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JPH05226238A - E−ビームレジスト用の塩基現像可能な放電トップ層 - Google Patents

E−ビームレジスト用の塩基現像可能な放電トップ層

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Publication number
JPH05226238A
JPH05226238A JP25934892A JP25934892A JPH05226238A JP H05226238 A JPH05226238 A JP H05226238A JP 25934892 A JP25934892 A JP 25934892A JP 25934892 A JP25934892 A JP 25934892A JP H05226238 A JPH05226238 A JP H05226238A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
poly
resist
polymer
polythiophene
electrically conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25934892A
Other languages
English (en)
Inventor
Wu-Song Huang
ウー−ソン・ホワン
Ranee W Kwong
ラニー・ダブリユー・クウオン
Gerald J Ross
ジエラルド・ジヨゼフ・ロス
Harbans S Sachdev
ハーバンズ・エス・サクデブ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPH05226238A publication Critical patent/JPH05226238A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G61/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
    • C08G61/12Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G61/122Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule derived from five- or six-membered heterocyclic compounds, other than imides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/093Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antistatic means, e.g. for charge depletion
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2051Exposure without an original mask, e.g. using a programmed deflection of a point source, by scanning, by drawing with a light beam, using an addressed light or corpuscular source
    • G03F7/2059Exposure without an original mask, e.g. using a programmed deflection of a point source, by scanning, by drawing with a light beam, using an addressed light or corpuscular source using a scanning corpuscular radiation beam, e.g. an electron beam

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 水性塩基可溶性の導電性ポリマーを、電気的
帯電を消失させるために利用することと、これにより荷
電粒子ビームを含む方法の精度を改善することに関す
る。 【構成】 電気伝導性の官能化ポリマーとしてポリアニ
リン、ポリパラフェニルビニレン、ポリチオフェン、ポ
リピロール、ポリ−p−フェニレンオキサイド、ポリフ
ラン、ポリフェニレン、ポリアジン、ポリセレノフェ
ン、ポリフェニレンサルファイドおよびポリアセチレン
を用いる荷電粒子ビームからの蓄積された電荷を消失さ
せるための組成物と、ポリ(ヒドロキシアニリン)とポ
リチオフェンの合成方法と、水性塩基可溶性の導電性フ
ィルムを調製するための方法が述べられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は水性塩基に可溶性の導電性ポリマ
ーと、電気的帯電を消失させるためのその利用に関する
もので、これにより荷電粒子ビームを含む方法の精度を
改善することに関するものである。特に本発明はポリパ
ラフェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリ
チオフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ
−p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロー
ル、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンを含む、電
気伝導性の官能化されたポリマーに関するものである。
このポリマー類は、これを水性塩基中に可溶性とする官
能基を含み、またイオン性のメカニズムというよりも電
子的なそれによる電気伝導性を可能にするパイ共役系を
含んでいる。
【0002】
【背景技術】リソグラフの領域において、電子ビーム
(E−ビーム)直接書き込み法は、サブミクロン級のパ
ターンの面−面オーバーレイで、高い精度をもつレジス
ト像を得るためのもっとも信頼できる方法の1つであ
る。この方法はサブミクロンデバイスのマイクロ回路作
成に際して好都合に用いられている。しかしながら、今
日のレジストは絶縁性の誘電体物質であり、これは電荷
を取り込みレジスト面上に電場を発生させる。この帯電
は入射する電子ビームを偏向させ、特にレジストの下側
に厚い絶縁性の基板が用いられているときは、電子ビー
ムの到達エラーまたは焦点ずれをも生じさせる。
【0003】このレジスト中に電荷が蓄積するという問
題は、取り込まれた電荷を消失させるため、レジストの
上部または下側に電気伝導性金属層を付着させることに
より通常処置されている。この方法は多くの欠点を有し
ている:高価な金属付着用の装置を必要とする;方法が
複雑である;レジストが時に前露光されてしまう;金属
除去に際してレジスト障害を生じる;そして金属放電層
は普通低収率でありまたレジスト像の線幅コントロール
に大きな変動を与える。ポリマー放電層は方法を簡易化
し、コストを下げまた性能を向上させるため、潜在的の
関心をもたれる代替法である。
【0004】日本国特許公開昭62−113,134号
Chem. Abst. 108: 65998z)には、シクロヘキサン中
に溶解した高分子ポリカチオンとテトラシアノキノジメ
タン(TCNQ)とからなる錯塩溶液を、電子ビーム用
レジスト上に付与することを示している。大規模集積回
路製造のためのサブミクロンパターンがこのレジストを
用いて形成される。すなわち、メタアクリレートタイプ
のレジストをもつシリコン基板にポリ(ビニルベンジル
トリエチルアンモニウム)−TCNQ錯塩のシクロヘキ
サノン溶液を塗布し、走査電子ビームによりパターン化
し、現像し、そしてリンスしてレジストパターンを形成
させる。このタイプのポリマー放電層は有機溶剤によっ
てのみ除去できるものであり;溶剤現像性のものには適
しているが水性塩基現像性のレジスト系には適していな
い。
【0005】ワタナベとトドコロ両氏〔IEEE Trans. of
Electron Devices, 36, 474, (1989)〕は、ポリ(p−
スチレンスルホネート)の水溶性導電層を使用する、E
−ビーム直接ウエハー書き込み法を説明している。この
ポリマー放電層は通常の露光前にE−ビームレジスト面
に付与され、その後除去され、そしてこのE−ビームレ
ジストを現像する。両氏はこのポリ(p−スチレンスル
ホネート)水溶性導電層を使用後に「0.2μmの誤差
(E−ビームの精度に)がなお残存する」と述べてい
る。ポリ(p−スチレンスルホネート)は偏在されたパ
イシステム中の電子移動によるよりむしろイオンの移動
により電荷を移動させ、そして導電層としてのその性能
はこの機構により自ずと制限される。
【0006】Angelopoulos氏他〔J. Vac. Sci. Techno
l. B7, 1519〜1523 (1989)〕は、イメージング用のレ
ジストの下側に塗布した未置換ポリアニリンからなる電
子ビームリソグラフのための放電層を示している。ポリ
アニリンは非導電性の形で塗布され、個々のウエハーを
酸の中に6時間漬けるかまたはUV光に対して露光する
ことにより活性化する。これはレジストの下側でのみ使
用される。
【0007】Patil氏他〔J. Am. Chem. Soc. 109, 1858
(1987)〕は、エレクトロ重合を用いるポリ3−(4−
ブタンスルホネート)チオフェンとポリ3−(2−エタ
ンスルホネート)チオフェンのナトリウム塩および酸の
形のものの合成を説明している。このポリマーはブロム
による処理後に約10 S/cmの導電性をもつと述べら
れている。このポリマーの有用性については論じられて
いない。
【0008】YueとEpstein両氏〔J. Am. Chem. Soc. 11
2, 2800 (1990)〕は、スルホン酸環置換ポリアニリンの
合成を述べている。このポリマーは固体をpH7またはこ
れ以下の水溶液と平衡としたとき0.1 S/cmの導電率
を有している。水溶液が塩基性(>pH7)となったと
き、ポリマーは溶解するが、同時に非導電性の形に変化
してしまう。このポリマーの有用性も論じられていな
い。
【0009】Bergeron氏他〔J. Chem. Soc. Chem. Com
m. 1990, 180〕は、ポリ(アニリンプロパンスルホン
酸)の合成を説明しており、このナトリウム塩は10-5
S/cmの電気伝導性を示している。著者はこのナトリウ
ム塩はN−メチルピロリドン溶液から各種の基板上にフ
ィルムとして塗布できると述べている。
【0010】米国特許第4,025,704号およびその
分割の同第4,025,691号と同第3,963,498
号は、有機溶剤中に可溶性でかつ10-3〜109オーム
/cm間の抵抗値をもつポリアニリン半導体を示してい
る。この半導体はフィルムとしてキャストすることがで
き帯電防止フィルムとして有用であるといわれ、そして
抵抗器、キャパシター、整流器およびトランジスターな
どの製作に用いることができる。末端基を除いて、この
ポリアニリンは未置換である。
【0011】米国特許第4,889,659号は、バッテ
リーの電極として使用するための〔NH−(CH=CH)
nxの式をもつ「窒素化された電子伝導性ポリマー」を
示している。その他多くの有用性が示唆されている。
【0012】米国特許第4,526,706号はラテック
スの存在下に分散物を作ることによる、水性システムで
の導電性フィルムの調製にポリアニリンを用いる一方法
を示している。
【0013】米国特許第4,629,540号はフッ化物
アニリンの存在下に超酸中で適切なモノマーの酸化によ
りポリアニリンを作る方法を示している。
【0014】このように、荷電粒子ビームからの荷電粒
子の衝突により誘電体材料上に発生する、電気的帯電を
消失させるため誘電体材料の表面に容易に付与すること
のできる、水性塩基可溶性の組成物についての必要性が
いまも存在するのである。
【0015】
【発明の開示】本発明の1つの目的は、荷電粒子ビーム
からの荷電粒子の衝突により誘電体材料上に発生する、
電気的帯電を消失させるため誘電体材料の表面に容易に
付与することのできる、水性塩基可溶性の組成物を提供
することである。
【0016】さらに本発明の目的は、それが付与をされ
る水性塩基に不溶性の表面を変化させることなしに、除
去することができる帯電消失用の組成物を提供すること
である。
【0017】さらに本発明の目的は、誘電体材料が塩基
可溶性のレジストである場合に、帯電消失用組成物の除
去とレジストの現像とが一工程で達成できるような組成
物を提供することである。
【0018】本発明の別の目的は、帯電消失用組成物に
用いることのできる塩基可溶性の電気伝導性ポリマーを
提供することである。
【0019】いま1つの目的は、金属的な帯電消失層を
備える必要がない電子ビームリソグラフの精度を改善す
る一方法を提供することである。
【0020】組成物としての見地において、本発明は荷
電粒子ビームから蓄積される電荷を消失させるために、
置換および未置換のポリパラフェニルビニレン、ポリア
ニリン、ポリアジン、ポリチオフェン、ポリ−p−フェ
ニレンサルファイド、ポリ−p−フェニレンオキサイ
ド、ポリフラン、ポリピロール、ポリセレノフェンおよ
びポリアセチレンからなる群より選ばれた電気伝導性
の、水性塩基可溶性のポリマーまたはオリゴマーの15
〜100%から構成される組成物に関するものである。
ポリアニリンとポリチオフェンとが好ましい。もっとも
好ましいものはポリ(o−ヒドロキシアニリン)とポリ
〔3−(2−エタンスルホネート)チオフェン〕であ
る。
【0021】化合物としての見地において、本発明は特
に以下の式をもつ電気伝導性ポリマーまたはオリゴマー
に関するものである。
【0022】
【化4】 ここでRはOH、OCH3またはCOOH;R1は水素ま
たは低級アルキル;Qは水素または低級アルキル;yは
0〜1間の数;xは4〜1,100の数;そしてA-はア
ニオンである。
【0023】RがOHでQが水素の化合物が好ましい。
特に好ましいものは、R1が水素、yが0.4〜0.6、
xが50〜750そしてA-がBr-である。
【0024】方法の見地において、本発明は次の式のポ
リマーを作るために、
【化5】 以下の式のポリマーと48%臭化水素酸とを反応させる
ことからなる方法に関するものである。
【0025】
【化6】
【0026】さらに方法の見地において、本発明はメチ
ルω−(3−チエニル)アルキルスルホネートを不活性
溶媒、好ましくニトロメタン中で約2〜約3当量の塩化
第2鉄と反応させることからなる、以下の式のポリチオ
フェンを調製するための方法に関するものである。
【0027】
【化7】 ここでtは4〜6,100の整数、そしてpは1〜4の
整数である。
【0028】さらになお方法の見地において、本発明は
誘電体表面上に衝突する荷電粒子ビームの精度を改善す
るため、水性塩基可溶性の、置換および未置換ポリパラ
フェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリチ
オフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ−
p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロー
ル、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンからなる群
より選ばれた非金属性の、電気伝導性材料を、前記表面
の少なくとも一部に付与することからなる方法に関する
ものである。
【0029】荷電粒子ビームの精度の点で特に興味をも
たれるものの1つは、以下のことから構成される電子ビ
ームリソグラフ法である: (a) 基板にレジスト、好ましく水性塩基現像可能な
レジストの少なくとも1つの層を被覆し; (b) 水性塩基可溶性の置換および未置換のポリパラ
フェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリチ
オフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ−
p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロー
ル、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンからなる群
より選ばれた非金属性の電気伝導性材料、好ましくポリ
(o−ヒドロキシアニリン)により前記レジスト層の少
なくとも一部分を被覆し; (c) 前記レジストとその上の前記非金属性の電気伝
導性材料とをもつ前記基板を電子ビームに照射し、前記
非金属性材料は電荷の蓄積を実質上防止し;そして (d) 前記非金属性材料を除去し、前記レジストを現
像する。
【0030】本発明の目的のため、低級アルキルとは6
個またはそれ以下の炭素をもつ直鎖または分岐鎖炭化水
素残基を意味している。可溶性とは0.01重量%以上
の溶解度をもつことを意味する。導電性とは、0.2μ
mの厚さの層が標準的な4点プローブ法で測定したとき
に、10-3 S/cm以上の導電率を示すことを意味して
いる。
【0031】〔発明の実施のための最良の態様〕現在使
用されている進歩したレジスト系は大部分水性塩基現像
可能なものである。本発明の水性塩基可溶性の放電層を
レジストの表面上に塗布したとき、この放電層はレジス
トの像が現像されるのと同時に除去することができる。
このことは工程を簡素化し、それ故これは導電層の好ま
しい配置である。ポリマー放電層は、レジスト上にポリ
マー溶液をスピン塗布できるようにするため、水中に可
溶性であることが好ましい。放電層の厚みは0.1〜0.
2μmの範囲が最適である。
【0032】本発明によれば、ホトレジストの荷電粒子
ビーム(イオンビーム、電子ビーム)露光の際に使用する
水性塩基現像可能な放電層に、水性塩基に溶解性の置換
基を含有する電気伝導性ポリマーからなるものが提供さ
れる。ここで用いられる導電性ポリマーはパイ共役系を
含んでいる。ポリマーのチェーンの長さに限度はなく、
長いチェーンの高分子量のポリマー、あるいは4〜5個
のくり返し単位を含む短いチェーンのオリゴマーである
ことができる。導電状態において、これらのポリマーは
ポリマーのチェーン上で電荷を保持し、そしてドーパン
トはその存在がパイ共役系の拡張を起こさせるカウンタ
ーイオンとして作用する。
【0033】パイ共役系は分子全体に及んでいる必要は
ない。個々の分子のパイ共役系が隣接分子中のパイ共役
系の一部と重なり合うことができるのが必要なだけであ
る。そこで、導電性ポリマーと絶縁性ポリマーとのコポ
リマー、または導電性ポリマーと絶縁性ポリマーとの混
合物も、本発明に従って機能するであろうことは当業者
に明らかである。ここで述べたドーパントは遊離のイオ
ンまたは置換基としてポリマーに結合しているイオンで
ある。これらはモノイオン、ジイオン、トリイオンであ
り、ポリイオンであってもよい。
【0034】本発明の実施に際し有用なポリマーの1つ
のタイプは以下の式をもつ置換ポリアニリンである:
【化8】 ここでRとQの少なくとも1つは水性塩基可溶性の成分
を有している。R、R1およびQは独立的に水素、有機
または無機の基を示し;xは4〜1,100、好ましく
50〜750でありそしてyは0〜1の値を有してい
る。有機基の例はアルキルまたはアリール基である。無
機の基の例はSiとGeである。これは単に例示であっ
て限定するものではない。もっとも好ましい具体例は、
yが0.5の値をもつポリアニリンのエメラルド色の塩
基形のものである。
【0035】前記の式とこれに従う類似のものの局部的
な電荷と局部的の2重結合とは簡易化して書かれてい
る。実際電荷は、区別不可能なように窒素原子がイミン
とアミンとになって、窒素原子と芳香環とを通じて分布
しているのである。導電性状態において、Qは隣接窒素
をカチオン性とするような残基で、たとえば、Qは低級
アルキル、Cu++のような金属、または水性塩基可溶性
化成分をもつアルキル基である。好ましくはQはHであ
る。水性塩基可溶性化成分の例は−OH、または−CO
-+、または−SO3 -+であり、ここでM+はH+
Na+、K+、NH4 +、または(Me)4+などである。−
COO-または−SO3 -が存在するとき、これらはカウ
ンターアニオンとなり、ポリマーは自体ドープされる。
これらの置換基はポリマーを適切な導電性にドープする
のに充分かも知れないし、また遊離のカウンターアニオ
ンが必要であるかも知れない。非アニオン性の水性塩基
可溶性化置換基が存在するときは、ドーパントとして遊
離のアニオンを必要とする。遊離アニオンの実例は:C
3SO3 -、C65SO3 -、SO4 --、NO3 -、Cl
4 -、BF4 -、Cl-、Br-、I-、AsF6 -、SbF6
-、FeCl4 -、SnCl6 -、ポリアクリレートおよび
ポリ(ベンゼンスルホネート)などである。
【0036】大部分の水性塩基可溶性のポリマーはまた
中性あるいは酸性の水中に可溶性である。導電性のポリ
マーは水溶性でかつスピン塗布可能であることが好まし
い。もしポリマーが不溶性または限定された溶解性をも
つときは、この伝導性ポリマーは水溶性の絶縁性ポリマ
ーと混合することができる。意味のある導電性を達成す
るために、導電性ポリマーの割合は全量の15%以上で
あることが好ましい。この量以上で、導電性ポリマーの
チェーンが互に重なり合うチャンスが充分に高くなり、
層の適切な導電性が保証される。
【0037】絶縁性ポリマーと導電性ポリマーとの使用
は、低い水溶性をもつ導電性ポリマーに対し限られるも
のではなく、この利点は高い溶解性をもつ導電性ポリマ
ーでも同様に得ることができる。水溶性の絶縁性ポリマ
ーの例はポリスチレンスルホン酸、ポリアクリル酸、ポ
リビニルアルコール、ポリエチレンオキサイド、ポリビ
ニルピロリドン、ポリメタクリル酸およびカルボキシメ
チルセルローズなどである。
【0038】本発明においてポリチオフェンを使用する
こともできる。ポリチオフェンは以下の一般式をもち、
ここでtは4〜6,100の整数;R2aとR2bはHまた
は有機あるいは無機の基;そしてR2の少なくとも1つ
は水性塩基可溶性化成分を含むものである。
【0039】
【化9】
【0040】ポリチオフェンはポリアニリンよりも高い
酸化電位をもつことが知られている。水性塩基可溶性の
伝導性ポリチオフェンはしばしば、荷電ビーム露光の際
の像の歪みを防ぐため、捕らえられている電荷のすべて
を消失させるのに充分なほど導電性ではない。この場
合、導電性を補強するために水溶性の酸化剤が用いられ
る。この手法は導電性ポリマーのすべてについて有効に
実行することができる。酸化剤の例は過硫酸アンモニウ
ム、過酸化水素、塩化第2鉄および過塩素酸などであ
る。
【0041】本発明の実施に際して有用なポリパラフェ
ニルビニレンは以下の一般式を有している:
【化10】 ここでsは4〜4,900の整数;R3はHまたは有機あ
るいは無機の基で、各R 3は同一または異なることがで
き、少なくとも1つのR3は水性塩基可溶性化成分を有
している。
【0042】本発明の実施に際して有用なポリピロール
は以下の一般式を有している:
【化11】 ここでwは4〜7,500の整数;R4はHまたは有機あ
るいは無機の基で、各R 4は同一または異なることがで
き、少なくとも1つのR4は水性塩基可溶性化成分を有
している。
【0043】本発明の実施に際して有用なポリフランは
以下の式を有している:
【化12】 ここでzは4〜7,600の整数;各R5はHまたは有機
あるいは無機の基で、各R5は同一または異なることが
でき、少なくとも1つのR5は水性塩基可溶性化成分を
有している。
【0044】本発明の実施に際して有用なポリセレノフ
ェンは以下の一般式を有している:
【化13】 ここでvは4〜4,000の整数;各R6はHまたは有機
あるいは無機の基で、各R6は同一または異なることが
でき、そして少なくとも1つのR6は水性塩基可溶性化
成分を有している。
【0045】本発明の実施に際して有用なポリアジンは
以下の一般式を有している:
【化14】 ここでnは4〜9,700の整数;R7はHまたは有機あ
るいは無機の基で、各R 7は同一または異なることがで
き、そして少なくとも1つのR7は水性塩基可溶性化成
分を有している。
【0046】本発明の実施に際して有用なポリチオフェ
ン、ポリフラン、ポリピロールおよびポリセレノフェン
の組み合わせの実例は以下の式により示される:
【化15】 ここでR2、R4、R5およびR6は前の定義のとおり;
a、b、cおよびdの少なくとも2つは1またはそれ以
上であり;mは4〜7,500の整数そしてQ1、Q 2
よびQ3はビニレン基または隣接成分間の直接結合であ
る。
【0047】本発明の実施に際して有用なポリ−p−フ
ェニレンサルファイドは以下の一般式を有している:
【化16】 ここでfは4〜4,700の整数;R8はHまたは有機あ
るいは無機の基で、各R 8は同一または異なることがで
き、そして少なくとも1つのR8は水性塩基可溶性化成
分を有している。
【0048】本発明の実施に際して有用なポリ−p−フ
ェニレンオキサイドは以下の一般式を有している:
【化17】 ここでgは4〜5,500の整数;R9はHまたは有機あ
るいは無機の基で、各R 9は同一または異なることがで
き、そして少なくとも1つのR9は水性塩基可溶性化成
分を有している。
【0049】本発明の実施に際して有用なポリアセチレ
ンは以下の一般式を有している:
【化18】 ここでhは4〜12,500の整数;R10はHまたは有
機あるいは無機の基で、各R10は同一または異なること
ができ、そして少なくとも1つのR10は水性塩基可溶性
化成分を有している。
【0050】本発明の第1の面は水性塩基現像可能なレ
ジスト系用のポリマー放電層の提供である。本発明のポ
リマーはレジスト上に水性溶液からスピン塗布される。
レジストを荷電粒子ビームによって露光した後、放電層
は水性塩基にさらすことによりレジストが現像されるの
と同時に除去される。
【0051】水性塩基可溶性の放電層は、また有機溶剤
現像可能なレジスト系にも好都合に使用することができ
る。この場合ポリマー放電層は、レジスト画像が有機溶
剤により現像される前に水または水性塩基によってとり
除かれる。しかしながら、水性溶液はレジスト上に放電
層をスピン塗布する工程中、レジストに何の妨害もしな
いということは明白な利点である。そこで、本発明の第
2の面は有機溶剤現像可能なレジスト系用のポリマー放
電層の提供である。
【0052】さらに本発明の第3の面は電子顕微鏡のた
めの可溶性放電層の提供である。この場合に、観察をさ
れる物体は前述のように導電性ポリマーを塗布され、そ
して観察後この放電層はポリマーの溶解によりとり除か
れる。物体はその後の利用のために回収される。この可
溶性放電層の使用は、観察をされる物体がその後の利用
のため不適切なものとされないため、金属性の伝導体を
利用する可視化方法より大きな著るしい改善を与えるの
である。
【0053】〔実施例1〕メチル2−(3−チエニル)
エタンスルホネートを、A.O. Patil氏他〔J. Am.Chem.
Soc. 109, 1858 (1987)〕により報告されたようにして
2−(3−チエニル)メタノールから合成した。この
「モノマー」は、文献中で報じられている低収量の電気
化学的な方法の代わりに開発された、化学的重合法によ
り重合させた。ニトロメタン中の2.3当量の塩化第2
鉄溶液を、ニトロメタン中1当量のメチル2−(3−チ
エニル)エタンスルホネートに対して撹拌しながら0℃
で添加した。添加終了後、ゆっくりと周囲温度にまで温
めて反応させ、そして反応を一晩継続させた。ついでこ
の溶液をエーテルで希釈し、黒色沈殿のポリマー生成物
を濾別した。
【0054】このスルホニルエステルポリマーは、前記
の文献中で報じられているように、アセトン中のヨウ化
ナトリウムを用いてナトリウム塩に変化させた。メチル
2−(3−チエニル)エタンスルホネートモノマーから
の、ポリ3−(2−エタンスルホネート)チオフェンナ
トリウム塩の収率は90%以上であった。酸型のポリマ
ーは、ポリマーのナトリウム塩水溶液を、アンバーライ
トIR 120のような強酸イオン交換樹脂中を通過さ
せて得ることができる。ポリマーのアンモニウム塩は、
このポリマーの酸溶液をアンモニウムヒドロオキサイド
で中和することにより得ることができる。
【0055】〔実施例2〕ポリアニシジンは、Huang氏
他〔J. Chem. Soc. Faraday Trans. 1, 82, 2385(198
6)〕と類似の方法により調製した。アニシジン(o−メ
トキシアニリン)は過硫酸アンモニウムの存在下に水性
の酸性媒体中で重合させた。ポリアニシジン塩はアンモ
ニウムヒドロオキサイドで処理することにより塩基性の
形に変えられた。ポリマー収率は15〜25%であっ
た。
【0056】ポリヒドロキシアニリンはポリアニシジン
のエーテル開裂により得られる。ボロントリブロマイ
ド、トリメチルシリコンアイオダイド、ピリジンヒドロ
クロライドおよびピリジンヒドロブロマイドなどを使用
した実験では、部分的な塩基可溶性の物質を与えるだけ
であった(多分不完全なエーテル開裂のため)。完全な
塩基可溶性のポリ(o−ヒドロキシアニリン)は、48
%臭化水素酸でポリアニシジンのエーテル基を開裂する
ことにより得られた。
【0057】ポリアニシジン塩基を48%臭化水素酸中
でスラリーとし、撹拌しながら一晩還流した。粉末は甚
だしく粘性となり濾過するのが著るしく困難となった。
この酸と固体との混合物を水と大量のアセトンとで希釈
し、固体を濾別し吸引して乾かした。乾燥ポリマーの収
量は40〜60%で、このものはKOH現像液およびテ
トラメチルアンモニウムヒドロオキサイド現像液中に可
溶性である。純水中では非常に低い溶解度を有してい
る。
【0058】〔実施例3〕実施例2の方法に従って、ポ
リカルボキシアニリンを、メチルアンスラニレートから
重合により作ったものを、ついでアルコール性水酸化カ
リウムによるメチルエステルのケン化により合成するこ
とを行った。
【0059】〔実施例4〕対照 E−ビーム露光中のレジスト上の帯電効果を試験するた
めに、Angelopoulos氏他〔J. Vac. Sci. Technol. B7,
1519〜1523 (1989)〕により述べられたようにして「ホ
ンタス(Hontas)放電テスト」を行った。このテストは
25Kevで25μC/cm2の作用量で行った。簡単に、こ
のテストは以下のようにして行われる:
【0060】電子ビームを右から左に、ついで左から右
にと連続的な方式で移動させる。このビームは1つの5
mmウエハー上の2つのチップの各々の上に400個の小
正方形(2×2μm)を書き込む。この正方形は両方向
に250μm離れて位置しており、6.4×10-3%の
密度を与えている。密度が低いためこれらの正方形上に
帯電は生じない。ついで電子ビームは上部の右すみに移
動し、そして2μmの各小正方形のまわりの10μm角
を除く全チップ面の露光を開始する。このパターンは9
9.85%の密度を有している。
【0061】このテストにおいて、内側の正方形は参照
として作動する。帯電効果がないとき、2μmの正方形
は10μm角の中央に常に位置するであろう。もしレジ
スト上に帯電効果があるならば、2μm正方形は中央か
らずれて現われるであろう。一般に、上部右すみの最初
の正方形は小さな露光区域により帯電からの効果が非常
に少ないことを示している。一方、下部左すみにある最
後の正方形(第400番目)は露光区域の高い密度によ
る帯電に強く影響されよう。10μm角の中心からの2
μm正方形のずれはレジスト上の帯電の程度を示してい
る。この帯電現象はレジスト上に捕捉された電子からの
結果、表面上に電位の蓄積が始まるものと考えられる。
このネガチブの電場はついで決められた目標点から電子
ビームをそらすように反発し、その結果レジスト上の画
像パターンを歪ませることになる。
【0062】対照として、多層レジスト系でE−ビーム
放電をテストした。5000オングストロームのSiO
2層をシリコンウエハーの表面上に熱的に生成させた。
このSiO2の表面上に平滑層として2.8μmのAZ
4210レジストをスピン塗布し、230℃で30分間
ベークした。この硬くベークしたAZ 4210ホトレ
ジストの表面上に、1μmのジアゾナフトキノン−ノボ
ラックポジチブレジストをスピン塗布し、85℃で30
分間ベークした。このイメージレジスト上に放電層は設
けなかった。ついで、このレジストについて「ホンタス
放電テスト」を行った。
【0063】このレジストは0.255N KOH現像液
中で9.5分現像をした。最後の2μm正方形の画像は
10μm角の中心から著るしくずれていた。この像の歪
みはレジスト表面上の強い帯電によるものである。中心
からの2μm正方形のずれはほぼ5μmである。この実
験を放電テスト用の対照例にする。
【0064】〔実施例5〕ポリ(o−ヒドロキシアニリ
ン)は蒸留水中で非常に限定された溶解度しか持たない
が、溶液に対して等量のポリビニルアルコールを加える
ことにより水中に溶解させることができる。シエレック
R(エトキシル化イソステアリルアルコール)および
テトロニックR(エチレンジアミンとエチレンオキサイ
ドおよびプロピレンオキサイドのブロックコポリマー)
のようなポリエーテル界面活性剤は、水中でのこのポリ
マーの溶解を改良すると思われるが、ポリビニルアルコ
ールほど効果的ではない。水中の1.2%ポリ(o−ヒ
ドロキシアニリン)と1.2%ポリビニルアルコールと
の組成物を、実施例4で述べたような多層レジスト系の
表面上にスピン塗布した。
【0065】2500rpmで約1000オングストロー
ムの放電層のうすい塗膜が得られた。この放電層の導電
率は約0.1 S/cmであった。ウエハーを90℃で1分
間熱板でベークし、そして「ホンタス放電テスト」(実
施例4)を行った。現像したレジストは像の歪みを何等
示さなかった。2μm正方形は10μm角の中心にとど
まっていた。これは表面上に導電性ポリマーのうすい層
を付与したとき、レジスト表面上に帯電が生じないこと
を示している。
【0066】〔実施例6〕実施例4および5と同様のテ
ストを、対照と対照の表面上に放電層をもつものの両方
で、25℃において50KeVを使用して行った。テスト
の領域は50KeV用ツールの3.46×3.46mmのチッ
プ上の5×5μm区画中の1×1μm正方形に縮小させ
た。放電層のないレジストは25KeVでのときよりも5
0KeVで像のずれは小さかったが、放電層をもつ試料と
対照との間の差はなお著るしくまたレジストの表面上に
帯電のないことが示された。
【0067】〔実施例7〕実施例1で説明したようにし
て合成した、ポリ3−(2−エタンスルホネート)チオフ
ェンの酸型とアンモニウム塩型の両者は、4プローブ法
で測定して10-3S/cm以下の導電率を示した。このポ
リマーをそこで以下のように過硫酸アンモニウムで処理
した:前記ポリマーの水中4.375重量%のサスペン
ションに対して、過硫酸アンモニウムの0.125重量
%を加え最終の全固体含有量を4.5%とした。この水
溶液を実施例4で述べたようにして多層レジストの表面
上にスピン塗布した。スピン速度は2000rpm、レジ
ストの厚みは1200オングストロームである。ポスト
ベークは熱板上90℃で1分間行った。この酸化された
ポリマーは10-2〜10-1 S/cm間の導電率を示し
た。E−ビーム露光は実施例4で述べたように行った。
最終レジスト像は中心からの像のずれを示さなかった。
換言すれば、レジスト上の帯電作用は認められなかっ
た。
【0068】安定性のテストとして、このチオフェンポ
リマーを水性溶液中塩化第2鉄の存在下に1週間放置
し、ついでアンモニウム塩の形に変換しそして微量の硫
酸を添加した。このポリマーから調製したウエハーにつ
いてのホンタス放電テストでは再び帯電作用のないこと
が示された。
【0069】〔実施例8〕ポリ(エトキシアニリン)は
水−アセトン混合液中に可溶性であるが、水性塩基中に
は溶解しない。ポリ(エトキシアニリン)から調製され
た多層レジスト系は、ホンタス放電テストに合格するほ
ど充分に導電性ではなく、またこの層は塩基性現像液に
よって除去されない。
【0070】〔実施例9〕YueおよびEpstein両氏(前
出)のスルホン化されたポリアニリンは、その非導電性
塩基の形においてのみ可溶性である。アンモニウムヒド
ロオキサイド溶液から、このポリマーを塗布しようとす
る試みは一様な塗膜を与えなかった。
【0071】〔実施例10〕ワタナベとトドコロ両氏の
ポリスチレンスルホネートアンモニウム塩を多層レジス
ト系の表面上に被覆し、そして実施例4で述べたように
してテストをした。2μm正方形の像は10μm角の中
心から2〜4μmずれていた。このことは帯電作用が減
少はするが除去されてはいないことを示し、ポリマーが
イオン的の機構によってのみ伝導することから予想され
た通りである。
【0072】本発明をその好ましい具体例を参照して特
に示しかつ説明をしたが、本発明の精神と目的から逸脱
することなしに、その態様の変更をなし得ることが当業
者に理解されよう。
【0073】以上、本発明を詳細に説明したが、本発明
はさらに次の実施態様によってこれを要約して示すこと
ができる。
【0074】1) 置換および未置換のポリパラフェニ
ルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリチオフェ
ン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ−p−フ
ェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロール、ポリ
セレノフェンおよびポリアセチレンからなる群より選ば
れた電気伝導性で、水性塩基可溶性のポリマーまたはオ
リゴマーの15〜100%を包含する、荷電粒子ビーム
からの蓄積された電荷を消失させるための組成物。 2) ポリマーまたはオリゴマーがポリアニリンまたは
ポリチオフェンである、前項1に記載の組成物。 3) ポリアニリンがポリ(o−ヒドロキシアニリン)
である、前項2に記載の組成物。 4) ポリチオフェンがポリ〔3−(2−エタンスルホ
ネート)チオフェン〕である、前項2に記載の組成物。
【0075】5) 以下の式を有するものである電気伝
導性ポリマーまたはオリゴマー。
【化19】 ここでRはOH、OCH3またはCOOH;R1は水素ま
たは低級アルキル;Qは水素または低級アルキル;yは
0〜1の数;xは4〜1,100の数;そしてA-はアニ
オンである。 6) QがHでありまたRがOHである、前項5に記載
のポリマー。 7) R1が水素、yが0.4〜0.6、xが50〜75
0そしてA-がBr-である、前項6に記載のポリマー。
【0076】8) 以下の式のポリマーを48%臭化水
素酸と反応させることからなる、前項6に記載のポリマ
ーを調製するための方法。
【化20】 9) メチルω−(3−チエニル)アルキルスルホネー
トを不活性溶媒中で約2〜約3当量の塩化第2鉄と反応
させることからなる、以下の式のポリチオフェンを調製
するための方法。
【化21】 ここでtは4〜6,100の整数そしてpは1〜4の整
数である。
【0077】10) 水性塩基可溶性で、置換および未
置換のポリパラフェニルビニレン、ポリアニリン、ポリ
アジン、ポリチオフェン、ポリ−p−フェニレンサルフ
ァイド、ポリ−p−フェニレンオキサイド、ポリフラ
ン、ポリピロール、ポリセレノフェンおよびポリアセチ
レンからなる群より選ばれた非金属性の、電気伝導性材
料を前誘電体表面の少なくとも一部に付与することから
なる、誘電体表面上に衝突する荷電粒子ビームの精度を
改善するための方法。 11)(a) 基板にレジストの少なくとも1つの層を
塗布し; (b) 水性塩基可溶性で、置換および未置換のポリパ
ラフェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリ
チオフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ
−p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロー
ル、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンからなる群
より選ばれた非金属性の、電気伝導性材料によって、前
記レジスト層の少なくとも一部分を被覆し; (c) 前記レジストとその上の前記非金属性の電気伝
導性材料とをもつ前記基板を電子ビームに照射し、前記
非金属性材料は電荷の蓄積を実質上防止し;そして (d) 前記非金属性材料を除去し、前記レジストを現
像することからなる電子ビームリソグラフ方法。 12) 前記レジストが水性塩基現像可能なレジストで
あり、また前記の非金属性材料がポリ(o−ヒドロキシ
アニリン)である、前項11に記載の方法。
フロントページの続き (72)発明者 ラニー・ダブリユー・クウオン アメリカ合衆国ニユーヨーク州12590.ウ オツピンガーズフオールズ.マイナドライ ブ31 (72)発明者 ジエラルド・ジヨゼフ・ロス アメリカ合衆国ニユーヨーク州12603.ポ キープシ.パビンシヤルプレイス1 (72)発明者 ハーバンズ・エス・サクデブ アメリカ合衆国ニユーヨーク州12533.ホ ープウエルジヤンクシヨン.フエアビユー ドライブ23

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 置換および未置換のポリパラフェニルビ
    ニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリチオフェン、
    ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ−p−フェニ
    レンオキサイド、ポリフラン、ポリピロール、ポリセレ
    ノフェンおよびポリアセチレンからなる群より選ばれた
    電気伝導性で、水性塩基可溶性のポリマーまたはオリゴ
    マーの15〜100%を包含する、荷電粒子ビームから
    の蓄積された電荷を消失させるための組成物。
  2. 【請求項2】 以下の式を有するものである電気伝導性
    ポリマーまたはオリゴマー。 【化1】 ここでRはOH、OCH3またはCOOH;R1は水素ま
    たは低級アルキル;Qは水素または低級アルキル;yは
    0〜1の数;xは4〜1,100の数;そしてA-はアニ
    オンである。
  3. 【請求項3】 以下の式のポリマーを48%臭化水素酸
    と反応させることからなる、請求項2に記載のポリマー
    を調製するための方法。 【化2】
  4. 【請求項4】 メチルω−(3−チエニル)アルキルス
    ルホネートを不活性溶媒中で約2〜約3当量の塩化第2
    鉄と反応させることからなる、以下の式のポリチオフェ
    ンを調製するための方法。 【化3】 ここでtは4〜6,100の整数そしてpは1〜4の整
    数である。
  5. 【請求項5】 水性塩基可溶性で、置換および未置換の
    ポリパラフェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジ
    ン、ポリチオフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイ
    ド、ポリ−p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポ
    リピロール、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンか
    らなる群より選ばれた非金属性の、電気伝導性材料を前
    誘電体表面の少なくとも一部に付与することからなる、
    誘電体表面上に衝突する荷電粒子ビームの精度を改善す
    るための方法。
  6. 【請求項6】 (a) 基板にレジストの少なくとも1
    つの層を塗布し; (b) 水性塩基可溶性で、置換および未置換のポリパ
    ラフェニルビニレン、ポリアニリン、ポリアジン、ポリ
    チオフェン、ポリ−p−フェニレンサルファイド、ポリ
    −p−フェニレンオキサイド、ポリフラン、ポリピロー
    ル、ポリセレノフェンおよびポリアセチレンからなる群
    より選ばれた非金属性の、電気伝導性材料によって、前
    記レジスト層の少なくとも一部分を被覆し; (c) 前記レジストとその上の前記非金属性の電気伝
    導性材料とをもつ前記基板を電子ビームに照射し、前記
    非金属性材料は電荷の蓄積を実質上防止し;そして (d) 前記非金属性材料を除去し、前記レジストを現
    像することからなる電子ビームリソグラフ方法。
JP25934892A 1991-10-31 1992-09-29 E−ビームレジスト用の塩基現像可能な放電トップ層 Pending JPH05226238A (ja)

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