JPH06160197A - パルス試験器およびこれを用いた光損失測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光導波路の光損失測定をパルス試験器により
測定できると同時に、安価でかつ作業工数を減らせる。 【構成】 まず、パルス試験器１のパルス試験器口元２
に第１の標準反射器３を接続する。そして、パルス試験
器１により第１の標準反射器３の反射波形を測定し、ピ
ーク値を記録する。次いで、第１の標準反射器３に換え
て、パルス試験器口元２に被測定光ファイバ部５を接続
した後、被測定光ファイバ部５の光源出射端に第２の標
準反射器４を接続する。そして、このときパルス試験器
１により第２の標準反射器３の反射波形３を測定し、ピ
ーク値を記録する。以上、測定した各ピーク値の差を求
めることで、パルス試験器による被測定光ファイバの光
損失が求まる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業の利用分野】本発明は、光ファイバなどの光導波
路の光損失測定方法およびその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ファイバおよび光ファイバを用
いた光導波路の光損失を測定する場合、光源とパワーメ
ータを用いて測定する方法が一般的である。

【０００３】図７および図８は、従来の光パワーメータ
を用いた光損失測定方法を説明するための図である。

【０００４】図７に示すように、まず、図７（ａ）に示
すように光源１０１の光源口元１０２における光源出力
を光パワーメータ１０３により測定し、その値を基準値
（０ｄＢ）とする。次いで図７（ｂ）に示すように、光
源口元１０２（測定点Ａ）に被測定光ファイバ１０４を
接続し、被測定光ファイバ１０４の出射端側である測定
点Ｂに光パワーメータ１０３を移動する。そして、測定
点Ｂにて光源からの出力を測定する。

【０００５】このような測定をする場合、被測定光ファ
イバ１０４がボビンなどで巻いてあり、測定点Ａと測定
点Ｂとの距離が近い場合は大変便利である。しかし、被
測定光ファイバが敷設されている場合、測定点ＡＢ間の
距離が必然と離れるので、作業者は測定点Ａでの測定が
終った後に測定点Ｂへ光パワーメータ１０３を持って移
動しなければなれない。また、移動の際に時間がかかる
ので、光源出力が時間的に変動してしまう恐れがある。

【０００６】２点間が離れている測定において、図８に
示すような２台の光パワーメータをそれぞれ測定点Ａと
測定点Ｂに１台ずつ配置する方法がある。図８（ａ）に
示すように、まず光源２０１の光源口元２０２における
光源出力を第１の光パワーメータ２０３で測定する。次
いで図８（ｂ）に示すように、第１の光パワーメータ２
０３に換えて、光源口元２０２（測定点Ａ）に被測定光
ファイバ２０５を接続する。そして、被測定光ファイバ
２０５の出射端側である測定点Ｂで光源からの出力を第
２の光パワーメータ２０４で測定する。このとき、電話
回線または光通話機などの連絡手段を用い、一方の測定
値を他方の作業者に連絡する。そして、測定点Ｂにおけ
る測定値から測定点Ａにおける測定値を引き算して、離
れた２点間における光ファイバの損失結果を求める。こ
の方法の場合、各光パワーメータが校正されていれば、
短時間で測定ができる。

【０００７】ところで、光ファイバ敷設時には、一般に
上述のような光パワーメータと光源とを用いた光損失測
定と同時に、コネクタや融着などの接続点における異常
および光損失分布の傾向を見るためにパルス試験器を用
いた測定が併用されることが知られている。

【０００８】図９は従来のパルス試験器の制御系を示し
た図である。図１０は従来のパルス試験器を用いて光フ
ァイバを測定した結果を示した図である。

【０００９】図１０（ａ）に示すように、パルス試験器
３０１の被測定光ファイバ接続口３０２に光ファイバを
接続し、パルス光を被測定光ファイバ部接続口３０２に
入射させ伝搬させると、コア内の微小な屈折率のゆらぎ
によってレイリー散乱光の一部が光源入射端Ａに戻って
くる。これを後方散乱光という。また、コネクタや融着
などの接続点（コネクタ接続点Ｃ、融着点Ｄ，Ｅ）およ
び端末（光源出射端Ｂ）もしくは破断点では急峻な屈折
率変化があるため、大きな反射光（フレネル反射光）が
生じる。後方散乱光およびフレネル反射光は、反射点ま
での距離に比例した時間経過後に光源入射端Ａに戻って
くる。このようにして戻ってきた光を図９に示すパルス
試験器３０１内の光方向性結合器により分離した後、光
電変換器により電気信号に変換すると図１０（ｂ）に示
すような波形が得られる。この波形をもとに光ファイバ
からの後方散乱光およびフレネル反射光を測定し、障害
点の位置および光ファイバの光損失分布を観察すること
ができる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように光ファイバなどの光導波路の光損失測定には光パ
ワーメータが用いられ、光パルス試験器は用いられない
のが現状である。それは、以下のような理由による。

【００１１】図１０において、光源入射端Ａの後方散乱
光量ａと光源出射端Ｂの後方散乱光量ｂとの差を求めれ
ば、ほぼ光ファイバの光損失を表わしている。しかし、
光源入射端Ａでは、被測定光ファイバ接続口と光ファイ
バとのコネクタ接続によるフレネル反射が生じるため、
後方散乱光量ａ’のように後方散乱光量が実際よりも上
がってしまう。このため、光源入射端Ａにおける実際の
後方散乱光量は測定できないという問題点がある。

【００１２】また、被測定光ファイバ部３１０途中にこ
れと後方散乱係数の異なる光ファイバを融着して接続し
た場合、特に、図１０に示す融着点ＤＥ間のように、融
着点Ｅを堺にして光源出射端Ｂ側の光ファイバの後方散
乱係数の方がその直前の光ファイバの後方散乱係数より
も大きい場合、融着点Ｅの波形ように接続損失が−ｅ
［ｄＢ］となる場合もあり、正しく接続損失が表わされ
ないという問題点もある。この問題点を解決する方法と
して、光源入射端Ａからの測定と光源出射端Ｂからの測
定とを行い、光源出射端Ｂからの測定波形の距離をあた
かも光源入射端Ａから測定したように反転させた後、そ
れらの各測定波形を合成して平均をとることにより、後
方散乱係数の差異による誤差をキャンセルできる。しか
し、この方法をリアルタイムで実現しようとすると、２
つのパルス試験器とデータ転送手段、波形合成処理用コ
ンピュータなどが必要となる。このため、装置が高価に
なるとともに、作業工数も増えるという問題点がある。

【００１３】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
であって、光導波路の光損失測定を光パルス試験器によ
り測定できると同時に、安価でかつ作業工数を減らせる
光損失測定方法およびその装置を提供することを目的と
している。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、後方散乱光量を表示するための表示部を具
備するパルス試験器を用いた光損失測定方法であって、
パルス試験器の光源出射口に標準反射器を接続し、前記
パルス試験器からの光を前記標準反射器で反射させ、こ
のときの前記パルス試験器の表示部の表示内容から前記
標準反射器による反射光のピーク値近傍の値を第１の基
準値として決定し、前記光源出射口と前記標準反射器の
間に被測定光導波路を接続し、前記被測定光導波路を透
過して出射する光を前記標準反射器で反射させ、このと
きの前記パルス試験器の表示部の表示内容から前記標準
反射器による反射光のピーク値近傍の値を第２の基準値
として決定し、前記第１の基準値および第２の基準値に
基づいて前記被測定光導波路の光損失を算出する方法で
ある。

【００１５】また、パルス光源と、前記パルス光源より
入射されて被測定光導波路に出射する光と前記被測定光
導波路から戻ってくる後方散乱光とを分離するための光
方向性結合器と、前記光方向性結合器により分離された
前記後方散乱光を受光して光電変換する光電変換器とを
具備して、前記被測定光導波路の距離に応じた光損失特
性を表示部に表示するパルス試験器において、前記パル
ス試験器の有する前記光方向性結合器と前記被測定光導
波路との間に配置された後方散乱係数が既知のダミー光
導波路と、前記被測定光導波路の光損失を求めるための
パラメータを入力する入力手段と、該入力手段より入力
されたパラメータから前記被測定光導波路の光損失を算
出するための計算手段と、該計算手段の計算結果を前記
表示部に表示する表示手段とを有することを特徴とす
る。

【００１６】さらに、前記記載のパルス試験器を用いた
光損失測定方法であって、前記パルス試験器の有するダ
ミー光導波路に被測定光導波路を接続し、次いで前記被
測定光導波路の遠端部に反射減衰量が既知の標準反射器
を接続して測定し、測定結果に基づいて、前記パルス試
験器の入力手段に前記被測定光導波路の光損失を求める
ためのパラメータを入力して光損失を算出する方法であ
る。

【００１７】

【作用】本発明に係るパルス試験器を用いた光損失測定
方法では、パルス試験器より出射される光出力を標準反
射器を用いて反射させ、その反射光の光量をパルス試験
器により測定し、次いで前記標準反射器とパルス試験器
との間に被測定光導波路を接続し、前記被測定光導波路
を通って前記標準反射器からの反射される反射光の光量
をパルス試験器により測定する。このとき、最初に標準
反射器を取り付けた時点で標準反射器による反射光量の
ピーク値近傍の値と、次いで被測定光導波路を介して標
準反射器を取り付けた時点での標準反射器からの反射光
量のピーク値近傍の値との差分を表示部より求めれば、
被測定光導波路を透過した光の損失量が求まる。

【００１８】また、後方散乱係数が既知のダミー光導波
路を備えた本発明に係るパルス試験器では、光損失を求
める際、ダミー光導波路に被測定光導波路を接続して、
前述の光損失測定方法のように被測定光導波路の光出射
側である遠端部に標準反射器を接続して、パルス試験器
により後方散乱光を測定する。次いで、測定者は、表示
部の表示内容からダミー光導波路出射点直前の後方散乱
光量および基準反射器からの後方散乱光量の各値を読み
取り、この各値、標準反射器の反射減衰量およびダミー
光導波路の後方散乱係数からなる光損失を求めるための
パラメータを入力手段より入力する。このとき、計算手
段よりそのパラメータの内容が計算されて被測定光導波
路の光損失が算出される。さらに、この光損失測定方法
では、前述の光損失測定方法に比べて測定回数が１回で
済む。

【００１９】

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。

【００２０】（第１実施例）図１は本発明の光損失測定
方法の第１実施例を説明するための図である。図２は本
発明の光損失測定方法の第１実施例による光ファイバの
損失を示した波形図である。

【００２１】図１（ａ）に示すように、パルス試験器１
のパルス試験器口元２に第１の標準反射器３を接続す
る。この第１の標準反射器３は、その反射率が規制値に
校正されているものである。また、その反射率は、被測
定光ファイバ接続口２におけるフレネル反射の反射率よ
りも十分に大きい必要がある。これは、パルス試験器口
元２におけるフレネル反射と標準反射器の反射とを識別
してフレネル反射分の誤差を低減するためである。

【００２２】このようにして、パルス試験器１を用い
て、図２に示すような第１の標準反射器３の反射波形を
測定し、ピーク値（または、ピーク付近の規定点の値）
を記録したり、あるいは波形そのものを記録する。ここ
で用いられるパルス試験器１は、標準反射器からの反射
光に対して受光部（フォトダイオードなどの受光素子、
増幅回路、Ａ／Ｄ変換器など）が飽和せずに測定できる
必要がある。

【００２３】次いで、図１（ｂ）に示すように、第１の
標準反射器３に換えて、パルス試験器１のパルス試験器
口元２にコネクタや融着などの接続点（コネクタ接続点
Ｃ、融着点Ｄ，Ｅ）を含む被測定光ファイバ部５を接続
し、その光源出射端Ｂに第２の標準反射器４を接続す
る。このとき、第２の標準反射器４の反射率は規定値に
校正されている必要があり、その値は第１の標準反射器
３と同じ値である事が望ましい。その値が同じでない場
合は、第１の標準反射器１と第２の標準反射器３の正確
な反射率または互いの反射率の比を正確に知っておく必
要がある。

【００２４】このようにして、パルス試験器１を用い
て、図２に示すような被測定光ファイバ部５および第２
の標準反射器４の反射波形を測定し、第２の標準反射器
４からの反射光のピーク値（または、ピーク付近の規定
点の値）を記録する。

【００２５】上記の第１の標準反射器３による反射波形
のピーク値は、被測定光ファイバ部の入射端に入射する
光パワーを表わしている。第２の標準反射器４による反
射波形のピーク値は、被測定光ファイバ部５（ＡＢ間）
を透過し、第２の標準反射器４で反射され、再び被測定
光ファイバを透過した値を示している。したがって、互
いのピーク値の差は被測定光ファイバの光損失の２倍に
なっている。パルス試験器では、往復の光損失を表示し
ているので、図２に示すような測定波形において、それ
らの値の差を読めば被測定光ファイバ部５の光損失が求
められる。

【００２６】以上のように、２つの標準反射器とパルス
試験器とを用いることにより、接続点などにおけるフレ
ネル反射の影響を受けても正確に光ファイバの光損失が
測定できる。また、従来のように光損失を測定する際に
光パワーメータを別途に容易しなくても、パルス試験器
のみで光ファイバの光損失測定でき、これと同時に障害
点の位置などの損失分布も測定できる。

【００２７】（第２実施例）図３は本発明の光損失測定
方法の第２実施例を説明するための図である。図４は本
発明の光損失測定方法の第２実施例による光ファイバの
損失を示した波形図である。

【００２８】本実施例では被測定光ファイバがマルチモ
ード型光ファイバの場合について説明する。

【００２９】マルチモード型光ファイバでは、多数の伝
搬モードが存在するためモードの変換が起こり、光の入
射状態によっては測定値が異なることがある。このた
め、光ファイバ内を伝搬しても各伝搬モードの光パワー
分布が変わらないように光の入射条件を一定にする工夫
が必要となる。このような条件を満足させるために図３
に示すように、伝搬モードの安定化を目的とした励振器
１３を用いている。

【００３０】図３（ａ）に示すように、パルス試験器１
１のパルス試験器口元１２に励振器１３を介して第１の
標準反射器１４を接続する。この第１の標準反射器１３
の反射率は、第１実施例と同様に規制値に校正されてい
るものである。また、その反射率は、励振器１３と第１
の標準反射器１４との間に生じるフレネル反射の反射率
よりも十分に大きい必要がある。

【００３１】このようにして、パルス試験器１１を用い
て、図４に示すような第１の標準反射器１４の反射波形
を測定し、ピーク値（または、ピーク付近の規定点の
値）を記録したり、あるいは波形そのものを記録する。

【００３２】次いで、図３（ｂ）に示すように、第１の
標準反射器１４に換えて、パルス試験器１１と接続され
た励振器１３にコネクタや融着などの接続点（コネクタ
接続点Ｃ、融着点Ｄ，Ｅ）を含む被測定光ファイバ部１
６を接続し、その光源出射端Ｂに第２の標準反射器１５
を接続する。このとき、第２の標準反射器１５の反射率
は規定値に校正されている必要があり、その値は第１の
標準反射器１４と同じ値である事が望ましい。その値が
同じでない場合は、第１の標準反射器１４と第２の標準
反射器１５の正確な反射率または互いの反射率の比を正
確に知っておく必要がある。

【００３３】このようにして、パルス試験器１１を用い
て、図４に示すような被測定光ファイバ部１６および第
２の標準反射器１５の反射波形を測定し、第２の標準反
射器１５からの反射光のピーク値（または、ピーク付近
の規定点の値）を記録する。そして第１実施例と同様
に、上記の第１の標準反射器１４による値と第２の標準
反射器４による値の差を読めば被測定光ファイバ部５の
光損失を求めることができる。

【００３４】上述のようにマルチモード型光ファイバに
ついても、第１実施例と同様の効果を奏する。

【００３５】以上の第１実施例および第２実施例では、
２つの標準反射器を用いて測定を行ったが、これに限ら
ず１つの標準反射器のみで行ってもよい。

【００３６】（第３実施例）図５は本発明の第３実施例
を説明するための図である。

【００３７】図５（ａ）に示す本実施例のパルス試験器
は、図９に示した従来装置と同様の制御系を有してい
る。その制御系は、パルス光源２１からの光を光方向性
結合器２２に通して光ファイバに入射し、光ファイバか
らの後方散乱光を光方向性結合器２２内部で方向を切り
換えて光電変換器２３に受光させる。そして、受光した
後方散乱光を光電変換して、その電圧値により演算制御
し表示部の表示管面に光ファイバの距離に応じた後方散
乱光量の波形を表示する。本実施例では、その制御系の
方向性結合器２２の光の出入り口元２２ａに後方散乱係
数が既知のダミーファイバ２４を予め備えており、出入
り口元２２ａのダミーファイバ２２端部からみて遠端側
のダミーファイバ２２端部に被測定光ファイバ接続口２
５を設けて構成している。また、本実施例の装置は、光
損失を求めるためのパラメータが入力される入力手段
（不図示）を有しており、制御系には、入力手段より入
力されたパラメータに基づいて光損失を計算する計算手
段（不図示）と、計算手段より計算された結果を表示管
面に表示する表示手段（不図示）が内蔵されている。

【００３８】光ファイバの光損失を測定するには、上記
本実施例のパルス試験器の被測定光ファイバ接続口２５
に被測定光ファイバ２６端部を接続し、その被測定光フ
ァイバ２６端部からみて遠端側の被測定光ファイバ２６
端部に反射減衰量が既知の基準反射器２７を接続して行
う。

【００３９】このようにして接続して測定を行った結
果、図５（ｂ）に示すような波形図が表示管面に表示さ
れる。本実施例の装置では、表示管面よりダミーファイ
バ出射点直前の後方散乱光量Ｙと、基準反射器による反
射直後の後方散乱光量Ｘとの値を測定者が読み取り、後
述説明するが、それらの値を含める光損失を求めるため
のパラメータを入力手段より入力し、計算手段より計算
されることで、被測定光ファイバの光損失を求めること
ができる。

【００４０】ここで、被測定光ファイバの光損失を算出
するための計算手段を図６を参照して説明する。

【００４１】図６は、本発明の第３実施例における被測
定光ファイバの光損失を求めるための計算手段の式を説
明するための図である。

【００４２】この図に示す矢印Ａはパルス光源２１の光
源出力、矢印ａは光方向性結合器の下り損失、矢印ｂは
光方向性結合器の上り損失、矢印ｃはダミーファイバの
光損失、符号Ｏはダミーファイバの後方散乱係数、矢印
ｄはダミーファイバと被測定光ファイバ間の接続損失、
矢印ｆはダミーファイバと被測定光ファイバ間の接続点
反射減衰量、矢印ｅは被測定光ファイバの光損失、矢印
ｇは標準反射器の反射減衰量（コネクタでの接続損失、
反射を含む）である。

【００４３】上記符号を用い、パルス光源２１より出射
し、ダミーファイバ出射点直前からの後方散乱光を光電
変換器２３で受光した受光レベルＹを式で表わすと、 Ｙ＝Ａ−ａ−ｂ−２ｃ−Ｏ ・・・式（１） となる。また、パルス光源２１より出射し、遠端に取り
付けられた基準反射器からの反射光を光電変換器２３で
受光した受光レベルＸを式で表わすと、 Ｘ＝Ａ−ａ−ｂ−２ｃ−２ｄ−２ｅ−ｇ ・・・式（２） となる。上記式（１）および式（２）から、被測定光フ
ァイバの光損失ｅを求めると、 Ｙ−Ｘ＝２ｄ＋２ｅ＋ｇ−Ｏ ∴ｄ＋ｅ＝（Ｙ−Ｘ＋Ｏ−ｇ）／２ ・・・式（３） となる。このように上記式（３）において、（被測定光
ファイバ接続口損失ｄ＋被測定光ファイバ光損失ｅ）
は、表示管面より読み取ったダミーファイバ出射点直前
の後方散乱光量Ｙおよび基準反射器による反射直後の後
方散乱光量Ｘと、既知のダミーファイバ後方散乱係数Ｏ
および基準反射器における反射減衰量ｇのパラメータか
ら求められる。即ち、本実施例の装置では、入力手段に
より前記のパラメータを入力することにより、計算手段
の上記式（３）により光損失が計算される。

【００４４】ここで上記式（３）は、被測定光ファイバ
接続口損失ｄが分離できていないが、敷設後の光ファイ
バを光パワーメータと光源を用いて測定する従来のよう
な方法でも、光源の光源口元の出力を測定した後に光源
口元に被測定光ファイバを接続し、光源から離れた光フ
ァイバ遠端からの出力を測定して光損失を求めているの
で、その光損失には被測定光ファイバ接続損失が含まれ
ている。このため、本実施例における光損失を求める式
（３）に被測定光ファイバ接続損失ｄが含まれていて
も、本実施例の装置による測定は従来の光パワーメータ
と同レベルの測定であり、何ら問題はなく求められる。

【００４５】以上説明した本実施例では、第１実施例お
よび第２実施例の構成のように被測定光ファイバをパル
ス試験器近端あるいは遠端の２回の測定を行うことなし
に、１回の測定で光損失を求めることができる。

【００４６】

【発明の効果】以上説明したとおりの本発明では、以下
のような効果を奏する。

【００４７】請求項１に記載の方法では、パルス試験器
の光源出射口またはパルス試験器に接続した被測定光導
波路の光源出射端において、標準反射器を接続してそれ
ぞれ測定を行うことにより、被測定光導波路内にこれと
異なる後方散乱係数の光導波路が融着されている場合に
生じる損失誤差や被測定光導波路の入射端におけるフレ
ネル反射などの測定に悪影響を及ぼす要因に関係無く、
パルス試験器により被測定光導波路内の光損失が測定で
きる。このため、従来のように光ファイバ敷設時におい
て、光パワーメータと光源とを用いた光損失測定と同時
に、光損失分布の傾向を見るためにパルス試験器を用い
た測定が併用されていたが、パルス試験器のみでこれら
の測定ができるようになる。

【００４８】さらに、請求項２および請求項３に記載の
装置および方法では、後方散乱係数が既知のダミー光導
波路を内蔵したパルス試験器に接続された被測定光導波
路の光源出射端に、標準反射器を接続して測定を行うこ
とにより、光損失が算出されると同時に、標準反射器の
接続が１回で測定できる。このため、作業工数を減らせ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光損失測定方法の第１実施例を説明す
るための図である。

【図２】本発明の光損失測定方法の第１実施例による光
ファイバの損失を示した波形図である。

【図３】本発明の光損失測定方法の第２実施例を説明す
るための図である。

【図４】本発明の光損失測定方法の第２実施例による光
ファイバの損失を示した波形図である。

【図５】本発明の光損失測定方法の第３実施例を説明す
るための図である。

【図６】本発明の第３実施例における被測定光ファイバ
の光損失を求めるための計算手段の式を説明するための
図である。

【図７】従来の光パワーメータを用いた光損失測定方法
を説明するための図である。

【図８】従来の光パワーメータを用いた光損失測定方法
を説明するための図である。

【図９】従来のパルス試験器の制御系を示した図であ
る。

【図１０】従来のパルス試験器を用いて光ファイバを測
定した結果を示した図である。

【符号の説明】

１，１１ パルス試験器 ２，１２ パルス試験器口元 ３，１４ 第１の標準反射器 ４，１５ 第２の標準反射器 １３ 励振器 １６，２６ 被測定光ファイバ部 ２１ パルス光源 ２２ 光方向性結合器 ２２ａ 出入り口 ２３ 光電変換器 ２４ ダミ−ファイバ ２５ 被測定光ファイバ接続口 ２７ 基準反射器

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 後方散乱光量を表示するための表示部を
   具備するパルス試験器を用いた光損失測定方法であっ
   て、 パルス試験器の光源出射口に標準反射器を接続し、前記
   パルス試験器からの光を前記標準反射器で反射させ、こ
   のときの前記パルス試験器の表示部の表示内容から前記
   標準反射器による反射光のピーク値近傍の値を第１の基
   準値として決定し、 前記光源出射口と前記標準反射器の間に被測定光導波路
   を接続し、前記被測定光導波路を透過して出射する光を
   前記標準反射器で反射させ、このときの前記パルス試験
   器の表示部の表示内容から前記標準反射器による反射光
   のピーク値近傍の値を第２の基準値として決定し、 前記第１の基準値および第２の基準値に基づいて前記被
   測定光導波路の光損失を算出する光損失測定方法。
2. 【請求項２】 パルス光源と、 前記パルス光源より入射されて被測定光導波路に出射す
   る光と前記被測定光導波路から戻ってくる後方散乱光と
   を分離するための光方向性結合器と、 前記光方向性結合器により分離された前記後方散乱光を
   受光して光電変換する光電変換器とを具備して、前記被
   測定光導波路の距離に応じた光損失特性を表示部に表示
   するパルス試験器において、 前記パルス試験器の有する前記光方向性結合器と前記被
   測定光導波路との間に配置された後方散乱係数が既知の
   ダミー光導波路と、 前記被測定光導波路の光損失を求めるためのパラメータ
   を入力する入力手段と、 該入力手段より入力されたパラメータから前記被測定光
   導波路の光損失を算出するための計算手段と、 該計算手段の計算結果を前記表示部に表示する表示手段
   とを有することを特徴とするパルス試験器。
3. 【請求項３】 請求項２に記載のパルス試験器を用いた
   光損失測定方法であって、 前記パルス試験器の有するダミー光導波路に被測定光導
   波路を接続し、次いで前記被測定光導波路の遠端部に反
   射減衰量が既知の標準反射器を接続して測定し、 測定結果に基づいて、前記パルス試験器の入力手段に前
   記被測定光導波路の光損失を求めるためのパラメータを
   入力して光損失を算出する光損失測定方法。