JPH0566129A - 距離測定用半導体集積回路 - Google Patents
距離測定用半導体集積回路Info
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- JPH0566129A JPH0566129A JP1913092A JP1913092A JPH0566129A JP H0566129 A JPH0566129 A JP H0566129A JP 1913092 A JP1913092 A JP 1913092A JP 1913092 A JP1913092 A JP 1913092A JP H0566129 A JPH0566129 A JP H0566129A
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- distance
- distance measurement
- data
- distance measuring
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 距離測定装置の低コスト化及び高性能化を図
ることのできる距離測定用ＩＣを提供する。 【構成】 被測距対象物２０からの光を受取りこの対象
物までの距離に応じた信号を出力する受光素子３０を有
するオートフォーカス装置用の距離測定用半導体集積回
路４０は、以下の各要素がワンチップ内に形成されてい
る。受光素子からの信号から対象物までの距離に反比例
したデジタルの測距データを形成する距離測定演算部４
１、キャリブレーションモード時に既知の２つの距離に
ついて距離測定演算部４１から出力される２つの測距デ
ータが書き込まれる記憶部４２、及び測距モード時に記
憶部４２に記憶されている２つの測距データと距離測定
演算部４１から出力される測距データとからオートフォ
ーカス装置制御信号を演算するデータ演算部４３であ
る。
ることのできる距離測定用ＩＣを提供する。 【構成】 被測距対象物２０からの光を受取りこの対象
物までの距離に応じた信号を出力する受光素子３０を有
するオートフォーカス装置用の距離測定用半導体集積回
路４０は、以下の各要素がワンチップ内に形成されてい
る。受光素子からの信号から対象物までの距離に反比例
したデジタルの測距データを形成する距離測定演算部４
１、キャリブレーションモード時に既知の２つの距離に
ついて距離測定演算部４１から出力される２つの測距デ
ータが書き込まれる記憶部４２、及び測距モード時に記
憶部４２に記憶されている２つの測距データと距離測定
演算部４１から出力される測距データとからオートフォ
ーカス装置制御信号を演算するデータ演算部４３であ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はアクティブタイプ又はパ
ッシブタイプのオートフォーカス装置に装着される距離
測定装置の主要な構成要素である距離測定用半導体集積
回路に関する。
ッシブタイプのオートフォーカス装置に装着される距離
測定装置の主要な構成要素である距離測定用半導体集積
回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】オートフォーカス装置に装着される距離
測定装置は、その距離測定装置がアクティブタイプの場
合、図５に示すように、距離を測定すべき被写体に光を
照射する赤外線発光ダイオード１１０と、被写体１２０
で反射された光を受光しその光の入射角度に応じた電流
を出力するＰＳＤ（ポジションセンシティブディテク
タ）素子１３０と、ＰＳＤ素子１３０から印加される電
流をＡ／Ｄ変換した後、被写体までの距離に対応するデ
ータ（測距データ）を演算する距離測定用集積回路（距
離測定用ＩＣ）１４０と、この距離測定用ＩＣ１４０を
制御するＣＰＵ（中央処理装置）１５０とから通常は構
成される。
測定装置は、その距離測定装置がアクティブタイプの場
合、図５に示すように、距離を測定すべき被写体に光を
照射する赤外線発光ダイオード１１０と、被写体１２０
で反射された光を受光しその光の入射角度に応じた電流
を出力するＰＳＤ（ポジションセンシティブディテク
タ）素子１３０と、ＰＳＤ素子１３０から印加される電
流をＡ／Ｄ変換した後、被写体までの距離に対応するデ
ータ（測距データ）を演算する距離測定用集積回路（距
離測定用ＩＣ）１４０と、この距離測定用ＩＣ１４０を
制御するＣＰＵ（中央処理装置）１５０とから通常は構
成される。
【０００３】このような距離測定装置では、距離測定用
ＩＣの製造上のばらつき及び光学系（受光素子、発光素
子等）のずれによる測定誤差を補償するため、光学系を
物理的に微調整することが行われる。
ＩＣの製造上のばらつき及び光学系（受光素子、発光素
子等）のずれによる測定誤差を補償するため、光学系を
物理的に微調整することが行われる。
【０００４】しかしながら光学系の調整によってこのよ
うな測定誤差を完全に補償することは非常に困難である
ので、電気的な方法でこれを消去することが行われてい
る。即ち、調整用可変抵抗Ｒ１及びＲ２を外付接続する
ための２〜３個の端子を距離測定用ＩＣに設け、初期時
にこれら複数の調整用抵抗Ｒ１及びＲ２の抵抗値を調節
することによってＡ／Ｄ変換器の部分で電流を修正し、
測距データの誤差が消去されるようにしている。
うな測定誤差を完全に補償することは非常に困難である
ので、電気的な方法でこれを消去することが行われてい
る。即ち、調整用可変抵抗Ｒ１及びＲ２を外付接続する
ための２〜３個の端子を距離測定用ＩＣに設け、初期時
にこれら複数の調整用抵抗Ｒ１及びＲ２の抵抗値を調節
することによってＡ／Ｄ変換器の部分で電流を修正し、
測距データの誤差が消去されるようにしている。
【０００５】調整用抵抗によるこの補償方法は、抵抗Ｒ
１の抵抗値を変えることによって電流を平行にシフト
し、抵抗Ｒ２の抵抗値を変えることによって電流の傾斜
を変えるものである。即ち、図６に示すように、まずデ
ータの回転中心となっている第１の距離で測距を行い、
その出力データが所望の値となるように抵抗Ｒ１の抵抗
値を変える。次に第１の距離と異なる第２の距離で測距
を行いその出力データが所望の値となるように抵抗Ｒ２
の抵抗値を変える。しかしながらこの方法は、出力デー
タが所望のデータとなるまで何度も距離測定を繰り返し
て抵抗値の調整を行う必要があるため、多大な労力を要
する。
１の抵抗値を変えることによって電流を平行にシフト
し、抵抗Ｒ２の抵抗値を変えることによって電流の傾斜
を変えるものである。即ち、図６に示すように、まずデ
ータの回転中心となっている第１の距離で測距を行い、
その出力データが所望の値となるように抵抗Ｒ１の抵抗
値を変える。次に第１の距離と異なる第２の距離で測距
を行いその出力データが所望の値となるように抵抗Ｒ２
の抵抗値を変える。しかしながらこの方法は、出力デー
タが所望のデータとなるまで何度も距離測定を繰り返し
て抵抗値の調整を行う必要があるため、多大な労力を要
する。
【０００６】調整用抵抗を用いずに測距データの誤差を
消去する方法として、図７に示すように、通常の距離測
定用ＩＣ２４０に独立したメモリ２６０を外付し、その
距離測定用ＩＣ２４０によって既知の距離を測定して得
た１次関数をこのメモリ２６０に記憶させるようにした
補償方法を本出願人は知っている。
消去する方法として、図７に示すように、通常の距離測
定用ＩＣ２４０に独立したメモリ２６０を外付し、その
距離測定用ＩＣ２４０によって既知の距離を測定して得
た１次関数をこのメモリ２６０に記憶させるようにした
補償方法を本出願人は知っている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法によると、外付するメモリ自体及び調整時の各タイミ
ングを発生する回路が必要となると共に各素子間の配線
が新たに必要であり、しかもＣＰＵのソフトウエアの負
担が著しく大きくなる。
法によると、外付するメモリ自体及び調整時の各タイミ
ングを発生する回路が必要となると共に各素子間の配線
が新たに必要であり、しかもＣＰＵのソフトウエアの負
担が著しく大きくなる。
【０００８】従って、本発明の目的は、距離測定装置の
低コスト化及び高性能化を図ることのできる距離測定用
ＩＣを提供することにある。
低コスト化及び高性能化を図ることのできる距離測定用
ＩＣを提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、上述の
目的は、被測距対象物からの光を受取りこの対象物まで
の距離に応じた信号を出力する受光素子を有するオート
フォーカス装置用の以下の構成の距離測定用半導体集積
回路によって達成される。
目的は、被測距対象物からの光を受取りこの対象物まで
の距離に応じた信号を出力する受光素子を有するオート
フォーカス装置用の以下の構成の距離測定用半導体集積
回路によって達成される。
【００１０】この距離測定用半導体集積回路は、以下の
各要素がワンチップ内に形成されている。即ち、受光素
子からの信号から対象物までの距離に反比例したデジタ
ルの測距データを形成する距離測定演算部、キャリブレ
ーションモード時に既知の２つの距離について距離測定
演算部から出力される２つの測距データが書き込まれる
記憶部、及び測距モード時に記憶部に記憶されている２
つの測距データと距離測定演算部から出力される測距デ
ータとからオートフォーカス装置制御信号を演算するデ
ータ演算部である。
各要素がワンチップ内に形成されている。即ち、受光素
子からの信号から対象物までの距離に反比例したデジタ
ルの測距データを形成する距離測定演算部、キャリブレ
ーションモード時に既知の２つの距離について距離測定
演算部から出力される２つの測距データが書き込まれる
記憶部、及び測距モード時に記憶部に記憶されている２
つの測距データと距離測定演算部から出力される測距デ
ータとからオートフォーカス装置制御信号を演算するデ
ータ演算部である。
【００１１】好ましくは、外部からの制御入力に応じて
前記キャリブレーションモード及び前記測距モードを選
択的に切換えることが可能な制御ロジック手段がさらに
ワンチップ内に形成されている。
前記キャリブレーションモード及び前記測距モードを選
択的に切換えることが可能な制御ロジック手段がさらに
ワンチップ内に形成されている。
【００１２】記憶部はＥＥＰＲＯＭであることが好まし
い。このＥＥＰＲＯＭがＣＭＯＳであり、半導体集積回
路がＢｉ−ＣＭＯＳプロセスで形成されることも好まし
い。
い。このＥＥＰＲＯＭがＣＭＯＳであり、半導体集積回
路がＢｉ−ＣＭＯＳプロセスで形成されることも好まし
い。
【００１３】半導体集積回路がアクティブタイプのオー
トフォーカス装置用であるかもしれない。
トフォーカス装置用であるかもしれない。
【００１４】
【作用】既知の真の距離を距離測定装置で実際に測定し
て測距データを得、その測距デ−タと真の距離との関係
を記憶部に記憶させるという距離測定装置のキャリブレ
ーションを、ＣＰＵからキャリブレーション命令を出す
だけで行う。このため、距離測定装置のＣＰＵのソフト
ウエアの負担を大幅に低減でき、しかもその構成を極め
てシンプルにすることができ、さらに距離測定装置の低
コスト化及び高性能化を図ることができる。
て測距データを得、その測距デ−タと真の距離との関係
を記憶部に記憶させるという距離測定装置のキャリブレ
ーションを、ＣＰＵからキャリブレーション命令を出す
だけで行う。このため、距離測定装置のＣＰＵのソフト
ウエアの負担を大幅に低減でき、しかもその構成を極め
てシンプルにすることができ、さらに距離測定装置の低
コスト化及び高性能化を図ることができる。
【００１５】
【実施例】以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
【００１６】図２は本発明の一実施例として、コンパク
トカメラ等に装着されるアクティブタイプの距離測定装
置の構成を概略的に表している。
トカメラ等に装着されるアクティブタイプの距離測定装
置の構成を概略的に表している。
【００１７】同図において、１０は距離を測定すべき被
写体２０に光を照射する赤外線発光ダイオード、３０は
被写体２０で反射された光を受光しその光の入射角度に
応じた電流を出力するＰＳＤ（ポジションセンシティブ
ディテクタ）素子、４０はＰＳＤ素子３０から出力され
る電流をＡ／Ｄ変換し、被写体までの距離に対応するデ
ータ（測距データ）を演算する距離測定用集積回路（距
離測定用ＩＣ）、５０はこの距離測定装置全体を制御す
るためのＣＰＵ（中央処理装置）をそれぞれ示してい
る。
写体２０に光を照射する赤外線発光ダイオード、３０は
被写体２０で反射された光を受光しその光の入射角度に
応じた電流を出力するＰＳＤ（ポジションセンシティブ
ディテクタ）素子、４０はＰＳＤ素子３０から出力され
る電流をＡ／Ｄ変換し、被写体までの距離に対応するデ
ータ（測距データ）を演算する距離測定用集積回路（距
離測定用ＩＣ）、５０はこの距離測定装置全体を制御す
るためのＣＰＵ（中央処理装置）をそれぞれ示してい
る。
【００１８】図１は距離測定用ＩＣ４０の内部構成を概
略的に表している。
略的に表している。
【００１９】この距離測定用ＩＣ４０は、内部にＡ／Ｄ
変換器を含む距離測定演算部４１と、この距離測定演算
部４１の出力にその入力が接続されたＥＥＰＲＯＭ（電
気的消去可能プログラマブルＲＯＭ）４２と、距離測定
演算部４１の出力及びＥＥＰＲＯＭ４２の出力に接続さ
れたデータ演算部４３と、距離測定演算部４１、ＥＥＰ
ＲＯＭ４２、及びデータ演算部４３に接続されておりこ
れらの動作を制御するための制御ロジック４４とを備え
ている。距離測定演算部４１の入力はＰＳＤ素子３０の
出力に接続され、制御ロジック４４はＣＰＵ５０及び発
光ダイオード１０に接続され、データ演算部４３の出力
はＣＰＵ５０に接続される。距離測定用ＩＣ４０とＣＰ
Ｕ５０とを接続する信号線はＣＰＵ５０から距離測定用
ＩＣ４０に対する２つの制御線及び距離測定用ＩＣ４０
で得たデ−タをＣＰＵ５０へ送るためのデータ線の３つ
の線である。
変換器を含む距離測定演算部４１と、この距離測定演算
部４１の出力にその入力が接続されたＥＥＰＲＯＭ（電
気的消去可能プログラマブルＲＯＭ）４２と、距離測定
演算部４１の出力及びＥＥＰＲＯＭ４２の出力に接続さ
れたデータ演算部４３と、距離測定演算部４１、ＥＥＰ
ＲＯＭ４２、及びデータ演算部４３に接続されておりこ
れらの動作を制御するための制御ロジック４４とを備え
ている。距離測定演算部４１の入力はＰＳＤ素子３０の
出力に接続され、制御ロジック４４はＣＰＵ５０及び発
光ダイオード１０に接続され、データ演算部４３の出力
はＣＰＵ５０に接続される。距離測定用ＩＣ４０とＣＰ
Ｕ５０とを接続する信号線はＣＰＵ５０から距離測定用
ＩＣ４０に対する２つの制御線及び距離測定用ＩＣ４０
で得たデ−タをＣＰＵ５０へ送るためのデータ線の３つ
の線である。
【００２０】ＥＥＰＲＯＭ４２はＣＭＯＳで形成されて
おり、その他の構成要素はバイポーラで形成されてい
る。即ち、距離測定用ＩＣ４０はＢｉ−ＣＭＯＳプロセ
スによって形成されたワンチップのＩＣである。
おり、その他の構成要素はバイポーラで形成されてい
る。即ち、距離測定用ＩＣ４０はＢｉ−ＣＭＯＳプロセ
スによって形成されたワンチップのＩＣである。
【００２１】次にこの距離測定装置の動作を図３に示す
ＣＰＵ５０の制御プログラムのフローチャートを用いて
説明する。
ＣＰＵ５０の制御プログラムのフローチャートを用いて
説明する。
【００２２】距離測定装置の動作には２つの動作モード
がある。一方はキャリブレーションモードであり、他方
は測距モードである。
がある。一方はキャリブレーションモードであり、他方
は測距モードである。
【００２３】キャリブレーションモードは、距離測定装
置を工場から出荷する前に及びその後調整が必要になっ
たときに行う初期設定モードである。図３のステップＳ
１においてこのキャリブレーションモードであると判別
されると、ステップＳ２〜Ｓ７の動作が実行される。ま
ず、ＣＰＵ５０は距離測定用ＩＣ４０の制御ロジック４
４にコントロール信号を送り、そのＥＥＰＲＯＭ４２を
書き込みモードに設定する（ステップＳ２）。次に制御
ロジック４４に他のコントロール信号を送ることによ
り、初期化用の測距動作を開始させる（ステップＳ
３）。これにより、発光ダイオード１０が駆動され、あ
らかじめ定められた既知の第１の距離だけ離れた位置に
設置された被写体（被測距対象物）２０から反射された
光がＰＳＤ素子３０に印加される。ＰＳＤ素子３０から
はその第１の距離に応じた２チャンネルの信号電流が出
力され、距離測定演算部４１に入力される。距離測定演
算部４１はこれらの電流をそれぞれ増幅し、ダイオード
を用いて対数圧縮した電圧を差動回路の入力端子対にそ
れぞれ入力させ、被写体までの距離の逆数に比例した出
力電流を得る。そしてこの出力電流をＡ／Ｄ変換するこ
とによりデジタルの測距データａを生成する。次いでこ
の測距データａは、制御ロジック４４の制御によってＥ
ＥＰＲＯＭ４２の所定のアドレスに書き込まれる（ステ
ップＳ４）。
置を工場から出荷する前に及びその後調整が必要になっ
たときに行う初期設定モードである。図３のステップＳ
１においてこのキャリブレーションモードであると判別
されると、ステップＳ２〜Ｓ７の動作が実行される。ま
ず、ＣＰＵ５０は距離測定用ＩＣ４０の制御ロジック４
４にコントロール信号を送り、そのＥＥＰＲＯＭ４２を
書き込みモードに設定する（ステップＳ２）。次に制御
ロジック４４に他のコントロール信号を送ることによ
り、初期化用の測距動作を開始させる（ステップＳ
３）。これにより、発光ダイオード１０が駆動され、あ
らかじめ定められた既知の第１の距離だけ離れた位置に
設置された被写体（被測距対象物）２０から反射された
光がＰＳＤ素子３０に印加される。ＰＳＤ素子３０から
はその第１の距離に応じた２チャンネルの信号電流が出
力され、距離測定演算部４１に入力される。距離測定演
算部４１はこれらの電流をそれぞれ増幅し、ダイオード
を用いて対数圧縮した電圧を差動回路の入力端子対にそ
れぞれ入力させ、被写体までの距離の逆数に比例した出
力電流を得る。そしてこの出力電流をＡ／Ｄ変換するこ
とによりデジタルの測距データａを生成する。次いでこ
の測距データａは、制御ロジック４４の制御によってＥ
ＥＰＲＯＭ４２の所定のアドレスに書き込まれる（ステ
ップＳ４）。
【００２４】ステップＳ３及び４と同様の動作が、あら
かじめ定められた既知の第２の距離だけ離れた位置に設
置された被写体２０に対して行われ（ステップＳ５）、
測距データｂがＥＥＰＲＯＭ４２の所定のアドレスに書
き込まれる（ステップＳ６）。以上によりキャリブレー
ション動作が終了したことがＣＰＵ５０側に通知される
（ステップＳ７）。
かじめ定められた既知の第２の距離だけ離れた位置に設
置された被写体２０に対して行われ（ステップＳ５）、
測距データｂがＥＥＰＲＯＭ４２の所定のアドレスに書
き込まれる（ステップＳ６）。以上によりキャリブレー
ション動作が終了したことがＣＰＵ５０側に通知される
（ステップＳ７）。
【００２５】測距モードは、オートフォーカスのための
本来の距離測定を行うモードである。ステップＳ１にお
いてこの測距モードであると判別されると、ステップＳ
８〜Ｓ１１の動作が実行される。まず、ＣＰＵ５０は制
御ロジック４４にコントロール信号を送ることにより、
測距動作を開始させる（ステップＳ８）。これにより、
発光ダイオード１０が駆動され、測定すべき位置にある
被写体２０から反射された光がＰＳＤ素子３０に印加さ
れる。ＰＳＤ素子３０からはその距離に応じた２チャン
ネルの信号電流が出力され、距離測定演算部４１に入力
される。距離測定演算部４１はこれらの電流をそれぞれ
増幅し、ダイオードを用いて対数圧縮した電圧を差動回
路の入力端子対にそれぞれ入力させ、被写体までの距離
の逆数に比例した出力電流を得る。そしてこの出力電流
をＡ／Ｄ変換することによりデジタルの測距データｘを
生成する（ステップＳ９）。
本来の距離測定を行うモードである。ステップＳ１にお
いてこの測距モードであると判別されると、ステップＳ
８〜Ｓ１１の動作が実行される。まず、ＣＰＵ５０は制
御ロジック４４にコントロール信号を送ることにより、
測距動作を開始させる（ステップＳ８）。これにより、
発光ダイオード１０が駆動され、測定すべき位置にある
被写体２０から反射された光がＰＳＤ素子３０に印加さ
れる。ＰＳＤ素子３０からはその距離に応じた２チャン
ネルの信号電流が出力され、距離測定演算部４１に入力
される。距離測定演算部４１はこれらの電流をそれぞれ
増幅し、ダイオードを用いて対数圧縮した電圧を差動回
路の入力端子対にそれぞれ入力させ、被写体までの距離
の逆数に比例した出力電流を得る。そしてこの出力電流
をＡ／Ｄ変換することによりデジタルの測距データｘを
生成する（ステップＳ９）。
【００２６】次のステップＳ１０では、ＥＥＰＲＯＭ４
２に記憶されている測距データａ及びｂとこの測距デー
タｘとからオートフォーカス装置用制御信号Ｋがデータ
演算部４３において算出される。このオートフォーカス
装置用制御信号は、どの位置にレンズを停止させたらよ
いかを示す信号であり、零から無限大までの距離を所定
数（後述する例では１１）で分割してなる分割ゾーンで
表される。
２に記憶されている測距データａ及びｂとこの測距デー
タｘとからオートフォーカス装置用制御信号Ｋがデータ
演算部４３において算出される。このオートフォーカス
装置用制御信号は、どの位置にレンズを停止させたらよ
いかを示す信号であり、零から無限大までの距離を所定
数（後述する例では１１）で分割してなる分割ゾーンで
表される。
【００２７】キャリブレーションモードにおける第１の
距離が第ｎゾーンと第（ｎ＋１）ゾーンとの境界点であ
りこのときの測距データがａとしてＥＥＰＲＯＭ４２に
記憶されており、第２の距離が第ｍゾーンと第（ｍ＋
１）ゾーンとの境界点でありこのときの測距データがｂ
としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されており、測距モード
における実際の測距データがｘであるとすると、データ
演算部４３におけるオートフォーカス装置用制御信号Ｋ
の算出は、下記の一次関数に基づいて行われる。
距離が第ｎゾーンと第（ｎ＋１）ゾーンとの境界点であ
りこのときの測距データがａとしてＥＥＰＲＯＭ４２に
記憶されており、第２の距離が第ｍゾーンと第（ｍ＋
１）ゾーンとの境界点でありこのときの測距データがｂ
としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されており、測距モード
における実際の測距データがｘであるとすると、データ
演算部４３におけるオートフォーカス装置用制御信号Ｋ
の算出は、下記の一次関数に基づいて行われる。
【００２８】 Ｋ＝ＩＮＴ［ｎ＋（ｘ−ａ）／｛（ｂ−ａ）／（ｍ−ｎ）｝］ このような演算を行うデータ演算部４３の回路構成は公
知である。
知である。
【００２９】データ演算部４３によって算出されたオー
トフォーカス装置用制御信号Ｋは、次のステップＳ１１
においてＣＰＵ５０へ転送される。
トフォーカス装置用制御信号Ｋは、次のステップＳ１１
においてＣＰＵ５０へ転送される。
【００３０】Fig.４は、被写体までの距離と測距データ
及び分割ゾーンとの関係を表すグラフであり、零から無
限大までの距離を１１の分割ゾーンとした２つの例を示
している。
及び分割ゾーンとの関係を表すグラフであり、零から無
限大までの距離を１１の分割ゾーンとした２つの例を示
している。
【００３１】一方の例（Ａの線）として、キャリブレー
ションモードにおける第１の距離が第１ゾーンと第２ゾ
ーンとの境界点でありこのときの測距データがａ＝１８
４としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されており、第２の距
離が第１０ゾーンと第１１ゾーンとの境界点でありこの
ときの測距データがｂ＝１０１２としてＥＥＰＲＯＭ４
２に記憶されており、測距モードにおける実際の測距デ
ータがｘであるとすると、データ演算部４３におけるオ
ートフォーカス装置用制御信号Ｋの算出は、下記の一次
関数に基づいて行われる。
ションモードにおける第１の距離が第１ゾーンと第２ゾ
ーンとの境界点でありこのときの測距データがａ＝１８
４としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されており、第２の距
離が第１０ゾーンと第１１ゾーンとの境界点でありこの
ときの測距データがｂ＝１０１２としてＥＥＰＲＯＭ４
２に記憶されており、測距モードにおける実際の測距デ
ータがｘであるとすると、データ演算部４３におけるオ
ートフォーカス装置用制御信号Ｋの算出は、下記の一次
関数に基づいて行われる。
【００３２】Ｋ＝ＩＮＴ［１＋（ｘ−１８４）／｛（１
０１２−１８４）／（１０−１）｝］ ＝ＩＮＴ｛１＋９（ｘ−１８４）／８２８｝ その結果、図４に示すごとく、Ｋは第６ゾーンとなる。
０１２−１８４）／（１０−１）｝］ ＝ＩＮＴ｛１＋９（ｘ−１８４）／８２８｝ その結果、図４に示すごとく、Ｋは第６ゾーンとなる。
【００３３】この距離測定装置が他のオートフォーカス
装置に装着された場合が他方の例（Ｂの線）である。キ
ャリブレーションモードにおける第１の距離が第１ゾー
ンと第２ゾーンとの境界点でありこのときの測距データ
がａ＝１８０としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されてお
り、第２の距離が第１０ゾーンと第１１ゾーンとの境界
点でありこのときの測距データがｂ＝５３０としてＥＥ
ＰＲＯＭ４２に記憶されており、測距モードにおける実
際の測距データがｘであるとすると、データ演算部４３
におけるオートフォーカス装置用制御信号Ｋの算出は、
下記の一次関数に基づいて行われる。
装置に装着された場合が他方の例（Ｂの線）である。キ
ャリブレーションモードにおける第１の距離が第１ゾー
ンと第２ゾーンとの境界点でありこのときの測距データ
がａ＝１８０としてＥＥＰＲＯＭ４２に記憶されてお
り、第２の距離が第１０ゾーンと第１１ゾーンとの境界
点でありこのときの測距データがｂ＝５３０としてＥＥ
ＰＲＯＭ４２に記憶されており、測距モードにおける実
際の測距データがｘであるとすると、データ演算部４３
におけるオートフォーカス装置用制御信号Ｋの算出は、
下記の一次関数に基づいて行われる。
【００３４】Ｋ＝ＩＮＴ［１＋（ｘ−１８０）／｛（５
３０−１８０）／（１０−１）｝］ ＝ＩＮＴ｛１＋９（ｘ−１８０）／３９０｝ その結果、図４に示すごとく、Ｋは前の場合と同じに第
６ゾーンとなる。つまり、いかなるオートフォーカス装
置に装備されようともこの距離測定装置で生成されるオ
ートフォーカス装置用制御信号Ｋは同じ正しい値とな
る。
３０−１８０）／（１０−１）｝］ ＝ＩＮＴ｛１＋９（ｘ−１８０）／３９０｝ その結果、図４に示すごとく、Ｋは前の場合と同じに第
６ゾーンとなる。つまり、いかなるオートフォーカス装
置に装備されようともこの距離測定装置で生成されるオ
ートフォーカス装置用制御信号Ｋは同じ正しい値とな
る。
【００３５】このように既知の真の距離（上述の例では
ゾーンとゾーンとの境界）を距離測定装置で実際に測定
して測距データを得、その測距デ−タと真の距離との関
係をＥＥＰＲＯＭ４２に記憶させるという距離測定装置
のキャリブレーションを、ＣＰＵ５０側からキャリブレ
ーション命令を出すだけで行うように構成している。こ
のため、距離測定装置のＣＰＵのソフトウエアの負担を
大幅に低減でき、しかもその構成を極めてシンプルにす
ることができ、さらに距離測定装置の低コスト化及び高
性能化を図ることができる。
ゾーンとゾーンとの境界）を距離測定装置で実際に測定
して測距データを得、その測距デ−タと真の距離との関
係をＥＥＰＲＯＭ４２に記憶させるという距離測定装置
のキャリブレーションを、ＣＰＵ５０側からキャリブレ
ーション命令を出すだけで行うように構成している。こ
のため、距離測定装置のＣＰＵのソフトウエアの負担を
大幅に低減でき、しかもその構成を極めてシンプルにす
ることができ、さらに距離測定装置の低コスト化及び高
性能化を図ることができる。
【００３６】上述の実施例はアクティブタイプの距離測
定装置について述べているが、本発明は例えば空間位相
差を利用したパッシブタイプの距離測定装置であっても
よい。また、距離測定用ＩＣとしてＢｉ−ＣＭＯＳプロ
セスによって形成されたワンチップのＩＣを用いている
が、本発明の距離測定用ＩＣはその他のプロセスで形成
したワンチップＩＣであってもよい。さらに、ＥＥＰＲ
ＯＭの代りにヒューズ式等の他のＥＰＲＯＭ（消去可能
プログラマブルＲＯＭ）を用いてもよい。
定装置について述べているが、本発明は例えば空間位相
差を利用したパッシブタイプの距離測定装置であっても
よい。また、距離測定用ＩＣとしてＢｉ−ＣＭＯＳプロ
セスによって形成されたワンチップのＩＣを用いている
が、本発明の距離測定用ＩＣはその他のプロセスで形成
したワンチップＩＣであってもよい。さらに、ＥＥＰＲ
ＯＭの代りにヒューズ式等の他のＥＰＲＯＭ（消去可能
プログラマブルＲＯＭ）を用いてもよい。
【００３７】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、距離測定用半導体集積回路が、以下の各要素がワン
チップ内に形成されている。即ち、受光素子からの信号
から対象物までの距離に反比例したデジタルの測距デー
タを形成する距離測定演算部、キャリブレーションモー
ド時に既知の２つの距離について距離測定演算部から出
力される２つの測距データが書き込まれる記憶部、及び
測距モード時に記憶部に記憶されている２つの測距デー
タと距離測定演算部から出力される測距データとからオ
ートフォーカス装置制御信号を演算するデータ演算部で
ある。従って、距離測定装置の低コスト化及び高性能化
を図ることができる。
ば、距離測定用半導体集積回路が、以下の各要素がワン
チップ内に形成されている。即ち、受光素子からの信号
から対象物までの距離に反比例したデジタルの測距デー
タを形成する距離測定演算部、キャリブレーションモー
ド時に既知の２つの距離について距離測定演算部から出
力される２つの測距データが書き込まれる記憶部、及び
測距モード時に記憶部に記憶されている２つの測距デー
タと距離測定演算部から出力される測距データとからオ
ートフォーカス装置制御信号を演算するデータ演算部で
ある。従って、距離測定装置の低コスト化及び高性能化
を図ることができる。
【図１】本発明の一実施例における距離測定用ＩＣの概
略的な電気的構成を表すブロック図である。
略的な電気的構成を表すブロック図である。
【図２】図１の実施例における距離測定装置の全体的構
成を概略的に表す図である。
成を概略的に表す図である。
【図３】図１の実施例におけるＣＰＵの制御プログラム
のフローチャートである。
のフローチャートである。
【図４】図１の距離測定用ＩＣの動作原理を説明するた
めに被写体までの距離と測距データ及び分割ゾーンとの
関係を表すグラフである。
めに被写体までの距離と測距データ及び分割ゾーンとの
関係を表すグラフである。
【図５】従来の距離測定装置の構成を概略的に表す図で
ある。
ある。
【図６】図５の従来装置を説明するために被写体までの
距離と測距データとの関係を表すグラフである。
距離と測距データとの関係を表すグラフである。
【図７】従来の距離測定装置の構成を概略的に表す図で
ある。
ある。
１０ 赤外線発光ダイオード ２０ 被写体 ３０ ＰＳＤ素子 ４０ 距離測定用集積回路 ４１ 距離測定演算部 ４２ ＥＥＰＲＯＭ ４３ データ演算部 ４４ 制御ロジック ５０ ＣＰＵ
Claims (5)
- 【請求項１】 被測距対象物からの光を受取り該対象物
までの距離に応じた信号を出力する受光素子を有するオ
ートフォーカス装置用の距離測定用半導体集積回路であ
って、前記受光素子からの前記信号から前記対象物まで
の距離に反比例したデジタルの測距データを形成する距
離測定演算手段と、キャリブレーションモード時に既知
の２つの距離について前記距離測定演算手段から出力さ
れる２つの測距データが書き込まれる記憶手段と、測距
モード時に前記記憶手段に記憶されている前記２つの測
距データと前記距離測定演算手段から出力される測距デ
ータとから前記オートフォーカス装置の制御信号を演算
するデータ演算手段とがワンチップ内に形成されている
ことを特徴とする距離測定用半導体集積回路。 - 【請求項２】 外部からの制御入力に応じて前記キャリ
ブレーションモード及び前記測距モードを選択的に切換
えることが可能な制御ロジック手段がさらにワンチップ
内に形成されていることを特徴とする請求項１に記載の
距離測定用半導体集積回路。 - 【請求項３】 前記記憶手段がＥＥＰＲＯＭであること
を特徴とする請求項１又は２に記載の距離測定用半導体
集積回路。 - 【請求項４】 前記ＥＥＰＲＯＭがＣＭＯＳであり、当
該半導体集積回路がＢｉ−ＣＭＯＳプロセスで形成され
ることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記
載の距離測定用半導体集積回路。 - 【請求項５】 ｎがキャリブレーションモードにおいて
既知の一方の距離がオートフォーカス装置制御信号の第
ｎゾーンと第（ｎ＋１）ゾーンとの境界点であり、ａが
記憶手段に記憶されているこのときの測距データ、ｍが
キャリブレーションモードにおいて既知の他方の距離が
オートフォーカス装置制御信号の第ｍゾーンと第（ｍ＋
１）ゾーンとの境界点であり、ｂが記憶手段に記憶され
ているこのときの測距データ、ｘが測距モードにおける
実際の測距データであるとすると、前記データ演算手段
が、 Ｋ＝ＩＮＴ［ｎ＋（ｘ−ａ）／｛（ｂ−ａ）／（ｍ−ｎ）｝］ の演算を行うことを特徴とする請求項１から４のいずれ
か１項に記載の距離測定用半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1913092A JPH0566129A (ja) | 1991-02-07 | 1992-02-04 | 距離測定用半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3-39231 | 1991-02-07 | ||
| JP3923191 | 1991-02-07 | ||
| JP1913092A JPH0566129A (ja) | 1991-02-07 | 1992-02-04 | 距離測定用半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566129A true JPH0566129A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=26355951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1913092A Pending JPH0566129A (ja) | 1991-02-07 | 1992-02-04 | 距離測定用半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566129A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2725019A1 (fr) * | 1994-09-28 | 1996-03-29 | Seikosha Kk | Dispositif de mesure de distance. |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61251163A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Fujitsu Ltd | Ｂｉ−ＭＩＳ集積回路の製造方法 |
| JPS6380560A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-04-11 | フエアチヤイルド セミコンダクタ コ−ポレ−シヨン | 最小数のマスクを使用してバイポ−ラ及び相補型電界効果トランジスタを同時的に製造する方法 |
| JPS63133014A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-04 | Olympus Optical Co Ltd | 距離測定装置 |
| JPS63198818A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Olympus Optical Co Ltd | 距離検出装置 |
| JPH02196444A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-03 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1992
- 1992-02-04 JP JP1913092A patent/JPH0566129A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61251163A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Fujitsu Ltd | Ｂｉ−ＭＩＳ集積回路の製造方法 |
| JPS6380560A (ja) * | 1986-07-16 | 1988-04-11 | フエアチヤイルド セミコンダクタ コ−ポレ−シヨン | 最小数のマスクを使用してバイポ−ラ及び相補型電界効果トランジスタを同時的に製造する方法 |
| JPS63133014A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-04 | Olympus Optical Co Ltd | 距離測定装置 |
| JPS63198818A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Olympus Optical Co Ltd | 距離検出装置 |
| JPH02196444A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-03 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2725019A1 (fr) * | 1994-09-28 | 1996-03-29 | Seikosha Kk | Dispositif de mesure de distance. |
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