JPH0627717B2

JPH0627717B2 - 壜の胴部検査装置

Info

Publication number: JPH0627717B2
Application number: JP63090888A
Authority: JP
Inventors: 進策山本; 和史石川; 久男加藤木
Original assignee: Kirin Techno System Co Ltd
Current assignee: Omron Kirin Techno System Co Ltd
Priority date: 1988-04-13
Filing date: 1988-04-13
Publication date: 1994-04-13
Anticipated expiration: 2009-04-13
Also published as: EP0337421B1; JPH01262448A; US4924083A; EP0337421A3; CA1304140C; DE68926830D1; EP0337421A2; DE68926830T2

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は壜の胴部の欠陥を検出する壜の胴部検査装置に
関する。

〔従来の技術〕

酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜は製壜装置
により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収壜
でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。壜
の検査は壜の各部、壜胴、壜底、口部、ねじ口部を検査
することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よご
れなど食品衛生上の問題となるものと、クラック泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるため、これ
らの欠陥壜を正確に検出して排除する必要がある。この
ため透明又は半透明の壜の透過映像をみて、その濃淡か
ら欠陥を検出する方法が提案されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、単に壜の胴部の透過映像の濃淡をみるだ
けでは、異物の付着や汚れ等の遮光性欠陥に比べてうす
泡、すじ、しわ等の屈折性欠陥を検出することが困難で
あるという問題があった。また、壜の胴部には壜製造時
に生ずる縦長の合わせ目があり、この合わせ目を屈折性
欠陥と区別するのが難しいという問題があった。

本発明は上記事情を考慮してなされたもので、壜の胴部
における遮光性欠陥とともに屈折性欠陥をも精度よく検
出することができる壜の胴部検査装置を提供することを
目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記の目的は、壜の軸に略直交する方向に配置された細
長い照明部分を移動させて壜の胴部全体を照明する照明
部と、前記壜の胴部の透過光を、前記壜の軸に略直交す
る方向に配置され、前記照明部分に同期して移動する細
長い観測部分により観測して前記壜の胴部全体の透過映
像を観測する観測部と、前記観測部で観測されて壜の透
過映像に基づいて欠陥の有無を判定する判定部とを備え
たことを特徴とする壜の胴部検査装置によって達成され
る。

〔作用〕

本発明による壜の胴部検査装置は、壜の胴部を、壜の軸
に略直交する方向に配置された細長い照明部分を移動さ
せるようにして照明し、壜の軸に略直交する方向に配置
された細長い観測部分をこの照明部分に同期して移動す
ることにより透過光を観測し、この透過映像に基づいて
遮光性欠陥および／または屈折性欠陥の有無を判定す
る。

〔実施例〕

本発明の一実施例による壜の胴部検査装置を第１図に示
す。本実施例では検査される壜１２は回転台１４上で回
転させられる。壜１２は均一な拡散光を放つ拡散光源１
０により照明される。しかしながら、壜１２の全面を同
時に照明するのではなく、拡散光源１０と壜１２の間に
設けられたスリット板１１を介して照明する。したがっ
て、壜１２にはスリット板１１のスリット１１ａの影で
ある横方向の細長いライン状の光が当たる。

壜１２の胴部の透過光はスリット板１３を介して二次元
光電変換装置１６に入射される。二次元光電変換装置１
６は透過映像を電気的アナログ信号に変換する平面状の
エリアＣＣＤ１６ａと、このエリアＣＣＤ１６ａに透過
映像を結像する光学系１６ｂとで構成されている。二次
元光電変換装置１６はスリット板１３を介して透過光を
受光するため、壜１２の透過映像の全部を同時に受光す
るのではなく、透過映像の一部である細長い部分だけを
受光する。

スリット板１１と１３はスリット駆動回路１５により上
下に移動される。本実施例では第２図及び第３図に示す
ように、スリット板１１のスリット１１ａの位置とスリ
ット板１３のスリット１３ａの位置が常に同じ高さにな
るように同期して駆動制御される。したがって、第３図
に示すようにスリット１１ａを通った光は壜１２を透過
し、直進する透過光だけが反対側のスリット１３ａを通
って二次元光電変換装置１６のエリアＣＣＤ１６ａに結
像する。

第４図(a)に示すように壜１２に遮光性欠陥Ｆａがある
と、スリット１１ａを通った光は遮光性欠陥Ｆａにより
遮られてスリット１３ａを通らず二次元光電変換装置１
６のエリアＣＣＤ１６ａに到達しない。したがって、透
過映像上で遮光性欠陥は影として検出される。

第４図(b)に示すように壜１２に屈折性欠陥Ｆｂがある
と、スリット１１ａを通った光は屈折性欠陥Ｆｂにより
屈折して光の進行方向が曲げられ、ほとんどの光がスリ
ット１３ａを通らず二次元光電変換装置のエリアＣＣＤ
１６ａに到達しない。したがって、屈折性欠陥も透過影
像上で影として検出される。

スリット１１ａと１３ａは壜１２の軸と略直交する方向
に配置されている。壜１２の胴部には壜製造時に生ずる
軸方向の合わせ目があり、従来は合わせ目を屈折性欠陥
として誤認識することがあった。しかしながら、スリッ
ト１１ａと１３ａが壜１２の合わせ目の方向と略直交し
ているので、合わせ目を屈折性欠陥として誤認識するこ
とはない。

スリット板１１と１３のスリット１１ａと１３ａを例え
ば壜１２の壜口から底部まで少なくとも１以上に整数回
以上移動させることにより、壜１２全体の透過映像を二
次元光電変換装置１６のエリアＣＣＤ１６ａに結像させ
ることができる。すなわち、スリット１１ａの移動によ
り壜１２へのスリット１１ａによる細長い照明が上から
下に移動し、同時にスリット１３ａが上から下に同期し
て移動する、エリアＣＣＤ１６ａ上にはスリット１３ａ
を通った透過映像の細長い部分が下から上に移動して、
最終的に第５図に示すような透過映像全体がエリアＣＣ
Ｄ１６ａ上に結像される。なお、透過影像上において、
Ｆａは遮光性欠陥であり、Ｆｂは屈折性欠陥である。

Ａ／Ｄ変換器１８は二次元光電変換装置１６からのアナ
ログ映像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変
換する。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート
設定回路２０とモニタ表示用ＲＡＭ回路２２と欠陥検出
回路２４に出力される。

検査領域検査ゲート設定回路２０は、第５図に示すよう
な透過映像から後述する欠陥検出回路２４で欠陥を検出
する検査領域を定めるための回路である。壜１２の形状
に応じて、壜１２上下端のエッジから検査領域を定め、
この検査領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する。
第５図では壜１２の全体を検査領域とし、この検査領域
を壜１２の形状に応じて５つの検査ゲート１、２、３、
４、５に分けている。検査領域検査ゲート設定回路２０
からは、エリアＣＣＤ１６ａの現在の読出しラインの位
置が検査領域内のどの検査ゲートであるかを示す検査ゲ
ート信号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２、欠陥検出回路
２４、マスク処理回路２６、判定回路２８に出力され
る。

なお、壜１２の像の外縁がはっきりしない場合には、検
査領域検査ゲート設定回路２０により、検査領域、及び
検査ゲート１、２、３、４、５を予め定めておいてもよ
い。

欠陥検出回路２４は、Ａ／Ｄ変換器１８からのディジタ
ル映像信号に基づいて、垂直方向及び水平方向にある一
定距離離れた複数点の明るさを比較することにより欠陥
の検出を行なう。

複数点の明るさを比較する欠陥検出方式には、２点の明
るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥検出方式と３点
の明るさを比較して欠陥を検出する３点欠陥検出方式と
がある。第６図は２点欠陥検出方式の説明図であり、第
７図は３点欠陥検出方式の説明図である。

２点欠陥検出方式では、比較演算する２点Ａ、Ｂの明る
さをＱＡ、ＱＢとして、次式が成立すれば欠陥ありとす
る。

｜ＱＡ−ＱＢ｜≦（定数Ａ）第６図の場合、エリアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａ１
とＢ１、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれＱA1、ＱB1、Ｑ
A2、ＱB2として、次式により比較演算することにより欠
陥の検出を行う。

｜ＱA1−ＱB1｜≧Ａ｜ＱA2−ＱB2｜≧Ａなお、定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決めておく。
第６図(a)に示すように走査線上の透過映像の明るさが
均一であれば、ＱA1−ＱB1＜ＡＱA2−ＱB2＝Ｏが成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。このよ
うに明るさが均一であれば、この２点欠陥検出方式が有
効である。しかし、第６図(b)に示すように走査線上の
透過映像の明るさが不均一であると、｜ＱA1−ＱB1｜＜Ａ｜ＱA2−ＱB2｜＜Ａとなり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがある。

３点欠陥検出方式はこのような場合でも確実に検出でき
る。３点欠陥検出方式では、比較演算する３点Ａ、Ｂ、
Ｃの明るさをＱＡ、ＱＢ、ＱＣとして、次式により比較
演算して欠陥を検出する。

｜ＱＢ−｛（ＱＡ＋ＱＣ）／２｝｜≧（定数Ｂ）なお、定数Ｂは壜の種類等に基づいて予め定めておく。

第７図の場合、エリアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａ１
とＢ１とＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２の明るさをそれぞれＱ
A1、ＱB1、ＱC1、ＱA2、ＱB2ＱC2として、次式により比
較演算することにより欠陥の検出を行なう。

｜ＱB1−｛（ＱA1＋ＱC1）／２｝｜≧Ｂ｜ＱB2−｛（ＱA2＋ＱC2）／２｝｜≧Ｂ中間の点Ｂ１、Ｂ２の明るさと比較する明るさが両側の
点Ａ１とＣ１、Ａ２とＣ２の明るさの算術平均であるの
で、明るさが均一である第７図(a)の場合も、明るさが
不均一である第７図(b)の場合の正確に欠陥点Ｂ１が検
出できる。

２点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第８図
に示す。２点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ａのシフ
ト幅により定まる。このシフト幅はシフト幅設定部２４
ｂにより定められる。比較部２４ｃは現在入力されてい
るディジタル映像信号とシフト幅だけ前のディジタル映
像信号であるシフトレジスタ２４ａの出力信号とを比較
し、その差の絶対値が感度設定部２４ｄに設定された感
度（即ち、定数Ａ）より大きいか否かを判断して欠陥検
出信号を出力する。定数Ａは検査ゲートにより異なるた
め、感度設定部２４ｄは入力する検査ゲート信号により
適切な定数Ａを比較部２４ｃに出力する。

３点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第９図
に示す。３点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ｅ、２４
ｆのシフト幅により定まる。シフトレジスタ２４ｅ、２
４ｆのシフト幅はシフト幅設定部２４ｇにより定められ
る。この具体例では、２つのシフトレジスタ２４ｅ、２
４ｆのシフト幅は同じシフト幅に設定される。演算回路
２４ｈは現在入力しているディジタル映像信号とシフト
レジスタ２４ｆから出力されるディジタル映像信号との
算術平均を演算する。これにより現在走査している映像
の平均の明るさが計算される比較回路２４ｉは演算回路
２４ｈにより演算された平均の明るさと、シフトレジス
タ２４ｅからのディジタル映像信号とを比較し、その差
の絶対値が感度設定部２４ｊに設定された感度（即ち、
定数Ｂ）より大きいか否かを判断して欠陥検出信号を出
力する。定数Ｂは検査ゲートにより異なるため、感度設
定部２４ｊは入力する検査ゲート信号により適切な定数
Ｂを比較部２４ｉに出力する。

第８図、第９図における２点間は３点間の明るさの比較
は、エリアＣＣＤ１６ａ上の縦と横の両方向、すなわち
壜１２の縦方向と横方向について行う。

欠陥検出回路２４から出力される欠陥検出信号はマスク
処理回路２６によりマスク処理される。欠陥検出回路２
４で欠陥の検出ミスを防止するため感度を上げると、欠
陥でない部分をも欠陥点であると誤って検出してしまう
ことがある。マスク処理はかかる欠陥検出信号を除くた
めに行なう処理である。実際の欠陥箇所ではその大きさ
に応じた欠陥検出信号が連続して現れるのに対し、その
他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が離散的に現れ
る。そこでこのマスク処理では孤立した欠陥検出信号や
ある設定値以下しか連続しない欠陥検出信号は、実際に
は欠陥ではないとして削除する。

判定回路２８は、マスク処理回路２６によりマスク処理
された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する。
例えば、欠陥検出信号の数をスキャン毎に計数し、その
計数値が所定の設定値を越えるとエラースキャン（欠陥
走査線）とする。更に、そのエラースキャンが連続する
数を計数し、その計数値が所定の設定値を越えた場合に
欠陥壜であると判定する。この判定信号は壜１２の搬送
系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果に応
じて、例えば欠陥壜を排除するようにする。

基準信号発生回路３０は壜位置検出器３２からの壜位置
信号に基づいて、スリット駆動信号、検査期間信号、Ｒ
ＡＭ書込信号を生成して出力する。

スリット駆動信号は、例えば壜１２の一回転中にＣＣＤ
１６ａのスキャンに応じてスリット板１１と１３を上か
ら下まで動かすようにするための信号で、スリット駆動
回路１５に出力される。スリット駆動回路１５はこのス
リット駆動信号に基づいてスリット板１１と１３を移動
させる。検査期間信号は、スリット板１１と１３が動い
ている間である検査期間を指示するための信号で、判定
回路２８に出力される。ＲＡＭ書込信号は、モニタ表示
用ＲＡＭ回路２２にディジタル映像信号を書込むべきタ
イミングを指示するための信号である。

なお、基準信号発生回路３０ではスリット駆動信号、検
査期間信号、ＲＡＭ書込信号を生成するのにＰＬＡを用
いる。即ち、壜位置信号をアドレスとして各アドレスに
予めスリット駆動信号、検査期間信号、ＲＡＭ書込信号
を書込んでおくことにより、壜位置信号をアドレスとし
て入力すると適切なスリット駆動信号、検査期間信号、
ＲＡＭ書込信号を得ることができる。

基準信号発生回路３０からの検査期間信号は例えば判定
回路２８に出力される。判定回路２８は検査期間信号が
ハイレベルの期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効
として、壜１２が欠陥壜であるか否かを判断する。な
お、この検査期間信号を検査領域検査ゲート設定回路２
０、欠陥検出回路２４又はマスク処理回路２６に出力
し、検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号
だけを有効とするようにしてもよい。

基準信号発生回路３０からのＲＡＭ書込信号はモニタ表
示用ＲＡＭ回路２２に出力される。このＲＡＭ書込信号
に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８からのディジタル映像信
号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込まれる。モニタ
表示用ＲＡＭ回路２２にはＲＡＭ書込信号の他にマスク
処理回路２６から欠陥検出信号と判定回路２８からのエ
ラースキャン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路２０からの検査ゲート信号が入力されてい
る。欠陥検出信号及びエラースキャン信号に基づいて欠
陥点やエラースキャンをモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に
書込む。また検査ゲート信号に基づいてモニタ３６上に
検査ゲートを表示する。

モニタ表示用ＲＡＭ回路２２は２つのフレームメモリを
有し、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、検
査中の壜１２のディジタル映像信号と前回検査した壜１
２のディジタル映像信号とを記憶する。通常は検査中の
壜１２のディジタル映像信号を順々にモニタ３６に表示
するが、判定回路２８からの欠陥壜であるとの判定信号
が入力されると、その欠陥壜のディジタル映像信号を記
憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表示し、欠
陥の状態を詳細に検査することができる。

このように本実施例によれば遮光性欠陥も屈折性欠陥も
感度よく検出することができる。

上記第１の実施例では、スリット板１１のスリット１１
ａの位置とスリット板１３のスリット１３ａの位置とを
同じ高さの位置にしたが、第１０図の変形例に示すよう
に互いに所定距離だけずらしてもよい。スリット１３ａ
の位置は、スリット１１ａを通って直進した光がスリッ
ト１３ａを通らずスリット板１３により遮られるぎりぎ
りに近い位置とするのが望ましい。欠陥がない箇所では
スリット１１ａを通った光はスリット板１３により遮ら
れる。しかし、壜１２に屈折性欠陥Ｆｂがあると、第１
０図に示すようにスリット１１ａを通った光は屈折性欠
陥Ｆｂにより曲げられてスリット１３ａを通る。したが
って、欠陥点は、第１１図、第１２図に示すように他の
点より明るい欠陥点Ｂ１として現れ、屈折性欠陥は、第
１３図に示すように透過映像中に明るい領域である屈折
性欠陥Ｆｂとして現れる。なお、この変型例では遮光性
欠陥Ｆａは検出されない。

この変型例によれば、第１１図、第１２図に示すように
第１の実施例と同様に欠陥点を２点欠陥検出方式（第１
１図）または３点欠陥検出方式（第１２図）によって検
出する。ただし、この変型例では欠陥点が明るいことが
第１の実施例とは異なる。

本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置を第１４
図に示す。同一の構成要素には同一の符号を付して説明
を省略する。本実施例は、第１の実施例におけるスリッ
ト板１１、１３のような機械的に動く部分をなくしたこ
とを特徴とするものである。

拡散光源１０とスリット板１１の代わりに、本実施例で
は第１５図に示すような光源４０を用いている。この光
源４０は、多数の発光ダイオード４０ａをマトリックス
状に配列して構成したものである。スリット板１１を移
動させる代わりに、光源制御回路４２によって発光ダイ
オード４０ａの発光を制御する。すなわち、発光ダイオ
ード４０ａを例えば上から下に向かって順番に一列ずつ
光らせる。これにより、細長い発光部分が上から下に移
動し、第１の実施例においてスリットを移動させたのと
同じになる。第１５図は４列目の発光ダイオードが発光
した状態を示している。

スリット１３の代わりに、本実施例では光電変換装置制
御回路４４により二次元光電変換装置１６におけるエリ
アＣＣＤ１６ａの掃出し、読出しを制御する。すなわ
ち、第１６図に示すように、蓄積電荷を掃出すように制
御する掃出制御ラインＬｄを下から上に移動させ、蓄積
電荷を読出すように制御する読出制御ラインＬｒを掃出
制御ラインＬｄを追いかけるよう下から上に移動させ
る。あるラインにおける制御のタイミングを第１７図に
示す。時刻ｔ１で掃出しパルスを発生させると、今まで
蓄積された電荷が掃出されて空になる。その後入射する
光に応じて電荷を蓄積する。予め定められた蓄積時間Ｔ
後の時刻ｔ２で読出しパルスを発生させると、蓄積時間
Ｔの間に蓄積された電荷が信号として読出される。蓄積
時間Ｔに応じて決まる掃出制御ラインＬｄと読出制御ラ
インＬｒの間隔が、スリット１３ａの間隔に相当するこ
とになる。

基準信号発生回路３０から光源制御回路４２と光電変換
装置制御回路４４に制御信号を送って、光源４０におい
て発光させる発光ダイオード列と、エリアＣＣＤ１６ａ
における掃出制御ラインＬｄと読出制御ラインＬｒとを
同期させて制御する。たとえば、第１８図に示すよう
に、壜１２の透過映像のうち発光している発光ダイオー
ド列により照明された部分の像が丁度エリアＣＣＤ１６
ａにおける掃出制御ラインＬｄと読出制御ラインＬｒの
中間に結像するように制御を同期させる。これが第１の
実施例における第３図の場合（スリット１１ａとスリッ
ト１３ａの位置を一致させる場合）に対応する。第１０
図の場合（スリット１１ａとスリット１３ａの位置をず
らせる場合）のようにするには、発光させる発光ダイオ
ード列の結像位置と、掃出制御ラインＬｄと読出制御ラ
インＬｒに挾まれる光蓄積領域の位置を少しずらせばよ
い。

本実施例によれば、機械的に動く箇所がないので精密な
位置合せが簡単にでき、かつ故障の発生を低く抑えらる
ことができる。

上記第２の実施例では、光源４０を発光ダイオードをマ
トリックス状に配列して構成したが、細長い照明部分を
順次切り換えられるものであればいかなる構成でもよ
い。例えば、マトリックス状に束ねたファイバで光を誘
導し、このファイバで照明してもよい。また、レーザ光
を捜査して細長い照明部分を切り換えるようにしてもよ
い。

本発明では上記実施例に限らず種々の変形が可能であ
る。たとえば、上記実施例では固定位置で回転する壜１
２を検査したが、回転しながら連続して移動する壜１２
に対しても振動レンズや振動ミラーを設けることにより
検査が可能である。

また、欠陥検出方式も上記実施例に示したものに限らず
種々の変形が可能である。例えば、比較演算する２点の
明るさをＱＡ、ＱＢとして、次式のいずれかが成立すれ
ば欠陥ありとしてもよい。

ＱＡ／ＱＢ≧（定数Ｃ）ＱＡ／ＱＢ≦／（定数Ｃ）また比較する３点の明るさを、ＱＡ、ＱＢ、ＱＣとし
て、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよ
い。

ＱＢ／｛（ＱＡ＋ＱＣ）／２｝≧（定数Ｄ）ＱＢ／｛（ＱＡ＋ＱＣ）／２｝≧１／（定数Ｄ）なお定数Ｃ、定数Ｄは１以上の数である。

さらに、第１の実施例と第２の実施例を組合わせてもよ
い。すなわち、照明部として第１の実施例のように拡散
光源とスリット板を用い、観測部としての第２の実施例
のようにエリアＣＣＤを制御してもよい。逆に照明部と
して第２の実施例のように発光ダイオードからなる光源
を用い、観測部として第１の実施例のようにスリット板
を用いてもよい。

また、上記実施例では照明部の細長い照明部分も観測部
の細長い観測部分も、検査する壜に対して真横の方向で
あったが、真横以外の方向、例えば斜めの方向でもよい
し、直線ではなく曲線状の照明部分及び観測部分でもよ
い。

壜はガラス壜でもプラスチック壜でもよく、さらにガラ
ス容器の側面の検査にも本発明を適用することができ
る。

〔発明の効果〕

以上の通り、本発明によれば、壜の胴部の遮光性欠陥お
よび／または屈折性欠陥を精度よく検出することががで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例による壜の胴部検査装置
のブロック図、第２図、第３図は同壜の胴部検査装置の
光学検出系を示す図、第４図は同壜の胴部検査装置にお
ける検査原理の説明図、第５図は同壜の胴部検査装置に
おける検査領域と検査ゲートを示す図、第６図、第７図
は同壜の胴部検査装置における欠陥検出方式の説明図、
第８図、第９図はこれら欠陥検出方式を実現する欠陥検
出回路の具体例を示すブロック図、第１０図は第１の実
施例の変形例の検査原理の説明図、第１１図、第１２図
は同変形例における欠陥検出方式の説明図、第１３図は
同変形例における透過映像の具体例を示す図、第１４図
は本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置のブロ
ック図、第１５図は同壜の胴部検査装置の光源を示す斜
視図、第１６図、第１７図は同壜の胴部検査装置におけ
るエリアＣＣＤの制御を説明するための図、第１８図は
同壜の胴部検査装置の光学検出系を示す図である。１０……拡散光源、１１、１３……スリット板、１１
ａ、１３ａ……スリット、１２……壜、１４……回転
台、１５……スリット駆動回路、１６……二次元光電変
換装置、１６ａ……エリアＣＣＤ、１８……Ａ／Ｄ変換
回路、２０……検査領域検査ゲート設定回路、２２……
モニタ表示用ＲＡＭ回路、２４……欠陥検出回路、２６
……マスク処理回路、２８……判定回路、３０……基準
信号発生回路、３２……壜位置検出器、３６……モニ
タ、４０……光源、４２……光源制御回路、４４……光
電変換装置制御回路。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】壜の軸に略直交する方向に配置された細長
い照明部分を移動させて前記壜の胴部全体を照明する照
明部と、前記壜の胴部の透過光を、前記壜の軸に略直交する方向
に配置され、前記照明部分に同期して移動する細長い観
測部分により観測して前記壜の胴部全体の透過映像を観
測する観測部と、前記観測部で観測された壜の透過映像に基づいて欠陥の
有無を判定する判定部とを備えたことを特徴とする壜の
胴部検査装置。
【請求項２】請求項１記載の壜の胴部検査装置におい
て、前記照明部は、照明光を発する光源と、前記光源の照明
光の一部を通す照明用スリットと、前記照明用スリット
を移動させる移動手段とを有することを特徴とする壜の
胴部検査装置。
【請求項３】請求項１又は２記載の壜の胴部検査装置に
おいて、前記観測部は、前記壜の透過光を通す観測用スリット
と、前記観測用スリットを移動させる移動手段と、前記
観測用スリットを通った光を受光する受光手段とを有す
ることを特徴とする壜の胴部検査装置。
【請求項４】請求項１又は３記載の壜の胴部検査装置に
おいて、前記照明部は、複数の細長い発光部分と、前記複数の細
長い発光部分を所定の順序で発光させる制御手段とを有
することを特徴とする壜の胴部検査装置。
【請求項５】請求項１、２又は４記載の壜の胴部検査装
置において、前記観測部は、複数の細長い受光部分と、前記複数の細
長い受光部分を所定の順序で受光状態にする制御手段と
を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。