JPH05264476A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置Info
- Publication number
- JPH05264476A JPH05264476A JP4061718A JP6171892A JPH05264476A JP H05264476 A JPH05264476 A JP H05264476A JP 4061718 A JP4061718 A JP 4061718A JP 6171892 A JP6171892 A JP 6171892A JP H05264476 A JPH05264476 A JP H05264476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- shutter
- inspection
- inspected
- ray tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、検査能率の向上とX線発生手段の
長寿命化を図ることを目的とする。 【構成】 X線発生手段3からX線遮蔽室1内に放射さ
れるX線を遮蔽するX線遮蔽手段5と、X線遮蔽手段5
に設けられX線発生手段3から被検査体へのX線の照射
・停止を制御するX線照射・停止手段6とを有すること
を特徴とする。
長寿命化を図ることを目的とする。 【構成】 X線発生手段3からX線遮蔽室1内に放射さ
れるX線を遮蔽するX線遮蔽手段5と、X線遮蔽手段5
に設けられX線発生手段3から被検査体へのX線の照射
・停止を制御するX線照射・停止手段6とを有すること
を特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばCT(計算断層
映像法)やX線テレビ等の非破壊検査の分野で用いるX
線検査装置に関する。
映像法)やX線テレビ等の非破壊検査の分野で用いるX
線検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CTやX線テレビ等の従来のX線検査装
置では、一般に、被検査体出し入れ用の試料扉を備えた
X線遮蔽室内に、X線発生用のX線管と被検査体の透過
X線等、被検査体の情報を含むX線を検出するX線検出
器とが設けられている。試料扉にはその開閉に連動する
スイッチが設けられ、このスイッチでX線管のインター
ロックがとられるようになっている。そして、試料扉が
閉じている時スイッチがONしてX線管のON許可が出
される。試料扉が開かれた時は、スイッチはOFFとな
ってX線管はONとなることが拘束され、X線管がON
状態の時でもスイッチがOFFするとX線管はOFFと
なる。したがって、X線検査を行う場合、被検査体の交
換のため試料扉が開閉されると、これに伴なってX線管
もON・OFFを繰返すことになる。
置では、一般に、被検査体出し入れ用の試料扉を備えた
X線遮蔽室内に、X線発生用のX線管と被検査体の透過
X線等、被検査体の情報を含むX線を検出するX線検出
器とが設けられている。試料扉にはその開閉に連動する
スイッチが設けられ、このスイッチでX線管のインター
ロックがとられるようになっている。そして、試料扉が
閉じている時スイッチがONしてX線管のON許可が出
される。試料扉が開かれた時は、スイッチはOFFとな
ってX線管はONとなることが拘束され、X線管がON
状態の時でもスイッチがOFFするとX線管はOFFと
なる。したがって、X線検査を行う場合、被検査体の交
換のため試料扉が開閉されると、これに伴なってX線管
もON・OFFを繰返すことになる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のX線検査装置で
は、試料扉の開閉に連動するスイッチが設けられ、この
スイッチでX線管のインターロックがとられている。こ
のため、試料扉の開閉の度にX線管のON・OFFの時
間が必要となる。特にON時には、試料扉閉→X線管O
N→整定タイムラグ→データ収集の手順を踏むため、検
査能率の低下を招く。そして、例えばCTでは1スキャ
ン当りの所要時間が短かくなるにつれてその影響は大き
くなる。
は、試料扉の開閉に連動するスイッチが設けられ、この
スイッチでX線管のインターロックがとられている。こ
のため、試料扉の開閉の度にX線管のON・OFFの時
間が必要となる。特にON時には、試料扉閉→X線管O
N→整定タイムラグ→データ収集の手順を踏むため、検
査能率の低下を招く。そして、例えばCTでは1スキャ
ン当りの所要時間が短かくなるにつれてその影響は大き
くなる。
【0004】また、X線管のON・OFFの頻度が多く
なるため、X線管への高電圧印加とフィラメント点火の
ON・OFFが繰返されてその寿命を短かくするおそれ
がある。
なるため、X線管への高電圧印加とフィラメント点火の
ON・OFFが繰返されてその寿命を短かくするおそれ
がある。
【0005】そこで、本発明は、検査能率の向上とX線
発生手段の長寿命化を図ることのできるX線検査装置を
提供することを目的とする。
発生手段の長寿命化を図ることのできるX線検査装置を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、被検査体出し入れ用の試料扉を備え当該被
検査体を収容するX線遮蔽室と、該X線遮蔽室内に設置
されX線を発生するX線発生手段と、該X線発生手段か
ら前記X線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽するX線遮
蔽手段と、該X線遮蔽手段に設けられ前記X線発生手段
から前記被検査体へのX線の照射・停止を制御するX線
照射・停止手段と、前記被検査体の情報を含むX線を検
出するX線検出手段とを有することを要旨とする。
するために、被検査体出し入れ用の試料扉を備え当該被
検査体を収容するX線遮蔽室と、該X線遮蔽室内に設置
されX線を発生するX線発生手段と、該X線発生手段か
ら前記X線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽するX線遮
蔽手段と、該X線遮蔽手段に設けられ前記X線発生手段
から前記被検査体へのX線の照射・停止を制御するX線
照射・停止手段と、前記被検査体の情報を含むX線を検
出するX線検出手段とを有することを要旨とする。
【0007】
【作用】上記構成において、X線照射・停止手段により
X線発生手段から被検査体へのX線の照射が停止され、
X線発生手段からX線遮蔽室内へのX線の放射が遮蔽さ
れた状態でX線発生手段が予めONされる。この状態で
試料扉が開かれてX線遮蔽室内への被検査体のセット又
は交換が行われる。このあと試料扉が閉じられてからX
線照射・停止手段が開状態とされて被検査体へX線が照
射され、検査が実行される。これにより検査作業中、X
線発生手段はON状態のままとされ、検査能率の向上が
実現されるとともにX線発生手段の長寿命化が達成され
る。
X線発生手段から被検査体へのX線の照射が停止され、
X線発生手段からX線遮蔽室内へのX線の放射が遮蔽さ
れた状態でX線発生手段が予めONされる。この状態で
試料扉が開かれてX線遮蔽室内への被検査体のセット又
は交換が行われる。このあと試料扉が閉じられてからX
線照射・停止手段が開状態とされて被検査体へX線が照
射され、検査が実行される。これにより検査作業中、X
線発生手段はON状態のままとされ、検査能率の向上が
実現されるとともにX線発生手段の長寿命化が達成され
る。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【0009】図1は、本発明をCTに適用した第1実施
例を示す図である。
例を示す図である。
【0010】まず、その構成を説明すると、被検査体出
し入れ用の試料扉2を備えたX線遮蔽室1内に、X線発
生手段としてのX線管3とこれに対向してX線検出手段
としてのX線検出器4とが設置されている。X線管3の
部分には、そのX線管3からX線遮蔽室1内に放射され
るX線を遮蔽するX線遮蔽手段としてのX線管遮蔽5が
設けられ、X線管遮蔽5にX線管3から被検査体へのX
線の照射・停止を制御するX線照射・停止手段としての
X線シャッタ6が取付けられている。また、X線管3と
X線検出器4との間には、被検査体を載せて回転及び直
線運動するT/Rテーブル7が設置されている。8はX
線検出器4の検出信号を収集するデータ収集部、9はC
PU、10はメモリ用のディスク、11は制御卓、12
は表示装置、13はメカコントローラであり、このメカ
コントローラ13によりX線シャッタ6、試料扉2及び
T/Rテーブル7が制御されるようになっている。14
はX線管3を制御するX線管制御部である。
し入れ用の試料扉2を備えたX線遮蔽室1内に、X線発
生手段としてのX線管3とこれに対向してX線検出手段
としてのX線検出器4とが設置されている。X線管3の
部分には、そのX線管3からX線遮蔽室1内に放射され
るX線を遮蔽するX線遮蔽手段としてのX線管遮蔽5が
設けられ、X線管遮蔽5にX線管3から被検査体へのX
線の照射・停止を制御するX線照射・停止手段としての
X線シャッタ6が取付けられている。また、X線管3と
X線検出器4との間には、被検査体を載せて回転及び直
線運動するT/Rテーブル7が設置されている。8はX
線検出器4の検出信号を収集するデータ収集部、9はC
PU、10はメモリ用のディスク、11は制御卓、12
は表示装置、13はメカコントローラであり、このメカ
コントローラ13によりX線シャッタ6、試料扉2及び
T/Rテーブル7が制御されるようになっている。14
はX線管3を制御するX線管制御部である。
【0011】X線シャッタ6には、シャッタ閉を検出す
る図示省略のシャッタスイッチが設けられ、試料扉2
は、扉閉を検出する図示省略の扉スイッチが設けられて
いる。図2は、シャッタスイッチ及び扉スイッチでX線
管3のインターロックをとるロジック回路15を示して
いる。シャッタスイッチ閉信号Pと扉信号QのORでX
線管3のON許可信号Rが出るようになっている。
る図示省略のシャッタスイッチが設けられ、試料扉2
は、扉閉を検出する図示省略の扉スイッチが設けられて
いる。図2は、シャッタスイッチ及び扉スイッチでX線
管3のインターロックをとるロジック回路15を示して
いる。シャッタスイッチ閉信号Pと扉信号QのORでX
線管3のON許可信号Rが出るようになっている。
【0012】次に、図3のフローチャートを用いて上述
のように構成されたX線検査装置の動作を説明する。
のように構成されたX線検査装置の動作を説明する。
【0013】検査が開始されると、X線シャッタ6が閉
じられた状態で予めX線管3がONされる。X線管3が
ON状態でも、X線管遮蔽5とX線シャッタ6によりX
線遮蔽室1内においてもX線の漏れは安全レベルに保た
れる。この状態で試料扉2が開かれてX線遮蔽室1内へ
の被検査体のセットが行われる(ステップ21〜2
3)。次いで、試料扉2を閉じてからX線シャッタ6が
開けられ、被検査体へのX線のスキャンが行われる(ス
テップ24〜26)。そしてX線検出器4で被検査体の
情報を含むX線が検出されて所要の映像化処理が行われ
る。
じられた状態で予めX線管3がONされる。X線管3が
ON状態でも、X線管遮蔽5とX線シャッタ6によりX
線遮蔽室1内においてもX線の漏れは安全レベルに保た
れる。この状態で試料扉2が開かれてX線遮蔽室1内へ
の被検査体のセットが行われる(ステップ21〜2
3)。次いで、試料扉2を閉じてからX線シャッタ6が
開けられ、被検査体へのX線のスキャンが行われる(ス
テップ24〜26)。そしてX線検出器4で被検査体の
情報を含むX線が検出されて所要の映像化処理が行われ
る。
【0014】1つの被検査体についてのX線検査が終了
すれば、まずX線シャッタ6が閉じられてから試料扉2
が開かれ、被検査体が取出される(ステップ27,2
8)。引続いて他の被検査体についてのX線検査が必要
であれば被検査体の入替えが行われた後、ステップ24
へ戻る(ステップ29,30)。
すれば、まずX線シャッタ6が閉じられてから試料扉2
が開かれ、被検査体が取出される(ステップ27,2
8)。引続いて他の被検査体についてのX線検査が必要
であれば被検査体の入替えが行われた後、ステップ24
へ戻る(ステップ29,30)。
【0015】上述のように、本実施例によれば、X線検
査の作業中、X線管3はON状態のままとされる。X線
シャッタ6の開閉動作は2秒程度以下とすることが可能
であるため、X線管3のONに数秒〜数十秒かかるのと
比べると大幅な検査時間の短縮が図られて検査能率が向
上する。また一定の検査条件の間、X線管3はONした
ままであるため、その動作が安定して長寿命化が可能と
なる。
査の作業中、X線管3はON状態のままとされる。X線
シャッタ6の開閉動作は2秒程度以下とすることが可能
であるため、X線管3のONに数秒〜数十秒かかるのと
比べると大幅な検査時間の短縮が図られて検査能率が向
上する。また一定の検査条件の間、X線管3はONした
ままであるため、その動作が安定して長寿命化が可能と
なる。
【0016】図4には、本発明をX線テレビ(透視装
置)に適用した第2実施例を示す。
置)に適用した第2実施例を示す。
【0017】なお、図4において前記図1における機器
及び部材等と同一ないし均等のものは、前記と同一符号
を以って示し、重複した説明を省略する。
及び部材等と同一ないし均等のものは、前記と同一符号
を以って示し、重複した説明を省略する。
【0018】この実施例においても、X線管3の部分に
X線シャッタ6を持つX線管遮蔽5が設けられている。
X線シャッタ6にその閉を検出するシャッタスイッチが
設けられ、試料扉にその閉を検出する扉スイッチが設け
られ、両スイッチによりX線管3のインターロックがと
られることは前記と同様である。16は被検査体載置用
のテーブル、17はX線検出手段としてのイメージング
システムである。被検査体の情報を含むX線がイメージ
ングシステム17で画像化されて表示装置12に表示さ
れる。
X線シャッタ6を持つX線管遮蔽5が設けられている。
X線シャッタ6にその閉を検出するシャッタスイッチが
設けられ、試料扉にその閉を検出する扉スイッチが設け
られ、両スイッチによりX線管3のインターロックがと
られることは前記と同様である。16は被検査体載置用
のテーブル、17はX線検出手段としてのイメージング
システムである。被検査体の情報を含むX線がイメージ
ングシステム17で画像化されて表示装置12に表示さ
れる。
【0019】なお、上述の各実施例において、X線に代
えて中性子線、電子線その他の放射線を用いても上記と
同様の作用、効果が得られる。
えて中性子線、電子線その他の放射線を用いても上記と
同様の作用、効果が得られる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
X線発生手段からX線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽
するX線遮蔽手段と、このX線遮蔽手段に設けられX線
発生手段から被検査体へのX線の照射・停止を制御する
X線照射・停止手段とを具備させたため、X線照射・停
止手段を停止制御状態とすれば、検査作業中、X線発生
手段をON状態のままとしても試料扉を開、閉して被検
査体のセットないしは交換を行うことができる。したが
って検査能率が向上するとともにX線発生手段の長寿命
化を図ることができる。
X線発生手段からX線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽
するX線遮蔽手段と、このX線遮蔽手段に設けられX線
発生手段から被検査体へのX線の照射・停止を制御する
X線照射・停止手段とを具備させたため、X線照射・停
止手段を停止制御状態とすれば、検査作業中、X線発生
手段をON状態のままとしても試料扉を開、閉して被検
査体のセットないしは交換を行うことができる。したが
って検査能率が向上するとともにX線発生手段の長寿命
化を図ることができる。
【図1】本発明に係るX線検査装置の第1実施例を示す
構成図である。
構成図である。
【図2】第1実施例においてシャッタスイッチ及び扉ス
イッチでX線管のインターロックをとるためのロジック
回路を示す図である。
イッチでX線管のインターロックをとるためのロジック
回路を示す図である。
【図3】第1実施例の動作を説明するためのフローチャ
ートである。
ートである。
【図4】本発明の第2実施例を示す構成図である。
1 X線遮蔽室 2 試料扉 3 X線管(X線発生手段) 4 X線検出器(X線検出手段) 5 X線管遮蔽(X線遮蔽手段) 6 X線シャッタ(X線照射・停止手段) 17 イメージングシステム(X線検出手段)
Claims (1)
- 【請求項1】 被検査体出し入れ用の試料扉を備え当該
被検査体を収容するX線遮蔽室と、該X線遮蔽室内に設
置されX線を発生するX線発生手段と、該X線発生手段
から前記X線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽するX線
遮蔽手段と、該X線遮蔽手段に設けられ前記X線発生手
段から前記被検査体へのX線の照射・停止を制御するX
線照射・停止手段と、前記被検査体の情報を含むX線を
検出するX線検出手段とを有することを特徴とするX線
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4061718A JPH05264476A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4061718A JPH05264476A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | X線検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05264476A true JPH05264476A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=13179290
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4061718A Pending JPH05264476A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05264476A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7028528B2 (en) | 2001-05-30 | 2006-04-18 | Micro Motion, Inc. | Flowmeter proving device and method |
JP2011163870A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP2017053630A (ja) * | 2015-09-07 | 2017-03-16 | リョーエイ株式会社 | X線ct装置およびct検査方法 |
JP2022088014A (ja) * | 2020-12-02 | 2022-06-14 | 株式会社島津製作所 | X線撮像装置 |
-
1992
- 1992-03-18 JP JP4061718A patent/JPH05264476A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7028528B2 (en) | 2001-05-30 | 2006-04-18 | Micro Motion, Inc. | Flowmeter proving device and method |
JP2011163870A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Shimadzu Corp | X線検査装置 |
JP2017053630A (ja) * | 2015-09-07 | 2017-03-16 | リョーエイ株式会社 | X線ct装置およびct検査方法 |
JP2022088014A (ja) * | 2020-12-02 | 2022-06-14 | 株式会社島津製作所 | X線撮像装置 |
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