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JPH06275093A - Sample-and-hold device - Google Patents

Sample-and-hold device

Info

Publication number
JPH06275093A
JPH06275093A JP5066713A JP6671393A JPH06275093A JP H06275093 A JPH06275093 A JP H06275093A JP 5066713 A JP5066713 A JP 5066713A JP 6671393 A JP6671393 A JP 6671393A JP H06275093 A JPH06275093 A JP H06275093A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
output
output terminal
input terminal
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5066713A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Miki
隆博 三木
Toshio Kumamoto
敏夫 熊本
Hiroyuki Kono
浩之 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5066713A priority Critical patent/JPH06275093A/en
Publication of JPH06275093A publication Critical patent/JPH06275093A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a sample-and-hold device of which operation is stable and an occupancy area is small. CONSTITUTION:Positive and negative input V1, V2 are inputted to a first differential circuit 1, their positive and negative output V3, V4 are inputted to positive side and negative side diode bridge circuits 2, 3, and their positive and negative output V5, V6 are inputted to a second differential circuit 6. And their positive and negative output V7, V8 are inputted to reference voltage impressing terminals 23, 33 of the diode bridge circuit 2, 3. Capacitors 4, 5 are provided between output terminals 22, 32 of the diode bridge circuit 2, 3 and the ground.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、サンプルホールド装
置に関し、特に、入力された2つのアナログ信号間の電
圧差をサンプルホールドするための差動型のサンプルホ
ールド装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample and hold device, and more particularly to a differential sample and hold device for sampling and holding a voltage difference between two input analog signals.

【0002】[0002]

【従来の技術】図14に、従来のサンプルホールド装置
Dの構成を示す。このサンプルホールド装置Dは、周知
の非差動型サンプルホールド回路100,101を用い
て、差動型サンプルホールドを構成したものである。1
0および11はサンプルホールド装置Dの正および負入
力端子であり、その各々は差動回路1の正および負入力
端子に接続されている。差動回路1の正および負出力端
子は各々正側サンプルホールド回路100および負側サ
ンプルホールド回路101に入力している。正側サンプ
ルホールド回路100および負側サンプルホールド回路
101の出力は各々サンプルホールド装置Dの正および
負出力端子12,13に接続されている。
2. Description of the Related Art FIG. 14 shows the structure of a conventional sample hold device D. The sample-hold device D is a differential sample-hold device using well-known non-differential sample-hold circuits 100 and 101. 1
Reference numerals 0 and 11 denote positive and negative input terminals of the sample and hold device D, each of which is connected to the positive and negative input terminals of the differential circuit 1. The positive and negative output terminals of the differential circuit 1 are input to the positive sample hold circuit 100 and the negative sample hold circuit 101, respectively. The outputs of the positive sample hold circuit 100 and the negative sample hold circuit 101 are connected to the positive and negative output terminals 12 and 13 of the sample hold device D, respectively.

【0003】正側サンプルホールド回路100は次のよ
うな構成になっている。2は正側のスイッチ手段である
正側ダイオードブリッジ回路であり、その入力端子21
が差動回路1の正出力端子と接続されている。また、正
側ダイオードブリッジ回路2の出力端子22は、正側キ
ャパシタ4の一方電極に接続されるとともに、正側演算
増幅器102の正入力端子に接続されている。正側キャ
パシタ4の他方電極は接地されている。23は、ホール
ド期間において正側ダイオードブリッジ回路2の内部ノ
ードの電圧を制限するための基準となる電圧を印加する
ための基準電圧印加端子であり、以下では単に基準電圧
印加端子と呼ぶことにする。また、24および25は正
側ダイオードブリッジ回路2のクロック入力端子であ
り、相補なクロック信号φHとφSが各々に印加されて
いる。正側演算増幅器100による出力はその負入力端
子と接続されており、さらに、サンプルホールド装置D
の正出力端子12に接続されている。なお、負側サンプ
ル回路101も正側サンプルホールド回路100と同一
構成であり、負側ダイオードブリッジ回路3と負側演算
増幅器103よりなる。
The positive side sample and hold circuit 100 has the following configuration. Reference numeral 2 is a positive side diode bridge circuit which is a switching means on the positive side, and its input terminal 21
Is connected to the positive output terminal of the differential circuit 1. The output terminal 22 of the positive side diode bridge circuit 2 is connected to one electrode of the positive side capacitor 4 and also to the positive input terminal of the positive side operational amplifier 102. The other electrode of the positive side capacitor 4 is grounded. Reference numeral 23 is a reference voltage application terminal for applying a reference voltage for limiting the voltage of the internal node of the positive diode bridge circuit 2 in the hold period, and will be simply referred to as a reference voltage application terminal hereinafter. . Reference numerals 24 and 25 denote clock input terminals of the positive diode bridge circuit 2, to which complementary clock signals φH and φS are applied. The output from the positive-side operational amplifier 100 is connected to its negative input terminal, and further, the sample-hold device D
Is connected to the positive output terminal 12. The negative side sample circuit 101 also has the same configuration as the positive side sample and hold circuit 100, and includes the negative side diode bridge circuit 3 and the negative side operational amplifier 103.

【0004】次いで、動作について説明する。差動回路
1はダイオードブリッジ回路2,3を駆動するために設
けられたものであり、その入力端子間の電位差に応じた
電位差を持つ相補信号を、その出力端子間の電位差とし
て発生する。すなわち、差動回路1の正入力端子および
負入力端子の電位を各々V1 とV2 、正出力端子および
負出力端子の電位を各々V3 とV4 とすると、その動作
は、 V3 =V01+(A1 /2)(V1 −V2 ) …(1) V4 =V01−(A1 /2)(V1 −V2 ) …(2) と表現できる。ここでV01は差動回路1の同相出力電
圧、すなわち正および負入力端子の電位が等しいとき
の、正および負出力端子の電位であり、また、A1 は差
動回路1の差動利得、すなわち入力電位差に対する出力
電位差の利得である。
Next, the operation will be described. The differential circuit 1 is provided to drive the diode bridge circuits 2 and 3, and generates a complementary signal having a potential difference corresponding to the potential difference between its input terminals as a potential difference between its output terminals. That is, if the potentials of the positive input terminal and the negative input terminal of the differential circuit 1 are V 1 and V 2 , and the potentials of the positive output terminal and the negative output terminal are V 3 and V 4 , respectively, the operation is V 3 = V 01 + (a 1/2 ) (V 1 -V 2) ... (1) V 4 = V 01 - (a 1/2) (V 1 -V 2) ... (2) and can be expressed. Here, V 01 is the common-mode output voltage of the differential circuit 1, that is, the potential of the positive and negative output terminals when the potentials of the positive and negative input terminals are equal, and A 1 is the differential gain of the differential circuit 1. , That is, the gain of the output potential difference with respect to the input potential difference.

【0005】ダイオードブリッジ回路2,3の入力端子
21,31は差動回路1の正出力V 3 および負出力V4
によって駆動される。ダイオードブリッジ回路2,3の
出力端子22,32の電位V5 ,V6 は、サンプル期間
(クロック信号φSが「H」レベル、クロック信号φH
が「L」レベルの期間)において、入力端子21,31
の電位V3 ,V4 と等しくなる。すなわち、サンプル期
間では、正側ダイオードブリッジ回路2の出力端子22
の電位V5 は差動回路1の正出力V3 の変化に追随し、
負側ダイオードブリッジ回路3の出力端子32の電位V
6 は差動回路1の負出力V4 の変化に追随する。次に、
ホールド期間(クロック信号φSが「L」レベル、クロ
ック信号φHが「H」レベルの期間)においては、ダイ
オードブリッジ回路2,3の出力端子22,32は高イ
ンピーダンス状態となり、入出力端子が電気的に切離さ
れる。これにより、サンプル期間の最後の瞬間におけ
る、差動回路1の正および負出力電位V3 ,V4 の各々
が、正側キャパシタ4および負側キャパシタ5に保持さ
れる。演算増幅器102,103は、これらの保持電位
と等しい電位を発生するために設けられたものである。
これらの演算増幅器102,103各々においては、そ
の出力端子が負入力端子に直接接続している。このよう
な接続においては、周知のように、演算増幅器102,
103の動作が理想的である場合、その出力電位V7
8 は正入力端子の電位V5 、V6 と等しくなる。した
がって、正側演算増幅器102の出力V7 、すなわち端
子12に現われる出力V7 は、サンプル期間では差動回
路1の正出力V3 の変化に追随し、ホールド期間では一
定値、すなわちサンプル期間の最後の瞬間の電位を出力
する。負側演算増幅器103の出力の電位も同様であ
る。
Input terminals of diode bridge circuits 2 and 3
21 and 31 are positive outputs V of the differential circuit 1. 3And negative output VFour
Driven by. Diode bridge circuit 2 and 3
Potential V of output terminals 22 and 32Five, V6The sample period
(Clock signal φS is “H” level, clock signal φH
Is at the “L” level), the input terminals 21, 31
Potential V3, VFourIs equal to That is, sample period
Between the positive side diode bridge circuit 2 output terminal 22
Potential VFiveIs the positive output V of the differential circuit 1.3Following changes in
The potential V of the output terminal 32 of the negative side diode bridge circuit 3
6Is the negative output V of the differential circuit 1.FourTo follow the changes. next,
Hold period (clock signal φS is at “L” level, black
Clock signal φH is at “H” level)
The output terminals 22 and 32 of the ode bridge circuits 2 and 3 are high
And the input / output terminals are electrically disconnected.
Be done. This ensures that at the end of the sample period
Positive and negative output potential V of the differential circuit 13, VFourEach of
Are held in the positive side capacitor 4 and the negative side capacitor 5.
Be done. The operational amplifiers 102 and 103 have these holding potentials.
It is provided to generate a potential equal to.
In each of these operational amplifiers 102 and 103,
The output terminal of is directly connected to the negative input terminal. like this
In this connection, as is well known, the operational amplifier 102,
When the operation of 103 is ideal, its output potential V7
V8Is the potential V of the positive input terminalFive, V6Is equal to did
Therefore, the output V of the positive side operational amplifier 1027, Ie the edge
Output V appearing on child 127Is the differential time in the sample period
Positive output V of path 13Changes during the hold period
Outputs a constant value, that is, the potential at the last moment of the sample period
To do. The same applies to the potential of the output of the negative side operational amplifier 103.
It

【0006】正側演算増幅器102の出力電圧V7 は正
側ダイオードブリッジ2の基準電圧印加端子23に印加
され、正側ダイオードブリッジ2内部のノード電圧が制
限される。また、負側演算増幅器103の出力電圧V8
は負側ダイオードブリッジ3の基準電圧印加端子33に
印加され、負側ダイオードブリッジ3内部のノード電圧
が制限される。図15はダイオードブリッジ回路2,3
の詳しい回路図であり図番は正側ダイオードブリッジ2
に合わせた。201〜204はブリッジを形成するダイ
オードであり、205および206はホールド期間にノ
ードAおよびBの電位を制限するために設けられたクラ
ンプ用ダイオードである。また、207,208は電流
値Iを持つ電流源であり、209はその2倍の電流値2
Iを持つ電流源である。また、210および211は電
流スイッチ用トランジスタであり、各々クロック信号φ
HおよびφSで制御されている。
The output voltage V 7 of the positive side operational amplifier 102 is applied to the reference voltage application terminal 23 of the positive side diode bridge 2, and the node voltage inside the positive side diode bridge 2 is limited. Also, the output voltage V 8 of the negative side operational amplifier 103
Is applied to the reference voltage application terminal 33 of the negative side diode bridge 3, and the node voltage inside the negative side diode bridge 3 is limited. FIG. 15 shows diode bridge circuits 2 and 3
It is a detailed circuit diagram of and the figure number is the positive side diode bridge 2
Was adapted to. 201 to 204 are diodes forming a bridge, and 205 and 206 are clamping diodes provided to limit the potentials of the nodes A and B during the hold period. Further, 207 and 208 are current sources having a current value I, and 209 is a current value 2 which is twice that.
It is a current source having I. Further, 210 and 211 are current switching transistors, each of which is a clock signal φ.
It is controlled by H and φS.

【0007】サンプル期間においてはクロック信号φS
が「H」レベル、クロック信号φHが「L」レベルにな
る。これによって、電流源208の電流は直接トランジ
スタ211のコレクタへ、電流源207の電流はダイオ
ード201〜204を経由してトランジスタ211のコ
レクタへ流れ込む。すなわち、ダイオード201〜20
4は順バイアスされる。一方、ダイオード205,20
6は逆バイアスされ、基準電圧印加端子23と内部ノー
ドA,Bは電気的に切離される。ここで、ダイオード2
01,202の経路とダイオード203,204の経路
が対称であることから、端子22の電位V5 は端子21
の電位V3 と一致するように整定しようとする。すなわ
ち、サンプル期間では、ダイオードブリッジ回路2の出
力端子22の電位V5 は入力端子21の電位V3 の変化
に追随する。次にホールド期間においては、クロック信
号φSが「L」レベル、クロック信号φHが「H」レベ
ルとなる。これによって、電流源207の電流は直接ト
ランジスタ210のコレクタへ流れる。また、電流源2
08の電流は、ノードBからノードAを経由して、トラ
ンジスタ210のコレクタへ流れ込もうとし、ダイオー
ド201〜204は逆バイアスされる。これによって、
入力端子21および出力端子22はともに高インピーダ
ンス状態となり、互いに電気的に切離される。
In the sampling period, the clock signal φS
Becomes "H" level, and the clock signal φH becomes "L" level. As a result, the current of the current source 208 directly flows into the collector of the transistor 211, and the current of the current source 207 flows into the collector of the transistor 211 via the diodes 201 to 204. That is, the diodes 201 to 20
4 is forward biased. On the other hand, the diodes 205 and 20
6 is reverse-biased, and the reference voltage application terminal 23 and the internal nodes A and B are electrically disconnected. Where diode 2
Since the path of 01 and 202 and the path of the diodes 203 and 204 are symmetrical, the potential V 5 of the terminal 22 is
Attempt to settle so as to match the potential V 3 of . That is, in the sampling period, the potential V 5 of the output terminal 22 of the diode bridge circuit 2 follows the change of the potential V 3 of the input terminal 21. Next, in the hold period, the clock signal φS becomes “L” level and the clock signal φH becomes “H” level. As a result, the current of the current source 207 directly flows to the collector of the transistor 210. In addition, the current source 2
The current of 08 tries to flow into the collector of the transistor 210 from the node B via the node A, and the diodes 201 to 204 are reverse biased. by this,
The input terminal 21 and the output terminal 22 are both in a high impedance state and are electrically isolated from each other.

【0008】一方、もしダイオード205,206およ
び基準電圧印加端子23がなければ、ホールド期間にお
いて、電流源208からの電流はノードBで行き場を失
い、このノードの電位はどんどん上昇していく。また、
ノードAでは、電流源209へ流出する電流が、207
から供給される電流を上回っていることから、このノー
ドの電位がどんどん下がっていく。この結果、ノードB
は電源電位に近い電位、ノードAは接地電位に近い値ま
で大きく変化する。ダイオード205,206および基
準電圧印加端子23は、この内部ノードの大きな電位変
化を防ぐために設けられたものである。ダイオード20
5,206はホールド期間に順バイアスされ、電流源2
08からの電流をノードAにバイパスする。また、この
順方向電流によって生ずるダイオード205または20
6のアノード−カソード間電圧をVD 、基準電圧印加端
子23の電位をVC とすると、ノードAの電位はVC
D 、ノードBの電位はVC +VD に固定される。とこ
ろで上に述べたように、演算増幅器102の出力電位V
7 が基準電圧VC として与えられているが、演算増幅器
102の出力電位V7 はダイオードブリッジの出力端子
22の電位V5 と等しい、したがって、ホールド期間に
おいては、ノードAの電位は必ず出力端子22の電位V
5 より低く、ノードBの電位は必ず出力端子22の電位
5 より高くなる。したがって、ホールド期間において
ダイオード203,204は必ず逆バイアスされ、この
結果、端子22の高インピーダンス状態が必ず実現され
る。これにより、ホールド期間においてキャパシタ4の
保持電荷がダイオードブリッジ2の内部へ漏れないこと
を確実にしている。なお、負側ダイオードブリッジ3の
構成と動作も同様である。
On the other hand, if the diodes 205, 206 and
If the reference voltage applying terminal 23 is not provided,
The current from the current source 208 loses its place at node B.
Yes, the potential of this node rises steadily. Also,
At the node A, the current flowing out to the current source 209 is 207
Since it exceeds the current supplied from
The potential of the do goes down. As a result, node B
Is close to the power supply potential, and node A is close to the ground potential.
Changes greatly. Diode 205, 206 and base
The quasi-voltage applying terminal 23 has a large potential change of this internal node.
It is provided to prevent aging. Diode 20
5,206 are forward biased during the hold period, and the current source 2
Bypass current from 08 to node A. Also this
Diode 205 or 20 produced by forward current
Anode-cathode voltage of 6 is VD, Reference voltage application terminal
The potential of the child 23 is VCThen, the potential of the node A is VC
V D, The potential of node B is VC+ VDFixed to. Toko
As described above, the output potential V of the operational amplifier 102 is
7Is the reference voltage VCGiven as an operational amplifier
102 output potential V7Is the output terminal of the diode bridge
22 potential VFiveEqual to the hold period
In addition, the potential of the node A is always the potential V of the output terminal 22.
FiveLower, the potential of node B must be the potential of output terminal 22
VFiveGet higher. Therefore, during the hold period
The diodes 203 and 204 are always reverse biased,
As a result, the high impedance state of the terminal 22 is always realized.
It As a result, the capacitor 4 is held in the hold period.
The stored charge should not leak inside the diode bridge 2.
Is sure. In addition, the negative diode bridge 3
The configuration and operation are similar.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
サンプルホールド装置Dは構成されていたが、上記のよ
うにキャパシタ4,5に保持された電位V5 ,V6 と等
しい電位V7 ,V8 を出力する手段として、演算増幅器
102,103を用いていた。この演算増幅器102,
103は出力が入力にフィードバックされている。周知
のように、フィードバック経路がある回路は発振が起こ
り動作が不安定になる危険性がある。また、従来のサン
プルホールド装置Dでは、このような演算増幅器10
2,103が2つ必要であり、たとえばサンプルホール
ド装置Dを同一半導体基板上に集積しようとする場合、
大きな占有面積が必要であった。
Although the conventional sample and hold device D is constructed as described above, the potential V 7 equal to the potentials V 5 and V 6 held in the capacitors 4 and 5 as described above. , V 8 are output, the operational amplifiers 102 and 103 are used. This operational amplifier 102,
The output of 103 is fed back to the input. As is well known, a circuit having a feedback path may oscillate and become unstable in operation. Further, in the conventional sample hold device D, such an operational amplifier 10
Two and two 103 are required. For example, when the sample hold device D is to be integrated on the same semiconductor substrate,
A large occupied area was required.

【0010】この発明は上記のような欠点を解消するた
めになされたものであり、その目的とするところは、動
作が安定した、占有面積の小さなサンプルホールド装置
を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks, and an object of the present invention is to provide a sample-hold device which operates stably and occupies a small area.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明の第1のサンプ
ルホールド装置は、入力された2つのアナログ信号間の
電圧差をサンプルホールドするための差動型のサンプル
ホールド装置であって、第1および第2の入力端子と、
第1および第2の出力端子とを有し、前記第1および第
2の入力端子間の入力電圧差に応じて、前記第1および
第2の出力端子間の出力電圧差が変化する第1の差動回
路と、前記第1の差動回路の第1の出力端子に接続され
た入力端子、およびサンプル期間においては前記入力端
子と電気的に接続され、ホールド期間においては前記入
力端子と電気的に遮断される出力端子を有する第1のス
イッチ手段と、前記第1の差動回路の第2の出力端子に
接続された入力端子、およびサンプル期間においては前
記入力端子と電気的に接続され、ホールド期間において
は前記入力端子と電気的に遮断される出力端子を有する
第2のスイッチ手段と、その一方電極が前記第1のスイ
ッチ手段の出力端子に接続され、その他方電極が定電位
ノードに接続されている第1のキャパシタと、その一方
電極が前記第2のスイッチ手段の出力端子に接続され、
その他方電極が定電位ノードに接続されている第2のキ
ャパシタと、前記第1のキャパシタの一方電極に接続さ
れた第1の入力端子、前記第2のキャパシタの一方電極
に接続された第2の入力端子、第1の出力端子および第
2の出力端子を有し、前記第1の入力端子の電位とほぼ
等しい電位を前記第1の出力端子から発生し、前記第2
の入力端子の電位とほぼ等しく電位を前記第2の出力端
子から発生する第2の差動回路とを含むように構成され
る。
A first sample and hold device according to the present invention is a differential sample and hold device for sample and hold a voltage difference between two input analog signals. And a second input terminal,
A first and a second output terminal, wherein an output voltage difference between the first and second output terminals changes in accordance with an input voltage difference between the first and second input terminals Differential circuit, an input terminal connected to the first output terminal of the first differential circuit, and an input terminal electrically connected to the input terminal during the sampling period and electrically connected to the input terminal during the hold period. First switch means having an output terminal that is electrically shut off, an input terminal connected to the second output terminal of the first differential circuit, and an input terminal electrically connected to the input terminal during the sampling period. A second switch means having an output terminal electrically cut off from the input terminal in the hold period, one electrode of which is connected to the output terminal of the first switch means, and the other electrode of which is a constant potential node. Connected to A first capacitor are connected one electrode to the output terminal of said second switching means,
A second capacitor whose other electrode is connected to a constant potential node, a first input terminal connected to one electrode of the first capacitor, and a second input terminal connected to one electrode of the second capacitor. Input terminal, a first output terminal and a second output terminal, and a potential substantially equal to the potential of the first input terminal is generated from the first output terminal,
And a second differential circuit for generating a potential from the second output terminal that is substantially equal to the potential of the input terminal of.

【0012】また、前記第1のキャパシタの一方電極と
前記第2の差動回路の第1の入力端子の間、および前記
第2のキャパシタの一方電極と前記第2の差動回路の第
2の入力端子の間に入力電流が0で入力電圧と同じ電圧
を出力するバッファ回路を接続してもよい。
Further, between the one electrode of the first capacitor and the first input terminal of the second differential circuit, and between the one electrode of the second capacitor and the second electrode of the second differential circuit. A buffer circuit that outputs the same voltage as the input voltage when the input current is 0 may be connected between the input terminals of the.

【0013】また、この発明の第2のサンプルホールド
装置は、入力された2つのアナログ信号間の電圧差をサ
ンプルホールドするための差動型のサンプルホールド装
置であって、第1および第2の入力端子と、第1および
第2の出力端子とを有し、前記第1および第2の入力端
子間の入力電圧差に応じて、前記第1および第2の出力
端子間の出力電圧差が変化する第1の差動回路と、前記
第1の差動回路の第1の出力端子に接続された入力端
子、サンプル期間においては前記入力端子と電気的に接
続され、ホールド期間においては前記入力端子と電気的
に遮断される出力端子、およびホールド期間において内
部ノードの電圧を制限するための基準となる電圧が印加
される基準電圧印加端子を有する第1のスイッチ手段
と、前記第1の差動回路の第2の出力端子に接続された
入力端子、サンプル期間においては前記入力端子と電気
的に接続され、ホールド期間においては前記入力端子と
電気的に遮断される出力端子、およびホールド期間にお
いて内部ノードの電圧を制限するための基準となる電圧
を印加するための基準電圧印加端子を有する第2のスイ
ッチ手段と、その一方電極が前記第1のスイッチ手段の
出力端子に接続され、その他方電極が定電位ノードに接
続されている第1のキャパシタと、その一方電極が前記
第2のスイッチ手段の出力端子に接続され、その他方電
極が定電位ノードに接続されている第2のキャパシタ
と、前記第1のキャパシタの一方電極に接続された第1
の入力端子、前記第2のキャパシタの一方電極に接続さ
れた第2の入力端子、第1の出力端子、第2の出力端
子、第3の出力端子および第4の出力端子を有し、前記
第1の入力端子の電位とほぼ等しい電位を前記第1およ
び第3の出力端子から発生し、前記第2の入力端子の電
位とほぼ等しい電位を前記第2および第4の出力端子か
ら発生し、第3の出力端子から発生した電位を前記第1
のスイッチ手段の基準電圧印加端子に印加し、第4の出
力端子から発生した電位を前記第2のスイッチ手段の基
準電圧印加端子に印加する第2の差動回路とを含むよう
に構成される。
The second sample and hold device of the present invention is a differential type sample and hold device for sampling and holding the voltage difference between the two input analog signals. An input terminal and first and second output terminals are provided, and an output voltage difference between the first and second output terminals is determined according to an input voltage difference between the first and second input terminals. A changing first differential circuit, an input terminal connected to a first output terminal of the first differential circuit, electrically connected to the input terminal during a sample period, and the input during a hold period. First switch means having an output terminal electrically cut off from the terminal and a reference voltage application terminal to which a reference voltage for limiting the voltage of the internal node is applied during the hold period; and the first difference. Movement An input terminal connected to the second output terminal, an output terminal electrically connected to the input terminal in the sample period and electrically cut off from the input terminal in the hold period, and an internal node in the hold period. Second switch means having a reference voltage application terminal for applying a reference voltage for limiting the voltage of the first switch means, one electrode of which is connected to the output terminal of the first switch means and the other electrode is A first capacitor connected to the constant potential node; a second capacitor having one electrode connected to the output terminal of the second switch means and the other electrode connected to the constant potential node; A first connected to one electrode of the first capacitor
An input terminal of the second capacitor, a second input terminal connected to one electrode of the second capacitor, a first output terminal, a second output terminal, a third output terminal and a fourth output terminal, A potential substantially equal to the potential of the first input terminal is generated from the first and third output terminals, and a potential substantially equal to the potential of the second input terminal is generated from the second and fourth output terminals. , The potential generated from the third output terminal
And a second differential circuit for applying the potential generated from the fourth output terminal to the reference voltage application terminal of the second switch means. .

【0014】[0014]

【作用】この発明の第1のサンプルホールド装置にあっ
ては、正側および負側キャパシタに保持された電位と等
しい電位を出力する手段として、フィードバックが不要
な差動回路を1つだけ用いている。したがって、上記手
段として出力を入力にフィードバックされた演算増幅器
を2つ用いていた従来例よりも動作が安定した、占有面
積の小さなサンプルホールド装置を得ることができる。
In the first sample and hold device of the present invention, only one differential circuit that does not require feedback is used as means for outputting a potential equal to the potential held in the positive and negative capacitors. There is. Therefore, it is possible to obtain a sample and hold device having a smaller operation area and more stable operation than the conventional example using two operational amplifiers whose outputs are fed back to the input as the above means.

【0015】また、正側および負側キャパシタと第2の
差動回路の間に入力電流が0で入力電圧に等しい電圧を
出力するバッファ回路を接続すれば、ホールド期間にお
いてキャパシタに蓄えられた保持電流がリークすること
がなく、サンプルホールド装置の出力のがドリフトする
こともない。
If a buffer circuit that outputs a voltage having an input current of 0 and a voltage equal to the input voltage is connected between the positive and negative capacitors and the second differential circuit, the hold stored in the capacitor during the hold period is held. The current does not leak and the output of the sample hold device does not drift.

【0016】また、この発明の第2のサンプルホールド
装置にあっては、第2の差動回路がサンプルホールド装
置の出力を供する第1および第2の出力端子のほかに、
独立した出力を供する第3および第4の出力端子を含
み、その出力を第1および第2のスイッチ手段の基準電
圧印加端子に印加する。したがって、スイッチ手段でノ
イズが発生した場合でも、サンプルホールド装置の出力
に悪影響が及ぶことがない。
In addition, in the second sample and hold device of the present invention, in addition to the first and second output terminals to which the second differential circuit provides the output of the sample and hold device,
It includes third and fourth output terminals that provide independent outputs, the outputs being applied to the reference voltage application terminals of the first and second switch means. Therefore, even if noise occurs in the switch means, the output of the sample hold device is not adversely affected.

【0017】[0017]

【実施例】図1はこの発明の一実施例によるサンプルホ
ールド装置Aの電気回路図である。6は第2の差動回路
であり、その正入力端子は正側ダイオードブリッジ2の
出力端子22と接続され、負入力端子は負側ダイオード
ブリッジ3の出力端子32と接続されている。差動回路
6の正出力は、サンプルホールド装置Aの正出力端子1
2、および正側ダイオードブリッジ2の基準電圧印加端
子23と接続されており、差動回路6の負出力はサンプ
ルホールド装置Aの負出力端子12、および負側ダイオ
ードブリッジ3の基準電圧印加端子33と接続されてい
る。その他の構成は従来例と同様である。
1 is an electric circuit diagram of a sample hold device A according to an embodiment of the present invention. Reference numeral 6 denotes a second differential circuit, the positive input terminal of which is connected to the output terminal 22 of the positive diode bridge 2 and the negative input terminal of which is connected to the output terminal 32 of the negative diode bridge 3. The positive output of the differential circuit 6 is the positive output terminal 1 of the sample hold device A.
2 and the reference voltage application terminal 23 of the positive diode bridge 2, and the negative output of the differential circuit 6 is the negative output terminal 12 of the sample hold device A and the reference voltage application terminal 33 of the negative diode bridge 3. Connected with. Other configurations are similar to those of the conventional example.

【0018】次に、動作について説明する。図2はこの
サンプルホールド装置Aの動作を示すタイムチャートで
あり、図2(a)は差動回路1の正および負入力V1
2を示し、図2(b)は差動回路1の正および負出力
3 ,V4 を示し、図2(c)はクロック信号φS,φ
Hを示し、図2(d)はキャパシタ4,5の保持電位V
5 ,V6 を示し、図2(e)は差動回路2の正および負
出力V7 ,V8 を示している。従来例と同様、差動回路
1はその入力端子間の電位差に応じた電位差を持つ相補
信号を、その出力端子間の電位差として発生し、具体的
には式(1)および式(2)で入出力関係が与えられ
る。この差動回路1の正および負出力V3,V4 は、図
2(b)に示されるように同相出力電圧V01を中心に対
称に変化するような相補信号である。スイッチ回路であ
るダイオードブリッジ2,3の出力電位、すなわちキャ
パシタ4,5の一方電極の電位V5 ,V6 は、従来例同
様に、サンプル期間(φSが「H」レベル)では各々V
3 ,V4 に追随し、ホールド期間では一定値、すなわち
サンプル期間の最後の瞬間の電位を出力する。したがっ
て、図2(d)に示すように、V5 ,V6 も差動回路1
の同相出力電圧V01を中心に対称に変化するような相補
信号である。したがって、V5 のV01からの電位差をΔ
Vとすると、 V5 =V01+ΔV …(3) V6 =V01−ΔV …(4) となる。第2の差動回路6は差動回路1と同様その入力
端子間の電位差に応じた電位差を持つ相補信号を、その
出力端子間の電位差として発生する。すなわち、差動回
路6の正出力端子および負出力端子の電位を各々V7
8 とすると、その動作は、 V7 =V02+(A2 /2)(V5 −V6 ) …(5) V8 =V02−(A2 /2)(V5 −V6 ) …(6) と表現できる。ここでV02は差動回路6の同相出力電
圧、A2 は差動回路6の差動利得である。ここで差動回
路6の差動利得A2 が1であれば、式(3)〜(6)よ
り、 V7 =V02+ΔV …(7) V8 =V02−ΔV …(8) となる。さらに、差動回路6の同相出力電圧V02が差動
回路1の同相出力電圧V 01と等しい場合、 V7 =V01+ΔV …(9) V8 =V01−ΔV …(10) となる。式(3)および(4)と式(9)および(1
0)を比較すると、V5 とV7 、V6 とV8 は等しいこ
とがわかる。すなわち、差動回路6の差動利得A2が1
で、その同相出力電圧V02が差動回路1の同相出力電圧
01と等しい場合、差動回路6の正入力電圧V5 と正出
力電圧V7 、負入力電圧V6 と負出力電圧V 8 が等しく
なる。これは、従来のサンプルホールド装置Dにおいて
出力が負入力にフィードバックされた演算増幅器10
2,103を2個用いて実現しようとしていた機能を、
1個の差動増幅器6を用いてフィードバックなしに実現
していることにほかならない。
Next, the operation will be described. Figure 2 is this
A time chart showing the operation of the sample hold device A
Yes, FIG. 2A shows the positive and negative inputs V of the differential circuit 1.1
V22B shows the positive and negative outputs of the differential circuit 1.
V3, VFour2C shows clock signals φS and φ.
2H shows the holding potential V of the capacitors 4 and 5.
Five, V62E shows the positive and negative of the differential circuit 2.
Output V7, V8Is shown. Similar to the conventional example, differential circuit
1 is a complementary having a potential difference according to the potential difference between its input terminals
The signal is generated as a potential difference between its output terminals,
Input-output relations are given in equation (1) and equation (2)
It Positive and negative outputs V of this differential circuit 13, VFourIs a figure
In-phase output voltage V as shown in 2 (b)01Centered around
It is a complementary signal that changes its name. Switch circuit
Output potential of the diode bridges 2 and 3
The potential V of one electrode of the capacitors 4 and 5Five, V6Is the same as the conventional example
Similarly, during the sample period (φS is “H” level), V
3, VFourAnd a constant value during the hold period, that is,
The potential at the last moment of the sample period is output. According to
Then, as shown in FIG.Five, V6Also differential circuit 1
Common-mode output voltage V01Complementary that changes symmetrically around
It is a signal. Therefore, VFiveV01The potential difference from
Let V be VFive= V01+ ΔV (3) V6= V01−ΔV (4) The second differential circuit 6 has its input similar to the differential circuit 1.
A complementary signal with a potential difference according to the potential difference between the terminals
It occurs as a potential difference between the output terminals. That is, differential times
The potentials of the positive output terminal and the negative output terminal of the path 6 are respectively V7When
V8Then, the operation is V7= V02+ (A2/ 2) (VFive-V6)… (5) V8= V02-(A2/ 2) (VFive-V6)… (6) Where V02Is the in-phase output voltage of the differential circuit 6.
Pressure, A2Is the differential gain of the differential circuit 6. Differential times here
Differential gain A of path 62If is 1, then equations (3)-(6)
And V7= V02+ ΔV (7) V8= V02−ΔV (8) Further, the in-phase output voltage V of the differential circuit 602Is differential
In-phase output voltage V of circuit 1 01Is equal to V7= V01+ ΔV (9) V8= V01−ΔV (10) Expressions (3) and (4) and Expressions (9) and (1
Comparing 0), VFiveAnd V7, V6And V8Is equal
I understand. That is, the differential gain A of the differential circuit 62Is 1
And its in-phase output voltage V02Is the in-phase output voltage of the differential circuit 1
V01And the positive input voltage V of the differential circuit 6FiveAnd
Force voltage V7, Negative input voltage V6And negative output voltage V 8Are equal
Become. This is the case in the conventional sample and hold device D.
Operational amplifier 10 whose output is fed back to the negative input
The function that I was trying to realize using two 2,103
Realized without feedback using one differential amplifier 6
It is nothing but doing.

【0019】差動回路6の差動利得A2 を1にし、その
同相出力電圧V02を差動回路1の同相出力電圧V01と等
しくすることは容易に実現できる。たとえば、差動回路
6を図3に示すような構成にする。この回路は差動部と
2対のエミッタフォロアで構成される。差動部はNPN
トランジスタ601,602、エミッタ抵抗605,6
06、負荷抵抗607,608、電流源609,610
を含む。また、2対のエミッタフォロアは各々、NPN
トランジスタ603および電流源611と、NPNトラ
ンジスタ604および電流源612を含む。また、61
3および614は差動回路6の正および負入力端子、6
15および616は差動回路6の正および負出力端子、
630は電源電位VCCの電源端子である。
It is easy to realize that the differential gain A 2 of the differential circuit 6 is set to 1 and its in-phase output voltage V 02 is made equal to the in-phase output voltage V 01 of the differential circuit 1. For example, the differential circuit 6 is configured as shown in FIG. This circuit is composed of a differential section and two pairs of emitter followers. Differential part is NPN
Transistors 601, 602, emitter resistors 605, 6
06, load resistors 607 and 608, current sources 609 and 610
including. Two pairs of emitter followers are NPN
It includes a transistor 603 and a current source 611, and an NPN transistor 604 and a current source 612. Also, 61
3 and 614 are positive and negative input terminals of the differential circuit 6, and 6
15 and 616 are positive and negative output terminals of the differential circuit 6,
630 is a power supply terminal for the power supply potential V CC .

【0020】詳しく説明すると、トランジスタ601の
コレクタはノードFおよび負荷抵抗608を介して電源
端子630に接続されており、トランジスタ601のエ
ミッタはノードCおよび電流源609を介して接地さ
れ、トランジスタ601のベースは差動回路6の正入力
端子613に接続されている。トランジスタ602のコ
レクタはノードEおよび負荷抵抗607を介して電源端
子630に接続されており、トランジスタ602のエミ
ッタはノードDおよび電流源610を介して接地され、
トランジスタ602のベースは差動回路6の負入力端子
614に接続されている。また、ノードCとノードDは
抵抗605,606により接続されている。トランジス
タ603のコレクタは電源端子630に接続されてお
り、そのベースはノードEに接続され、エミッタは電流
源611を介して接地されるとともに、差動回路の6の
正出力端子615に接続されている。トランジスタ60
4のコレクタは電源端子630に接続されており、その
ベースはノードFに接続され、エミッタは電流源612
を介して接地されるとともに差動回路6の負出力端子6
16に接続されている。
More specifically, the collector of the transistor 601 is connected to the power supply terminal 630 via the node F and the load resistor 608, the emitter of the transistor 601 is grounded via the node C and the current source 609, and the transistor 601 is connected to the ground. The base is connected to the positive input terminal 613 of the differential circuit 6. The collector of the transistor 602 is connected to the power supply terminal 630 via the node E and the load resistor 607, the emitter of the transistor 602 is grounded via the node D and the current source 610,
The base of the transistor 602 is connected to the negative input terminal 614 of the differential circuit 6. Further, the node C and the node D are connected by resistors 605 and 606. The collector of the transistor 603 is connected to the power supply terminal 630, the base is connected to the node E, the emitter is grounded via the current source 611, and the positive output terminal 615 of the differential circuit 6 is connected. There is. Transistor 60
4 has its collector connected to the power supply terminal 630, its base connected to the node F, and its emitter connected to the current source 612.
The negative output terminal 6 of the differential circuit 6 while being grounded via
It is connected to 16.

【0021】正入力端子613の電位V5 と負入力端子
614の電位6 が等しいとき、回路の対称性から、ノー
ドCとノードDの電位は等しくなる。したがって、エミ
ッタ抵抗605,606には電流は流れない。したがっ
て、電流源609,610の電流値を等しくIEEとする
と、トランジスタ601,602のエミッタ電流は等し
くIEEとなる。これらのトランジスタの電流増幅率(ベ
ース電流に対するコレクタ電流の比)は通常十分大きい
ので、トランジスタ601,602のコレクタ電流はほ
ぼエミッタ電流、すなわちIEEとなる。したがって、負
荷抵抗607,608の抵抗値をRL とすると、ノード
E,Fの電位は、VCC−IEE・RL となる。さらに、ト
ランジスタ603,604のベースエミッタ間電圧、す
なわちエミッタフォロアの電圧シフト量をVEFとする
と、差動回路6の同相出力電圧V02は、 V02=VCC−IE ・RL −VEF …(11) となる。エミッタアフォロアの電圧シフト量VEFは現実
的な設計においては0.7V〜0.9V程度とあまり大
きな変化幅を持っていないが、VCCやIE とRLの積を
適当に設計することにより、V02を差動回路1の同相出
力電圧V01と一致させることができる。
When the potential V 5 of the positive input terminal 613 and the potential 6 of the negative input terminal 614 are equal, the potentials of the node C and the node D are equal due to the symmetry of the circuit. Therefore, no current flows through the emitter resistors 605 and 606. Therefore, if the current values of the current sources 609 and 610 are equal to I EE , the emitter currents of the transistors 601 and 602 are equal to I EE . The current amplification factor (ratio of the collector current to the base current) of these transistors is usually sufficiently large that the collector currents of the transistors 601 and 602 are almost the emitter current, that is, I EE . Therefore, assuming that the resistance values of the load resistors 607 and 608 are R L , the potentials of the nodes E and F are V CC −I EE · R L. Furthermore, the base-emitter voltage of the transistor 603 and 604, that is, a voltage shift of the emitter follower and V EF, the common mode output voltage V 02 of the differential circuit 6, V 02 = V CC -I E · R L -V EF ... (11) The voltage shift amount V EF of the emitter follower does not have a large variation range of about 0.7 V to 0.9 V in a practical design, but V CC or the product of I E and R L is designed appropriately. As a result, V 02 can be matched with the in-phase output voltage V 01 of the differential circuit 1.

【0022】以上のことは、差動回路1の回路形式を問
わず成立つが、特に差動回路1も差動回路6と同様の回
路形式とすると、同じ同相出力電圧が得やすい。たとえ
ば、差動回路1も図3に示されるような回路形式にす
る。また、等しい電源電圧VCCをこの2つの差動回路
1,6に与える。さらに、差動部の電流源の値と負荷抵
抗の値の積IE ・RL を同一にする。上記のように、エ
ミッタフォロアの電圧シフト量VEFは設計によらずあま
り変化しないので、VCCとIE ・RL を等しくするだけ
で、ほぼ等しい同相出力電圧が得られる。IE ・RL
等しくするには、差動回路1,6に等しい値の電流源と
負荷抵抗を用いればよい。
The above is established regardless of the circuit format of the differential circuit 1, but particularly when the differential circuit 1 has the same circuit format as the differential circuit 6, it is easy to obtain the same in-phase output voltage. For example, the differential circuit 1 also has a circuit format as shown in FIG. Further, the same power supply voltage V CC is applied to the two differential circuits 1 and 6. Further, the product I E · R L of the value of the current source and the value of the load resistance of the differential section is made the same. As described above, the voltage shift amount V EF of the emitter follower does not change much irrespective of the design, so that by making V CC and I E · R L equal, a substantially equal in-phase output voltage can be obtained. In order to equalize I E · R L , it suffices to use current sources and load resistors of the same value for the differential circuits 1 and 6.

【0023】また、差動回路1,6の電流源や抵抗を構
成する際に、等しい値の単位電流源や単位抵抗を並列接
続や直列接続しても実現できる。たとえば、図4に示す
ように差動回路6において1つの単位電流源で差動部の
電流源609,610を形成し、直流接続された2つの
単位抵抗で負荷抵抗607,608を形成する一方、差
動回路1においては並列接続された2つの単位電流源で
差動部の電流源を形成し、1つの単位抵抗で負荷抵抗を
形成するといった方法もある。逆に、図5に示すよう
に、差動回路6において並列接続された2つの単位電流
源で差動部の電流源609,610を形成し、1つの単
位抵抗で負荷抵抗607,608を形成する一方、差動
回路1においては1つの単位電流源で差動部の電流源を
形成し、直列接続された2つの単位抵抗で負荷抵抗を形
成してもよい。
Further, when configuring the current sources and resistors of the differential circuits 1 and 6, the unit current sources and unit resistors of the same value can be connected in parallel or in series. For example, as shown in FIG. 4, in the differential circuit 6, one unit current source forms the current sources 609 and 610 in the differential section, and two unit resistors connected in direct current form the load resistors 607 and 608. In the differential circuit 1, there is also a method in which two unit current sources connected in parallel form a current source of a differential section and one unit resistor forms a load resistance. On the contrary, as shown in FIG. 5, two unit current sources connected in parallel in the differential circuit 6 form the current sources 609 and 610 of the differential section, and one unit resistor forms the load resistors 607 and 608. On the other hand, in the differential circuit 1, one unit current source may form the current source of the differential section, and two unit resistors connected in series may form the load resistance.

【0024】このように、同一の回路形式において同一
値の素子や回路を使うと、差動回路1,6の同相出力電
圧は容易に等しくなる。等しい値の素子や等しい特性の
回路は、同一半導体基板上に同一工程で同じパターンを
用いて形成すれば容易に得られる。なお、上記のように
差動部の電流源の値と負荷抵抗の値の積を同一にするだ
けでなく、同相電圧にかかわるすべての素子、すなわち
図3に示した素子のうち抵抗605と606以外の素子
の特性を差動回路1,6で同一になるように形成した場
合、これらの2つの差動回路1,6の同相出力電圧は自
動的に完全に等しくなる。以上のように、容易に差動回
路1と6の同相出力電圧を等しくすることができる。
As described above, when the elements and circuits having the same value are used in the same circuit form, the in-phase output voltages of the differential circuits 1 and 6 easily become equal. Elements having the same value and circuits having the same characteristic can be easily obtained by forming the same pattern on the same semiconductor substrate in the same step. As described above, not only the product of the current source value and the load resistance value of the differential section is made the same, but all the elements related to the common mode voltage, that is, the resistors 605 and 606 of the elements shown in FIG. When the characteristics of the elements other than the above are formed so as to be the same in the differential circuits 1 and 6, the in-phase output voltages of these two differential circuits 1 and 6 automatically become completely equal. As described above, the in-phase output voltages of the differential circuits 1 and 6 can be easily equalized.

【0025】正入力端子613と負入力端子614の電
位に差が生じたとき、ノードCとノードDの電位は相異
なる。前に定義したように、正入力端子613および負
入力端子614の電位をV5 ,V6 とし、トランジスタ
601,602のベースエミッタ間電圧をVBE1 ,V
BE2 、ノードC,Dの電位をVC ,VD とすると、VC
=V5 −VBE1 、VD =V6 −VBE2 となるが、トラン
ジスタ601,602のエミッタ電流に極端な差が生じ
ない限り、VBE1 とVBE2 はほとんど等しくなる。した
がって、ノードCとノードDの電位差VC −VD は入力
電位差V5 −V6にほぼ等しい。したがって、ノードC
からDへ流れる電流ΔIEEは、抵抗605,606の抵
抗値をRE とすると、 ΔIEE=(V5 −V6 )/2RE …(12) となる。負荷抵抗608には電流源609の電流IEE
上記ΔIEEが加わって流れ、負荷抵抗607には電流源
610の電流IEEより上記ΔIEEが減算されて流れるか
ら、ノードEおよびFの電位VE およびVF は、 VE =VCC−(IEE−ΔIEE)RL …(13) VF =VCC−(IEE+ΔIEE)RL …(14) で与えられる。エミッタフォロアの電圧シフト量はトラ
ンジスタ603側もトランジスタ604側も等しいか
ら、結局この差動回路の出力電位差はVE −VF で与え
られる。したがって、差動利得A2 は、式(11)から
(13)より、 A2 =(VE −VF )/(V5 −V6 )=RL /RE …(15) となる。したがって、RL =RE となるように設定する
ことによって、容易に差動利得1の差動回路が得られ
る。
When a difference occurs in the potentials of the positive input terminal 613 and the negative input terminal 614, the potentials of the nodes C and D are different. As defined above, the potentials of the positive input terminal 613 and the negative input terminal 614 are V 5 and V 6, and the base-emitter voltages of the transistors 601 and 602 are V BE1 and V 6.
Let BE2 and the potentials of the nodes C and D be V C and V D , V C
= Becomes a V 5 -V BE1, V D = V 6 -V BE2, unless no extreme difference in the emitter currents of the transistors 601 and 602, V BE1 and V BE2 is almost equal. Therefore, the potential difference V C -V D between the node C and the node D is almost equal to the input potential difference V 5 -V 6 . Therefore, node C
The current ΔI EE flowing from D to D is ΔI EE = (V 5 −V 6 ) / 2R E (12), where R E is the resistance value of the resistors 605 and 606. The load resistor 608 flows with the current I EE of the current source 609 added with the above ΔI EE , and the load resistor 607 flows with the current I EE of the current source 610 subtracted by the above ΔI EE, and thus the potentials of the nodes E and F. V E and V F is, V E = V CC - given by (I EE + ΔI EE) R L ... (14) - (I EE -ΔI EE) R L ... (13) V F = V CC. Since the voltage shift amount of the emitter follower is equal on the transistor 603 side and the transistor 604 side, the output potential difference of this differential circuit is finally given by V E −V F. Therefore, the differential gain A 2 is given by the following equations (11) to (13): A 2 = (V E −V F ) / (V 5 −V 6 ) = R L / R E (15) Therefore, by setting such that R L = R E, easily differential circuit of the differential gain 1 is obtained.

【0026】なお、上記議論ではトランジスタ601,
602のベースエミッタ間電圧VBE 1 ,VBE2 を等しい
と近似したが、実際にはΔIEEでエミッタ電流が変調を
受けVBE1 とVBE2 はわずかに異なる。この影響を補正
し、正確に差動利得を1とする方法については、図6に
示すように、たとえばトランジスタ601,602と同
一特性を持つトランジスタ801,802をダイオード
接続して負荷抵抗607と電源端子630の間および負
荷抵抗608と電源端子630の間に挿入するといった
方法があり、したがって正確に差動利得を1とすること
も容易である。
In the above discussion, the transistor 601,
Although it has been approximated that the base-emitter voltages V BE 1 and V BE2 of 602 are equal, in reality, the emitter current is modulated by ΔI EE , and V BE1 and V BE2 are slightly different. As a method of correcting this effect and accurately setting the differential gain to 1, as shown in FIG. 6, for example, transistors 801 and 802 having the same characteristics as the transistors 601 and 602 are diode-connected to form a load resistor 607 and a power supply. There is a method of inserting between the terminals 630 and between the load resistor 608 and the power supply terminal 630, so that it is easy to set the differential gain to 1 accurately.

【0027】図7はこの発明の他の実施例によるサンプ
ルホールド装置Bの電気回路図である。以上の実施例で
は、サンプルホールド装置Aの正出力端子12と正側ダ
イオードブリッジ2の基準電圧印加端子23は共通に差
動回路6の正出力端子と、サンプルホールド装置Aの負
出力端子13と負側ダイオードブリッジ3の基準電圧印
加端子33は共通に差動回路6の負出力端子と結ばれて
いた。このような接続において、クロックで駆動されて
いるダイオードブリッジ2,3がクロックノイズを発生
した場合、サンプルホールド装置Aの出力が悪影響を受
けることがある。図7はそれを回避するための実施例で
ある。60は第2の差動回路であるが、第1の正出力端
子615および第1の負出力端子616以外にもう1対
の出力端子、すなわち第2の正出力端子617および第
2の負出力端子618を持っている。第2の正出力端子
617は正側ダイオードブリッジ2の基準電圧印加端子
23に、第2の負出力端子618は負側ダイオードブリ
ッジ3の基準電圧印加端子33に接続されている。ま
た、第1の正出力端子615はサンプルホールド装置B
の正出力端子12に、第1の負出力端子616はサンプ
ルホールド装置Bの正出力端子13に接続されている。
FIG. 7 is an electric circuit diagram of a sample and hold device B according to another embodiment of the present invention. In the above embodiment, the positive output terminal 12 of the sample hold device A and the reference voltage application terminal 23 of the positive diode bridge 2 are commonly used as the positive output terminal of the differential circuit 6 and the negative output terminal 13 of the sample hold device A. The reference voltage application terminal 33 of the negative diode bridge 3 was commonly connected to the negative output terminal of the differential circuit 6. In such a connection, when the diode bridges 2 and 3 driven by the clock generate clock noise, the output of the sample hold device A may be adversely affected. FIG. 7 shows an embodiment for avoiding this. Reference numeral 60 denotes a second differential circuit, which has a pair of output terminals other than the first positive output terminal 615 and the first negative output terminal 616, that is, the second positive output terminal 617 and the second negative output. It has a terminal 618. The second positive output terminal 617 is connected to the reference voltage application terminal 23 of the positive diode bridge 2, and the second negative output terminal 618 is connected to the reference voltage application terminal 33 of the negative diode bridge 3. The first positive output terminal 615 is connected to the sample hold device B.
To the positive output terminal 12 of the sample-hold device B, and the first negative output terminal 616 is connected to the positive output terminal 13 of the sample-hold device B.

【0028】第1の正出力端子615と第2の正出力端
子617は等しい電圧を発生し、第1の負出力端子61
6と第2の負出力端子618は等しい電圧を発生する。
したがって、動作は上記第1の実施例と同様であるが、
サンプルホールド装置Bの正出力端子12と正側ダイオ
ードブリッジ2の基準電圧印加端子23、およびサンプ
ルホールド装置Bの負出力端子13と負側ダイオードブ
リッジ3の基準電圧印加端子33は各々分離している。
したがって、このような接続においては、クロックで駆
動されているダイオードブリッジ2,3がクロックノイ
ズを発生した場合でも、サンプルホールド装置Bの出力
が悪影響を受けることがない。
The first positive output terminal 615 and the second positive output terminal 617 generate the same voltage, and the first negative output terminal 61.
6 and the second negative output terminal 618 generate equal voltages.
Therefore, the operation is similar to that of the first embodiment,
The positive output terminal 12 of the sample hold device B and the reference voltage application terminal 23 of the positive diode bridge 2 are separated from each other, and the negative output terminal 13 of the sample hold device B and the reference voltage application terminal 33 of the negative diode bridge 3 are separated from each other. .
Therefore, in such a connection, even if the diode bridges 2 and 3 driven by the clock generate clock noise, the output of the sample hold device B is not adversely affected.

【0029】上記のような差動回路60は容易に実現で
きる。図8がその構成例である。この構成は、図3に示
された差動回路6のノードEにNPNトランジスタ61
9および電流源621からなるエミッタフォロアを、ノ
ードFにNPNトランジスタ620および電流源622
からなるエミッタフォロアを付加したものである。すな
わち、トランジスタ619のベースをノードEに接続
し、コレクタを電源端子630に接続し、エミッタを電
流源621を介して接地するとともに第2の正出力端子
617に接続している。また、トランジスタ20のベー
スをノードFに接続し、コレクタを電源端子630に接
続し、エミッタを電流源622を介して接地するととも
に第2の負出力端子618に接続している。ここで、上
記エミッタフォロアの入出力特性を、トランジスタ60
3、電流源611やトランジスタ604、電流源612
からなるエミッタフォロアの入出力特性と等しくすれ
ば、第1の正出力端子615と第2の正出力端子617
は等しい電圧を発生し、第1の負出力端子616と第2
の負出力端子618は等しい電圧を発生する。
The differential circuit 60 as described above can be easily realized. FIG. 8 shows an example of the configuration. In this configuration, the NPN transistor 61 is connected to the node E of the differential circuit 6 shown in FIG.
9 and an emitter follower composed of a current source 621 are connected to a node F by an NPN transistor 620 and a current source 622.
Is an emitter follower. That is, the base of the transistor 619 is connected to the node E, the collector is connected to the power supply terminal 630, the emitter is grounded through the current source 621, and the second positive output terminal 617 is connected. The base of the transistor 20 is connected to the node F, the collector is connected to the power supply terminal 630, the emitter is grounded through the current source 622, and the second negative output terminal 618 is connected. Here, the input / output characteristics of the emitter follower are described as follows.
3, current source 611, transistor 604, current source 612
If the input / output characteristics of the emitter follower are made equal, the first positive output terminal 615 and the second positive output terminal 617 are formed.
Generate equal voltages, the first negative output terminal 616 and the second negative output terminal 616
The negative output terminals 618 of the two generate the same voltage.

【0030】また、図1ないし図6で示した実施例と同
様、差動回路1も差動回路60と同様の回路形成とする
と、同じ同相出力電圧が得やすい。また、図9に示すよ
うに、差動回路60の電流源609,610を1つの単
位電流源で形成し、負荷抵抗607,608を2つの単
位抵抗で形成する一方、差動回路1の電流源を2つの単
位電流源で形成し、負荷抵抗を1つの単位抵抗で形成し
てもよい。また、図10に示すように、差動回路60の
電流源609,610を2つの単位電流源で形成し、負
荷抵抗607,608を1つの単位抵抗で形成する一
方、差動回路1の電流源を1つの単位電流源で形成し、
負荷抵抗を2つの単位抵抗で形成してもよい。また、図
11に示すように、トランジスタ601,602のベー
スエミッタ間電圧VBE1 ,BBE2 の差を補正して差動利
得を正確に1にするため、ダイオード接続したトランジ
スタ801,802を電源端子630と負荷抵抗60
7,608の間に接続してもよい。
If the differential circuit 1 is formed in the same circuit as the differential circuit 60 as in the embodiment shown in FIGS. 1 to 6, the same in-phase output voltage can be easily obtained. In addition, as shown in FIG. 9, the current sources 609 and 610 of the differential circuit 60 are formed by one unit current source, and the load resistors 607 and 608 are formed by two unit resistors, while the current of the differential circuit 1 is changed. The source may be formed by two unit current sources and the load resistance may be formed by one unit resistance. Further, as shown in FIG. 10, the current sources 609 and 610 of the differential circuit 60 are formed of two unit current sources, and the load resistors 607 and 608 are formed of one unit resistor, while the current of the differential circuit 1 is formed. Forming the source with one unit current source,
The load resistor may be formed by two unit resistors. Further, as shown in FIG. 11, in order to correct the difference between the base-emitter voltages V BE1 and B BE2 of the transistors 601 and 602 so that the differential gain becomes exactly 1, the diode-connected transistors 801 and 802 are connected to the power supply terminals. 630 and load resistance 60
It may be connected between 7,608.

【0031】図12はこの発明のさらに他の実施例によ
るサンプルホールド装置Cの電気回路図である。以上の
実施例では、第2の差動回路6,60の正および負入力
端子は各々正側および負側のダイオードブリッジ2,3
の出力と直接接続されていたが、正側および負側のダイ
オードブリッジ2,3の出力電位差が差動回路6,60
の正および負入力端子に伝達されればよく、たとえば図
12に示した構成でもよい。図12において7はバッフ
ァ回路であり、入力端子701と703の電位差と等し
い電位差が出力端子702と704の電位差として出力
される。このバッファ回路7は図13のような構成をし
ている。入力端子701と出力端子702の間では、N
PNトランジスタ711および電流源713で構成され
るエミッタフォロアに、NPNトランジスタ712およ
びPチャネルMOSトランジスタ714,715が付加
されている。詳しく説明すると、トランジスタ711の
ベースは入力端子701に接続されており、そのエミッ
タは出力端子702に接続されるとともに電流源713
を介して接地され、そのコレクタはトランジスタ712
のエミッタに接続されている。トランジスタ712のコ
レクタは電源端子630に接続され、そのベースはトラ
ンジスタ714のドレインおよびゲートに接続されてい
る。トランジスタ714,715のゲートは互いに接続
されており、これらのソースは電源端子630に接続さ
れている。また、トランジスタ715のドレインは入力
端子701に接続されている。また、入力端子703と
出力端子704の間では、NPNトランジスタ721お
よび電流源723で構成されるエミッタフォロアに、N
PNトランジスタ722およびPチャネルMOSトラン
ジスタ714,715が付加されており、これらは上記
入力端子701と出力端子702の間と同様に接続され
ている。
FIG. 12 is an electric circuit diagram of a sample hold device C according to still another embodiment of the present invention. In the above embodiment, the positive and negative input terminals of the second differential circuits 6 and 60 are the diode bridges 2 and 3 on the positive side and the negative side, respectively.
, But the output potential difference between the diode bridges 2 and 3 on the positive side and the negative side is different from that of the differential circuit 6, 60.
It suffices to be transmitted to the positive and negative input terminals of, and the configuration shown in FIG. In FIG. 12, 7 is a buffer circuit, and a potential difference equal to the potential difference between the input terminals 701 and 703 is output as the potential difference between the output terminals 702 and 704. The buffer circuit 7 has a structure as shown in FIG. Between the input terminal 701 and the output terminal 702, N
An NPN transistor 712 and P-channel MOS transistors 714 and 715 are added to an emitter follower composed of a PN transistor 711 and a current source 713. More specifically, the base of the transistor 711 is connected to the input terminal 701, the emitter is connected to the output terminal 702, and the current source 713 is connected.
Is grounded through and its collector is a transistor 712.
Connected to the emitter. The collector of the transistor 712 is connected to the power supply terminal 630, and its base is connected to the drain and gate of the transistor 714. The gates of the transistors 714 and 715 are connected to each other, and the sources thereof are connected to the power supply terminal 630. The drain of the transistor 715 is connected to the input terminal 701. Further, between the input terminal 703 and the output terminal 704, an N-type transistor 721 and a current source 723 form an emitter follower,
A PN transistor 722 and P-channel MOS transistors 714 and 715 are added, and these are connected in the same manner as between the input terminal 701 and the output terminal 702.

【0032】トランジスタ711と712はエミッタ電
流が共通に等しく流れていることから、そのベース電流
が等しくなる。トランジスタ714と715はカレント
ミラーを形成しており、トランジスタ15のドレイン電
流はトランジスタ714のドレイン電流と等しくなる。
したがって、トランジスタ711に必要なベース電流
は、トランジスタ715のドレインから供給され、入力
端子701から電流を供給する必要がない。トランジス
タ721,722,724,725、電流源723から
なる回路も同様である。したがって、このバッファ回路
7は入力電流が0である。ホールド期間においては、キ
ャパシタ4,5はダイオードブリッジ2,3から電気的
に切離されるが、同時に、このバッファ回路7の入力電
流は常に0であるから、キャパシタ4,5に蓄えられた
保持電荷はリークすることがなく、したがってホールド
期間にサンプルホールド装置Cの出力がドリフトするこ
ともない。
Since the emitter currents of the transistors 711 and 712 are the same, the base currents of the transistors 711 and 712 are the same. The transistors 714 and 715 form a current mirror, and the drain current of the transistor 15 becomes equal to the drain current of the transistor 714.
Therefore, the base current required for the transistor 711 is supplied from the drain of the transistor 715, and it is not necessary to supply the current from the input terminal 701. The same applies to the circuit including the transistors 721, 722, 724, 725 and the current source 723. Therefore, the input current of this buffer circuit 7 is zero. During the hold period, the capacitors 4 and 5 are electrically disconnected from the diode bridges 2 and 3. At the same time, however, the input current of the buffer circuit 7 is always 0, so the holding charge stored in the capacitors 4 and 5 is kept. Does not leak, and therefore the output of the sample hold device C does not drift during the hold period.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上のように、この発明の第1のサンプ
ルホールド装置にあっては、正側および負側キャパシタ
に保持された電位と等しい電位を出力する手段として、
フィードバックが不要な差動回路を1つだけ使用してい
るので、上記手段として出力を入力にフィードバックさ
れた演算増幅器を2つ用いていた従来例に比べ、動作が
安定しており、占有面積が小さい。
As described above, in the first sample and hold device of the present invention, as means for outputting the potential equal to the potential held in the positive and negative capacitors,
Since only one differential circuit that does not require feedback is used, the operation is more stable and the occupied area is smaller than the conventional example in which two operational amplifiers whose outputs are fed back to the input are used as the means. small.

【0034】また、正側および負側キャパシタと差動回
路の間に入力電流が0で入力電圧に等しい電圧を出力す
るバッファ回路を接続すれば、ホールド期間においてキ
ャパシタに蓄えられた保持電荷がリークすることがな
く、サンプルホールド装置の出力がドリフトすることも
ない。
If a buffer circuit that outputs a voltage equal to the input voltage with an input current of 0 is connected between the positive and negative capacitors and the differential circuit, the retained charge stored in the capacitor leaks during the hold period. And the output of the sample and hold device does not drift.

【0035】また、この発明の第2のサンプルホールド
装置にあっては、サンプルホールド装置の出力を供する
第1および第2の出力端子のほかに、独立した出力を供
する第3および第4の出力端子を含み、その出力を第1
および第2のスイッチ手段の基準電圧印加端子に印加す
るので、スイッチ手段でノイズが発生した場合でも、サ
ンプルホールド装置の出力に悪影響が及ぶことがない。
Further, in the second sample and hold device of the present invention, in addition to the first and second output terminals which provide the output of the sample and hold device, the third and fourth outputs which provide independent outputs. Including a terminal and its output is the first
Since the voltage is applied to the reference voltage application terminal of the second switch means, the output of the sample hold device is not adversely affected even when noise occurs in the switch means.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例によるサンプルホールド装
置の電気回路図である。
FIG. 1 is an electric circuit diagram of a sample and hold device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示したサンプルホールド装置の動作を示
すタイムチャートである。
FIG. 2 is a time chart showing the operation of the sample hold device shown in FIG.

【図3】図1に示したサンプルホールド装置の第2の差
動回路を示す電気回路図である。
FIG. 3 is an electric circuit diagram showing a second differential circuit of the sample hold device shown in FIG.

【図4】図3に示した第2の差動回路の他の構成を示す
電気回路図である。
FIG. 4 is an electric circuit diagram showing another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図5】図3に示した第2の差動回路のさらに他の構成
を示す電気回路図である。
5 is an electric circuit diagram showing still another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図6】図3に示した第2の差動回路のさらに他の構成
を示す電気回路図である。
FIG. 6 is an electric circuit diagram showing still another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図7】この発明の他の実施例によるサンプルホールド
装置の電気回路図である。
FIG. 7 is an electric circuit diagram of a sample and hold device according to another embodiment of the present invention.

【図8】図7に示したサンプルホールド装置の第2の差
動回路を示す電気回路図である。
8 is an electric circuit diagram showing a second differential circuit of the sample hold device shown in FIG. 7. FIG.

【図9】図8に示した第2の差動回路の他の構成を示す
電気回路図である。
9 is an electric circuit diagram showing another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図10】図8に示した第2の差動回路のさらに他の構
成を示す電気回路図である。
10 is an electric circuit diagram showing still another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図11】図8に示した第2の差動回路のさらに他の構
成を示す電気回路図である。
11 is an electric circuit diagram showing still another configuration of the second differential circuit shown in FIG.

【図12】この発明のさらに他の実施例によるサンプル
ホールド装置の電気回路図である。
FIG. 12 is an electric circuit diagram of a sample and hold device according to still another embodiment of the present invention.

【図13】図12に示したサンプルホールド装置のバッ
ファ回路を示す電気回路図である。
FIG. 13 is an electric circuit diagram showing a buffer circuit of the sample hold device shown in FIG.

【図14】従来のサンプルホールド装置の電気回路図で
ある。
FIG. 14 is an electric circuit diagram of a conventional sample hold device.

【図15】図14に示したサンプルホールド装置のダイ
オードブリッジ回路を示す電気回路図である。
FIG. 15 is an electric circuit diagram showing a diode bridge circuit of the sample hold device shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1の差動回路 2 正側ダイオードブリッジ回路(第1のスイッチ手
段) 3 負側ダイオードブリッジ回路(第2のスイッチ手
段) 4 第1のキャパシタ 5 第2のキャパシタ 6,60 第2の差動回路 7 バッファ回路 A,B,C サンプルホールド装置
1 1st differential circuit 2 Positive side diode bridge circuit (1st switch means) 3 Negative side diode bridge circuit (2nd switch means) 4 1st capacitor 5 2nd capacitor 6,60 2nd difference Moving circuit 7 Buffer circuit A, B, C Sample and hold device

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力された2つのアナログ信号の電圧差
をサンプルホールドするための差動型のサンプルホール
ド装置であって、 第1および第2の入力端子と、第1および第2の出力端
子とを有し、前記第1および第2の入力端子間の入力電
圧差に応じて、前記第1および第2の出力端子間の出力
電圧差が変化する第1の差動回路と、 前記第1の差動回路の第1の出力端子に接続された入力
端子、およびサンプル期間においては前記入力端子と電
気的に接続され、ホールド期間においては前記入力端子
と電気的に遮断される出力端子を有する第1のスイッチ
手段と、 前記第1の差動回路の第2の出力端子に接続された入力
端子、およびサンプル期間においては前記入力端子と電
気的に接続され、ホールド期間においては前記入力端子
と電気的に遮断される出力端子を有する第2のスイッチ
手段と、 その一方電極が前記第1のスイッチ手段の出力端子に接
続され、その他方電極が定電位ノードに接続されている
第1のキャパシタと、 その一方電極が前記第2のスイッチ手段の出力端子に接
続され、その他方電極が定電位ノードに接続されている
第2のキャパシタと、 前記第1のキャパシタの一方電極に接続された第1の入
力端子、前記第2のキャパシタの一方電極に接続された
第2の入力端子、第1の出力端子および第2の出力端子
を有し、前記第1の入力端子の電位とほぼ等しい電位を
前記第1の出力端子から発生し、前記第2の入力端子の
電位とほぼ等しい電位を前記第2の出力端子から発生す
る第2の差動回路とを含む、サンプルホールド装置。
1. A differential sample and hold device for sampling and holding a voltage difference between two inputted analog signals, which comprises first and second input terminals and first and second output terminals. A first differential circuit having an output voltage difference between the first and second output terminals that changes in accordance with an input voltage difference between the first and second input terminals, An input terminal connected to the first output terminal of the first differential circuit; and an output terminal electrically connected to the input terminal in the sampling period and electrically cut off from the input terminal in the hold period. A first switch means having the input terminal, an input terminal connected to a second output terminal of the first differential circuit, and an input terminal electrically connected to the input terminal during a sampling period and the input terminal during a hold period. And electrical A second switch means having an output terminal that is cut off by a first capacitor, and a first capacitor whose one electrode is connected to the output terminal of the first switch means and whose other electrode is connected to a constant potential node, A second capacitor whose one electrode is connected to the output terminal of the second switch means and whose other electrode is connected to a constant potential node, and a first capacitor which is connected to one electrode of the first capacitor An input terminal, a second input terminal connected to one electrode of the second capacitor, a first output terminal and a second output terminal, and a potential substantially equal to the potential of the first input terminal is provided. And a second differential circuit that generates a potential from the second output terminal that is generated from the first output terminal and is approximately equal to the potential of the second input terminal.
【請求項2】 前記第1のキャパシタの一方電極と前記
第2の差動回路の第1の入力端子の間、および前記第2
のキャパシタの一方電極と前記第2の差動回路の第2の
入力端子の間に入力電流が0で入力電圧と同じ電圧を出
力するバッファ回路を接続したことを特徴とする請求項
1に記載のサンプルホールド装置。
2. Between one electrode of the first capacitor and a first input terminal of the second differential circuit, and the second input terminal of the second differential circuit.
2. A buffer circuit, which has an input current of 0 and outputs the same voltage as the input voltage, is connected between one electrode of the capacitor and the second input terminal of the second differential circuit. Sample hold device.
【請求項3】 入力された2つのアナログ信号間の電圧
差をサンプルホールドするための差動型のサンプルホー
ルド装置であって、 第1および第2の入力端子と、第1および第2の出力端
子とを有し、前記第1および第2の入力端子間の出力電
圧差に応じて、前記第1および第2の出力端子間の出力
電圧差が変化する第1の差動回路と、 前記第1の差動回路の第1の出力端子に接続された入力
端子、サンプル期間においては前記入力端子と電気的に
接続され、ホールド期間においては前記入力端子と電気
的に遮断される出力端子、およびホールド期間において
内部ノードの電圧を制限するための基準となる電圧が印
加される基準電圧印加端子を有する第1のスイッチ手段
と、 前記第1の差動回路の第2の出力端子に接続された入力
端子、サンプル期間においては前記入力端子と電気的に
接続され、ホールド期間においては前記入力端子と電気
的に遮断される出力端子、およびホールド期間において
内部ノードの電圧を制限するための基準となる電圧を印
加するための基準電圧印加端子を有する第2のスイッチ
手段と、 その一方電極が前記第1のスイッチ手段の出力端子に接
続され、その他方電極が定電位ノードに接続されている
第1のキャパシタと、 その一方電極が前記第2のスイッチ手段の出力端子に接
続され、その他方電極が定電位ノードに接続されている
第2のキャパシタと、 前記第1のキャパシタの一方電極に接続された第1の入
力端子、前記第2のキャパシタの一方電極に接続された
第2の入力端子、第1の出力端子、第2の出力端子、第
3の出力端子および第4の出力端子を有し、前記第1の
入力端子の電位とほぼ等しい電位を前記第1および第3
の出力端子から発生し、前記第2の入力端子の電位とほ
ぼ等しい電位を前記第2および第4の出力端子から発生
し、第3の出力端子から発生した電位を前記第1のスイ
ッチ手段の基準電圧印加端子に印加し、第4の出力端子
から発生した電位を前記第2のスイッチ手段の基準電圧
印加端子に印加する第2の差動回路とを含む、サンプル
ホールド装置。
3. A differential sample and hold device for sampling and holding a voltage difference between two inputted analog signals, which comprises first and second input terminals and first and second outputs. A first differential circuit having a terminal and the output voltage difference between the first and second output terminals changes according to the output voltage difference between the first and second input terminals; An input terminal connected to the first output terminal of the first differential circuit, an output terminal electrically connected to the input terminal during the sample period and electrically disconnected from the input terminal during the hold period, And a first switch means having a reference voltage application terminal to which a reference voltage for limiting the voltage of the internal node is applied during the hold period; and a second output terminal of the first differential circuit. Input terminal, Sun An output terminal that is electrically connected to the input terminal during the pull period and electrically cut off from the input terminal during the hold period, and a reference voltage for limiting the voltage of the internal node during the hold period is applied. Second switch means having a reference voltage application terminal for operating the first switch means, and a first capacitor having one electrode connected to the output terminal of the first switch means and the other electrode connected to a constant potential node. A second capacitor whose one electrode is connected to the output terminal of the second switch means and whose other electrode is connected to a constant potential node; and a first capacitor connected to one electrode of the first capacitor. Input terminal, a second input terminal connected to one electrode of the second capacitor, a first output terminal, a second output terminal, a third output terminal and a fourth output terminal. Has a terminal, wherein the potential substantially equal to the potential of the first input terminal the first and third
Generated from the output terminal of the first switch means, a potential substantially equal to the potential of the second input terminal is generated from the second and fourth output terminals, and a potential generated from the third output terminal is generated from the first switch means. A second differential circuit for applying the reference voltage application terminal to the reference voltage application terminal of the second switch means and applying the potential generated from the fourth output terminal to the reference voltage application terminal.
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