JPH06214034A - ダスト放射線モニタ - Google Patents
ダスト放射線モニタInfo
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- JPH06214034A JPH06214034A JP482593A JP482593A JPH06214034A JP H06214034 A JPH06214034 A JP H06214034A JP 482593 A JP482593 A JP 482593A JP 482593 A JP482593 A JP 482593A JP H06214034 A JPH06214034 A JP H06214034A
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- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、ダスト放射能濃度の測定対象核種以
外の妨害となる放射能濃度を除去し、安定で確実にプロ
セス配管リークが検知できるモニタを提供する。 【構成】濾紙(11)に捕集された放射能から放出されるβ
線をβ線検出器(20)により検出し、γ線をγ線検出器(2
1)により検出し、このうちβ線検出器(20)の出力パルス
をβ線用ダスト濃度測定部(22)により計数してダスト放
射能濃度を求め、γ線検出器の出力を核種分析部(23)に
より計数してダスト放射能濃度に対する妨害放射能濃度
を求める。そして、上記ダスト放射能濃度を測定妨害核
種成分補正部(24)により妨害放射能濃度を用いて補正し
ダスト放射能濃度を求める。
外の妨害となる放射能濃度を除去し、安定で確実にプロ
セス配管リークが検知できるモニタを提供する。 【構成】濾紙(11)に捕集された放射能から放出されるβ
線をβ線検出器(20)により検出し、γ線をγ線検出器(2
1)により検出し、このうちβ線検出器(20)の出力パルス
をβ線用ダスト濃度測定部(22)により計数してダスト放
射能濃度を求め、γ線検出器の出力を核種分析部(23)に
より計数してダスト放射能濃度に対する妨害放射能濃度
を求める。そして、上記ダスト放射能濃度を測定妨害核
種成分補正部(24)により妨害放射能濃度を用いて補正し
ダスト放射能濃度を求める。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設内のダスト
放射能濃度を測定するダスト放射線モニタに関する。
放射能濃度を測定するダスト放射線モニタに関する。
【0002】
【従来の技術】図8はダスト放射線モニタの全体構成図
である。原子力施設内の部屋1は、コンクリートから成
る壁2により囲まれている。この部屋1内には、プロセ
ス配管3が配設されている。又、部屋1内には、換気栓
4が設けられ、これに換気ダクト5が接続され、排風機
6の排風作用により部屋1内の空気が室外のスタック7
に送られるようになっている。
である。原子力施設内の部屋1は、コンクリートから成
る壁2により囲まれている。この部屋1内には、プロセ
ス配管3が配設されている。又、部屋1内には、換気栓
4が設けられ、これに換気ダクト5が接続され、排風機
6の排風作用により部屋1内の空気が室外のスタック7
に送られるようになっている。
【0003】一方、部屋1内にはダストモニタのサンプ
リング管8が配設され、このサンプリング管8がダスト
放射線モニタ9に配管され、さらに換気ダクト5に連通
している。そして、サンプリング管8に設けられたサン
プリングポンプ(吸引ポンプ)10により部屋1内の空
気が吸引されて換気ダクト5に送られている。
リング管8が配設され、このサンプリング管8がダスト
放射線モニタ9に配管され、さらに換気ダクト5に連通
している。そして、サンプリング管8に設けられたサン
プリングポンプ(吸引ポンプ)10により部屋1内の空
気が吸引されて換気ダクト5に送られている。
【0004】このダスト放射線モニタ9は、図9に示す
ようにサンプリング管8内に濾紙11を配置し、かつこ
の濾紙11の上方にβ線検出器12を設置したものとな
っている。これにより、サンプリングされた部屋1内の
空気は濾紙11を通過し、このときに空気中の放射能に
汚染された塵が濾紙11に捕集される。
ようにサンプリング管8内に濾紙11を配置し、かつこ
の濾紙11の上方にβ線検出器12を設置したものとな
っている。これにより、サンプリングされた部屋1内の
空気は濾紙11を通過し、このときに空気中の放射能に
汚染された塵が濾紙11に捕集される。
【0005】従って、β線検出器12は濾紙11に捕集
された放射能から放出される全β線を検出する。測定部
13は、β線検出器12の出力パルスを計数し、かつ放
射能が捕集されていないときの計数率(バックグラウン
ド計数率:BG計数率)を差し引いて真のダスト放射能
濃度を算出する。そして、このダスト放射能濃度は、指
示部14において指示される。
された放射能から放出される全β線を検出する。測定部
13は、β線検出器12の出力パルスを計数し、かつ放
射能が捕集されていないときの計数率(バックグラウン
ド計数率:BG計数率)を差し引いて真のダスト放射能
濃度を算出する。そして、このダスト放射能濃度は、指
示部14において指示される。
【0006】ここで、原子力施設の部屋1の空気中で測
定すべき放射能は、プロセス配管3からリークされる希
ガス(88Kr、 138Xe)の娘核種(88Rb、 138C
s)などある。
定すべき放射能は、プロセス配管3からリークされる希
ガス(88Kr、 138Xe)の娘核種(88Rb、 138C
s)などある。
【0007】ところが、原子力施設の部屋1でサンプリ
ングされる放射能には、この希ガス(88Kr、 138X
e)の娘核種(88Rb、 138Cs)などの他に、定常存
在核種(60Co、54Mn)、及び壁2から放出される
222Rnの娘核種群( 214Po、 214Pb等)などの核種
が含まれている。
ングされる放射能には、この希ガス(88Kr、 138X
e)の娘核種(88Rb、 138Cs)などの他に、定常存
在核種(60Co、54Mn)、及び壁2から放出される
222Rnの娘核種群( 214Po、 214Pb等)などの核種
が含まれている。
【0008】これらの核種は、β線を放出するので、
222Rnの娘核種(88Rb、 138Cs)と分離すること
が困難なため測定上の妨害核種となっている。さらに、
この妨害核種である 222Rnの娘核種群( 214Po、
214Pb等)は、原子力施設の部屋1内の換気の動作や
天候、時刻等により変動するので、配管リークが発生し
ていないのに、レベルが上昇し、誤ってリークしたと判
断してしまうことがある。
222Rnの娘核種(88Rb、 138Cs)と分離すること
が困難なため測定上の妨害核種となっている。さらに、
この妨害核種である 222Rnの娘核種群( 214Po、
214Pb等)は、原子力施設の部屋1内の換気の動作や
天候、時刻等により変動するので、配管リークが発生し
ていないのに、レベルが上昇し、誤ってリークしたと判
断してしまうことがある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上のようにダスト放
射能濃度には、妨害核種である 222Rnの娘核種群(
214Po、 214Pb等)が含まれ、ダスト放射能濃度の
測定誤差の原因となっている。
射能濃度には、妨害核種である 222Rnの娘核種群(
214Po、 214Pb等)が含まれ、ダスト放射能濃度の
測定誤差の原因となっている。
【0010】そこで本発明は、ダスト放射能濃度の妨害
核種成分を除去し、安定で確実にプロセス配管リークを
検知できるダスト放射線モニタを提供することを目的と
する。
核種成分を除去し、安定で確実にプロセス配管リークを
検知できるダスト放射線モニタを提供することを目的と
する。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、気体をサンプ
リングして濾紙に通し、この濾紙に捕集された放射能の
放射線を検出してダスト放射能濃度を測定するダスト放
射線モニタにおいて、
リングして濾紙に通し、この濾紙に捕集された放射能の
放射線を検出してダスト放射能濃度を測定するダスト放
射線モニタにおいて、
【0012】濾紙に捕集された放射能から放出されるβ
線を検出するβ線検出器と、濾紙に捕集された放射能か
ら放出されるγ線を検出するγ線検出器と、β線検出器
の出力を計数してダスト放射能濃度を求めるダスト濃度
測定手段と、γ線検出器の出力を計数してダスト放射能
濃度に対する妨害放射能濃度を求める核種分析手段と、
ダスト濃度測定手段により求められたダスト放射能濃度
を妨害放射能濃度により補正する補正手段とを備えて上
記目的を達成しようとするダスト放射線モニタである。
線を検出するβ線検出器と、濾紙に捕集された放射能か
ら放出されるγ線を検出するγ線検出器と、β線検出器
の出力を計数してダスト放射能濃度を求めるダスト濃度
測定手段と、γ線検出器の出力を計数してダスト放射能
濃度に対する妨害放射能濃度を求める核種分析手段と、
ダスト濃度測定手段により求められたダスト放射能濃度
を妨害放射能濃度により補正する補正手段とを備えて上
記目的を達成しようとするダスト放射線モニタである。
【0013】
【作用】このような手段を備えたことにより、濾紙に捕
集された放射能から放出されるβ線をβ線検出器により
検出すると共にγ線をγ線検出器により検出し、このう
ちβ線検出器の出力をダスト濃度測定手段により計数し
てダスト放射能濃度を求め、又、γ線検出器の出力を核
種分析手段により計数してダスト放射能濃度に対する妨
害放射能濃度を求める。そして、上記ダスト放射能濃度
を補正手段により妨害放射能濃度で補正することによっ
て変動要素を除去したダスト放射能濃度を求める。
集された放射能から放出されるβ線をβ線検出器により
検出すると共にγ線をγ線検出器により検出し、このう
ちβ線検出器の出力をダスト濃度測定手段により計数し
てダスト放射能濃度を求め、又、γ線検出器の出力を核
種分析手段により計数してダスト放射能濃度に対する妨
害放射能濃度を求める。そして、上記ダスト放射能濃度
を補正手段により妨害放射能濃度で補正することによっ
て変動要素を除去したダスト放射能濃度を求める。
【0014】
【実施例】以下、本発明の第1実施例について図面を参
照して説明する。なお、図8と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略する。
照して説明する。なお、図8と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略する。
【0015】図1は原子力施設内の部屋に適用したダス
ト放射線モニタの構成図である。濾紙11の上方にはβ
線検出器20が配置され、又、濾紙11の下方にはγ線
検出器21が配置されている。これら検出器20、21
のうちβ線検出器20にはβ線用ダスト濃度測定部22
が接続され、又、γ線検出器21には核種分析部23が
接続されている。
ト放射線モニタの構成図である。濾紙11の上方にはβ
線検出器20が配置され、又、濾紙11の下方にはγ線
検出器21が配置されている。これら検出器20、21
のうちβ線検出器20にはβ線用ダスト濃度測定部22
が接続され、又、γ線検出器21には核種分析部23が
接続されている。
【0016】β線用ダスト濃度測定部22は、図2に示
すダスト濃度測定流れ図に従って動作するもので、濾紙
11に放射能が捕集されていないときのBG計数率を予
め求め、β線検出器20の出力パルスのうち弁別設定値
よりも高いパルスを計数し、この計数率からBG計数率
を差し引いてダスト放射能濃度を求める機能を有してい
る。
すダスト濃度測定流れ図に従って動作するもので、濾紙
11に放射能が捕集されていないときのBG計数率を予
め求め、β線検出器20の出力パルスのうち弁別設定値
よりも高いパルスを計数し、この計数率からBG計数率
を差し引いてダスト放射能濃度を求める機能を有してい
る。
【0017】核種分析部23は、図3に示す妨害放射能
測定流れ図に従って動作するもので、γ線検出器21の
出力パルスを計数し、妨害核種となるγ線エネルギーに
相当する波高値に光電ピークが発生するかを監視し、光
電ピークが発生していればそのピーク面積から妨害放射
能濃度を求める機能を有している。
測定流れ図に従って動作するもので、γ線検出器21の
出力パルスを計数し、妨害核種となるγ線エネルギーに
相当する波高値に光電ピークが発生するかを監視し、光
電ピークが発生していればそのピーク面積から妨害放射
能濃度を求める機能を有している。
【0018】又、測定妨害核種成分補正部24は、β線
用ダスト濃度測定部22により求めたダスト放射能濃度
から核種分析部23により求めた妨害放射能濃度を差引
き補正して妨害核種の変動要素を除去したダスト放射能
濃度を求める機能を有している。次に上記の如く構成さ
れたモニタの作用について説明する。
用ダスト濃度測定部22により求めたダスト放射能濃度
から核種分析部23により求めた妨害放射能濃度を差引
き補正して妨害核種の変動要素を除去したダスト放射能
濃度を求める機能を有している。次に上記の如く構成さ
れたモニタの作用について説明する。
【0019】濾紙11がサンプリング管8に配置される
と、β線検出器20は、放射能を捕集してない濾紙11
から放出されるβ線を検出し、それに応じたパルスを出
力する。この状態にβ線用ダスト濃度測定部22は、図
2のステップ#1においてβ線検出器20から出力され
るパルスを計数してBG計数率を求める。
と、β線検出器20は、放射能を捕集してない濾紙11
から放出されるβ線を検出し、それに応じたパルスを出
力する。この状態にβ線用ダスト濃度測定部22は、図
2のステップ#1においてβ線検出器20から出力され
るパルスを計数してBG計数率を求める。
【0020】次にサンプリングポンプ10の動作により
サンプリングされた部屋1内の空気は濾紙11を通過
し,このときに空気中の放射能に汚染された塵が濾紙1
1に捕集される。
サンプリングされた部屋1内の空気は濾紙11を通過
し,このときに空気中の放射能に汚染された塵が濾紙1
1に捕集される。
【0021】この状態に、β線検出器20は濾紙11に
捕集された放射能から放出される全β線を検出し、それ
に応じたパルスを出力する。この場合、β線は単一エネ
ルギーではないので、β線検出器20の出力波高分布は
図4に示す如くとなる。
捕集された放射能から放出される全β線を検出し、それ
に応じたパルスを出力する。この場合、β線は単一エネ
ルギーではないので、β線検出器20の出力波高分布は
図4に示す如くとなる。
【0022】β線用ダスト濃度測定部22は、ステップ
#2においてβ線検出器20から出力されるパルスのう
ち図4に示す弁別設定値Qよりも高いパルス(A部分及
びB部分)を計数する。なお、B部分がBG計数率とな
る。
#2においてβ線検出器20から出力されるパルスのう
ち図4に示す弁別設定値Qよりも高いパルス(A部分及
びB部分)を計数する。なお、B部分がBG計数率とな
る。
【0023】次にβ線用ダスト濃度測定部22は、ステ
ップ#3において弁別設定値Qよりも高いパルスの計数
率からBG計数率を差し引くことによりA部分の計数率
(NET計数率)を求め、これに係数Kを乗算してダス
ト放射能濃度Sを求める。ダスト放射能濃度を求める場
合、単に係数Kを乗算するだけでなく、半減期補正を加
えてもよい。なお、このダスト放射能濃度Sには、妨害
核種である 222Rnの娘核種群( 214Po、 214Pb
等)の濃度も含まれている。
ップ#3において弁別設定値Qよりも高いパルスの計数
率からBG計数率を差し引くことによりA部分の計数率
(NET計数率)を求め、これに係数Kを乗算してダス
ト放射能濃度Sを求める。ダスト放射能濃度を求める場
合、単に係数Kを乗算するだけでなく、半減期補正を加
えてもよい。なお、このダスト放射能濃度Sには、妨害
核種である 222Rnの娘核種群( 214Po、 214Pb
等)の濃度も含まれている。
【0024】次にβ線用ダスト濃度測定部22は、ステ
ップ#4においてダスト放射能濃度の測定をn回だけ求
めたかを判断し、n回求めれば濾紙11を新たなものに
交換する。
ップ#4においてダスト放射能濃度の測定をn回だけ求
めたかを判断し、n回求めれば濾紙11を新たなものに
交換する。
【0025】一方、γ線検出器21は、濾紙11に捕集
された放射能から放出される全γ線を検出する。この場
合、γ線検出器21の出力波高分布は図5に示す如くと
なる。
された放射能から放出される全γ線を検出する。この場
合、γ線検出器21の出力波高分布は図5に示す如くと
なる。
【0026】核種分析部23は、ステップ#10におい
てγ線検出器21の出力パルスのうち、妨害核種となる
γ線エネルギーに相当するパルス(A´部分、B´部分
及びC´部分)を計数し、次のステップ#11において
γ線エネルギーに相当する波高値に光電ピークが発生す
るかを監視する。
てγ線検出器21の出力パルスのうち、妨害核種となる
γ線エネルギーに相当するパルス(A´部分、B´部分
及びC´部分)を計数し、次のステップ#11において
γ線エネルギーに相当する波高値に光電ピークが発生す
るかを監視する。
【0027】この光電ピークの監視により光電ピークが
発生していれば、核種分析部23は、ステップ#12に
おいてそのピーク面積A´を求め、次のステップ#13
において妨害放射能濃度S´を求める。
発生していれば、核種分析部23は、ステップ#12に
おいてそのピーク面積A´を求め、次のステップ#13
において妨害放射能濃度S´を求める。
【0028】次に測定妨害核種成分補正部24は、β線
用ダスト濃度測定部22により求めたダスト放射能濃度
Sから核種分析部23により求めた妨害放射能濃度S´
を差引き補正して妨害核種の変動要素を除去したダスト
放射能濃度を求める。そして、このダスト放射能濃度
は、指示部14に指示される。
用ダスト濃度測定部22により求めたダスト放射能濃度
Sから核種分析部23により求めた妨害放射能濃度S´
を差引き補正して妨害核種の変動要素を除去したダスト
放射能濃度を求める。そして、このダスト放射能濃度
は、指示部14に指示される。
【0029】このように上記第1実施例においては、濾
紙11に捕集された放射能から放出されるβ線をβ線検
出器20により検出してダスト放射能濃度を求め、一
方、γ線をγ線検出器21により検出して妨害放射能濃
度を求め、ダスト放射能濃度を妨害放射能濃度で補正す
ることによって変動要素を除去したダスト放射能濃度を
求めるようにしたので、妨害核種である 222Rnの娘核
種群( 214Po、 214Pb等)の濃度を除去した正確な
ダスト放射能濃度を求めることができる。これにより、
ダスト放射能濃度が、プラント配管3のリークにより上
昇したのか、妨害核種の変動により上昇したのかが確実
に捕まえることができ、確実にプラントの異常のみを検
出してそれに対処できる。次に本発明の第2実施例につ
いて説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。
紙11に捕集された放射能から放出されるβ線をβ線検
出器20により検出してダスト放射能濃度を求め、一
方、γ線をγ線検出器21により検出して妨害放射能濃
度を求め、ダスト放射能濃度を妨害放射能濃度で補正す
ることによって変動要素を除去したダスト放射能濃度を
求めるようにしたので、妨害核種である 222Rnの娘核
種群( 214Po、 214Pb等)の濃度を除去した正確な
ダスト放射能濃度を求めることができる。これにより、
ダスト放射能濃度が、プラント配管3のリークにより上
昇したのか、妨害核種の変動により上昇したのかが確実
に捕まえることができ、確実にプラントの異常のみを検
出してそれに対処できる。次に本発明の第2実施例につ
いて説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。
【0030】図6はダスト放射線モニタの構成図であ
る。β線検出器20は、サンプリング管8の内部に配置
され、γ線検出器21はサンプリング管8の外部に配置
されている。
る。β線検出器20は、サンプリング管8の内部に配置
され、γ線検出器21はサンプリング管8の外部に配置
されている。
【0031】これらβ線検出器20とγ線検出器21と
の間には、濾紙搬送機構30の各ローラ31が配置され
るとともに、これらローラ31間に濾紙切断機構32が
設けられている。
の間には、濾紙搬送機構30の各ローラ31が配置され
るとともに、これらローラ31間に濾紙切断機構32が
設けられている。
【0032】又、制御装置33は、濾紙搬送機構30及
び濾紙切断機構32の各動作を制御すると共に、β線用
ダスト濃度測定部22、各種分析部23及び測定妨害核
種成分補正部24の演算タイミングを制御する機能を有
している。次に上記の如く構成されたモニタの作用につ
いて図7に示すダスト濃度測定流れ図に従って説明す
る。
び濾紙切断機構32の各動作を制御すると共に、β線用
ダスト濃度測定部22、各種分析部23及び測定妨害核
種成分補正部24の演算タイミングを制御する機能を有
している。次に上記の如く構成されたモニタの作用につ
いて図7に示すダスト濃度測定流れ図に従って説明す
る。
【0033】制御装置33は、ステップ#20において
濾紙搬送機構30に濾紙供給の指令を送出する。これに
より、濾紙搬送機構30は、濾紙11をサンプリング管
8内のβ線検出器20の下方に配置する。次に制御装置
33は、ステップ#21においてβ線用ダスト濃度測定
部22に対して測定指令を送出する。
濾紙搬送機構30に濾紙供給の指令を送出する。これに
より、濾紙搬送機構30は、濾紙11をサンプリング管
8内のβ線検出器20の下方に配置する。次に制御装置
33は、ステップ#21においてβ線用ダスト濃度測定
部22に対して測定指令を送出する。
【0034】このβ線用ダスト濃度測定部22は、上記
の如くβ線検出器20から出力されるパルスのうち弁別
設定値Qよりも高いパルスを計数し、この計数率からB
G計数率を差し引くことによりNET計数率を求め、こ
れに係数Kを乗算してダスト放射能濃度Sを求める。な
お、BG計数率は、上記第1実施例と同様に予め求めら
れる。
の如くβ線検出器20から出力されるパルスのうち弁別
設定値Qよりも高いパルスを計数し、この計数率からB
G計数率を差し引くことによりNET計数率を求め、こ
れに係数Kを乗算してダスト放射能濃度Sを求める。な
お、BG計数率は、上記第1実施例と同様に予め求めら
れる。
【0035】次に制御装置33は、ステップ#22にお
いて濾紙切断機構32に切断指令を発し、続いてステッ
プ#23において濾紙搬送機構30に搬送指令を発す
る。これにより、濾紙切断機構32は濾紙11を切断
し、続いて制御装置33は濾紙11を搬送してγ線検出
器21の上方に配置する。
いて濾紙切断機構32に切断指令を発し、続いてステッ
プ#23において濾紙搬送機構30に搬送指令を発す
る。これにより、濾紙切断機構32は濾紙11を切断
し、続いて制御装置33は濾紙11を搬送してγ線検出
器21の上方に配置する。
【0036】次に制御装置33は、ステップ#24、#
25に移って核種分析部23に測定指令を発する。この
核種分析部23は、上記同様にγ線検出器21の出力パ
ルスのうち、妨害核種となるγ線エネルギーに相当する
パルスを計数して光電ピークが発生するかを監視し、こ
の光電ピーク発生していれば、そのピーク面積A´から
妨害放射能濃度S´を求める。
25に移って核種分析部23に測定指令を発する。この
核種分析部23は、上記同様にγ線検出器21の出力パ
ルスのうち、妨害核種となるγ線エネルギーに相当する
パルスを計数して光電ピークが発生するかを監視し、こ
の光電ピーク発生していれば、そのピーク面積A´から
妨害放射能濃度S´を求める。
【0037】次に制御装置33は、ステップ#26にお
いて測定妨害核種成分補正部24に補正指令を発する。
この測定妨害核種成分補正部24は、β線用ダスト濃度
測定部22により求めたダスト放射能濃度Sから核種分
析部23により求めた妨害放射能濃度S´を差引き補正
して妨害核種の変動要素を除去したダスト放射能濃度を
求め、これを指示部14に指示する。
いて測定妨害核種成分補正部24に補正指令を発する。
この測定妨害核種成分補正部24は、β線用ダスト濃度
測定部22により求めたダスト放射能濃度Sから核種分
析部23により求めた妨害放射能濃度S´を差引き補正
して妨害核種の変動要素を除去したダスト放射能濃度を
求め、これを指示部14に指示する。
【0038】このように上記第2実施例によれば、上記
第1実施例と同様の効果を奏することができる他、サン
プリング管8における濾紙11を配置する集塵部の構造
を簡素にできる。
第1実施例と同様の効果を奏することができる他、サン
プリング管8における濾紙11を配置する集塵部の構造
を簡素にできる。
【0039】なお、本発明は上記各実施例に限定される
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよ
い。例えば、β線とγ線とを両方測定し、γ線の核種分
析結果から求めた妨害成分をβ線測定結果から除去する
という要旨を逸脱しなければ、その範囲で変形してもよ
い。
ものでなくその要旨を変更しない範囲で変形してもよ
い。例えば、β線とγ線とを両方測定し、γ線の核種分
析結果から求めた妨害成分をβ線測定結果から除去する
という要旨を逸脱しなければ、その範囲で変形してもよ
い。
【0040】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、ダ
スト放射能濃度の妨害核種放射能による測定誤差を除去
し、安定で確実にプロセス配管リークを検知できるダス
ト放射線モニタを提供できる。
スト放射能濃度の妨害核種放射能による測定誤差を除去
し、安定で確実にプロセス配管リークを検知できるダス
ト放射線モニタを提供できる。
【図1】本発明に係わるダスト放射線モニタの第1実施
例を示す構成図。
例を示す構成図。
【図2】同放射線モニタにおけるダスト濃度測定流れ
図。
図。
【図3】同放射線モニタにおける妨害放射能測定流れ
図。
図。
【図4】同放射線モニタにおけるβ線検出器の出力波高
分布図。
分布図。
【図5】同放射線モニタにおけるγ線検出器の出力波高
分布図。
分布図。
【図6】本発明に係わるダスト放射線モニタの第2実施
例を示す構成図。
例を示す構成図。
【図7】同放射線モニタにおけるダスト濃度測定流れ
図。
図。
【図8】同放射線モニタを適用する原子力施設の構成
図。
図。
【図9】従来ダスト放射線モニタの構成図。
1…原子力施設内部屋、2…壁、3…プロセス配管、4
…換気栓、5…換気ダクト、6…排風機、7…スタッ
ク、8…サンプリング管、10…サンプリングポンプ、
11…濾紙、20…β線検出器、21…γ線検出器、2
2…β線用ダスト濃度測定部、23…核種分析部、24
…測定妨害核種成分補正部、30…濾紙搬送機構、31
…ローラ、32…濾紙切断機構、33…制御装置。
…換気栓、5…換気ダクト、6…排風機、7…スタッ
ク、8…サンプリング管、10…サンプリングポンプ、
11…濾紙、20…β線検出器、21…γ線検出器、2
2…β線用ダスト濃度測定部、23…核種分析部、24
…測定妨害核種成分補正部、30…濾紙搬送機構、31
…ローラ、32…濾紙切断機構、33…制御装置。
Claims (1)
- 【請求項1】 気体をサンプリングして濾紙に通し、こ
の濾紙に捕集された放射能の放射線を検出してダスト放
射能濃度を測定するダスト放射線モニタにおいて、 前記濾紙に捕集された放射能から放出されるβ線を検出
するβ線検出器と、前記濾紙に捕集された放射能から放
出されるγ線を検出するγ線検出器と、前記β線検出器
の出力を計数してダスト放射能濃度を求めるダスト濃度
測定手段と、前記γ線検出器の出力を計数して前記ダス
ト放射能濃度に対する妨害放射能濃度を求める核種分析
手段と、前記ダスト濃度測定手段により求められたダス
ト放射能濃度を前記妨害放射能濃度により補正する補正
手段とを具備したことを特徴とするダスト放射線モニ
タ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP482593A JPH06214034A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | ダスト放射線モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP482593A JPH06214034A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | ダスト放射線モニタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06214034A true JPH06214034A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11594485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP482593A Pending JPH06214034A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | ダスト放射線モニタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06214034A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006090963A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Toshiba Corp | 放射性ダストモニタ |
CN104216002A (zh) * | 2014-09-03 | 2014-12-17 | 北京市射线应用研究中心 | 一种α、β、γ放射性气溶胶连续取样测量装置 |
KR20190045584A (ko) * | 2017-10-24 | 2019-05-03 | 한국원자력연구원 | 방사능 측정장치 |
JP2020165807A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 放射性物質検知装置、放射性物質検知方法 |
-
1993
- 1993-01-14 JP JP482593A patent/JPH06214034A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006090963A (ja) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Toshiba Corp | 放射性ダストモニタ |
JP4709515B2 (ja) * | 2004-09-27 | 2011-06-22 | 株式会社東芝 | 放射性ダストモニタ |
CN104216002A (zh) * | 2014-09-03 | 2014-12-17 | 北京市射线应用研究中心 | 一种α、β、γ放射性气溶胶连续取样测量装置 |
KR20190045584A (ko) * | 2017-10-24 | 2019-05-03 | 한국원자력연구원 | 방사능 측정장치 |
JP2020165807A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 放射性物質検知装置、放射性物質検知方法 |
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