JPH0590912A - Setup and hold time correcting device - Google Patents
Setup and hold time correcting deviceInfo
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- JPH0590912A JPH0590912A JP3273148A JP27314891A JPH0590912A JP H0590912 A JPH0590912 A JP H0590912A JP 3273148 A JP3273148 A JP 3273148A JP 27314891 A JP27314891 A JP 27314891A JP H0590912 A JPH0590912 A JP H0590912A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、セットアップおよびホ
ールド時間補正回路に係り、とくにLSI内部のフリッ
プフロップにおけるデータとクロック信号間のセットア
ップおよびホールド時間補正回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a setup and hold time correction circuit, and more particularly to a setup and hold time correction circuit between a data signal and a clock signal in a flip-flop inside an LSI.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、フリップフロップではクロック
端子へ入力されるクロック信号の立ち上がり時刻とデー
タ端子へ入力されるデータが変化する時刻との時間差す
なわちセットアップ時間またはホールド時間が満足され
ていないと正しく動作することができない。2. Description of the Related Art Generally, a flip-flop operates correctly unless a time difference between a rising time of a clock signal input to a clock terminal and a time when data input to a data terminal changes, that is, a setup time or a hold time is satisfied. Can not do it.
【0003】従来は、図3に示されるように他ゲートか
らのデータおよびクロック信号を直接フリップフロップ
のデータ端子およびクロック端子へ入力していた。この
ため、図4のタイミングチャートに示されるように、ク
ロック信号の立ち上がり近辺でデータが変化する場合、
セットアップ時間またはホールド時間を満足しているか
どうかの検証は、タイミングシミュレーションにより行
われ、もし満足していない場合は、シミュレーション結
果として、それが発生したテストパタン番号と、ゲート
名と、クロック信号の立ち上がりとデータ変化の時間差
を表示していた。Conventionally, as shown in FIG. 3, data and clock signals from other gates are directly input to the data terminal and clock terminal of the flip-flop. Therefore, as shown in the timing chart of FIG. 4, when the data changes near the rising edge of the clock signal,
The verification of whether the setup time or the hold time is satisfied is performed by the timing simulation, and if not satisfied, the simulation result shows the test pattern number, the gate name, and the rising edge of the clock signal. And the time difference of data change was displayed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例においては、データとクロック信号間のセットアッ
プおよびホールド時間の検証をタイミングシミュレーシ
ョンにより行い、そのシミュレーション結果をチェック
して問題となるフリップフロップがあった場合、そこに
入力されるデータとクロック信号間のタイミング補正を
そのフリップフロップの手前の回路構成を見直して人手
で修正しているために、LSIの大規模化や複雑化に伴
い、タイミングの不良問題が発生するフリップフロップ
の数も多くなり、シミュレーション結果をチェックし
て、それらのフリップフロップすべてについて、各手前
の回路を修正するのに非常に時間がかかり、開発が遅れ
るという不都合があった。However, in the above-mentioned conventional example, there is a flip-flop which causes a problem by verifying the setup and hold time between the data and the clock signal by the timing simulation and checking the simulation result. In this case, the timing correction between the data and the clock signal input thereto is manually corrected by reviewing the circuit configuration in front of the flip-flop, so that the timing is defective due to the large scale and complexity of the LSI. The number of flip-flops in which the problem occurs also increases, and it takes a very long time to check the simulation result and modify the circuits in front of each of those flip-flops, which delays the development.
【0005】[0005]
【発明の目的】本発明の目的は、かかる従来例の有する
不都合を改善し、とくに入力されるデータとクロック信
号間のタイミング補正を容易にしかも迅速に行うことが
できるセットアップおよびホールド時間補正回路を提供
することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a setup and hold time correction circuit which can improve the inconvenience of the conventional example and can easily and quickly correct the timing between input data and a clock signal. To provide.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】フリップフロップの入力
段に装備され、当該フリップフロップに入力されるデー
タ信号とクロック信号とのタイミングを調整するセット
アップおよびホールド時間補正回路を備えたセットアッ
プおよびホールド時間補正装置において、前記セットア
ップおよびホールド時間補正回路が、データ信号に対し
クロック信号の立ち上がりを一定時間遅延させて出力す
るクロック遅延出力機能と、前記データ信号の立ち下が
りのタイミングを相対的にクロック信号の立ち上がり後
の所定時間経過後に設定するクロック信号立ち上がり補
正機能とを備えている、という構成を採っている。これ
によって前述した目的を達成しようとするものである。A setup and hold time correction circuit provided with an input stage of a flip flop and provided with a setup and hold time correction circuit for adjusting timings of a data signal and a clock signal input to the flip flop. In the device, the setup and hold time correction circuit delays the rising edge of the clock signal with respect to the data signal by a certain time and outputs the delayed signal, and the falling timing of the data signal relative to the rising edge of the clock signal. It is configured to have a clock signal rising correction function that is set after the elapse of a predetermined time. This aims to achieve the above-mentioned object.
【0007】[0007]
【作用】(1)セットアップ時間の補正:データが「ロ
ーレベル」から「ハイレベル」に立ち上がると、第1の
フリップフロップのQ出力と第2のフリップフロップの
Q出力は「ローレベル」のままである。第1のORゲー
トの出力は「ハイレベル」から「ローレベル」に立ち下
がる。第2のORゲートの出力は「ローレベル」から
「ハイレベル」に立ち上がる。ANDゲートの出力は第
1のORゲートの出力と第2のORゲートの出力が逆な
ので「ローレベル」のままである。ホールド時間補正用
バッファの出力はホールド時間分遅れて「ハイレベル」
に立ち上がる。第1のデータセレクタからの出力はAN
Dゲートの出力が「ローレベル」のままなので、データ
そのものが選択され「ハイレベル」に立ち上がる。第2
のデータセレクタではANDゲートの出力が「ローレベ
ル」のままなので、セットアップ時間補正用バッファの
出力が選択され、セットアップ時間分遅延されたクロッ
ク信号が出力される。すると、第3のフリップフロップ
のデータ端子にはデータそのものが入力されクロック端
子にはセットアップ時間分遅延されたクロック信号が入
力されるためセットアップ時間が長くなる。すなわちセ
ットアップ時間を十分に満足したタイミングに補正され
た状態でデータとクロック信号は従来のフリップフロッ
プのデータ端子とクロック端子へ入力される。(1) Correction of setup time: When data rises from "low level" to "high level", the Q output of the first flip-flop and the Q output of the second flip-flop remain "low level". Is. The output of the first OR gate falls from "high level" to "low level". The output of the second OR gate rises from "low level" to "high level". The output of the AND gate remains "low level" because the output of the first OR gate and the output of the second OR gate are opposite. The output of the hold time correction buffer is "high level" with a delay of the hold time.
Stand up. The output from the first data selector is AN
Since the output of the D gate remains "low level", the data itself is selected and rises to "high level". Second
In the data selector, since the output of the AND gate remains "low level", the output of the setup time correction buffer is selected, and the clock signal delayed by the setup time is output. Then, since the data itself is input to the data terminal of the third flip-flop and the clock signal delayed by the setup time is input to the clock terminal, the setup time becomes long. That is, the data and the clock signal are input to the data terminal and the clock terminal of the conventional flip-flop in a state where the setup time is sufficiently corrected and corrected.
【0008】(2)ホールド時間の補正:さらにデータ
が「ハイレベル」から「ローレベル」に立ち下がると、
第1のフリップフロップのQ出力は「ローレベル」のま
まである。第2のフリップフロップのQ出力は「ローレ
ベル」から「ハイレベル」に立ち上がる。第1のORゲ
ートの出力は「ローレベル」から「ハイレベル」に立ち
上がる。第2のORゲートの出力は「ハイレベル」のま
まである。ANDゲートの出力は第1のORゲートの出
力と第2のORゲートの出力が同じなので「ローレベ
ル」から「ハイレベル」に立ち上がる。ホールド時間補
正用バッファの出力はホールド時間分遅れて「ローレベ
ル」に立ち下がる。(2) Hold time correction: When the data further falls from "high level" to "low level",
The Q output of the first flip-flop remains "low level". The Q output of the second flip-flop rises from "low level" to "high level". The output of the first OR gate rises from "low level" to "high level". The output of the second OR gate remains "high level". The output of the AND gate rises from "low level" to "high level" because the output of the first OR gate is the same as the output of the second OR gate. The output of the hold time correction buffer falls to "low level" after a delay of the hold time.
【0009】第1のデータセレクタからの出力はAND
ゲートの出力が「ハイレベル」なので、ホールド時間補
正用バッファの出力が選択されホールド時間補正用バッ
ファの出力と同時に「ローレベル」に立ち下がる。第2
のデータセレクタではANDゲートの出力が「ハイレベ
ル」なので、クロック信号入力端子からクロック信号が
選択され、遅延されずにクロック信号そのままが出力さ
れる。すると、第3のフリップフロップのデータ端子に
はホールド時間分遅延されたデータが入力されクロック
端子にはクロック信号がそのまま入力されるためホール
ド時間が長くなる。すなわちホールド時間を十分に満足
したタイミングに補正された状態でデータとクロック信
号は従来のフリップフロップのデータ端子とクロック端
子へ入力される。The output from the first data selector is AND
Since the output of the gate is "high level", the output of the hold time correction buffer is selected and falls to "low level" at the same time as the output of the hold time correction buffer. Second
In the data selector, since the output of the AND gate is "high level", the clock signal is selected from the clock signal input terminal, and the clock signal is output as it is without delay. Then, the data delayed by the hold time is input to the data terminal of the third flip-flop, and the clock signal is directly input to the clock terminal, so that the hold time becomes long. That is, the data and the clock signal are input to the data terminal and the clock terminal of the conventional flip-flop in a state where the hold time is corrected to a timing that is sufficiently satisfied.
【0010】[0010]
【発明の実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし
図2に基づいて説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
【0011】図1において、符号100は、データ入力
端子DATと,クロック信号入力端子CLKと,リセッ
ト信号入力端子RSTを入力とし、第3のフリップフロ
ップ200に入力されるデータとクロック信号間のセッ
トアップ時間およびホールド時間を補正するセットアッ
プおよびホールド時間補正回路を示す。In FIG. 1, reference numeral 100 designates a data input terminal DAT, a clock signal input terminal CLK, and a reset signal input terminal RST as inputs, and sets up between the data and the clock signal input to the third flip-flop 200. 7 shows a setup and hold time correction circuit for correcting time and hold time.
【0012】この、セットアップおよびホールド時間補
正回路100は、データ入力端子DATから入力される
データをクロック端子入力としクロック信号入力端子C
LKから入力されるクロック信号をデータ端子入力とし
リセット信号入力端子RSTから入力されるリセット信
号をリセット端子入力とする第1のフリップフロップ1
01と、データ入力端子DATから入力されるデータを
インバータ103を介してクロック端子入力としクロッ
ク信号入力端子CLKから入力されるクロック信号をデ
ータ端子入力としリセット信号入力端子RSTから入力
されるリセット信号をリセット端子入力とする第2のフ
リップフロップ102と、第1のフリップフロップ10
1のQ出力とインバータ103の出力との論理和をとる
第1のORゲート104と、第2のフリップフロップ1
02とデータ入力端子DATから入力されるデータとの
論理和をとる第2のORゲート105と、第1のORゲ
ート104の出力と第2のORゲート105の出力との
論理積をとるANDゲート106と、データ入力端子D
ATから入力されるデータをA端子入力としデータ入力
端子DATから入力されるデータをホールド時間補正用
バッファ107を介してホールド時間分遅延させてB端
子入力としANDゲート106の出力をセレクト端子S
入力とする第1のデータセレクタ109と、クロック信
号入力端子CLKから入力されるクロック信号をセット
アップ時間補正用バッファ108を介してセットアップ
時間分遅延させてA端子入力としクロック信号入力端子
CLKから入力されるクロック信号をB端子入力としA
NDゲート106の出力をセレクト端子S入力とする第
2のデータセレクタ110とから構成されている。The setup and hold time correction circuit 100 uses the data input from the data input terminal DAT as a clock terminal input and a clock signal input terminal C.
A first flip-flop 1 having a clock signal input from LK as a data terminal input and a reset signal input from a reset signal input terminal RST as a reset terminal input
01, data inputted from the data input terminal DAT as a clock terminal input through the inverter 103, a clock signal inputted from the clock signal input terminal CLK as a data terminal input, and a reset signal inputted from the reset signal input terminal RST. The second flip-flop 102 and the first flip-flop 10 which are input to the reset terminal
The first OR gate 104 that takes the logical sum of the Q output of 1 and the output of the inverter 103, and the second flip-flop 1
02 and the data input from the data input terminal DAT, the second OR gate 105, and the AND gate that takes the logical product of the output of the first OR gate 104 and the output of the second OR gate 105. 106 and the data input terminal D
Data input from the AT is input to the A terminal, data input from the data input terminal DAT is delayed by the hold time via the hold time correction buffer 107 and is input to the B terminal, and the output of the AND gate 106 is used as the select terminal S.
The clock signal input from the first data selector 109 to be input and the clock signal input terminal CLK is delayed by the setup time via the setup time correction buffer 108 and is input as the A terminal input from the clock signal input terminal CLK. A clock signal is input to terminal B
The second data selector 110 has the output of the ND gate 106 as the input of the select terminal S.
【0013】そして、第1のデータセレクタ109から
の出力は第3のフリップフロップ200のデータ端子入
力に接続されており、第2のデータセレクタ110から
の出力は第3のフリップフロップ200のクロック端子
入力に接続されている。The output from the first data selector 109 is connected to the data terminal input of the third flip-flop 200, and the output from the second data selector 110 is the clock terminal of the third flip-flop 200. Connected to input.
【0014】また、第1のデータセレクタ109と第2
のデータセレクタ110では、セレクト端子S入力が
「ローレベル」のときはA端子入力が選択され、セレク
ト端子S入力が「ハイレベル」のときはB端子入力が選
択されるようになっている。In addition, the first data selector 109 and the second data selector 109
In the data selector 110, the A terminal input is selected when the select terminal S input is "low level", and the B terminal input is selected when the select terminal S input is "high level".
【0015】次に、本実施例の動作を図2のタイミング
チャートを用いて説明する。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the timing chart of FIG.
【0016】初期化処理:リセット信号入力端子RS
Tよりリセット信号20を入力し、第1のフリップフロ
ップ101と第2のフリップフロップ102と第3のフ
リップフロップ200のQ出力を「ローレベル」にす
る。Initialization processing: reset signal input terminal RS
The reset signal 20 is input from T, and the Q outputs of the first flip-flop 101, the second flip-flop 102, and the third flip-flop 200 are set to “low level”.
【0017】データ入力端子DATからデータを、ク
ロック信号入力端子CLKからクロック信号を入力す
る。このときのデータは「ローレベル」であるとする。
第1のフリップフロップ101のQ出力と第2のフリッ
プフロップ102のQ出力は「ローレベル」のままであ
る。また、第1のORゲート104の出力は「ハイレベ
ル」であり、第2のORゲート105の出力は「ローレ
ベル」なので、ANDゲート106の出力は「ローレベ
ル」となる。そして、ホールド時間補正用バッファ10
7の出力はデータが「ローレベル」のままなので「ロー
レベル」であり、セットアップ時間補正用バッファ10
8の出力はセットアップ時間分遅延されたクロック信号
となる。また、ANDゲート106の出力が「ローレベ
ル」なので第1のデータセレクタ109ではA端子入力
が選択され出力はデータ入力端子DATからのデータつ
まり「ローレベル」である。第2のデータセレクタ11
0では、ANDゲート106の出力が「ローレベル」な
のでA端子入力が選択されセットアップ時間補正用バッ
ファ108の出力つまりセットアップ時間分遅延された
クロック信号が出力される。従って、第3のフリップフ
ロップ200では入力データが「ローレベル」なので、
Q出力は「ローレベル」である。Data is input from the data input terminal DAT and a clock signal is input from the clock signal input terminal CLK. The data at this time is assumed to be "low level".
The Q output of the first flip-flop 101 and the Q output of the second flip-flop 102 remain "low level". Further, the output of the first OR gate 104 is “high level” and the output of the second OR gate 105 is “low level”, so the output of the AND gate 106 is “low level”. Then, the hold time correction buffer 10
The output of 7 is "low level" because the data remains "low level", and the setup time correction buffer 10
The output of 8 is a clock signal delayed by the setup time. Further, since the output of the AND gate 106 is "low level", the A terminal input is selected by the first data selector 109 and the output is the data from the data input terminal DAT, that is, "low level". Second data selector 11
At 0, since the output of the AND gate 106 is "low level", the A terminal input is selected and the output of the setup time correction buffer 108, that is, the clock signal delayed by the setup time is output. Therefore, since the input data is "low level" in the third flip-flop 200,
The Q output is "low level".
【0018】セットアップ時間の補正:次に、データ
が「ローレベル」から「ハイレベル」に立ち上がると、
以下に述べる動作でセットアップ時間の補正処理が行わ
れる。第1のフリップフロップ101のQ出力と第2の
フリップフロップ102のQ出力は「ローレベル」のま
まであるが、第1のORゲート104の出力は「ハイレ
ベル」から「ローレベル」に立ち下がる。また、第2の
ORゲート105の出力は「ローレベル」から「ハイレ
ベル」に立ち上がる。そこで、ANDゲート106の出
力は第1のORゲート104の出力と第2のORゲート
105の出力が逆なので「ローレベル」のままである。Correction of setup time: Next, when the data rises from "low level" to "high level",
The setup time correction process is performed by the operation described below. The Q output of the first flip-flop 101 and the Q output of the second flip-flop 102 remain "low level", but the output of the first OR gate 104 rises from "high level" to "low level". Go down. The output of the second OR gate 105 rises from "low level" to "high level". Therefore, the output of the AND gate 106 remains "low level" because the output of the first OR gate 104 and the output of the second OR gate 105 are opposite.
【0019】そして、ホールド時間補正用バッファ10
7の出力はホールド時間分遅れて「ハイレベル」に立ち
上がる。第1のデータセレクタ109からの出力はAN
Dゲート106の出力が「ローレベル」のままなので、
A端子入力すなわちデータそのものが選択され「ハイレ
ベル」に立ち上がる。第2のデータセレクタ110では
ANDゲート106の出力が「ローレベル」のままなの
で、A端子入力すなわちセットアップ時間補正用バッフ
ァ108の出力が選択され、セットアップ時間分遅延さ
れたクロック信号が出力される。従って、第3のフリッ
プフロップ200のデータ端子にはデータそのものが入
力されクロック端子にはセットアップ時間分遅延された
クロック信号が入力されるためセットアップ時間が長く
なる。すなわちセットアップ時間を十分に満足したタイ
ミングに補正された状態でデータとクロック信号は従来
のフリップフロップ200のデータ端子とクロック端子
へ入力される。Then, the hold time correction buffer 10
The output of 7 rises to "high level" with a delay of the hold time. The output from the first data selector 109 is AN
Since the output of the D gate 106 remains "low level",
The A terminal input, that is, the data itself is selected and rises to "high level". In the second data selector 110, since the output of the AND gate 106 remains "low level", the A terminal input, that is, the output of the setup time correction buffer 108 is selected, and the clock signal delayed by the setup time is output. Therefore, since the data itself is input to the data terminal of the third flip-flop 200 and the clock signal delayed by the setup time is input to the clock terminal, the setup time becomes long. That is, the data and the clock signal are input to the data terminal and the clock terminal of the conventional flip-flop 200 in a state in which the setup time is sufficiently corrected and corrected.
【0020】ホールド時間の補正:さらに、データが
「ハイレベル」から「ローレベル」に立ち下がると、以
下に述べる動作でホールド時間の補正が行われる。第1
のフリップフロップ101のQ出力は「ローレベル」の
ままであるが、第2のフリップフロップ102のQ出力
は「ローレベル」から「ハイレベル」に立ち上がる。第
1のORゲート104の出力は「ローレベル」から「ハ
イレベル」に立ち上がる。第2のORゲート105の出
力は「ハイレベル」のままである。そこで、ANDゲー
ト106の出力は第1のORゲート104の出力と第2
のORゲート105の出力が同じなので「ローレベル」
から「ハイレベル」に立ち上がる。ホールド時間補正用
バッファ107の出力はホールド時間分遅れて「ローレ
ベル」に立ち下がる。Correction of hold time: Further, when the data falls from "high level" to "low level", the hold time is corrected by the operation described below. First
The Q output of the second flip-flop 101 remains "low level", but the Q output of the second flip-flop 102 rises from "low level" to "high level". The output of the first OR gate 104 rises from "low level" to "high level". The output of the second OR gate 105 remains “high level”. Therefore, the output of the AND gate 106 and the output of the first OR gate 104 and the second
The output of OR gate 105 is the same, so "low level"
To rise to "high level". The output of the hold time correction buffer 107 falls to "low level" after a delay of the hold time.
【0021】第1のデータセレクタ109からの出力は
ANDゲート106の出力が「ハイレベル」なので、B
端子入力すなわちホールド時間補正用バッファ107の
出力が選択されホールド時間補正用バッファ107の出
力と同時に「ローレベル」に立ち下がる。第2のデータ
セレクタ110ではANDゲート106の出力が「ハイ
レベル」なので、B端子入力すなわちクロック信号入力
端子CLKからのクロック信号が選択され、遅延されず
にクロック信号そのままが出力される。従って、第3の
フリップフロップ200のデータ端子にはホールド時間
分遅延されたデータが入力されクロック端子にはクロッ
ク信号がそのまま入力されるためホールド時間が長くな
る。すなわちホールド時間を十分に満足したタイミング
に補正された状態でデータとクロック信号は従来のフリ
ップフロップ200のデータ端子とクロック端子へ入力
される。The output from the first data selector 109 is B because the output of the AND gate 106 is "high level".
The terminal input, that is, the output of the hold time correction buffer 107 is selected and falls to "low level" at the same time as the output of the hold time correction buffer 107. In the second data selector 110, since the output of the AND gate 106 is "high level", the clock signal from the B terminal input, that is, the clock signal input terminal CLK is selected and the clock signal is output as it is without delay. Therefore, the data delayed by the hold time is input to the data terminal of the third flip-flop 200, and the clock signal is directly input to the clock terminal, so that the hold time becomes long. That is, the data and the clock signal are input to the data terminal and the clock terminal of the conventional flip-flop 200 in a state where the hold time is corrected to a timing that is sufficiently satisfied.
【0022】[0022]
【発明の効果】本発明は以上のように構成され機能する
ので、これによると、データとクロック信号間のセット
アップ時間およびホールド時間の補正を容易に行うこと
ができ、これがため、LSI設計全体の工数を削減する
ことができ、開発期間および納期を短縮することができ
るという従来にない優れたセットアップおよびホールド
時間補正回路を提供することができる。Since the present invention is constructed and functions as described above, according to the present invention, the setup time and the hold time between the data and the clock signal can be easily corrected. It is possible to provide an unprecedented excellent setup and hold time correction circuit that can reduce the number of steps and shorten the development period and delivery time.
【図1】本発明の一実施例を示した回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.
【図2】図1の各ゲートの出力信号のタイミングチャー
トである。FIG. 2 is a timing chart of output signals of each gate of FIG.
【図3】従来のフリップフロップ図である。FIG. 3 is a conventional flip-flop diagram.
【図4】従来のデータとクロック信号間の入力タイミン
グチャートである。FIG. 4 is a conventional input timing chart between data and clock signals.
100 セットアップおよびホールド時間補正回路 101 第1のフリップフロップ 102 第2のフリップフロップ 103 インバータ 104 第1のORゲート 105 第2のORゲート 106 ANDゲート 107 ホールド時間補正用バッファ 108 セットアップ時間補正用バッファ 109 第1のデータセレクタ 110 第2のデータセレクタ 200 第3のフリップフロップ 100 setup and hold time correction circuit 101 first flip-flop 102 second flip-flop 103 inverter 104 first OR gate 105 second OR gate 106 AND gate 107 hold time correction buffer 108 setup time correction buffer 109 1 data selector 110 2nd data selector 200 3rd flip-flop
Claims (2)
当該フリップフロップに入力されるデータ信号とクロッ
ク信号とのタイミングを調整するセットアップおよびホ
ールド時間補正回路を備えたセットアップおよびホール
ド時間補正装置において、前記セットアップおよびホー
ルド時間補正回路が、データ信号に対しクロック信号の
立ち上がりを一定時間遅延させて出力するクロック遅延
出力機能と、前記データ信号の立ち下がりのタイミング
を相対的にクロック信号の立ち上がり後の所定時間経過
後に設定するクロック信号立ち上がり補正機能とを備え
ていることを特徴としたセットアップおよびホールド時
間補正装置。1. The input stage of a flip-flop is equipped with,
In a setup and hold time correction device including a setup and hold time correction circuit that adjusts the timing of a data signal and a clock signal input to the flip-flop, the setup and hold time correction circuit includes a clock signal for the data signal. Is provided with a clock delay output function of delaying the rising edge of the clock signal for a fixed time and outputting the falling edge of the data signal, and a clock signal rising edge correction function of setting the falling edge timing of the data signal relatively after a predetermined time has elapsed after the rising edge of the clock signal A setup and hold time correction device characterized in that
クロック端子入力とし,クロック信号入力端子から入力
されるクロック信号をデータ端子入力とし,リセット信
号入力端子から入力されるリセット信号をリセット端子
入力とする第1のフリップフロップと、データ入力端子
から入力されるデータをインバータを介してクロック端
子入力とし,クロック信号入力端子から入力されるクロ
ック信号をデータ端子入力とし,リセット信号入力端子
から入力されるリセット信号をリセット端子入力とする
第2のフリップフロップと、第1のフリップフロップの
Q出力とインバータの出力との論理和をとる第1のOR
ゲートと、第2のフリップフロップとデータ入力端子か
ら入力されるデータとの論理和をとる第2のORゲート
と、第1のORゲートの出力と第2のORゲートの出力
との論理積をとるANDゲートと、データ入力端子から
入力されるデータをA端子入力としデータ入力端子から
入力されるデータをホールド時間補正用バッファを介し
てホールド時間分遅延させてB端子入力としANDゲー
トの出力をセレクト端子入力とする。第1のデータセレ
クタと、クロック信号入力端子から入力されるクロック
信号をセットアップ時間補正用バッファを介してセット
アップ時間分遅延させてA端子入力としクロック信号入
力端子から入力されるクロック信号をB端子入力としA
NDゲートの出力をセレクト端子入力とする。第2のデ
ータセレクタとを具備することを特徴としたセットアッ
プおよびホールド時間補正回路。2. Data input from a data input terminal is used as a clock terminal input, a clock signal input from a clock signal input terminal is used as a data terminal input, and a reset signal input from a reset signal input terminal is used as a reset terminal input. The data input from the first flip-flop and the data input terminal are input to the clock terminal via the inverter, and the clock signal input from the clock signal input terminal is input to the reset signal input terminal. A second flip-flop that receives the reset signal as a reset terminal input, and a first OR that takes the logical sum of the Q output of the first flip-flop and the output of the inverter
A gate, a second OR gate that ORs the data input from the second flip-flop and the data input terminal, and the logical product of the output of the first OR gate and the output of the second OR gate. AND gate, and the data input from the data input terminal is input to the A terminal, and the data input from the data input terminal is delayed by the hold time via the hold time correction buffer to be input to the B terminal to output the AND gate. Select pin input. The clock signal input from the first data selector and the clock signal input terminal is delayed by the setup time through the setup time correction buffer to be the A terminal input, and the clock signal input from the clock signal input terminal is input to the B terminal. Toshi A
The output of the ND gate is used as the select terminal input. A setup and hold time correction circuit comprising a second data selector.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3273148A JPH0590912A (en) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | Setup and hold time correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3273148A JPH0590912A (en) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | Setup and hold time correcting device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0590912A true JPH0590912A (en) | 1993-04-09 |
Family
ID=17523786
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3273148A Withdrawn JPH0590912A (en) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | Setup and hold time correcting device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0590912A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100474991B1 (en) * | 1997-07-29 | 2005-05-27 | 삼성전자주식회사 | Input buffer and input buffering method of semiconductor memory device |
EP1746428A1 (en) * | 2004-05-11 | 2007-01-24 | Advantest Corporation | Timing generator and semiconductor testing apparatus |
CN113589152A (en) * | 2020-04-30 | 2021-11-02 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | Test circuit |
-
1991
- 1991-09-25 JP JP3273148A patent/JPH0590912A/en not_active Withdrawn
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EP1746428A4 (en) * | 2004-05-11 | 2009-07-01 | Advantest Corp | Timing generator and semiconductor testing apparatus |
CN113589152A (en) * | 2020-04-30 | 2021-11-02 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | Test circuit |
CN113589152B (en) * | 2020-04-30 | 2024-02-27 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | Test circuit |
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