JPH0623784B2 - 電気試験プローブ - Google Patents
電気試験プローブInfo
- Publication number
- JPH0623784B2 JPH0623784B2 JP3168675A JP16867591A JPH0623784B2 JP H0623784 B2 JPH0623784 B2 JP H0623784B2 JP 3168675 A JP3168675 A JP 3168675A JP 16867591 A JP16867591 A JP 16867591A JP H0623784 B2 JPH0623784 B2 JP H0623784B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductor
- strain
- transmission cable
- substrate
- adapter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 56
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 28
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 5
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000002991 molded plastic Substances 0.000 description 2
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N beryllium copper Chemical compound [Be].[Cu] DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 1
- 238000009422 external insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06788—Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
- Y10T29/49151—Assembling terminal to base by deforming or shaping
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49174—Assembling terminal to elongated conductor
- Y10T29/49181—Assembling terminal to elongated conductor by deforming
- Y10T29/49183—Assembling terminal to elongated conductor by deforming of ferrule about conductor and terminal
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はオシロスコープや他の測
定、観測及び信号処理用装置のための電気試験プロー
ブ、特に伝送ケーブルにかかる応力を緩衝し、グランド
接続されていることを特徴とする電気試験プローブ。
定、観測及び信号処理用装置のための電気試験プロー
ブ、特に伝送ケーブルにかかる応力を緩衝し、グランド
接続されていることを特徴とする電気試験プローブ。
【０００２】
【従来の技術】通常用いられる電気試験プローブには、
ニッケルでメッキされた真鍮製で導電性の細長い円筒形
導体が用いられ、内部に基板が配置される。この基板に
はプローブの負荷を減らし、測定器の特性インピーダン
スをプローブで終端する受動回路又は能動回路が設けら
れる。上記細長い円筒形導体の一端にはプロービング・
チップが付いており、これは円筒形導体内部に延び絶縁
プラグで保持される。プロービング・チップは絶縁プラ
グを通して円筒形導体内部まで突き出しており、導電性
エラストマー部材の使用、その他の従来の接続法によ
り、基板とプロービング・チップは電気的に接続され
る。円筒形導体の外側のほとんどの部分は、射出成形プ
ラスチックなどの絶縁部材で覆われている。このプラス
チック部品を円筒形導体に取り付ける方法にはいろいろ
あり、例えば、圧着法、接着剤を用いる方法又は本体に
直接プラスチックを流し込んで型を作る方法などであ
る。一般にこのプラスチック部品の外側には、指の滑り
止めやガードとして機能する突縁部が形成される。ま
た、プラスチック部品はプローブに接続するケーブルな
どの伝送線を保護する外部ハウジングとしても機能す
る。
ニッケルでメッキされた真鍮製で導電性の細長い円筒形
導体が用いられ、内部に基板が配置される。この基板に
はプローブの負荷を減らし、測定器の特性インピーダン
スをプローブで終端する受動回路又は能動回路が設けら
れる。上記細長い円筒形導体の一端にはプロービング・
チップが付いており、これは円筒形導体内部に延び絶縁
プラグで保持される。プロービング・チップは絶縁プラ
グを通して円筒形導体内部まで突き出しており、導電性
エラストマー部材の使用、その他の従来の接続法によ
り、基板とプロービング・チップは電気的に接続され
る。円筒形導体の外側のほとんどの部分は、射出成形プ
ラスチックなどの絶縁部材で覆われている。このプラス
チック部品を円筒形導体に取り付ける方法にはいろいろ
あり、例えば、圧着法、接着剤を用いる方法又は本体に
直接プラスチックを流し込んで型を作る方法などであ
る。一般にこのプラスチック部品の外側には、指の滑り
止めやガードとして機能する突縁部が形成される。ま
た、プラスチック部品はプローブに接続するケーブルな
どの伝送線を保護する外部ハウジングとしても機能す
る。
【０００３】伝送ケーブルは、中心導体の周囲に絶縁部
材を設け、その周囲に導電性の外部シールド導体を設
け、その周囲に外部絶縁体が設けられている。中心導体
は電気的に基板に接続され、外部シールド導体は電気的
に円筒形導体に接続される。伝送ケーブルを電気試験プ
ローブに接続する方法には様々なものがある。
材を設け、その周囲に導電性の外部シールド導体を設
け、その周囲に外部絶縁体が設けられている。中心導体
は電気的に基板に接続され、外部シールド導体は電気的
に円筒形導体に接続される。伝送ケーブルを電気試験プ
ローブに接続する方法には様々なものがある。
【０００４】上記の方法のうちの１つが米国特許第４２
０９７４２号に開示されている。このモジュラ・プロー
ブ・システムにおいて、伝送ケーブルは円筒形導体と嵌
合する接続プラグ中に保持される。射出成形プラスチッ
クの外部ハウジングは円筒形導体の周囲に形成され、こ
のハウジング中心空洞内に中空の円筒形導体が延びてい
る。接続プラグはこの円筒形導体の中空内に嵌合し、こ
の接続プラグに設けられた絶縁部材で絶縁された同軸構
造の一対のコンタクトが、プロービング・チップと円筒
形導体とにそれぞれ接続される。接続プラグの中心コン
タクトは伝送ケーブルの中心導体と電気的に接続され、
外部コンタクトは外部シールド導体と電気的に接続され
ている。接続プラグにおいて外部コンタクトは積層状の
環状部材に支持されるが、この環状部材の内側端部から
伝送ケーブルにかけて接続プラグ内部の金属性スリーブ
をかしめることにより、両コンタクトと伝送ケーブルが
接続される。この接続プラグは絶縁被覆で覆われる。
０９７４２号に開示されている。このモジュラ・プロー
ブ・システムにおいて、伝送ケーブルは円筒形導体と嵌
合する接続プラグ中に保持される。射出成形プラスチッ
クの外部ハウジングは円筒形導体の周囲に形成され、こ
のハウジング中心空洞内に中空の円筒形導体が延びてい
る。接続プラグはこの円筒形導体の中空内に嵌合し、こ
の接続プラグに設けられた絶縁部材で絶縁された同軸構
造の一対のコンタクトが、プロービング・チップと円筒
形導体とにそれぞれ接続される。接続プラグの中心コン
タクトは伝送ケーブルの中心導体と電気的に接続され、
外部コンタクトは外部シールド導体と電気的に接続され
ている。接続プラグにおいて外部コンタクトは積層状の
環状部材に支持されるが、この環状部材の内側端部から
伝送ケーブルにかけて接続プラグ内部の金属性スリーブ
をかしめることにより、両コンタクトと伝送ケーブルが
接続される。この接続プラグは絶縁被覆で覆われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記及び他の設計にお
けるプローブの大きな欠点は、組み立てるのに多くの部
品と時間が必要なことである。そこで本発明は構造が簡
単で、コストが安いプローブ、つまり、より少ない部品
数で伝送ケーブルとプローブを接続し、同時に信頼性を
確保するために必要な電気的接続と伝送ケーブルにかか
る応力による歪を緩衝する構造を有するプローブを提供
することを目的とする。
けるプローブの大きな欠点は、組み立てるのに多くの部
品と時間が必要なことである。そこで本発明は構造が簡
単で、コストが安いプローブ、つまり、より少ない部品
数で伝送ケーブルとプローブを接続し、同時に信頼性を
確保するために必要な電気的接続と伝送ケーブルにかか
る応力による歪を緩衝する構造を有するプローブを提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は歪緩衝アダプタ
を設けることで、伝送ケーブルをプローブに接続し、さ
らに、中空導体内の基板を機械的に支持し、ケーブルに
かかる歪応力を緩衝する。
を設けることで、伝送ケーブルをプローブに接続し、さ
らに、中空導体内の基板を機械的に支持し、ケーブルに
かかる歪応力を緩衝する。
【０００７】
【実施例】図１は本発明による電気試験プローブ１０の
一実施例を示しており、細長い中空導体１２を具えてい
る。この中空導体１２の一方の端には絶縁プラグ１４が
あり、その同軸中心に導電性のプロービング・チップ１
６が配置され、絶縁プラグ１４の両方向に突き出て延び
ている。プロービング・チップ１６の中空導体１２の中
へ延びている部分は、弾性力が負荷された電気的コンタ
クト２０によって電気的に基板１８に接続される。基板
１８上には、電気試験プローブ１０を補償するための抵
抗、コンデンサなどの電気部品２２が装着されている。
導電性の歪緩衝アダプタ２４が基板１８の上に装着さ
れ、電気的に接続されているが、これにより基板１８は
グランドに接続される。また、歪緩衝アダプタ２４は中
空導体１２に挿入された基板１８を機械的に支持する働
きもする。伝送ケーブル２６は歪緩衝アダプタ２４に挿
入され、中空導体１２を歪緩衝アダプタ２４の周りでか
しめることにより中空導体１２内に保持される。サーモ
プラスチック、エラストマーなどの絶縁部材２８は、中
空導体１２の外側のほとんどの部分と伝送ケーブル２６
の一部を包むよう形作られ、伝送ケーブル２６の電気的
絶縁及び応力による歪の緩衝に役立つ。伝送ケーブル２
６の他端は、オシロスコープその他の試験装置などに接
続する適当な型のコネクタに接続される。
一実施例を示しており、細長い中空導体１２を具えてい
る。この中空導体１２の一方の端には絶縁プラグ１４が
あり、その同軸中心に導電性のプロービング・チップ１
６が配置され、絶縁プラグ１４の両方向に突き出て延び
ている。プロービング・チップ１６の中空導体１２の中
へ延びている部分は、弾性力が負荷された電気的コンタ
クト２０によって電気的に基板１８に接続される。基板
１８上には、電気試験プローブ１０を補償するための抵
抗、コンデンサなどの電気部品２２が装着されている。
導電性の歪緩衝アダプタ２４が基板１８の上に装着さ
れ、電気的に接続されているが、これにより基板１８は
グランドに接続される。また、歪緩衝アダプタ２４は中
空導体１２に挿入された基板１８を機械的に支持する働
きもする。伝送ケーブル２６は歪緩衝アダプタ２４に挿
入され、中空導体１２を歪緩衝アダプタ２４の周りでか
しめることにより中空導体１２内に保持される。サーモ
プラスチック、エラストマーなどの絶縁部材２８は、中
空導体１２の外側のほとんどの部分と伝送ケーブル２６
の一部を包むよう形作られ、伝送ケーブル２６の電気的
絶縁及び応力による歪の緩衝に役立つ。伝送ケーブル２
６の他端は、オシロスコープその他の試験装置などに接
続する適当な型のコネクタに接続される。
【０００８】伝送ケーブル２６は中心導体３０を持ち、
その周囲はポリプロピレン製の絶縁層３２が設けられ、
その周囲は外部シールド導体３４が設けられ、その周囲
はさらに外部絶縁層３６が設けられている。外部シール
ド導体３４は試験機器を通してグランドに接続される。
伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入するにあ
たっては、伝送ケーブル２６の外部絶縁層３６を取り除
き、外部シールド導体３４を露出させる。一般にワイヤ
を編んだものが使用される外部シールド導体３４を外部
絶縁層３６の周囲に折り返し、ポリプロピレンの絶縁層
３２を露出させる。さらに、絶縁層３２の一部を取り除
き、中心導体３０を露出させる。次に、外部シールド導
体３４の折り返し部分が歪緩衝アダプタ２４に収まるま
で、伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入す
る。歪緩衝アダプタ２４により、外部シールド導体３４
と基板１８が電気的に接続される。中心導体３０はろう
付けなど従来ある方法で基板１８と接続される。
その周囲はポリプロピレン製の絶縁層３２が設けられ、
その周囲は外部シールド導体３４が設けられ、その周囲
はさらに外部絶縁層３６が設けられている。外部シール
ド導体３４は試験機器を通してグランドに接続される。
伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入するにあ
たっては、伝送ケーブル２６の外部絶縁層３６を取り除
き、外部シールド導体３４を露出させる。一般にワイヤ
を編んだものが使用される外部シールド導体３４を外部
絶縁層３６の周囲に折り返し、ポリプロピレンの絶縁層
３２を露出させる。さらに、絶縁層３２の一部を取り除
き、中心導体３０を露出させる。次に、外部シールド導
体３４の折り返し部分が歪緩衝アダプタ２４に収まるま
で、伝送ケーブル２６を歪緩衝アダプタ２４に挿入す
る。歪緩衝アダプタ２４により、外部シールド導体３４
と基板１８が電気的に接続される。中心導体３０はろう
付けなど従来ある方法で基板１８と接続される。
【０００９】基板１８上の弾性力が負荷された電気的コ
ンタクト２０がプロービング・チップ１６と継合するま
で、基板１８は中空導体１２に挿入される。このとき、
中空導体１２内に基板１８を保持するために、中空導体
１２を導電性の緩衝アダプタ２４の周りでかしめる。中
空導体１２がかしめられることで、歪緩衝アダプタ２４
を通して外部シールド導体３４と中空導体１２が接続さ
れる。また、歪緩衝アダプタ２４に伝送ケーブルを保持
することで中心導体にかかる歪応力を緩衝する働きもす
る。
ンタクト２０がプロービング・チップ１６と継合するま
で、基板１８は中空導体１２に挿入される。このとき、
中空導体１２内に基板１８を保持するために、中空導体
１２を導電性の緩衝アダプタ２４の周りでかしめる。中
空導体１２がかしめられることで、歪緩衝アダプタ２４
を通して外部シールド導体３４と中空導体１２が接続さ
れる。また、歪緩衝アダプタ２４に伝送ケーブルを保持
することで中心導体にかかる歪応力を緩衝する働きもす
る。
【００１０】図２は本発明による導電性の歪緩衝アダプ
タ２４の斜視図を示している。歪緩衝アダプタ２４は、
図３に見られるような形をしたベリリウム銅の薄板３８
から作られる。薄板３８はおおよそ外形が円筒状の部材
４０に形作られ、基底４２と基底４２の反対側に隙間４
６とを持つアーチ型側面４４が延びている。円筒状部材
４０の基底４２から、ある角度を付けて平板部材４８が
延びており、さらにその先に基底４２とほぼ平行に平面
板５０が付いている。その反対の円筒状部材４０の端に
は、アーチ型側面４４から突縁部５２が突き出ている。
タ２４の斜視図を示している。歪緩衝アダプタ２４は、
図３に見られるような形をしたベリリウム銅の薄板３８
から作られる。薄板３８はおおよそ外形が円筒状の部材
４０に形作られ、基底４２と基底４２の反対側に隙間４
６とを持つアーチ型側面４４が延びている。円筒状部材
４０の基底４２から、ある角度を付けて平板部材４８が
延びており、さらにその先に基底４２とほぼ平行に平面
板５０が付いている。その反対の円筒状部材４０の端に
は、アーチ型側面４４から突縁部５２が突き出ている。
【００１１】歪緩衝アダプタ２４は、伝送ケーブル２６
を接続する前に、基板１８に表面実装される。図４には
回路板上に実装した代表的な基板の１例が示されてい
る。実際には多数の基板のパターンが大きな回路板部材
５４などの上に既知の回路板技術を用いて作られる。歪
緩衝アダプタ２４を受けるために、回路板５４上の各基
板１８の近辺にスロット５６があけられる。回路板５４
にあけられたスロット５６の中に、歪緩衝アダプタ２４
は配置され、歪緩衝アダプタ２４の平面板５０は、基板
１８上の対応するろう付けパッド５８上に置かれる。円
筒状部材４０にあるの突縁部５２は、回路板の上側に引
っかかってスロット５６の中にある歪緩衝アダプタ２４
を支えている。歪緩衝アダプタ２４の平面板５０をろう
付けパッド５８にろう付けするときには表面実装処理が
用いられる。ろう付け処理が終わると、突縁部５２は円
筒状部材４０の反対方向に曲げられるか、取り除かれ
る。
を接続する前に、基板１８に表面実装される。図４には
回路板上に実装した代表的な基板の１例が示されてい
る。実際には多数の基板のパターンが大きな回路板部材
５４などの上に既知の回路板技術を用いて作られる。歪
緩衝アダプタ２４を受けるために、回路板５４上の各基
板１８の近辺にスロット５６があけられる。回路板５４
にあけられたスロット５６の中に、歪緩衝アダプタ２４
は配置され、歪緩衝アダプタ２４の平面板５０は、基板
１８上の対応するろう付けパッド５８上に置かれる。円
筒状部材４０にあるの突縁部５２は、回路板の上側に引
っかかってスロット５６の中にある歪緩衝アダプタ２４
を支えている。歪緩衝アダプタ２４の平面板５０をろう
付けパッド５８にろう付けするときには表面実装処理が
用いられる。ろう付け処理が終わると、突縁部５２は円
筒状部材４０の反対方向に曲げられるか、取り除かれ
る。
【００１２】
【発明の効果】本発明では、歪緩衝アダプタを用いるこ
とで組立に必要な部品点数が減って構造が簡単になり、
製造コストも安くなる。また、歪緩衝アダプタは伝送ケ
ーブルにかかる歪応力を緩衝し、伝送ケーブル接続の信
頼性が向上する。
とで組立に必要な部品点数が減って構造が簡単になり、
製造コストも安くなる。また、歪緩衝アダプタは伝送ケ
ーブルにかかる歪応力を緩衝し、伝送ケーブル接続の信
頼性が向上する。
【図１】一部が切取図、一部が断面図である本発明の電
気試験プローブの側面図。
気試験プローブの側面図。
【図２】本発明の電気試験プローブに使われる歪緩衝ア
ダプタの斜視図。
ダプタの斜視図。
【図３】本発明の歪緩衝アダプタを組み立てるための部
材を平にした図。
材を平にした図。
【図４】本発明の回路板上に作られた基板に実装された
歪緩衝アダプタの斜視図。
歪緩衝アダプタの斜視図。
１０ 電気試験プローブ １２ 中空導体 １４ 絶縁プラグ １６ プロービング・チップ １８ 基板 ２０ コンタクト ２２ 電気部品 ２４ 歪緩衝アダプタ ２６ 伝送ケーブル ２８ 絶縁部材 ３０ 中心導体 ３２ 絶縁層 ３４ 外部シールド導体 ３６ 外部絶縁層 ３８ 薄板 ４０ 円筒状部材 ４２ 基底 ４４ アーチ型側面 ４６ 隙間 ４８ 平板部材 ５０ 平面板 ５２ 突縁部 ５４ 回路板 ５６ スロット ５８ ろう付けパッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き 審査官 谷山 稔男 (56)参考文献 実開 昭60−123665（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】細長い中空導体と、該中空導体内部に設け
られた回路基板と、互いに絶縁された中心導体と外部シ
ールド導体を有するケーブルの上記外部シールド導体を
上記回路基板及び中空導体に接続する導電性の歪緩衝ア
ダプタとを具え、該歪緩衝アダプタは上記中空導体及び
上記外部シールド導体間で圧着接続され、上記中心導体
の歪を緩衝することを特徴とする電気試験プローブ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US538344 | 1990-06-13 | ||
| US07/538,344 US5061892A (en) | 1990-06-13 | 1990-06-13 | Electrical test probe having integral strain relief and ground connection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04230865A JPH04230865A (ja) | 1992-08-19 |
| JPH0623784B2 true JPH0623784B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=24146534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3168675A Expired - Lifetime JPH0623784B2 (ja) | 1990-06-13 | 1991-06-13 | 電気試験プローブ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5061892A (ja) |
| EP (1) | EP0461391B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0623784B2 (ja) |
| DE (1) | DE69100677T2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| USD344681S (en) | 1992-04-07 | 1994-03-01 | Tektronix, Inc. | Head assembly for a switchable electrical test probe |
| US5220274A (en) * | 1992-04-07 | 1993-06-15 | Tektronix, Inc. | Surface mounted electrical switch and probe structure |
| DE4216261A1 (de) * | 1992-05-16 | 1993-11-18 | Pmk Mess Und Kommunikationstec | Tastkopf zur Überprüfung elektrischer Schaltungen |
| DE59611384D1 (de) * | 1996-12-20 | 2006-10-26 | Endress & Hauser Gmbh & Co Kg | Endkapsel für eine Seilsonde |
| US5951323A (en) * | 1997-09-05 | 1999-09-14 | California Institute Of Technology | Connector for semiconductor microelectrodes and flexible wiring |
| US6175080B1 (en) | 1999-04-28 | 2001-01-16 | Tektronix, Inc. | Strain relief, pull-strength termination with controlled impedance for an electrical cable |
| US6466000B1 (en) * | 2000-05-31 | 2002-10-15 | Tektronix, Inc. | Replaceable probe tip holder and measurement probe head |
| US6605934B1 (en) * | 2000-07-31 | 2003-08-12 | Lecroy Corporation | Cartridge system for a probing head for an electrical test probe |
| US6372991B1 (en) | 2000-09-13 | 2002-04-16 | Tektronix, Inc. | Crimpless strain relief termination for a coaxial cable |
| US20070173094A1 (en) * | 2003-10-16 | 2007-07-26 | Po-Chao Tan | Tail structure of electric wire |
| DE102006052748A1 (de) | 2006-08-14 | 2008-04-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Oszilloskop-Tastkopf |
| US7351908B2 (en) * | 2006-08-18 | 2008-04-01 | 3M Innovative Properties Company | Electrical power cable adaptor and method of use |
| KR100868635B1 (ko) * | 2007-05-16 | 2008-11-12 | 주식회사 동부하이텍 | 반도체 소자 검사 장치 |
| CN201252206Y (zh) * | 2008-05-07 | 2009-06-03 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器组件 |
| US8309852B2 (en) * | 2010-02-24 | 2012-11-13 | Honeywell International Inc. | Dual acting strain relief apparatus |
| TWI495880B (zh) * | 2013-12-31 | 2015-08-11 | Mpi Corp | Probe module |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2884597A (en) * | 1955-07-18 | 1959-04-28 | Bell Telephone Labor Inc | High impedance multiplier probe |
| US2883619A (en) * | 1956-02-29 | 1959-04-21 | Tektronix Inc | Electrical probe |
| US3141924A (en) * | 1962-03-16 | 1964-07-21 | Amp Inc | Coaxial cable shield braid terminators |
| US3315218A (en) * | 1965-01-22 | 1967-04-18 | Gen Electric | Electrical connector for coaxial cable |
| US3826981A (en) * | 1968-05-03 | 1974-07-30 | H Ross | Solid-state high impedance meter system |
| US3828298A (en) * | 1973-01-22 | 1974-08-06 | Amp Inc | Electrical terminal for a braided shield on a coaxial cable |
| US4209742A (en) * | 1976-10-13 | 1980-06-24 | Tektronix, Inc. | Modular probe system |
| US4461993A (en) * | 1981-09-21 | 1984-07-24 | Everett/Charles, Inc. | Low resistance electrical spring probe |
| GB2125236A (en) * | 1982-08-11 | 1984-02-29 | Tektronix Inc | Stress-isolating electrical connections |
| US4597622A (en) * | 1985-03-25 | 1986-07-01 | Qa Technology Company | Electrical connector for electrical circuit test probe and connector |
-
1990
- 1990-06-13 US US07/538,344 patent/US5061892A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-05-07 EP EP91107389A patent/EP0461391B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-05-07 DE DE91107389T patent/DE69100677T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-06-13 JP JP3168675A patent/JPH0623784B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04230865A (ja) | 1992-08-19 |
| EP0461391B1 (en) | 1993-11-24 |
| EP0461391A1 (en) | 1991-12-18 |
| US5061892A (en) | 1991-10-29 |
| DE69100677T2 (de) | 1994-04-28 |
| DE69100677D1 (de) | 1994-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3357650B2 (ja) | 終端装置及びプローブ・ヘッド | |
| US4734046A (en) | Coaxial converter with resilient terminal | |
| KR100855208B1 (ko) | 고성능 테스터 인터페이스 모듈 | |
| JPH0623784B2 (ja) | 電気試験プローブ | |
| JP2708474B2 (ja) | フラットケーブル用コネクタ | |
| JP3172690B2 (ja) | 測定装置と試験リードとの接続装置 | |
| WO2008072322A1 (ja) | 同軸ケーブルユニット、及び試験装置 | |
| JP2009537828A (ja) | マルチ・チャネル信号取込みプローブ | |
| JPH0127101Y2 (ja) | ||
| JP2002203645A (ja) | ケーブルコネクタ | |
| JPH0353476A (ja) | 同軸接触子 | |
| KR101938985B1 (ko) | 동축 케이블 커넥터 및 동축 케이블 접속 방법 | |
| EP0177809A1 (en) | Coaxial connector arrangement | |
| WO1986005035A1 (en) | Coaxial cable terminator | |
| JPH0812209B2 (ja) | テストプローブ | |
| WO2008123652A1 (en) | Coaxial connecting system and coaxial connecting device | |
| US5624278A (en) | Electric wire connector coaxial cable connector and coaxial connector apparatus | |
| JP2001153885A (ja) | プローブカード | |
| JP3190885B2 (ja) | 高周波プローブの先端構造 | |
| JPS6023898Y2 (ja) | 同軸ケ−ブルの接続部の構造 | |
| JPH0613132A (ja) | コネクタ | |
| JPH02210780A (ja) | ソケット | |
| JPH10312863A (ja) | 電気コネクタ | |
| JPH0515356U (ja) | コネクタ | |
| JPS63231887A (ja) | 同軸ケ−ブルの取付け構造 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080330 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090330 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330 Year of fee payment: 17 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330 Year of fee payment: 18 |