JPH0612825Y2 - Evaporator - Google Patents
EvaporatorInfo
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- JPH0612825Y2 JPH0612825Y2 JP2255089U JP2255089U JPH0612825Y2 JP H0612825 Y2 JPH0612825 Y2 JP H0612825Y2 JP 2255089 U JP2255089 U JP 2255089U JP 2255089 U JP2255089 U JP 2255089U JP H0612825 Y2 JPH0612825 Y2 JP H0612825Y2
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- raw material
- sealed chamber
- liquid
- liquid raw
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- Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、半導体の製造に使用される半導体層形成材
料等の液体原料を気化させるための蒸発器に関するもの
である。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to an evaporator for vaporizing a liquid raw material such as a semiconductor layer forming material used for manufacturing a semiconductor.
半導体の製造工程においては、ウエハーの表面に、絶縁
膜半導体材料からなる層を形成することが行われてお
り、このような材料の中に、テトラエチルオキサイドシ
ラン(以下TEOSと略す)がある。このTEOSは、
沸点が170℃と高く気化しにくいうえ、130℃程度
の温度で分解してしまう性質を有しており、一般に、バ
ブリング方式またはベーキング方式によつて、絶縁半導
体層形成用処理室に供給されている。上記方式のうち、
バブリング方式は第3図に示すようなものであり、加熱
室1の内部に配設された原料タンク2内にTEOSを厳
密に加温調節した状態で保持し、この原料タンク2内
に、マスフローコントローラー(以下MFCと略す)3
によつて流量調節された不活性ガス(例えばN2,Ar)
をキヤリアガスとして供給することによりTEOSをバ
ブリングさせ、原料タンク2内に発生する気化ガスを、
配管4を介して処理室5内に送り込むようになつてい
る。そして、この気化ガスは処理室5内に並設されたウ
エハー6の表面に吹き付けられて絶縁半導体層を形成す
るというものである。また、ベーキング方式は第4図に
示すようなものであり、加温調節された加熱室1a内に
原料タンク2を配設するとともに、その加熱室1a内に
おける下流側にMFC3を配設し、このMFC3で原料
タンク2から送られてくるTEOSを流量を調節しなが
らウエハー6が並設された処理室5内に送り込むように
なつている。なお、第3図および第4図において、7は
開閉弁であり、8は圧力計、9は可変流量弁である。In a semiconductor manufacturing process, a layer made of an insulating film semiconductor material is formed on the surface of a wafer, and tetraethyloxide silane (hereinafter abbreviated as TEOS) is included in such a material. This TEOS is
It has a high boiling point of 170 ° C and is difficult to vaporize, and has the property of decomposing at a temperature of about 130 ° C. Generally, it is supplied to the processing chamber for forming an insulating semiconductor layer by a bubbling method or a baking method. There is. Of the above methods,
The bubbling method is as shown in FIG. 3, and TEOS is held in a raw material tank 2 arranged inside the heating chamber 1 in a state where the temperature is strictly controlled, and the mass flow is performed in the raw material tank 2. Controller (hereinafter abbreviated as MFC) 3
Inert gas whose flow rate is controlled by (eg N 2 , Ar)
TEOS is bubbled by supplying as a carrier gas, the vaporized gas generated in the raw material tank 2 is
It is adapted to be fed into the processing chamber 5 through the pipe 4. Then, this vaporized gas is sprayed on the surface of the wafer 6 arranged in parallel in the processing chamber 5 to form an insulating semiconductor layer. The baking method is as shown in FIG. 4, in which the raw material tank 2 is arranged in the heating chamber 1a whose temperature is adjusted, and the MFC 3 is arranged in the heating chamber 1a at the downstream side. The TEOS sent from the raw material tank 2 is sent into the processing chamber 5 in which the wafers 6 are juxtaposed by the MFC 3 while adjusting the flow rate. In FIGS. 3 and 4, 7 is an on-off valve, 8 is a pressure gauge, and 9 is a variable flow valve.
しかしながら、上記バブリング方式では、気化TEOS
が不活性ガスと混合した状態で処理室5に送られるた
め、その濃度が薄くなり、かつTEOSの供給量の計測
が困難になる。したがつて、絶縁半導体層の形成に長時
間を要するとともに、形成層の精度が悪くなるという問
題点を有している。また、加熱室1の温度調節を厳密に
行う必要があるため、操作が難しいという問題もある。
ベーキング方式では、形成層の精度は良好であり、加熱
室1aの温度調節も厳密に行う必要はない。しかし、液
体原料の単位時間当たりの気化量を多くするためには、
液体原料の気化する表面積を大きくするとともに、液体
原料の加熱面積を大きくして、単位時間当たりに液体原
料が受ける熱量を多くする必要がある。このためには、
原料タンク2を大きくして、加熱面となるタンク底面の
面積を大きくし、同時に液体原料の表面積を大きくしな
ければならない。そして、このように大きな原料タンク
2を加熱室1a内に配設するために加熱室1aが大形化
するという問題を生じている。However, in the above bubbling method, vaporized TEOS is used.
Is sent to the processing chamber 5 in a state of being mixed with an inert gas, so that its concentration becomes low and it becomes difficult to measure the supply amount of TEOS. Therefore, there is a problem that it takes a long time to form the insulating semiconductor layer and the accuracy of the formed layer deteriorates. In addition, since it is necessary to strictly control the temperature of the heating chamber 1, there is a problem that the operation is difficult.
In the baking method, the accuracy of the forming layer is good, and it is not necessary to strictly control the temperature of the heating chamber 1a. However, in order to increase the vaporization amount of liquid raw material per unit time,
It is necessary to increase the vaporized surface area of the liquid raw material and increase the heating area of the liquid raw material to increase the amount of heat received by the liquid raw material per unit time. For this,
It is necessary to increase the size of the raw material tank 2 to increase the area of the bottom surface of the tank serving as the heating surface, and at the same time increase the surface area of the liquid raw material. Further, since the large raw material tank 2 is arranged in the heating chamber 1a, the heating chamber 1a becomes large.
この考案は、このような事情に鑑みなされたもので、上
記ベーキング方式による長所を維持したままで、加熱手
段を小形化できるとともに、効率のよい気化が可能にな
る蒸発器の提供をその目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide an evaporator capable of downsizing the heating means and efficiently vaporizing the heating means while maintaining the advantages of the baking method. To do.
上記の目的を達成するため、この考案の蒸発器は、液体
原料タンクから液体原料供給用配管を延設してその先端
を密封室の下端に連結するとともに、その密封室の下側
に加熱手段を設け、上記液体原料タンクから送られてく
る液体原料を上記密封室で加熱蒸発させその気化原料を
上記密封室の上端から延びる気体原料取出用配管を介し
て処理室に送り込む蒸発器であつて、上記密封室内の底
面を、上記液体原料供給用配管の先端が連結された注入
用開口部を中心として、外側に向かつて徐々に低くなつ
た円形の段状に形成するとともに、その段状の各段の縁
部に、その縁部に沿つてリング状になつた堰を設け、上
記底面の上方に、液体原料飛散防止用の円板状遮蔽板を
設け、この遮蔽板と上記密封室の内周壁および天井面と
の間を気化原料通過用の通路に形成したという構成をと
る。In order to achieve the above-mentioned object, the evaporator of the present invention has a liquid raw material supply pipe extending from a liquid raw material tank, the front end of which is connected to the lower end of a sealed chamber, and a heating means provided below the sealed chamber. And an evaporator that heats and vaporizes the liquid raw material sent from the liquid raw material tank in the sealed chamber and sends the vaporized raw material to the processing chamber through a gas raw material extraction pipe extending from the upper end of the sealed chamber. The bottom of the hermetically sealed chamber is formed in a circular stepwise shape that is gradually lowered toward the outside, centering on the injection opening to which the tip of the liquid raw material supply pipe is connected, and the stepped shape is formed. At the edge of each step, a ring-shaped weir is provided along the edge, and above the bottom surface, a disk-shaped shield plate for preventing liquid material scattering is provided. Passing the vaporized raw material between the inner wall and ceiling surface A configuration that is formed in the passage of use.
すなわち、この考案の蒸発器は、従来例のように、加熱
保持した液体原料を不活性ガスによつてバブリングさせ
そのときに生じる気化ガスを取り出したり、原料タンク
等を大形の加熱室で加熱することにより液体原料を気化
させ取り出すというものではなく、原料タンクから延び
る液体原料供給用の配管を、加熱保持された密封室に連
結し、原料タンクから送り出される液体原料をこの密封
室で気化したのち気体原料取出用配管を介して処理室に
送り込むようになつている。したがつて、密封室を小形
化することができ、それを加熱する加熱手段を大幅に小
形化できるようになる。その結果、従来例のような大形
の加熱室が不要になる。すなわち、密封室の底面が注入
用開口部を中心として、外側に向かつて徐々に低くなつ
た円形の段状に形成されているとともに、その各段の縁
部に堰が設けられているため、液体原料が底面の略全面
に広がつてその表面積が大きくなり、液体原料への熱伝
達が良好になる。その結果、液体原料を効果的に気化で
きるようになり密封室の小形化を実現できる。また、底
面の上方に液体原料飛散防止用の円板状遮蔽板が設けら
れているため、注入用開口部から密封室内に送り込まれ
た液体原料が飛散し、密封室内で気化した気体原料と混
合した状態で気体原料取出用配管に送り出されるという
ようなことが防止される。したがつて、液体を含まない
気化原料だけが、この円板状遮蔽板と、密封室の内周壁
および天井面との間で形成される気化原料通過用の通路
を通つて気体原料取出用配管に送られ、この気体原料取
出用配管から処理室に送られるようになる。さらに、キ
ヤリアガスを使用しないため、気化原料が希釈されると
いう問題も生じない。That is, the evaporator of the present invention, like the conventional example, bubbling a liquid raw material heated and held by an inert gas to take out vaporized gas generated at that time, or heat a raw material tank in a large heating chamber. By doing so, the liquid raw material is not vaporized and taken out, but the liquid raw material supply pipe extending from the raw material tank is connected to the heated and held sealed chamber, and the liquid raw material sent from the raw material tank is vaporized in this sealed chamber. After that, it is fed into the processing chamber through a pipe for taking out the gas raw material. Therefore, the sealed chamber can be downsized, and the heating means for heating it can be downsized significantly. As a result, the large-sized heating chamber as in the conventional example becomes unnecessary. That is, since the bottom surface of the sealed chamber is formed in a circular step shape that is gradually lowered toward the outside with the injection opening as the center, and a weir is provided at the edge of each step, The liquid raw material spreads over almost the entire bottom surface and its surface area increases, so that heat transfer to the liquid raw material is improved. As a result, the liquid raw material can be effectively vaporized, and the sealed chamber can be downsized. In addition, since a disc-shaped shield plate for preventing the scattering of the liquid raw material is provided above the bottom surface, the liquid raw material sent into the sealed chamber through the injection opening scatters and mixes with the vaporized gaseous raw material in the sealed chamber. In such a state, it is prevented that the gas raw material is delivered to the pipe for taking out the gas raw material. Therefore, only the vaporized raw material containing no liquid passes through the passage for the vaporized raw material formed between the disc-shaped shield plate and the inner peripheral wall and ceiling surface of the sealed chamber, and the pipe for taking out the gaseous raw material. And is sent to the processing chamber through the pipe for extracting the gaseous raw material. Further, since the carrier gas is not used, there is no problem that the vaporized raw material is diluted.
つぎに、この考案を実施例にもとづいて詳しく説明す
る。Next, this invention will be described in detail based on embodiments.
第1図は、この考案の一実施例を示している。すなわ
ち、図において、10は原料タンクであり、内部下部側
に絶縁半導体層形成用の液体TEOSが充填されてい
る。この原料タンク10の上端部には、ヘリウムガス供
給用の配管11が連結されており、この配管11から原
料タンク10の上部側空間部に送り込まれてくるヘリウ
ムガスによつて、原料タンク10内のTEOSは分解し
にくい安定な状態に維持されている。12は配管11に
設けられた圧力調節弁であり、原料タンク10内のTE
OSが減少し原料タンク10の圧力が低下すると自動的
に開き、ヘリウムガスを原料タンク10内に送り込むよ
うになつている。13および14はストツプ弁、15は
フイルター、16は加圧ノズル、17は圧力指示警報計
である。また、18は原料タンク10内の底部側から上
方に延び天井部を貫通して外部に延びる原料取出用配管
であり、先端がストツプ弁19,20、フイルター22
およびMFC23等を介して、円形ボツクス状の密封室
24の底部中央に連結されている。この密封室24は、
第2図に示すように、底面部25の中央部側が上方に盛
り上がつた状態になつており、その中心部に細径(直径
が0.3mm)の吐出口26aを有するノズル部26が植
設されているとともに、そのノズル部26を中心とし
て、底面部25の上面が外側に向かつて徐々に低くなつ
た段状に形成されている。そして、その段状に形成され
た底面の各段部の縁部には、それぞれ同じ高さを有する
リング状の堰27が円周に沿つて上方に突設されてい
る。28は底面部25の上方に、底面部25から所定間
隔を保つて配設された遮蔽板であり、中心部28aが上
方に向かつて突出しているとともに、その下面側が吐出
液跳ね返し用の凹部28bに形成されている。この凹部
28bの開口側縁部28cは下方に向かつて突出した先
鋭状に形成されており、凹部28bで跳ね返された液
を、遮蔽板28の下面に伝わらせることなく、真下に落
下させるようになつている。そして、上記遮蔽板28は
短円筒状の支持部29によつて密封室24の天井部30
の下面に固定されており、上記支持部29の側面には、
円周に沿つて一定間隔で穴部29aが設けられている。
31は天井部30の中央部に設けられた気化原料取り出
し用の穴部である。なお、上記密封室24の上下には、
第1図に示すように、加熱ヒータ32が設けられてお
り、この加熱ヒータ32の発熱によつて上記密封室24
内が略90℃の温度に保持されている。このため、原料
取出用配管18を介して原料タンク10から密封室24
の下部側に送り込まれる液体TEOSは、加熱ヒータ3
2によつて加熱された底面部25の段状底面に接触しゆ
つくりと外側に向かつて広がりながら密封室24内を下
降する。その間に、上記液体TEOSは、加熱されて蒸
発し、その気化ガスが密封室24の周壁側上部に移動し
穴部29aを通過して密封室24の中央部上端側から穴
部31に上昇していく。第1図において、33は密封室
24の上端中央から延設された気化ガス搬送用の配管で
あり、一端が密封室24の天井部30に設けられた穴部
31に嵌合し、他端がストツプ弁34を介して処理室3
5に連結されている。この処理室35は真空ポンプ36
を備えており、その真空ポンプ36の作用により、配管
33内を負圧にし、密封室24内の気化ガスを、配管3
3を介して内部に吸引する。また、37は配管33から
分岐している排気用配管であり、配管11から分岐して
いる排気用配管38と合流し、その先端が外部に延びて
いる。39,40,41はそれぞれストツプ弁であり、
42は、配管33および排気用配管37を囲つた保温層
である。また、43は保温層42に設けられた温度指示
調節計、44は加熱ヒータ32に設けられた温度指示調
節計、45は原料タンク10に設けられた液面計であ
る。FIG. 1 shows an embodiment of this invention. That is, in the figure, 10 is a raw material tank, and the liquid TEOS for forming an insulating semiconductor layer is filled in the inner lower part side. A pipe 11 for supplying helium gas is connected to an upper end portion of the raw material tank 10, and the helium gas sent from the pipe 11 into the upper space of the raw material tank 10 causes the inside of the raw material tank 10 to be filled. TEOS is maintained in a stable state that is difficult to decompose. Reference numeral 12 is a pressure control valve provided in the pipe 11, and is a TE in the raw material tank 10.
When the OS decreases and the pressure in the raw material tank 10 decreases, the raw material tank 10 automatically opens, and helium gas is fed into the raw material tank 10. 13 and 14 are stop valves, 15 is a filter, 16 is a pressure nozzle, and 17 is a pressure indicating alarm meter. Reference numeral 18 denotes a raw material take-out pipe extending upward from the bottom side in the raw material tank 10 and penetrating through the ceiling portion to the outside, and the tip ends of the stop valves 19 and 20, the filter 22.
And, it is connected to the center of the bottom of the circular box-shaped sealed chamber 24 via the MFC 23 and the like. This sealed chamber 24 is
As shown in FIG. 2, the central portion side of the bottom surface portion 25 is in a state of being bulged upward, and a nozzle portion 26 having a discharge port 26a having a small diameter (diameter of 0.3 mm) is formed in the central portion thereof. While being planted, the upper surface of the bottom surface portion 25 is formed in a stepwise shape that is gradually lowered toward the outside with the nozzle portion 26 as the center. Then, a ring-shaped weir 27 having the same height is provided so as to project upward along the circumference at the edge of each step portion of the stepped bottom surface. Reference numeral 28 denotes a shield plate disposed above the bottom surface portion 25 at a predetermined distance from the bottom surface portion 25. The center portion 28a projects upward and the lower surface side thereof is a concave portion 28b for repelling the discharged liquid. Is formed in. The opening-side edge portion 28c of the recess 28b is formed in a sharp shape protruding downward and allows the liquid repelled by the recess 28b to drop right below without being transmitted to the lower surface of the shield plate 28. I'm running. The shield plate 28 has a ceiling 30 of the sealed chamber 24 due to the support 29 having a short cylindrical shape.
Is fixed to the lower surface of the
Holes 29a are provided at regular intervals along the circumference.
Reference numeral 31 is a hole portion provided in the central portion of the ceiling portion 30 for taking out the vaporized raw material. In addition, above and below the sealed chamber 24,
As shown in FIG. 1, a heater 32 is provided, and the heat generated by the heater 32 causes the sealed chamber 24 to move.
The inside is kept at a temperature of about 90 ° C. Therefore, from the raw material tank 10 to the sealed chamber 24 via the raw material take-out pipe 18.
Liquid TEOS sent to the lower side of the
It comes in contact with the stepped bottom surface of the bottom surface portion 25 heated by 2 and slowly descends in the sealed chamber 24 while spreading outward toward the outside. In the meantime, the liquid TEOS is heated and evaporated, and the vaporized gas moves to the upper portion on the peripheral wall side of the sealed chamber 24, passes through the hole 29a, and rises from the upper end of the central portion of the sealed chamber 24 to the hole 31. To go. In FIG. 1, 33 is a pipe for carrying vaporized gas, which extends from the center of the upper end of the sealed chamber 24, one end of which is fitted into a hole 31 provided in the ceiling portion 30 of the sealed chamber 24 and the other end of which is connected. Through the stop valve 34
It is connected to 5. This processing chamber 35 has a vacuum pump 36.
The inside of the pipe 33 is made to have a negative pressure by the action of the vacuum pump 36, and the vaporized gas in the sealed chamber 24 is supplied to the pipe 3
Aspirate through 3 In addition, 37 is an exhaust pipe branched from the pipe 33, and joins with an exhaust pipe 38 branched from the pipe 11, and the tip thereof extends to the outside. 39, 40, 41 are stop valves,
Reference numeral 42 is a heat insulating layer surrounding the pipe 33 and the exhaust pipe 37. Further, 43 is a temperature indicator controller provided in the heat retaining layer 42, 44 is a temperature indicator controller provided in the heater 32, and 45 is a liquid level gauge provided in the raw material tank 10.
この構成において、まず、ストツプ弁13,14,20
および34を開けるとともに、ストツプ弁39,40,
41を閉じ、ヘリウムガスを0.1〜0.2kg/cm2G
の圧力で原料タンク10に送り込む。その状態で、処理
室35の真空ポンプ36を作動させると、原料タンク1
0内の液体TEOSは、原料取出用配管18を介して密
封室24内に送り込まれ、密封室24内の段状の底面
を、中央部から外周側に向かつて移動する間に加熱され
効果的に気化する。その際、密封室24内には、遮蔽板
28が設けられているため、ノズル部26から密封室2
4内に吐出される液体TEOSが密封室24内に飛散し
ても、上記遮蔽板28の凹部28b壁面に衝突して下方
に落とされる。したがつて、底面部25の段状底面を流
れながら、加熱ヒータ32の加熱によつて気化した気化
TEOSだけが密封室24内の周壁側上部に移動してい
く。そして、その気化TEOSは、配管33を介して処
理室35に送られる。その結果、上記TEOSの気化ガ
スは、処理室35内に並設されたウエハーの表面に吹き
付けられ、その表面に絶縁半導体層を形成する。なお、
上記密封室24内に送り込まれる液体TEOSは、MF
C23によつて適正な流量に調節されるため、密封室2
4内で気化され処理室35に送られる気化TEOSも適
正量になり、形成される絶縁半導体層が精度のよい良好
な状態になる。In this configuration, first, the stop valves 13, 14, 20
And 34 are opened, and stop valves 39, 40,
41 is closed, and helium gas is 0.1 to 0.2 kg / cm 2 G
It is sent to the raw material tank 10 at a pressure of. In that state, when the vacuum pump 36 of the processing chamber 35 is operated, the raw material tank 1
The liquid TEOS in 0 is sent into the sealed chamber 24 through the raw material extracting pipe 18, and is heated while the stepped bottom surface in the sealed chamber 24 is moved from the central portion toward the outer peripheral side and is effective. Vaporize. At that time, since the shield plate 28 is provided in the sealed chamber 24, the nozzle portion 26 moves the sealed chamber 2
Even if the liquid TEOS discharged into the inside 4 is scattered into the sealed chamber 24, it collides with the wall surface of the recess 28b of the shield plate 28 and is dropped downward. Therefore, while flowing on the stepped bottom surface of the bottom surface portion 25, only the vaporized TEOS vaporized by the heating of the heater 32 moves to the upper portion on the peripheral wall side in the sealed chamber 24. Then, the vaporized TEOS is sent to the processing chamber 35 via the pipe 33. As a result, the vaporized gas of TEOS is sprayed on the surface of the wafers arranged in parallel in the processing chamber 35, and an insulating semiconductor layer is formed on the surface. In addition,
The liquid TEOS sent into the sealed chamber 24 is MF.
Since the flow rate is adjusted to an appropriate value by C23, the sealed chamber 2
The vaporized TEOS vaporized in 4 and sent to the processing chamber 35 also has an appropriate amount, and the formed insulating semiconductor layer is in a good and accurate state.
このように、この蒸発器は、密封室24を著しく小形化
し、この小形化された密封室24の底面部25を加熱ヒ
ータ32で加熱するようにしているため、加熱手段を著
しく小形化することができる。すなわち、上記密封室2
4の小形化の実現は、底面部25の上面を外側に向かつ
て徐々に低くなつた段状に形成するとともに、その各段
部の縁部に堰27を設けたことによつて達成される。す
なわち、上記のような堰27付の段状にせず、単に底面
部25を傾斜面にするだけでは、密封室24のノズル部
26から内部に送入される液体TEOSが、上記傾斜面
を筋状に偏つて早く流れ、斜面の最低部である周縁部に
環状に溜まる。このため、液体TEOSの気化は、上記
偏つた筋状の流れと環状に溜まつた部分において行われ
るにすぎず、加熱されている底面部25との接触面積が
小さくなつてしまう。これに対し、上記のように、斜面
を堰27付の多段にすると、ノズル部26から送入され
る液体TEOSは、同心的に順次各段を満たしながらつ
ぎの段に流出していき、底面部25全体に拡がりながら
最低部である周縁部に到達する。これにより、液体TE
OSが各段に薄く拡がつて加熱された底面部25と略全
面的に接触し、その状態で気化されるため、気化効率が
非常に高くなる。また、底面部25を中心部から外側に
向けて傾斜させることにより、液体TEOSがその傾斜
に沿つて流れるようにし、最下段側で最高温度に達して
気化し配管33に送られるというように液体TEOSの
温度が徐々に高くなるようにしている。したがつて、上
記のような効果的な気化が可能になる。さらに、液体T
EOSがMFC23の調節によつて適正な流量で密封室
24内に送り込まれるとともに、密封室24内で、遮蔽
板28によつて飛散防止され気化ガスと混合することが
防止される。その結果、液体分を含まない気化ガスだけ
が原料として取り出されるようになり、精度のよい良好
な絶縁半導体層の形成が可能になる。また、原料タンク
10を加熱室外におくことが可能になることから、高温
下で不安定なTEOSを安定な状態で保持できるように
なる。また、キヤリアーガスを使用しないためTEOS
が希釈される等の問題も生じない。As described above, in this evaporator, the sealed chamber 24 is remarkably downsized, and the bottom portion 25 of the downsized sealed chamber 24 is heated by the heater 32. Therefore, the heating means is remarkably downsized. You can That is, the sealed chamber 2
The miniaturization of No. 4 is achieved by forming the upper surface of the bottom surface portion 25 toward the outside in a stepwise shape gradually lowering and providing the weir 27 at the edge of each stepped portion. . That is, if the bottom surface portion 25 is simply made into an inclined surface without forming the stepped shape with the weir 27 as described above, the liquid TEOS fed into the inside from the nozzle portion 26 of the hermetically sealed chamber 24 streaks the inclined surface. It flows eccentrically and flows quickly, and accumulates in an annular shape at the peripheral edge, which is the lowest part of the slope. Therefore, the vaporization of the liquid TEOS is only performed in the uneven streak-like flow and the annularly accumulated portion, and the contact area with the heated bottom portion 25 becomes small. On the other hand, as described above, when the slope is formed in multiple stages with the weir 27, the liquid TEOS fed from the nozzle portion 26 concentrically sequentially fills each stage and flows out to the next stage, and the bottom face is formed. While extending to the entire part 25, it reaches the peripheral part which is the lowest part. This allows liquid TE
Since the OS spreads thinly in each step and contacts substantially the entire bottom surface portion 25 that is heated and is vaporized in that state, the vaporization efficiency becomes very high. Further, by inclining the bottom surface portion 25 from the center to the outside, the liquid TEOS is caused to flow along the inclination, and reaches the maximum temperature on the lowermost side to be vaporized and sent to the pipe 33. The temperature of TEOS is gradually increased. Therefore, the effective vaporization as described above becomes possible. Furthermore, liquid T
By adjusting the MFC 23, EOS is sent into the sealed chamber 24 at an appropriate flow rate, and within the sealed chamber 24, the shielding plate 28 prevents the EOS from being scattered and mixed with the vaporized gas. As a result, only the vaporized gas containing no liquid is taken out as a raw material, and the insulating semiconductor layer can be formed with good accuracy and good quality. Further, since the raw material tank 10 can be placed outside the heating chamber, TEOS that is unstable at high temperatures can be held in a stable state. Also, TEOS is used because carrier gas is not used.
There is no problem such as diluting.
なお、停止時には、ストツプ弁20,34を閉じてお
く。また、操作を再開する際には、ストツプ弁34を閉
じるとともに、ストツプ弁39を開け、その状態で、上
記実施例と同様の操作をし密封室24内および配管1
8,33等の残留TEOSを排気用配管37から排除す
る。ついで、送られてくるTEOSが適正状態になつた
のち、上記ストツプ弁39を閉じて、ストツプ弁34を
開けそのTEOSを処理室35に送るようにする。ま
た、密封室32と処理室35との間に、公知の気液分離
装置を設け、配管33を流れる気化ガスを厳密に気体分
だけにするようにしてもよい。この場合、気液分離装置
から原料タンク10に配管を延設し分離された液体分を
原料タンク10に送るようにする。また、この考案で使
用する液体原料は、上記TEOSに限定するものではな
く、気化を必要とする液体原料であればなんでもよい。At the time of stop, the stop valves 20 and 34 are closed. Further, when the operation is restarted, the stop valve 34 is closed and the stop valve 39 is opened, and in that state, the same operation as in the above-described embodiment is performed, and the inside of the sealed chamber 24 and the pipe 1 are operated.
The residual TEOS such as 8, 33 is removed from the exhaust pipe 37. Then, after the sent TEOS has reached a proper state, the stop valve 39 is closed and the stop valve 34 is opened to send the TEOS to the processing chamber 35. Further, a known gas-liquid separation device may be provided between the sealed chamber 32 and the processing chamber 35, and the vaporized gas flowing through the pipe 33 may be strictly gas. In this case, a pipe is extended from the gas-liquid separator to the raw material tank 10 so that the separated liquid component is sent to the raw material tank 10. Further, the liquid raw material used in the present invention is not limited to the above TEOS, and may be any liquid raw material that requires vaporization.
以上のように、この考案の蒸発器は、原料タンクの下流
側に、加熱保持された密封室を設け、原料タンクから送
り出される液体原料をこの密封室で気化し外部に取り出
すようになつている。したがつて、液体原料を効果的に
気化できるとともに、加熱手段を簡素化および小形化す
ることができる。また、キヤリアガスを使用しないた
め、原料が希釈されるというような問題が生じない。As described above, the evaporator of the present invention is provided with the heat-sealed sealed chamber on the downstream side of the raw material tank, and the liquid raw material sent from the raw material tank is vaporized in this sealed chamber and taken out to the outside. . Therefore, the liquid raw material can be effectively vaporized, and the heating means can be simplified and miniaturized. Further, since the carrier gas is not used, there is no problem that the raw material is diluted.
第1図はこの考案の一実施例の構成図、第2図はその要
部を示す一部切欠断面図、第3図および第4図は従来例
の構成図である。 10……原料タンク、18……原料取出用配管、24…
…密封室、25……底面部、26……ノズル部、27…
…堰、28……遮蔽板、33……配管、35……処理室FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cutaway sectional view showing a main part thereof, and FIGS. 3 and 4 are block diagrams of a conventional example. 10 ... Raw material tank, 18 ... Raw material extraction pipe, 24 ...
... Sealing chamber, 25 ... Bottom part, 26 ... Nozzle part, 27 ...
… Weir, 28 …… Shield plate, 33 …… Pipe, 35 …… Processing room
Claims (1)
延設してその先端を密封室の下端に連結するとともに、
その密封室の下側に加熱手段を設け、上記液体原料タン
クから送られてくる液体原料を上記密封室で加熱蒸発さ
せその気化原料を上記密封室の上端から延びる気体原料
取出用配管を介して処理室に送り込む蒸発器であつて、
上記密封室内の底面を、上記液体原料供給用配管の先端
が連結された注入用開口部を中心として、外側に向かつ
て徐々に低くなつた円形の段状に形成するとともに、そ
の段状の各段の縁部に、その縁部に沿つてリング状にな
つた堰を設け、上記底面の上方に、液体原料飛散防止用
の円板状遮蔽板を設け、この遮蔽板と上記密封室の内周
壁および天井面との間を気化原料通過用の通路に形成し
たことをことを特徴とする蒸発器。1. A liquid raw material supply pipe is extended from a liquid raw material tank, and its tip is connected to a lower end of a hermetically sealed chamber.
A heating means is provided on the lower side of the sealed chamber, the liquid raw material sent from the liquid raw material tank is heated and evaporated in the sealed chamber, and the vaporized raw material is passed through a gas raw material extracting pipe extending from the upper end of the sealed chamber. An evaporator sent to the processing chamber,
The bottom surface of the sealed chamber is formed in a circular stepwise shape that is gradually lowered toward the outside with the injection opening to which the tip of the liquid raw material supply pipe is connected as the center, and each of the stepped shapes. A ring-shaped weir is provided along the edge of the step, and a disc-shaped shield plate for preventing liquid raw material scattering is provided above the bottom surface. An evaporator characterized in that a passage for passing vaporized raw material is formed between the peripheral wall and the ceiling surface.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2255089U JPH0612825Y2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Evaporator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2255089U JPH0612825Y2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Evaporator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02112328U JPH02112328U (en) | 1990-09-07 |
JPH0612825Y2 true JPH0612825Y2 (en) | 1994-04-06 |
Family
ID=31240770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2255089U Expired - Lifetime JPH0612825Y2 (en) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | Evaporator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0612825Y2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3415862B2 (en) * | 1992-07-06 | 2003-06-09 | 株式会社フジクラ | CVD raw material vaporizer |
JP2872891B2 (en) * | 1993-08-06 | 1999-03-24 | 株式会社東芝 | Vaporizer |
-
1989
- 1989-02-28 JP JP2255089U patent/JPH0612825Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02112328U (en) | 1990-09-07 |
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