JPH06109936A - Optical waveguide fabrication method - Google Patents
Optical waveguide fabrication methodInfo
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- JPH06109936A JPH06109936A JP4261708A JP26170892A JPH06109936A JP H06109936 A JPH06109936 A JP H06109936A JP 4261708 A JP4261708 A JP 4261708A JP 26170892 A JP26170892 A JP 26170892A JP H06109936 A JPH06109936 A JP H06109936A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光導波路の作製においてポリシロキサンの加
工を容易にする。
【構成】 ポリシロキサンの繰り返し単位
【化5】
式3のポリシロキサンAと式3,4の1:5共重合ポリ
シロキサンBを基板1上にスピンコートで製膜して下部
クラッド層とコア層となるスピンコート膜2とし、空気
中で265nm付近のUV光4をパターン付きマスク3
ごしに照射し、膜2を有機溶剤(クロロベンゼン)5で
エッチングし、溶解度変化部2aを残し、コアとする。
ポリシロキサンAの上部クラッド層を設ける。
(57) [Abstract] [Purpose] To facilitate the processing of polysiloxane in the production of optical waveguides. [Structure] Polysiloxane repeating unit The polysiloxane A of the formula 3 and the 1: 5 copolymer polysiloxane B of the formulas 3 and 4 are formed on the substrate 1 by spin coating to form a spin coat film 2 serving as a lower clad layer and a core layer, which is 265 nm in air. UV light 4 near the mask 3 with a pattern
The film 2 is irradiated with light to etch it, and the film 2 is etched with an organic solvent (chlorobenzene) 5 to leave the solubility changing portion 2a and serve as a core.
An upper clad layer of polysiloxane A is provided.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は光導波路の作製方法、特
にポリシロキサンを用いた光集積回路用光導波路の作製
方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing an optical waveguide, and more particularly to a method for producing an optical waveguide for an optical integrated circuit using polysiloxane.
【0002】[0002]
【従来の技術】光学部品や光ファイバの基材としては光
伝送損失が小さく、伝送帯域が広いことから、一般に石
英ガラスや多成分ガラス等の無機系のものが使用されて
いる。一方、プラスチックを基材とする光導波路も開発
されている。これらのプラスチック光導波路は、無機系
に比べリアクティブイオンエッチング(RIE)等によ
る加工性が良く、取り扱い等の特徴をもつことから注目
されている。このようなプラスチックの中でポリシロキ
サン材料は耐熱性、光透過性の面で優れている。しかし
ながら、このポリシロキサンは一般にRIE耐性が良い
ことで知られており、パターン化されたポリシロキサン
光導波路を簡便に作製することは困難であった。2. Description of the Related Art As a base material for optical parts and optical fibers, an inorganic material such as quartz glass or multi-component glass is generally used because of its small optical transmission loss and wide transmission band. On the other hand, an optical waveguide based on plastic has also been developed. These plastic optical waveguides are attracting attention because they have better workability by reactive ion etching (RIE) and the like than inorganic ones, and have features such as handling. Among such plastics, polysiloxane materials are excellent in heat resistance and light transmittance. However, this polysiloxane is generally known to have good RIE resistance, and it has been difficult to easily fabricate a patterned polysiloxane optical waveguide.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような現
状に鑑みなされたものであり、その課題は加工が困難で
あるポリシロキサンを容易に加工可能にした光導波路の
作製方法を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a method for producing an optical waveguide in which polysiloxane, which is difficult to process, can be easily processed. Is.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に従う
光導波路の作製方法は、下記一般式(1)(化1)〔式
中、R1 ,R2 は同一または異なり、Cn Y2n+1(Yは
重水素もしくはハロゲン、nは5以下の正の整数を表
す)で表される重水素化またはハロゲン化アルキル基、
あるいはC6 Y6 (Yは重水素もしくはハロゲンを表
す)で表される重水素化またはハロゲン化フェニル基〕
で表される繰り返し単位を有するハロゲンおよび/また
は重水素を含むポリシロキサン、下記一般式(2)(化
2)〔式中、R1 ,R2 は同一または異なり、Cn Y
2n+1(Yは重水素もしくはハロゲン、nは5以下の正の
整数を表す)で表される重水素化またはハロゲン化アル
キル基、あるいはC6 Y6 (Yは重水素もしくはハロゲ
ンを表す)で表される重水素化またはハロゲン化フェニ
ル基〕で表される繰り返し単位を有するハロゲンおよび
/または重水素を含むポリシロキサン、一般式(1)お
よび(2)で表される繰り返し単位の双方を含む共重合
体であるハロゲンおよび/または重水素を含むポリシロ
キサン、およびこれらの混合物、よりなる群から選ばれ
たポリマーの所望の部分に酸素存在下で光を照射し、溶
媒に対する溶解度を変化させ、所望のパターンをこの溶
解度の差を利用して作製し、このパターン部を光導波路
のコアあるいはクラッドとしたことを特徴とする。That is, a method of manufacturing an optical waveguide according to the present invention is described in the following general formula (1) (Chemical formula 1) [wherein R 1 and R 2 are the same or different and C n Y 2n + A deuterated or halogenated alkyl group represented by 1 (Y represents deuterium or halogen, n represents a positive integer of 5 or less),
Or a deuterated or halogenated phenyl group represented by C 6 Y 6 (Y represents deuterium or halogen)
A halogen- and / or deuterium-containing polysiloxane having a repeating unit represented by the following general formula (2) (Chemical formula 2) [in the formula, R 1 and R 2 are the same or different, and C n Y
2n + 1 (Y represents deuterium or halogen, n represents a positive integer of 5 or less) or a deuterated or halogenated alkyl group, or C 6 Y 6 (Y represents deuterium or halogen) A deuterated or halogenated phenyl group represented by the formula] and a polysiloxane containing halogen and / or deuterium having a repeating unit represented by the following general formulas (1) and (2) The desired portion of the polymer selected from the group consisting of a polysiloxane containing halogen and / or deuterium, which is a copolymer containing, and a mixture thereof is irradiated with light in the presence of oxygen to change the solubility in a solvent. A desired pattern is produced by utilizing this difference in solubility, and the pattern portion is used as a core or a clad of an optical waveguide.
【0005】[0005]
【作用】本発明の光導波路の作製方法において使用され
ているパターン化の原理を説明する。The principle of patterning used in the method for producing an optical waveguide of the present invention will be described.
【0006】まず、本発明に用いる材料ポリシロキサン
(I)の構造式(繰り返し単位)を以下に示す。First, the structural formula (repeating unit) of the material polysiloxane (I) used in the present invention is shown below.
【0007】(化1)〔式中、R1 ,R2 は、同一また
は異なり、Cn Y2n+1(Yは重水素もしくはハロゲン、
nは5以下の正の整数を表す)で表される重水素化また
はハロゲン化アルキル基、あるいはC6 Y6 (Yは重水
素もしくはハロゲンを表す)で表される重水素化または
ハロゲン化フェニル基を表す。〕同様に、本発明に用い
る材料ポリシロキサン(II)の構造式(繰り返し単
位)を以下に示す。(化2)〔式中、R1 ,R2 は、同
一または異なり、Cn Y2n+1(Yは重水素もしくはハロ
ゲン、nは5以下の正の整数を表す)で表される重水素
化またはハロゲン化アルキル基、あるいはC6 Y6 (Y
は重水素もしくはハロゲンを表す)で表される重水素化
またはハロゲン化フェニル基を表す。〕さらに、材料ポ
リシロキサン(III)として、(I)と(II)の繰
り返し単位の双方を含む共重合体も使用できる。[Chemical formula 1] [wherein R 1 and R 2 are the same or different, and C n Y 2n + 1 (Y is deuterium or halogen;
n represents a positive integer of 5 or less) or a deuterated or halogenated alkyl group represented by C 6 Y 6 (Y represents deuterium or halogen) and deuterated or halogenated phenyl. Represents a group. Similarly, the structural formula (repeating unit) of the material polysiloxane (II) used in the present invention is shown below. [Chemical Formula 2] [wherein R 1 and R 2 are the same or different and are represented by C n Y 2n + 1 (Y is deuterium or halogen, and n is a positive integer of 5 or less). Or halogenated alkyl group, or C 6 Y 6 (Y
Represents deuterium or halogen) and represents a deuterated or halogenated phenyl group. Further, as the material polysiloxane (III), a copolymer containing both the repeating units (I) and (II) can also be used.
【0008】さらにまた、材料ポリシロキサン(I),
(II),(III)を種々の比率で混合したブレンド
も使用できる。Furthermore, the material polysiloxane (I),
Blends in which (II) and (III) are mixed in various ratios can also be used.
【0009】本発明の方法において使用する材料ポリシ
ロキサン(I),(II),(III)は特願平1−1
78090に記載された方法で製造できる。The polysiloxanes (I), (II) and (III) used in the method of the present invention are disclosed in Japanese Patent Application No. 1-1.
It can be manufactured by the method described in 78090.
【0010】本発明で用いる材料ポリシロキサン
(I),(II)および(III)はいずれも結合とし
てR1 −Si−,R2 −Siを有する。これらの結合を
酸素雰囲気中、例えば空気中、でUV光を照射し、光エ
ネルギーにより切断し、ポリマーの溶解度物性を変化さ
せ、照射部と未照射部の溶解度の差によりパターン化す
るものである。The materials polysiloxanes (I), (II) and (III) used in the present invention all have R 1 --Si-- and R 2 --Si as bonds. These bonds are irradiated with UV light in an oxygen atmosphere, for example, in the air, cut by light energy to change the solubility property of the polymer, and patterned by the difference in solubility between the irradiated part and the unirradiated part. .
【0011】本発明による光導波路作製工程の中でパタ
ーン化工程について図1および図2にその方法を2種示
す。Regarding the patterning process in the optical waveguide manufacturing process according to the present invention, two methods are shown in FIGS. 1 and 2.
【0012】まず、図1に示す方法(a)について説明
する。First, the method (a) shown in FIG. 1 will be described.
【0013】(a−1) 材料ポリシロキサンを溶解し
た溶液を用いて、基板1上にポリシロキサンのスピンコ
ート膜2を作製し、溶剤除去のため加熱する(製膜工
程、図1(A))。(A-1) Material A polysiloxane spin coat film 2 is formed on a substrate 1 using a solution in which polysiloxane is dissolved, and heated to remove the solvent (film forming step, FIG. 1A). ).
【0014】(a−2) 次に任意のパターンが描かれ
たマスク3を用い、酸素存在下、例えば空気中、で波長
300nm以下のUV光4をマスク3ごしに照射する
(露光工程、図1(B))。(A-2) Next, using the mask 3 having an arbitrary pattern drawn, UV light 4 having a wavelength of 300 nm or less is irradiated through the mask 3 in the presence of oxygen, for example, in air (exposure step, FIG. 1B).
【0015】(a−3) 露光された基板1上のポリシ
ロキサンのスピンコート膜2を適当な有機溶剤5を用い
てエッチングして溶解度変化部2aを残す(現像工程、
図1(C))。(A-3) The polysiloxane spin coat film 2 on the exposed substrate 1 is etched by using an appropriate organic solvent 5 to leave the solubility changing portion 2a (developing step,
FIG. 1C).
【0016】次に図2に示す方法(b)について説明す
る。Next, the method (b) shown in FIG. 2 will be described.
【0017】(b−1) 材料ポリシロキサンを溶解し
た溶液を用いて、基板1上にポリシロキサンのスピンコ
ート膜2を作製し、溶剤除去のため加熱する(製膜工
程、図2(A))。(B-1) Material A polysiloxane spin coat film 2 is formed on a substrate 1 using a solution in which polysiloxane is dissolved, and heated to remove the solvent (film forming step, FIG. 2A). ).
【0018】(b−2) 次にレーザ光(波長300n
m以下のエキシマレーザ光)6を酸素存在下、例えば空
気中、で照射しながら、基板1を載せた移動ステージ7
を移動ステージ制御部8により走査して膜上に任意のパ
ターン2bを描く(露光工程、図2(B))。(B-2) Next, laser light (wavelength 300 n
a moving stage 7 on which the substrate 1 is placed while irradiating with excimer laser light (6 m or less) in the presence of oxygen, for example, in the air.
Is scanned by the moving stage controller 8 to draw an arbitrary pattern 2b on the film (exposure step, FIG. 2B).
【0019】(b−3) レーザ光6を照射した基板1
上のポリシロキサンのスピンコート膜2を適当な有機溶
剤5を用いてエッチングして溶解度変化部2bを残す
(現像工程、図2(C))。(B-3) Substrate 1 irradiated with laser light 6
The above polysiloxane spin coat film 2 is etched using an appropriate organic solvent 5 to leave the solubility changing portion 2b (developing step, FIG. 2C).
【0020】[0020]
【実施例】以下、実施例により本発明をさらに詳細に説
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はない。The present invention will be described in more detail with reference to the following examples, but the present invention is not limited to these examples.
【0021】(実施例1) 式(3)(Example 1) Formula (3)
【0022】[0022]
【化3】 [Chemical 3]
【0023】式(4)Equation (4)
【0024】[0024]
【化4】 [Chemical 4]
【0025】材料ポリシロキサン(II)であるポリシ
ロキサン(A)(式(4)の繰り返し単位を有するポリ
マー)を溶かした10%クロロベンゼン溶液を用いてシ
リコン基板上にスピンコートにより塗布した(回転数:
1000rpm)。得られた膜を110℃で加熱乾燥
し、十分に溶媒を除去して下部クラッド層を形成した。
完全に乾燥したことを確認してから、さらに、この膜上
に上記ポリシロキサン(A)より屈折率が高い、材料ポ
リシロキサン(III)であるポリシロキサン(B)
(式(3)の繰り返し単位を有するポリマー)と式
(4)の繰り返し単位を有するポリマーの1:5共重合
体)を含むクロロベンゼン溶液を用いて膜厚8μmの膜
をコア層として堆積した。スピンコーターの回転数は1
000rpmであった。Material A 10% chlorobenzene solution in which polysiloxane (A) which is polysiloxane (II) (a polymer having a repeating unit of the formula (4)) is dissolved is applied onto a silicon substrate by spin coating (rotation speed). :
1000 rpm). The obtained film was heated and dried at 110 ° C., and the solvent was sufficiently removed to form a lower clad layer.
After confirming that the film is completely dried, a polysiloxane (B), which is a material polysiloxane (III) having a higher refractive index than the polysiloxane (A), is further formed on this film.
A 8 μm thick film was deposited as a core layer using a chlorobenzene solution containing (a polymer having a repeating unit of the formula (3) and a 1: 5 copolymer of a polymer having a repeating unit of the formula (4)). Spin coater speed is 1
It was 000 rpm.
【0026】次に、8μm幅の直線パターンを有するマ
スクを用意し、空気中で波長265nm付近の光をマス
クごしに照射した。この膜をクロロベンゼンにて現像処
理した。その結果、UV光照射部のみ、ポリシロキサン
(B)が残り、未照射部は溶出し、幅8μm・高さ8μ
mのパターンがリッジとして残った。十分に加熱乾燥し
た後にこのパターン上からポリシロキサン(A)を塗布
して上部クラッド層とし、埋め込み型の3次元光導波路
を作製した。Next, a mask having a linear pattern with a width of 8 μm was prepared, and light having a wavelength of about 265 nm was irradiated through the mask in air. This film was developed with chlorobenzene. As a result, the polysiloxane (B) remains only in the UV light irradiation part, and the non-irradiation part elutes, and the width is 8 μm and the height is 8 μm.
The pattern of m remained as a ridge. After sufficiently heating and drying, polysiloxane (A) was applied onto this pattern to form an upper clad layer, and a buried type three-dimensional optical waveguide was manufactured.
【0027】この光導波路に波長1300nmの光を一
端から照射し、他端から出てくる光量を測定することに
より光導波路の損失を測定した。この光導波路の損失は
0.1dB/cm以下であった。次に、波長1550n
mの光を用いて同様な実験を行ったところ、この波長に
おいても損失は0.1dB/cm以下であった。また、
出射する光の近視野像を近赤外線用カメラを用いて観測
したところ、1300nm,1550nm両者の波長域
においてシングルモードとなっていることがわかった。The optical waveguide was irradiated with light having a wavelength of 1300 nm from one end, and the loss of the optical waveguide was measured by measuring the amount of light emitted from the other end. The loss of this optical waveguide was 0.1 dB / cm or less. Next, wavelength 1550n
When a similar experiment was performed using m light, the loss was 0.1 dB / cm or less even at this wavelength. Also,
When the near-field image of the emitted light was observed using a near-infrared camera, it was found that the mode was single mode in both wavelength regions of 1300 nm and 1550 nm.
【0028】(実施例2)実施例1と同様にポリシロキ
サン(A)を用いて下部クラッド層を堆積し、ポリシロ
キサン(B)を用いて膜厚8μmの膜をコア層として堆
積した。移動ステージの制御部によりステージが一方向
に移動するよう設定されたXY移動ステージ上にこの膜
を載せ、波長300nm以下のエキシマレーザ光を照射
しながら、ステージを移動した。この結果、照射部は幅
8μmの直線となり、パターン化が可能であった。次
に、この膜を現像液で処理した。未照射部は溶出し、幅
8μm・高さ8μmのパターンがリッジとして残った。
さらに、実施例1と同様に上部クラッド層を積層し、埋
め込み型の3次元光導波路を作製した。実施例1と同様
にして損失を測定したところ、波長1300nm,15
50nmにおいて損失は0.1dB/cm以下であっ
た。また、1300nm,1550nm両者の波長域に
おいてシングルモードとなっていた。Example 2 As in Example 1, polysiloxane (A) was used to deposit a lower clad layer, and polysiloxane (B) was used to deposit a film having a thickness of 8 μm as a core layer. This film was placed on an XY moving stage which was set to move in one direction by the control unit of the moving stage, and the stage was moved while irradiating the excimer laser light having a wavelength of 300 nm or less. As a result, the irradiated portion was a straight line having a width of 8 μm, and patterning was possible. The film was then treated with a developer. The unirradiated portion was eluted, and a pattern having a width of 8 μm and a height of 8 μm remained as a ridge.
Further, an upper clad layer was laminated in the same manner as in Example 1 to manufacture a buried type three-dimensional optical waveguide. When the loss was measured in the same manner as in Example 1, wavelengths of 1300 nm and 15
At 50 nm, the loss was 0.1 dB / cm or less. Further, the single mode was set in both wavelength regions of 1300 nm and 1550 nm.
【0029】上記実施例としては、いずれも直線の3次
元光導波路の作製例のみを説明したが、この他、光導波
路回路の基本構成をなす、分岐・合流回路、方向性結合
器、マッハツェンダ回路、リング回路等はマスクパター
ンの変更、XY移動ステージの制御部を調節することに
より、容易に作製可能であった。In each of the above embodiments, only an example of manufacturing a linear three-dimensional optical waveguide has been described. In addition to this, a branching / merging circuit, a directional coupler, and a Mach-Zehnder circuit, which form the basic structure of the optical waveguide circuit, are also described. The ring circuit and the like could be easily manufactured by changing the mask pattern and adjusting the control unit of the XY moving stage.
【0030】[0030]
【発明の効果】以上説明したように、本発明による光導
波路の作製方法は、従来、加工困難であった可視〜近赤
外光域においてきわめて優れた光伝送特性を有するポリ
シロキサンを容易に微細加工できるため、近赤外光域に
おける低損失で信頼性が高い高品質な光集積回路を容易
に供給し得るという利点がある。すなわち、この作製方
法を用いた光回路を使用して作製した光部品により、経
済性に優れ、信頼性の高いローカルエリアネットワーク
等の光信号伝送システムを構成できる利点がある。As described above, according to the method of manufacturing an optical waveguide of the present invention, it is possible to easily prepare a finely divided polysiloxane having excellent light transmission characteristics in the visible to near infrared light region, which has been difficult to process. Since it can be processed, there is an advantage that a high-quality optical integrated circuit with low loss and high reliability in the near infrared region can be easily supplied. That is, there is an advantage that an optical signal transmission system such as a local area network or the like, which is excellent in economic efficiency and has high reliability, can be configured by an optical component manufactured using an optical circuit using this manufacturing method.
【図1】本発明の光導波路の作製方法におけるパターン
化例(方法(a))を説明する模式的断面図である。
(A)は製膜工程、(B)は露光工程、(C)は現像工
程を示す。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of patterning (method (a)) in the method for producing an optical waveguide of the present invention.
(A) shows a film forming process, (B) shows an exposure process, and (C) shows a developing process.
【図2】本発明の光導波路の作製方法におけるパターン
化例(方法(b))を説明する模式的断面図である。
(A)は製膜工程、(B)は露光工程、(C)は現像工
程を示す。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of patterning (method (b)) in the method for producing an optical waveguide of the present invention.
(A) shows a film forming process, (B) shows an exposure process, and (C) shows a developing process.
1 基板 2 ポリシロキサンのスピンコート膜 2a,2b 溶解度変化部 3 マスク 4 UV光(波長300nm以下) 5 有機溶剤 6 レーザ光(波長300nm以下) 7 移動ステージ 8 移動ステージ制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Polysiloxane spin coat film 2a, 2b Solubility change part 3 Mask 4 UV light (wavelength 300nm or less) 5 Organic solvent 6 Laser light (wavelength 300nm or less) 7 Moving stage 8 Moving stage control part
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 今村 三郎 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Inventor Saburo Imamura 1-1-6 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation
Claims (1)
2n+1(Yは重水素もしくはハロゲン、nは5以下の正の
整数を表す)で表される重水素化またはハロゲン化アル
キル基、あるいはC6 Y6 (Yは重水素もしくはハロゲ
ンを表す)で表される重水素化またはハロゲン化フェニ
ル基〕で表される繰り返し単位を有するハロゲンおよび
/または重水素を含むポリシロキサン、 下記一般式(2) 【化2】 〔式中、R1 ,R2 は同一または異なり、Cn Y
2n+1(Yは重水素もしくはハロゲン、nは5以下の正の
整数を表す)で表される重水素化またはハロゲン化アル
キル基、あるいはC6 Y6 (Yは重水素もしくはハロゲ
ンを表す)で表される重水素化またはハロゲン化フェニ
ル基〕で表される繰り返し単位を有するハロゲンおよび
/または重水素を含むポリシロキサン、 一般式(1)および(2)で表される繰り返し単位の共
重合体であるハロゲンおよび/または重水素を含むポリ
シロキサン、およびこれらの混合物よりなる群から選ば
れたポリマーの所望の部分に酸素存在下で光を照射し、
溶媒に対する溶解度を変化させ、所望のパターンをこの
溶解度の差を利用して作製し、このパターン部を光導波
路のコアあるいはクラッドとしたことを特徴とする光導
波路の作製方法。1. The following general formula (1): [In the formula, R 1 and R 2 are the same or different, and C n Y
2n + 1 (Y represents deuterium or halogen, n represents a positive integer of 5 or less) or a deuterated or halogenated alkyl group, or C 6 Y 6 (Y represents deuterium or halogen) A deuterated or halogenated phenyl group represented by the formula: and a polysiloxane containing halogen and / or deuterium having a repeating unit represented by the following general formula (2): [In the formula, R 1 and R 2 are the same or different, and C n Y
2n + 1 (Y represents deuterium or halogen, n represents a positive integer of 5 or less) or a deuterated or halogenated alkyl group, or C 6 Y 6 (Y represents deuterium or halogen) A deuterated or halogenated phenyl group represented by the formula] and a polysiloxane containing halogen and / or deuterium having a repeating unit represented by the general formula (1) and (2) Irradiating a desired portion of a polymer selected from the group consisting of a combined halogen- and / or deuterium-containing polysiloxane and a mixture thereof in the presence of oxygen,
A method for producing an optical waveguide, characterized in that the solubility in a solvent is changed, a desired pattern is produced by utilizing this difference in solubility, and the pattern portion is used as a core or a clad of the optical waveguide.
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---|---|---|---|
JP04261708A JP3077720B2 (en) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | Fabrication method of optical waveguide |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04261708A JP3077720B2 (en) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | Fabrication method of optical waveguide |
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JPH06109936A true JPH06109936A (en) | 1994-04-22 |
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Cited By (7)
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