JPH0629722Y2 - AE measuring device - Google Patents
AE measuring deviceInfo
- Publication number
- JPH0629722Y2 JPH0629722Y2 JP1985105205U JP10520585U JPH0629722Y2 JP H0629722 Y2 JPH0629722 Y2 JP H0629722Y2 JP 1985105205 U JP1985105205 U JP 1985105205U JP 10520585 U JP10520585 U JP 10520585U JP H0629722 Y2 JPH0629722 Y2 JP H0629722Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stress
- frequency
- signal
- counter
- wave
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本考案はAE(アコースティック・エミッション)計測
装置に関し、特にくり返し試験に用いて好適なAE計測
装置に関する。Detailed Description of the Invention A. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an AE (acoustic emission) measuring device, and more particularly to an AE measuring device suitable for use in repeated tests.
B.従来の技術 くり返し試験において被検査部材で発生するAE波を計
測して被検査部材の疲労状態を正確に測定するために、
被検査部材に加えられるくり返し応力のどの位相でAE
波が発生したかを判別し、あるいはAE波発生時の応力
値を測定する必要がある。これまでのAE計測装置で
は、加振器で被検査部材に加えられるくり返し応力に対
応した加振波形電圧信号を、それぞれ異なった基準電圧
が設定された複数のコンパレータに入力し、これにより
くり返し応力レベルの領域を設定してAE波がどの応力
レベルの領域で発生し始めているかを測定している。B. 2. Description of the Related Art In order to accurately measure the fatigue state of a member to be inspected by measuring the AE wave generated in the member to be inspected in a repeated test,
AE at which phase of the repeated stress applied to the inspected member
It is necessary to determine whether a wave is generated or to measure the stress value when the AE wave is generated. In the conventional AE measuring devices, the excitation waveform voltage signal corresponding to the repeated stress applied to the inspected member by the shaker is input to a plurality of comparators having different reference voltages, and the repeated stress is thereby obtained. By setting the level region, it is measured at which stress level region the AE wave starts to occur.
C.考案が解決しようとしている問題点 このような従来のAE計測装置では複数のコンパレータ
が必要であり、回路も複雑となるのに加えて、くり返し
応力の立上り時にAE波が発生しているのか立下り時に
AE波が発生しているのか弁別できない。C. Problems to be Solved by the Invention Such a conventional AE measuring device requires a plurality of comparators, and the circuit becomes complicated. In addition, whether the AE wave is generated at the rise of the repeated stress or not Sometimes it cannot be discriminated whether the AE wave is generated.
D.問題点を解決するための手段 本考案にかかるAE計測装置は、被検査部材に加えるく
り返し応力の周波数に比例した周波数のパルスを出力す
る発振器と、くり返し応力の各サイクルの基準位置を検
出する検出手段と、前記基準位置の検出に応答して前記
パルスの計数を開始するカウンタと、前記被検査部材内
のAE波を検出してAE信号を出力するセンサと、前記
AE信号の立上り時における前記カウンタの計数値を読
取る読取手段と、を具備したことを特徴とする。D. Means for Solving the Problems The AE measuring device according to the present invention is an oscillator that outputs a pulse having a frequency proportional to the frequency of repeated stress applied to a member to be inspected, and a detection that detects a reference position of each cycle of repeated stress. Means, a counter that starts counting the pulses in response to detection of the reference position, a sensor that detects an AE wave in the member to be inspected and outputs an AE signal, and the sensor when the AE signal rises. A reading unit for reading the count value of the counter.
E.作用 本考案では、くり返し応力の周波数が大きくなるにつれ
て発振器の発振周波数も大きくし、その出力パルスをカ
ウンタで計数するようにする。検出手段で応力信号の各
サイクルの基準位置を検出し、その検出に応答して、カ
ウンタは出力パルスの計数を開始し、AE信号の立上り
時における計数値を読取手段で読取る。E. Function In the present invention, the oscillation frequency of the oscillator is increased as the frequency of the repeated stress increases, and the output pulse is counted by the counter. The detecting means detects the reference position of each cycle of the stress signal, and in response to the detection, the counter starts counting the output pulses and the reading means reads the count value at the rising edge of the AE signal.
F.実施例 第1図は本考案の一実施例を示し、コンパレータ1の一
方の端子には応力信号が入力されている。応力信号と
は、被検査部材に与えられるくり返し応力の振幅および
周波数と対応した電圧レベルの信号であり、例えば第2
図(a)に示すように、最大応力σmax、最小応力σ
minに応じた振幅、およびくり返し応力の周波数に応
じた周波数でくり返す電圧信号である。コンパレータ1
の他方の端子には閾値電圧信号THが入力されている。
コンパレータ1にはワンショットマルチバイブレータ3
が後続し、その出力はカウンタ5のリセット端子に入力
される。カウンタ5にはくり返し応力の周波数に応じた
周波数のパルス信号を出力する発振器7が接続され、さ
らにそのカウンタ5にはラッチ9が後続している。発振
器は後述するようにデジタル−アナログコンバータ(D
/Aコンバータ)7aと電圧制御発振器(V/Fコンバ
ータ)7bとを有している。ラッチ9には、AE波を検
出してAE信号を出力するAEセンサ11が接続されて
いて、AEセンサ11からのAE波に応答したAE信号
が入来されたのに応答して、ラッチ9の入力信号をラッ
チして出力するように構成されている。F. Embodiment FIG. 1 shows an embodiment of the present invention in which a stress signal is input to one terminal of a comparator 1. The stress signal is a voltage level signal corresponding to the amplitude and frequency of the repeated stress applied to the member to be inspected, and is, for example, the second signal.
As shown in the figure (a), the maximum stress σmax and the minimum stress σ
It is a voltage signal that repeats at an amplitude according to min and a frequency according to the frequency of the repeating stress. Comparator 1
A threshold voltage signal TH is input to the other terminal of the.
One-shot multi-vibrator 3 for comparator 1.
, And its output is input to the reset terminal of the counter 5. An oscillator 7 that outputs a pulse signal having a frequency corresponding to the frequency of the repeated stress is connected to the counter 5, and the counter 5 is further followed by a latch 9. The oscillator is a digital-analog converter (D
/ A converter) 7a and a voltage controlled oscillator (V / F converter) 7b. An AE sensor 11 that detects an AE wave and outputs an AE signal is connected to the latch 9, and the latch 9 responds to the incoming AE signal in response to the AE wave from the AE sensor 11. Is configured to be latched and output.
一方、応力信号はアナログ−デジタルコンバータ(A/
Dコンバータ)13にも入力されてディジタル値に変換
され、そのディジタル値がマイクロプロセッサ15に逐
次供給されるように構成されている。また、ラッチ9も
マイクロプロセッサ15に接続され、さらにマイクロプ
ロセッサ15にはデータレコーダ17が後続している。On the other hand, the stress signal is an analog-digital converter (A /
The D converter) 13 is also input and converted into a digital value, and the digital value is sequentially supplied to the microprocessor 15. The latch 9 is also connected to the microprocessor 15, and the microprocessor 15 is followed by a data recorder 17.
マイクロプロセッサ15にはくり返し周波数を設定する
スイッチ19も接続され、スイッチ19で設定されたく
り返し周波数がマイクロプロセッサ15で所定の2進デ
ータに変換されるようになっている。そして、マイクロ
プロセッサ15には、D/Aコンバータ7aが接続さ
れ、くり返し応力の周波数に関する変換データをアナロ
グ信号に変換してV/Fコンバータ7bに出力するよう
にされている。これにより、V/Fコンバータ7bの出
力パルスは、くり返し応力の周波数、すなわち、応力信
号の周波数が大きくなるとそれに応じて大きくなる。例
えば、応力信号の各1サイクルを360分割する場合に
は、応力信号周波数の360倍の発振周波数が得られる
ように、V/Fコンバータ7bおよびマイクロプロセッ
サ15内での変換等の仕様を定めればよい。A switch 19 for setting a repetition frequency is also connected to the microprocessor 15, and the repetition frequency set by the switch 19 is converted by the microprocessor 15 into predetermined binary data. A D / A converter 7a is connected to the microprocessor 15 so that the conversion data regarding the frequency of the repeated stress is converted into an analog signal and output to the V / F converter 7b. As a result, the output pulse of the V / F converter 7b increases as the frequency of the repeating stress, that is, the frequency of the stress signal increases. For example, when each cycle of the stress signal is divided into 360, specifications such as conversion in the V / F converter 7b and the microprocessor 15 are determined so that an oscillation frequency 360 times the stress signal frequency can be obtained. Good.
第2図(a)〜(d)を参照して作用を説明する。The operation will be described with reference to FIGS. 2 (a) to 2 (d).
第2図(a)に示す応力信号がコンパレータ1に入力さ
れると、コンパレータ1は、その応力信号が閾値THよ
り大きい間だけハイレベル信号をワンショットマルチバ
イブレータ3に出力する。コンパレータ1のハイレベル
信号の立上りでマルチバイブレータ3がトリガされ、時
点t1およびt2でワンショットパルスが得られる。第
2図(d)に示すように、カウンタ5はそのワンショッ
トパルスによりリセットされてその内容は「0」とな
る。そして、発振器7からのパルスに応答して、第2図
(d)のようにカウンタ5は「+1」づつ歩進する。第
2図(c)の時点t3でセンサ11からAE信号が出力
されると、その立上り開始時点においてカウンタ5の内
容がラッチされる(第2図(d)参照)。従って、ラッ
チ9でラッチしたカウンタ5の計数値そのものが、AE
波が発生した時点におけるくり返し応力の位相情報を示
すことになる。例えば、発振器7の発振周波数が応力信
号周波数の360倍となるように各要素が設定されてい
るとすると、くり返し応力が周波数1Hzに設定された場
合、発振器7の出力パルスの周波数は360Hzとな
り、、最大応力σmaxのときにカウンタ5の計数値は
90となり、最小応力σminのときは270となる。
また、応力信号の周波数が5Hzに設定されると出力パル
スの周波数は1.8KHzとなるので、σmax,σminに
おけるカウント値は変らない。したがって、くり返し応
力周波数が大きくなっても、AE波立上り時の位相検出
の分離能は変らない。When the stress signal shown in FIG. 2A is input to the comparator 1, the comparator 1 outputs a high level signal to the one-shot multivibrator 3 only while the stress signal is larger than the threshold value TH. The rising of the high level signal of the comparator 1 triggers the multivibrator 3 to obtain a one-shot pulse at the times t1 and t2. As shown in FIG. 2 (d), the counter 5 is reset by the one-shot pulse and its content becomes "0". Then, in response to the pulse from the oscillator 7, the counter 5 advances by "+1" as shown in FIG. 2 (d). When the AE signal is output from the sensor 11 at time t3 in FIG. 2 (c), the contents of the counter 5 are latched at the start of rising thereof (see FIG. 2 (d)). Therefore, the count value itself of the counter 5 latched by the latch 9 is the AE
It indicates the phase information of the repeating stress at the time when the wave is generated. For example, if each element is set so that the oscillation frequency of the oscillator 7 is 360 times the stress signal frequency, when the repeating stress is set to a frequency of 1 Hz, the frequency of the output pulse of the oscillator 7 is 360 Hz, , The counter value of the counter 5 is 90 when the maximum stress σmax is reached, and is 270 when the minimum stress σmin is reached.
Further, when the frequency of the stress signal is set to 5 Hz, the frequency of the output pulse becomes 1.8 KHz, so the count values at σmax and σmin do not change. Therefore, even if the repeating stress frequency becomes large, the separability of the phase detection at the rising of the AE wave does not change.
なお、くり返し応力の周波数入力スイッチ19をデジタ
ルスイッチとしてD/Aコンバータ7aに直接接続して
もよい。また、スイッチ19を可変抵抗器のように構成
して、その出力電圧を電圧制御発振器7bに直接入力す
るようにしてもよいことは勿論であり、それらの場合に
は、所望の分解能に応じて各機器を設定する。The frequency input switch 19 for repeated stress may be directly connected to the D / A converter 7a as a digital switch. Of course, the switch 19 may be configured like a variable resistor so that its output voltage is directly input to the voltage controlled oscillator 7b. In those cases, depending on the desired resolution. Set each device.
本実施例では応力信号の各サイクルの始点を基準位置と
したが、各サイクルの始点に限られることなく、中間点
を基準位置としてもよい。In this embodiment, the starting point of each cycle of the stress signal is set as the reference position, but the starting point of each cycle is not limited and the intermediate point may be set as the reference position.
G.考案の効果 本考案によれば、発振器の発振周波数をくり返し応力の
周波数に応じて変化させ、くり返し応力の1サイクル中
の基準位置からの発振パルス数を計数し、AE波の発生
時点の計数値を読取ることによりAE波が各サイクルの
どの位相で発生しているかを計測するようにしたから、
くり返し応力の周波数が大きくなってもカウント値とし
ての分解能を所望の精度に維持でき、正確な測定が可能
となる。G. Effect of the Invention According to the present invention, the oscillation frequency of the oscillator is changed according to the frequency of the repeated stress, the number of oscillation pulses from the reference position during one cycle of the repeated stress is counted, and the count value at the time of generation of the AE wave is calculated. By reading, the phase of each cycle in which the AE wave is generated is measured.
Even if the frequency of repeated stress increases, the resolution as a count value can be maintained at a desired accuracy, and accurate measurement can be performed.
第1図は本考案の一実施例を示すブロック図、第2図
(a)〜(d)はその各部の出力波形を示す波形図であ
る。 1:コンパレータ 3:ワンショットマルチバイブレータ 5:カウンタ 7:発振器 7a:デジタル−アナログコンバータ 7b:電圧制御発振器 9:ラッチ 11:センサ 13:アナログ−デジタルコンバータ 15:マイクロプロセッサ 17:データレコーダ 19:スイッチFIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a) to 2 (d) are waveform diagrams showing output waveforms of respective parts thereof. 1: Comparator 3: One-shot multivibrator 5: Counter 7: Oscillator 7a: Digital-analog converter 7b: Voltage controlled oscillator 9: Latch 11: Sensor 13: Analog-digital converter 15: Microprocessor 17: Data recorder 19: Switch
Claims (1)
に比例した周波数のパルスを出力する発振器と、くり返
し応力の各サイクルの基準位置を検出する検出手段と、
前記基準位置の検出に応答して前記パルスの計数を開始
するカウンタと、前記被検査部材内のAE波を検出して
AE信号を出力するセンサと、前記AE信号の立上り時
における前記カウンタの計数値を読取る読取手段と、を
具備したことを特徴とするAE計測装置。1. An oscillator that outputs a pulse having a frequency proportional to the frequency of repeated stress applied to a member to be inspected, and a detection unit that detects a reference position of each cycle of repeated stress.
A counter that starts counting the pulses in response to the detection of the reference position, a sensor that detects an AE wave in the member to be inspected and outputs an AE signal, and a counter that counts when the AE signal rises. An AE measuring device comprising: a reading unit for reading a numerical value.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985105205U JPH0629722Y2 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | AE measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985105205U JPH0629722Y2 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | AE measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6212867U JPS6212867U (en) | 1987-01-26 |
JPH0629722Y2 true JPH0629722Y2 (en) | 1994-08-10 |
Family
ID=30979414
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985105205U Expired - Lifetime JPH0629722Y2 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | AE measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0629722Y2 (en) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59228161A (en) * | 1983-06-10 | 1984-12-21 | Akashi Seisakusho Co Ltd | Material testing machine for analyzing acoustic emission |
-
1985
- 1985-07-09 JP JP1985105205U patent/JPH0629722Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6212867U (en) | 1987-01-26 |
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