JPH06134268A - 中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法 - Google Patents
中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法Info
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- JPH06134268A JPH06134268A JP4316480A JP31648092A JPH06134268A JP H06134268 A JPH06134268 A JP H06134268A JP 4316480 A JP4316480 A JP 4316480A JP 31648092 A JP31648092 A JP 31648092A JP H06134268 A JPH06134268 A JP H06134268A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 欠陥位置を特定し、その特定した部分を補修
することによって生産性の向上を図る。 【構成】 中空糸膜モジュール１の封止部端面６におい
て、ポッティング不良等による欠陥部から流出する微粒
子を光学的に検出することによって、封止部端面６にお
ける欠陥部の位置を検出することを特徴とする。
することによって生産性の向上を図る。 【構成】 中空糸膜モジュール１の封止部端面６におい
て、ポッティング不良等による欠陥部から流出する微粒
子を光学的に検出することによって、封止部端面６にお
ける欠陥部の位置を検出することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多数本の中空糸膜を用
いたモジュールの欠陥位置検出方法およびその欠陥位置
検出装置並びに欠陥補修方法に関する。
いたモジュールの欠陥位置検出方法およびその欠陥位置
検出装置並びに欠陥補修方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、ケース内に挿入された多数本
の中空糸膜を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開
口させた状態で封止材にて封止して封止部を形成し、該
封止部にてケース内部と外部とを離隔した中空糸膜モジ
ュールが知られている。
の中空糸膜を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開
口させた状態で封止材にて封止して封止部を形成し、該
封止部にてケース内部と外部とを離隔した中空糸膜モジ
ュールが知られている。
【０００３】このような中空糸膜モジュールについて、
その欠陥を検出する方法としては、中空糸膜モジュール
の各中空糸膜の端末の開口部より減圧吸引し、中空糸膜
の外表面側より微粒子を含む空気を流入させ、開口部か
ら吸引した空気をパーティクルカウンターを通過させ、
その吸引空気中の塵等の微粒子の数を測定して欠陥の有
無を検出する方法（特公平２−１４０８４号公報参照）
がある。
その欠陥を検出する方法としては、中空糸膜モジュール
の各中空糸膜の端末の開口部より減圧吸引し、中空糸膜
の外表面側より微粒子を含む空気を流入させ、開口部か
ら吸引した空気をパーティクルカウンターを通過させ、
その吸引空気中の塵等の微粒子の数を測定して欠陥の有
無を検出する方法（特公平２−１４０８４号公報参照）
がある。
【０００４】またその他として、中空糸膜の外面に加圧
ガスを供給し、その中空糸膜の開口端部の欠陥個所より
加圧ガスを漏洩させ、光学システムを用いてその漏洩ガ
スの流出状況に応じた屈折現象により欠陥の有無を検出
する方法（特開昭５３−１３４７７６号公報参照）があ
る。
ガスを供給し、その中空糸膜の開口端部の欠陥個所より
加圧ガスを漏洩させ、光学システムを用いてその漏洩ガ
スの流出状況に応じた屈折現象により欠陥の有無を検出
する方法（特開昭５３−１３４７７６号公報参照）があ
る。
【０００５】そして、上記欠陥検出方法によって欠陥と
なった中空糸膜モジュールの欠陥補修方法は、中空糸膜
モジュールの各中空糸膜の端末の開口端面上に流動性あ
る封止材を付与し、その封止材を加圧し欠陥部位に侵入
固定せしめた後封止された欠陥部位でさらに切断して欠
陥部を補修していた（特開昭５４−１３８８７４号公報
参照）。
なった中空糸膜モジュールの欠陥補修方法は、中空糸膜
モジュールの各中空糸膜の端末の開口端面上に流動性あ
る封止材を付与し、その封止材を加圧し欠陥部位に侵入
固定せしめた後封止された欠陥部位でさらに切断して欠
陥部を補修していた（特開昭５４−１３８８７４号公報
参照）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のパーティクルカウンタや光学シスチムを用いた
欠陥検出方法は、欠陥のある中空糸膜を特定できないた
めに、中空糸膜が１本でも欠陥の有る場合には、モジュ
ール全体を不良として廃棄する必要があった（特に、大
型の中空糸膜モジュールでは問題）。
た従来のパーティクルカウンタや光学シスチムを用いた
欠陥検出方法は、欠陥のある中空糸膜を特定できないた
めに、中空糸膜が１本でも欠陥の有る場合には、モジュ
ール全体を不良として廃棄する必要があった（特に、大
型の中空糸膜モジュールでは問題）。
【０００７】また、従来の欠陥補修方法の場合には、封
止材を各中空糸膜の端末の開口端面上に付与して加圧
し、切断して補修していることから、補修工程が多く複
雑である。
止材を各中空糸膜の端末の開口端面上に付与して加圧
し、切断して補修していることから、補修工程が多く複
雑である。
【０００８】本発明は上記した従来技術の課題を解決す
るためになされたもので、その目的とするところは、欠
陥位置を特定し、その特定した部分を補修することによ
って生産性の向上を図り得る中空糸膜モジュールの欠陥
位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法を提供
することにある。
るためになされたもので、その目的とするところは、欠
陥位置を特定し、その特定した部分を補修することによ
って生産性の向上を図り得る中空糸膜モジュールの欠陥
位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法を提供
することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明にあっては、ケース内に挿入された多数本の
中空糸膜を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開口
させた状態で封止材にて封止して封止部を形成し、該封
止部にてケース内部と外部とを離隔した中空糸膜モジュ
ールの欠陥位置検出方法であって、前記ケース内部から
外部に向けて各中空糸膜を通る気流を形成し、前記封止
部端面において、ポッティング不良あるいは中空糸膜の
破損等の欠陥部から流出する欠陥の大きさに対応する塵
等の微粒子を光学的に検出することによって、封止部端
面における欠陥部の位置を検出する。
に、本発明にあっては、ケース内に挿入された多数本の
中空糸膜を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開口
させた状態で封止材にて封止して封止部を形成し、該封
止部にてケース内部と外部とを離隔した中空糸膜モジュ
ールの欠陥位置検出方法であって、前記ケース内部から
外部に向けて各中空糸膜を通る気流を形成し、前記封止
部端面において、ポッティング不良あるいは中空糸膜の
破損等の欠陥部から流出する欠陥の大きさに対応する塵
等の微粒子を光学的に検出することによって、封止部端
面における欠陥部の位置を検出する。
【００１０】そして、上記方法によって検出された欠陥
位置情報に基づいて、封止部端面の欠陥位置に封止材を
滴下することを特徴とする。
位置情報に基づいて、封止部端面の欠陥位置に封止材を
滴下することを特徴とする。
【００１１】また、欠陥位置検出装置は、ケース内に多
数本の中空糸膜の束を挿入し、ケースの開口端部にて各
中空糸膜間の隙間および各中空糸膜とケース間の隙間を
封止材で封止固定した中空糸膜モジュールの、前記中空
糸膜に所定の大きさの微粒子を含む気体を通し、中空糸
膜を通過した所定の大きさの微粒子を検出して中空糸膜
モジュールの欠陥位置を検出する装置であって、前記中
空糸膜モジュールの封止部端面の面方向にレーザビーム
を走査させ、該レーザビームが前記中空糸膜を通過した
所定の大きさの微粒子に当たった際に発生する散乱光
を、中空糸膜モジュールの端面上部に設けられている検
出手段により検出し、該検出された情報を処理して欠陥
の位置を求める処理手段を備えたことを特徴とする。
数本の中空糸膜の束を挿入し、ケースの開口端部にて各
中空糸膜間の隙間および各中空糸膜とケース間の隙間を
封止材で封止固定した中空糸膜モジュールの、前記中空
糸膜に所定の大きさの微粒子を含む気体を通し、中空糸
膜を通過した所定の大きさの微粒子を検出して中空糸膜
モジュールの欠陥位置を検出する装置であって、前記中
空糸膜モジュールの封止部端面の面方向にレーザビーム
を走査させ、該レーザビームが前記中空糸膜を通過した
所定の大きさの微粒子に当たった際に発生する散乱光
を、中空糸膜モジュールの端面上部に設けられている検
出手段により検出し、該検出された情報を処理して欠陥
の位置を求める処理手段を備えたことを特徴とする。
【００１２】
【作用】上記構成の中空糸膜モジュールの欠陥位置検出
方法およびその装置にあっては、中空糸膜モジュールの
封止部端面において、モジュールの欠陥部から流出する
微粒子を光学的に検出することによって、封止部端面に
おける欠陥部の位置を検出することから、欠陥のある中
空糸膜を特定することができる。
方法およびその装置にあっては、中空糸膜モジュールの
封止部端面において、モジュールの欠陥部から流出する
微粒子を光学的に検出することによって、封止部端面に
おける欠陥部の位置を検出することから、欠陥のある中
空糸膜を特定することができる。
【００１３】そして、特定された欠陥位置情報に基づい
て、封止部端面の欠陥位置に封止材を滴下することによ
り、欠陥部を補修することができるため、補修方法が簡
単である。
て、封止部端面の欠陥位置に封止材を滴下することによ
り、欠陥部を補修することができるため、補修方法が簡
単である。
【００１４】
【実施例】以下に、本発明を図示の実施例に基づいて説
明する。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例に係る
中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法に用いられる欠
陥位置検出装置を示しており、図１（ｃ）は本発明の一
実施例に係る欠陥補修方法に用いられる欠陥補修装置を
示している。
明する。図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例に係る
中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法に用いられる欠
陥位置検出装置を示しており、図１（ｃ）は本発明の一
実施例に係る欠陥補修方法に用いられる欠陥補修装置を
示している。
【００１５】まず、欠陥位置検出の対象となる中空糸膜
モジュールについて説明する。この中空糸膜モジュール
１は、多数本の中空糸膜２を束ねてループ状（Ｕ字状）
として、その中空糸膜束３を両端を開口するケース４内
に挿入し、ケース４の一方の開口端部にて各中空糸膜２
間の隙間および各中空糸膜２とケース４間の隙間を封止
材としてのポッティング材５で封止固定し、ポッティン
グ材５により封止固定された各中空糸膜２の端末と硬化
したポッティング材５を共に切断し、各中空糸膜２端末
を開口して、封止部端面としての中空糸膜開口端面６を
形成して成り、各種気体や液体を中空糸膜２を通過して
濾過し、その濾過された流体を中空糸膜開口端面６から
流出するものである。
モジュールについて説明する。この中空糸膜モジュール
１は、多数本の中空糸膜２を束ねてループ状（Ｕ字状）
として、その中空糸膜束３を両端を開口するケース４内
に挿入し、ケース４の一方の開口端部にて各中空糸膜２
間の隙間および各中空糸膜２とケース４間の隙間を封止
材としてのポッティング材５で封止固定し、ポッティン
グ材５により封止固定された各中空糸膜２の端末と硬化
したポッティング材５を共に切断し、各中空糸膜２端末
を開口して、封止部端面としての中空糸膜開口端面６を
形成して成り、各種気体や液体を中空糸膜２を通過して
濾過し、その濾過された流体を中空糸膜開口端面６から
流出するものである。
【００１６】そして、以下に本発明の一実施例に係る中
空糸膜モジュールの欠陥位置検出装置について説明す
る。
空糸膜モジュールの欠陥位置検出装置について説明す
る。
【００１７】この欠陥位置検出装置１０は、中空糸膜開
口端面６の面方向にレーザビーム１１を走査させるため
の光学部１２と、中空糸膜開口端面６上に設けられてレ
ーザビーム１１より発生された欠陥位置情報としての散
乱光１３を見やすくさせ、空気吸引する孔１４を有する
暗室１５と、その暗室１５の上部に設けられ散乱光１３
を検出する検出手段としてのＣＣＤカメラ１６と、その
検出された散乱光１３を処理して欠陥の位置を求める処
理手段としての位置解析パソコン１７とからなってい
る。
口端面６の面方向にレーザビーム１１を走査させるため
の光学部１２と、中空糸膜開口端面６上に設けられてレ
ーザビーム１１より発生された欠陥位置情報としての散
乱光１３を見やすくさせ、空気吸引する孔１４を有する
暗室１５と、その暗室１５の上部に設けられ散乱光１３
を検出する検出手段としてのＣＣＤカメラ１６と、その
検出された散乱光１３を処理して欠陥の位置を求める処
理手段としての位置解析パソコン１７とからなってい
る。
【００１８】また、光学部１２は、レーザ部１８と、ス
キャン用ミラー１９と、光学系であるレンズ２０とから
なっている。
キャン用ミラー１９と、光学系であるレンズ２０とから
なっている。
【００１９】次に、上記欠陥位置検出装置１０に基づい
て、中空糸膜モジュールの欠陥位置の検出方法について
説明する。
て、中空糸膜モジュールの欠陥位置の検出方法について
説明する。
【００２０】まず、中空糸膜モジュール１の上面を負圧
にすることにより、各中空糸膜２に空気を流し、中空糸
膜開口端面６から出る空気内の塵等の微粒子であるゴミ
（０．２μｍ以上）の散乱光１３をＣＣＤカメラ１６よ
り検出し、更に位置解析パソコン１７により画像処理す
ることにより欠陥位置を検出する（尚、欠陥のない中空
糸膜２からは、ゴミが流出しない）。
にすることにより、各中空糸膜２に空気を流し、中空糸
膜開口端面６から出る空気内の塵等の微粒子であるゴミ
（０．２μｍ以上）の散乱光１３をＣＣＤカメラ１６よ
り検出し、更に位置解析パソコン１７により画像処理す
ることにより欠陥位置を検出する（尚、欠陥のない中空
糸膜２からは、ゴミが流出しない）。
【００２１】ゴミの散乱光１３は、平行かつスポット径
の小さいレーザビーム１１を図１（ｂ）に示すように中
空糸膜開口端面６全体をスキャンすることで発生させ
る。
の小さいレーザビーム１１を図１（ｂ）に示すように中
空糸膜開口端面６全体をスキャンすることで発生させ
る。
【００２２】散乱光１３が暗い場合、すなわち、より小
さなゴミを検出する場合又は、ＣＣＤカメラ１６の感度
が低い場合には、２次元光子検出管２１（ＭＣＰ＝Ｍｉ
ｃｒｏ Ｃｈａｎｎｅｌ Ｐｌａｔｅ 等）を利用し、
散乱光１３を検出しやすくする。
さなゴミを検出する場合又は、ＣＣＤカメラ１６の感度
が低い場合には、２次元光子検出管２１（ＭＣＰ＝Ｍｉ
ｃｒｏ Ｃｈａｎｎｅｌ Ｐｌａｔｅ 等）を利用し、
散乱光１３を検出しやすくする。
【００２３】また、空気は吸引されるためにゴミの位置
（散乱光１３の位置）が変化する。その対策として以下
の２つがある。 （１）レーザビーム１１が中空糸膜開口端面６近傍をス
キャンするようにする。 （２）ゴミの流れを画像処理により解析し、欠陥位置を
特定するレーザビーム１１の終点は、中空糸膜開口端面
６の雰囲気明度に影響を与えないようにするため、ビー
ムブロック２２で確実にとらえる。
（散乱光１３の位置）が変化する。その対策として以下
の２つがある。 （１）レーザビーム１１が中空糸膜開口端面６近傍をス
キャンするようにする。 （２）ゴミの流れを画像処理により解析し、欠陥位置を
特定するレーザビーム１１の終点は、中空糸膜開口端面
６の雰囲気明度に影響を与えないようにするため、ビー
ムブロック２２で確実にとらえる。
【００２４】画像処理により欠陥位置を特定し、そのデ
ータを次に示す欠陥補修装置３０のＸＹテーブル３１へ
送出する。
ータを次に示す欠陥補修装置３０のＸＹテーブル３１へ
送出する。
【００２５】欠陥補修装置３０は、図１（ｃ）に示すよ
うにＸＹテーブル３１，ポッティング装置３２から成
る。そして、この欠陥補修方法は、特定された位置にポ
ッティング材５を滴下することにより、欠陥の中空糸膜
２を目づめ３３する。但し、ポッティングは、欠陥中空
糸膜２の１本のみを目づめ３３する必要はなく、その周
辺部を含めて目づめ３３するため、ＸＹテーブル３１は
高精度である必要はない。
うにＸＹテーブル３１，ポッティング装置３２から成
る。そして、この欠陥補修方法は、特定された位置にポ
ッティング材５を滴下することにより、欠陥の中空糸膜
２を目づめ３３する。但し、ポッティングは、欠陥中空
糸膜２の１本のみを目づめ３３する必要はなく、その周
辺部を含めて目づめ３３するため、ＸＹテーブル３１は
高精度である必要はない。
【００２６】図２は、上記方法により欠陥のある（図中
Ｘ印部分）の中空糸膜２を目づめ３３して欠陥部が補修
された中空糸膜モジュール１である。
Ｘ印部分）の中空糸膜２を目づめ３３して欠陥部が補修
された中空糸膜モジュール１である。
【００２７】図３には、本発明に係る欠陥位置検出装置
の第２実施例を示している。本実施例は、スキャン用ミ
ラー１９を使用せず、スリントレザー光２３を使用した
ものである。その他の構成および作用については第１実
施例と同一なので、同一の構成部分については同一の符
号を付して、その説明は省略する。
の第２実施例を示している。本実施例は、スキャン用ミ
ラー１９を使用せず、スリントレザー光２３を使用した
ものである。その他の構成および作用については第１実
施例と同一なので、同一の構成部分については同一の符
号を付して、その説明は省略する。
【００２８】図４には、本発明に係る欠陥位置検出方法
の第２実施例を示している。本実施例は、空気の吸引を
中空糸膜モジュール１下部に圧力をかけて中空糸膜２に
空気を入れて欠陥位置を検出する方法である。
の第２実施例を示している。本実施例は、空気の吸引を
中空糸膜モジュール１下部に圧力をかけて中空糸膜２に
空気を入れて欠陥位置を検出する方法である。
【００２９】また、本発明に係る中空糸膜モジュールの
欠陥位置検出装置において、簡易式の欠陥位置検出装置
として、次の第３，第４実施例がある。
欠陥位置検出装置において、簡易式の欠陥位置検出装置
として、次の第３，第４実施例がある。
【００３０】まず、第３実施例として、ＣＣＤカメラ１
６の代用としてＰＳＤ（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｓｅｎｓｉ
ｎｇ Ｄｅｖｉｃｅ）を用いて、位置を検出するもので
ある。このようにすると長所として、ＣＣＤカメラ１６
が画像処理を用いないで、位置を簡便に特定できるの
で、システムが簡単になる。
６の代用としてＰＳＤ（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｓｅｎｓｉ
ｎｇ Ｄｅｖｉｃｅ）を用いて、位置を検出するもので
ある。このようにすると長所として、ＣＣＤカメラ１６
が画像処理を用いないで、位置を簡便に特定できるの
で、システムが簡単になる。
【００３１】尚、短所は、画像処理を用いないので、ゴ
ミ（散乱光１３）が速く動く場合、また中空糸膜開口端
面６にゴミが停滞している場合には不可である。
ミ（散乱光１３）が速く動く場合、また中空糸膜開口端
面６にゴミが停滞している場合には不可である。
【００３２】そして第４実施例が図５に示されている。
本実施例は、ＣＣＤカメラ１６＋２次元検出管２１の代
用として光電子増幅管を用いるものである。
本実施例は、ＣＣＤカメラ１６＋２次元検出管２１の代
用として光電子増幅管を用いるものである。
【００３３】光電子増幅管は位置が特定できないので、
光学部１２を、レーザ部１８と、ハーフミラー２４とス
キャン用ミラー１９を２つと、からなるものとし、レー
ザビーム１１を２本用いて、スキャン用ミラー１９の角
度をエンコーダ等で検出することにより位置を特定す
る。尚、長所，短所は上記第３実施例と同じである。
光学部１２を、レーザ部１８と、ハーフミラー２４とス
キャン用ミラー１９を２つと、からなるものとし、レー
ザビーム１１を２本用いて、スキャン用ミラー１９の角
度をエンコーダ等で検出することにより位置を特定す
る。尚、長所，短所は上記第３実施例と同じである。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る中空
糸膜モジュールの欠陥位置検出方法および装置によれ
ば、欠陥のある中空糸膜が特定できるので、原因究明、
対策が容易になる。また、不良率を中空糸膜のレベルで
調査できる。
糸膜モジュールの欠陥位置検出方法および装置によれ
ば、欠陥のある中空糸膜が特定できるので、原因究明、
対策が容易になる。また、不良率を中空糸膜のレベルで
調査できる。
【００３５】そして、本発明に係る中空糸膜モジュール
の欠陥補修方法によれば、中空糸膜モジュールを廃却し
ないですむので生産性が向上する。
の欠陥補修方法によれば、中空糸膜モジュールを廃却し
ないですむので生産性が向上する。
【００３６】また、欠陥補修方法が簡便である。さら
に、大型の中空糸膜モジュールに対しては特に有効であ
る。
に、大型の中空糸膜モジュールに対しては特に有効であ
る。
【００３７】そして、補修は１本１本ではなく、欠陥部
位を補修するので、ポッティング位置制御が容易であ
る。
位を補修するので、ポッティング位置制御が容易であ
る。
【図１】図１（ａ）は本発明の一実施例に係る中空糸膜
モジュールの欠陥位置検出装置の模式図であり、同図
（ｂ）はレーザビームのスキャン角を示す模式図であ
り、同図（ｃ）は本発明の一実施例に係る中空糸膜モジ
ュールの欠陥補修方法を適用した欠陥補修装置の模式図
である。
モジュールの欠陥位置検出装置の模式図であり、同図
（ｂ）はレーザビームのスキャン角を示す模式図であ
り、同図（ｃ）は本発明の一実施例に係る中空糸膜モジ
ュールの欠陥補修方法を適用した欠陥補修装置の模式図
である。
【図２】図２（ａ）は欠陥補修後の中空糸膜モジュール
の一部投影斜視図であり、同図（ｂ）は同図（ａ）の側
断面図である。
の一部投影斜視図であり、同図（ｂ）は同図（ａ）の側
断面図である。
【図３】図３は本発明に係る第２実施例の欠陥位置検出
装置の光学部の模式図である。
装置の光学部の模式図である。
【図４】図４は本発明に係る第２実施例の欠陥位置検出
方法における中空糸膜モジュールへの空気の流れを示し
た中空糸膜モジュールの一部投影斜視図である。
方法における中空糸膜モジュールへの空気の流れを示し
た中空糸膜モジュールの一部投影斜視図である。
【図５】図５は本発明に係る第４実施例の欠陥位置検出
装置の光学部の模式図である。
装置の光学部の模式図である。
１ 中空糸膜モジュール ２ 中空糸膜 ３ 中空糸膜束 ４ ケース ５ ポッティング材（封止材） ６ 中空糸膜開口端面（封止部端面） １０ 欠陥位置検出装置 １１ レーザビーム １２ 光学部 １３ 散乱光（欠陥位置情報） １４ 孔 １５ 暗室 １６ ＣＣＤカメラ（検出手段） １７ 位置解析パソコン（処理手段） １８ レーザ部 １９ スキャン用ミラー ２０ レンズ ２１ ２次元光子検出管 ２２ ビームブロック ２３ スリントレーザ光 ２４ ハーフミラー ３０ 欠陥補修装置 ３１ ＸＹテーブル ３２ ポッティング装置 ３３ 目づめ
Claims (3)
- 【請求項１】 ケース内に挿入された多数本の中空糸膜
を、ケース開口部にて各中空糸膜の端末を開口させた状
態で封止材にて封止して封止部を形成し、該封止部にて
ケース内部と外部とを離隔した中空糸膜モジュールの欠
陥位置検出方法であって、 前記ケース内部から外部に向けて各中空糸膜を通る気流
を形成し、 前記封止部端面において、ポッティング不良あるいは中
空糸膜の破損等の欠陥部から流出する欠陥の大きさに対
応する塵等の微粒子を光学的に検出することによって、
封止部端面における欠陥部の位置を検出する中空糸膜モ
ジュールの欠陥位置検出方法。 - 【請求項２】 請求項１の方法によって検出された欠陥
位置情報に基づいて、封止部端面の欠陥位置に封止材を
滴下することを特徴とする中空糸膜モジュールの欠陥補
修方法。 - 【請求項３】 ケース内に多数本の中空糸膜の束を挿入
し、ケースの開口端部にて各中空糸膜間の隙間および各
中空糸膜とケース間の隙間を封止材で封止固定した中空
糸膜モジュールの、前記中空糸膜に所定の大きさの微粒
子を含む気体を通し、中空糸膜を通過した所定の大きさ
の微粒子を検出して中空糸膜モジュールの欠陥位置を検
出する装置であって、 前記中空糸膜モジュールの封止部端面の面方向にレーザ
ビームを走査させ、該レーザビームが前記中空糸膜を通
過した所定の大きさの微粒子に当たった際に発生する散
乱光を、中空糸膜モジュールの端面上部に設けられてい
る検出手段により検出し、該検出された情報を処理して
欠陥の位置を求める処理手段を備えたことを特徴とする
中空糸膜モジュールの欠陥位置検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4316480A JPH06134268A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法 |
| FR9312952A FR2698693B1 (fr) | 1992-10-30 | 1993-10-29 | Procédé et appareil pour détecter la position de défauts dans un module de membrane à fibres creuses. |
| US08/144,019 US5411682A (en) | 1992-10-30 | 1993-11-01 | Method and apparatus for detecting the position of defect in a hollow fiber membrane module |
| US08/378,826 US5640236A (en) | 1992-10-30 | 1995-01-27 | Method and apparatus for detecting the position of defect in a hollow fiber membrane module |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4316480A JPH06134268A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06134268A true JPH06134268A (ja) | 1994-05-17 |
Family
ID=18077569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4316480A Withdrawn JPH06134268A (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 中空糸膜モジュールの欠陥位置検出方法およびその装置並びに欠陥補修方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JPH06134268A (ja) |
| FR (1) | FR2698693B1 (ja) |
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