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JPH06109898A - 2 crystal X-ray monochromator - Google Patents

2 crystal X-ray monochromator

Info

Publication number
JPH06109898A
JPH06109898A JP4261097A JP26109792A JPH06109898A JP H06109898 A JPH06109898 A JP H06109898A JP 4261097 A JP4261097 A JP 4261097A JP 26109792 A JP26109792 A JP 26109792A JP H06109898 A JPH06109898 A JP H06109898A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal
ray
monochromator
ray beam
monochromatic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4261097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Asao Nakano
朝雄 中野
Kiyoshi Ogata
潔 尾形
Kazufumi Suenaga
和史 末永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4261097A priority Critical patent/JPH06109898A/en
Publication of JPH06109898A publication Critical patent/JPH06109898A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To embody a two-crystal X-ray monochromator system making selection of an X ray of high monochromaticity possible in a wide wavelength range and making convergence of an X-ray beam possible at a sample position. CONSTITUTION:As to an X-ray beam 1, only an X ray of a wavelength meeting the Bragg rule is diffracted by a first crystal 2 and cast on a second crystal 3. By curving the second crystal 3 to be a cylindrical surface, the X-ray beam 1 falling on the first crystal 2 and a diffracted X-ray beam 4 from the second crystal 3 are made parallel and the X-ray beams made monochromatic can be converged at a sample position. It is possible to make X rays of a wide wavelength band monochromatic and to make them converge so that the intensity of the X rays for a unit area is large at the sample position, and the precision in an analysis of a substance using the X-ray beam and in measured data for a structural analysis can be made high.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、X線を利用した試料の
分析装置に用いられるX線モノクロメーターの改良に関
するものであり、小型で広い波長帯域をもつ高精度な2
結晶X線モノクロメーターに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in an X-ray monochromator used in a sample analyzer utilizing X-rays, which is compact and has a wide wavelength band and high accuracy.
It relates to a crystal X-ray monochromator.

【0002】[0002]

【従来の技術】2結晶X線モノクロメーターは2枚の結
晶、入射するX線ビームと出射するX線ビームが平行に
なるように2枚の結晶の相対的位置関係を設置するため
の回転及び移動機構、これらを取付けるための真空容器
及び真空排気装置と装置全体の動作制御を行う制御装置
とから構成される。X線を照射する試料の位置で収束さ
せる場合は、2枚の結晶の一方を湾曲させるかあるい
は、2結晶X線モノクロメーターのX線の入射側あるい
は出射側のいずれかかあるいは両方に湾曲した鏡面をも
つX線の全反射鏡を設置して全体のシステムを構成す
る。
2. Description of the Related Art A two-crystal X-ray monochromator is a two-crystal X-ray monochromator that rotates and sets a relative positional relationship between the two X-ray beams so that an incident X-ray beam and an outgoing X-ray beam are parallel to each other. It comprises a moving mechanism, a vacuum container for attaching them, an evacuation device, and a control device for controlling the operation of the entire device. When converging at the position of the sample to be irradiated with X-rays, one of the two crystals is curved, or either the incident side or the outgoing side of the X-ray of the two-crystal X-ray monochromator is curved, or both. An X-ray total reflection mirror with a mirror surface is installed to configure the entire system.

【0003】従来の装置ではX線源からのビームを第一
の平板結晶のほぼ中央で回折させ、第二の平板結晶のほ
ぼ中央にX線ビームが来るように相対的に結晶位置を移
動して入射X線ビームと出射X線ビームが平行になるよ
うにしていた。このとき、X線ビームが平行で位置を変
えないという条件を設定すると特開61−117436
あるいは大柳:PF−Activity Report
(1989)#7の報告のように大形の2結晶モノクロ
メーターとなり、最小4組のパラメーターを高精度に制
御する必要が生じる。とくに2枚の平板結晶の回折角度
の制御は1角度秒以下の角度制御を必要とし、非常に困
難であった。
In the conventional apparatus, the beam from the X-ray source is diffracted at approximately the center of the first plate crystal, and the crystal position is relatively moved so that the X-ray beam comes to approximately the center of the second plate crystal. The incident X-ray beam and the outgoing X-ray beam are parallel to each other. At this time, setting a condition that the X-ray beam is parallel and does not change the position is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 61-117436.
Or Oyanagi: PF-Activity Report
As described in (1989) # 7, it becomes a large-sized two-crystal monochromator, and it becomes necessary to control a minimum of four sets of parameters with high precision. In particular, controlling the diffraction angles of two flat plate crystals requires an angle control of 1 second or less, which is extremely difficult.

【0004】このような方法では、2結晶モノクロメー
ターが大形となるため、単色化するX線波長の帯域を切
り替える場合は結晶板を取換えることにより行う。この
場合は結晶の取付ける角度が微小に異なることが原因と
なって、X線ビームの通る全体の経路の位置調整等を波
長帯域の切り替え毎に行う必要があり、調整に長時間を
要するという不具合が生じていた。
In such a method, the size of the two-crystal monochromator becomes large, and therefore, when switching the band of the X-ray wavelength for monochromatization, the crystal plate is replaced. In this case, it is necessary to adjust the position of the entire path through which the X-ray beam passes, etc., each time the wavelength band is switched, because the crystal mounting angle is slightly different. Was occurring.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明では、入射する
X線ビームと出射するX線ビームを平行かつ移動しない
と同時に試料位置にX線を収束させることが可能な小形
X線モノクロメーターを実現し、この小形X線モノクロ
メーターを複数組X線の経路に挿入退避可動式として設
置することにより、試料に入射するX線ビームの波長を
従来より自在に選択して種々の測定を可能とすることに
ある。
According to the present invention, a compact X-ray monochromator capable of converging an incident X-ray beam and an outgoing X-ray beam in parallel and without moving the X-ray beam to a sample position at the same time is realized. By installing this compact X-ray monochromator as a retractable type that can be inserted into the path of multiple sets of X-rays, the wavelength of the X-ray beam incident on the sample can be selected more freely than before and various measurements can be performed. Especially.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するため、2結晶X線モノクロメーターにおいて、
回転テーブルの回転軸と一方の結晶表面の回折面を一致
させ、同一回転テーブル上に設置した他方の結晶の回折
面との垂直距離を制御することによりどのような回折角
度でも入射するX線ビームと出射するX線ビームが平行
で、距離が変化しないようにした。また、モノクロメー
ターが出射するX線ビームに含まれる高次の回折線の強
度を抑制するため、2つの結晶の回折角度を数角度秒程
度ずらして設定できるようにし高次の回折線を抑制し
た。更に、一方の結晶をその回折角により、X線の経路
に平行な円筒面になるように湾曲量を調整することによ
り、試料の位置にX線ビームを収束させる。微小角度や
湾曲量の調整に回転軸を2重とし内軸が直線運動するよ
うな小型モーターを使用して2結晶X線モノクロメータ
ーを小型化することにより、複数台のモノクロメーター
を同時装着可能とした。
In order to achieve the above object, the present invention provides a two-crystal X-ray monochromator,
An X-ray beam that is incident at any diffraction angle by matching the rotation axis of the rotary table with the diffraction surface of one crystal surface and controlling the vertical distance from the diffraction surface of the other crystal installed on the same rotation table. The emitted X-ray beam is parallel so that the distance does not change. Further, in order to suppress the intensity of higher-order diffraction lines included in the X-ray beam emitted from the monochromator, the diffraction angles of the two crystals can be set so as to be shifted by several angular seconds, and the higher-order diffraction lines can be suppressed. . Further, the X-ray beam is focused on the position of the sample by adjusting the amount of curvature of one crystal so as to form a cylindrical surface parallel to the X-ray path, depending on the diffraction angle. Multiple monochromators can be installed at the same time by miniaturizing the two-crystal X-ray monochromator by using a small motor that doubles the rotation axis and linearly moves the inner axis to adjust the minute angle and bending amount. And

【0007】更に、容器内部を真空排気し空気によるX
線ビームの散乱や吸収を排除し、取付けた結晶の種類が
異なる複数のモノクロメーターをX線の経路に対して退
避移動可能なように設置し、長波長から短波長のX線ま
で単色化可能な広帯域2結晶X線モノクロメーターとし
たものである。
Further, the inside of the container is evacuated to X by air.
Eliminating the scattering and absorption of the line beam, installing multiple monochromators with different types of attached crystals so that they can be moved back and forth with respect to the X-ray path, enabling monochromaticization from long wavelength to short wavelength X-rays It is a wide band double crystal X-ray monochromator.

【0008】[0008]

【作用】本発明の2結晶モノクロメーターでは、回転テ
ーブル上に2枚の結晶を設置することにより、1つの回
転軸で2枚の結晶の回折角度を設定することができる。
この回転テーブル上に2枚の結晶の回折面の距離を制御
可能な直線移動台を設置し、回転テーブル回転軸にある
結晶には、小型の結晶微回転機構及び結晶表面の湾曲調
整機構を設置することにより、高精度に2結晶モノクロ
メーターを制御することができる。2枚の結晶のうち一
方の結晶のX線ビーム進行方向の長さを大きくとり、X
線ビームを回折する位置を直線移動台で制御し、回折角
度が変わってもモノクロメータから出射する単色化X線
ビームの位置を変化させないようにできるとともに、一
方の結晶表面を湾曲させることにより、試料位置にX線
ビームを収束させることができる。また、モノクロメー
ターから出射するX線ビームに含まれる高次の回折線は
基本波の回折の角度幅より狭いことを利用して、2つの
結晶の回折角度を数角度秒程度ずらして設定することに
より高次の回折線を除去できる。
In the two-crystal monochromator of the present invention, by setting two crystals on the rotary table, the diffraction angle of two crystals can be set with one rotation axis.
A linear moving table that can control the distance between the diffraction planes of two crystals is installed on this rotary table, and a small crystal fine rotation mechanism and a crystal surface curvature adjustment mechanism are installed on the crystal on the rotary table rotation axis. By doing so, the two-crystal monochromator can be controlled with high accuracy. One of the two crystals has a large length in the X-ray beam traveling direction, and X
By controlling the position where the linear beam is diffracted by the linear moving table, it is possible to prevent the position of the monochromatic X-ray beam emitted from the monochromator from changing even if the diffraction angle changes, and by curving one crystal surface, The X-ray beam can be focused on the sample position. In addition, it is necessary to set the diffraction angles of the two crystals by offsetting them by several angle seconds by using the fact that the higher-order diffraction lines included in the X-ray beam emitted from the monochromator are narrower than the angular width of the fundamental wave Can remove higher diffraction lines.

【0009】このような小型高精度2結晶X線モノクロ
メーターを実現し、異種の結晶あるいは結晶面をもち単
色波長範囲の異なるモノクロメーターを複数台設置し、
使用する波長のモノクロメーターのみをX線ビームの経
路に挿入して使用することにより、従来にない非常に広
い波長帯域をもつ2結晶X線モノクロメーターシステム
を実現できる。また、モノクロメーターシステムの出射
側位置にX線ビーム遮断用X線シャッターを設けること
により、モノクロメーターの結晶の熱平衡を保ったまま
X線の遮断を可能とし、とくに放射光をX線源とする場
合に熱平衡に達するまでに要する時間の無駄を排除する
ことが可能である。
Realizing such a compact and high-precision two-crystal X-ray monochromator, and installing a plurality of monochromators having different crystals or crystal planes and different monochromatic wavelength ranges,
By inserting and using only the monochromator having the wavelength to be used in the path of the X-ray beam, a two-crystal X-ray monochromator system having an unprecedentedly wide wavelength band can be realized. Also, by providing an X-ray shutter for blocking the X-ray beam at the exit side of the monochromator system, it is possible to block the X-rays while maintaining the thermal equilibrium of the crystal of the monochromator, and in particular radiated light is used as the X-ray source. In this case, it is possible to eliminate waste of time required to reach thermal equilibrium.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。図1において、1は入射X線ビーム、2は第一結
晶、3は第二結晶、4は2枚の結晶で単色化されたX線
ビームである。5は回折角設定用モーター、6は回折角
設定用ウォームギヤ、7は回転テーブル、8は第二結晶
の設置台、9は第二結晶微回転用アクチュエーター、1
0は第一結晶の直線移動台、11は移動量設定用モータ
ー、12は第一結晶設置台である。X線ビームは第一結
晶で式1のブラッグの法則を満たす波長のX線のみが回
折され、第二結晶に入射する。2枚の結晶の回折面を平
行に配置することにより、第一結晶に入射するX線ビー
ム1と第二結晶からの回折X線ビーム4は平行となり、
単色化されたX線ビームを取り出すことができる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 1, 1 is an incident X-ray beam, 2 is a first crystal, 3 is a second crystal, and 4 is an X-ray beam monochromated with two crystals. Reference numeral 5 is a diffraction angle setting motor, 6 is a diffraction angle setting worm gear, 7 is a rotary table, 8 is a second crystal installation table, 9 is a second crystal fine rotation actuator, 1
Reference numeral 0 is a linear movement base of the first crystal, 11 is a movement amount setting motor, and 12 is a first crystal installation base. In the X-ray beam, only the X-ray having a wavelength satisfying the Bragg's law of Expression 1 is diffracted by the first crystal and is incident on the second crystal. By arranging the diffraction planes of the two crystals in parallel, the X-ray beam 1 incident on the first crystal and the diffracted X-ray beam 4 from the second crystal become parallel,
A monochromatic X-ray beam can be extracted.

【0011】[0011]

【数1】2d・sinθ=n・λ ここで、dはX線を回折する原子面の面間隔、nは回折
の次数、λは回折されるX線の波長を意味する。
## EQU1 ## 2d.sin .theta. = N..lamda., Where d is the plane spacing of atomic planes for diffracting X-rays, n is the order of diffraction, and .lamda. Is the wavelength of diffracted X-rays.

【0012】次に、図2により入射X線ビーム1と回折
X線ビーム4とが平行かつ移動しないための第一平板結
晶の移動量制御について説明する。X線ビームの回折角
をθとし、θ=30°、θ=45°、θ=60°の場合
について表すと図2のそれぞれ2a,2b,2c及び3
a,3b,3cのようになる。ここで、第二結晶3の回
転軸を通る垂線と第一結晶2上の入射X線ビーム照射点
13の距離をx,2枚の結晶間距離をyとすると、回折
角θが小さいところではxを大きくかつyを小さく、回
折角θが大きいところではxを小さくかつyを大きくな
るように第一結晶の距離を制御すれば入射X線ビーム1
と回折X線ビーム4とが平行かつ移動しないことが判
る。
Next, the movement amount control of the first flat plate crystal so that the incident X-ray beam 1 and the diffracted X-ray beam 4 are parallel and do not move will be described with reference to FIG. When the diffraction angle of the X-ray beam is θ and θ = 30 °, θ = 45 °, and θ = 60 °, 2a, 2b, 2c and 3 in FIG.
It becomes like a, 3b, 3c. Here, assuming that the distance between the perpendicular line passing through the rotation axis of the second crystal 3 and the incident X-ray beam irradiation point 13 on the first crystal 2 is x and the distance between the two crystals is y, where the diffraction angle θ is small. When the distance between the first crystals is controlled so that x is large and y is small, and where the diffraction angle θ is large, x is small and y is large.
It can be seen that and the diffracted X-ray beam 4 are parallel and do not move.

【0013】次に、図3を用いてx,y及び入射X線ビ
ーム1と回折X線ビーム4との距離をlとの関係につい
て説明する。第二結晶の回転軸を座標原点とすると、第
一結晶の入射X線ビーム照射点13の座標は(x,y)
で表される。回折角をθとして、それぞれのパラメータ
ーの関係を求めると次式で表される。
Next, the relationship between x, y and the distance between the incident X-ray beam 1 and the diffracted X-ray beam 4 and l will be described with reference to FIG. When the rotation axis of the second crystal is the origin of coordinates, the coordinates of the incident X-ray beam irradiation point 13 of the first crystal is (x, y).
It is represented by. When the diffraction angle is θ and the relation of each parameter is obtained, it is expressed by the following equation.

【0014】[0014]

【数2】l=2・y・cosθ[Equation 2] l = 2 · y · cos θ

【0015】[0015]

【数3】y=x・tanθ 従って、数2に基づいて第一結晶の位置を制御すれば入
射X線ビーム1と回折X線ビーム4との距離lを一定と
することができる。回折角θにより入射X線ビーム照射
点13が移動するため、第一結晶のサイズSをある程度
必要とする。このサイズS及び2枚の結晶間隔のストロ
ークLは数2及び数3と回折角の範囲から数4及び数5
でそれぞれ決定される。
## EQU3 ## Therefore, if the position of the first crystal is controlled based on Equation 2, the distance 1 between the incident X-ray beam 1 and the diffracted X-ray beam 4 can be made constant. Since the incident X-ray beam irradiation point 13 moves according to the diffraction angle θ, the size S of the first crystal is required to some extent. The size S and the stroke L of the distance between the two crystals are expressed by Equations 2 and 3, and from the diffraction angle range, Equations 4 and 5
Will be decided respectively.

【0016】[0016]

【数4】 S=0.5・l・(cosecθ1−cosecθ2[Equation 4] S = 0.5 · l · (cosec θ 1 −cosec θ 2 )

【0017】[0017]

【数5】L=0.5・l・(secθ2−secθ1) ここで、θ1及びθ2はそれぞれ回折角の最大値及び最小
値である。lを10mm,θ1及びθ2を80°、10°
とすると、S及びLは47.4mmとなる。実際の第一
結晶のサイズはこれに第一結晶上の入射X線ビーム照射
幅の1/2を加えた値となり、1mmの入射X線ビーム
を用いる場合は50.4mm程度を必要とする。モノク
ロメーターに使用される単結晶として、InSbやSi
はすくなくとも3インチ径程度のものは容易に入手で
き、モノクロメーター用の結晶として使用できる。
Equation 5] L = 0.5 · l · (secθ 2 -secθ 1) Here, theta 1 and theta 2 are maximum and minimum values of each diffraction angle. l is 10 mm, θ 1 and θ 2 are 80 °, 10 °
Then, S and L are 47.4 mm. The actual size of the first crystal is a value obtained by adding 1/2 of the irradiation width of the incident X-ray beam on the first crystal to this, and when using an incident X-ray beam of 1 mm, about 50.4 mm is required. As a single crystal used in a monochromator, InSb or Si
A crystal having a diameter of at least 3 inches is easily available and can be used as a crystal for a monochromator.

【0018】結晶としてInSb(111)、Si(3
11)とSi(771)の使用を考えると、数1のdが
それぞれ0.3740nm,0.1602nm、0.0
546nmであるので、回折角の最大値及び最小値から
それぞれ下表のようになる。
As crystals, InSb (111) and Si (3
11) and Si (771) are used, d of the formula 1 is 0.3740 nm, 0.1602 nm, 0.0, respectively.
Since it is 546 nm, it becomes as shown in the table below from the maximum value and the minimum value of the diffraction angle.

【0019】[0019]

【表1】 結 晶 λの範囲(単位:nm) InSb(111) 0.7366<λ<0.1299 Si(311) 0.3155<λ<0.0556 Si(771) 0.1075<λ<0.0189 結晶の種類としては、一般的な分光用結晶が使用可能で
あり、KAP,ADP,Ge,GaAs,SiO2,L
iF等波長の分解能や使用する波長範囲に応じて選択
し、取替えが可能である。
Table 1 Crystal λ range (unit: nm) InSb (111) 0.7366 <λ <0.1299 Si (311) 0.3155 <λ <0.0556 Si (771) 0.1075 <λ < As the type of crystal, a general spectroscopic crystal can be used, and KAP, ADP, Ge, GaAs, SiO 2 , L
It can be selected and replaced according to the resolution of the wavelength such as iF and the wavelength range to be used.

【0020】次に図4を用いて回折X線ビーム4の中に
含まれる高次光の除去方法の一例について説明する。数
1に示したようにブラッグの法則に従った回折ではn次
の高次光が混入する。n次の高次光はn=1のX線のn
分の1の波長であり、高次光が混入していると測定デー
タのS/Nが悪化し、高精度な測定には妨害となる。平
板結晶による回折の角度幅はダーウィン幅(ω)として
下記の数6のように表される。
Next, an example of a method of removing higher-order light contained in the diffracted X-ray beam 4 will be described with reference to FIG. As shown in Expression 1, in the diffraction according to Bragg's law, nth-order high-order light is mixed. The n-th higher-order light is the n-th x-ray n
This is one-half the wavelength, and if high-order light is mixed, the S / N of the measurement data deteriorates, which interferes with high-precision measurement. The angular width of diffraction by the flat plate crystal is expressed as the Darwin width (ω) as shown in the following Expression 6.

【0021】[0021]

【数6】 ω≒8.5r|F(nk)|tanθ/(πdn2|k|2) ここで、rは電子の古典半径、Fは構造因子、kは回折
面の回折ベクトルである。数6によればn次光の1次光
に対するωの比αは次の数7のように表される。
Ω≈8.5 r | F (nk) | tan θ / (πdn 2 | k | 2 ) where r is the classical radius of the electron, F is the structure factor, and k is the diffraction vector of the diffractive surface. According to the equation 6, the ratio α of ω of the n-th light to the first-order light is expressed by the following equation 7.

【0022】[0022]

【数7】 α=ω(n)/ω(1)=|F(nk)|/|n2F(k)| ここで、|F(nk)|/|F(k)|≦1であるた
め、回折の次数が大きくなるほど次数の自乗に反比例し
て、回折の幅が小さくなる。そこで、第一結晶と第二結
晶の回折角を微小角Δθずらすことにより、回折X線ビ
ーム4の中に含まれる高次光の強度を抑制することがで
きる。この回折強度の角度分布は図4のようになる。こ
の方法はデチューンと呼ばれ、高次光除去の簡便かつ有
効な方法である。
Α = ω (n) / ω (1) = | F (nk) | / | n 2 F (k) | where | F (nk) | / | F (k) | ≦ 1 Therefore, as the order of diffraction increases, the width of diffraction decreases in inverse proportion to the square of the order. Therefore, by shifting the diffraction angles of the first crystal and the second crystal by a small angle Δθ, the intensity of higher-order light contained in the diffracted X-ray beam 4 can be suppressed. The angular distribution of this diffraction intensity is as shown in FIG. This method is called detune and is a simple and effective method for removing higher-order light.

【0023】図5でX線の集光原理について説明する。
X線源20から出たX線1は第一結晶2で回折され第二
結晶3により再び回折され2結晶モノクロメーターから
出て試料位置21に到達する。このとき、第二結晶3が
半径Rの円筒面になっていると、X線源20から出た発
散X線を試料位置21に集光することができる。これ
は、円筒面を持つ第二結晶のみにより回折を受ける場合
の仮想X線源22と試料位置21を2つの焦点とする回
転楕円体を仮定することにより、容易に理解できる。こ
こで、仮想X線源22と第二結晶までの距離Aは数8に
より表される。
The principle of X-ray focusing will be described with reference to FIG.
The X-ray 1 emitted from the X-ray source 20 is diffracted by the first crystal 2 and is again diffracted by the second crystal 3, and exits the 2-crystal monochromator to reach the sample position 21. At this time, if the second crystal 3 has a cylindrical surface with a radius R, the divergent X-rays emitted from the X-ray source 20 can be focused on the sample position 21. This can be easily understood by assuming a spheroid having two foci as the virtual X-ray source 22 and the sample position 21 when being diffracted only by the second crystal having the cylindrical surface. Here, the distance A between the virtual X-ray source 22 and the second crystal is represented by Equation 8.

【0024】[0024]

【数8】 A=a+l(1/sin2θ−1/tan2θ) 数8中のaは第二結晶からX線源20までの距離であ
る。また、距離Bは第二結晶から集光点である試料位置
21までの距離である。
## EQU00008 ## A = a + l (1 / sin2.theta.-1 / tan2.theta.) A in Expression 8 is the distance from the second crystal to the X-ray source 20. In addition, the distance B is the distance from the second crystal to the sample position 21 which is the focusing point.

【0025】円筒面の半径Rは第二結晶の垂線の第二結
晶から仮想X線源22と試料位置21を結ぶ直線の交点
までの長さに対応する。このRはA,B,及びθの関数
となり、一定とはならない。いま、仮想X線源22と試
料位置21を結ぶ直線及び第二結晶3と仮想X線源22
を結ぶ直線の挟む角をβとすると、数9及び数10を解
くことにより得られる。数9及び数10は三角形の正弦
定理及び余弦定理から導き出される。
The radius R of the cylindrical surface corresponds to the length from the second crystal perpendicular to the second crystal to the intersection of the straight line connecting the virtual X-ray source 22 and the sample position 21. This R is a function of A, B, and θ and is not constant. Now, a straight line connecting the virtual X-ray source 22 and the sample position 21 and the second crystal 3 and the virtual X-ray source 22
If the angle between the straight lines connecting the two is β, then it can be obtained by solving Equations 9 and 10. Equations 9 and 10 are derived from the triangular sine and cosine theorems.

【0026】[0026]

【数9】 sinβ=Bsin2θ/√(A2+B2+2ABcos2θ)[Mathematical formula-see original document] sin β = Bsin2θ / √ (A 2 + B 2 + 2AB cos2θ)

【0027】[0027]

【数10】 R2(1−cos2θ/sin2β)−2RAsinθ+A2=0 ここで、lを10mm,a及びBを10mとすると、数
8はθが10°から80°程度の変化ではほぼ一定のA
=aとみなすことができる。この場合Rの関数は非常に
単純になり、数11のように表される。
R 2 (1-cos 2 θ / sin 2 β) -2RA sin θ + A 2 = 0 where l is 10 mm and a and B are 10 m, Equation 8 shows that θ changes from 10 ° to 80 °. Then almost constant A
= A. In this case, the function of R becomes very simple, and is expressed by Equation 11.

【0028】[0028]

【数11】R=Asinθ 従って、Rはθによって、θが10°から80°まで変
化すると、R=1376mmからR=9848mmまで
回折角θにより変化する。
Therefore, R changes with θ, and when θ changes from 10 ° to 80 °, it changes with the diffraction angle θ from R = 1376 mm to R = 9848 mm.

【0029】図6にこの変化を実現するための、機構を
示す。第二結晶の設置台8に設置された第二結晶3は結
晶の中央部分で設置台に固定され、結晶の端部は直線移
動機構をもつアクチュエーター30及び31により押さ
れ湾曲する。湾曲後に円筒面になるように結晶3は中央
部分でX線の進行方向に対する距離が最も長く、端部に
向かってその距離が短くなるような菱形の形態のものを
用いる。また、円筒面の精度を高めるため図6に示すよ
うに、X線の進行方向に平行な歯部32をもつ。中央か
ら端部までの距離を30mmとすると、アクチュエータ
ー30及び31により押し上げられる距離δは近似的に
数12のように表される。
FIG. 6 shows a mechanism for realizing this change. The second crystal 3 installed on the second crystal installation table 8 is fixed to the installation table at the central portion of the crystal, and the ends of the crystal are pushed and curved by actuators 30 and 31 having a linear movement mechanism. For the crystal 3 to have a cylindrical surface after being curved, a diamond-shaped crystal 3 having the longest distance in the central portion in the traveling direction of X-rays and the shorter distance toward the end is used. Further, as shown in FIG. 6, in order to improve the accuracy of the cylindrical surface, it has a tooth portion 32 parallel to the traveling direction of the X-ray. If the distance from the center to the end is 30 mm, the distance δ pushed up by the actuators 30 and 31 is approximately represented by the formula 12.

【0030】[0030]

【数12】δ(mm)=900/(Asinθ) 従って、δはθが10°から80°まで変化すると、
0.091mmから0.654mmまで変化させる必要
がある。
Δ (mm) = 900 / (Asin θ) Therefore, when δ changes from 10 ° to 80 °,
It is necessary to change from 0.091 mm to 0.654 mm.

【0031】本発明ではアクチュエーターとして2重軸
をもつモーターを使用した。このアクチュエーターは図
7に示すような構造をもつ。図7に於いて、固定子33
の内側に設置される回転子34は2重回転軸の外軸35
に固定され、軸受36により回転可動となっている。内
軸37は外軸35とネジ部38を介して結合されてい
る。内軸37の一端は四角形の形状をしており、モータ
ーのハウジング39との間で回転は不可であるが軸方向
の直線的なスライドが可能なように結合されている。し
たがって、このモーターの回転を制御することにより、
内軸37がスライドして直線移動のアクチュエーターと
なる。δの変化量が小さい場合はピエゾ素子を用いるこ
とも可能であるが、本発明では約0.6mmの変化量を
必要とするため、モーターを利用するアクチュエーター
を用いた。従来はウォームギヤ等を用いて同様なスライ
ドの制御を行っていたが、ここで示したようなアクチュ
エーターを用いることにより、他の機構部分を必要とし
ないため、小型に作ることが可能である。また、本発明
では第二結晶の湾曲に2個のアクチュエーターを用いた
がこれを1個で行なうことも可能である。
In the present invention, a motor having a double shaft is used as the actuator. This actuator has a structure as shown in FIG. In FIG. 7, the stator 33
The rotor 34 installed inside of the
, And is rotatably movable by a bearing 36. The inner shaft 37 is connected to the outer shaft 35 via a screw portion 38. One end of the inner shaft 37 has a quadrangular shape, and is connected to the motor housing 39 such that the inner shaft 37 cannot rotate but can linearly slide in the axial direction. Therefore, by controlling the rotation of this motor,
The inner shaft 37 slides to become a linear movement actuator. When the amount of change in δ is small, it is possible to use a piezo element, but in the present invention, since an amount of change of about 0.6 mm is required, an actuator using a motor was used. Conventionally, a worm gear or the like has been used to perform similar slide control, but by using the actuator as shown here, it is possible to make the device smaller because no other mechanical portion is required. Further, in the present invention, two actuators are used to bend the second crystal, but it is also possible to do this with one actuator.

【0032】このようなモーターを用いたアクチュエー
ターはステッピングモーターやロータリーエンコーダー
付きのモーター等を用いることにより1回転を500分
割程度することは容易である。また、内軸と外軸間のネ
ジによる結合も、モジュール0.25程度にとることは
容易であり、これにより直線移動の相対分解能を0.5
μm程度にとることが可能である。このアクチュエータ
ーの最大の特徴は、30mm角のステッピングモーター
の小改良で直線移動のストロークを最大10mm程度と
ることが可能な点である。
As an actuator using such a motor, it is easy to divide one rotation into about 500 by using a stepping motor or a motor with a rotary encoder. Further, it is easy to set the coupling between the inner shaft and the outer shaft with a screw to a module of about 0.25, whereby the relative resolution of linear movement is 0.5.
It can be set to about μm. The greatest feature of this actuator is that the stroke of linear movement can be about 10 mm at the maximum with a small modification of a 30 mm square stepping motor.

【0033】図8にX線源からモノクロメーターのX線
の経路を全て高真空に排気し、波長の長いX線をも単色
化して取り出すことができる3種の異なる単色化波長帯
域をタンデム形状に配置した広帯域2結晶モノクロメー
ターシステムを示す。この場合X線源はシンクロトロン
から発生させる放射光を想定したものである。放射光を
X線源とした場合、放射光を直接第一結晶に入射させる
と熱負荷が非常に大きくなり、第一結晶を冷却しても結
晶のそりや、第一結晶と第二結晶の格子定数の違い等が
影響して、満足の行くX線の単色化が出来ない。従っ
て、モノクロメーターシステムの前にフィルターや全反
射鏡等から構成され、波長の選択性のある熱フィルター
40を設置する。熱フィルターを通過したX線がモノク
ロメーターに入射するが、X線源、熱フィルター及びモ
ノクロメーターの間は図示されていない真空容器で接続
されており、全体が高真空に保たれている。
FIG. 8 shows a tandem shape of three different monochromatic wavelength bands in which all the X-ray paths of the monochromator are evacuated to a high vacuum from the X-ray source so that X-rays with long wavelengths can also be monochromatically extracted. 2 shows a broadband double crystal monochromator system located at. In this case, the X-ray source is assumed to be radiation emitted from the synchrotron. When the synchrotron radiation is used as an X-ray source, if the radiant light is directly incident on the first crystal, the heat load becomes very large, and even if the first crystal is cooled, the warpage of the crystal and the formation of the first and second crystals. Due to the difference in the lattice constant, etc., it is not possible to obtain a satisfactory monochromatic X-ray. Therefore, a thermal filter 40, which is composed of a filter, a total reflection mirror, etc. and has wavelength selectivity, is installed in front of the monochromator system. Although the X-rays that have passed through the heat filter enter the monochromator, the X-ray source, the heat filter and the monochromator are connected by a vacuum container (not shown), and the whole is kept in a high vacuum.

【0034】3連のタンデム形状に配置されたモノクロ
メーターユニットは真空容器41に対してベローを介し
て取付けられており、X線の経路に対して直交する方向
にそれぞれ独立に直線移動が可能である。ベローの代わ
りにO−リング等の可動真空シールを用いても同様な効
果が得られる。各モノクロメーターユニットの単色化の
モーター及びアクチュエーターの制御及びモノクロメー
ターユニットの選択は制御装置42でおこなわれてお
り、必要な波長を制御装置に入力することにより、自動
的にモノクロメーターの回折角等のパラメーター設定が
行なわれ、波長の選択及び試料位置への単色化X線の収
束が行なわれる。本実施例では、InSb(111),
Si(311),Si(771)を単色化結晶としてお
り、モノクロメーターシステムとして、波長0.7nm
から0.0189nmのX線を単一のシステムで単色化
並びに試料位置へのX線収束が可能である。
The three tandem-shaped monochromator units are attached to the vacuum chamber 41 via bellows, and can be independently linearly moved in a direction orthogonal to the X-ray path. is there. The same effect can be obtained by using a movable vacuum seal such as an O-ring instead of the bellows. Control of the monochromatic motor and actuator of each monochromator unit and selection of the monochromator unit are performed by the control device 42. By inputting the required wavelength to the control device, the diffraction angle of the monochromator etc. is automatically set. Parameter setting is performed, and wavelength selection and monochromatic X-ray focusing to the sample position are performed. In this embodiment, InSb (111),
Si (311) and Si (771) are monochromatic crystals, and the wavelength is 0.7 nm as a monochromator system.
It is possible to monochromatize X-rays from 0.0189 nm to X-rays to a sample position with a single system.

【0035】また、このシステムではモノクロメーター
システムの試料位置側にX線遮断のためのシャッター4
3を設置している。シャッターとモノクロメーターシス
テムとの間は図示してない真空容器で結合されている。
このシャッターは試料交換等のときに使用するが、モノ
クロメーターシステムの試料位置側に設置することによ
り、シャターでX線を遮断しているときでもモノクロメ
ーターの結晶には放射光が照射される。こうすることに
より、放射光による単色化結晶への熱負荷と図示してな
い結晶の冷却系との間での熱平衡をこわすことなく試料
交換が出来、シャッターを開けることにより、直ちに測
定等を安定して行なうことが出来る。
Further, in this system, a shutter 4 for blocking X-rays is provided on the sample position side of the monochromator system.
3 are installed. The shutter and the monochromator system are connected by a vacuum container (not shown).
This shutter is used for sample exchange, etc., but by installing it on the sample position side of the monochromator system, the crystal of the monochromator is irradiated with radiant light even when X-rays are blocked by the shutter. By doing this, the sample can be exchanged without breaking the thermal load between the monochromatic crystal due to the synchrotron radiation and the crystal cooling system (not shown), and the measurement can be stabilized immediately by opening the shutter. You can do it.

【0036】図9にこれらシステムに用いる真空容器接
合部の断面図を示す。放射光のX線は非常に強度が大き
いため、金属容器を通過させてから外部に出るように工
夫する必要がある。通常この金属容器を真空容器が兼用
するが、真空容器はその溶接接合部分が薄かったり、O
−リングしかなく、所定の金属の厚さを通過せずに大気
中にX線が放出されることがある。このようなことを防
ぐため、従来は、鉛の板で全体を蔽う等の工夫をしてき
た。しかし、図9に示すように嵌めあい型の構造とし
て、接合することにより、X線が必ず所定の厚みの金属
板を通過させることが出来る。これにより、特定の方向
に回折されたX線がほとんど減衰しないで大気中に放出
され、被ばくが発生するような事故を大幅に減らすこと
が出来る。
FIG. 9 shows a cross-sectional view of the joint portion of the vacuum container used in these systems. Since X-rays of synchrotron radiation have a very high intensity, it is necessary to devise them so that they pass through a metal container and then go out. Normally, this metal container is also used as a vacuum container, but the vacuum container has a thin welded joint,
-There are only rings, and X-rays may be emitted into the atmosphere without passing through a given metal thickness. In order to prevent such a situation, conventionally, measures such as covering the whole with a lead plate have been made. However, as shown in FIG. 9, as a fitting type structure, by joining, X-rays can always pass through a metal plate having a predetermined thickness. As a result, X-rays diffracted in a specific direction are emitted into the atmosphere with little attenuation, and it is possible to greatly reduce the number of accidents in which exposure occurs.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は従来の2
結晶モノクロメーターと比較して、広い波長帯域のX線
を単色化可能でありかつ常に放射光による熱負荷と冷却
系の熱平衡を保てるため、一度の調整を行なっておくこ
とにより、帯域や試料を変更しても長時間を要する調整
を行なうことなく、測定等のX線利用が可能となる。ま
た、本発明は第二結晶を湾曲させることにより、単色化
可能な全ての波長領域で試料位置にX線を集光可能であ
り、試料位置での単位面積あたりのX線強度を大きく取
ることが出来、高精度な測定をおこなうことが可能であ
る。更に、本発明の真空容器は嵌めあい型にした上で、
溶接等の真空シールを施しているため、大気中への漏洩
X線量が小さく出来、被ばく等の放射線による事故の確
率を低く抑えた安全な構造となっている。
As described above, the present invention has two advantages.
Compared with a crystal monochromator, X-rays with a wider wavelength band can be monochromated, and the thermal load due to radiant light and the thermal balance of the cooling system can be maintained at all times. Even if the change is made, it is possible to use X-rays for measurement and the like without performing the adjustment requiring a long time. Further, according to the present invention, by curving the second crystal, X-rays can be focused on the sample position in all wavelength regions that can be monochromatic, and a large X-ray intensity per unit area at the sample position can be obtained. It is possible to perform highly accurate measurement. Furthermore, after making the vacuum container of the present invention a fitting type,
Since a vacuum seal such as welding is applied, the amount of X-ray leakage into the atmosphere can be reduced, and the structure is safe with a low probability of accidents due to radiation such as exposure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による小形2結晶モノクロメーターの概
念図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a small two-crystal monochromator according to the present invention.

【図2】入射X線ビームと出射X線ビームの間隔を一定
とする位置制の概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram of position control in which a distance between an incident X-ray beam and an outgoing X-ray beam is constant.

【図3】入射X線ビームと出射X線ビームの間隔を一定
とする位置制御法の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a position control method in which a distance between an incident X-ray beam and an outgoing X-ray beam is constant.

【図4】デチューン法による高次光除去法についての説
明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a high-order light removal method by a detune method.

【図5】第二結晶を湾曲させることによるX線の集光の
原理についての説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the principle of X-ray focusing by bending the second crystal.

【図6】第二結晶を湾曲させる機構についての説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a mechanism for bending the second crystal.

【図7】本発明によるアクチュエーターの説明図であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram of an actuator according to the present invention.

【図8】タンデム型広帯域2結晶モノクロメーターシス
テムの説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of a tandem wide band double crystal monochromator system.

【図9】嵌めあい型真空容器接合部の断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view of a fitting type vacuum container joint.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…入射X線ビーム、 2…第一平板結晶、 3…第二平板結晶、 4…単色化されたX線ビーム、 5…回折角設定用モーター、 6…回折角設定用ウォームギヤ、 7…回転テーブル、 8…第二平板結晶の設置台、 9…第二平板結晶微回転用モーター、 10…直線移動台、 11…移動量設定用モーター、 12…第一平板結晶設置台、 13…入射X線ビーム照射点、 20…X線源、 21…試料位置、 22…仮想X線源、 30及び31…アクチュエーター、 32…第二結晶歯部、 33…固定子、 34…回転子、 35…2重回転軸の外軸、 36…軸受、 37…2重回転軸の内軸、 38…ネジ部、 39…モーターハウジング、 40…熱フィルター、 41…真空容器、 42…制御装置、 43…X線シャッター。 1 ... Incident X-ray beam, 2 ... First flat plate crystal, 3 ... Second flat plate crystal, 4 ... Monochromatic X-ray beam, 5 ... Diffraction angle setting motor, 6 ... Diffraction angle setting worm gear, 7 ... Rotation Table, 8 ... Second plate crystal installation table, 9 ... Second plate crystal fine rotation motor, 10 ... Linear movement table, 11 ... Movement amount setting motor, 12 ... First plate crystal installation table, 13 ... Incident X X-ray source, 21 ... Sample position, 22 ... Virtual X-ray source, 30 and 31 ... Actuator, 32 ... Second crystal tooth part, 33 ... Stator, 34 ... Rotor, 35 ... 2 Outer shaft of heavy rotation shaft, 36 ... Bearing, 37 ... Inner shaft of double rotation shaft, 38 ... Screw part, 39 ... Motor housing, 40 ... Heat filter, 41 ... Vacuum container, 42 ... Control device, 43 ... X-ray shutter.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一方の平板結晶の表面でX線を回折させ、
他方の平板結晶を湾曲させX線を単色化すると同時に、
単色化したX線を照射する試料位置でX線ビームを収束
させる2結晶モノクロメーターにおいて、湾曲の量及び
微小角度の調整機構に2重軸をもつモーターの直線移動
運動を利用したことを特徴とする2結晶X線モノクロメ
ーター。
1. An X-ray is diffracted on the surface of one flat plate crystal,
At the same time as the other plate crystal is curved to make the X-ray monochromatic,
In a two-crystal monochromator that converges an X-ray beam at a sample position where a monochromatic X-ray is irradiated, the linear movement of a motor having a double axis is used as a mechanism for adjusting the amount of bending and a minute angle. A 2-crystal X-ray monochromator.
【請求項2】2枚の結晶の表面でX線を回折させ、X線
を単色化する2結晶モノクロメーターにおいて、X線経
路への挿入退避が可能な移動機構を備えた単色化する波
長帯域が異なる複数組のモノクロメーターを単一の真空
層に備えることを特徴とする2結晶X線モノクロメータ
ー。
2. A monochromatic wavelength band provided with a moving mechanism capable of inserting and retracting in an X-ray path in a two-crystal monochromator which diffracts X-rays on the surfaces of two crystals and monochromates the X-rays. A two-crystal X-ray monochromator characterized in that a plurality of sets of monochromators of different types are provided in a single vacuum layer.
【請求項3】請求項1又は2の2結晶X線モノクロメー
ターにおいて、X線ビームの行路を真空容器内に設置
し、平板結晶の回折角度、2枚の平板結晶の回折面の垂
直距離、並行からの微小ずれ角度、湾曲量及び移動機構
を真空容器外部から制御できるような機構を備えたこと
を特徴とする2結晶X線モノクロメーター。
3. The two-crystal X-ray monochromator according to claim 1 or 2, wherein the path of the X-ray beam is installed in a vacuum container, the diffraction angle of the flat plate crystals, the vertical distance between the diffraction planes of the two flat plate crystals, A two-crystal X-ray monochromator having a mechanism capable of controlling a minute deviation angle from parallel, a bending amount, and a moving mechanism from the outside of the vacuum container.
【請求項4】請求項1ないし3のいずれか1項におい
て、2結晶X線モノクロメーターの単色化したX線の出
射側にX線ビームの遮断機構を設けたことを特徴とする
2結晶X線モノクロメーター。
4. The double crystal X according to any one of claims 1 to 3, wherein an X-ray beam blocking mechanism is provided on a monochromatic X-ray emission side of the double-crystal X-ray monochromator. Line monochromator.
【請求項5】請求項1ないし4のいずれか1項におい
て、2結晶X線モノクロメーターの真空層の接合部を嵌
め合いにした上で真空シールすることを特徴とする2結
晶X線モノクロメーター。
5. The double crystal X-ray monochromator according to claim 1, wherein the vacuum layer of the double crystal X-ray monochromator is fitted with a joint portion and then vacuum-sealed. .
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