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JPH05218154A - Socket for ic - Google Patents

Socket for ic

Info

Publication number
JPH05218154A
JPH05218154A JP4040699A JP4069992A JPH05218154A JP H05218154 A JPH05218154 A JP H05218154A JP 4040699 A JP4040699 A JP 4040699A JP 4069992 A JP4069992 A JP 4069992A JP H05218154 A JPH05218154 A JP H05218154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
contact
contacts
socket
holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4040699A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Noriharu Kurokawa
典治 黒川
Yasuhiro Ishikawa
康博 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AMP Japan Ltd
Original Assignee
AMP Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AMP Japan Ltd filed Critical AMP Japan Ltd
Priority to JP4040699A priority Critical patent/JPH05218154A/en
Publication of JPH05218154A publication Critical patent/JPH05218154A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide an IC socket suitable for burn-in test having a wiping mechanism for causing approximately matrixlike contacts to touch a number of contact points of an IC package stably and securely with simple construction. CONSTITUTION:An IC socket 100 is composed of a base clamp 10, a base housing 20, a matrixlike terminal assembly 30, a support housing 40, a holder 50, a spacer 70, and a locking plate 80. An IC package 60 is inserted into the center opening 51 of the holder 50 and held in place. The locking plate 80 is rotated keeping the contact points of the IC package 60 touching the contacts of the terminal assembly 30, and the holder 50 and the IC package 60 are moved mutually in the direction of a diagonal line, and wiping action of approximately uniform specified size is performed between each contact and each contact point.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はIC用ソケット、特に一
面に多数の接点がマトリクス状に配置されたICパッケ
ージをコンタクトと相互接続するIC用ソケットに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket, and more particularly to an IC socket for interconnecting an IC package having a large number of contacts arranged in a matrix on one surface with the contacts.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近の高性能電子機器及び電子応用機器
にはIC(集積回路)が多用されている。斯るICはシ
リコン等のサブストレート上に周知の手段で形成された
半導体回路をセラミック等の基板上に載置接続して、エ
ポキシ等の絶縁プラスチック材料で封止すると共に外部
回路と接続する為の多数のリード端子又は接点を有す
る。この種の半導体集積回路デバイスをここでは総称し
てICパッケージという。
2. Description of the Related Art ICs (integrated circuits) are widely used in recent high-performance electronic devices and electronic application devices. In such an IC, a semiconductor circuit formed by known means on a substrate such as silicon is mounted and connected on a substrate such as ceramic, sealed with an insulating plastic material such as epoxy, and connected to an external circuit. Of multiple lead terminals or contacts. This type of semiconductor integrated circuit device is generically referred to as an IC package here.

【0003】斯るICパッケージを電子機器・電子応用
機器等に実装する為、又は斯るICパッケージを実装す
る前に所期の性能で動作するか否かをテストするバーン
インテスト等の為にIC用ソケット(以下単にICソケ
ットという場合もある)を使用する。
An IC is used for mounting such an IC package on an electronic device, an electronic application device, or the like, or for a burn-in test for testing whether or not the IC package operates with desired performance before mounting the IC package. Socket (hereinafter sometimes simply referred to as an IC socket) is used.

【0004】斯るICソケットにあっては、そのコンタ
クトにICパッケージのすべての接点が安定且つ確実に
接触されることが必須である。さもなければ、ICパッ
ケージが異常動作又は動作不能となり、これを使用する
機器に致命的な欠陥ないし問題を生じることとなる。
In such an IC socket, it is essential that all the contacts of the IC package are in stable and reliable contact with the contacts. Otherwise, the IC package may malfunction or become inoperable, causing fatal defects or problems in the equipment using it.

【0005】バーンイン用ICソケットの従来例として
例えば特開平2-266276号に開示するものがある。この従
来のICソケットは絶縁ハウジングの矩形状凹部の内壁
に沿って多数の可動コンタクトを配置し、この凹部内に
外周に接点ないし接触端子が露出配置された略矩形状の
ICパッケージを挿入する。挿入時にはカバー部材を押
圧駆動してコンタクトを偏奇させ、ICパッケージの接
点とICソケットのコンタクト間の接続を容易にしてい
る。
A conventional example of a burn-in IC socket is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2-266276. In this conventional IC socket, a large number of movable contacts are arranged along the inner wall of a rectangular concave portion of an insulating housing, and a substantially rectangular IC package having contacts or contact terminals exposed on the outer periphery is inserted into the concave portion. At the time of insertion, the cover member is driven to be biased so that the contacts are biased to facilitate the connection between the contacts of the IC package and the contacts of the IC socket.

【0006】しかし、最近の如くICの集積度が増加す
ると、ICパッケージの外周のみに配置された接点では
不十分となり、ICパッケージの一面、一般には底面に
マトリックス状に配置した多数の接点を有するものが出
現している。
However, as the degree of integration of ICs has recently increased, contacts arranged only on the outer periphery of the IC package become insufficient, and a large number of contacts arranged in a matrix form on one surface of the IC package, generally on the bottom surface. Things are appearing.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述した如き高密度多
接点のICパッケージ用ICソケットは上述した如き従
来のICソケットを適用することが不可能である。ま
た、ICパッケージの接点に対応するコンタクトをマト
リックス状に配列したICソケットを使用すると、コン
タクト表面のホコリ又は酸化物層の為に良好な電気的接
触が得られない。特に厳しい環境で使用されるバーンイ
ンテスト用ICソケットにあってはこの問題は顕著であ
る。
It is impossible to apply the conventional IC socket as described above to the IC socket for IC package of high density multi-contact as described above. Further, when an IC socket in which contacts corresponding to the contacts of the IC package are arranged in a matrix is used, good electrical contact cannot be obtained due to dust or an oxide layer on the contact surface. This problem is remarkable in the burn-in test IC socket used in a particularly severe environment.

【0008】従って、本発明の目的は、一面に略マトリ
ックス状に配列された多数の接点を有するICパッケー
ジの接点と安定且つ確実に電気的に接触され且つ小型安
価に製造可能なICソケットを提供することである。
Therefore, an object of the present invention is to provide an IC socket which is stably and reliably electrically contacted with the contacts of an IC package having a large number of contacts arranged in a matrix on one surface and which can be manufactured at a small size and at a low cost. It is to be.

【0009】[0009]

【課題解決の為の手段】本発明のICソケットによる
と、ICソケットのコンタクト列にホルダ内に保持され
たICパッケージの接点を押圧接触させると共に、ホル
ダに外力を加えて例えば回転させ、ICパッケージとコ
ンタクト列とを両者の接触面方向に相互移動させるワイ
ピング手段を設ける。
According to the IC socket of the present invention, the contacts of the IC package held in the holder are pressed into contact with the contact row of the IC socket, and an external force is applied to the holder to rotate the IC package. Wiping means for moving the contact row and the contact row toward each other in the contact surface direction are provided.

【0010】この移動により、接触状態にあるコンタク
トと接点とが相互にワイピングされて両者間に安定且つ
確実な電気的接触が得られる。本発明の好適一実施例に
あっては、ICパッケージのホルダは略正方形のICパ
ッケージを受ける開口を有するステンレス鋼板で形成さ
れる。ロックプレートを回動することによりICパッケ
ージが対角線方向に揺動されてICソケットのコンタク
トとICパッケージの接点間にワイピング作用を生じさ
せる。また、外力を除くと、所定位置に自然に復帰し
て、ICパッケージの接点とICソケットの接点間を正
規位置で相互接続する。
By this movement, the contact and the contact in a contact state are wiped with each other, and stable and reliable electrical contact can be obtained between them. In a preferred embodiment of the present invention, the IC package holder is formed of a stainless steel plate having an opening for receiving the IC package in a substantially square shape. By rotating the lock plate, the IC package is oscillated in a diagonal direction to generate a wiping action between the contact of the IC socket and the contact of the IC package. Further, when the external force is removed, it naturally returns to a predetermined position, and the contacts of the IC package and the contacts of the IC socket are interconnected at the regular position.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明のICソケットの好適実施例
を、添付図を参照しながら詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the IC socket of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.

【0012】図1は本発明のICソケットの好適一実施
例の各構成素子の概略構造を示す分解斜視図である。本
発明の好適実施例によるICソケット100 はベースクラ
ンプ10、ベースハウジング20、多数の端子アセンブリ3
0、サポートハウジング40、ホルダ50、スペーサ70及び
ロッキングプレート80より構成される。このホルダ50内
にICパッケージ60が載置保持されるよう構成されてい
る。
FIG. 1 is an exploded perspective view showing a schematic structure of each constituent element of a preferred embodiment of an IC socket of the present invention. The IC socket 100 according to the preferred embodiment of the present invention includes a base clamp 10, a base housing 20, and a plurality of terminal assemblies 3.
0, support housing 40, holder 50, spacer 70, and locking plate 80. The IC package 60 is arranged and held in the holder 50.

【0013】ベースクランプ10は好ましくはステンレス
鋼板を折曲げ加工により形成される。被接続ICパッケ
ージ60の寸法に対応する所定寸法の略方形状の中心開口
14が形成される平坦な基部12を有する。この基部12に
は、開口14の四隅に対応して保持舌片16が形成される。
各保持舌片16は平坦な基部12に対して略垂直な立上がり
部及びその先端から外方へ延びる水平部から成る。
The base clamp 10 is preferably formed by bending a stainless steel plate. A rectangular center opening of a predetermined size corresponding to the size of the IC package 60 to be connected
It has a flat base 12 on which 14 is formed. On the base 12, holding tongues 16 are formed corresponding to the four corners of the opening 14.
Each holding tongue 16 comprises a rising portion that is substantially vertical to the flat base portion 12 and a horizontal portion that extends outward from its tip.

【0014】ベースハウジング20は略正方形の四隅を切
除して略8角形状にした絶縁板状体であって、中央に略
正方形の凹部21を有し、この凹部21の底面には後述する
如く端子アセンブリ30を受ける溝及び各端子32を押通す
る為の多数の貫通孔22が形成されている。また、凹部21
の外側且つ対角線上には1対の開口23、24が形成され、
夫々位置決めピン25、26が挿入固定される。このベース
ハウジング20はベースクランプ10上に載置される。即
ち、ベースハウジング20の四隅の切欠き部をベースクラ
ンプ10の保持舌片16に当接させて配置する。
The base housing 20 is an insulating plate-like body in which four corners of a substantially square shape are cut off to form a substantially octagonal shape, and has a substantially square concave portion 21 in the center thereof, and the concave portion 21 has a bottom surface as will be described later. A groove for receiving the terminal assembly 30 and a large number of through holes 22 for pressing the terminals 32 are formed. Also, the recess 21
A pair of openings 23, 24 are formed outside and diagonally of
Positioning pins 25 and 26 are inserted and fixed, respectively. The base housing 20 is mounted on the base clamp 10. That is, the cutouts at the four corners of the base housing 20 are placed in contact with the holding tongues 16 of the base clamp 10.

【0015】端子アセンブリ30は、図1の特定実施例で
は幅の狭い絶縁板31に1列の端子32を打込み又はインサ
ートモールドし、これを複数個並列に並べて必要数の端
子32を得ている。この端子アセンブリ30の絶縁板31には
複数列の端子32を形成してもよいこと勿論である。各端
子32は絶縁板31の上下両方に突出する直線状の上部分33
及び下部分34を有する。端子32の下部分34はベースハウ
ジング20の底面の貫通孔22に挿入され、ベースハウジン
グ20を貫通して例えば回路基板(図示せず)に接続され
る。
In the terminal assembly 30, in the specific embodiment shown in FIG. 1, a row of terminals 32 is punched or insert-molded on a narrow insulating plate 31, and a plurality of the terminals 32 are arranged in parallel to obtain a required number of terminals 32. .. Of course, a plurality of rows of terminals 32 may be formed on the insulating plate 31 of the terminal assembly 30. Each terminal 32 has a linear upper portion 33 protruding above and below the insulating plate 31.
And a lower portion 34. The lower portion 34 of the terminal 32 is inserted into the through hole 22 on the bottom surface of the base housing 20, penetrates the base housing 20, and is connected to, for example, a circuit board (not shown).

【0016】ベースハウジング20の凹部21内に所定数の
端子アセンブリ30を挿入した後、ベースハウジング20の
底面の貫通孔22と対応する貫通孔42を有する平板上のサ
ポートハウジング40を凹部21内に挿入する。即ち、複数
の端子アセンブリ30をベースハウジング20とサポートハ
ウジング40間にサンドイッチ状に配置する。このとき、
端子アセンブリ30の各端子32の上方部33はサポートハウ
ジング40の貫通孔42を貫通して上面から突出する。この
状態で必要に応じてサポートハウジング40の上面44から
突出する端子32の上部分33の先端を後述する如く水平に
折曲げて後述するコンタクト35を得ている。
After inserting a predetermined number of terminal assemblies 30 into the recesses 21 of the base housing 20, a flat plate support housing 40 having through holes 42 corresponding to the through holes 22 on the bottom surface of the base housing 20 is placed in the recesses 21. insert. That is, the plurality of terminal assemblies 30 are arranged between the base housing 20 and the support housing 40 in a sandwich shape. At this time,
The upper portion 33 of each terminal 32 of the terminal assembly 30 penetrates the through hole 42 of the support housing 40 and projects from the upper surface. In this state, the tip of the upper portion 33 of the terminal 32 protruding from the upper surface 44 of the support housing 40 is bent horizontally as described later to obtain a contact 35 described later.

【0017】次に、ホルダ50は好ましくはステンレス鋼
板を打抜き加工(スタンピング)により形成された平板
状部材である。全体形状はベースハウジング20と類似す
る。中央にICパッケージ60を受け入れる開口51を有す
る。この開口51の1つの隅に片持梁状の1対の弾性アー
ム52が形成され、その対角部には折れ曲った比較的狭い
連結腕53が形成される。これら両対角部には開口51から
離間した1対の弧状穴54、55が形成されている。この弧
状穴54、55と直交する対角部には1対の丸穴56、57が形
成されている。この丸穴56、57にベースハウジング20の
位置決めポスト25、26を挿通させてホルダ50を固定す
る。このホルダ50の開口51の弾性アーム52とこれに対向
するコーナー58間にICパッケージ60の対角部を位置合
せして保持する。
Next, the holder 50 is preferably a flat plate member formed by stamping a stainless steel plate. The overall shape is similar to the base housing 20. An opening 51 for receiving the IC package 60 is provided at the center. A pair of cantilever elastic arms 52 is formed at one corner of the opening 51, and a bent relatively narrow connecting arm 53 is formed at the diagonal portion. A pair of arc-shaped holes 54 and 55 spaced from the opening 51 are formed in these diagonal portions. A pair of round holes 56 and 57 are formed in a diagonal portion orthogonal to the arcuate holes 54 and 55. The holder 50 is fixed by inserting the positioning posts 25 and 26 of the base housing 20 into the round holes 56 and 57. The diagonal portion of the IC package 60 is aligned and held between the elastic arm 52 of the opening 51 of the holder 50 and the corner 58 facing the elastic arm 52.

【0018】スペーサ70はICパッケージ60が開口51内
に挿入保持されたホルダ50上に載置される。このスペー
サ70は中心開口71及び対角位置に略円弧状穴72、73を有
する。この穴72、73はホルダ50の弧状穴54、55と略等し
い形状寸法である。
The spacer 70 is placed on the holder 50 in which the IC package 60 is inserted and held in the opening 51. The spacer 70 has a central opening 71 and substantially arcuate holes 72, 73 at diagonal positions. The holes 72 and 73 have substantially the same shape and dimensions as the arcuate holes 54 and 55 of the holder 50.

【0019】最後に、ロッキングプレート80は略円形の
キャップ状部材であって、その底面に1対のピン81、82
が形成されている。このピン81、82は重ね合わせたホル
ダ50とスペーサ70の弧状穴54-55 及び72-73 内に挿入さ
れる。ここで、弧状穴54-55は開口51の中心を中心とす
る円とは異なる特別の形状に形成されていることに注目
されたい。従って、ロッキングプレート80を回動する
と、そのピン81、82が弧状穴54-55 の側面に接触する。
その結果、連結腕53に外力が加わり、コーナー58を略片
持梁状弾性アーム52が形成されたコーナーに向けて押圧
する。これにより、端子アセンブリ30の各コンタクト35
とICパッケージ60の接点が接触した状態でコンタクト
35と接点間にワイピング作用が生じることが理解されよ
う。これら動作の詳細については図2乃至図4を参照し
て以下に説明する。
Finally, the locking plate 80 is a substantially circular cap-shaped member, and has a pair of pins 81, 82 on its bottom surface.
Are formed. The pins 81 and 82 are inserted into the arcuate holes 54-55 and 72-73 of the holder 50 and the spacer 70 which are overlapped with each other. Here, it should be noted that the arcuate holes 54-55 are formed in a special shape different from the circle centered on the center of the opening 51. Therefore, when the locking plate 80 is rotated, its pins 81 and 82 come into contact with the side surfaces of the arcuate holes 54-55.
As a result, an external force is applied to the connecting arm 53 to press the corner 58 toward the corner where the substantially cantilever elastic arm 52 is formed. This allows each contact 35 of the terminal assembly 30 to
And IC package 60 contacts are in contact
It will be appreciated that there is a wiping action between 35 and the contacts. Details of these operations will be described below with reference to FIGS.

【0020】図2は図1のホルダ50にICパッケージ60
を載置した状態を示す平面図を示す。図3は図2の線3
−3方向の断面図であって、本発明のICソケット100
の各構成素子10乃至80の組立状態を示す。図4は図3の
丸Aで示す一部分の拡大図であって、ICパッケージの
接点とICソケットのコンタクトの接触状態を示す。
FIG. 2 shows an IC package 60 in the holder 50 of FIG.
The top view which shows the state which mounted is shown. 3 is line 3 of FIG.
FIG. 3 is a sectional view taken along line -3, showing the IC socket 100 of the present invention.
The assembled state of each of the constituent elements 10 to 80 of FIG. FIG. 4 is an enlarged view of a part indicated by a circle A in FIG. 3, showing a contact state of the contact of the IC package and the contact of the IC socket.

【0021】図2から理解される如く、ICパッケージ
60はホルダ50の中央開口51内に挿入される。この際に、
ICパッケージ60の対向する2つのコーナー61、62の一
方が弾性アーム52間に他方が連結腕53のコーナー58に収
まるように位置決めされる。換言すると、ICパッケー
ジ60はホルダ50により弾性的に挟持され、実質的にガタ
が生じないように保持される。この弾性は実質的に1対
の片持梁状弾性アーム52により付与される。上述した如
く弧状穴54、55にはロッキングプレート80のピン81、82
が挿入されている。また、弧状穴54、55を開口51又はI
Cパッケージ60の中心から同心円状に形成せず、偏心し
て形成している。その為に、ロッキングプレート80を時
計方向及び反時計方向に回転すると、ホルダ50の左右両
端に左右方向に力が加わり、ICパッケージ60を例えば
0.2mm 程度の予め選定された微小寸法で左右方向に移動
又は揺動する。ここで、ホルダ50の中央部上下は位置決
めピン25、26で固定されているので、ホルダ50全体が移
動することはなく、単にICパッケージ60がICソケッ
ト100 のコンタクト35等に対して相対移動することに注
目されたい。尚、連結腕53を図示の如くICパッケージ
60の側縁に対して平行方向及び垂直方向の2成分を有す
るジグザグ構造とすることにより、弾性を付与すると共
にICパッケージ60の側縁を図示の如く正しく挟持する
ことを可能にする。
As can be seen from FIG. 2, the IC package
The 60 is inserted into the central opening 51 of the holder 50. At this time,
The IC package 60 is positioned so that one of the two opposing corners 61, 62 fits between the elastic arms 52 and the other fits in the corner 58 of the connecting arm 53. In other words, the IC package 60 is elastically sandwiched by the holder 50 and is held substantially without backlash. This elasticity is provided by a pair of cantilever elastic arms 52 substantially. As described above, the arcuate holes 54 and 55 have the pins 81 and 82 of the locking plate 80.
Has been inserted. Further, the arcuate holes 54 and 55 are formed into the openings 51 or I.
It is not formed concentrically from the center of the C package 60, but is formed eccentrically. Therefore, when the locking plate 80 is rotated clockwise and counterclockwise, a force is applied to the left and right ends of the holder 50 in the left and right directions, and the IC package 60 is
Move or oscillate in the left-right direction with a preselected small dimension of approximately 0.2 mm. Here, since the upper and lower parts of the center of the holder 50 are fixed by the positioning pins 25 and 26, the entire holder 50 does not move, but the IC package 60 simply moves relative to the contacts 35 and the like of the IC socket 100. Please note that. In addition, the connecting arm 53 is an IC package as shown in the drawing.
The zigzag structure having two components in the direction parallel and perpendicular to the side edge of 60 provides elasticity and enables the side edge of the IC package 60 to be properly clamped as shown.

【0022】次に、図3を参照して本発明の好適一実施
例のICソケット100 を説明する。図示する如く、本発
明の好適一実施例のICソケット100 においては、ベー
スハウジング20はベースクランプ10の開口14内に嵌入突
出する突出部27を底面に有する。このベースハウジング
20の凹部21にはサポートハウジング40が挿入保持される
と共に、この凹部21の底面には更に多数の端子32の列が
保持された幅の狭い絶縁板31が挿入される溝及び各端子
32が挿通され、端子32の下部分34を底面へ貫通突出させ
る貫通穴22が形成されている。端子32の上部分33はサポ
ートハウジング40の上面44から突出して且つ上面44に略
平行に折曲げられ接触部又はコンタクト35が形成されて
いる。これは図4に示す部分拡大図から明らかである。
Next, referring to FIG. 3, an IC socket 100 according to a preferred embodiment of the present invention will be described. As shown in the drawing, in the IC socket 100 according to the preferred embodiment of the present invention, the base housing 20 has a protruding portion 27 on the bottom surface which is fitted and protrudes into the opening 14 of the base clamp 10. This base housing
A support housing 40 is inserted and held in the recess 21 of the groove 20, and a groove and a terminal in which a narrow insulating plate 31 holding a row of a large number of terminals 32 is inserted in the bottom surface of the recess 21 and each terminal.
A through hole 22 is formed through which the lower part 34 of the terminal 32 penetrates and projects to the bottom surface. The upper portion 33 of the terminal 32 projects from the upper surface 44 of the support housing 40 and is bent substantially parallel to the upper surface 44 to form a contact portion or contact 35. This is apparent from the partially enlarged view shown in FIG.

【0023】この上面44にコンタクト35が配列されたサ
ポートハウジング40の上にホルダ50が載置されている。
このホルダ50の中心開口51内にはICパッケージ60が挿
入保持されている。このICパッケージ60の底面から多
数の略半球状の接点63が突出形成されている。ICパッ
ケージ60の接点63は対応するコンタクト35と接触され
る。次に、このICパッケージ70が挿入保持されたホル
ダ50上にはスペーサ70を介してキャップ状のロッキング
プレート80が配置される。このロッキングプレート80は
ベースクランプ10の保持脚又は舌片16の先端と係合して
ICソケット100を相互に組立状態に維持する。ロッキ
ングプレート80をベースクランプ10にクランプ保持する
と、その底面に形成された1対のピン81、82がホルダ50
の弧状穴54、55及びスペーサ70の弧状溝72、73に挿入さ
れる。ここで、各ピン81、82の先端は弧状穴54、55の幅
と実質的に等しい頭部81a 、82a を有する。
A holder 50 is mounted on a support housing 40 having contacts 35 arranged on the upper surface 44.
An IC package 60 is inserted and held in the center opening 51 of the holder 50. A large number of substantially hemispherical contacts 63 are formed so as to project from the bottom surface of the IC package 60. The contact 63 of the IC package 60 is brought into contact with the corresponding contact 35. Next, a cap-shaped locking plate 80 is arranged on the holder 50, into which the IC package 70 is inserted and held, via the spacer 70. The locking plate 80 engages with the holding leg of the base clamp 10 or the tip of the tongue piece 16 to keep the IC sockets 100 assembled to each other. When the locking plate 80 is clamped and held by the base clamp 10, the pair of pins 81 and 82 formed on the bottom surface of the locking plate 80 are held by the holder 50.
Are inserted into the arc-shaped holes 54 and 55 and the arc-shaped grooves 72 and 73 of the spacer 70. Here, the tips of the pins 81, 82 have heads 81a, 82a substantially equal to the width of the arcuate holes 54, 55, respectively.

【0024】上述の如くロッキングプレート80のピン8
1、82はホルダ50の弧状穴54、55の側面に実質的に接触
している。従って、ロッキングプレート80を例えば回動
すると、弧状穴54、55が完全に同心円状ではないので、
ホルダ50に図3中左右(横)方向の力を加える。その結
果、ICパッケージ60はその対角線方向にこの弧状穴5
4、55の偏心寸法に応じて例えば0.2mm 移動する。この
移動は、図4中で、ICパッケージ60の接点63とコンタ
クト35との間に0.2mm のワイピング作用を生じることと
なる。このワイピング作用はマトリクス状に配列形成さ
れた多数のコンタクト35と接点63の全てにつき略均一に
生じることに注目されたい。
Pin 8 of locking plate 80 as described above
1, 82 substantially contact the side surfaces of the arcuate holes 54, 55 of the holder 50. Therefore, when the locking plate 80 is rotated, for example, since the arcuate holes 54 and 55 are not completely concentric,
A force is applied to the holder 50 in the left-right (lateral) direction in FIG. As a result, the IC package 60 has the arc-shaped holes 5 in the diagonal direction.
It moves, for example, 0.2 mm depending on the eccentric dimension of 4, 55. This movement causes a wiping action of 0.2 mm between the contact 63 and the contact 35 of the IC package 60 in FIG. It should be noted that this wiping action occurs substantially uniformly with respect to all the contacts 35 and the contacts 63 arranged in a matrix.

【0025】以上、本発明のICソケットを好適実施例
に則して詳述した。しかし、本発明は斯る特定実施例の
みに限定するべきでなく、必要に応じ又は用途に応じて
種々の変形変更が可能であること勿論である。例えば、
コンタクト35は完全に行列(マトリクス)状に配置形成
されていることを必須要件とせず、周囲に複数列のコン
タクトを有する方陣状であってもよいこと勿論である。
また、各端子は上面に略平坦なコンタクト部を有する任
意形状及び構造であってもよい。更にまた、ICパッケ
ージの接点とコンタクトとの間に相互移動を生じワイピ
ング作用を生じる限り、上述の実施例の如く、ロッキン
グプレートを回動する代りにホルダを対角線方向に押圧
又は伸長する別の手段又は構成を採用し得ること勿論で
ある。
The IC socket of the present invention has been described above in detail according to the preferred embodiments. However, it is needless to say that the present invention should not be limited to such a specific embodiment, and various modifications and changes can be made according to need or application. For example,
It is needless to say that the contacts 35 are not necessarily required to be arranged and formed completely in a matrix and may have a square shape having a plurality of rows of contacts in the periphery.
Further, each terminal may have an arbitrary shape and structure having a substantially flat contact portion on the upper surface. Furthermore, as long as mutual movement occurs between the contacts of the IC package and a wiping action occurs, another means for pressing or extending the holder diagonally instead of rotating the locking plate as in the above-described embodiment. Alternatively, it goes without saying that a configuration can be adopted.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明のICソケットによると、ICパ
ッケージの多数の接点とソケットコンタクト間に実質的
に均一なワイピング作用を生じさせ、安定確実な接触を
生じさせることが可能である。また、ワイピング寸法は
弧状穴の寸法形状等で正確に制御可能であるので、接点
及びコンタクトの寸法に対応させることができ且つ極め
て高密度のICソケットにも適用可能である。更にま
た、ICパッケージの取付け取外しはコンタクトのワイ
ピング操作も含めて比較的簡単な操作であるので、作業
性が優れている。
According to the IC socket of the present invention, it is possible to cause a substantially uniform wiping action between a large number of contacts of the IC package and the socket contact, and to make stable and reliable contact. Further, since the wiping size can be accurately controlled by the size and shape of the arcuate hole, it can be adapted to the size of the contact and the contact, and can be applied to an extremely high density IC socket. Furthermore, since the attachment and detachment of the IC package is a relatively simple operation including the contact wiping operation, the workability is excellent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるICソケットの好適一実施例の各
構成部品を示す分解斜視図。
FIG. 1 is an exploded perspective view showing components of a preferred embodiment of an IC socket according to the present invention.

【図2】図1のホルダにICパッケージを載置した平面
図。
FIG. 2 is a plan view of an IC package placed on the holder of FIG.

【図3】図1のICソケットの組立状態における対角線
方向の(図2の線3−3方向)の断面図。
3 is a cross-sectional view in the diagonal direction (line 3-3 of FIG. 2) in the assembled state of the IC socket of FIG.

【図4】図3の点線Aで囲んだ一部分の拡大図。FIG. 4 is an enlarged view of a part surrounded by a dotted line A in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 ICソケット 60 ICパッケージ 63 接点 35 コンタクト 50 、80 ワイピング手段 100 IC socket 60 IC package 63 contacts 35 contacts 50, 80 Wiping means

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平面状に配列された複数のコンタクトに
対向して一面に複数の接点が形成されたICパッケージ
を押圧して相互接続するIC用ソケットにおいて、 前記コンタクトに前記ICパッケージの前記接点を接触
した状態で前記コンタクト及び前記ICパッケージを接
触面方向に相対向に移動させるワイピング手段を設ける
ことを特徴とするIC用ソケット。
1. An IC socket for pressing and interconnecting an IC package having a plurality of contacts formed on one surface facing a plurality of contacts arranged in a plane, wherein the contacts have the contacts of the IC package. An IC socket, comprising: wiping means for moving the contact and the IC package to face each other in a contact surface direction in a state of being in contact with each other.
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