JPH0520697A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents
光ピツクアツプ装置Info
- Publication number
- JPH0520697A JPH0520697A JP3168544A JP16854491A JPH0520697A JP H0520697 A JPH0520697 A JP H0520697A JP 3168544 A JP3168544 A JP 3168544A JP 16854491 A JP16854491 A JP 16854491A JP H0520697 A JPH0520697 A JP H0520697A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】３ビーム方式による安定なトラックエラー信号
検出が可能な超解像方式の光ヘッドを得る。 【構成】記録媒体反射光を再度集光した位置に設置した
空間フィルタにおいて、メインスポットのサイドローブ
成分またはメインローブ成分を選択的に反射させること
で、メインビームのメインローブより再生信号を、メイ
ンビームのサイドローブよりフォーカスエラー信号を、
２つのサイドビームよりトラックエラー信号を得る。
検出が可能な超解像方式の光ヘッドを得る。 【構成】記録媒体反射光を再度集光した位置に設置した
空間フィルタにおいて、メインスポットのサイドローブ
成分またはメインローブ成分を選択的に反射させること
で、メインビームのメインローブより再生信号を、メイ
ンビームのサイドローブよりフォーカスエラー信号を、
２つのサイドビームよりトラックエラー信号を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光を利用して情報の記
録再生を行う情報入出力装置に用いる光ヘッド装置に関
するものである。
録再生を行う情報入出力装置に用いる光ヘッド装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクの記録密度を向上させるため
には記録媒体上における光スポット系を減少させること
が有効である。ビーム径を減少する手段としては、集光
レンズ入射光の中心付近の強度を減少する空間フィルタ
を用いることで超解像の効果により径の細いメインロー
ブを得るものがある。但し、中心付近の強度の減少が多
いほど、メインローブ径は細くなる代わりに、サイドロ
ーブが大きくなる。強度を減少させるのではなく透過光
の位相を変化させるような空間フィルタでも同様の効果
が得られる。
には記録媒体上における光スポット系を減少させること
が有効である。ビーム径を減少する手段としては、集光
レンズ入射光の中心付近の強度を減少する空間フィルタ
を用いることで超解像の効果により径の細いメインロー
ブを得るものがある。但し、中心付近の強度の減少が多
いほど、メインローブ径は細くなる代わりに、サイドロ
ーブが大きくなる。強度を減少させるのではなく透過光
の位相を変化させるような空間フィルタでも同様の効果
が得られる。
【０００３】図５は、超解像を利用した光ピックアップ
装置の例を示す。半導体レーザ１からの出射光は、超解
像空間フィルタ２により中心付近の光強度が減少する。
偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を介して集光
レンズ４により記録媒体７上に超解像スポットとして集
光する。記録媒体からの反射光は偏光ビームスプリッタ
４で反射し、１／４波長板５を介して再度集光する。集
光点に置いた空間フィルタ１６によりメインローブ成分
のみを取り出して２分割光検出器１０で受光する。この
検出器より再生信号と、プッシュプル方式によるトラッ
クエラーを信号とが得られる。このような検出系を用い
ることで、サイドローブの影響を少ない再生信号を得る
ことが出来る。
装置の例を示す。半導体レーザ１からの出射光は、超解
像空間フィルタ２により中心付近の光強度が減少する。
偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を介して集光
レンズ４により記録媒体７上に超解像スポットとして集
光する。記録媒体からの反射光は偏光ビームスプリッタ
４で反射し、１／４波長板５を介して再度集光する。集
光点に置いた空間フィルタ１６によりメインローブ成分
のみを取り出して２分割光検出器１０で受光する。この
検出器より再生信号と、プッシュプル方式によるトラッ
クエラーを信号とが得られる。このような検出系を用い
ることで、サイドローブの影響を少ない再生信号を得る
ことが出来る。
【０００４】図６に空間フィルタ１６の構成を示す。光
強度分布２３の内、片側のサイドローブ成分は吸収部２
２により吸収され、一方の成分のみが反射部２１により
反射される。反射された成分は、偏光ビームスプリッタ
４を透過し、２分割型光検出器１０でナイフエッジ方式
の原理によるフォーカスエラー信号検出がなされる。
強度分布２３の内、片側のサイドローブ成分は吸収部２
２により吸収され、一方の成分のみが反射部２１により
反射される。反射された成分は、偏光ビームスプリッタ
４を透過し、２分割型光検出器１０でナイフエッジ方式
の原理によるフォーカスエラー信号検出がなされる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の光ピ
ックアップ装置においても高密度の記録を実現すること
が出来る。しかし、この光学系ではトラックエラー信号
をプッシュプル方式でしか検出することが出来ない。再
生専用のコンパクトディスクなどでは、記録媒体上のピ
ット深さによっては十分な信号が得られない場合があ
る。
ックアップ装置においても高密度の記録を実現すること
が出来る。しかし、この光学系ではトラックエラー信号
をプッシュプル方式でしか検出することが出来ない。再
生専用のコンパクトディスクなどでは、記録媒体上のピ
ット深さによっては十分な信号が得られない場合があ
る。
【０００６】本発明の目的は、上記のような問題点を生
じることの無い３ビーム方式の光ピックアップ装置を提
供することにある。
じることの無い３ビーム方式の光ピックアップ装置を提
供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
装置は、レーザ光源からの出射光を微小スポットとして
記録媒体上に集光する集光光学系と、前記記録媒体から
の反射光を分離して検出する検出光学系を備えた光ピッ
クアップ装置において、前記集光光学系中に記録媒体上
のスポットをメインスポットと２つのサイドスポットに
分割する回折格子と、集光スポットビーム径を縮小する
超解像空間プィルタを備え、前記検出光学系中で、記録
媒体反射光を再度収束し、収束したスポットの内のメイ
ンスポットのサイドローブ成分を除き残りの成分を選択
的に透過する空間フィルタと前記サイドローブ成分より
フォーカスエラーを検出する光学系を備えたことを特徴
とする。
装置は、レーザ光源からの出射光を微小スポットとして
記録媒体上に集光する集光光学系と、前記記録媒体から
の反射光を分離して検出する検出光学系を備えた光ピッ
クアップ装置において、前記集光光学系中に記録媒体上
のスポットをメインスポットと２つのサイドスポットに
分割する回折格子と、集光スポットビーム径を縮小する
超解像空間プィルタを備え、前記検出光学系中で、記録
媒体反射光を再度収束し、収束したスポットの内のメイ
ンスポットのサイドローブ成分を除き残りの成分を選択
的に透過する空間フィルタと前記サイドローブ成分より
フォーカスエラーを検出する光学系を備えたことを特徴
とする。
【０００８】また、本発明の光ピックアップ装置は、レ
ーザ光源からの出射光を微小スポットとして記録媒体上
に集光する集光光学系と、前記記録媒体からの反射光を
分離して検出する検出光学系を備えた光ピックアップ装
置において、前記集光光学系中に記録媒体上のスポット
をメインスポットと２つのサイドスポットに分割する回
折格子と、集光スポットビーム系を縮小する超解像空間
フィルタを備え、前記検出光学系中で、記録媒体反射光
を再度収束し、収束したスポットの内のメインスポット
のメインローブ成分のみを選択的に反射または透過する
空間フィルタと残りの光成分よりスポット位置エラー信
号を検出する光学系を備えたことを特徴とする。
ーザ光源からの出射光を微小スポットとして記録媒体上
に集光する集光光学系と、前記記録媒体からの反射光を
分離して検出する検出光学系を備えた光ピックアップ装
置において、前記集光光学系中に記録媒体上のスポット
をメインスポットと２つのサイドスポットに分割する回
折格子と、集光スポットビーム系を縮小する超解像空間
フィルタを備え、前記検出光学系中で、記録媒体反射光
を再度収束し、収束したスポットの内のメインスポット
のメインローブ成分のみを選択的に反射または透過する
空間フィルタと残りの光成分よりスポット位置エラー信
号を検出する光学系を備えたことを特徴とする。
【０００９】
【作用】図により本発明の作用を説明する。図１に示す
実施例のように、超解像空間フィルタ２の前または後に
回折格子３を挿入し、記録媒体７上にサイドスポットを
形成する。ここでは、遮光帯により１方向のみに超解像
を発生させている。記録媒体反射光は空間フィルタ８上
に集光される。この空間のフィルタのパターンを工夫す
ることで３ビーム方式によるトラックエラー検出が可能
となる。
実施例のように、超解像空間フィルタ２の前または後に
回折格子３を挿入し、記録媒体７上にサイドスポットを
形成する。ここでは、遮光帯により１方向のみに超解像
を発生させている。記録媒体反射光は空間フィルタ８上
に集光される。この空間のフィルタのパターンを工夫す
ることで３ビーム方式によるトラックエラー検出が可能
となる。
【００１０】図２に空間フィルタのパターンを示す。３
つの超解像スポットよりなる光強度分布２３の内、メイ
ンスポットのサイドローブ成分を除き残りを透過させ
る。透過光は３分割光検出器９の受光面２０において検
出される。中心の受光面より再生信号が両サイドの受光
面よりトラックエラー信号が得られる。サイドローブ成
分の一方は反射部２１で反射され一方は吸収部２２で吸
収される。反射光は２分割検出器１０に導かれナイフエ
ッジ方式の原理によるフォーカスエラー検出がなされ
る。
つの超解像スポットよりなる光強度分布２３の内、メイ
ンスポットのサイドローブ成分を除き残りを透過させ
る。透過光は３分割光検出器９の受光面２０において検
出される。中心の受光面より再生信号が両サイドの受光
面よりトラックエラー信号が得られる。サイドローブ成
分の一方は反射部２１で反射され一方は吸収部２２で吸
収される。反射光は２分割検出器１０に導かれナイフエ
ッジ方式の原理によるフォーカスエラー検出がなされ
る。
【００１１】空間フィルタ８の吸収部２２は１００％吸
収ではなくてもよく、吸収部と反射部との間で反射率の
差が在りさえすればよい。更に、両方ともに反射部と
し、２分割検出部位置においてナイフエッジ方式や非点
収差方式などの光学系を構成して、フォーカスエラー信
号を得ることも可能である。
収ではなくてもよく、吸収部と反射部との間で反射率の
差が在りさえすればよい。更に、両方ともに反射部と
し、２分割検出部位置においてナイフエッジ方式や非点
収差方式などの光学系を構成して、フォーカスエラー信
号を得ることも可能である。
【００１２】図３及び図４に示す別の発明の場合、空間
フィルタ１１の反射部２１により光強度分布２３の内で
メインスポットのメインローブ成分のみを選択的に反射
させる。反射光は光検出器１５で受光され再生信号を検
出する。透過光は収束レンズ１３とシリンドリカルレン
ズ１４で構成される非点収差光学系を介し６分割光検出
器１２で受光される。中心の４分割の受光面２０でフォ
ーカスエラー信号が、両サイドの受光面２０よりトラッ
クエラー信号が得られる。サイドの受光面を４分割と
し、フォーカスエラー信号を得ることも可能である。本
発明では、光学系はやや複雑であるが、空間フィルタパ
ターンが簡単になるためフィルタの製作や設置が容易と
なる特徴がある。空間フィルタ１１のパターンを反転さ
せ、光検出器１５と非点収差光学系の位置を入れ換えて
も同様の機能を実現できる。
フィルタ１１の反射部２１により光強度分布２３の内で
メインスポットのメインローブ成分のみを選択的に反射
させる。反射光は光検出器１５で受光され再生信号を検
出する。透過光は収束レンズ１３とシリンドリカルレン
ズ１４で構成される非点収差光学系を介し６分割光検出
器１２で受光される。中心の４分割の受光面２０でフォ
ーカスエラー信号が、両サイドの受光面２０よりトラッ
クエラー信号が得られる。サイドの受光面を４分割と
し、フォーカスエラー信号を得ることも可能である。本
発明では、光学系はやや複雑であるが、空間フィルタパ
ターンが簡単になるためフィルタの製作や設置が容易と
なる特徴がある。空間フィルタ１１のパターンを反転さ
せ、光検出器１５と非点収差光学系の位置を入れ換えて
も同様の機能を実現できる。
【００１３】以上の例では、超解像パターンを１方向に
のみ発生させたが、２方向または同心円状に発生させ空
間フィルタをピンホールのような同心円状パターンとす
ることも可能である。
のみ発生させたが、２方向または同心円状に発生させ空
間フィルタをピンホールのような同心円状パターンとす
ることも可能である。
【００１４】以上説明したように、空間フィルタの適切
なパターン設定により、３ビーム方式による安定したエ
ラー信号を得ることが出来る。
なパターン設定により、３ビーム方式による安定したエ
ラー信号を得ることが出来る。
【００１５】
【実施例】本発明の実施例を図１に示す。半導体レーザ
１の出射光は、超解像空間フィルタ２、回折格子３、偏
光ビームスプリッタ４、１／４波長板５を介し、集光レ
ンズ６により記録媒体７上にスポットを形成する。超解
像空間フィルタ２は遮光体ではなく、位相型のものであ
ってもよい。また、超解像空間フィルタ２と回折格子３
は位置が入替ってもよい。記録媒体７からの反射光は、
偏光ビームスプリッタ４で反射され、１／４波長板５を
介して空間フィルタ８に集光される。メインビームのサ
イドローブ成分以外は透過して３分割光検出器９で受光
され、再生信号とトラックエラー信号が検出される。サ
イドローブ成分の一部は反射され、偏光ビームスプリッ
タ４を透過して２分割光検出器１０で受光され、フォー
カスエラー信号が検出される。光学系はコリメートレン
ズを介して集光レンズに入射するような光学系でもよ
い。
１の出射光は、超解像空間フィルタ２、回折格子３、偏
光ビームスプリッタ４、１／４波長板５を介し、集光レ
ンズ６により記録媒体７上にスポットを形成する。超解
像空間フィルタ２は遮光体ではなく、位相型のものであ
ってもよい。また、超解像空間フィルタ２と回折格子３
は位置が入替ってもよい。記録媒体７からの反射光は、
偏光ビームスプリッタ４で反射され、１／４波長板５を
介して空間フィルタ８に集光される。メインビームのサ
イドローブ成分以外は透過して３分割光検出器９で受光
され、再生信号とトラックエラー信号が検出される。サ
イドローブ成分の一部は反射され、偏光ビームスプリッ
タ４を透過して２分割光検出器１０で受光され、フォー
カスエラー信号が検出される。光学系はコリメートレン
ズを介して集光レンズに入射するような光学系でもよ
い。
【００１６】別の本発明の実施例を図３に示す。半導体
レーザ１の出射光は、超解像空間フィルタ２、回折格子
３、偏光ビームスプリッタ４、１／４波長板５を介し、
集光レンズ６により記録媒体７上にスポットを形成す
る。記録媒体７からの反射光は、偏光ビームスプリッタ
４で反射され、１／４波長板５を介して空間フィルタ１
１に集光される。メインビームのメインローブ成分は反
射され、偏光ビームスプリッタ４を透過して２分割光検
出器１０で受光され、再生信号が検出される。残りの成
分は収束レンズ１３とシリンドリカルレンズ１４を介し
て６分割光検出器１２で受光される。受光されたサイド
ローブ成分よりトラックエラー信号が、メインローブ成
分よりフォーカスエラー信号が検出される。
レーザ１の出射光は、超解像空間フィルタ２、回折格子
３、偏光ビームスプリッタ４、１／４波長板５を介し、
集光レンズ６により記録媒体７上にスポットを形成す
る。記録媒体７からの反射光は、偏光ビームスプリッタ
４で反射され、１／４波長板５を介して空間フィルタ１
１に集光される。メインビームのメインローブ成分は反
射され、偏光ビームスプリッタ４を透過して２分割光検
出器１０で受光され、再生信号が検出される。残りの成
分は収束レンズ１３とシリンドリカルレンズ１４を介し
て６分割光検出器１２で受光される。受光されたサイド
ローブ成分よりトラックエラー信号が、メインローブ成
分よりフォーカスエラー信号が検出される。
【００１７】
【発明の効果】本発明により、超解像構成で３ビーム方
式による安定したトラックエラー信号を検出することが
出来る。
式による安定したトラックエラー信号を検出することが
出来る。
【図１】本発明の実施例を示す図。
【図２】本発明の実施例の空間フィルタ及び３分割光検
出器の詳細図。
出器の詳細図。
【図３】本発明の実施例を示す図。
【図４】本発明の実施例の空間フィルタ及び６分割光検
出器の詳細図。
出器の詳細図。
【図５】従来技術を示す図。
【図６】従来技術の空間フィルタの詳細図。
１ 半導体レーザ
２ 超解像空間フィルタ
３ 回折格子
４ 偏光ビームスプリッタ
５ １／４波長板
６ 集光レンズ
７ 記録媒体
８ 空間フィルタ
９ ３分割光検出器
１０ ２分割光検出器
１１ 空間フィルタ
１２ ６分割光検出器
１３ 収束レンズ
１４ シリンドリカルレンズ
１５ 光検出器
１６ 空間フィルタ
２０ 受光面
２１ 反射部
２２ 吸収部
２３ 光強度分布
Claims (2)
- 【請求項１】 レーザ光源からの出射光を微小スポット
として記録媒体上に集光する集光光学系と、前記記録媒
体からの反射光を分離して検出する検出光学系を備えた
光ピックアップ装置において、前記集光光学系中に記録
媒体上のスポットをメインスポットと２つのサイドスポ
ットに分割する回折格子と、集光スポットビーム径を縮
小する超解像空間フィルタを備え、前記検出光学系中
で、記録媒体反射光を再度収束し、収束したスポットの
内のメインスポットのサイドローブ成分を除き残りの成
分を選択的に透過する空間フィルタと前記サイドローブ
成分よりフォーカスエラーを検出する光学系を備えたこ
とを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 レーザ光源からの出射光を微小スポット
として記録媒体上に集光する集光光学系と、前記記録媒
体からの反射光を分離して検出する検出光学計を備えた
光ピックアップ装置において、前記集光光学系中に記録
媒体上のスポットをメインスポットビーム径を縮小する
超解像空間フィルタを備え、前記検出光学系中で、記録
媒体反射光を再度収束し、収束したスポットの内のメイ
ンスポットのメインローブ成分のみを選択的に反射また
は透過する空間フィルタと残りの光成分よりスポット位
置エラー信号を検出する光学系を備えたことを特徴とす
る光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3168544A JP2817452B2 (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3168544A JP2817452B2 (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0520697A true JPH0520697A (ja) | 1993-01-29 |
| JP2817452B2 JP2817452B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=15869986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3168544A Expired - Lifetime JP2817452B2 (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2817452B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08249716A (ja) * | 1995-03-09 | 1996-09-27 | Nec Corp | 超解像光ヘッド |
| US5586095A (en) * | 1993-05-31 | 1996-12-17 | Sanyo Electric Co., Inc. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| JPH0991714A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-04 | Nec Corp | 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置 |
| US5966347A (en) * | 1996-06-26 | 1999-10-12 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for reproducing data from a magneto-optic recording medium |
-
1991
- 1991-07-10 JP JP3168544A patent/JP2817452B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5586095A (en) * | 1993-05-31 | 1996-12-17 | Sanyo Electric Co., Inc. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| US5708635A (en) * | 1993-05-31 | 1998-01-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Ultra-resolving optical pickup device having an optical detector receiving an unfiltered reflected beam |
| JPH08249716A (ja) * | 1995-03-09 | 1996-09-27 | Nec Corp | 超解像光ヘッド |
| JPH0991714A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-04 | Nec Corp | 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置 |
| US5966347A (en) * | 1996-06-26 | 1999-10-12 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for reproducing data from a magneto-optic recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2817452B2 (ja) | 1998-10-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980721 |