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JPH06281593A - Method and apparatus for inspecting surface - Google Patents

Method and apparatus for inspecting surface

Info

Publication number
JPH06281593A
JPH06281593A JP6661693A JP6661693A JPH06281593A JP H06281593 A JPH06281593 A JP H06281593A JP 6661693 A JP6661693 A JP 6661693A JP 6661693 A JP6661693 A JP 6661693A JP H06281593 A JPH06281593 A JP H06281593A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
light
defect
width direction
distribution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6661693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Uchida
洋之 内田
Susumu Moriya
進 守屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp filed Critical Kawasaki Steel Corp
Priority to JP6661693A priority Critical patent/JPH06281593A/en
Publication of JPH06281593A publication Critical patent/JPH06281593A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make it possible to detect the defect of a surface high accuracy by efficeintly designing the arranging direction of the detecting part of a surface inspecting apparatus. CONSTITUTION:Light is emitted downward from a rod-shaped light source 10 on a cold rolled steel plate S in the vertical direction. The optical axis of each light receiving edge of an optical fiber bundle 11 is set at an angle thetawith respect to the light emitting direction. A line cameral 12 is made to scan in the width direction of the steel plate S, and the light is received with the line camera 12 through the optical fiber bundle 11. The received signal is processed with an image processing device 18. Thus, the defect of the surface of the steel plate S is detected. At this time, the distribution of the slant angle of the surface caused by the surface defect is obtained beforehand based on the minute-shape data of the steel plate S, and the light receiving angle THETAof the optical fiber bundle 11 determined based on the specificity of the distribution of the slant angle.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、表面検査方法及びその
装置、特に、表面疵等の凹凸性表面欠陥を、例えば光学
的検出手段により、高感度で検出することができる表面
検査方法及びその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface inspection method and an apparatus therefor, and more particularly, a surface inspection method and an apparatus capable of detecting uneven surface defects such as surface flaws with high sensitivity by, for example, optical detection means. Regarding the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、鋼板表面に発生する表面疵等の
表面欠陥の異常部を検出することは、製品品質を維持す
る上で、又、工程を適切に管理する上で極めて重要であ
る。そのために、種々の検出方法、検出装置に関する技
術が開発され、実用化されている。
2. Description of the Related Art For example, it is extremely important to detect abnormal portions of surface defects such as surface defects that occur on the surface of a steel sheet, in order to maintain product quality and to properly manage the process. Therefore, various detection methods and techniques related to detection devices have been developed and put into practical use.

【0003】この表面欠陥の検出技術の開発に当って
は、表面検出手段で検出した表面信号の中から、検出対
象とする表面欠陥が発する信号を正常部から区別してい
かに感度良く、即ちS/N比をいかに高く検出するかが
極めて重要である。従って、表面欠陥の検査装置にとっ
ては、その検出部の配置方向(反射波の検出方向)の設
計の良否が検査性能を左右することになる。
In developing this surface defect detection technique, it is possible to distinguish the signal generated by the surface defect to be detected from the normal portion from the surface signals detected by the surface detecting means, that is, S / It is extremely important to detect how high the N ratio is. Therefore, for the surface defect inspection apparatus, the quality of the design of the arrangement direction of the detection unit (detection direction of the reflected wave) determines the inspection performance.

【0004】特に、製造ラインにおけるインプロセスの
欠陥検出では、高感度検出が要求されることに加えて、
高速性も要求されるために、光学的な手法、例えば、レ
ーザ光の反射強度の変化から欠陥を検出する方法や、カ
メラによる撮影画像を処理して欠陥を検出する方法等を
利用することが多い。これらの欠陥検出のための方法や
装置では、例えば、対象表面に対する照明の照射角度、
該対象表面からの反射光の受光角度、カメラの撮影角度
等を、検出対象としている表面欠陥に対して最適になる
ように設計することが、最も基礎的な開発要素として位
置付けられている。
In particular, in in-process defect detection in a manufacturing line, in addition to requiring high sensitivity detection,
Since high speed is also required, it is possible to use an optical method, for example, a method of detecting a defect from a change in reflection intensity of laser light, a method of processing a captured image by a camera to detect a defect, or the like. Many. In the method and apparatus for detecting these defects, for example, the irradiation angle of illumination with respect to the target surface,
Designing the light receiving angle of the reflected light from the target surface, the shooting angle of the camera, etc. to be optimum for the surface defect to be detected is positioned as the most basic development factor.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、表面欠
陥の検査装置が有する検出部(カメラを含む)を検査対
象表面に対して配置する方向を設計するに当っては、そ
のために必要となる基礎データを収拾する必要がある
が、従来はその基礎データを、数多くの表面疵等の表面
欠陥サンプルを収拾して実験的に決定するか、又は目視
観察に基づいて決定する経験則に頼らざるを得なかっ
た。そのため、膨大なサンプル実験と、そのデータ解析
作業が必要であるか、又は熟練検査員の目視観察ノウハ
ウ等が必要であり、装置設計が効率的になされないばか
りでなく、上記従来の方法によって検出部の配置方向を
設計した装置では、十分な表面検査能力が得られないと
いう問題があった。
However, in designing the direction in which the detector (including the camera) of the surface defect inspection apparatus is arranged with respect to the surface to be inspected, the basic data required for that purpose is required. However, conventionally, the basic data must be determined experimentally by collecting a large number of surface defect samples such as surface flaws, or relying on the empirical rule of deciding based on visual observation. There wasn't. Therefore, a huge amount of sample experiments and their data analysis work are required, or the visual observation know-how of a trained inspector is required, which not only makes the device design inefficient, but also detects it by the conventional method described above. The device in which the arrangement direction of the parts is designed has a problem that sufficient surface inspection capability cannot be obtained.

【0006】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、検査装置の検出部の配置方向の設計
を効率良く実行でき、その結果得られる検査装置を用い
ることにより高感度で表面欠陥を検出することができる
表面検査方法及びその装置を提供することを課題とす
る。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional problems, and can efficiently design the arrangement direction of the detecting portion of the inspection apparatus, and by using the inspection apparatus obtained as a result, high sensitivity can be obtained. An object of the present invention is to provide a surface inspection method and an apparatus therefor capable of detecting surface defects.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象表面
からの反射波を検出し、その反射波から検出対象である
表面欠陥を抽出する表面検査方法において、検査対象表
面の微細形状データから、表面欠陥に起因する表面の傾
斜角度の分布を予め求め、その傾斜角度分布の特異性に
基づいて、検査対象表面からの反射波の検出方向を決定
することにより、前記課題を解決したものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a surface inspection method for detecting a reflected wave from a surface to be inspected and extracting a surface defect to be detected from the reflected wave, from fine shape data of the surface to be inspected. , The surface inclination angle distribution due to surface defects is obtained in advance, and based on the peculiarity of the inclination angle distribution, by determining the detection direction of the reflected wave from the surface to be inspected, the above problems have been solved. is there.

【0008】本発明は、又、前記表面検査方法におい
て、表面の傾斜角度分布を、検査対象表面を微小面素に
分割し、各微小面素における単位法線ベクトルから求め
るようにしたものである。
According to the present invention, in the surface inspection method, the inclination angle distribution of the surface is obtained by dividing the surface to be inspected into minute surface elements and calculating from a unit normal vector in each minute surface element. .

【0009】本発明、検査対象表面からの反射波を検出
し、その反射波から検出対象である表面欠陥を抽出する
表面検査装置において、検査対象表面に対して幅方向全
体に亘って同一の角度で検査波を照射する照射手段と、
検査対象表面からの反射波を、幅方向全体に亘って同一
の角度で受信する受信手段と、を備えた構成とすること
により、同様に前記課題を解決したものである。
According to the present invention, in a surface inspection apparatus for detecting a reflected wave from a surface to be inspected and extracting a surface defect as an object to be detected from the reflected wave, the same angle with respect to the surface to be inspected over the entire width direction Irradiation means for irradiating inspection waves with
The above problem is similarly solved by providing a receiving unit that receives a reflected wave from the surface to be inspected at the same angle over the entire width direction.

【0010】本発明は、又、前記表面検査装置におい
て、検査波が光であり、受信手段が、検査対象表面の幅
方向に受光端面が配列され、該受光端面の全てを同一方
向に配向可能な光ファイバ束と、該光ファイバ束で伝送
される反射光を受光する受光部とを有した構成としたも
のである。
In the surface inspection apparatus of the present invention, the inspection wave is light, and the receiving means has light-receiving end faces arranged in the width direction of the surface to be inspected, and all of the light-receiving end faces can be oriented in the same direction. The optical fiber bundle and a light receiving section for receiving the reflected light transmitted by the optical fiber bundle are provided.

【0011】本発明は、又、前記表面検査装置におい
て、照射手段が、レーザ発振装置と、レーザ光を検査対
象表面の幅方向に走査する走査手段と、幅方向に走査さ
れたレーザ光を、検査対象表面に幅方向全体に亘って同
一の角度で照射させるコリメータレンズと、を有した構
成としたものである。
According to the present invention, in the above-mentioned surface inspection apparatus, the irradiation means includes a laser oscillating device, a scanning means for scanning the laser beam in the width direction of the surface to be inspected, and a laser beam scanned in the width direction. And a collimator lens for irradiating the surface to be inspected at the same angle over the entire width direction.

【0012】[0012]

【作用】本発明者等は、表面疵等の表面欠陥を高感度で
検出するべく、その形状を細かく解析し、表面欠陥が正
常部と識別される理由を詳細に検討した結果、欠陥部と
正常部とでは、特にその表面の傾斜角度の分布に大きな
違いがあり、表面の傾斜角度を測定してその分布の特異
性を抽出し、その傾斜角度分布の特異性を評価すること
が、表面欠陥を高感度検出する上で極めて有効であるこ
とを知見した。
The inventors of the present invention analyzed the shape of the surface defects in order to detect surface defects such as surface defects with high sensitivity and examined the reason why the surface defects were identified as normal parts. There is a big difference in the distribution of the inclination angle of the surface from the normal part, and it is possible to measure the inclination angle of the surface and extract the peculiarity of that distribution, and evaluate the peculiarity of the inclination angle distribution. It was found that it is extremely effective in detecting defects with high sensitivity.

【0013】なお、ここで、表面の傾斜角度分布の特異
性とは、表面の傾斜角度分布を統計的数値によって評価
した場合の特異性を表わすものであり、例えば、分布状
態の平均値、標準偏差、モーメント、尖度、歪度等によ
って規定される値が、欠陥部においては正常部とは異な
る値を示すことを表わしている。
Here, the peculiarity of the inclination angle distribution of the surface represents the peculiarity when the inclination angle distribution of the surface is evaluated by a statistical numerical value. For example, the average value of the distribution state, the standard It indicates that the value defined by the deviation, the moment, the kurtosis, the skewness, etc. shows a value different from that of the normal portion in the defective portion.

【0014】本発明は、上記知見によりなされたもの
で、例えば、超音波の反射エコーを利用する欠陥検査、
光の反射強度から欠陥を検出する技術、対象表面を撮影
し得られる画像を解析することで欠陥を検出する技術等
では、検査対象表面からの信号(情報)を受信し、ある
いは該表面を撮影する場合、その信号検出部あるいはカ
メラ受光部を表面欠陥に起因する傾斜角度分布の特異性
が観察される方向に配置することにより、表面欠陥を高
感度で検出することが可能となる。
The present invention has been made based on the above findings. For example, a defect inspection utilizing a reflection echo of ultrasonic waves,
Techniques such as detecting defects from the light reflection intensity and detecting defects by imaging the target surface and analyzing the obtained image, etc., receive signals (information) from the surface to be inspected or image the surface. In this case, by arranging the signal detection unit or the camera light receiving unit in the direction in which the peculiarity of the inclination angle distribution due to the surface defect is observed, the surface defect can be detected with high sensitivity.

【0015】又、表面欠陥の殆どが目視によって検知、
認識できるため、表面検査には一般的に光学的手法が用
いられることから、本発明においても、光学的な手法で
表面の傾斜角度の分布の特異性に基づく表面欠陥の検出
を行うことが好適である。特に光学的な手法を用いるこ
とが好ましい理由を以下に詳細に説明する。
Further, most of the surface defects are visually detected,
Since an optical method is generally used for the surface inspection because it can be recognized, it is also preferable in the present invention to detect the surface defect based on the peculiarity of the distribution of the inclination angle of the surface by the optical method. Is. The reason why it is particularly preferable to use the optical method will be described in detail below.

【0016】検査対象表面からの反射光の分布が表面の
微細形状によって大きな影響を受けることは明らかであ
るが、その反射光の分布や方向は、光の回折現象と幾何
光学的な鏡面反射によって説明することができる。即
ち、反射方向を支配しているのは反射面の傾きであるの
で、光が照射されている面の傾斜角度を解析することに
よって反射光の分布や、カメラによる撮影画像における
輝度分布を求めることができる。
It is clear that the distribution of the reflected light from the surface to be inspected is greatly influenced by the fine shape of the surface, but the distribution and the direction of the reflected light depend on the light diffraction phenomenon and the geometrical specular reflection. Can be explained. That is, since the inclination of the reflecting surface governs the reflection direction, the distribution of the reflected light and the luminance distribution in the image captured by the camera can be obtained by analyzing the inclination angle of the surface irradiated with light. You can

【0017】一方、検査対象表面は、ミクロ的には微小
な傾斜面(微小面素)の集合体とみなすことができるこ
とから、欠陥部ではこの微小面素における傾斜角度が正
常部と異なることによって目視検知が可能である。従っ
て、検査対象表面を構成する微小面素の傾斜角度を解析
することによって欠陥部が有する傾斜角度分布の特異性
を求め、この特異性が最も顕著に現われる方向を反射波
の検出方向と決定し、その方向に、例えば反射光を検出
する光検出器や撮影装置の受光部等の受光面を配置する
ことにより、S/N比の高い最適な表面検査を行うこと
が可能となる。
On the other hand, the surface to be inspected can be regarded microscopically as an aggregate of minute inclined surfaces (minute surface elements). Therefore, in the defective portion, the inclination angle in this minute surface element is different from that in the normal portion. Visual detection is possible. Therefore, the peculiarity of the tilt angle distribution of the defect is obtained by analyzing the tilt angles of the minute surface elements that form the surface to be inspected, and the direction in which this peculiarity appears most is determined as the detection direction of the reflected wave. By disposing, for example, a photodetector for detecting reflected light or a light-receiving surface of a photo-taking device in that direction, an optimum surface inspection with a high S / N ratio can be performed.

【0018】又、本発明において、表面の傾斜角度分布
を、検査対象表面を微小面素に分割し、各微小面素にお
ける単位法線ベクトルから求める場合には、微小面素の
傾斜角度の分布を正確に、且つ判り易く表わすことがで
きるため、上記光検出器等の配置方向を容易に決定する
ことが可能となる。
Further, in the present invention, when the surface inclination angle distribution is obtained by dividing the surface to be inspected into minute surface elements and calculating from the unit normal vector in each minute surface element, the distribution of the inclination angle of the minute surface elements. Can be represented accurately and intelligibly, so that the arrangement direction of the photodetector and the like can be easily determined.

【0019】本発明において、表面検査装置を、検査対
象表面に対して幅方向全体に亘って同一の角度で検査波
を照射する照射手段と、検査対象表面からの反射波を、
幅方向全体に亘って同一の角度で受信する受信手段と、
を備えた構成とすることにより、幅方向全体について同
一方向の反射波を確実に検出できるため、表面の傾斜角
度分布に特異性がある表面欠陥を検査対象表面全体に亘
って確実に抽出することが可能となる。
In the present invention, the surface inspection apparatus includes an irradiation means for irradiating the surface to be inspected with an inspection wave at the same angle over the entire width direction, and a reflected wave from the surface to be inspected.
Receiving means for receiving at the same angle over the entire width direction,
With this configuration, it is possible to reliably detect reflected waves in the same direction in the entire width direction, so that surface defects that have peculiarity in the inclination angle distribution of the surface can be reliably extracted over the entire surface to be inspected. Is possible.

【0020】又、前記表面検査装置において、検査波が
光であり、受信手段が、検査対象表面の幅方向に受光端
面が配列され、該受光端面の全てを同一方向に配向可能
な光ファイバ束と、該光ファイバ束で伝送される反射光
を受光する受光部とを有している場合には、検査対象表
面から反射される同一方向の反射光を幅方向全体に亘っ
て確実に検出することが可能となる。
Further, in the surface inspection apparatus, the inspection wave is light, and the receiving means has the light receiving end faces arranged in the width direction of the surface to be inspected, and all of the light receiving end faces can be oriented in the same direction. And a light receiving portion for receiving the reflected light transmitted by the optical fiber bundle, the reflected light in the same direction reflected from the surface to be inspected can be reliably detected over the entire width direction. It becomes possible.

【0021】又、前記表面検査装置において、照射手段
が、レーザ発振装置と、レーザ光を検査対象表面の幅方
向に走査する走査手段と、幅方向に走査されたレーザ光
を、検査対象表面に幅方向全体に亘って同一の角度で照
射させるコリメータレンズと、を有している場合には、
検査対象表面の幅方向に走査されるレーザ光を、同一方
向、例えば検査対象表面に対して垂直な方向に照射する
ことが可能となり、その結果高精度な表面検査が可能と
なる。
Further, in the above-mentioned surface inspection apparatus, the irradiation means has a laser oscillating device, a scanning means for scanning the laser beam in the width direction of the surface to be inspected, and a laser beam scanned in the width direction onto the surface to be inspected. In the case of having a collimator lens that emits light at the same angle over the entire width direction,
It is possible to irradiate the laser beam scanned in the width direction of the surface to be inspected in the same direction, for example, in the direction perpendicular to the surface to be inspected, and as a result, it is possible to perform highly accurate surface inspection.

【0022】[0022]

【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0023】図1は、本発明に係る第1実施例の表面検
査装置の概略構成を示す説明図である。この表面検査装
置は、製造ラインを矢印方向に搬送される冷延鋼板Sの
表面を検査対象とするもので、この鋼板Sの上方に配さ
れた棒状光源10と、撮影像を伝送する光ファイバ束1
1と、該鋼板Sの表面を撮影するラインカメラ12と、
鋼板Sの搬送速度(ライン速度)を検出する速度計14
と、該速度計14による測定結果に基づいてラインカメ
ラ12を制御するカメラコントローラ16と、該カメラ
コントローラ16を介して入力される画像情報を処理す
る画像処理装置18と、該画像処理装置18で処理した
結果を出力する出力装置20とを備えている。
FIG. 1 is an explanatory view showing a schematic structure of a surface inspection apparatus of a first embodiment according to the present invention. This surface inspection device is for inspecting the surface of a cold-rolled steel sheet S conveyed in the direction of the arrow on the manufacturing line. The rod-shaped light source 10 arranged above the steel sheet S and an optical fiber for transmitting a captured image Bunch 1
1 and a line camera 12 for photographing the surface of the steel plate S,
Speedometer 14 for detecting the transport speed (line speed) of the steel plate S
A camera controller 16 that controls the line camera 12 based on the measurement result of the speedometer 14, an image processing device 18 that processes image information input via the camera controller 16, and an image processing device 18. And an output device 20 for outputting the processed result.

【0024】上記表面検査装置では、棒状光源10によ
って冷延鋼板Sの表面を幅方向に亘って均一に照射可能
となっており、又、光ファイバ束11は、受光端面が鋼
板Sの幅方向に配列され、且つ全ての受光端面の光軸が
同一方向に配された光ファイバで構成されているので、
該光ファイバ束11によって一定の撮影角度が保た状態
で、ラインカメラ12の各撮影素子に対して撮影像を伝
送することが可能となっている。
In the above surface inspection apparatus, the rod-shaped light source 10 can uniformly irradiate the surface of the cold-rolled steel sheet S in the width direction, and the optical fiber bundle 11 has the light receiving end face in the width direction of the steel sheet S. Since the optical axes of all the light receiving end faces are arranged in the same direction,
With the optical fiber bundle 11, a photographic image can be transmitted to each photographic element of the line camera 12 while maintaining a constant photographic angle.

【0025】又、ラインカメラ12によって鋼板Sの表
面を、その幅方向に走査しなが連続的に撮影可能である
と共に、該ラインカメラ12の走査速度が、製造ライン
に沿って設置されている前記速度計14で測定した鋼板
Sの搬送速度の測定値から、カメラコントローラ16に
よって制御されるようになっている。
Further, the surface of the steel sheet S can be continuously photographed by the line camera 12 without scanning in the width direction, and the scanning speed of the line camera 12 is set along the manufacturing line. The camera controller 16 controls the measured value of the transport speed of the steel sheet S measured by the speedometer 14.

【0026】又、上記画像処理装置18では、ラインカ
メラ12で撮影した冷延鋼板Sの表面の撮影画像を解析
することにより、表面欠陥を抽出し、その欠陥の種類や
等級を判定する検査が行われ、その検査結果が図示しな
い上位計算機へ出力装置20によって伝送され、製品の
品質管理が自動的に行われるようになっている。
Further, in the image processing device 18, the inspection of the surface defect of the cold-rolled steel sheet S taken by the line camera 12 to extract the surface defect and determine the kind and grade of the defect. The inspection result is transmitted to the host computer (not shown) by the output device 20, and the quality control of the product is automatically performed.

【0027】本実施例では、光ファイバ束11を構成す
る各光ファイバの受光端面の配置角度、即ち各受光端面
の中心(光軸)を鋼板Sの表面に対して設定する角度
(図中一点鎖線で示すΘ)は、表面欠陥が生じているサ
ンプル(欠陥サンプル)について、以下に詳述する方法
で予めその表面の傾斜角度分布を解析して求めておき、
その結果に基づいて棒状光源10による照射光が垂直下
方に照射された場合の光の反射方向を計算し、最も鮮映
な欠陥像が映像として得られる方向となるように設定さ
れている。
In the present embodiment, the arrangement angle of the light receiving end face of each optical fiber forming the optical fiber bundle 11, that is, the angle (center in the figure) for setting the center (optical axis) of each light receiving end face with respect to the surface of the steel plate S (one point in the figure). Θ) indicated by a chain line is obtained by analyzing the inclination angle distribution of the surface of a sample having a surface defect (defect sample) in advance by the method described in detail below,
Based on the result, the reflection direction of the light when the irradiation light from the rod-shaped light source 10 is irradiated vertically downward is set, and the direction is set so that the clearest defect image is obtained as an image.

【0028】図2は、検査対象表面の微細形状データを
測定し、その測定結果から微細形状(微小面素)の傾斜
角度を求める装置の一例を示した概略構成図であり、こ
の装置は、上記光ファイバ束11が有する各受光端面の
光軸の配置角度を決定するために用いることができる。
FIG. 2 is a schematic block diagram showing an example of an apparatus for measuring the fine shape data of the surface to be inspected and obtaining the inclination angle of the fine shape (minute surface element) from the measurement result. It can be used to determine the arrangement angle of the optical axis of each light-receiving end face of the optical fiber bundle 11.

【0029】上記測定装置は、表面欠陥部の解析を行う
ための、触針式の三次元粗さ計22を備えおり、この三
次元粗さ計22により冷延鋼板サンプルS′の表面につ
いて微細形状データを採取すると共に、その微細形状デ
ータから微小面素の傾斜角度の分布を求めるための計算
機24と、採取したデータを記録するためのデータ記録
装置26とを備えている。
The above-mentioned measuring device is provided with a stylus-type three-dimensional roughness meter 22 for analyzing a surface defect portion, and the three-dimensional roughness meter 22 is used for finely measuring the surface of the cold-rolled steel sheet sample S '. A computer 24 is provided for collecting the shape data and obtaining the distribution of the inclination angles of the micro surface elements from the fine shape data, and a data recording device 26 for recording the collected data.

【0030】この装置では、上記三次元粗さ計22によ
り測定したサンプルS′の表面の凹凸形状を計算機24
を介してデータ記録装置26に一旦記録し、その後再び
計算機24に読み出し、その凹凸形状について波形解析
することにより、傾斜角度分布を計算することができる
ようになっている。
In this apparatus, the computer 24 calculates the uneven shape of the surface of the sample S'measured by the three-dimensional roughness meter 22.
The inclination angle distribution can be calculated by temporarily recording the data in the data recording device 26 via the, and then reading it again in the computer 24 and analyzing the waveform of the uneven shape.

【0031】図3は、上記図2に示した測定装置を用い
て欠陥が発生している冷延鋼板サンプルS′について測
定した凹凸形状データの一例であり、これは、縦3mm、
横3mmの表面を測定したデータに相当している。又、図
4は、上記図3に示した凹凸形状データから波形解析し
て得られた傾斜角度分布を、正常部について示したもの
であり、図5は、同様にして得られた傾斜角度分布を、
異常部(図3の線間隔が粗い部分)について示したもの
である。
FIG. 3 shows an example of the unevenness shape data measured on the cold-rolled steel sheet sample S'having a defect by using the measuring apparatus shown in FIG.
This corresponds to the data obtained by measuring the surface 3 mm wide. Further, FIG. 4 shows a tilt angle distribution obtained by waveform analysis from the concave-convex shape data shown in FIG. 3 for a normal portion, and FIG. 5 shows a tilt angle distribution obtained in the same manner. To
It is shown about the abnormal part (the part where the line spacing is rough in FIG. 3).

【0032】上記図4、図5に示した傾斜角度分布は、
冷延鋼板サンプルS′の測定対象表面を0.1mm×0.
1mmの微小面素に分割し、各微小面素における傾斜角度
方向を表わす単位法線ベクトルを求め、その分布状態を
示したものである。即ち、図6に示すように、1つの微
小面素における単位法線ベクトルの始点を原点に置き、
該ベクトルを平面上に投影したときの正射影の終点の位
置を点で表わすという操作を各微小面素について実行す
ることにより、上記傾斜角度分布を表わしたものであ
る。なお、図4、図5において、横軸、縦軸は、それぞ
れ単位法線ベクトルの正射影の終点のx 座標値、y 座標
値を示すものである。
The inclination angle distributions shown in FIGS. 4 and 5 are as follows.
The surface of the cold-rolled steel sheet sample S ′ to be measured was 0.1 mm × 0.
It is divided into 1 mm micro-plane elements, the unit normal vector representing the inclination angle direction in each micro-plane element is obtained, and the distribution state thereof is shown. That is, as shown in FIG. 6, the starting point of the unit normal vector in one micro surface element is placed at the origin,
The inclination angle distribution is represented by executing the operation of representing the position of the end point of the orthographic projection when the vector is projected on the plane with a point for each minute surface element. 4 and 5, the horizontal axis and the vertical axis respectively show the x coordinate value and the y coordinate value of the end point of the orthogonal projection of the unit normal vector.

【0033】上記図4、図5から明らかなように、正常
部の傾斜角度は一様なランダム性を有した分布形態を示
すのに対し、欠陥部のそれは分布に方向性を有してい
る。従って、前記光ファイバ束11の各受光端面を、反
射光の検出方向に、即ちその光軸が、欠陥部の傾斜角度
が集中する方向(上記図5の例では左下方向)に一致す
るように設置することにより、最もS/N比の高い欠陥
信号を得ることが可能となる。
As is clear from FIGS. 4 and 5, the inclination angle of the normal portion shows a distribution form having uniform randomness, whereas that of the defect portion has directionality in the distribution. . Therefore, the light receiving end surfaces of the optical fiber bundle 11 are aligned with the detection direction of the reflected light, that is, the optical axis thereof is aligned with the direction in which the inclination angle of the defect portion is concentrated (the lower left direction in the example of FIG. 5). By installing it, it becomes possible to obtain a defect signal with the highest S / N ratio.

【0034】以上詳述した如く、本実施例によれば、検
査対象表面の微細形状データから、表面欠陥に起因する
表面の傾斜角度の分布を予め求め、その傾斜角度分布の
特異性に基づいて、光ファイバ束11の各受光端面の光
軸を検査対象表面に対して配置する方向を決定するよう
にしたので、表面欠陥を高いS/N比で検出することが
可能となり、表面欠陥を高感度で検出することが可能と
なる。
As described above in detail, according to this embodiment, the distribution of the inclination angle of the surface caused by the surface defect is obtained in advance from the fine shape data of the surface to be inspected, and based on the peculiarity of the inclination angle distribution. Since the direction in which the optical axis of each light-receiving end face of the optical fiber bundle 11 is arranged with respect to the surface to be inspected is determined, it becomes possible to detect the surface defects with a high S / N ratio, and the surface defects can be increased. It is possible to detect with sensitivity.

【0035】なお、ここで、傾斜角度分布の特異性に基
づくとは、傾斜角度分布の断面曲線を統計的に処理した
結果を基準にすることを表わしている。図5の例では、
本来、傾斜角度分布が等方的であるべき鋼板表面に対し
て、左下方向における断面曲線においては、明らかに他
の方向よりもその標準偏差、あるいは2次モーメントが
際立って大きな値を示すことが明白である。従って、前
記統計パラメータが特異な値を示す方向に微小面素の単
位法線ベクトル、即ち、表面傾斜が集中しているため
に、照射光の反射による表面欠陥を最も顕著に撮影でき
る方向が求められるのである。
Here, "based on the peculiarity of the inclination angle distribution" means that the result obtained by statistically processing the sectional curve of the inclination angle distribution is used as a reference. In the example of FIG.
Originally, for the steel plate surface where the inclination angle distribution should be isotropic, the standard deviation or second moment of the cross-section curve in the lower left direction clearly shows a larger value than in other directions. It's obvious. Therefore, since the unit normal vector of the minute surface element, that is, the surface inclination is concentrated in the direction in which the statistical parameter shows a peculiar value, the direction in which the surface defect caused by the reflection of the irradiation light can be most noticeably obtained is obtained. Be done.

【0036】図7は、本発明に係る第2実施例である、
レーザ光の反射分布から欠陥の検出を行う機能を備えて
いる表面検査装置の概略構成を示す側面から見た説明図
である。
FIG. 7 shows a second embodiment according to the present invention.
It is explanatory drawing seen from the side surface which shows schematic structure of the surface inspection apparatus provided with the function which detects a defect from the reflection distribution of a laser beam.

【0037】上記表面検査装置は、レーザ発振器30
と、該レーザ発振器30からのビームを、矢印方向に搬
送される冷延鋼板Sの表面に対して幅方向に走査して照
射するための回転ミラー32と、レーザビームを冷延鋼
板Sの表面に対して一定角度で照射させるためのコリメ
ータレンズ33と、冷延鋼板S表面からの反射光を受光
する第1反射光検出部34及び第2反射光検出部36と
を備え、且つ、これら第1及び第2反射光検出部34及
び36で受光した信号を処理する処理装置38と、該処
理装置38で処理した結果を、前記第1実施例と同様に
上位計算機に出力する出力装置40とを備えている。
The surface inspection apparatus is provided with a laser oscillator 30.
A rotating mirror 32 for irradiating the surface of the cold-rolled steel sheet S conveyed in the direction of the arrow with a beam from the laser oscillator 30 in a width direction, and the surface of the cold-rolled steel sheet S with the laser beam. A collimator lens 33 for irradiating the cold rolled steel sheet S at a constant angle, a first reflected light detection unit 34 and a second reflected light detection unit 36 that receive reflected light from the surface of the cold-rolled steel sheet S, and A processing device 38 for processing the signals received by the first and second reflected light detectors 34 and 36, and an output device 40 for outputting the result processed by the processing device 38 to a host computer, as in the first embodiment. Is equipped with.

【0038】又、上記第1及び第2反射光検出部34及
び36は、鋼板Sの表面からの反射光を幅方向全体に亘
って一定角度で受光し、それを伝送する光ファイバ束3
4A及び36A、並びに、そのセンサ部に反射光を集光
させるための第1及び第2集光レンズ34B及び36B
をそれぞれ備えている。これら光ファイバ束34A及び
36Aは、前記第1実施例の光ファイバ束11と実質的
に同一であり、矢印で示した反射光の光路に、それぞれ
の各受光端面の光軸が一致する方向に配置されている。
The first and second reflected light detectors 34 and 36 receive the reflected light from the surface of the steel plate S at a constant angle over the entire width direction, and transmit it.
4A and 36A, and first and second condenser lenses 34B and 36B for condensing the reflected light on the sensor portion thereof.
It has each. These optical fiber bundles 34A and 36A are substantially the same as the optical fiber bundle 11 of the first embodiment, and are arranged in the direction in which the optical axes of the respective light receiving end faces coincide with the optical paths of the reflected light shown by the arrows. It is arranged.

【0039】なお、図では、便宜上鋼板Sの移動方向に
レーザビームが回転ミラー32により走査されるように
示してあるが、実際には、鋼板Sの移動方向に対して直
交する方向に走査されるようになっている。
In the figure, the laser beam is shown as being scanned by the rotating mirror 32 in the moving direction of the steel plate S for the sake of convenience, but in reality, the laser beam is scanned in the direction orthogonal to the moving direction of the steel plate S. It has become so.

【0040】本実施例では、レーザビームが入射角θで
鋼板Sの表面に入射されるようになっており、上記第1
反射光検出部34は、該レーザビームの反射角がθ、即
ち正反射光を受光するように、又、上記第2反射光検出
部36は、角度φの反射光を受光するように、それぞれ
構成されている。
In this embodiment, the laser beam is incident on the surface of the steel plate S at the incident angle θ, and
The reflected light detecting section 34 receives the reflected angle of the laser beam θ, that is, the regular reflected light is received, and the second reflected light detecting section 36 receives the reflected light of the angle φ. It is configured.

【0041】上記第2反射光検出部36は、表面欠陥に
起因する反射光を検出するもので、その受光方向、即ち
受光角度φは、前記第1実施例の場合と同様に、予め欠
陥サンプルから求めた傾斜角度分布に基づいて決定され
るが、具体的には、鋼板Sの表面における欠陥部の傾斜
角度によって決まるレーザ光の反射方向と各受光端面の
光軸が一致するように光ファイバ束36Aが配置され
る。
The second reflected light detector 36 detects the reflected light caused by the surface defect, and the light receiving direction, that is, the light receiving angle φ, is the same as in the case of the first embodiment. It is determined based on the inclination angle distribution obtained from the above. Specifically, the optical fiber is arranged so that the reflection direction of the laser light determined by the inclination angle of the defect portion on the surface of the steel plate S and the optical axis of each light-receiving end face coincide with each other. The bundle 36A is arranged.

【0042】本実施例によれば、前記第1実施例と同様
に表面欠陥を検出できると同時に、第1反射光検出部3
4により正常部からの反射光を、又、第2反射光検出部
36により欠陥部からの反射光を、それぞれ独立に受光
できるようにしたので、冷延鋼板Sの表面の正常部と欠
陥部との反射光分布の変化を極めて顕著に検出すること
ができるため、一層確実に欠陥検出を行うことができ
る。
According to this embodiment, the surface defects can be detected as in the first embodiment, and at the same time, the first reflected light detecting section 3
4 allows the reflected light from the normal portion and the second reflected light detecting portion 36 to receive the reflected light from the defective portion independently. Therefore, the normal portion and the defective portion on the surface of the cold-rolled steel sheet S can be received. Since it is possible to detect the change in the distribution of reflected light with respect to and very remarkably, it is possible to more reliably detect the defect.

【0043】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施例に示したものに限られるもの
でなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であ
る。
Although the present invention has been specifically described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

【0044】例えば、前記実施例では、冷延鋼板の表面
欠陥の検出に適用した場合について説明したが、本発明
の適用対象はこれに限定されず、熱延鋼板やアルミニウ
ム等の一般の板材の表面疵等の検出にも同様に適用でき
ることは言うまでもない。
For example, in the above-mentioned embodiment, the case where the invention is applied to the detection of the surface defect of the cold-rolled steel sheet has been described. However, the application object of the present invention is not limited to this, and a general sheet material such as a hot-rolled steel sheet or aluminum is used. It goes without saying that the same can be applied to the detection of surface defects and the like.

【0045】又、表面検査装置が備える検出部は、光学
的手段に限定されるものでなく、例えば超音波発振・受
信手段等を検出手段として備えたものであってもよい。
この場合でも、微細形状データを解析することにより、
欠陥検出部の最適配置方向を同様に決定することができ
る。
Further, the detection unit included in the surface inspection apparatus is not limited to the optical means, and may be, for example, an ultrasonic wave oscillation / reception means or the like as the detection means.
Even in this case, by analyzing the fine shape data,
The optimum placement direction of the defect detection unit can be determined in the same manner.

【0046】又、傾斜角度の分布を測定する方法は、前
記図2の装置を用いるものに限られない。
The method for measuring the distribution of the tilt angle is not limited to the method using the apparatus shown in FIG.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
検査対象表面の微細形状データから表面疵等の表面欠陥
の傾斜角度を解析して得られる傾斜角度分布に基づいて
反射波の検出方向を決定するため、表面欠陥を高感度で
検出することが可能となる。又、この検出方向を決定す
る原理を用いることにより、表面欠陥を検出する表面検
査装置の設計や開発を合理的に、且つ短期間で行うこと
が可能となり、延いては開発コストの低減を図ることが
可能となる。
As described above, according to the present invention,
Since the detection direction of the reflected wave is determined based on the inclination angle distribution obtained by analyzing the inclination angle of surface defects such as surface flaws from the fine shape data of the surface to be inspected, surface defects can be detected with high sensitivity. Becomes Further, by using this principle of determining the detection direction, it becomes possible to rationally and quickly design and develop a surface inspection device for detecting a surface defect, which leads to reduction of development cost. It becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る第1実施例の表面検査装置の概略
構成を示す説明図
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】表面微細形状データ測定・解析装置の概略構成
を示す説明図
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a surface fine shape data measuring / analyzing device.

【図3】鋼板表面を測定して得られた欠陥を含む凹凸形
状データの一例を示す線図
FIG. 3 is a diagram showing an example of unevenness shape data including defects obtained by measuring the surface of a steel sheet.

【図4】凹凸形状データから求めた正常部における傾斜
角度分布を示す説明図
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a tilt angle distribution in a normal portion obtained from uneven shape data.

【図5】凹凸形状データから求めた欠陥部における傾斜
角度分布を示す説明図
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a tilt angle distribution in a defect portion obtained from uneven shape data.

【図6】傾斜角度分布の表示方法を説明するための説明
FIG. 6 is an explanatory diagram for explaining a display method of a tilt angle distribution.

【図7】本発明に係る第2実施例の表面検査装置の概略
構成を示す説明図
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…棒状光源 11…光ファイバ束 12…ラインカメラ 14…速度計 16…カメラコントローラ 18…画像処理装置 20、40…出力装置 22…三次元粗さ計 24…計算機 26…記録装置 30…レーザ発振器 32…回転ミラー 33…コリメータレンズ 34…第1反射光検出部 34A、36A…光ファイバ束 34B…第1集光レンズ 36…第2反射光検出部 36B…第2集光レンズ 38…処理装置 S…冷延鋼板 S′…冷延鋼板サンプル 10 ... Rod-shaped light source 11 ... Optical fiber bundle 12 ... Line camera 14 ... Velocity meter 16 ... Camera controller 18 ... Image processing device 20, 40 ... Output device 22 ... Three-dimensional roughness meter 24 ... Calculator 26 ... Recording device 30 ... Laser oscillator 32 ... Rotating mirror 33 ... Collimator lens 34 ... 1st reflected light detection part 34A, 36A ... Optical fiber bundle 34B ... 1st condensing lens 36 ... 2nd reflected light detection part 36B ... 2nd condensing lens 38 ... Processing device S ... Cold rolled steel sheet S '... Cold rolled steel sheet sample

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】検査対象表面からの反射波を検出し、その
反射波から検出対象である表面欠陥を抽出する表面検査
方法において、 検査対象表面の微細形状データから、表面欠陥に起因す
る表面の傾斜角度の分布を予め求め、その傾斜角度分布
の特異性に基づいて、検査対象表面からの反射波の検出
方向を決定することを特徴とする表面検査方法。
1. A surface inspection method for detecting a reflected wave from a surface to be inspected and extracting a surface defect to be detected from the reflected wave, comprising: A surface inspection method, wherein a distribution of tilt angles is obtained in advance, and a detection direction of a reflected wave from a surface to be inspected is determined based on the uniqueness of the tilt angle distribution.
【請求項2】請求項1において、 表面の傾斜角度分布を、検査対象表面を微小面素に分割
し、各微小面素における単位法線ベクトルから求めるこ
とを特徴とする表面検査方法。
2. The surface inspection method according to claim 1, wherein the inclination angle distribution of the surface is obtained by dividing the surface to be inspected into minute surface elements and calculating from a unit normal vector in each minute surface element.
【請求項3】検査対象表面からの反射波を検出し、その
反射波から検出対象である表面欠陥を抽出する表面検査
装置において、 検査対象表面に対して幅方向全体に亘って同一の角度で
検査波を照射する照射手段と、 検査対象表面からの反射波を、幅方向全体に亘って同一
の角度で受信する受信手段と、を備えていることを特徴
とする表面検査装置。
3. A surface inspection apparatus for detecting a reflected wave from a surface to be inspected and extracting a surface defect to be detected from the reflected wave, at the same angle over the entire width direction with respect to the surface to be inspected. A surface inspection apparatus comprising: an irradiation unit that emits an inspection wave; and a reception unit that receives a reflected wave from the surface to be inspected at the same angle over the entire width direction.
【請求項4】請求項3において、 検査波が光であり、受信手段が、検査対象表面の幅方向
に受光端面が配列され、該受光端面の全てを同一方向に
配向可能な光ファイバ束と、該光ファイバ束で伝送され
る反射光を受光する受光部とを有していることを特徴と
する表面検査装置。
4. The optical fiber bundle according to claim 3, wherein the inspection wave is light, and the receiving means has light receiving end faces arranged in the width direction of the surface to be inspected and all of the light receiving end faces can be oriented in the same direction. And a light receiving portion for receiving the reflected light transmitted by the optical fiber bundle.
【請求項5】請求項3又は4において、 照射手段が、レーザ発振装置と、レーザ光を検査対象表
面の幅方向に走査する走査手段と、幅方向に走査された
レーザ光を、検査対象表面に幅方向全体に亘って同一の
角度で照射させるコリメータレンズと、を有しているこ
とを特徴とする表面検査装置。
5. The surface to be inspected according to claim 3, wherein the irradiation means includes a laser oscillating device, a scanning means for scanning the laser light in the width direction of the surface to be inspected, and a laser beam scanned in the width direction. And a collimator lens for irradiating the same at the same angle over the entire width direction.
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