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JPH0542490Y2 - - Google Patents

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JPH0542490Y2
JPH0542490Y2 JP1987152969U JP15296987U JPH0542490Y2 JP H0542490 Y2 JPH0542490 Y2 JP H0542490Y2 JP 1987152969 U JP1987152969 U JP 1987152969U JP 15296987 U JP15296987 U JP 15296987U JP H0542490 Y2 JPH0542490 Y2 JP H0542490Y2
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JP
Japan
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voltage
fet
resistor
output
bipolar transistor
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JP1987152969U
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Description

【考案の詳細な説明】 [考案の目的] (産業上の利用分野) 本考案は、FETのゲート電圧・ドレイン電流
特性を利用した直流定電圧回路の温度補償回路に
関する。
[Detailed description of the invention] [Purpose of the invention] (Field of industrial application) The present invention relates to a temperature compensation circuit for a DC constant voltage circuit that utilizes the gate voltage/drain current characteristics of an FET.

(従来の技術) FETを利用した直流定電圧回路は、比較的良
好な動作性能をきわめて簡単な構成で得られるた
め、小形の電子機器に広く用いられている。第2
図には、この種の直流定電圧回路の最も簡単な構
成例を示す。即ち、第2図において、1及び2は
一対の入力端子、3及び4は同じく一対の出力端
子で、この場合、入力端子2及び出力端子4が
夫々グランドレベルとなるように接続されてい
る。5は例えばデプレツシヨン形のMOSFET
で、そのドレイン・ソース間が入力端子1及び出
力端子3間に介在されている。6は出力端子3,
4間の出力電圧Voutを分圧するように接続され
た可変抵抗で、その摺動端子6aからの分圧電圧
Vd(出力端子3及び摺動端子6a間の分圧電圧)
をFET5のゲートにフイードバツクするように
構成されている。
(Prior Art) DC constant voltage circuits using FETs are widely used in small electronic devices because they can provide relatively good operating performance with an extremely simple configuration. Second
The figure shows an example of the simplest configuration of this type of DC constant voltage circuit. That is, in FIG. 2, 1 and 2 are a pair of input terminals, 3 and 4 are a pair of output terminals, and in this case, the input terminal 2 and the output terminal 4 are connected to the ground level, respectively. 5 is a depression type MOSFET, for example.
The drain and source are interposed between the input terminal 1 and the output terminal 3. 6 is output terminal 3,
A variable resistor connected to divide the output voltage Vout between 4 and the divided voltage from the sliding terminal 6a.
Vd (divided voltage between output terminal 3 and sliding terminal 6a)
is configured to feed back to the gate of FET5.

ここで、第3図には、一般的なデプレツシヨン
形FETのゲート・ソース間電圧VGSとドレイン
電流IDとの関係が、周囲温度Ta(=15℃,25℃,
60℃)をパラメータとして示されている。このよ
うなFETの特性から明らかなように、第2図の
回路構成では、入力電圧Vinの変動によつて出力
電圧Voutが上昇したときには、可変抵抗6での
分圧電圧Vdが上昇してFET5のゲート・ソース
間電圧VGSが大きくなるため、そのドレイン電流
IDが減少して出力電圧Voutが低下されるように
なる。また、入力電圧Vinの変動によつて出力電
圧Voutが低下したときには、分圧電圧Vdが低下
してFET5のゲート・ソース間電圧VGSが小さく
なるため、そのドレイン電流IDが増加して出力電
圧Voutが上昇されるようになる。従つて、以上
のような動作が繰返されることにより、出力電圧
Voutが可変抵抗6の摺動子6aの位置に応じた
一定電圧となるように制御される。
Here, Figure 3 shows the relationship between the gate-source voltage VGS and drain current ID of a general depletion type FET at ambient temperature Ta (=15℃, 25℃,
60℃) is shown as a parameter. As is clear from the characteristics of the FET, in the circuit configuration shown in FIG. 2, when the output voltage Vout increases due to fluctuations in the input voltage Vin, the divided voltage Vd at the variable resistor 6 increases and As the gate-source voltage V GS increases, its drain current decreases.
As I D decreases, the output voltage Vout will decrease. Additionally, when the output voltage Vout decreases due to fluctuations in the input voltage Vin, the divided voltage Vd decreases and the gate-source voltage V GS of FET 5 decreases, so its drain current I D increases and the output voltage decreases. The voltage Vout will be increased. Therefore, by repeating the above operation, the output voltage
Vout is controlled to be a constant voltage depending on the position of the slider 6a of the variable resistor 6.

(考案が解決しようとする問題点) FET5のゲート電圧・ドレイン電流特性には、
第3図に示すように温度ドリフトが存在する。こ
のため、上記第2図の直流定電圧回路において、
FET5のドレイン電流IDが第3図に示すIz以下と
なるように設定した場合、つまりドレイン電流ID
の温度係数が正となるような範囲に設定した場合
には、周囲温度の上昇に応じて出力電流(ドレイ
ン電流ID)が増加するため、出力電圧Voutが可
変抵抗6による当初の設定値から上昇することに
なる。従つて、このように、入力端子及び出力端
子間に電圧調整のために介在されたデプレツシヨ
ン形のFETを、そのドレイン電流が正の温度係
数を示す範囲で使用する構成の直流定電圧回路を
電源とした電子機器において、その電源電圧をさ
らに安定化することが望ましい場合には、何らか
の温度補償回路を設ける必要がある。しかしなが
ら、従来では、簡単な構造で、しかも温度補償の
度合を簡便に調整できるような温度補償回路は存
在せず、この点が未解決の課題となつていた。
(Problem that the invention attempts to solve) The gate voltage and drain current characteristics of FET5 are as follows:
As shown in FIG. 3, there is a temperature drift. Therefore, in the DC constant voltage circuit shown in FIG. 2 above,
When the drain current I D of FET5 is set to be less than Iz shown in Figure 3, that is, the drain current I D
If the temperature coefficient of Vout is set to a positive range, the output current (drain current ID ) will increase as the ambient temperature rises, so the output voltage Vout will change from the initial setting value by the variable resistor 6. It will rise. Therefore, in this way, a DC constant voltage circuit configured to use a depletion type FET interposed between the input terminal and the output terminal for voltage adjustment within the range where the drain current exhibits a positive temperature coefficient can be used as a power supply. If it is desirable to further stabilize the power supply voltage of electronic equipment, it is necessary to provide some kind of temperature compensation circuit. However, conventionally, there has been no temperature compensation circuit that has a simple structure and can easily adjust the degree of temperature compensation, and this has remained an unresolved problem.

本考案は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、少数の部品を追加するだけのき
わめて簡単な構造にて出力電圧の温度補償を行な
うことができると共に、温度補償の度合を容易に
調整できる等の効果を奏する直流定電圧回路の温
度補償回路を提供するにある。
The present invention was devised in view of the above circumstances, and its purpose is to be able to perform temperature compensation of the output voltage with an extremely simple structure that only requires the addition of a small number of parts, and to easily adjust the degree of temperature compensation. An object of the present invention is to provide a temperature compensation circuit for a DC constant voltage circuit, which has effects such as being able to adjust the temperature.

[考案の構成] (問題点を解決するための手段) 本考案は、デプレツシヨン形のFETのゲート
電圧・ドレイン電流特性を利用した直流定電圧回
路、特には、出力電圧を分圧手段により分圧した
電圧を上記FETのゲートにフイードバツクする
ことにより出力電圧を安定化するように構成する
と共に、前記FETのドレイン電流が正の温度係
数を示す範囲で使用するようにした直流定電圧回
路の温度補償回路を対象としたものであり、前記
分圧手段による分圧電圧をベースバイアス電圧と
して受けるバイポーラトランジスタを設けて、第
1の抵抗及び前記バイポーラトランジスタのコレ
クタ・エミツタ間並びに第2の抵抗の直列回路を
前記分圧手段と並列に接続し、前記第1の抵抗の
両端電圧を前記FETのゲートにフイードバツク
するように構成した点に特徴を有する。
[Structure of the invention] (Means for solving the problem) The present invention is a DC constant voltage circuit that utilizes the gate voltage/drain current characteristics of a depletion type FET, in particular, a DC constant voltage circuit that divides the output voltage using a voltage dividing means. Temperature compensation for a DC constant voltage circuit configured to stabilize the output voltage by feeding back the voltage to the gate of the FET, and to be used within the range where the drain current of the FET exhibits a positive temperature coefficient. The circuit is intended for a circuit, and includes a bipolar transistor receiving the divided voltage by the voltage dividing means as a base bias voltage, and a series circuit of a first resistor and a collector-emitter of the bipolar transistor and a second resistor. is connected in parallel with the voltage dividing means, and the voltage across the first resistor is fed back to the gate of the FET.

(作用) 入力端子及び出力端子間に介在された状態のデ
プレツシヨン形のFETは、そのドレイン電流が
正の温度係数を示す範囲で使用されるから、直流
定電圧回路の出力電圧は周囲温度の上昇に応じて
高くなる方向へ変動するようになる。一方、バイ
ポーラトランジスタのベース・エミツタ間電圧は
負の温度係数を有する。このため、周囲温度が上
昇するのに伴い上記出力電圧ひいては分圧手段に
よる分圧電圧が上昇したときには、バイポーラト
ランジスタのベース・エミツタ間電圧が低下し
て、第1の抵抗及び第2の抵抗により分担される
電圧が変化するようになる。このとき、第1の抵
抗で分担する電圧が、周囲温度の上昇に応じた前
記ベース・エミツタ間電圧の変化により増加する
ように設定しておけば、周囲温度の上昇に応じた
FETの温度ドリフトが上記のような第1の抵抗
の分担電圧変化により補償されるようになり、直
流定電圧回路の出力電圧が周囲温度の変化に対し
て安定するようになる。また、上記のような温度
補償の度合は、第1及び第2の抵抗の抵抗値を適
宜に選択することによつて、きわめて容易に調整
することができる。
(Function) Since the depletion type FET interposed between the input terminal and the output terminal is used within the range where its drain current shows a positive temperature coefficient, the output voltage of the DC constant voltage circuit will change as the ambient temperature increases. It will start to fluctuate in the direction of increasing according to. On the other hand, the base-emitter voltage of a bipolar transistor has a negative temperature coefficient. Therefore, when the output voltage and the voltage divided by the voltage dividing means rise as the ambient temperature rises, the base-emitter voltage of the bipolar transistor decreases, and the voltage between the base and emitter of the bipolar transistor decreases. The voltage to be shared will change. At this time, if the voltage shared by the first resistor is set to increase as the base-emitter voltage changes as the ambient temperature rises, then
The temperature drift of the FET is compensated for by the change in the shared voltage of the first resistor as described above, and the output voltage of the DC constant voltage circuit becomes stable against changes in ambient temperature. Further, the degree of temperature compensation as described above can be adjusted very easily by appropriately selecting the resistance values of the first and second resistors.

(実施例) 以下、本考案の一実施例について第1図を参照
しながら説明する。即ち、11及び12は図示し
ない直流電源の出力が与えられる一対の入力端
子、13及び14は図示しない負荷が接続される
一対の出力端子で、この場合、入力端子12及び
出力端子14が夫々グランドレベルとなるように
接続されている。15はデプレツシヨン形のnチ
ヤネルMOSFETで、そのドレイン・ソース間が
入力端子11及び出力端子13間に介在されてい
る。16は出力端子13,14間の出力電圧
Voutを分圧するように接続された分圧手段たる
可変抵抗で、その摺動端子16aがNPN形のバ
イポーラトランジスタ17のベースに接続されて
いる。また、上記可変抵抗16には、これと並列
に第1の抵抗18及び前記バイポーラトランジス
タ17のコレクタ・エミツタ間並びに第2の抵抗
19の直列回路が接続されており、従つてバイポ
ーラトランジスタ17には、可変抵抗16の摺動
端子16a及びグランド端子間の分圧電圧VD
ベースバイアス電圧として与えられる。また、バ
イポーラトランジスタ17のコレクタは、FET
15のゲートに接続されており、これにより第1
の抵抗18の両端電圧V1が上記FET15のゲー
トにフイードバツクされるようになつている。
尚、この場合、FET15のドレイン電流IDは、そ
の温度係数が正の範囲となるような状態(前記第
3図に示すIz以下の状態)に設定される。
(Example) An example of the present invention will be described below with reference to FIG. That is, 11 and 12 are a pair of input terminals to which the output of a DC power supply (not shown) is applied, and 13 and 14 are a pair of output terminals to which a load (not shown) is connected. In this case, the input terminal 12 and the output terminal 14 are connected to the ground, respectively. Connected to level. 15 is a depletion type n-channel MOSFET whose drain and source are interposed between the input terminal 11 and the output terminal 13. 16 is the output voltage between output terminals 13 and 14
A variable resistor serving as voltage dividing means is connected to divide Vout, and its sliding terminal 16a is connected to the base of an NPN type bipolar transistor 17. Further, the variable resistor 16 is connected in parallel with a first resistor 18 and a series circuit of the collector-emitter of the bipolar transistor 17 and a second resistor 19. Therefore, the bipolar transistor 17 , a divided voltage V D between the sliding terminal 16a of the variable resistor 16 and the ground terminal is given as a base bias voltage. In addition, the collector of the bipolar transistor 17 is an FET
15 gates, which allows the first
The voltage V 1 across the resistor 18 is fed back to the gate of the FET 15 .
In this case, the drain current ID of the FET 15 is set to such a state that its temperature coefficient is in a positive range (a state below Iz shown in FIG. 3).

上記構成において、入力電圧Vinの変動により
出力電圧Voutが上昇したときには、可変抵抗1
6による分圧電圧VDが上昇してバイポーラトラ
ンジスタ17のベースバイアス状態が深くなるた
め、そのコレクタ電流Icが増加し、第1の抵抗1
8の両端電圧V1ひいてはFET15のゲートに与
えられる電圧が高くなる。このとき、FET15
は前記第3図に示すようなVGS−ID特性を有する
から、上記のようにFET15のゲート電圧が高
くなるのに応じて、そのドレイン電流IDが減少す
るようになり、以て出力電圧Voutが低下される
ようになる。また、入力電圧Vinの変動により出
力電圧Voutが低下したときには、分圧電圧VD
低下してバイポーラトランジスタ17のベースバ
イアス状態が浅くなるため、そのコレクタ電流Ic
が減少してFET15のゲートに与えられる電圧
が低くなり、これに応じてドレイン電流IDが減少
して出力電圧Voutが上昇されるようになる。従
つて、以上のような動作が繰返されることによ
り、出力電圧Voutが可変抵抗16の摺動子16
aの位置に応じた一定電圧となるように制御され
る。
In the above configuration, when the output voltage Vout increases due to fluctuations in the input voltage Vin, the variable resistor 1
As the divided voltage V D by 6 increases and the base bias state of the bipolar transistor 17 becomes deeper, its collector current Ic increases and the first resistor 1
The voltage V 1 across FET 8 and the voltage applied to the gate of FET 15 increase. At this time, FET15
has the V GS - ID characteristic as shown in Fig. 3, so as the gate voltage of FET 15 increases as described above, its drain current ID decreases, and thus the output The voltage Vout is now reduced. Furthermore, when the output voltage Vout decreases due to fluctuations in the input voltage Vin, the divided voltage V D decreases and the base bias state of the bipolar transistor 17 becomes shallower, so that its collector current Ic
decreases, the voltage applied to the gate of the FET 15 becomes lower, and accordingly, the drain current ID decreases and the output voltage Vout increases. Therefore, by repeating the above-described operation, the output voltage Vout increases as the slider 16 of the variable resistor 16 increases.
The voltage is controlled to be constant according to the position of a.

さて、今、出力端子11,12間の出力電圧
Voutが一定レベルとすると、可変抵抗16の摺
動端子16aからは、その位置に応じた一定レベ
ルの分圧電圧VDが出力される。従つて、第2の
抵抗19の両端電圧V2は、バイポーラトランジ
スタ17のベース・エミツタ間電圧をVBEとした
場合、次式で表わされる。
Now, the output voltage between output terminals 11 and 12
When Vout is at a constant level, the sliding terminal 16a of the variable resistor 16 outputs a divided voltage V D at a constant level depending on its position. Therefore, the voltage V 2 across the second resistor 19 is expressed by the following equation, where the base-emitter voltage of the bipolar transistor 17 is V BE .

V2=VD−VBE このとき、バイポーラトランジスタ17のベー
ス・エミツタ電圧VBEは、負の温度係数を有する
から、上記両端電圧V2は周囲温度が上昇するの
に応じて高くなる。このため、バイポーラトラン
ジスタ17のエミツタ電流IEが、第2の抵抗19
の両端電圧V2の上昇量に見合つた分だけ増える
ようになり、そのエミツタ電流IEと略等しいコレ
クタ電流ICも増えるようになる。この結果、第1
の抵抗18の両端電圧V1は、バイポーラトラン
ジスタ17のベース・エミツタ間電圧VBE並びに
両抵抗18,19の抵抗比に依存して変化するよ
うになり(実際には可変抵抗16の摺動子16a
の位置等も関係する)、周囲温度が高くなるのに
応じて増加する。この場合、上記第1の抵抗18
の両端電圧V1は、FET15のゲート電圧として
与えられており、従つて、第3図から理解される
ように、周囲温度の上昇に応じたFET15の温
度ドリフトが、上記のような両端電圧V1の変化
によつて補償されるようになり、以て出力電圧
Voutがさらに安定するようになる。また、この
ときにおける温度補償の度合を決定する第1の抵
抗18の両端電圧V1の変化度合は、第1及び第
2の抵抗18及び19の抵抗比に依存したもので
あるから、上記温度補償の度合は、第1及び第2
の抵抗18及び19の抵抗値を適宜に選択するこ
とによつて、きわめて容易に調整することができ
る。勿論、このような温度補償のための部品とし
てバイポーラトランジスタ17及び抵抗18,1
9を設けるだけで済むから、構造の複雑化を極力
防止できるものである。
V 2 =V D −V BE At this time, since the base-emitter voltage V BE of the bipolar transistor 17 has a negative temperature coefficient, the voltage across both ends V 2 increases as the ambient temperature rises. Therefore, the emitter current I E of the bipolar transistor 17 is
The collector current I C , which is approximately equal to the emitter current I E , also increases in proportion to the amount of increase in the voltage V 2 across the voltage V 2 . As a result, the first
The voltage V 1 across the resistor 18 changes depending on the base-emitter voltage V BE of the bipolar transistor 17 and the resistance ratio of both resistors 18 and 19 (actually, the voltage V 1 across the resistor 18 changes depending on the resistance ratio between the two resistors 18 and 19. 16a
(depending on location, etc.) and increases as the ambient temperature rises. In this case, the first resistor 18
The voltage across the terminal V 1 is given as the gate voltage of the FET 15. Therefore, as can be understood from FIG. 1 is now compensated for by the change in output voltage.
Vout becomes more stable. Furthermore, since the degree of change in the voltage V 1 across the first resistor 18 that determines the degree of temperature compensation at this time depends on the resistance ratio of the first and second resistors 18 and 19, the above-mentioned temperature The degree of compensation is the first and second
This can be adjusted very easily by appropriately selecting the resistance values of the resistors 18 and 19. Of course, bipolar transistor 17 and resistors 18 and 1 are used as components for temperature compensation.
Since it is only necessary to provide 9, it is possible to prevent the structure from becoming complicated as much as possible.

尚、上記実施例ではバイポーラトランジスタと
してNPN形のものを用いたが、PNP形のバイポ
ーラトランジスタを利用することも可能である。
In the above embodiment, an NPN type bipolar transistor is used, but a PNP type bipolar transistor may also be used.

[考案の効果] 本考案によれば以上の説明によつて明らかなよ
うに、デプレツシヨン形のFETのゲート電圧・
ドレイン電流特性を利用した直流定電圧回路の温
度補償回路において、バイポーラトランジスタ及
び第1、第2の抵抗を追加するだけのきわめて簡
単な構造にて出力電圧の温度補償を行なうことが
できると共に、温度補償の度合を容易に調整でき
るという実用的な効果を奏するものである。
[Effects of the invention] According to the invention, as is clear from the above explanation, the gate voltage and
In a temperature compensation circuit for a DC constant voltage circuit that utilizes drain current characteristics, it is possible to perform temperature compensation of the output voltage with an extremely simple structure that only requires the addition of a bipolar transistor and a first and second resistor. This has the practical effect that the degree of compensation can be easily adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の一実施例を示す回路構成図で
ある。また、第2図は従来例を示す第1図相当
図、第3図はデプレツシヨン形FETのゲート電
圧とドレイン電流との関係を示す特性図である。 図中、11,12は入力端子、13,14は出
力端子、15はFET、16は可変抵抗(分圧手
段)、17はバイポーラトランジスタ、18は第
1の抵抗、19は第2の抵抗を示す。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. 2 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional example, and FIG. 3 is a characteristic diagram showing the relationship between gate voltage and drain current of a depletion type FET. In the figure, 11 and 12 are input terminals, 13 and 14 are output terminals, 15 is a FET, 16 is a variable resistor (voltage dividing means), 17 is a bipolar transistor, 18 is a first resistor, and 19 is a second resistor. show.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 入力端子をデプレツシヨン形のFETのドレイ
ン端子に接続すると共に、当該FETのソース端
子を出力端子に接続し、その出力端子からの出力
電圧を分圧手段により分圧した電圧を前記FET
のゲートにフイードバツクすることにより上記出
力電圧を安定化するように構成され、前記FET
のドレイン電流が正の温度係数を示す範囲で使用
される直流定電圧回路において、前記分圧電圧を
ベースバイアス電圧として受けるバイポーラトラ
ンジスタを設けると共に、第1の抵抗及び前記バ
イポーラトランジスタのコレクタ・エミツタ間並
びに第2の抵抗の直列回路を前記分圧手段と並列
に接続し、前記第1の抵抗の両端電圧を前記
FETのゲートにフイードバツクするように構成
したことを特徴とする直流定電圧回路の温度補償
回路。
The input terminal is connected to the drain terminal of a depletion type FET, and the source terminal of the FET is connected to the output terminal, and the voltage obtained by dividing the output voltage from the output terminal by a voltage dividing means is applied to the FET.
The FET is configured to stabilize the output voltage by feedback to the gate of the FET.
In a DC constant voltage circuit used in a range where the drain current exhibits a positive temperature coefficient, a bipolar transistor receiving the divided voltage as a base bias voltage is provided, and a voltage between the first resistor and the collector-emitter of the bipolar transistor is provided. In addition, a series circuit of a second resistor is connected in parallel with the voltage dividing means, and the voltage across the first resistor is set to the voltage across the first resistor.
A temperature compensation circuit for a DC constant voltage circuit, characterized in that it is configured to provide feedback to the gate of an FET.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2751202B2 (en) * 1988-04-19 1998-05-18 ソニー株式会社 Current supply device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106013A (en) * 1982-12-10 1984-06-19 Fujitsu Ltd voltage stabilizer
JPS61226817A (en) * 1985-03-29 1986-10-08 アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコーポレーテツド Temperature compensation active resistor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106013A (en) * 1982-12-10 1984-06-19 Fujitsu Ltd voltage stabilizer
JPS61226817A (en) * 1985-03-29 1986-10-08 アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコーポレーテツド Temperature compensation active resistor

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