JPH06263554A - Jointed substrate of ceramics-metal - Google Patents
Jointed substrate of ceramics-metalInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、セラミックス基板と金
属板との接合基板に係り、特に耐熱サイクル特性に優れ
たセラミックス−金属接合基板に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonded substrate of a ceramic substrate and a metal plate, and more particularly to a ceramic-metal bonded substrate having excellent heat resistance cycle characteristics.
【0002】[0002]
【従来の技術】セラミックス材料は、一般に、軽量でか
つ高硬度を有する、電気絶縁性に優れる、耐熱性や耐食
性に優れる等という特徴を有しており、これらの特徴を
生かして電子部品用絶縁材料等として利用されている。
特に、窒化アルミニウム系セラミックス材料は、高熱伝
導率を有すること等から、放熱量の大きい半導体素子の
搭載用基板等として注目されており、実用化が進められ
ている。2. Description of the Related Art Generally, ceramic materials are characterized by being lightweight and having high hardness, excellent electrical insulation properties, and excellent heat resistance and corrosion resistance. It is used as a material.
In particular, aluminum nitride-based ceramic materials have been attracting attention as substrates for mounting semiconductor elements that emit a large amount of heat because of their high thermal conductivity, and their practical use is being promoted.
【0003】ところで、セラミックス部材を電子部品の
搭載基板等として使用する場合、回路や部品搭載部を形
成するために、金属部材を接合することが不可欠とな
る。セラミックス基板と金属板との接合方法としては、
従来から、MoやW 等の高融点金属を用いる方法、 Cu-Cu
2 O の共晶を利用して銅板を直接接合する方法(DBC
法)、4A族元素や5A族元素のような活性金属を用いる方
法等が知られており、これらの中でも、高強度、高封着
性等が得られることから、活性金属法が多用されつつあ
る。By the way, when a ceramic member is used as a mounting board for electronic parts, it is indispensable to join a metal member in order to form a circuit and a part mounting portion. As a method of joining the ceramics substrate and the metal plate,
Conventionally, the method of using refractory metals such as Mo and W, Cu-Cu
A method of directly joining copper plates using a eutectic of 2 O (DBC
Method), a method using an active metal such as a 4A group element or a 5A group element is known, and among them, the active metal method is widely used because high strength and high sealing property can be obtained. is there.
【0004】上記活性金属法は、Ti、Zr、Hf、Nb等の金
属元素がセラミックス部材、特に窒化アルミニウム等の
窒化物系セラミックス部材に対して濡れやすく、かつ反
応しやすいことを利用した接合法であり、一般的には活
性金属を添加したろう材を用いたろう付け法として使用
されている。具体的には、CuとAgとの共晶ろう材にTi等
の活性金属を添加し、これをセラミックス基板と金属板
との間に介在させ、適当な温度で熱処理して接合する方
法である。The above-mentioned active metal method is a bonding method utilizing the fact that metal elements such as Ti, Zr, Hf and Nb easily wet and react with ceramic members, particularly nitride ceramic members such as aluminum nitride. , And is generally used as a brazing method using a brazing material to which an active metal is added. Specifically, it is a method of adding an active metal such as Ti to a eutectic brazing material of Cu and Ag, interposing this between a ceramic substrate and a metal plate, and performing heat treatment at an appropriate temperature to bond them. .
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、セラミック
ス基板と金属板との接合基板には、高接合強度が求めら
れる一方、セラミックス材料の熱膨張率は金属材料のそ
れに比べて小さいため、この熱膨張差に起因する欠点の
発生を抑制することが強く求められている。すなわち、
熱膨張率が大きく異なるセラミックス基板と金属板とを
接合すると、接合後の冷却過程で熱膨張差に起因する残
留応力が生じ、外部応力との相乗によって接合強度が大
幅に低下したり、また接合後の冷却過程や熱サイクルの
付加によって応力の最大点からクラックが発生したり、
さらにはセラミックス基板が破壊される等の問題を招い
てしまう。By the way, while a high bonding strength is required for the bonded substrate of the ceramic substrate and the metal plate, the coefficient of thermal expansion of the ceramic material is smaller than that of the metal material. There is a strong demand for suppressing the occurrence of defects caused by the difference. That is,
When a ceramic substrate and a metal plate, which differ greatly in thermal expansion coefficient, are joined, residual stress caused by the difference in thermal expansion occurs during the cooling process after joining, and the joint strength is greatly reduced due to the synergistic effect with external stress. Cracks may occur from the maximum stress point due to the subsequent cooling process or the addition of thermal cycles,
Further, it causes problems such as destruction of the ceramic substrate.
【0006】このような点に対して、上述した活性金属
法を適用した接合基板は、接合強度が高く、かつDBC
法等と比較すると、ろう材層が応力緩和層として働くこ
とから、比較的耐熱サイクル特性がよいものの、放熱量
が年々増加している半導体素子の搭載基板等として用い
ることを考慮すると十分とはいえず、耐熱サイクル特性
の向上が強く望まれていた。また、従来の接合基板にお
いては、形状的に金属板の縁部(接合端角部等)に応力
集中を生じやすく、このような部分からクラックが発生
しやすいことから、形状的な応力集中を緩和して、より
一層耐熱サイクル特性を向上させることが求められてい
た。On the other hand, the bonding substrate to which the above-mentioned active metal method is applied has high bonding strength and DBC.
Compared with other methods, since the brazing filler metal layer acts as a stress relaxation layer, it has relatively good heat resistance cycle characteristics, but it is not sufficient considering that it is used as a mounting board for semiconductor elements whose heat dissipation increases year by year. Notably, there has been a strong demand for improvement in heat-resistant cycle characteristics. In addition, in the conventional bonded substrate, stress concentration is likely to occur at the edge portion (bonding edge corner portion) of the metal plate in terms of shape, and cracks are likely to occur from such a portion, so that the stress concentration due to shape is reduced. There has been a demand for alleviation to further improve the heat resistance cycle characteristics.
【0007】本発明は、このような課題を対処するため
になされたもので、高接合強度を満足すると共に、優れ
た耐熱サイクル特性を示す、信頼性が高いセラミックス
−金属接合基板を提供することを目的としている。The present invention has been made in order to solve such a problem, and provides a highly reliable ceramic-metal bonded substrate which satisfies high bonding strength and shows excellent heat cycle characteristics. It is an object.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段と作用】本発明者は、上記
目的を達成するために、従来のセラミックス−金属接合
基板について種々の観点から検討を行った結果、まず窒
化アルミニウム系基板を用いる場合には、その表面に存
在するAl5 Y 3 O 12(YAG) やAlYO3 (YAL) 等の脆弱な液
相成分が信頼性の低下要因となることを見出した。すな
わち、脆弱な液相成分が比較的多量に存在する窒化アル
ミニウム表面に、活性金属を含むろう材により金属板を
接合した場合、高接合強度が得られたとしても、熱サイ
クルの付加により脆弱な液相成分が存在する部分からク
ラックが発生し、それに伴って接合強度等も低下してし
まう。In order to achieve the above-mentioned object, the present inventor has conducted various studies on conventional ceramics-metal bonded substrates. As a result, when an aluminum nitride-based substrate is used, Found that fragile liquid-phase components such as Al 5 Y 3 O 12 (YAG) and AlYO 3 (YAL) present on the surface of the steel are factors that reduce reliability. That is, when a metal plate is joined to a surface of aluminum nitride having a relatively large amount of fragile liquid phase component by a brazing material containing an active metal, even if high joining strength is obtained, it becomes fragile due to the addition of heat cycle. A crack is generated from the portion where the liquid phase component is present, and the joint strength and the like are reduced accordingly.
【0009】本発明に関するセラミックス−金属接合基
板の第1の発明は、上述した知見に基いて成されたもの
であり、窒化アルミニウム系セラミック基板と、Ti、Z
r、HfおよびNbから選ばれた少なくとも 1種の活性金属
を含むろう材層を介して、前記窒化アルミニウム系セラ
ミックス基板の少なくとも一方の主面に接合された金属
板とを具備するセラミックス−金属接合基板において、
前記窒化アルミニウム系セラミック基板は、前記金属板
との接合表面近傍部における液相成分量が 1重量% 以下
であることを特徴としている。The first invention of the ceramic-metal bonded substrate relating to the present invention was made on the basis of the above-mentioned findings, and comprises an aluminum nitride ceramic substrate, Ti, and Z.
Ceramic-metal bonding comprising a metal plate bonded to at least one main surface of the aluminum nitride ceramic substrate through a brazing material layer containing at least one active metal selected from r, Hf and Nb On the board,
The aluminum nitride ceramic substrate is characterized in that the amount of liquid phase component in the vicinity of the bonding surface with the metal plate is 1% by weight or less.
【0010】また、本発明に関するセラミックス−金属
接合基板の第2の発明は、金属板側の形状に着目し、加
熱接合後の金属板側の界面近傍の形状を改良することに
よって、接合端での応力集中を緩和できることを見出し
たことにより成されたものであり、セラミック基板と、
Ti、Zr、HfおよびNbから選ばれた少なくとも 1種の活性
金属を含むろう材層を介して、前記セラミックス基板の
少なくとも一方の主面に接合された金属板とを具備する
セラミックス−金属接合基板において、前記金属板は、
前記セラミックス基板との接合面の面積が表面側の面積
より小さく、かつ前記活性金属を含むろう材層の面積
は、前記金属板の接合面の面積より大きいことを特徴と
している。The second invention of the ceramic-metal bonded substrate according to the present invention focuses on the shape on the metal plate side, and improves the shape near the interface on the metal plate side after heat bonding so that the bonding end is improved. It was made by finding that the stress concentration of
A ceramic-metal bonded substrate comprising a metal plate bonded to at least one main surface of the ceramic substrate via a brazing material layer containing at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf and Nb In, the metal plate is
The area of the joint surface with the ceramic substrate is smaller than the area on the front surface side, and the area of the brazing material layer containing the active metal is larger than the area of the joint surface of the metal plate.
【0011】本発明のセラミックス−金属接合基板は、
Ti、Zr、HfおよびNbから選ばれた少なくとも 1種の活性
金属を含むろう材(以下、活性金属ろう材と称する)を
用いて、セラミックス基板と金属板とを接合したもので
ある。ここで用いるろう材としては、例えば Ag-Cuの共
晶組成(72wt%Ag-28wt%Cu)もしくはその近傍組成のAg-C
u 系ろう材や、Cu系ろう材等が例示される。そして、こ
れらろう材に上記活性金属を、ろう材の全量に対して 1
重量% 〜10重量% 程度添加して、活性金属ろう材として
用いる。 Ag-Cu系ろう材の組成は、ろう材の全量に対し
てCu量を15重量% 〜35重量% 程度とすることが好まし
い。The ceramic-metal bonded substrate of the present invention is
A ceramic substrate and a metal plate are joined together using a brazing material containing at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf and Nb (hereinafter referred to as active metal brazing material). The brazing filler metal used here is, for example, a eutectic composition of Ag-Cu (72 wt% Ag-28 wt% Cu) or a composition near Ag-C.
Examples include u-based brazing materials and Cu-based brazing materials. Then, the above active metal is added to these brazing filler metals with respect to the total amount of the brazing filler metal.
Add about 10% by weight to 10% by weight to use as an active metal brazing material. The composition of the Ag-Cu brazing filler metal is preferably such that the amount of Cu is about 15% by weight to 35% by weight with respect to the total amount of the brazing filler metal.
【0012】また、上記活性金属ろう材は、実用上は例
えば樹脂系バインタ中に混合、分散させてペースト化し
て使用する。この際、ペースト中の含有酸素量を30ppm
以下とすることが好ましい。例えば、窒化物系セラミッ
クス基板と活性金属ろう材との接合形態を考えると、ろ
う材中の活性金属(例えばTi)がセラミックス中の窒素
と反応して、接合界面に活性金属と窒素との化合物層
(例えば TiN層)を形成することによって、セラミック
ス基板と活性金属ろう材、ひいては金属板とが強固に接
合される。ここで、活性金属例えばTiは、生成自由エネ
ルギーからみて窒素より酸素と反応しやすい。よって、
ろう材ペースト中に多量の酸素が含まれていると、セラ
ミックス中の窒素と反応する前に酸素と反応してしま
い、活性金属と窒素との化合物層を均一に形成すること
ができなくなる。これに対して、予めろう材ペースト中
の含有酸素量を30ppm 以下としておくことによって、活
性金属とセラミックス中の窒素との反応を促進すること
ができ、よって高強度のセラミックス−金属接合基板を
再現性よく得ることが可能となる。In addition, the above active metal brazing material is practically used by being mixed and dispersed in a resin binder to form a paste. At this time, the amount of oxygen contained in the paste is 30 ppm
The following is preferable. For example, considering the joining form between the nitride ceramics substrate and the active metal brazing material, the active metal (for example, Ti) in the brazing material reacts with nitrogen in the ceramic, and a compound of the active metal and nitrogen is formed at the joining interface. By forming the layer (for example, TiN layer), the ceramic substrate and the active metal brazing material, and by extension, the metal plate are firmly bonded. Here, an active metal such as Ti is more likely to react with oxygen than nitrogen in terms of free energy of formation. Therefore,
If the brazing paste contains a large amount of oxygen, it reacts with oxygen before it reacts with nitrogen in the ceramics, making it impossible to uniformly form a compound layer of the active metal and nitrogen. On the other hand, by setting the oxygen content in the brazing paste to 30 ppm or less in advance, the reaction between the active metal and nitrogen in the ceramics can be promoted, thus reproducing a high-strength ceramic-metal bonded substrate. It is possible to obtain it with good performance.
【0013】上述した第1の発明で使用するセラミック
ス基板は、窒化アルミニウムを主成分とし、酸化イット
リウムや酸化アルミニウム等を焼結助剤成分(液相形成
成分)として含む焼結体からなるものである。ここで、
第1の発明で使用する窒化アルミニウム系セラミックス
基板は、金属板との接合表面近傍部における液相成分量
を 1重量% 以下としている。ここで言う液相成分とは、
上記焼結助剤成分により形成されたAl5 Y 3 O 12(YAG)
やAlYO3 (YAL) 等であり、基本的には結晶粒界に存在す
るものであるが、焼成(焼結)時に表面方向に侵出する
性質を有している。よって、焼結後の段階においては、
焼結体表面に比較的多量の液相成分が存在する。The ceramic substrate used in the above-mentioned first invention is composed of a sintered body containing aluminum nitride as a main component and yttrium oxide, aluminum oxide or the like as a sintering aid component (liquid phase forming component). is there. here,
The aluminum nitride ceramic substrate used in the first invention has a liquid phase component content of 1% by weight or less in the vicinity of the bonding surface with the metal plate. The liquid phase component here is
Al 5 Y 3 O 12 (YAG) formed by the above sintering aid component
AlYO 3 (YAL) and the like, which are basically present at the grain boundaries, have the property of leaching in the surface direction during firing (sintering). Therefore, in the stage after sintering,
A relatively large amount of liquid phase component is present on the surface of the sintered body.
【0014】ここで、窒化アルミニウム系基板と金属板
との接合後の界面は、活性金属としてTiを用いた場合、
窒化アルミニウムとろう材層との界面に生成される TiN
とみられる反応層と、活性金属をあまり含まないろう材
層とからなる。加熱接合後や熱サイクルが付加された際
に、窒化アルミニウム系基板と金属板との線膨張係数差
に起因して発生する応力は、特に前者の TiN層によって
緩和されると考えられる。しかし、上記したような液相
成分が比較的多量に存在する窒化アルミニウム系基板の
表面に、活性金属ろう材により金属板を接合すると、窒
化アルミニウムと活性金属との反応が阻害されて、最適
な厚さに TiN層が形成されず、その結果として窒化アル
ミニウム系基板にかかる応力が増大する。また、液相成
分は脆弱な化合物からなるため、熱サイクルの付加によ
って、液相成分が存在する部分がクラックの発生起点と
なる。これらによって、耐熱サイクル特性は大幅に低下
してしまう。Here, when Ti is used as an active metal, the interface between the aluminum nitride-based substrate and the metal plate after bonding is
TiN formed at the interface between aluminum nitride and brazing material layer
And a brazing material layer that does not contain much active metal. It is considered that the stress caused by the difference in linear expansion coefficient between the aluminum nitride-based substrate and the metal plate after heat bonding or when a heat cycle is applied is alleviated particularly by the former TiN layer. However, when a metal plate is bonded to the surface of an aluminum nitride-based substrate having a relatively large amount of the liquid phase component as described above with an active metal brazing material, the reaction between aluminum nitride and the active metal is inhibited, and the optimum The TiN layer is not formed to the thickness, and as a result, the stress applied to the aluminum nitride-based substrate increases. Further, since the liquid phase component is composed of a brittle compound, the portion where the liquid phase component exists becomes a starting point of cracking due to the addition of the heat cycle. Due to these, the heat resistance cycle characteristic is significantly deteriorated.
【0015】そこで、第1の発明においては、窒化アル
ミニウム系セラミックス基板の金属板との接合表面近傍
部における液相成分量を 1重量% 以下としている。この
ように、接合表面における液相成分量を減少させること
によって、接合界面における反応層(例えば TiN層)の
厚さを最適化できるため、窒化アルミニウム系基板にか
かる応力を緩和することができ、よって接合強度および
耐熱サイクル特性に優れた接合基板が得られる。なお、
本発明で言う表面近傍部における液相成分量は、例えば
X線回折により測定した値を指すものとし、表面から深
さ方向に10μmの範囲における液相成分の重量比を指す
ものとする。Therefore, in the first invention, the amount of the liquid phase component in the vicinity of the bonding surface of the aluminum nitride ceramics substrate with the metal plate is set to 1% by weight or less. In this way, by reducing the amount of liquid phase component on the bonding surface, the thickness of the reaction layer (for example, TiN layer) at the bonding interface can be optimized, so that the stress applied to the aluminum nitride-based substrate can be relaxed, Therefore, a bonded substrate having excellent bonding strength and heat cycle characteristics can be obtained. In addition,
In the present invention, the liquid phase component amount in the vicinity of the surface refers to a value measured by, for example, X-ray diffraction, and refers to a weight ratio of the liquid phase component in the range of 10 μm from the surface in the depth direction.
【0016】上述した接合表面近傍部における液相成分
量を 1重量% 以下とした窒化アルミニウム系セラミック
ス基板は、焼結後の表面から深さ方向に適当な範囲で、
ホーニング加工等で研削することによって得られる。焼
結表面からの研削量は、表面近傍部の液相成分量が 1重
量% となるように設定するものとするが、具体的には深
さ方向(板厚方向)に 3〜 5μm 程度研削することが好
ましい。The above-mentioned aluminum nitride ceramics substrate in which the amount of liquid phase component in the vicinity of the bonding surface is 1% by weight or less is an appropriate range in the depth direction from the surface after sintering.
It is obtained by grinding by honing or the like. The amount of grinding from the sintered surface shall be set so that the amount of liquid phase component in the vicinity of the surface is 1% by weight. Specifically, grinding in the depth direction (plate thickness direction) is about 3 to 5 μm. Preferably.
【0017】また、第2の発明に用いられるセラミック
ス基板は、特にその材料に限定されるものではなく、酸
化アルミニウム焼結体系基板、ムライト焼結体(3Al2 O
3 −2SiO2 )系基板等の酸化物系基板から、窒化アルミ
ニウム焼結体系基板、炭化ケイ素焼結体系基板等の非酸
化物系基板まで、各種のセラミックス材料を適用するこ
とができ、用途や要求特性に応じて適宜選択して使用す
ることが可能である。ただし、機械的強度が比較的低
く、熱サイクルの付加によりクラック等が生じやすい窒
化アルミニウム系基板に対して特に効果的である。The ceramic substrate used in the second invention is not particularly limited to its material, and it may be an aluminum oxide sintered substrate or a mullite sintered body (3Al 2 O 3).
From 3 -2SiO 2) based oxide based substrate, such as a substrate, sintered aluminum system board nitride, to non-oxide substrates such as silicon carbide sintered system board, it is possible to apply various ceramic materials, applications Ya It is possible to appropriately select and use it according to required characteristics. However, it is particularly effective for an aluminum nitride-based substrate which has relatively low mechanical strength and is susceptible to cracks and the like due to the addition of heat cycles.
【0018】本発明で用いる金属板は、用途に応じて各
種の金属材料から適宜選択すればよく、例えばCu板、Cu
合金板、Ni板、Ni合金板、 WやMo等の単体板や合金板等
が例示される。また、第1の発明に関しては、その形状
も特に限定されるものではなく、用途等に応じて設定す
ればよい。金属板の接合は、セラミックス基板の少なく
とも一方の主面でよいが、応力の緩和という点からは、
セラミックス基板の両主面に接合することが好ましい。The metal plate used in the present invention may be appropriately selected from various metal materials according to the application, for example, Cu plate, Cu
Examples include alloy plates, Ni plates, Ni alloy plates, single plates such as W and Mo, and alloy plates. Further, regarding the first invention, the shape thereof is not particularly limited, and may be set according to the application or the like. The metal plate may be bonded to at least one main surface of the ceramic substrate, but from the viewpoint of stress relaxation,
It is preferable to bond to both main surfaces of the ceramic substrate.
【0019】第2の発明のセラミックス−金属接合基板
に用いる金属板は、必要とする金属板の表面面積より若
干小さい面積を有するものとする。すなわち、セラミッ
クス基板と金属板とを加熱接合した場合、金属板は両者
の線膨張係数の差により、接合温度に応じて膨張する。
ここで、接合後の冷却過程において、金属板の接合面側
はろう材層に固定されているが、表面側は特に制約はな
いため、線膨張係数差に応じて膨張した状態となる。こ
の加熱接合後の金属板の表面側面積が、必要とする金属
板の表面面積となるように、当初の金属板形状を設定す
る。The metal plate used for the ceramic-metal bonded substrate of the second invention has an area slightly smaller than the required surface area of the metal plate. That is, when the ceramic substrate and the metal plate are heat-bonded, the metal plate expands according to the bonding temperature due to the difference in linear expansion coefficient between the two.
Here, in the cooling process after joining, the joining surface side of the metal plate is fixed to the brazing material layer, but there is no particular limitation on the surface side, so that the metal sheet expands according to the difference in linear expansion coefficient. The initial metal plate shape is set so that the surface area of the metal plate after the heating and joining is the required surface area of the metal plate.
【0020】またこの際、活性金属ろう材を含むペース
トの塗布面積は、金属板の当初の形状と同様に、必要と
する金属板の表面面積より若干小さい面積とする。この
ようなろう材ペーストの塗布層上に、上記の若干小面積
とした金属板を載置して加熱接合すると、ろう材ペース
トは液相化後にセラミックス基板と濡れて少し流れだ
し、金属板との接合端よりやや大きく基板上に広がる。
一方、金属板の接合面側は、上述したようにろう材層に
固定されているため、その面積をほぼ維持して接合面積
を形成する。また、金属板の表面側は膨張するため、接
合端よりやや大きくなる。この状態を図1および図2に
示す。At this time, the application area of the paste containing the active metal brazing material is set to be an area slightly smaller than the required surface area of the metal plate, like the initial shape of the metal plate. When the above-mentioned metal plate having a slightly smaller area is placed on the coating layer of the brazing material paste and heat-bonded, the brazing material paste wets the ceramics substrate after liquefaction and begins to flow a little, Spreads on the substrate slightly larger than the junction end of.
On the other hand, since the joining surface side of the metal plate is fixed to the brazing material layer as described above, the joining area is formed by substantially maintaining the area. Moreover, since the surface side of the metal plate expands, it becomes slightly larger than the joint end. This state is shown in FIGS. 1 and 2.
【0021】すなわち金属板1は、セラミックス基板2
との接合面1aの面積(A)が表面1b側の面積(B)
より小さくなり、かつ活性金属を含むろう材層3の面積
(C)は、金属板の接合面1aの面積(A)より大きく
なる。ここで、金属板1の表面1b側の面積(B)は、
必要とされる金属板面積となっている。加熱接合後の金
属板1側の界面近傍の形状およびろう材層3の形状を、
上記したような形状(B>A、C>A、かつろう材層3
がセラミックス基板2上で平面方向に広がる)とするこ
とによって、接合端での応力集中が緩和され、残留応力
を低減することができる。これによって、接合強度や耐
熱サイクル特性の向上を図ることが可能となる。That is, the metal plate 1 is the ceramic substrate 2
The area (A) of the joint surface 1a with and the area (B) on the surface 1b side
The area (C) of the brazing material layer 3 which is smaller and which contains the active metal is larger than the area (A) of the joining surface 1a of the metal plate. Here, the area (B) on the surface 1b side of the metal plate 1 is
It is the required metal plate area. The shape of the vicinity of the interface on the side of the metal plate 1 and the shape of the brazing material layer 3 after heat bonding are
Shapes as described above (B> A, C> A, and brazing material layer 3)
Is spread in the plane direction on the ceramic substrate 2), the stress concentration at the joint end is relaxed, and the residual stress can be reduced. This makes it possible to improve the bonding strength and the heat resistance cycle characteristics.
【0022】上記加熱接合後の金属板1側の界面近傍の
形状およびろう材層3形状は、上述したように、それぞ
れの面積A、B、Cが、B>AかつC>Aを満足してい
ればよく、特にその比率等は問わない。As described above, the shapes of the vicinity of the interface on the side of the metal plate 1 and the shape of the brazing material layer 3 after the above-mentioned heat bonding satisfy the areas A, B, and C satisfying B> A and C> A, respectively. However, the ratio is not particularly limited.
【0023】本発明のセラミックス−金属接合基板は、
例えば以下のようにして製造することができる。The ceramic-metal bonded substrate of the present invention is
For example, it can be manufactured as follows.
【0024】まず、セラミックス基板と金属板とを用意
し、上述したような活性金属を含むろう材をペースト化
したものを、例えばセラミックス基板側に塗布する。こ
こで、第2の発明に関しては、ろう材層の塗布面積が必
要な金属板面積より若干小さくなるように塗布する。ま
た、ろう材層の塗布厚は、耐熱サイクル特性の向上を図
る上で、加熱接合後のろう材層の層厚が40μm となるよ
うにすることが好ましく、具体的にはペーストの粘度等
にもよるが、30μm 以下とすることが好ましい。加熱接
合後のろう材層の層厚が40μm を超えると、熱サイクル
の付加に対して反応層の厚さが厚くなりすぎるために、
逆にセラミックスにかかる応力が増大し、耐熱サイクル
特性の低下を招くおそれがある。First, a ceramics substrate and a metal plate are prepared, and a brazing material containing an active metal as described above is made into a paste and applied to, for example, the ceramics substrate side. Here, regarding the second invention, the brazing material layer is applied so that the application area thereof is slightly smaller than the required metal plate area. In addition, the coating thickness of the brazing material layer is preferably such that the layer thickness of the brazing material layer after heating and joining is 40 μm in order to improve the heat resistance cycle characteristics. The thickness is preferably 30 μm or less, though depending on the case. If the layer thickness of the brazing filler metal layer after heat bonding exceeds 40 μm, the thickness of the reaction layer will become too thick for the addition of heat cycle.
On the contrary, the stress applied to the ceramics may increase, and the heat cycle characteristics may be deteriorated.
【0025】次に、ろう材ペーストを塗布したセラミッ
クス基板上に、金属板を積層配置し、真空中またはアル
ゴン雰囲気のような不活性雰囲気中にて、使用したろう
材に応じた温度、例えば Ag-Cu系ろう材であれば Ag-Cu
共晶が形成される温度で熱処理し、このろう材による液
相および活性金属とセラミックスとの反応等を利用し
て、セラミックス基板と金属板とを接合する。また、前
述したように、ろう材ペースト中の活性金属と酸素との
反応を阻害する上でも、接合雰囲気は真空中や不活性雰
囲気中とすることが好ましい。Next, a metal plate is laminated on the ceramic substrate coated with the brazing material paste, and the temperature corresponding to the brazing material used, such as Ag, is set in vacuum or in an inert atmosphere such as an argon atmosphere. -Cu-based brazing material is Ag-Cu
Heat treatment is performed at a temperature at which a eutectic is formed, and the ceramic substrate and the metal plate are joined together by utilizing the liquid phase of the brazing material and the reaction between the active metal and the ceramic. Further, as described above, it is preferable that the bonding atmosphere is a vacuum or an inert atmosphere also in order to inhibit the reaction between the active metal in the brazing paste and oxygen.
【0026】金属板に回路形成を行う場合には、金属板
を接合した後にエッチチング等により回路形成を行って
もよいし、また予め回路形成した金属板を接合してもよ
い。ただし、第2の発明に関しては、後者の方法を採る
ものとする。When the circuit is formed on the metal plate, the circuit may be formed by etching after the metal plates are joined together, or the circuit-formed metal plates may be joined together. However, regarding the second invention, the latter method is adopted.
【0027】[0027]
【実施例】次に、本発明の実施例について説明する。EXAMPLES Next, examples of the present invention will be described.
【0028】実施例1 まず、 AlN系基板用の焼結体(形状:63mm×29mm×厚さ
約 0.635mm:熱伝導率=170W/m K)を用意した。この AlN
焼結体は、 AlNを主成分とし、焼結助剤として3重量%
の Y2 O 3 を含むものである。この焼結後の段階で焼結
体表面のX線回折を行い、表面の液相成分量を測定した
ところ、 YAG量は 2.3重量% 、 YAL量は 4.5重量% で
あった。Example 1 First, a sintered body (shape: 63 mm × 29 mm × thickness: about 0.635 mm: thermal conductivity = 170 W / m K) for an AlN substrate was prepared. This AlN
The sintered body contains AlN as the main component and 3% by weight as a sintering aid.
It contains Y 2 O 3 . At the stage after this sintering, the surface of the sintered body was subjected to X-ray diffraction and the amount of liquid phase components on the surface was measured. As a result, the amount of YAG was 2.3% by weight and the amount of YAL was 4.5% by weight.
【0029】次に、上記 AlN焼結体の両主面に対してホ
ーニング加工を 2回施し、深さ方向に約 3.8μm 研削し
た。なお、ホーニング条件は、#220WA、圧力 3.5kgf/cm
2 、ベルトスピード1.8m/minとした。このホーニング加
工後に、 AlN焼結体表面の液相成分量を同様に測定した
ところ、 YAG量は 0.2重量% 、 YAL量は 0.3重量%(合計
0.5重量%)であった。Next, honing was performed twice on both main surfaces of the AlN sintered body, and grinding was performed in the depth direction by about 3.8 μm. The honing conditions are # 220WA, pressure 3.5kgf / cm.
2. Belt speed was 1.8m / min. After this honing process, the amount of liquid phase components on the surface of the AlN sintered body was measured in the same manner.YAG amount was 0.2% by weight, YAL amount was 0.3% by weight (total
0.5% by weight).
【0030】一方、重量比でAg:Cu:Ti=67.7:26.3:6.0の
活性金属含有ろう材を用意し、このろう材に樹脂バイン
ダおよび分散媒を適量加え、十分に混合してろう材ペー
ストを作製した。このろう材ペーストを上記ホーニング
加工後の AlN焼結体表面にそれぞれ塗布厚が30μm とな
るようにスクリーン印刷した。On the other hand, an active metal-containing brazing material having a weight ratio of Ag: Cu: Ti = 67.7: 26.3: 6.0 was prepared, a resin binder and a dispersion medium were added to the brazing material in appropriate amounts, and the brazing material paste was thoroughly mixed. Was produced. This brazing paste was screen-printed on the surface of the AlN sintered body after the honing so that the coating thickness was 30 μm.
【0031】次いで、図3に示すように、半導体素子搭
載側金属板(表パターン)として厚さ 0.3mmのパターニ
ングしたCu板11を、また放熱側金属板(裏パターン)
として厚さ0.25mmのCu板12を、それぞれろう材ペース
トの塗布層上に配置し、 1×10-4Torrの真空中にて、 8
50℃×10分の条件で接合を行った。このようにして、Al
N系基板13の両主面に、それぞれ活性金属含有ろう材
層14を介してCu板11、12が接合された、AlN-Cu接
合基板15を得た。なお、活性金属ろう材層14の厚さ
は、約35μm であった。Then, as shown in FIG. 3, a patterned Cu plate 11 having a thickness of 0.3 mm is used as a semiconductor element mounting side metal plate (front pattern), and a heat radiation side metal plate (back pattern).
As a result, a Cu plate 12 with a thickness of 0.25 mm is placed on each coating layer of the brazing filler metal paste, and is placed in a vacuum of 1 × 10 −4 Torr.
Bonding was performed under the condition of 50 ° C. × 10 minutes. In this way, Al
An AlN—Cu bonded substrate 15 was obtained in which the Cu plates 11 and 12 were bonded to both main surfaces of the N-based substrate 13 via the active metal-containing brazing material layer 14, respectively. The active metal brazing material layer 14 had a thickness of about 35 μm.
【0032】また、本発明との比較として、焼結後の A
lN系基板(YAG量=2.3重量% 、 YAL量=4.5重量% 、合計
6.8重量%)を用いる以外は、上記実施例と同様にCu板を
接合したもの(比較例1)と、ホーニング加工を 1回の
みとした AlN系基板(YAG量=1.2重量% 、 YAL量=2.1重量
% 、合計 3.3重量%)を用いる以外は、上記実施例と同様
にCu板を接合したもの(比較例2)を作製した。As a comparison with the present invention, A after sintering
lN substrate (YAG amount = 2.3% by weight, YAL amount = 4.5% by weight, total
6.8% by weight) except that the Cu plates were joined in the same manner as in the above example (Comparative Example 1), and an AlN-based substrate with only one honing process (YAG amount = 1.2% by weight, YAL amount = 2.1 Weight
%, A total of 3.3% by weight) was used, and a Cu plate was joined (Comparative Example 2) in the same manner as in the above-mentioned Examples.
【0033】これら実施例1および比較例1、2で作製
した各AlN-Cu接合基板の特性を以下のようにして評価し
た。まず、各AlN-Cu接合基板の接合強度としてピール強
度を測定した。また、耐熱サイクル特性ηとして、熱サ
イクル試験(TCT) 後のクラックの有無を蛍光浸透探傷(P
T)検査によって評価した。 TCTの条件は、 -40℃×30分
+RT×10分+ 125℃×30分+RT×10分を 1サイクルと
し、これを30サイクル行った後に、クラックの有無を評
価した。これらの結果を表面の液相成分量と共に表1に
示す。なお、耐熱サイクル特性ηの評価結果は、100%を
「 TCTによるクラックなし」とし、0%を「 TCTにより全
面的にクラック発生」として示した。The characteristics of each AlN-Cu bonded substrate produced in Example 1 and Comparative Examples 1 and 2 were evaluated as follows. First, the peel strength was measured as the bonding strength of each AlN-Cu bonded substrate. In addition, as the heat resistance cycle characteristic η, the presence or absence of cracks after the heat cycle test (TCT) is determined by fluorescence penetration testing (P
T) Evaluated by inspection. The TCT conditions were -40 ° C × 30 minutes + RT × 10 minutes + 125 ° C × 30 minutes + RT × 10 minutes as one cycle. After 30 cycles of this, the presence or absence of cracks was evaluated. The results are shown in Table 1 together with the amount of liquid phase components on the surface. The evaluation results of the heat resistance cycle characteristic η were shown as 100% "no crack by TCT" and 0% "total crack generation by TCT".
【0034】[0034]
【表1】 表1から明らかなように、表面近傍の液相成分量を 1重
量% 以下とした窒化アルミニウム系基板を用いた実施例
1によるAlN-Cu接合基板は、十分な接合強度を有すると
共に、熱サイクル試験後においてもほとんどクラックの
発生がなく、耐熱サイクル特性に優れることが分かる。
これに対して、比較例1および比較例2によるAlN-Cu接
合基板は、それぞれ初期の接合強度は高いものの、熱サ
イクル試験後に多数のクラックが発生しており、接合強
度の低下を招いていることが明らかである。[Table 1] As is clear from Table 1, the AlN-Cu bonded substrate according to Example 1 using the aluminum nitride-based substrate in which the liquid phase component amount in the vicinity of the surface is 1% by weight or less has sufficient bonding strength and thermal cycling. It can be seen that even after the test, almost no cracks were generated and the heat cycle characteristics were excellent.
On the other hand, the AlN-Cu bonded substrates according to Comparative Example 1 and Comparative Example 2 each have high initial bonding strength, but many cracks have occurred after the thermal cycle test, resulting in a decrease in bonding strength. It is clear.
【0035】実施例2 まず、 Ag-Cu共晶合金粉(72wt%Ag-28wt%Cu)98重量% と
Ti粉 2重量% とを混合した粉末 100重量部に対し、カル
ボキシル基重合したアクリル樹脂を10重量部、テレピネ
オールを20部、オレイン酸を 0.1cc加え、十分に混合し
てろう材ペーストを作製した。Example 2 First, 98% by weight of Ag-Cu eutectic alloy powder (72 wt% Ag-28 wt% Cu) was added.
To 100 parts by weight of powder mixed with 2% by weight of Ti powder, 10 parts by weight of carboxyl group-polymerized acrylic resin, 20 parts of terpineol and 0.1 cc of oleic acid were added, and sufficiently mixed to prepare a brazing paste. .
【0036】上記ろう材ペーストを 2つ作製し、 1つは
(a)窒素ボックス中で気温20℃、湿度 40%の条件のもと
で、他の 1つは (b)大気中で、それぞれ 3ケ月保管し
た。これらろう材ペースト中の含有酸素量をそれぞれ分
析したところ、 (a)は25ppm 、(b)は300ppmという結果
が得られた。Two brazing pastes were prepared, one of which was
(a) Stored in a nitrogen box under conditions of temperature of 20 ° C and humidity of 40%, and the other one was stored in (b) atmosphere for 3 months. When the contents of oxygen in these brazing pastes were analyzed, the results were 25 ppm for (a) and 300 ppm for (b).
【0037】これら 2つのろう材ペーストを用いて、実
施例1と同様にしてAlN-Cu接合基板をそれぞれ作製し
た。ただし、銅板としてはリン脱酸銅を用いた。このよ
うにして得た各AlN-Cu接合基板のピール強度と耐熱サイ
クル特性( TCT 100サイクル)を測定、評価した。その
結果を表2に示す。Using these two brazing filler metal pastes, AlN-Cu bonded substrates were prepared in the same manner as in Example 1. However, phosphorus deoxidized copper was used as the copper plate. The peel strength and heat cycle characteristics (TCT 100 cycles) of each AlN-Cu bonded substrate thus obtained were measured and evaluated. The results are shown in Table 2.
【0038】[0038]
【表2】 表2から、ろう材ペーストの含有酸素量が接合強度や耐
熱サイクル特性に影響を及ぼすことが分かる。[Table 2] From Table 2, it can be seen that the oxygen content of the brazing paste has an effect on the bonding strength and heat cycle characteristics.
【0039】実施例3 実施例1で用いた AlN焼結体と同様な AlN系基板(熱伝
導率=170W/m K)上に、重量比でAg:Cu:Ti=67.7:26.3:6.0
の活性金属含有ろう材に樹脂バインダおよび分散媒を適
量加えたろう材ペーストを、所望の金属板パターン(接
合後の金属板の表面パターン)の1/1.01の大きさとなる
ようにスクリーン印刷した。なお、ろう材ペーストの塗
布厚は30μm とした。Example 3 Ag: Cu: Ti = 67.7: 26.3: 6.0 by weight on an AlN-based substrate (thermal conductivity = 170 W / m K) similar to the AlN sintered body used in Example 1.
A brazing material paste obtained by adding an appropriate amount of a resin binder and a dispersion medium to the active metal-containing brazing material of was screen-printed so as to have a size of 1 / 1.01 of a desired metal plate pattern (surface pattern of the metal plate after joining). The coating thickness of the brazing paste was 30 μm.
【0040】次に、上記ろう材ペーストの印刷パターン
上に、同様に所望の金属板パターンの1/1.01の大きさの
Cu板を配置し、 1×10-4Torrの真空中にて、 850℃×10
分の条件で接合を行って、所望のパターン寸法を有する
AlN-Cu接合基板を得た。Next, on the printed pattern of the above-mentioned brazing filler metal paste, in a similar manner, 1 / 1.01 of the desired metal plate pattern is formed.
Place a Cu plate, and in a vacuum of 1 × 10 -4 Torr, 850 ℃ × 10
The desired pattern size is obtained by joining under the condition of min.
An AlN-Cu bonded substrate was obtained.
【0041】このようにして得たAlN-Cu接合基板の接合
界面の形状を調べたところ、図2に示したように、Cu板
1の AlN系基板2との接合面1aの面積(A)が表面1
b側の面積(B)より小さくなり、Cu板1の AlN系基板
2との接合面1aは、活性金属ろう材層3により十分に
覆われていた。また、活性金属ろう材層3の厚さは、約
35μm であった。When the shape of the joint interface of the AlN-Cu jointed substrate thus obtained was examined, as shown in FIG. 2, the area (A) of the joint surface 1a of the Cu plate 1 with the AlN-based substrate 2 was examined. On the surface 1
The area was smaller than the area (B) on the b side, and the bonding surface 1a of the Cu plate 1 with the AlN-based substrate 2 was sufficiently covered with the active metal brazing material layer 3. The thickness of the active metal brazing material layer 3 is about
It was 35 μm.
【0042】次に、上記AlN-Cu接合基板の耐熱サイクル
特性を、以下の要領で評価した。まず、実施例1と同様
の TCTを20サイクル、30サイクル、50サイクルでそれぞ
れ実施し、各試験後の接合基板のピール強度を測定する
と共に、クラックの有無を評価した。その結果、いずれ
の TCT後のAlN-Cu接合基板においても、ピール強度は10
〜12kgf/mm程度の良好な値を示し、かつクラックも見ら
れなかった。Next, the heat resistance cycle characteristics of the AlN-Cu bonded substrate were evaluated in the following manner. First, the same TCT as in Example 1 was performed for 20 cycles, 30 cycles, and 50 cycles, respectively, to measure the peel strength of the bonded substrate after each test and to evaluate the presence or absence of cracks. As a result, the peel strength was 10% for all AlN-Cu bonded substrates after TCT.
A good value of about 12 kgf / mm was shown, and no crack was observed.
【0043】[0043]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のセラミッ
クス−金属接合基板によれば、安定して高接合強度が得
られると共に、熱サイクルの付加等によるセラミックス
基板側のクラックを抑制することができる。よって、高
接合強度を有すると共に、熱サイクル特性に優れた、信
頼性の高いセラミックス−金属接合基板を、再現性よく
提供することが可能となる。As described above, according to the ceramic-metal bonded substrate of the present invention, it is possible to stably obtain a high bonding strength and suppress cracks on the ceramic substrate side due to the addition of a heat cycle. it can. Therefore, it is possible to provide a highly reliable ceramic-metal bonded substrate having high bonding strength and excellent thermal cycle characteristics with good reproducibility.
【図1】 本発明のセラミックス−金属接合基板の一構
成例を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing one structural example of a ceramics-metal bonded substrate of the present invention.
【図2】 図1に示すセラミックス−金属接合基板の要
部を拡大して示す図である。FIG. 2 is an enlarged view showing a main part of the ceramic-metal bonded substrate shown in FIG.
【図3】 本発明の一実施例によるセラミックス−金属
接合基板を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a ceramic-metal bonded substrate according to an embodiment of the present invention.
1……金属板 1a…セラミックス基板との接合面 1b…表面 2……セラミックス基板 3……活性金属を含むろう材層 11…半導体素子搭載側のパターニングしたCu板 12…放熱側のCu板 13… AlN系基板 14…活性金属含有ろう材層 15…AlN-Cu接合基板 A……金属板のセラミックス基板との接合面の面積 B……金属板の表面側の面積 C……ろう材層の面積 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Metal plate 1a ... Bonding surface with ceramic substrate 1b ... Surface 2 ... Ceramic substrate 3 ... Brazing material layer containing active metal 11 ... Patterned Cu plate on semiconductor element mounting side 12 ... Heat radiation side Cu plate 13 ... AlN-based substrate 14 ... Active metal-containing brazing material layer 15 ... AlN-Cu bonding substrate A ... Area of bonding surface of metal plate with ceramics substrate B ... Area of front surface side of metal plate C ... Brazing material layer area
Claims (3)
Ti、Zr、HfおよびNbから選ばれた少なくとも 1種の活性
金属を含むろう材層を介して、前記窒化アルミニウム系
セラミックス基板の少なくとも一方の主面に接合された
金属板とを具備するセラミックス−金属接合基板におい
て、 前記窒化アルミニウム系セラミック基板は、前記金属板
との接合表面近傍部における液相成分量が 1重量% 以下
であることを特徴とするセラミックス−金属接合基板。1. An aluminum nitride ceramic substrate,
A ceramic comprising a metal plate bonded to at least one main surface of the aluminum nitride ceramic substrate through a brazing material layer containing at least one active metal selected from Ti, Zr, Hf and Nb. In the metal-bonded substrate, the aluminum-nitride-based ceramic substrate has a liquid phase component content of 1% by weight or less in the vicinity of the bonding surface with the metal plate.
基板において、 前記活性金属を含むろう材層は、その厚さが40μm 以下
であることを特徴とするセラミックス−金属接合基板。2. The ceramic-metal bonded substrate according to claim 1, wherein the brazing material layer containing the active metal has a thickness of 40 μm or less.
から選ばれた少なくとも 1種の活性金属を含むろう材層
を介して、前記セラミックス基板の少なくとも一方の主
面に接合された金属板とを具備するセラミックス−金属
接合基板において、 前記金属板は、前記セラミックス基板との接合面の面積
が表面側の面積より小さく、かつ前記活性金属を含むろ
う材層の面積は、前記金属板の接合面の面積より大きい
ことを特徴とするセラミックス−金属接合基板。3. A ceramic substrate and Ti, Zr, Hf and Nb
In a ceramic-metal bonded substrate comprising a metal plate bonded to at least one main surface of the ceramic substrate via a brazing material layer containing at least one active metal selected from The area of the bonding surface with the ceramics substrate is smaller than the area on the surface side, and the area of the brazing material layer containing the active metal is larger than the area of the bonding surface of the metal plate. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4959093A JPH06263554A (en) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | Jointed substrate of ceramics-metal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4959093A JPH06263554A (en) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | Jointed substrate of ceramics-metal |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06263554A true JPH06263554A (en) | 1994-09-20 |
Family
ID=12835451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4959093A Pending JPH06263554A (en) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | Jointed substrate of ceramics-metal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06263554A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10190176A (en) * | 1996-12-26 | 1998-07-21 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Circuit board |
JP2013118299A (en) * | 2011-12-05 | 2013-06-13 | Mitsubishi Materials Corp | Substrate for power module |
JP2014090144A (en) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Ceramic circuit board, and method of manufacturing the same |
JP2020053580A (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 京セラ株式会社 | Substrate for power module and power module |
JP2022020925A (en) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | 日本特殊陶業株式会社 | Wiring board |
-
1993
- 1993-03-10 JP JP4959093A patent/JPH06263554A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10190176A (en) * | 1996-12-26 | 1998-07-21 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Circuit board |
JP2013118299A (en) * | 2011-12-05 | 2013-06-13 | Mitsubishi Materials Corp | Substrate for power module |
JP2014090144A (en) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Ceramic circuit board, and method of manufacturing the same |
JP2020053580A (en) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 京セラ株式会社 | Substrate for power module and power module |
JP2022020925A (en) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | 日本特殊陶業株式会社 | Wiring board |
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