[go: up one dir, main page]

JPH05215505A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

Info

Publication number
JPH05215505A
JPH05215505A JP4019874A JP1987492A JPH05215505A JP H05215505 A JPH05215505 A JP H05215505A JP 4019874 A JP4019874 A JP 4019874A JP 1987492 A JP1987492 A JP 1987492A JP H05215505 A JPH05215505 A JP H05215505A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
position detecting
shield box
radio wave
permanent magnet
wave shield
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4019874A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadao Takaishi
忠雄 高石
Masami Matsumura
政美 松村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4019874A priority Critical patent/JPH05215505A/ja
Priority to US08/012,642 priority patent/US5572120A/en
Priority to DE4303399A priority patent/DE4303399C2/de
Publication of JPH05215505A publication Critical patent/JPH05215505A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0007—Casings
    • H05K9/0047—Casings being rigid plastic containers having conductive particles, fibres or mesh embedded therein
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/003—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring position, not involving coordinate determination

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明は、永久磁石の回転変位を、磁気検
出素子の感磁面上の磁束方向の変化として検出する位置
検出装置に関し、組み立て性を向上できるとともに、外
観上見栄えのよい位置検出装置を得ることを目的とす
る。 【構成】 回転シャフト３は樹脂フレーム２に回転自在
に装着され、その一端に連結アーム４が固着されてい
る。回転シャフト３の他端には、円筒形の永久磁石５が
接着固定されている。樹脂フレーム２は、シールドケー
ス１２ａと一体成形されている。磁気検出素子１が搭載
されたセラミック基板６は、シールドケース１２ａ内に
収納保持された後、シールド板１２ｂにより封口され
て、電波シールドされている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、永久磁石の回転変位
を、磁気検出素子の感磁面上の磁束方向の変化として検
出する位置検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４および図５はそれぞれ従来の位置検
出装置の一例を示す断面図および分解斜視図であり、図
において１は磁気検出素子であり、この磁気検出素子１
は、例えばガラス基板上に磁気抵抗パターンに構成され
た強磁性体磁気抵抗材料であるＮｉＦｅからなる磁気抵
抗素子が形成され、さらに絶縁樹脂で直方体形状にモー
ルドされて構成され、ガラス基板表面の磁気抵抗素子の
形成面が感磁面となっている。
【０００３】２は例えばポリブチレンテレフタレート樹
脂でモールド成形された、回路基板を収納保持するケー
スとしての樹脂フレーム、３は樹脂フレーム２に回転自
在に配設された回転シャフト、４は回転シャフト３の一
端に固着された連結アームである。５は回転シャフト３
の他端に固着された円筒形の永久磁石、６は配線パター
ン（図示せず）が形成されるとともに種々の電子部品が
搭載された回路基板としてのセラミック基板であり、こ
のセラミック基板６上には、感磁面が基板面に平行とな
るように磁気検出素子１が搭載されている。７は磁気検
出素子１の出力を取り出すターミナル、８は樹脂フレー
ム２のカバー、９は樹脂フレーム２を包囲して配設され
た鉄製の電波シールドボックス、１０、１１はワッシャ
である。
【０００４】ここで、このセラミック基板６は基板面が
永久磁石５と直交するように、つまり永久磁石５の磁界
が磁気検出素子１の感磁面を平行に横切るように樹脂フ
レーム２に収納保持されている。
【０００５】つぎに、上記従来の位置検出装置の動作に
ついて説明する。例えば車両の燃料流路である吸気管内
のスロットルバルブ（図示せず）の開閉状態に連動して
連結アーム４が回転する。このアーム４の回転は回転シ
ャフト３を介して永久磁石５に伝達され、連結アーム４
の回転に連動して永久磁石５が回転する。この永久磁石
５の回転によって、磁気検出素子１の感磁面を平行に横
切る磁束方向が変化し、この感磁面を横切る磁束方向の
変化に応じて磁気抵抗素子の磁気抵抗パターンの抵抗値
が変化し、永久磁石５の回転角度に応じた出力電圧が出
力される。この出力電圧は増幅され、ターミナル７を介
して外部装置（図示せず）に出力され、スロットルバル
ブの開閉状態が検出される。
【０００６】ここで、樹脂フレーム２を包囲して配設さ
れた電波シールドボックス９は、外部からの電磁波を遮
蔽して、電子部品の誤動差を防止している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の位置検出装置は
以上のように構成されているので、電波シールドボック
ス９をネジ、接着剤により樹脂フレーム２に取り付ける
必要があり、組み立て性が低下するとともに、電波シー
ルドボックス９が外装部品となり、特に経時変化にとも
ない腐食等が発生して、見栄えが悪くなるという課題が
あった。
【０００８】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたもので、組み立て性を向上できるととも
に、見栄えを向上できる位置検出装置を得ることを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る位置検出
装置は、電波シールドボックスをケースに一体成形し、
電波シールドボックス内に回路基板を収納するようにす
るものである。
【００１０】
【作用】この発明においては、電波シールドボックスが
ケースに一体成形されているので、電波シールドボック
スがケース内に内蔵されて外部に露出されず、組み立て
が簡便となる。
【００１１】
【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図１はこの発明の位置検出装置の一実施例を示す断
面図、図２は図１に示す位置検出装置に用いられる電波
シールドボックスの一例を示す分解斜視図、図３は図１
に示す位置検出装置の分解斜視図であり、図において図
４および図５に示した従来の位置検出装置と同一または
相当部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
【００１２】図において、１２は箱形のシールドボック
ス１２ａとこのシールドボックス１２ａを封口するシー
ルド板１２ｂとからなる電波シールドボックスであり、
このシールドボックス１２ａは、貫通コンデンサ１３を
介してターミナル７が半田付け固定された状態で、射出
成形により樹脂フレーム２と一体成形されている。ここ
で、電波シールドボックス１２は、銅、黄銅等の加工性
の良い銅系材料で作製している。
【００１３】上記実施例では、樹脂フレーム２と一体成
形されたシールドボックス１２ａ内に、磁気検出素子１
が搭載されたセラミック基板６を収納し、シールド板１
２ｂによりシールドボックス１２ａを封口し、電波シー
ルドボックス１２でセラミック基板６を包囲するように
構成している。
【００１４】ここで、上記実施例による位置検出装置の
他の動作は、図４および図５に示した従来の位置検出装
置と同様に動作する。
【００１５】このように、上記実施例によれば、電波シ
ールドボックス１２のシールドボックス１２ａが樹脂フ
レーム２に一体成形されているので、シールドボックス
１２ａをネジ、接着剤等で保持する必要がなく、電波シ
ールドボックス１２の取り付け作業が簡便となり、組み
立て性が向上するとともに、電波シールドボックス９が
樹脂フレーム２に内蔵されて外部に露出することなく、
外観上見栄えが良くなる。
【００１６】
【発明の効果】この発明によれば、電波シールドボック
スをケースに一体成形し、電波シールドボックス内に回
路基板を収納するようにしているので、電波シールドボ
ックスの取り付け作業が簡便となり、組み立て性が向上
するとともに、電波シールドボックスがケースに内蔵さ
れて外部に露出することなく、外観上見栄えの良い位置
検出装置が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の位置検出装置の一実施例を示す断面
図である。
【図２】図１に示す位置検出装置の電波シールドボック
スの構成を示す分解斜視図である。
【図３】図１に示す位置検出装置の構成を示す分解斜視
図である。
【図４】従来の位置検出装置の一例を示す断面図であ
る。
【図５】従来の位置検出装置の一例を示す分解斜視図で
ある。
【符号の説明】
１ 磁気検出素子 ２ 樹脂フレーム（ケース） ５ 永久磁石 ６ セラミック基板（回路基板） １２ 電波シールドボックス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 永久磁石と、磁気検出素子が搭載された
    回路基板と、前記回路基板を収納保持するケースとを備
    え、前記永久磁石の回転変位を前記磁気検出素子を横切
    る磁束変化として検出する位置検出装置において、電波
    シールドボックスを前記ケースに一体成形し、前記電波
    シールドボックス内に前記回路基板を収納するようにし
    たことを特徴とする位置検出装置。
JP4019874A 1992-02-05 1992-02-05 位置検出装置 Pending JPH05215505A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4019874A JPH05215505A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 位置検出装置
US08/012,642 US5572120A (en) 1992-02-05 1993-02-03 Magnetic position detector with a molded radiation shield
DE4303399A DE4303399C2 (de) 1992-02-05 1993-02-05 Positionsdetektor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4019874A JPH05215505A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 位置検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05215505A true JPH05215505A (ja) 1993-08-24

Family

ID=12011361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4019874A Pending JPH05215505A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 位置検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5572120A (ja)
JP (1) JPH05215505A (ja)
DE (1) DE4303399C2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011064653A1 (ja) * 2009-11-27 2011-06-03 パナソニック電工株式会社 センサ装置

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5757181A (en) * 1992-06-22 1998-05-26 Durakool Incorporated Electronic circuit for automatically compensating for errors in a sensor with an analog output signal
JPH0968403A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Denso Corp スロットルバルブ開度センサ
DE19602230A1 (de) * 1996-01-23 1997-07-24 Teves Gmbh Alfred Sensor
GB2313959B (en) * 1996-06-04 2001-10-10 Pyronix Ltd Electronic circuit device and enclosure
US5912556A (en) * 1996-11-06 1999-06-15 Honeywell Inc. Magnetic sensor with a chip attached to a lead assembly within a cavity at the sensor's sensing face
US6271464B1 (en) 1996-12-18 2001-08-07 Raytheon Company Electronic magnetic interference and radio frequency interference protection of airborne missile electronics using conductive plastics
US6003369A (en) * 1997-05-19 1999-12-21 Continental Teves, Inc. Method for manufacturing encapsulated semiconductor devices
JP3433051B2 (ja) * 1997-06-26 2003-08-04 株式会社日立ユニシアオートモティブ 回転検出装置
US5982169A (en) * 1997-09-24 1999-11-09 Eastman Kodak Company Micro-encoder with molded micro-magnet
US7268538B2 (en) * 1998-05-08 2007-09-11 Wabash Technologies, Inc. Magnetic rotational position sensor
US6417664B1 (en) 1998-05-08 2002-07-09 Wabash Technologies, Inc. Magnetic rotational position sensor having a peripherally interrupted outer pole piece
US6137288A (en) * 1998-05-08 2000-10-24 Luetzow; Robert Herman Magnetic rotational position sensor
US6472865B1 (en) 1998-05-08 2002-10-29 Wabash Technologies, Inc. Magnetic rotational position sensor having dual magnetic flux sensor capabilities
US6956368B2 (en) * 1998-05-08 2005-10-18 Wabash Technologies, Inc. Magnetic rotational position sensor
US6137281A (en) * 1998-05-15 2000-10-24 Lockheed Martin Corporation Magnetic back-to-back locator
US6310473B1 (en) 1998-12-15 2001-10-30 Kearney-National, Inc. Magnetic rotational position sensor
DE19956313A1 (de) * 1999-11-12 2001-05-23 Atecs Mannesmann Ag Magnetfeldsensor zur Ermittlung der Position eines beweglichen Objekts
US6636037B1 (en) * 2000-03-31 2003-10-21 Innovative Materials Testing Technologies Super sensitive eddy-current electromagnetic probe system and method for inspecting anomalies in conducting plates
JP3799270B2 (ja) * 2001-12-21 2006-07-19 株式会社日立製作所 自動車の駆動状態を切り換える為の制御装置
US6933716B2 (en) * 2003-11-25 2005-08-23 Wolff Controls Corporation Minimized cross-section sensor package
CA2504908A1 (en) * 2004-04-23 2005-10-23 Innovative Materials Testing Technologies, Inc. Apparatus and method for eddy-current magnetic scanning a surface to detect sub-surface cracks around a boundary
US7466125B2 (en) * 2004-07-12 2008-12-16 Feig Electronic Gmbh Position transmitter and method for determining a position of a rotating shaft
US7626383B1 (en) 2005-04-25 2009-12-01 Innovative Materials Testing Technologies, Inc. Apparatus and method for holding a rotatable eddy-current magnetic probe, and for rotating the probe around a boundary
US7560920B1 (en) 2005-10-28 2009-07-14 Innovative Materials Testing Technologies, Inc. Apparatus and method for eddy-current scanning of a surface to detect cracks and other defects
DE102007018759B4 (de) * 2007-01-08 2021-02-11 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
DE102007034099B4 (de) * 2007-07-21 2020-10-15 Hartmann-Exact Gmbh Vorrichtung zur berührungslosen Erfassung von Relativpositionen zweier zueinander bewegbarer Teile
US8933691B2 (en) * 2007-10-27 2015-01-13 Walbro Engine Management, L.L.C. Rotary position sensor
US10192646B2 (en) 2016-04-25 2019-01-29 General Electric Company Radiation shielding system
JP7523746B2 (ja) * 2020-05-14 2024-07-29 オムロン株式会社 センサ

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54148578A (en) * 1978-04-18 1979-11-20 Nec Corp Rotating direction detector
JPS56107119A (en) * 1980-01-30 1981-08-25 Nippon Denso Co Ltd Detecting device for rotational angle
US4567317A (en) * 1983-07-07 1986-01-28 Computer Products, Inc. EMI/RFI Protected enclosure
DE3345791A1 (de) * 1983-12-17 1985-06-27 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Beruehrungsloser elektronischer winkelgeber
JPH077012B2 (ja) * 1987-08-18 1995-01-30 富士通株式会社 加速度センサ
JPH083491B2 (ja) * 1988-09-27 1996-01-17 富士重工業株式会社 電磁ピックアップ
JPH02238320A (ja) * 1989-03-13 1990-09-20 Fujitsu Ltd 回転ポジショナ
DE4014885C2 (de) * 1989-05-13 1995-07-13 Aisan Ind Drehwinkelaufnehmer
JPH02298815A (ja) * 1989-05-13 1990-12-11 Aisan Ind Co Ltd 回転角度センサ
JP2792914B2 (ja) * 1989-06-02 1998-09-03 光洋精工株式会社 車輪回転速度検出器を備えた車軸用軸受装置
JPH036099A (ja) * 1989-06-02 1991-01-11 Canon Inc 電子機器の実装構造
US5027061A (en) * 1989-09-25 1991-06-25 General Electric Company Electromagnetic and thermal shield for electronic energy meter
US5278497A (en) * 1991-06-18 1994-01-11 Mitsubishi Denki K.K. Magnetic sensor having a magnet-sensitive plane of an MR element arranged perpendicular to both a substrate plane and a magnet
US5160807A (en) * 1991-08-08 1992-11-03 Elsag International B.V. Method for RFI/EMI protection of electronic circuitry
US5270645A (en) * 1991-08-30 1993-12-14 Nartron Corporation Linear-output, temperature-stable rotational sensor including magnetic field responsive device disposed within a cavity of a flux concentrator

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011064653A1 (ja) * 2009-11-27 2011-06-03 パナソニック電工株式会社 センサ装置
JP2011112555A (ja) * 2009-11-27 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd センサ装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5572120A (en) 1996-11-05
DE4303399C2 (de) 1996-01-25
DE4303399A1 (en) 1993-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05215505A (ja) 位置検出装置
US5757179A (en) Position sensor with improved magnetic circuit
AU692211B2 (en) Rotary position sensor with improved bearing tolerance
US7015688B2 (en) Device for adjustment of rotation angles
JPH0674709A (ja) 枢動可能に取り付けられた装置の角度位置を検知するための角度位置センサ
JPH0868606A (ja) 回転角度検出装置
US5278497A (en) Magnetic sensor having a magnet-sensitive plane of an MR element arranged perpendicular to both a substrate plane and a magnet
US20040182151A1 (en) Fill level transducer
JP3086563B2 (ja) 回転角度センサ
JPH11153404A (ja) 回転角度センサ
JPH0526610A (ja) スロツトルポジシヨンセンサ
JP3438064B2 (ja) 回転角度センサ
JPH05126512A (ja) 角度検出器
US5545986A (en) Magnetic sensor having a ferromagnetic resistive element, a frame and a bias magnet integrally mounted to the frame
JPH05196407A (ja) 回転変位検出装置
JPH05203402A (ja) 回転変位検出装置
JP2006153679A (ja) 液面検出装置
JPH0727571A (ja) 磁気検出装置
JPH05157507A (ja) 磁気センサおよび磁気センサ用磁石の固定方法
JP2004332635A (ja) スロットル制御装置
JPH062119U (ja) 回転変位検出装置
JP2005091275A (ja) 回転角センサ
JP2005106779A (ja) 回転角センサ
JPH04138207U (ja) 磁気センサ
JP7388788B1 (ja) マグネットキャッチ