1の検出回路21cは第1の出力セル
データがテストセルに一致するか否かを検出する。第1
の出力セルデータがテストセル識別コードを備えている
と、第1の検出回路21cは第1の検出信号を送出す
る。この場合、第1の出力セルデータはテストセル識別
コードを有していないので、第1の検出回路21cは第
1の検出信号を送出しない。そして、第1の検出回路2
1cは第1の出力セルデータを通過させる。
As described above, during the change operation, the first
The second transmission control signal is given to the detection circuit 21c of
As a result, the first detection circuit 21c detects whether or not the first output cell data matches the test cell. First
If the output cell data of 1) includes the test cell identification code, the first detection circuit 21c sends out the first detection signal. In this case, since the first output cell data does not have the test cell identification code, the first detection circuit 21c does not send the first detection signal. Then, the first detection circuit 2
1c passes the first output cell data.

【0026】図2(C)に示すように、第2の時間間隔
において、セルデータC5が第1のバッファの最終段及
び第2のバッファの最前段に記憶セルデータC5として
格納される。同時に、第2の時間間隔において、記憶セ
ルデータC2が第1の出力セルデータとして第1のバッ
ファ21fから読み出され、第1の検出回路21cに与
えられる。この際、記憶テストセルTCは第2の出力セ
ルデータとして第2のバッファ22fから読み出されて
第2の検出回路22cに与えられる。
As shown in FIG. 2C, the cell data C5 is stored as the storage cell data C5 in the final stage of the first buffer and the front stage of the second buffer in the second time interval. At the same time, in the second time interval, the memory cell data C2 is read from the first buffer 21f as the first output cell data and given to the first detection circuit 21c. At this time, the memory test cell TC is read out from the second buffer 22f as the second output cell data and given to the second detection circuit 22c.

【0027】上述したように、チェンジ動作の際、第2
の送信制御信号が第2の検出回路22cに送られ、これ
によって、第2の検出回路は第2の出力セルデータがテ
ストセルに一致するか否かを検出する。第2の出力セル
データがテストセル識別コードを有していると、第2の
検出回路22cは第2の検出信号を送出する。ここで
は、第2の出力セルデータはテストセル識別コードを有
しているので、第2の検出回路22cから第2の検出信
号が送出される。一方、図2(C)に示すように、第1
の出力セルデータはテストセル識別コードを備えていな
いので、第1の検出回路21cは第1の検出信号を送出
しない。
As described above, during the change operation, the second
Is transmitted to the second detection circuit 22c, whereby the second detection circuit detects whether or not the second output cell data matches the test cell. When the second output cell data has the test cell identification code, the second detection circuit 22c sends out the second detection signal. Here, since the second output cell data has the test cell identification code, the second detection signal is sent from the second detection circuit 22c. On the other hand, as shown in FIG.
Since the output cell data of 1 does not include the test cell identification code, the first detection circuit 21c does not send the first detection signal.

【0028】第2の検出信号は第2の検出回路22cか
ら第2の制御回路32に与えられ、これによって、第2
の制御回路32では第2の交換回路22bを制御して第
2のバッファ22fの読出動作を停止する。
The second detection signal is given from the second detection circuit 22c to the second control circuit 32, whereby the second detection signal is supplied.
The control circuit 32 controls the second exchange circuit 22b to stop the read operation of the second buffer 22f.

【0029】図2(D)に示すように、第3の時間間隔
において、セルデータC6が記憶セルデータC6として
第1及び第2のバッファ21f及び22fにロードされ
る。代りに、記憶セルデータC3が第1の出力セルデー
タとして第1のバッファ21fから読み出され第1の検
出回路21cに与えられる。一方、前述したように、第
2のバッファ22fにおいてはその読出動作が停止され
ているので、第2のバッファ22fからはセルデータが
読み出されない。
As shown in FIG. 2D, at the third time interval, the cell data C6 is loaded into the first and second buffers 21f and 22f as the storage cell data C6. Instead, the memory cell data C3 is read as the first output cell data from the first buffer 21f and given to the first detection circuit 21c. On the other hand, as described above, the read operation is stopped in the second buffer 22f, so that the cell data is not read from the second buffer 22f.

【0030】図2(E)に示すように、第4の時間間隔
において、セルデータC7は第1及び第2のバッファ2
1f及び22fに記憶セルデータC7としてロードされ
る。同時に、第4の時間間隔において、記憶セルデータ
C4が第1の出力セルデータとして第1のバッファ21
fから読み出され第1の検出回路21cに与えられる。
As shown in FIG. 2E, the cell data C7 is stored in the first and second buffers 2 in the fourth time interval.
The memory cell data C7 is loaded into 1f and 22f. At the same time, in the fourth time interval, the memory cell data C4 is used as the first output cell data in the first buffer 21.
It is read from f and given to the first detection circuit 21c.

【0031】図2(F)に示すように、第5の時間間隔
において、セルデータC8が第1及び第2のバッファ2
1f及び22fに記憶セルデータC8としてロードされ
る。第5の時間間隔において、記憶テストセルTCが第
1の出力セルデータとして第1のバッファ21fから読
み出され、第1の検出回路21cに与えられる。その結
果、第1及び第2のバッファ21f及び22fにはそれ
ぞれ記憶セルデータC5乃至C8がロードされることに
なる。つまり、第2のバッファ22fは第1のバッファ
21fと同様の内容を有することになる。
As shown in FIG. 2F, the cell data C8 is stored in the first and second buffers 2 in the fifth time interval.
The memory cell data C8 is loaded into 1f and 22f. At the fifth time interval, the memory test cell TC is read out from the first buffer 21f as the first output cell data and given to the first detection circuit 21c. As a result, the storage cell data C5 to C8 are loaded into the first and second buffers 21f and 22f, respectively. That is, the second buffer 22f has the same contents as the first buffer 21f.

【0032】テストセルTCが第1の検出回路21cに
第1の出力セルデータとして与えられると、前述したよ
うに、第1の検出回路21cでは第1の検出信号を第2
の制御回路32に送出する。これによって、第2の制御
回路32では第1の交換回路21bを制御して第1のバ
ッファ21fの読出動作を停止する。
When the test cell TC is given to the first detection circuit 21c as the first output cell data, as described above, the first detection circuit 21c outputs the first detection signal to the second detection signal.
To the control circuit 32. As a result, the second control circuit 32 controls the first exchange circuit 21b to stop the read operation of the first buffer 21f.

【0033】第1及び第2の検出信号を受けた後、第2
の制御回路32はメイン制御回路30にチェンジ可能信
号を与える。このチェンジ可能信号を受けると、メイン
制御回路30は第1及び第2の制御回路31及び32に
チェンジ動作信号を与える。チェンジ動作信号に応答し
て、第1の制御回路31は受信回路11を制御して受信
回路11に第2の交換装置22のみに受信セルデータを
分配する。一方、第2の制御回路32では、チェンジ動
作信号に応答して、送信回路12を制御して送信回路1
2に第2の交換装置22から送られる第2の出力セルデ
ータを選択させる。さらに、第2の制御回路22は第1
及び第2の交換回路21b及び22bに読出動作を許可
する。つまり、第1及び第2の交換回路21b及び22
bの読出動作は第2の制御回路32に制御されることに
なる。
After receiving the first and second detection signals, the second
The control circuit 32 of 1 supplies a changeable signal to the main control circuit 30. Upon receiving the change enable signal, the main control circuit 30 gives a change operation signal to the first and second control circuits 31 and 32. In response to the change operation signal, the first control circuit 31 controls the receiving circuit 11 to distribute the receiving cell data to the receiving circuit 11 only to the second switching device 22. On the other hand, the second control circuit 32 controls the transmission circuit 12 to control the transmission circuit 1 in response to the change operation signal.
2 to select the second output cell data sent from the second switching device 22. Further, the second control circuit 22 has a first
Also, the read operation is permitted to the second exchange circuits 21b and 22b. That is, the first and second exchange circuits 21b and 22
The read operation of b is controlled by the second control circuit 32.

【0034】図1及び図3を参照して、現用交換装置と
して動作している第1の交換装置21に障害が発生した
際のチェンジ動作について説明する。ここでは、図3
(A)に示すように、記憶セルデータC1乃至C4が第
1の記憶セルデータとして第1のバッファ21fにロー
ドされており、第2のバッファ22fは空状態であるも
のとする。そして、テストセルTCには第1及び第2の
交換ユニット21e及び22eからそれぞれ与えられる
交換セルデータC5乃至C8が続いているものとする。
この状況において、第1の交換装置21に障害が発生し
て第1のバッファ21fには供給されるセルデータが書
き込めなくなったとする(読出は可能)。この結果、第
1の時間間隔において、図3(B)に示すように、テス
トセルTCは第2のバッファ22fのみに記憶テストセ
ルTCとして書き込まれることになる。この際、テスト
セルTCは第2のバッファ22Fの最前段に記憶テスト
セルとしてロードされる。第1の時間間隔において、記
憶セルデータC1は先入れ先出し動作によって第1の出
力セルデータとして第1のバッファ21fから読み出さ
れ第1の検出回路21cに与えられる。一方、第1の時
間間隔において、第2のバッファ22fからはセルデー
タは読み出されない。
With reference to FIGS. 1 and 3, a change operation when a failure occurs in the first switching device 21 operating as the active switching device will be described. Here, FIG.
As shown in (A), it is assumed that the memory cell data C1 to C4 are loaded as the first memory cell data in the first buffer 21f and the second buffer 22f is empty. Then, it is assumed that the test cell TC is followed by the exchange cell data C5 to C8 given from the first and second exchange units 21e and 22e, respectively.
In this situation, assume that a failure occurs in the first switching device 21 and the supplied cell data cannot be written into the first buffer 21f (reading is possible). As a result, in the first time interval, as shown in FIG. 3B, the test cell TC is written as the memory test cell TC only in the second buffer 22f. At this time, the test cell TC is loaded as a memory test cell in the frontmost stage of the second buffer 22F. In the first time interval, the memory cell data C1 is read from the first buffer 21f as the first output cell data by the first-in first-out operation and is given to the first detection circuit 21c. On the other hand, cell data is not read from the second buffer 22f in the first time interval.

【0035】第1の出力セルデータはテストセル識別コ
ードを有していないので、第1の検出回路21cは第1
の検出信号を送出せず、第1の出力セルデータを通過さ
せる。
Since the first output cell data does not have the test cell identification code, the first detection circuit 21c is the first detection circuit 21c.
The first output cell data is passed without sending the detection signal of.

【0036】図3(C)に示すように、第2の時間間隔
において、第2のバッファ22fの最前段にセルデータ
C5が記憶セルデータC5として記憶される。同時に、
第2の時間間隔において、記憶セルデータC2が第1の
出力セルデータとして第1のバッファ21fから読み出
され、第1の検出回路21cに送られる。この際、記憶
テストセルTCが第2の出力セルデータとして第2のバ
ッファ22fから読み出されて第2の検出回路22cに
与えられる。
As shown in FIG. 3C, the cell data C5 is stored as the storage cell data C5 at the frontmost stage of the second buffer 22f in the second time interval. at the same time,
In the second time interval, the memory cell data C2 is read from the first buffer 21f as the first output cell data and sent to the first detection circuit 21c. At this time, the memory test cell TC is read out from the second buffer 22f as the second output cell data and given to the second detection circuit 22c.

【0037】第2の出力セルデータがテストセル識別コ
ードを有していると、第2の検出回路22cは第2の検
出信号を送出する。一方、図3(C)に示すように、第
1の出力セルデータはテストセルとしての同様の識別コ
ードを有していないので、第1の検出回路21cからは
第1の検出信号は送出されない。
When the second output cell data has the test cell identification code, the second detection circuit 22c sends out the second detection signal. On the other hand, as shown in FIG. 3C, since the first output cell data does not have the same identification code as the test cell, the first detection circuit 21c does not output the first detection signal. .

【0038】第1の検出回路21cは送信回路12に接
続されているから、第2の時間間隔において、送信回路
12はセルデータC1を出力セルデータとして外部送信
パス23に送出する。
Since the first detection circuit 21c is connected to the transmission circuit 12, the transmission circuit 12 sends the cell data C1 as output cell data to the external transmission path 23 at the second time interval.

【0039】第2の検出信号は第2の検出回路22cか
ら第2の制御回路32に送られ、これによって、第2の
制御回路32では第2の交換回路22bを制御して第2
のバッファ22fの読出動作を停止する。
The second detection signal is sent from the second detection circuit 22c to the second control circuit 32, which causes the second control circuit 32 to control the second exchange circuit 22b.
Then, the reading operation of the buffer 22f is stopped.

【0040】図3(D)に示すように、第3の時間間隔
において、セルデータC6が記憶セルデータC6として
第2のバッファ22fにロードされる。記憶セルデータ
C3は第1のバッファ21fから第1の出力セルデータ
として読み出され、第1の検出回路21cに与えられ
る。一方、第2のバッファ22fはその読出動作が停止
されているので、セルデータは読み出されない。第3の
時間間隔において、送信回路12はセルデータC3を出
力セルデータとして外部送出パス23に送出する。
As shown in FIG. 3D, the cell data C6 is loaded into the second buffer 22f as the storage cell data C6 in the third time interval. The memory cell data C3 is read out as first output cell data from the first buffer 21f and given to the first detection circuit 21c. On the other hand, since the read operation of the second buffer 22f is stopped, cell data is not read. In the third time interval, the transmission circuit 12 sends the cell data C3 as output cell data to the external sending path 23.

【0041】図3(E)に示すように、第4の時間間隔
において、セルデータC7が記憶セルデータC7として
第2のバッファ22fにロードされる。同時に、第4の
時間間隔において、記憶セルデータC4は第1のバッフ
ァ21fから第1の出力セルデータとして読み出され第
1の検出回路21cに与えられる。また、第4の時間間
隔で、セルデータC3は送信回路12から外部送出パス
23に送出される。
As shown in FIG. 3 (E), the cell data C7 is loaded into the second buffer 22f as the storage cell data C7 at the fourth time interval. At the same time, in the fourth time interval, the memory cell data C4 is read out from the first buffer 21f as the first output cell data and given to the first detection circuit 21c. Further, at the fourth time interval, the cell data C3 is sent from the sending circuit 12 to the external sending path 23.

【0042】図3(F)に示すように、第5の時間間隔
で、セルデータC8が第2のバッファ22fに記憶セル
データC8としてロードされる。一方、第1のバッファ
21fは空状態であるので、第5の時間間隔では第1の
バッファ21fからはセルデータは読み出されない。ま
た、第5の時間間隔で、セルデータC4が送出回路12
から外部送出パス23に送出される。
As shown in FIG. 3F, the cell data C8 is loaded into the second buffer 22f as the storage cell data C8 at the fifth time interval. On the other hand, since the first buffer 21f is empty, cell data is not read from the first buffer 21f during the fifth time interval. Also, at the fifth time interval, the cell data C4 is transmitted to the transmission circuit 12
From the external transmission path 23.

【0043】前述のように、第2の監視回路22dは第
2のバッファ22fに格納された記憶セルデータの数を
監視している。この記憶セルデータの数が予め定められ
た数になると、第2の監視回路22dは第2の監視信号
をメイン制御回路30に与える。なお、図示の例では、
予め定められた数は4である。
As described above, the second monitor circuit 22d monitors the number of memory cell data stored in the second buffer 22f. When the number of memory cell data reaches a predetermined number, the second monitoring circuit 22d gives a second monitoring signal to the main control circuit 30. In the example shown,
The predetermined number is 4.

【0044】第2の監視信号に応答して、メイン制御回
路30はチェンジ動作信号を第1及び第2の制御回路3
1及び32に送出する。チェンジ動作信号を受けると、
第1の制御回路31は受信回路31を制御して受信回路
11に受信セルブロックを第2の交換装置22にのみ分
配させる。一方、チェンジ動作信号に応答して、第2の
制御回路32では送信回路12を制御して送信回路12
に第2の交換装置22から送られる第2の出力セルデー
タを選択させる。さらに、第2の制御回路32では第1
及び第2の交換回路21b及び22Bに読出動作を許可
する。この結果、図5(G)に示すように、記憶セルデ
ータC5が第2の出力セルデータとして第2のバッファ
22fから読み出されることになる。
In response to the second monitor signal, the main control circuit 30 sends a change operation signal to the first and second control circuits 3.
1 and 32. When receiving the change operation signal,
The first control circuit 31 controls the receiving circuit 31 to cause the receiving circuit 11 to distribute the received cell block only to the second switching device 22. On the other hand, in response to the change operation signal, the second control circuit 32 controls the transmission circuit 12 to control it.
To select the second output cell data sent from the second switching device 22. Furthermore, in the second control circuit 32, the first
And the read operation is permitted to the second exchange circuits 21b and 22B. As a result, as shown in FIG. 5G, the memory cell data C5 is read from the second buffer 22f as the second output cell data.

【0045】図1において、第1及び第2のテストセル
生成回路21a及び22aは集合的にテストセル生成部
として用いられる。また、第1及び第2の検出回路21
c及び22cも集合的にテストセルを検出するための検
出部として用いられる。加えて、メイン制御回路30及
び第1及び第2の制御回路31及び32は集合的に前述
した種々の信号を送出する制御信号生成部又は制御部と
して用いられる。
In FIG. 1, the first and second test cell generation circuits 21a and 22a are collectively used as a test cell generation unit. In addition, the first and second detection circuits 21
c and 22c are also collectively used as a detection unit for detecting test cells. In addition, the main control circuit 30 and the first and second control circuits 31 and 32 are collectively used as a control signal generation unit or a control unit that sends out the various signals described above.

【0046】上述の実施例では、第1の交換装置が現用
交換装置である際、第1の交換装置を予備交換装置にチ
ェンジする際の動作について説明したが、第2の交換装
置が現用交換装置として動作し、その後第2の交換装置
を予備交換装置にチェンジする際にも、上述の動作と同
様の動作が行われる。
In the above-mentioned embodiment, the operation of changing the first exchanging device to the spare exchanging device when the first exchanging device is the active exchanging device has been described, but the second exchanging device is the active exchanging device. When operating as a device and then changing the second switching device to a spare switching device, the same operation as described above is performed.

【0047】第2の交換装置を現用交換装置から予備交
換装置にチェンジする際、第2のバッファで書き込み動
作を行うことができなくなったとすると、第1の監視装
置から送られる第1の監視信号に応じてメイン制御回路
は第1及び第2の制御回路にチェンジ動作信号を送るこ
とになる。
When the second switching device is changed from the current switching device to the spare switching device, if the write operation cannot be performed in the second buffer, the first monitoring signal sent from the first monitoring device. In response to this, the main control circuit sends a change operation signal to the first and second control circuits.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上説明したように本発明では系切り替
え制御をテストセルとバッファ内の滞留セルを監視する
ことによって行うようにしたから、通常状態において系
切り替えの際のセルデータの損失を最小限に抑えること
ができるばかりでなく、高速に系切り替えを行うことが
できる。さらに、障害の際のセルデータの損失を最小限
に抑えることができるという効果がある。
As described above, in the present invention, the system switching control is performed by monitoring the test cells and the staying cells in the buffer, so that the cell data loss during system switching is minimized in the normal state. Not only can it be limited, but high-speed system switching can also be performed. Furthermore, there is an effect that the loss of cell data in the event of a failure can be minimized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるセル交換機の一実施例を示すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a cell exchange according to the present invention.

【図2】図1に示すセル交換機の一動作を説明するため
の図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining one operation of the cell exchange shown in FIG.

【図3】図1に示すセル交換機の他の動作を説明するた
めの図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining another operation of the cell exchange shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 受信回路 12 送信回路 21 第1の交換装置 22 第2の交換装置 30 メイン制御回路 31 第1の制御回路 32 第2の制御回路 11 receiving circuit 12 transmitting circuit 21 first switching device 22 second switching device 30 main control circuit 31 first control circuit 32 second control circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ATM通信に用いられ入力セルデータを
出力セルデータに交換するためのセル交換機であって、
前記入力セルデータを第1のバッファデータとして予め
設定された数まで連続的に記憶して前記第1のバッファ
データを第1の出力セルデータとして出力する第1のバ
ッファ手段と、前記入力セルデータを第2のバッファデ
ータとして予め設定された数まで連続的に記憶して前記
第2のバッファデータを第2の出力セルデータとして出
力する第2のバッファ手段と、受信セルデータを受け前
記第1及び前記第2のバッファ手段に前記受信セルデー
タを前記入力セルデータとして連続的に与える受信手段
と、前記第1及び前記第2の出力セルデータのうち一つ
を前記出力セルデータとして送出する送出手段とを有す
るとともに、第1及び第2の制御信号を生成するコント
ロール信号生成手段を備え、前記受信手段は前記第1の
制御信号を受けた際前記第1のバッファ手段に前記入力
セルデータを与え、前記受信手段は前記第2の制御信号
を受けた際前記第1及び前記第2のバッファ手段に前記
入力セルデータを与えており、さらに、前記第2の制御
信号に応答して前記第1及び前記第2のバッファ手段に
前記入力セルデータとしてテストデータを与えるテスト
データ供給手段と、前記第1の出力セルデータが前記テ
ストデータに一致した際第1の検出信号を出力するとと
もに前記第2の出力セルデータが前記テストデータに一
致した際第2の検出信号を出力する検出手段と、前記第
2のバッファ手段を監視して前記第2のバッファデータ
の数が前記予め定められた数になると監視信号を出力す
る監視手段と、前記第1及び前記第2の検出信号を受け
た際前記受信手段及び前記送出手段を前記第2のバッフ
ァ手段に結合するとともに前記監視信号を受けた際前記
受信手段及び前記送出手段を前記第2のバッファ手段に
結合する制御手段とを有することを特徴とするセル交換
機。
1. A cell exchange for exchanging input cell data for output cell data used in ATM communication, comprising:
First buffer means for continuously storing the input cell data as a first buffer data up to a preset number and outputting the first buffer data as first output cell data; and the input cell data. As a second buffer data continuously stored up to a preset number and outputting the second buffer data as second output cell data, and the first buffer means for receiving the received cell data. And receiving means for continuously applying the received cell data as the input cell data to the second buffer means, and sending for sending one of the first and second output cell data as the output cell data And a control signal generating means for generating first and second control signals, wherein the receiving means receives the first control signal. Applying the input cell data to the first buffer means, the receiving means applying the input cell data to the first and second buffer means when receiving the second control signal, and Test data supply means for supplying test data as the input cell data to the first and second buffer means in response to the second control signal, and the first output cell data match the test data. At this time, the first detection signal is output and a second detection signal is output when the second output cell data matches the test data, and the second buffer means is monitored to detect the second output signal. Monitoring means for outputting a monitoring signal when the number of the buffer data in the buffer reaches the predetermined number, and the receiving means and the sending means when receiving the first and second detection signals. Cell switch, characterized in that a control means for coupling said receiving means and said delivery means when receiving said monitoring signal as well as coupled to said second buffer means to said second buffer means.
【請求項2】 請求項1に記載されたセル交換機におい
て、前記受信セルデータは予め定められた固定長のデー
タブロックフォーマットを備え、該データブロックフォ
ーマットはアドレス信号が配置されたヘッダとデータ信
号が配置されたデータ領域とを有し、前記テストデータ
は予め定められたパターンを有するテスト識別コードが
配置されたテスト領域を備えており、前記検出手段は前
記第1及び前記第2の出力セルデータ内で前記テスト識
別コードを検出した際前記第1及び前記第2の検出信号
を出力するようにしたことを特徴とするセル交換機。
2. The cell exchange according to claim 1, wherein the received cell data has a predetermined fixed-length data block format, and the data block format includes a header in which an address signal is arranged and a data signal. And a test area in which a test identification code having a predetermined pattern is arranged, and the detection means includes the first and second output cell data. A cell exchange, wherein the first and second detection signals are output when the test identification code is detected in the cell exchange.
【請求項3】 請求項2に記載されたセル交換機におい
て、前記テスト識別コードが前記第1の出力セルデータ
で検出された後前記テスト識別コードが前記第2の出力
セルデータで検出されるまで前記第1のバッファ手段が
制御されて前記第1の出力セルデータの前記第1のバッ
ファからの読み出しが停止されるようにしたことを特徴
とするセル交換機。
3. The cell exchange according to claim 2, wherein after the test identification code is detected in the first output cell data, the test identification code is detected in the second output cell data. A cell switching system characterized in that the first buffer means is controlled to stop reading of the first output cell data from the first buffer.
JP22166993A 1992-09-09 1993-09-07 Cell switch Pending JPH06303255A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6442133B2 (en) 2000-05-24 2002-08-27 Nec Corporation Switchboard having a dual switching system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6442133B2 (en) 2000-05-24 2002-08-27 Nec Corporation Switchboard having a dual switching system

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