JPH06112812A - バイナリ・カウンタ - Google Patents
バイナリ・カウンタInfo
- Publication number
- JPH06112812A JPH06112812A JP4259190A JP25919092A JPH06112812A JP H06112812 A JPH06112812 A JP H06112812A JP 4259190 A JP4259190 A JP 4259190A JP 25919092 A JP25919092 A JP 25919092A JP H06112812 A JPH06112812 A JP H06112812A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- type flip
- input
- clock
- binary counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】バイナリ・カウンタの動作試験を行う場合に、
テストモードを設けてそのビット数によらず2クロック
で試験を行うようにする。 【構成】セレクト信号Sをハイレベルにすることで、セ
レクタ回路5〜7は出力信号としてクロック入力信号C
LKを選択する。これにより、各D型フリップフロップ
1〜4は全てCLKの1クロック目の立ち下りでハイレ
ベルを出力し、2クロック目の立ち下りでロウレベルを
出力する。また、各D型フリップフロップ1〜4の出力
はANDゲート9に入力され、その出力として端子14
より出力される。
テストモードを設けてそのビット数によらず2クロック
で試験を行うようにする。 【構成】セレクト信号Sをハイレベルにすることで、セ
レクタ回路5〜7は出力信号としてクロック入力信号C
LKを選択する。これにより、各D型フリップフロップ
1〜4は全てCLKの1クロック目の立ち下りでハイレ
ベルを出力し、2クロック目の立ち下りでロウレベルを
出力する。また、各D型フリップフロップ1〜4の出力
はANDゲート9に入力され、その出力として端子14
より出力される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はバイナリ・カウンタに関
し、特にテストモード付きのバイナリ・カウンタに関す
る。
し、特にテストモード付きのバイナリ・カウンタに関す
る。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の4ビットの非同期型バイナ
リ・カウンタの回路図である。図5において、本バイナ
リ・カウンタは、D型フリップフロップ60〜63を有
する。また、D型フリップフロップ60〜62の各Q出
力は次段のD型フリップフロップ61〜63のクロック
入力に入力されると共に、出力端子51〜54より出力
される。Q(反転値)の出力は、データ入力(D)にフ
ィードバックされている。
リ・カウンタの回路図である。図5において、本バイナ
リ・カウンタは、D型フリップフロップ60〜63を有
する。また、D型フリップフロップ60〜62の各Q出
力は次段のD型フリップフロップ61〜63のクロック
入力に入力されると共に、出力端子51〜54より出力
される。Q(反転値)の出力は、データ入力(D)にフ
ィードバックされている。
【0003】図6のタイミング図を参照しながら、図5
の動作を説明する。図6のようなクロック信号(CL
K)を1ビット目のD型フリップフロップ60のC入力
に入力すると、そのQ出力はCLKの立ち下りに同期し
た信号として、Q出力より出力され、2ビット目のD型
フリップフロップ61のC入力され、同時に出力端子5
1より出力される。
の動作を説明する。図6のようなクロック信号(CL
K)を1ビット目のD型フリップフロップ60のC入力
に入力すると、そのQ出力はCLKの立ち下りに同期し
た信号として、Q出力より出力され、2ビット目のD型
フリップフロップ61のC入力され、同時に出力端子5
1より出力される。
【0004】2ビット目では前段のQ出力を入力とする
ので出力端子51の信号の立ち下りに同期した信号とし
て、3ビット目のD型フリップフロップ62のC入力に
入力され、同時に出力端子52より出力される。
ので出力端子51の信号の立ち下りに同期した信号とし
て、3ビット目のD型フリップフロップ62のC入力に
入力され、同時に出力端子52より出力される。
【0005】同様にして、出力端子53,54の出力に
図6のタイミング図のようなデータが出力され、この出
力端子51〜54を調べることにより、バイナリ・カウ
ンタの動作を確認することができる。
図6のタイミング図のようなデータが出力され、この出
力端子51〜54を調べることにより、バイナリ・カウ
ンタの動作を確認することができる。
【0006】しかし、このような構成であると、D型フ
リップフロップのnビットのQ出力に“1”が出力され
るまでに、2のn乗のクロック数を必要とする。
リップフロップのnビットのQ出力に“1”が出力され
るまでに、2のn乗のクロック数を必要とする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
のnビットのバイナリ・カウンタでは、その動作を試験
するのに2のn乗のクロック数を必要とし、ビット数が
増えるとテスト時間も増えるという欠点があった。
のnビットのバイナリ・カウンタでは、その動作を試験
するのに2のn乗のクロック数を必要とし、ビット数が
増えるとテスト時間も増えるという欠点があった。
【0008】本発明の目的は、前記欠点を解決し、テス
ト時間を短縮したバイナリ・カウンタを提供することに
ある。
ト時間を短縮したバイナリ・カウンタを提供することに
ある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のバイナリ・カウ
ンタの構成は、nビットのD型フリップフロップを有
し、前記nビットのD型フリップフロップの各ビットの
Q出力を一方の入力とし、かつクロック信号を他方の入
力とするn−1個のセレクタを有し、前記セレクタを制
御するセレクト信号の入力端子を有し、前記セレクタの
出力を次段の前記D型フリップフロップに入力し、前記
セレクト信号によりテストモード選択時には、前記nビ
ットのD型フリップフロップの各入力に前記クロック信
号が入力するようにしなしたことを特徴とする。
ンタの構成は、nビットのD型フリップフロップを有
し、前記nビットのD型フリップフロップの各ビットの
Q出力を一方の入力とし、かつクロック信号を他方の入
力とするn−1個のセレクタを有し、前記セレクタを制
御するセレクト信号の入力端子を有し、前記セレクタの
出力を次段の前記D型フリップフロップに入力し、前記
セレクト信号によりテストモード選択時には、前記nビ
ットのD型フリップフロップの各入力に前記クロック信
号が入力するようにしなしたことを特徴とする。
【0010】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の第1の実施例のバイナリ・カウンタ
を示す回路図である。図1においては、簡単のために4
ビットのバイナリ・カウンタを例にとり説明する。
る。図1は本発明の第1の実施例のバイナリ・カウンタ
を示す回路図である。図1においては、簡単のために4
ビットのバイナリ・カウンタを例にとり説明する。
【0011】図1において、本実施例は、バイナリ・カ
ウンタを構成するD型フリップフロップ1〜4と、セレ
クト信号Sにより各ビットのD型フリップフロップ1〜
4のクロック入力(C)に前段のQ出力を入力するかク
ロック信号(CLK)入力端子からの信号を入力するか
を選択するためのセレクタ5,6,7とを備えている。
また、D型フリップフロップ1〜4の各Q出力はそれぞ
れ出力端子11〜14より出力される。
ウンタを構成するD型フリップフロップ1〜4と、セレ
クト信号Sにより各ビットのD型フリップフロップ1〜
4のクロック入力(C)に前段のQ出力を入力するかク
ロック信号(CLK)入力端子からの信号を入力するか
を選択するためのセレクタ5,6,7とを備えている。
また、D型フリップフロップ1〜4の各Q出力はそれぞ
れ出力端子11〜14より出力される。
【0012】D型フリップフロップ1〜4のQ(反転
値)出力は、データ(D)入力にフィードバックされ
る。セレクタ5,6,7は、いずれも同一の回路構成と
なっており、図7にも示すように、2入力ANDゲート
71,72とORゲート73とを有する。
値)出力は、データ(D)入力にフィードバックされ
る。セレクタ5,6,7は、いずれも同一の回路構成と
なっており、図7にも示すように、2入力ANDゲート
71,72とORゲート73とを有する。
【0013】次に図2のタイミング図を参照しながら、
図1の動作を説明する。セレクト信号Sがロウレベレの
時はセレクタ5〜7は各段のD型フリップフロップ1〜
3のQ出力を選択する。従って、この場合従来例と同様
に、通常のバイナリ・カウンタの動作を行う。
図1の動作を説明する。セレクト信号Sがロウレベレの
時はセレクタ5〜7は各段のD型フリップフロップ1〜
3のQ出力を選択する。従って、この場合従来例と同様
に、通常のバイナリ・カウンタの動作を行う。
【0014】次に、セレクト信号Sをハイレベルにする
とテストモードになり、セレクタ5〜7は、クロック入
力信号CLKを選択し、各D型フリップフロップ1〜4
に同一のクロックを供給する。クロックが入力される
と、クロックの立ち下りで各D型フリップフロップ1〜
4のQ出力は一斉にハイレベルとなる。そして、次のク
ロックの立ち下りで各D型フリップフロップ1〜4のQ
出力は一斉にロウレベルを出力する。以上の動作によ
り、バイナリ・カウンタを構成するD型フリップフロッ
プの動作をわずか2クロックで試験することができる。
とテストモードになり、セレクタ5〜7は、クロック入
力信号CLKを選択し、各D型フリップフロップ1〜4
に同一のクロックを供給する。クロックが入力される
と、クロックの立ち下りで各D型フリップフロップ1〜
4のQ出力は一斉にハイレベルとなる。そして、次のク
ロックの立ち下りで各D型フリップフロップ1〜4のQ
出力は一斉にロウレベルを出力する。以上の動作によ
り、バイナリ・カウンタを構成するD型フリップフロッ
プの動作をわずか2クロックで試験することができる。
【0015】図3は本発明の第2の実施例のバイナリ・
カウンタを示す回路図である。図3において、本実施例
が前記第1の実施例と相違する点は、各D型フリップフ
ロップ1〜4のQ出力の論理ANDをANDゲート9で
とり、セレクタ8を介して出力端子14のみで動作をチ
ェックできるようにした点である。
カウンタを示す回路図である。図3において、本実施例
が前記第1の実施例と相違する点は、各D型フリップフ
ロップ1〜4のQ出力の論理ANDをANDゲート9で
とり、セレクタ8を介して出力端子14のみで動作をチ
ェックできるようにした点である。
【0016】次に、図4のタイミング図を参照しなが
ら、図3の動作を説明する。まず、セレクト信号Sがロ
ウレベルの時は、前記第1の実施例の場合と同様に通常
のバイナリ・カウンタの動作をする。
ら、図3の動作を説明する。まず、セレクト信号Sがロ
ウレベルの時は、前記第1の実施例の場合と同様に通常
のバイナリ・カウンタの動作をする。
【0017】次に、セレクト信号Sをハイレベルにする
とテストモードとなり、セレクタ5〜7はクロック入力
信号CLKを選択し、各D型フリップフロップ1〜4に
同一のクロックを供給する。クロック信号(CLK)が
入力されると、クロックの立ち下りで各D型フリップフ
ロップ1〜4のQ出力は一斉にハイレベルとなる。
とテストモードとなり、セレクタ5〜7はクロック入力
信号CLKを選択し、各D型フリップフロップ1〜4に
同一のクロックを供給する。クロック信号(CLK)が
入力されると、クロックの立ち下りで各D型フリップフ
ロップ1〜4のQ出力は一斉にハイレベルとなる。
【0018】ここで、ANDゲート9により各D型フリ
ップフロップ1〜4のQ出力の論理積がとられ、AND
ゲート9の出力もハイレベルとなり、セレクタ8を通し
て、出力端子14よりハイレベルが出力される。
ップフロップ1〜4のQ出力の論理積がとられ、AND
ゲート9の出力もハイレベルとなり、セレクタ8を通し
て、出力端子14よりハイレベルが出力される。
【0019】そして、次のクロックの立ち下りで各D型
フリップフロップ1〜4のQ出力は一斉にロウレベルを
出力する。ここで、ANDゲート9により各D型フリッ
プフロップ1〜4のQ出力の論理積がとられ、ANDゲ
ート9の出力もロウレベルとなり、セレクタ8を通し
て、出力端子14よりロウレベルが出力される。このよ
うに、第2の実施例では、出力端子14の出力のみから
バイナリ・カウンタの動作を試験することができる。尚
セレクタは、図1の回路でもよい。
フリップフロップ1〜4のQ出力は一斉にロウレベルを
出力する。ここで、ANDゲート9により各D型フリッ
プフロップ1〜4のQ出力の論理積がとられ、ANDゲ
ート9の出力もロウレベルとなり、セレクタ8を通し
て、出力端子14よりロウレベルが出力される。このよ
うに、第2の実施例では、出力端子14の出力のみから
バイナリ・カウンタの動作を試験することができる。尚
セレクタは、図1の回路でもよい。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、テスト
モード時には各段のD型フリップフロップのクロック入
力に同一のクロックを与えるようにすることで、2クロ
ックでバイナリ・カウンタの動作試験を行うことができ
る。
モード時には各段のD型フリップフロップのクロック入
力に同一のクロックを与えるようにすることで、2クロ
ックでバイナリ・カウンタの動作試験を行うことができ
る。
【図1】本発明の第1の実施例のバイナリ・カウンタを
示す回路図である。
示す回路図である。
【図2】図1の第1の実施例のタイミング図である。
【図3】本発明の第2の実施例の回路図である。
【図4】図3の第2の実施例のタイミング図である。
【図5】従来のバイナリ・カウンタの回路図である。
【図6】図5のタイミング図である。
【図7】図1,図3のセレクタを示す回路図である。
1〜4,60〜,63 D型フリップフロップ 5〜8 セレクタ 9,71,72 ANDゲート 11〜14,51〜53 出力端子 73 ORゲート S セレクト信号 CLK クロック信号
Claims (2)
- 【請求項1】 nビットのD型フリップフロップを有
し、前記nビットのD型フリップフロップの各ビットの
Q出力を一方の入力とし、かつクロック信号を他方の入
力とするn−1個のセレクタを有し、前記セレクタを制
御するセレクト信号の入力端子を有し、前記セレクタの
出力を次段の前記D型フリップフロップに入力し、前記
セレクト信号によりテストモード選択時には、前記nビ
ットのD型フリップフロップの各入力に前記クロック信
号が入力するようにしなしたことを特徴とするバイナリ
・カウンタ。 - 【請求項2】 前記D型フリップフロップの各Q出力を
入力とするANDゲートを設け、セレクタを介して出力
とする請求項1に記載のバイナリ・カウンタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4259190A JPH06112812A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | バイナリ・カウンタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4259190A JPH06112812A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | バイナリ・カウンタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06112812A true JPH06112812A (ja) | 1994-04-22 |
Family
ID=17330629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4259190A Pending JPH06112812A (ja) | 1992-09-29 | 1992-09-29 | バイナリ・カウンタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06112812A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989002479A1 (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-23 | Nkk Corporation | Process for decarburizing high-cr molten pig iron |
-
1992
- 1992-09-29 JP JP4259190A patent/JPH06112812A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1989002479A1 (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-23 | Nkk Corporation | Process for decarburizing high-cr molten pig iron |
AU619488B2 (en) * | 1987-09-09 | 1992-01-30 | Nkk Corporation | Process for decarburizing high-cr molten pig iron |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990921 |