JPH05273593A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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Abstract
おけるゲート配線−画素電極間や信号配線−画素電極間
の寄生容量を減少させ、リーク電流の発生を減少させ、
開口率を向上させ、もって高精細且つ高階調の良好な表
示を可能ならしめる。 【構成】 各画素に関し液晶容量と並列に設けられる蓄
積容量の共通電位側配線をシールド配線26として、透
明画素電極16の外周に沿ってリング状に延在形成し、
該配線26とゲート配線8や信号配線10からなるマト
リクス配線群との間に容量を形成することにより、ゲー
ト配線−画素電極間や信号配線−画素電極間の寄生容量
を減少させる。6はスイッチングトランジスタであり、
12は透明基板である。
Description
特に各画素毎に個別の画素電極を有する液晶表示装置に
関する。
カメラレコーダー、テレビジョン等の画像情報処理装置
に用いられるマトリクス型の液晶表示装置の駆動方式と
しては、単純マトリクス方式及びアクティブマトリクス
方式がある。アクティブマトリクス方式は、単純マトリ
クス方式で生ずる走査線間のクロストークを防止するた
め、非選択時に画素電極への信号入力を阻止するための
スイッチング用能動素子を各画素ごとに設けたものであ
る。
示装置の1画素分の等価回路図である。2は容量CLCを
もつ液晶層であり、4は容量CLCと並列に設けられた容
量CADD をもつ蓄積容量であり、6はスイッチング用能
動素子としてのMOSトランジスタであり、8は液晶層
2に駆動電圧VS を供給するための信号配線であり、1
0はスイッチングトランジスタ6のゲート電圧VG を制
御するためのゲート配線である。
晶表示装置では、スイッチングトランジスタ6のゲート
−ドレイン間に寄生容量CGDが存在し、この影響でゲー
ト電圧VG がハイレベルからロウレベルに切替わる時
に、図9に示される様に、液晶に印加される電圧VLCが
低下する。即ち電圧の振れが起こる。この電圧低下分Δ
VLCは次の式で表される: ΔVLC=[CGD/(CGD+CLC+CADD )]・ΔVG ここで、ΔVG はゲート電圧VG の変化量である。
ので、画質向上のためには蓄積容量CADD をできるだけ
大きくしてΔVLCを小さくするのが好ましい。しかしな
がら、蓄積容量6の形成のためにゲート配線やスイッチ
ングトランジスタの活性層等に使用する不透明材料を用
いて大きな蓄積容量CADD を形成すると、不透明な部分
が多くなり、開口率が低下する。また、大きな蓄積容量
CADD を用いると、スイッチングトランジスタ6の充放
電能力の向上が必要となり、大きなサイズのトランジス
タが必要になる。開口率低下を防止するために、ITO
−ITOからなる容量構成も考えられるが、ITOは抵
抗が高いので結局はAl等の不透明金属配線で低抵抗化
する必要があり、従って開口率低下を妨げる根本的な解
決にはならない。
はなく、ゲート配線10と画素電極16との間の容量
(CGP)や信号配線8と画素電極16との間の容量(C
SP)がある。これらの寄生容量CGP,CSPはCGDと同様
に液晶印加電圧VLCを変化させ、CGPはゲート配線10
の電位変化を反映した変化を引き起こし、CSPは信号配
線8の電位変化を反映した変化を引き起こす。
するため高精細且つ高階調な表示が要求され画素の微小
化が進む中で、CGPやCSPに基づく表示特性の劣化の問
題がますます顕著になってくる。
線と画素電極とのスペース、信号配線と画素電極とのス
ペースを広くしようとすると、かなりの面積を必要とす
るため、高精細化には不向きである。
鑑み、アクティブマトリクス方式の液晶表示装置におけ
るゲート配線−画素電極間や信号配線−画素電極間の寄
生容量を減少させ且つ開口率を向上させ、もって高精細
且つ高階調の良好な表示を可能ならしめることを目的と
するものである。
複数の能動素子と液晶層とを有し、各画素毎に個別に設
けられた画素電極の周囲に所定の電位に保持される導電
層を選択的に設けたことを特徴とする液晶表示装置、及
び該装置を具備する画像情報処理装置を提供することに
ある。
を選択的に形成することにより、不要な寄生容量を生じ
たりリーク電流を発生したりする確率を低くしつつ、上
記目的を達成できる。
周囲に選択的に設けられるものであり、該導電層が所定
の電位に保持されることにより、画素電極とマトリクス
配線群との間の浮遊容量ないしは線間容量による悪影響
を画素電極に及ぼさない様にするものである。
電極と同じ工程で形成されるものであっても別の工程で
形成されるものであってもよい。その位置も、画素電極
自体の周辺部の真下及び/または画素電極の横とするこ
とができる。また、導電層は、常に一定の電位に保持さ
れる必要はなく、例えばマトリクス配線群におけるゲー
ト選択線の様に2値の電位に保持されるものであっても
よい。
形状をもつ場合には、少なくともその4辺のうち3辺に
沿って設けられることが望ましく、具体的には当該画素
用のゲート選択線と画素電極との間、当該画素用の信号
線と画素電極との間、隣接画素用の信号線と画素電極と
の間に少なくとも設けるのが好ましい。
説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるこ
とはなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも含む。
よるアクティブマトリクス液晶表示装置(AM−LC
D)の1画素分を示す模式図であり、(a)はその平面
構造を(b)はその画素電極側部分のX−X’断面構造
を、それぞれ示している。
子としてのMOSトランジスタであり、8は信号配線で
あり、10はスイッチングトランジスタ6のゲート電圧
を制御するためのマトリクス配線群のゲート選択線とし
てのゲート配線である。12は透明基板であり、16は
ITOからなる透明な画素電極であり、20,22,2
4は透明絶縁膜である。
側配線26が画素電極16の外周に沿ってリング状に延
在して形成されている。該配線26は配線26aを介し
て基準電圧源VRef に接続されており、当該画素の駆動
の間所定の電位に維持される。具体的には各画素電極と
対向して配置された基板上に設けられる全画素につき共
通電位に維持される共通電極と同電位とされる。従っ
て、本実施例では、信号配線8,8’と画素電極16と
の間に蓄積容量配線26が位置し、該配線26と信号配
線8,8’との間に容量が形成されるので、信号配線
8,8’と画素電極16との間の寄生容量CSPが著しく
小さくなる。同様に、ゲート配線10と画素電極16と
の間に蓄積容量配線26が位置し、該配線26とゲート
配線10との間に容量が形成されるので、ゲート配線1
0と画素電極16との間の寄生容量CGPが著しく小さく
なる。かくして、液晶に印加される電圧VLCの振れが著
しく小さくなり画質が向上し、更にこれに基づき画質を
維持しながら蓄積容量値を小さくすることが可能となり
その充放電のためのトランジスタ6を小型化し及び蓄積
容量配線26を細くすることができるので開口率が向上
する。
よるAM−LCDの1画素周辺部を示す模式図であり、
(a)はその平面構造を(b)はそのY−Y’断面構造
を、それぞれ示している。
一であり、異なる点は配線26を別の画素行のゲート配
線10’に接続した点及び配線26が画素電極より若干
外側にはみ出している点である。
により図示の画素行が駆動されている間は固定電位に保
持されている。従って、本実施例でも、上記実施例1と
同様にして、信号配線8と画素電極16との間の寄生容
量CSPが著しく小さくなり、且つ当該画素の駆動に係る
ゲート配線10と画素電極16との間の寄生容量CGPが
著しく小さくなり、かくして実施例1と同様の効果が得
られる。本実施例によれば、蓄積容量配線とゲート配線
とを同一材料で同時に形成することができるので、層構
成が簡易化される。
よるAM−LCDの1画素を示す模式図であり、(a)
はその平面構造を(b)はそのZ−Z’断面構造を、そ
れぞれ示している。
一であり、異なる点は以下述べる点である。即ち、本実
施例では、蓄積容量のための共通電位側配線26に対応
して、画素電極16の外周に沿ってスイッチングトラン
ジスタ6のドレイン領域28が延在している。これによ
れば、上記実施例1や実施例2と同様の効果に加えて、
配線26とドレイン領域28との間にも蓄積容量が形成
されるので、配線26の幅を更に狭くしても十分な容量
値が得られ、開口率の一層の向上が可能となる。
よれば、蓄積容量のための共通電位側配線を画素電極の
外周に沿って延在させているので、信号配線やゲート配
線の電圧変化による液晶印加電圧VLCの振れが小さくな
り、画質が向上する。更に、その結果、画質を維持しな
がら蓄積容量値を小さくすることが可能となりスイッチ
ングトランジスタを小型化することができるし、蓄積容
量配線の幅を細くすることもでき、かくして蓄積容量配
線を金属やSi層等の不透明材料で形成しても大きな開
口率を得ることができる。本発明は、画素が小型化する
につれてその有効性が増大する。
よるAM−LCDの1画素を示す模式図であり、(a)
はその平面構造を(b)はそのA−A’断面構造を、そ
れぞれ示している。
チのゲート線(枝状に延びたその一部はゲート電極を構
成する)であり、8は画素に映像信号を書込むための信
号配線であり、6はMOSトランジスタでありドレイン
領域、チャネル領域及びソース領域を構成する半導体領
域を有している。16は液晶層57を駆動する画素電極
であり、26はゲート配線10及び信号配線8と画素電
極16との間に配されたシールド用の配線である。
層である。シールド配線26は、作製工程上異なる2又
は3のレベルの層で構成されている。即ち、下層26c
上の絶縁層33,34にコンタクトホール26bを開け
た後に上層26aを形成することにより、コンタクトホ
ール部26bを介して上層26aと下層26cとが接続
される。また、これを3つのレベルの層で構成する場合
には、コンタクトホール26b内を埋める層を上層26
aとは別工程で形成すればよい。
び上層26aは、画素電極16の周囲(画素スイッチ構
成部を除く)を囲う様に設けられている。尚、ここで、
コンタクトホール部26bは、画素電極16の周囲を囲
う様に線状に開口され、また下層26cは、信号線8を
形成するための導電層(例えばアルミニウム配線)と同
一レベルの導電層を用いてパターン化して作製できる。
信号線8に映像信号に対応する電位を与え、ゲート線1
0に画素スイッチが導通する電位を与えることにより、
画素電極16を所定の電位にすることで行われる。通
常、画素電極への書込みは一行同時に行うため、同一行
のセルのゲート線は共通に配線されている。ある行の書
込みを終えると、すぐ次の隣接行の書込みを同じデータ
線を用いて行うため、信号線は同一列で共通に配線され
ている。
たって行うことにより、パネル一面の書込みを終了す
る。最終行の書込み終了後、第1行の書込みを再度始め
ることにより、たえず映像を表示することができる。こ
の様にして映像情報をパネルに表示するため、データ線
は絶えず電位変動している。また、ゲート線も、画素ス
イッチをON、OFFさせるため、大振幅の電位変動を
発生する。
と画素電極との間及び信号線と画素電極との間に寄生容
量が存在するために、画素電極の電位が不要な変動を受
け、この様な変動が、表示のコントラストの低下または
諧調性の悪化の原因となっていたのである。
定電位を与えた配線26であるシールド領域を配置する
ことにより、ゲート線及び信号線の影響を大幅に軽減す
ることができ、画質を大幅に向上させることができる。
aだけでなく、コンタクトホール26bも、画素電極の
周囲(画素スイッチ構成部を除く)を完全に囲う様に線
状に開口しているが、コンタクトホール26bは必ずし
も周囲の全面に設ける必要はない。
動素子6を形成するために単結晶半導体の島状領域を形
成する。
0を形成する。次に、絶縁層32を形成した後、コンタ
クトホールを開ける。このコンタクトホールは素子6の
主電極領域であるソースまたはドレインと信号線8とを
接続するためのものである。コンタクトホール形成後、
導電体を堆積し、パターニングすることにより、信号線
8と下層26cとを同時に形成する。その後、絶縁層3
3を形成した後に、素子6と画素電極16との間のコン
タクトを取るためのコンタクトホールを絶縁層31,3
2,33に形成する。
ることで、画素電極16を形成する。ここで、絶縁層3
3は、予め平坦化プロセス例えばリンガラスのリフロ
ー、スピンオングラスとエッチバックの組合わせ等の方
法にて、表面を平坦化しておく。
い、下層26cとコンタクトをとるためのコンタクトホ
ール26bを絶縁層33,34に開け、次に導電体を堆
積し、パターニングして上層26aを形成する。そし
て、保護層35を形成して、液晶層57を挟むための一
対の基板のうちの一方の基板を作製する。
間隔をおいて固定し、その間隔に液晶57を注入する。
一対の基板の周囲を封止して、上述のAM−LCDが得
られる。
るAM−LCDの一画素の構成を示す模式的平面図であ
る。
と同じであり、異なる点は次のとおりである。即ち、図
5に示す様に、本実施例5においては、コンタクトホー
ル26bを部分的に設け、コンタクトホール26bを形
成しない部分の上層26a及び下層26cの幅mを小さ
くしており、この様な構成により、画素面積をより広く
とることができ、開口率をアップすることができる。
るAM−LCDの一画素の構成を示す模式的断面図であ
る。
及び実施例5と同じであり、異なる点は次のとおりであ
る。即ち、図6に示す様に、本実施例6においては、上
層26aは画素電極16を形成するための導電層と同一
の導電層をパターン化して作製し、また下層26cは信
号線8を形成するための導電層と同一の導電層をパター
ン化して作製しているため、特にシールド領域を形成す
るために特別な成膜工程を付加して導電層を形成するこ
とは不要であり、より製造工程を簡略化することができ
る。
大部分を囲んでいるので、これを遮光性の導電材料で形
成すれば、画素間の光の侵入(光のクロストーク)等を
も防止できる。
D)を用いた画像情報処理装置を示す模式図である。3
00はLCDであり、その中央に表示部310が設けら
れている。図7では、アクティブマトリクス部を拡大し
て204として模式的に示している。表示部310の周
囲の領域203には、シフトレジスタを含む周辺回路が
配置されている。その周辺回路のうち、信号配線に接続
され映像信号を供給する水平駆動回路は表示部310の
上下に、ゲート配線に接続されライン選択信号を発生す
る駆動回路は表示部310の左右に、それぞれ配置され
ている。これらの駆動回路は、別基板に実装された駆動
制御回路410に接続されて制御される。また、光源4
12及び光源の点灯を制御するインバータを含む点灯制
御回路411とともに、上記駆動制御回路410は中央
制御回路414に接続される。
報を入力するレンズを含む光学系422と光電変換要素
を含むイメージセンサ421とその駆動回路420とを
有している。加えて、イメージセンサ421による画像
情報及び/または表示された画像情報は、記録ヘッド4
31を含む記録制御回路430により記録媒体に記録さ
れる。
よれば、画素電極とマトリクス配線との間で前記画素電
極を囲う様にシールド領域を設けることにより、ゲート
線、データ信号線等のマトリクス配線の悪影響を大幅に
軽減することができる。
囲に選択的に設けられているので、該導電層を所定の電
位に保持することにより、画素電極とマトリクス配線群
との間の浮遊容量ないしは線間容量による悪影響を画素
電極に及ぼさない様にすることができる。
位側配線を画素電極の外周に沿って延在させているの
で、信号配線やゲート配線の電圧変化による液晶印加電
圧の振れが小さくなり、画質が向上する。更に、その結
果、画質を維持しながら蓄積容量値を小さくすることが
可能となりスイッチングトランジスタを小型化すること
ができるし、蓄積容量配線の幅を細くすることもでき、
かくして蓄積容量配線を金属やSi層等の不透明材料で
形成しても大きな開口率を得ることができる。本発明
は、画素が小型化するにつれてその有効性が増大する。
線との間で前記画素電極を囲う様にシールド領域を設け
ることにより、ゲート線、データ信号線等のマトリクス
配線の悪影響を大幅に軽減することができる。
である。
である。
である。
である。
である。
である。
理装置を示す模式図である。
示すタイミングチャートである。
Claims (11)
- 【請求項1】 マトリクス配線群と複数の能動素子と液
晶層とを有する液晶表示装置において、 各画素毎に個別に設けられた画素電極の周囲に所定の電
位に保持される導電層を選択的に設けたことを特徴とす
る液晶表示装置。 - 【請求項2】 前記画素電極は前記能動素子と接続する
接続部を有し、前記導電層は該接続部を除いた前記画素
電極の周囲に設けられていることを特徴とする、請求項
1に記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】 前記導電層は間に絶縁層を介して前記画
素電極と部分的に重なっていることを特徴とする、請求
項2に記載の液晶表示装置。 - 【請求項4】 前記導電層の一部は間に絶縁層を介して
前記画素電極と前記能動素子の主電極領域とに挟まれて
いることを特徴とする、請求項3に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項5】 前記導電層は前記マトリックス配線群と
前記画素電極との間にあることを特徴とする、請求項1
に記載の液晶表示装置。 - 【請求項6】 前記導電層は互いに接続された上層と下
層とを含むことを特徴とする、請求項5に記載の液晶表
示装置。 - 【請求項7】 前記導電層は前記上層と前記下層とが複
数のコンタクトホールを介して接続されていることを特
徴とする、請求項6に記載の液晶表示装置。 - 【請求項8】 前記導電層は、前記画素電極と同じレベ
ルにある上層と、異なるレベルにある下層と、を含むこ
とを特徴とする、請求項5に記載の液晶表示装置。 - 【請求項9】 前記導電層は、対応する画素とは異なる
画素の能動素子の制御電極に接続されるゲート配線に接
続されていことを特徴とする、請求項1に記載の液晶表
示装置。 - 【請求項10】 前記導電層は時間的に異なる複数の基
準電位に保持されることを特徴とする、請求項1に記載
の液晶表示装置。 - 【請求項11】 マトリクス配線群と複数の能動素子と
液晶層とを有し各画素毎に個別に設けられた画素電極の
周囲に所定の電位に保持される導電層が選択的に設けら
れた液晶表示手段と、該液晶表示手段に表示する画像情
報を読取るイメージセンサーと、を具備することを特徴
とする画像情報処理装置。
Priority Applications (1)
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JP3221628B2 JP3221628B2 (ja) | 2001-10-22 |
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JP2322193A Expired - Fee Related JP3221628B2 (ja) | 1992-01-30 | 1993-01-19 | 液晶表示装置 |
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JP (1) | JP3221628B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100535531B1 (ko) * | 2000-11-10 | 2005-12-08 | 엔이씨 엘씨디 테크놀로지스, 엘티디. | 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 |
US8681080B2 (en) | 2009-09-30 | 2014-03-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
-
1993
- 1993-01-19 JP JP2322193A patent/JP3221628B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100535531B1 (ko) * | 2000-11-10 | 2005-12-08 | 엔이씨 엘씨디 테크놀로지스, 엘티디. | 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 |
US8681080B2 (en) | 2009-09-30 | 2014-03-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
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