JPH05319858A - 0.8μm発光するTmイオンドープしたフッ化物レーザーガラス - Google Patents
0.8μm発光するTmイオンドープしたフッ化物レーザーガラスInfo
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- JPH05319858A JPH05319858A JP14852392A JP14852392A JPH05319858A JP H05319858 A JPH05319858 A JP H05319858A JP 14852392 A JP14852392 A JP 14852392A JP 14852392 A JP14852392 A JP 14852392A JP H05319858 A JPH05319858 A JP H05319858A
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Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 Tm3+の 3F4 から 3H6 への発光の量子効
率を向上させた、優れたTm3+発光特性、長い 3H4 蛍
光寿命、高い輻射遷移確率と小さいフォノンエネルギー
とを有する媒質ガラスを用いた0.8μmのレーザー光
を発生するTmドープレーザーガラス及び0.8μmの
レーザー光発生方法の提供。 【構成】 Tm3+を0.1〜2.0cat%含有するフ
ッ化物レーザーガラス。このレーザーガラスは、Tm以
外の陽イオンとして例えばZr、Hf、Al、Mg、C
a、Sr、Ba等を含みかつ、陰イオンとして少なくと
もフッ素を含有する。このレーザーガラスに波長0.6
8μm及び/又は0.79μmの半導体レーザーを照射
して0.8μmのレーザー光を発生させる方法。
率を向上させた、優れたTm3+発光特性、長い 3H4 蛍
光寿命、高い輻射遷移確率と小さいフォノンエネルギー
とを有する媒質ガラスを用いた0.8μmのレーザー光
を発生するTmドープレーザーガラス及び0.8μmの
レーザー光発生方法の提供。 【構成】 Tm3+を0.1〜2.0cat%含有するフ
ッ化物レーザーガラス。このレーザーガラスは、Tm以
外の陽イオンとして例えばZr、Hf、Al、Mg、C
a、Sr、Ba等を含みかつ、陰イオンとして少なくと
もフッ素を含有する。このレーザーガラスに波長0.6
8μm及び/又は0.79μmの半導体レーザーを照射
して0.8μmのレーザー光を発生させる方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、Tm3+をドープした
0.8μmの光を発生するフッ化物レーザーガラスに関
する。本発明のレーザーガラスから得られるレーザー光
は短距離通信用の光として通信機器等に利用が期待され
る。
0.8μmの光を発生するフッ化物レーザーガラスに関
する。本発明のレーザーガラスから得られるレーザー光
は短距離通信用の光として通信機器等に利用が期待され
る。
【0002】
【従来の技術】最近、安価な半導体レーザーとシリコン
感知器を利用するために、0.8μm付近の光が短距離
通信用の光として非常に注目されている。現在アップコ
ンバージョンによる0.85μmのEr3+ドープガラス
ファイバレーザーの研究が進んでいる。しかし、アップ
コンバージョンの効率が低く、満足な結果が得られてい
なかった。
感知器を利用するために、0.8μm付近の光が短距離
通信用の光として非常に注目されている。現在アップコ
ンバージョンによる0.85μmのEr3+ドープガラス
ファイバレーザーの研究が進んでいる。しかし、アップ
コンバージョンの効率が低く、満足な結果が得られてい
なかった。
【0003】Er3+の0.85μmの発光は、Er3+の
4I11/2を0.98μmの半導体レーザーで励起し、そ
のエネルギーを励起光により上方の 2H11/2に転送し、
4S3/2 に緩和させ、 4S3/2 から 4I9/2 へ遷移させ
ることによるものである。このエネルギー転送過程は複
雑で効率がとても低いので応用上問題となっている。一
方、0.65μm〜0.69μmと0.78μm〜0.
8μmなどの帯に強い吸収を有するTm3+は0.68μ
m或いは0.79μmの半導体レーザーで励起すると、
そのエネルギーを蛍光寿命の長い 3F4 にためて同時に
0.8〜0.82μm帯に発光する。その発光機構を図
1に示す。また、Judd−Ofelt理論からの計算
によりTm3+の 3F4 から 3H6 への輻射せん移確率も
大きく、そのブランツイング割合も90%以上になるの
で、発光効率の高いレーザー活性化イオンとして期待さ
れている。
4I11/2を0.98μmの半導体レーザーで励起し、そ
のエネルギーを励起光により上方の 2H11/2に転送し、
4S3/2 に緩和させ、 4S3/2 から 4I9/2 へ遷移させ
ることによるものである。このエネルギー転送過程は複
雑で効率がとても低いので応用上問題となっている。一
方、0.65μm〜0.69μmと0.78μm〜0.
8μmなどの帯に強い吸収を有するTm3+は0.68μ
m或いは0.79μmの半導体レーザーで励起すると、
そのエネルギーを蛍光寿命の長い 3F4 にためて同時に
0.8〜0.82μm帯に発光する。その発光機構を図
1に示す。また、Judd−Ofelt理論からの計算
によりTm3+の 3F4 から 3H6 への輻射せん移確率も
大きく、そのブランツイング割合も90%以上になるの
で、発光効率の高いレーザー活性化イオンとして期待さ
れている。
【0005】しかし、Tm3+を活性化イオンとして用い
たレーザーガラスはこれまで知られていない。
たレーザーガラスはこれまで知られていない。
【0006】そこで、本発明の目的は、Tm3+の 3F4
→ 3H6 発光の量子効率を向上させた、優れたTm3+発
光特性、長い 3H4 の蛍光寿命、高い輻射遷移確率と小
さいフォノンエネルギーを有する媒質ガラスを用いた
0.8μmのレーザー光を発生するTmドープレーザー
ガラスを提供することにある。
→ 3H6 発光の量子効率を向上させた、優れたTm3+発
光特性、長い 3H4 の蛍光寿命、高い輻射遷移確率と小
さいフォノンエネルギーを有する媒質ガラスを用いた
0.8μmのレーザー光を発生するTmドープレーザー
ガラスを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、Tm3+を0.
1〜2.0cat%含有するフッ化物レーザーガラスに
関する。
1〜2.0cat%含有するフッ化物レーザーガラスに
関する。
【0008】本発明者らは、上記特性を有する媒質ガラ
スを探るため、けい酸塩、ゲルマニウム酸塩、フツ燐酸
塩、アルミ酸塩、フッ化物ガラスなど各種ガラスにTm
3+を添加し、波長0.8μmにおける発光強度と蛍光寿
命を測定した。また、各種ガラスに発光強度の最大値を
現するTm3+の添加量を決め、各ガラスの発光の量子効
率を計算した。その結果、フッ化物ガラスを媒質として
用いた本発明を完成した。
スを探るため、けい酸塩、ゲルマニウム酸塩、フツ燐酸
塩、アルミ酸塩、フッ化物ガラスなど各種ガラスにTm
3+を添加し、波長0.8μmにおける発光強度と蛍光寿
命を測定した。また、各種ガラスに発光強度の最大値を
現するTm3+の添加量を決め、各ガラスの発光の量子効
率を計算した。その結果、フッ化物ガラスを媒質として
用いた本発明を完成した。
【0009】図2に示すようにあらゆるガラスの中でフ
ッ化物ガラスにドープしたTm3+の発光強度が最も強
く、発光の量子効率も最も高い事が分かった。これはフ
ッ化物ガラスのフォノンエネルギーが最も小さいことに
よるものと推察される。次にTm3+添加量の限定理由に
ついて説明する。
ッ化物ガラスにドープしたTm3+の発光強度が最も強
く、発光の量子効率も最も高い事が分かった。これはフ
ッ化物ガラスのフォノンエネルギーが最も小さいことに
よるものと推察される。次にTm3+添加量の限定理由に
ついて説明する。
【0010】図1に示すように、0.68μの半導体レ
ーザーで励起する場合、励起されている 3F3 準位とそ
の下の 3F4 準位とのエネルギー間隔がとても小さいの
でほとんどのエネルギーが 3F3 から 3F4 まで緩和さ
れると考えられる。したがって、0.68μの半導体レ
ーザーで励起しても、0.79μの半導体レーザーで励
起しても 3F4 から 3H6 への遷移が最も重要である。
Tm3+の添加量が低い場合には、J−O理論での計算に
よると 3F4 から 3H6 への輻射遷移確率がほかの遷移
(例えば 3F4 → 3H4 )よりもかなり大きい。それに
対してTm3+量が多いと、 3F4 から 3H4 へのエネル
ギー伝達効率が高くなる。そして、Tm3+添加量は、
0.1cat%未満では0.8μmレーザー発光が不十
分で実用的でない。一方、Tm3+の添加量が2.0ca
t%を超えるエネルギーが 3H4 準位に伝達してしま
い、0.8μmの発光強度は低下する。したがって、T
m3+の添加量は0.1〜2.0cat%に限定する。
ーザーで励起する場合、励起されている 3F3 準位とそ
の下の 3F4 準位とのエネルギー間隔がとても小さいの
でほとんどのエネルギーが 3F3 から 3F4 まで緩和さ
れると考えられる。したがって、0.68μの半導体レ
ーザーで励起しても、0.79μの半導体レーザーで励
起しても 3F4 から 3H6 への遷移が最も重要である。
Tm3+の添加量が低い場合には、J−O理論での計算に
よると 3F4 から 3H6 への輻射遷移確率がほかの遷移
(例えば 3F4 → 3H4 )よりもかなり大きい。それに
対してTm3+量が多いと、 3F4 から 3H4 へのエネル
ギー伝達効率が高くなる。そして、Tm3+添加量は、
0.1cat%未満では0.8μmレーザー発光が不十
分で実用的でない。一方、Tm3+の添加量が2.0ca
t%を超えるエネルギーが 3H4 準位に伝達してしま
い、0.8μmの発光強度は低下する。したがって、T
m3+の添加量は0.1〜2.0cat%に限定する。
【0011】また、本発明のレーザーガラスは、具体的
には例えばガラスを構成する陽イオンとして、Zrイオ
ン、Hfイオン、Alイオン、Mgイオン、Caイオ
ン、Srイオン、Baイオン、Tmイオンとを含み、前
記陽イオン中の各イオンの割合がモル%表示で、Zrイ
オンとHfイオンとの合量が1〜25%、Alイオンが
20〜45%、MgイオンとCaイオンとSrイオンと
Baイオンとの合量が20〜70%、Tmイオンが4〜
15%であり、かつガラスを構成する陰イオンとして、
少なくともFイオンを含み、陰イオン中のFイオンの割
合がモル%表示で80〜100%であるフッ化物ガラス
である。
には例えばガラスを構成する陽イオンとして、Zrイオ
ン、Hfイオン、Alイオン、Mgイオン、Caイオ
ン、Srイオン、Baイオン、Tmイオンとを含み、前
記陽イオン中の各イオンの割合がモル%表示で、Zrイ
オンとHfイオンとの合量が1〜25%、Alイオンが
20〜45%、MgイオンとCaイオンとSrイオンと
Baイオンとの合量が20〜70%、Tmイオンが4〜
15%であり、かつガラスを構成する陰イオンとして、
少なくともFイオンを含み、陰イオン中のFイオンの割
合がモル%表示で80〜100%であるフッ化物ガラス
である。
【0012】陽イオンとしては、Zrイオン、Hfイオ
ン、Alイオン、Mgイオン、Caイオン、Sraイオ
ン、Baイオンを用いることができる。これらのうち、
Zrイオン、Hfイオン、Alイオンは、ガラス骨格を
形成する成分であり、これらの量は上記限定内でガラス
の結晶化に対する安定性を高くするので好ましい。ま
た、Mgイオン、Caイオン、Srイオン、Baイオン
は、ガラス修飾成分であり、これらの量は上記限定内
で、ガラスの結晶化に対する安定性を高め、化学的耐久
性を良くするので好ましい。
ン、Alイオン、Mgイオン、Caイオン、Sraイオ
ン、Baイオンを用いることができる。これらのうち、
Zrイオン、Hfイオン、Alイオンは、ガラス骨格を
形成する成分であり、これらの量は上記限定内でガラス
の結晶化に対する安定性を高くするので好ましい。ま
た、Mgイオン、Caイオン、Srイオン、Baイオン
は、ガラス修飾成分であり、これらの量は上記限定内
で、ガラスの結晶化に対する安定性を高め、化学的耐久
性を良くするので好ましい。
【0013】さらに、Liイオン、Naイオン、Kイオ
ン、Csイオン等のアルカリ金属イオン、Yイオン、S
cイオン、Gdイオン、Znイオン、Pbイオン、Cd
イオン、Inイオン、Gaイオン等もガラスの結晶化に
対する安定性を高めるのでガラスの陽イオン成分として
用いることができる。アルカリ金属イオンは、その量が
多いとガラスの化学的耐久性を低下させるので20モル
%以下が好ましく、Yイオン、Scイオン、Gdイオ
ン、Znイオン、Pbイオン、Cdイオンは、その量が
多いと逆にガラスの結晶化に対する安定性を劣化させる
ので20モル%以下が好ましく、Scイオン、Inイオ
ン、Gaイオンも同様に、5モル%以下が好ましい。
ン、Csイオン等のアルカリ金属イオン、Yイオン、S
cイオン、Gdイオン、Znイオン、Pbイオン、Cd
イオン、Inイオン、Gaイオン等もガラスの結晶化に
対する安定性を高めるのでガラスの陽イオン成分として
用いることができる。アルカリ金属イオンは、その量が
多いとガラスの化学的耐久性を低下させるので20モル
%以下が好ましく、Yイオン、Scイオン、Gdイオ
ン、Znイオン、Pbイオン、Cdイオンは、その量が
多いと逆にガラスの結晶化に対する安定性を劣化させる
ので20モル%以下が好ましく、Scイオン、Inイオ
ン、Gaイオンも同様に、5モル%以下が好ましい。
【0014】次に、陰イオンについて説明する。Fイオ
ンはガラスの基本成分である。さらにFイオンとの置換
で、Clイオン、Brイオン、及びIイオンを含有する
ことができる。その量がClイオンについて20%、B
rイオン及びIイオンについてそれぞれ10%を超える
とガラスが結晶化し易く、化学的耐久性が低下するの
で、Clイオンは0〜20モル%、Brイオンは0〜1
0モル%、Iイオンは0〜10モル%に限定される。そ
してFイオンの量が80%未満では結晶化に対する安定
性の高いガラスが得られ難くなるので、ClイオンとB
rイオンとIイオンとの合量は20モル%以下に限定さ
れる。
ンはガラスの基本成分である。さらにFイオンとの置換
で、Clイオン、Brイオン、及びIイオンを含有する
ことができる。その量がClイオンについて20%、B
rイオン及びIイオンについてそれぞれ10%を超える
とガラスが結晶化し易く、化学的耐久性が低下するの
で、Clイオンは0〜20モル%、Brイオンは0〜1
0モル%、Iイオンは0〜10モル%に限定される。そ
してFイオンの量が80%未満では結晶化に対する安定
性の高いガラスが得られ難くなるので、ClイオンとB
rイオンとIイオンとの合量は20モル%以下に限定さ
れる。
【0015】本発明のレーザーガラスは所定の組成にな
るように高純度のフッ化物及び又は塩化物等の原料を混
合調製し、アルゴン雰囲気中で950〜1000℃で熔
融した後に、ガラス熔液を徐冷して得ることができる。
るように高純度のフッ化物及び又は塩化物等の原料を混
合調製し、アルゴン雰囲気中で950〜1000℃で熔
融した後に、ガラス熔液を徐冷して得ることができる。
【0016】本発明のレーザーガラスは、波長0.68
μm、0.79μm又はその両方の半導体レーザーを照
射することにより、0.8μmのレーザー光を発生させ
ることができる。
μm、0.79μm又はその両方の半導体レーザーを照
射することにより、0.8μmのレーザー光を発生させ
ることができる。
【0017】
【実施例】以下、実施例により本発明をさらに具体的に
説明する。 (実施例1)出発原料としてZrF4 、AlF3 、Hf
F4 、MgF2 、CaF2 、SrF2 、BaF2 、YF
3 、NaF、NaCl、TmF3 の高純度フッ化物及び
塩化物を表1の組成となるように秤量混合して、バッチ
を得た。
説明する。 (実施例1)出発原料としてZrF4 、AlF3 、Hf
F4 、MgF2 、CaF2 、SrF2 、BaF2 、YF
3 、NaF、NaCl、TmF3 の高純度フッ化物及び
塩化物を表1の組成となるように秤量混合して、バッチ
を得た。
【0018】次いで、得られたバッチをカーボン製のル
ツボにいれて加熱炉内に配置し、炉内をアルゴンガス雰
囲気として800〜1000℃で1時間、上記バッチを
加熱して熔融させて、ガラス融液を得た。この後、得ら
れたガラス融液をルツボに入れたまま空気中で徐冷して
ガラスをルツボ中で固化させ、徐冷炉中で室温まで冷却
してフッ化物ガラスを得た。
ツボにいれて加熱炉内に配置し、炉内をアルゴンガス雰
囲気として800〜1000℃で1時間、上記バッチを
加熱して熔融させて、ガラス融液を得た。この後、得ら
れたガラス融液をルツボに入れたまま空気中で徐冷して
ガラスをルツボ中で固化させ、徐冷炉中で室温まで冷却
してフッ化物ガラスを得た。
【0019】(比較例1)最終的に得られるガラスを構
成する陽イオン成分及び陰イオン成分が、モル%表示で
表1に示す割合となるようにこれらの原料を秤量混合
し、実施例1と同様にして、各種ガラス(ガリウム酸塩
ガラス、アルミ酸塩ガラス、フッ燐酸塩ガラス、ゲルマ
ニウム酸塩ガラス、ケイ酸塩ガラス)を得た。
成する陽イオン成分及び陰イオン成分が、モル%表示で
表1に示す割合となるようにこれらの原料を秤量混合
し、実施例1と同様にして、各種ガラス(ガリウム酸塩
ガラス、アルミ酸塩ガラス、フッ燐酸塩ガラス、ゲルマ
ニウム酸塩ガラス、ケイ酸塩ガラス)を得た。
【0020】(発光スペクトルの測定)実施例1及び比
較例1で得られた表1に示す各種ガラスを23×12×
3mmに切断して6面研磨した後、これらのガラスを0.
68μmの発振波長を有する半導体レーザーで励起した
ときの発光スペクトルを測定した。
較例1で得られた表1に示す各種ガラスを23×12×
3mmに切断して6面研磨した後、これらのガラスを0.
68μmの発振波長を有する半導体レーザーで励起した
ときの発光スペクトルを測定した。
【0021】ケイ酸塩ガラスの発光強度を1としたとき
の相対強度を各ガラスについて求め、その結果を図2に
示す。この結果より、Tmイオンを含有するフッ化物ガ
ラスが最も高い発光強度を有することがわかった。
の相対強度を各ガラスについて求め、その結果を図2に
示す。この結果より、Tmイオンを含有するフッ化物ガ
ラスが最も高い発光強度を有することがわかった。
【0022】
【表1】
【0023】(実施例2)最終的に得られるガラスを構
成する陽イオン成分及び陰イオン成分が、モル%表示で
表2に示す割合となるようにこれらの原料を秤量混合
し、実施例1と同様にして、フッ化物ガラスを得た。こ
れらのガラスを実施例1と同様に発光スペクトルを測定
し、1.82μmにおける発光強度、蛍光寿命、量子効
率を求めた。この結果を表2に示す。この結果より、T
mイオン濃度が0.1−2.0cat%の範囲で0.8
μmの発光強度が高められることがわかった。
成する陽イオン成分及び陰イオン成分が、モル%表示で
表2に示す割合となるようにこれらの原料を秤量混合
し、実施例1と同様にして、フッ化物ガラスを得た。こ
れらのガラスを実施例1と同様に発光スペクトルを測定
し、1.82μmにおける発光強度、蛍光寿命、量子効
率を求めた。この結果を表2に示す。この結果より、T
mイオン濃度が0.1−2.0cat%の範囲で0.8
μmの発光強度が高められることがわかった。
【0024】
【表2】
【0025】又、本発明のフッ化物レーザーガラス(表
2のNO. 3)及びレーザー結晶であるCr:Tm:YS
GG(Tm:4×1020/cc 、Cr:2.5×1020/c
c )の0.68μmの半導体レーザー励起による発光ス
ペクトルを図3に示す。本発明のフッ化物レーザーガラ
スはレーザー結晶より強い発光強度を有することがわか
る。
2のNO. 3)及びレーザー結晶であるCr:Tm:YS
GG(Tm:4×1020/cc 、Cr:2.5×1020/c
c )の0.68μmの半導体レーザー励起による発光ス
ペクトルを図3に示す。本発明のフッ化物レーザーガラ
スはレーザー結晶より強い発光強度を有することがわか
る。
【0026】
【発明の効果】本発明によれば、安価な半導体レーザー
を励起光源として用いて、蛍光寿命が長く、量子効率が
大きい0.8μmの強い発光強度を有するTm3+ドープ
フッ化物レーザーガラスが得られる。。
を励起光源として用いて、蛍光寿命が長く、量子効率が
大きい0.8μmの強い発光強度を有するTm3+ドープ
フッ化物レーザーガラスが得られる。。
【図1】Tm3+のエネルギー準位図である。
【図2】Tmイオンを含有する各ガラスの発光強度と量
子効率との関係を示す。
子効率との関係を示す。
【図3】YSGG結晶及びフッ化物ガラスの0.68μ
mの半導体レーザー励起による発光スペクトルを示す。
mの半導体レーザー励起による発光スペクトルを示す。
Claims (3)
- 【請求項1】 Tm3+を0.1〜2.0cat%含有す
るフッ化物レーザーガラス。 - 【請求項2】 ガラスを構成する陽イオンとして、Zr
イオン、Hfイオン、Alイオン、Mgイオン、Caイ
オン、Srイオン、Baイオン、Tmイオンとを含み、
前記陽イオン中の各イオンの割合がモル%表示で、Zr
イオンとHfイオンとの合量が1〜25%、Alイオン
が20〜45%、MgイオンとCaイオンとSraイオ
ンとBaイオンとの合量が20〜70%、Tmイオンが
0.1〜2.0%であり、かつガラスを構成する陰イオ
ンとして少なくともFイオンを含み、陰イオン中のFイ
オンの割合がモル%表示で80〜100%であることを
特徴とするフッ化物レーザーガラス。 - 【請求項3】 波長0.68μm及び/又は0.79μ
mの半導体レーザーを請求項1又は2記載のレーザーガ
ラスに照射して0.8μmのレーザー光を発生させる方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14852392A JPH05319858A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 0.8μm発光するTmイオンドープしたフッ化物レーザーガラス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14852392A JPH05319858A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 0.8μm発光するTmイオンドープしたフッ化物レーザーガラス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05319858A true JPH05319858A (ja) | 1993-12-03 |
Family
ID=15454685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14852392A Pending JPH05319858A (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | 0.8μm発光するTmイオンドープしたフッ化物レーザーガラス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05319858A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2015008621A1 (ja) * | 2013-07-19 | 2017-03-02 | セントラル硝子株式会社 | 蛍光体分散ガラス及びその製造方法 |
-
1992
- 1992-05-15 JP JP14852392A patent/JPH05319858A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2015008621A1 (ja) * | 2013-07-19 | 2017-03-02 | セントラル硝子株式会社 | 蛍光体分散ガラス及びその製造方法 |
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