JPH05183010A - Laminated type semiconductor package - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、複数個の半導体チップ
を積層し集積度を向上させた積層型半導体パッケージ
(multi−chip semiconductor
package)に係るもので、詳しくは、TAB技
術(Tape Automated bonding
technology)とC−4ボンディング技術とを
利用し素子の超薄型化を意図した積層型半導体パッケー
ジに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-chip semiconductor package in which a plurality of semiconductor chips are stacked to improve the degree of integration.
For example, the TAB technology (Tape Automated bonding)
The present invention relates to a stacked semiconductor package intended for ultra-thin devices by utilizing technology) and C-4 bonding technology.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近、半導体パッケージにおいては、漸
次、軽薄及び簡素化され、パッケージ内部でベアーチッ
プ(bare chip)の占める面積と容積とを減ら
すため、パドル(paddle)にチップが載置される
プラスチックパッケージング(plastic pac
kaging)技術からチップにリードが載置されるL
OC(Lead−On−Chip)技術に漸次変遷され
ている。従って、1個の半導体パッケージに1個のベア
ーチップを装着する技術から、複数個のチップをピギー
バッグ(piggy−bag)型に積層するか又は、1
個半導体パッケージ内部に複数個のチップを積層する技
術の(Nikkei Micro Devices,1
991sus 4月号)が開発され、次のような積層型
半導体パッケージが実用化されている。即ち、.図6
に示したように、ピギーバッグ型の積層型半導体パッケ
ージとして、下方側半導体パッケージ1上に複数個の半
導体パッケージ2,3が夫々順次積層され、上方側半導
体パッケージ2,3に接着したアウトリード2a,3a
が夫々下方側半導体パッケージ1,2に接着したアウト
リード1a,2aに接合されて電気的に接続され、前記
下方側半導体パッケージ1のアウトリード1aがSOJ
(Small Outline J−Lead)型に内
方向きフォーミング(forming)されてメモリモ
ジュール(memory module)又はボードレ
ベル(board level)に装着されるように構
成された半導体パッゲージが実用化されていた。2. Description of the Related Art Recently, semiconductor packages have been gradually, lightly and simply made to be mounted on a paddle in order to reduce an area and a volume occupied by a bare chip inside the package. Plastic packaging
L) that leads are mounted on the chip from the
It has been gradually changed to OC (Lead-On-Chip) technology. Therefore, from the technology of mounting one bare chip in one semiconductor package, a plurality of chips may be stacked in a piggy-bag type, or
A technique of stacking a plurality of chips inside an individual semiconductor package (Nikkei Micro Devices, 1
991sus April issue) has been developed, and the following laminated semiconductor packages have been put into practical use. That is ,. Figure 6
As shown in FIG. 3, a plurality of semiconductor packages 2 and 3 are sequentially stacked on the lower semiconductor package 1 as a piggybag-type stacked semiconductor package, and the outlead 2a is bonded to the upper semiconductor packages 2 and 3. , 3a
Are joined to and electrically connected to the out leads 1a and 2a adhered to the lower semiconductor packages 1 and 2, respectively, and the out leads 1a of the lower semiconductor package 1 are SOJ.
A semiconductor package configured to be mounted in a memory module or a board level by being inwardly formed into a (Small Outline J-Lead) type has been put into practical use.
【0003】又、.図7に示したように、1個の半導
体パッケージ内方側に2個のベアーチップ3,4が装着
されるが、それらベアーチップ3,4外方側面のパッド
部位に夫々バンプ(bump)7,8が接着され、それ
らバンプ7,8に各TABテープ5,6のインナーリー
ドが夫々ボンディングされ、それらTABテープ5,6
のアウトリードがリードフレーム9,9′に夫々ボンデ
ィングされた後、エポキシ樹脂によりモールド部10が
形成されて、1個の半導体パッケージ内部に2個のベア
ーチップ3,4が積層された積層型半導体パッケージが
実用化されていた。且つ、同様な方法で1個の半導体パ
ッケージ内方側に4個のベアーチップが積層された積層
型半導体パッケージが実用化されている。即ち、図8に
示したように、上方側の上下両ベアーチップ11,12
の上下両面に夫々バンプ13,14が接着され、それら
バンプ13,14に各TABテープ15,16のインナ
ーリードが夫々ボンディングされると共にアウトリード
がリードフレーム17,17′に順次ボンディングさ
れ、下方側の上下両ベアーチップ11a,12aの上下
両面に夫々バンプ18,19が接着されてそれらバンプ
18,19に各TABテープ20,21のインナーリー
ドが夫々ボンディングされると共にアウトリードがリー
ドフレーム17,17′に順次ボンディングされた後、
エポキシ樹脂によりモールド部22が形成されて1個の
半導体パッケージ内方側に4個のベアーチップ11,1
2,13,14が夫々積層された構造になっていた。In addition ,. As shown in FIG. 7, two bare chips 3 and 4 are mounted on the inner side of one semiconductor package, but bumps 7 are formed on the pad portions on the outer side surfaces of the bare chips 3 and 4, respectively. , 8 are bonded, and the inner leads of the TAB tapes 5, 6 are bonded to the bumps 7, 8, respectively.
After the out leads of the above are bonded to the lead frames 9 and 9 ', respectively, the mold portion 10 is formed of epoxy resin, and the two bare chips 3 and 4 are laminated inside one semiconductor package. The package was put into practical use. In addition, a stacked semiconductor package in which four bare chips are stacked on the inner side of one semiconductor package by a similar method has been put into practical use. That is, as shown in FIG. 8, both upper and lower bare chips 11 and 12 on the upper side.
Bumps 13 and 14 are adhered to the upper and lower surfaces of the TAB tape 15, and inner leads of the TAB tapes 15 and 16 are respectively bonded to the bumps 13 and 14, and out leads are sequentially bonded to the lead frames 17 and 17 '. Bumps 18 and 19 are adhered to the upper and lower surfaces of the upper and lower bare chips 11a and 12a, respectively, and the inner leads of the TAB tapes 20 and 21 are bonded to the bumps 18 and 19, respectively, and the outer leads are lead frames 17 and 17. ’After being sequentially bonded,
A mold portion 22 is formed of epoxy resin, and four bare chips 11 and 1 are provided on the inner side of one semiconductor package.
It had a structure in which 2, 13, and 14 were respectively laminated.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】然るに、このように構
成された従来積層型半導体パッケージにおいては、前記
項記載の型態の場合、各個別に形成された複数個の半
導体パッケージ1,2,3が夫々積層され各半導体パッ
ケージ1,2,3毎にワイヤーボンディングされている
ため、そのワイヤーループの高さとエポキシ樹脂のモー
ルディング部の厚さとにより全体の厚さが厚くなって素
子の軽薄化を図り得ないという不都合な点があった。
又、前記項記載の型態の場合は、各ベアーチップの上
下両面に接着した各バンプに各TABテープのインナー
リードが夫々ボンディングされているため、それら上下
TABテープの高さが高くなって半導体パッケージの全
体厚さが厚くなるという不都合な点があった。且つ、T
ABテープの使用数が増加して原価が上昇し製造工程も
煩雑であるという不都合な点があった。更に、各ベアー
チップと各TABテープとのインナーリードボンドがそ
れらベアーチップ周辺で行われるため、各TABテープ
の長さが短くなりボンディング及びその取扱いが難しく
なるという不都合な点があった。それで、このような問
題点を解決するため本発明者達は研究を重ねた結果、次
のような積層型半導体パッケージを提供しようとするも
のである。However, in the conventional stacked type semiconductor package having such a structure, in the case of the form described in the above paragraph, a plurality of individually formed semiconductor packages 1, 2, 3 are formed. Are stacked and wire-bonded to each of the semiconductor packages 1, 2, and 3, so that the height of the wire loop and the thickness of the molding portion of the epoxy resin increase the overall thickness to reduce the thickness of the device. There was a disadvantage that I couldn't get it.
In the case of the type described in the above item, since the inner leads of the TAB tapes are bonded to the bumps bonded to the upper and lower surfaces of the bare chips, respectively, the heights of the upper and lower TAB tapes are increased. There is a disadvantage that the overall thickness of the package becomes thick. And T
There is a disadvantage that the number of AB tapes used increases, the cost increases, and the manufacturing process is complicated. Further, since the inner lead bonding between each bare chip and each TAB tape is performed around those bare chips, there is a disadvantage that the length of each TAB tape becomes short and bonding and handling thereof become difficult. As a result, the inventors of the present invention have conducted extensive research to solve such problems, and as a result, intend to provide the following stacked semiconductor package.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、TAB
技術とフリップ−チップ概念のC−4ボンディング技術
とを利用し半導体パッケージの超薄型化を意図し得るよ
うにした積層型半導体パッケージを提供しようとするも
のである。そして、このような本発明の目的は、TAB
テープのインナーリード両方側面に上下方側ベアーチッ
プのソルダーバンプが夫々接着され、それら上下方側ベ
アーチップがソルダーにより接合されてチップセットが
形成され、該チップセットのTABテープのアウトリー
ドがリードフレームに夫々接着されて各ベアーチップが
積層された積層型半導体パッケージを提供することによ
り達成される。The object of the present invention is to provide a TAB.
It is an object of the present invention to provide a stacked semiconductor package which is intended to be ultra thinned by utilizing the technology and the C-4 bonding technology of the flip-chip concept. And, such an object of the present invention is TAB.
Solder bumps of the upper and lower bare chips are bonded to both sides of the inner leads of the tape, and the upper and lower bare chips are joined by solder to form a chipset, and the TAB tape out leads of the chipset are lead frames. This is achieved by providing a laminated semiconductor package in which each bare chip is laminated by being adhered to each other.
【0006】[0006]
【実施例】以下、本発明の実施例に対し図面を用いて詳
細に説明する。図1に示したように、本発明に係る積層
型半導体パッケージの一実施例のLOC−TSOP(T
hin Small Outline Packag
e)においては、TABテープ31のインナーリード上
方側面に上方側ベアーチップ32のパッド部位のソルダ
ーバンプ(solder bump)33が接着され、
前記TABテープ31のインナーリード下方側面に下方
側ベアーチップ34のパッド部位のソルダーバンプ35
が接着され、それら上下方側ベアーチップ32,34が
ソルダー36により接合され、前記TABテープ31の
アウトリードが各リードフレーム37,37′に夫々接
着して構成されている。図中、未説明符号38はモール
ディング部を示したものである。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the LOC-TSOP (T of one embodiment of the stacked semiconductor package according to the present invention is shown.
hin Small Outline Packag
In e), a solder bump 33 of a pad portion of the upper bare chip 32 is bonded to the upper side surface of the inner lead of the TAB tape 31,
The solder bumps 35 on the pad portion of the lower bare chip 34 are formed on the lower side surface of the inner lead of the TAB tape 31.
Are bonded, the upper and lower bare chips 32 and 34 are bonded by a solder 36, and the out leads of the TAB tape 31 are bonded to the lead frames 37 and 37 ', respectively. In the figure, an unexplained reference numeral 38 is a molding part.
【0007】そして、このように構成された本発明に係
る積層型半導体パッケージの製造方法を説明すると次の
ようである。先ず、TABテープ31のインナーリード
を上方側ベアーチップ32にボンディングするが、その
ボンディングは、ソルダーバンプ33を使用するC−4
ボンディングにより行われる。従って、ベアーチップ3
2は自己整列(Self−align)するため別に微
細な整列をする必要がない。その後、他のベアーチップ
34を覆してそのソルダーバンプ35をTABテープ3
1のインナーリードにC−4ボンディングさせ、次い
で、TABテープ31内方側にソルダー36をC−4ボ
ンディングさせる。この場合、TABテープ31の両方
側面には接着剤が塗布されているものを使用してLOC
パッケージのポリイミド(polyimide)役割を
行うようにし、TABテープ31のインナーリードをボ
ンディングした後には上下方側ベアーチップ32,34
に熱圧着ボンディング(thermo−compres
sion bonding)を施して接合させる。この
ように接合された2個の上下方側ベアーチップ32,3
4は1個のチップセットCとして見做されるため、該チ
ップセットCをSOP(Small Outline
Package)又はSOJP(SmallOutli
ne J−Lead Package)のリードフレー
ムに接合し、チップセットCのTABテープ31のアウ
トリードをリードフレーム37,37′に熱圧着ボンデ
ィングにより接着し、その後、上下方側チップ32,3
4にモールドインカプセレーション(mold enc
apsulation)を施す。この場合、TABテー
プ31のアウトリードをリードフレーム37,37′に
接着する以前にテストを行えばバッケージングコスト
(packaging cost)を減らすことができ
る。このような本発明の一実施例に係る積層型半導体パ
ッケージにおいては、1個のTABテープ31を利用し
2個の上下方側ベアーチップ32,34を同時に接着し
てパッケージの厚さを超薄型にし、容量を2倍にふやし
得るようになっている。そして、本発明の一実施例にお
いては、LOC−TSOPの場合を説明したが、本発明
はこのLOC−TSOPの場合に限らず、LOC−TS
OJ,LOC−SOI型のパッケージ、LOC−TSO
P等の多様な型態の半導体パッケージにも適用すること
ができる。The method of manufacturing the laminated semiconductor package having the above structure according to the present invention will be described below. First, the inner lead of the TAB tape 31 is bonded to the upper bare chip 32, and the bonding is performed by the C-4 using the solder bump 33.
It is performed by bonding. Therefore, bare chip 3
Since No. 2 is self-aligned, it is not necessary to perform fine alignment separately. Then, cover the other bare chip 34 and attach the solder bump 35 to the TAB tape 3
The inner lead 1 is C-4 bonded, and then the solder 36 is C-4 bonded to the inner side of the TAB tape 31. In this case, the TAB tape 31 on both sides of which adhesive is applied is used for LOC.
After the inner lead of the TAB tape 31 is bonded, the upper and lower bare chips 32 and 34 are made to function as the polyimide of the package.
Thermocompression bonding (thermo-compress)
Sion bonding) is performed to bond them. Two upper and lower bare chips 32, 3 joined in this way
Since 4 is regarded as one chipset C, the chipset C is referred to as SOP (Small Outline).
Package) or SOJP (SmallOutli)
ne J-Lead Package) and the out leads of the TAB tape 31 of the chip set C are bonded to the lead frames 37 and 37 'by thermocompression bonding, and then the upper and lower chips 32 and 3
Mold in encapsulation (mold enc)
application). In this case, if a test is performed before the out leads of the TAB tape 31 are bonded to the lead frames 37 and 37 ', the packaging cost can be reduced. In the stacked semiconductor package according to the embodiment of the present invention, one TAB tape 31 is used to bond two upper and lower bare chips 32 and 34 at the same time to reduce the package thickness. It is made into a mold so that the capacity can be doubled. In the embodiment of the present invention, the case of LOC-TSOP has been described, but the present invention is not limited to this case of LOC-TSOP, but LOC-TS.
OJ, LOC-SOI type package, LOC-TSO
It can also be applied to various types of semiconductor packages such as P.
【0008】又、本発明の他の実施例として、図2に示
したように、2個のベアーチップ32と34との間にリ
ードフレーム37,37′が夫々所定長さだけ挿合して
接着され、それらリードフレーム37,37′の内方側
端部にTABテープ31,31が夫々接着され、それら
TABテープ31,31のリードが前記上下方側ベアー
チップ32,34のパッド部位に形成したソルダーバン
プ33,35に夫々接着され、前記リードフレーム3
7,37′の他方側端が露出されるように前記ベアーチ
ップ32,34がモールドインカプセレーションして構
成されている。As another embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, lead frames 37 and 37 'are inserted between two bare chips 32 and 34 by a predetermined length. The TAB tapes 31 and 31 are adhered to the inner end portions of the lead frames 37 and 37 ', respectively, and the leads of the TAB tapes 31 and 31 are formed on the pad portions of the upper and lower bare chips 32 and 34. The lead bumps 3 are attached to the solder bumps 33 and 35, respectively.
The bare chips 32, 34 are formed by mold incapsulation so that the other ends of the 7, 37 'are exposed.
【0009】このような本発明の他の実施例において
は、上下方側ベアーチップ32,34の各パッドに、リ
ードフレーム37,37′の端部にボンディングしたT
ABテープ31,31のリードが夫々ボンディングされ
るが、そのボンディングの方法としてソルダーバンプ3
3,35を用いたC−4ボンディング方式が使われる。
その後、上下方側ベアーチップ32,34とそれら上下
方側ベアーチップ32と34との間に挿合されたリード
フレーム37,37′とを接着させてチップセットCを
つくり、該チップセットCにポリイミドによりモールド
インカプセレーションが施される。即ち、2個のベアー
チップ32と34との間に各リードフレーム37,3
7′がそれらベアーチップ32と34との間隔を安定に
維持させるように接着されているため、別途のソルダー
を必要とせず、ベアーチップのパッドを各ベアーチップ
の縁部位のみならずそれらベアーチップの中心部及び希
望する全域に亙って形成することができる。よって、ベ
アーチップを設計する場合、パッドの位置を任意の位置
に配置し得るようになって、設計上極めて便利であると
いう利点がある。且つ、複数個のベアーチップを積層さ
せる場合においても、積層される各ベアーチップのリー
ドフレームを夫々左右側に突出して一体に連結し、それ
ら連結部位から左右側に再びリードフレームを露出させ
てその積層されたチップセットにインカプセレーション
を施すことにより積層型ベアーチップを構成することが
できる。In another embodiment of the present invention as described above, each pad of the upper and lower bare chips 32, 34 is bonded to the end portion of the lead frame 37, 37 'by T bonding.
The leads of the AB tapes 31 and 31 are bonded to each other. The solder bump 3 is used as the bonding method.
The C-4 bonding method using 3,35 is used.
After that, the upper and lower bare chips 32 and 34 and the lead frames 37 and 37 'inserted between the upper and lower bare chips 32 and 34 are adhered to each other to form a chip set C, and the chip set C is attached to the chip set C. Mold incapsulation is performed with polyimide. That is, between the two bare chips 32 and 34, each lead frame 37, 3
Since 7'is adhered so as to maintain a stable distance between the bare chips 32 and 34, a separate solder is not required, and the pads of the bare chips are not limited to the edge portions of the bare chips, but also the bare chips. Can be formed over the center and all desired areas. Therefore, when designing a bare chip, the pad can be arranged at any position, which is extremely convenient in design. Moreover, even when a plurality of bare chips are stacked, the lead frames of the stacked bare chips are respectively projected to the left and right sides to be integrally connected, and the lead frames are exposed to the left and right sides again from the connecting portions. A laminated bare chip can be formed by performing incapsulation on the laminated chip sets.
【0010】更に、本発明の又他の実施例として、図3
乃至図5に示したように、4個のベアーチップを積層し
た積層型半導体パッケージを製造することもできる。即
ち、上方側TABテープ31のインナーリード両方側面
に上下方側ベアーチップ32,34のソルダーバンプ3
3,35が夫々接着されてそれら上下方側ベアーチップ
32,34がソルダー36により接合され、下方側TA
Bテープ41のインナーリード両方側面に上下方側ベア
ーチップ42,44のソルダーバンプ43,45が夫々
接着されてそれら上下方側ベアーチップ42,44がソ
ルダー46により接合され、前記上下方側TABテープ
31,41の各アウトリードは夫々リードフレーム4
7,47′,48,48′,49,49′の上下方側面
に接着され、前記各内方側ベアーチップ34,42間に
は接着剤51が塗布されて構成されている。図中、未説
明符号50は、モールディング部を示したものである。Further, as another embodiment of the present invention, FIG.
It is also possible to manufacture a stacked semiconductor package in which four bare chips are stacked as shown in FIG. That is, the solder bumps 3 of the upper and lower bare chips 32 and 34 are formed on both side surfaces of the inner lead of the upper TAB tape 31.
The upper and lower bare chips 32 and 34 are bonded by the solder 36, and the lower TA
The solder bumps 43 and 45 of the upper and lower bare chips 42 and 44 are adhered to both side surfaces of the inner lead of the B tape 41, respectively, and the upper and lower bare chips 42 and 44 are joined by a solder 46. Each of the out leads 31 and 41 is a lead frame 4 respectively.
7, 47 ', 48, 48', 49, 49 'are bonded to the upper and lower side surfaces, and an adhesive 51 is applied between the inner bare chips 34, 42. In the figure, the unexplained reference numeral 50 indicates a molding part.
【0011】このような4個のベアーチップ32,3
4,42,44が積層された積層型半導体パッケージの
製造方法を説明すると次のようである。先ず、下方側の
各ベアーチップ42,44を前述した方法によりTAB
テープ41にC−4ボンディング技術を利用して接着し
チップセット(Chip Set)Cを形成した後、該
チップセットCのTABテープ41のアウトリードをリ
ードフレーム47,47′,48,48′,49,4
9′の下方側面に接着させる。次いで、そのチップセッ
トCの上方側ベアーチップ42に接着剤51を塗布し、
前述の方法でパッケージされた上方側チップセットをそ
のベアーチップ42上に載置し、該チップセットのTA
Bテープ31のアウトリードを前記リードフレームの4
7,47′,48,48′,49,49′の上方側面に
熱圧着ボンディングにより接着させる。このように4個
のベアーチップ32,34,42,44を夫々積層した
後モールドインカプセレーションを施してリードフレー
ム47,47′,48,48′,49,49′を多様な
型態に形成することにより図3に示したLOC−TSO
J、又は図4にしたLOC−SOI型半導体パッケー
ジ、若しくは図5に示したLOC−TSOP型半導体パ
ッケージを製造することができる。Such four bare chips 32, 3
A method of manufacturing a stacked semiconductor package in which 4, 42 and 44 are stacked is as follows. First, the bare chips 42 and 44 on the lower side are subjected to TAB by the above-described method.
After the chip set C is formed by adhering the tape 41 to the tape 41 using the C-4 bonding technique, the out leads of the TAB tape 41 of the chip set C are connected to lead frames 47, 47 ', 48, 48', 49,4
Adhere to the lower side of 9 '. Next, the adhesive 51 is applied to the upper bare chip 42 of the chipset C,
The upper chip set packaged by the above-mentioned method is placed on the bare chip 42, and the TA of the chip set is set.
The B tape 31 out lead is connected to the lead frame 4
The upper side surfaces of 7, 47 ', 48, 48', 49, 49 'are bonded by thermocompression bonding. In this way, the four bare chips 32, 34, 42, 44 are laminated and then subjected to mold incapsulation to form the lead frames 47, 47 ', 48, 48', 49, 49 'in various shapes. The LOC-TSO shown in FIG.
J or the LOC-SOI type semiconductor package shown in FIG. 4 or the LOC-TSOP type semiconductor package shown in FIG. 5 can be manufactured.
【0012】[0012]
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る積層
型半導体パッケージにおいては、1個のTABテープに
2個のベアーチップをボンディングするか又は2個のT
ABテープに4個のベアーチップをボンディングして積
層型半導体パッケージを製造するようになっているた
め、半導体パッケージの全体厚さを一層薄型化し、構造
を簡素化して原価を低減し得る効果がある。As described above, in the laminated semiconductor package according to the present invention, two bare chips are bonded to one TAB tape or two bare chips are bonded.
Since four bare chips are bonded to the AB tape to manufacture a laminated semiconductor package, the overall thickness of the semiconductor package can be further reduced, the structure can be simplified, and the cost can be reduced. .
【図1】本発明に係る積層型半導体パッケージの一実施
例であるLOC−TSOPの断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of a LOC-TSOP which is an example of a stacked semiconductor package according to the present invention.
【図2】本発明に係る積層型半導体パッケージの他の実
施例であるLOC−TSOPの断面図である。FIG. 2 is a sectional view of a LOC-TSOP which is another embodiment of the stacked semiconductor package according to the present invention.
【図3】本発明に係る又他の実施例であるLOC−TS
OJPの断面図である。FIG. 3 is another embodiment of the present invention, LOC-TS.
It is sectional drawing of OJP.
【図4】本発明に係るその他の実施例であるLOC−S
OI型積層半導体パッケージの断面図である。FIG. 4 is another embodiment of the present invention, LOC-S.
It is sectional drawing of an OI type | mold laminated semiconductor package.
【図5】本発明の又その他の実施例であるLOC−TS
OPの断面図である。FIG. 5 is another embodiment of the present invention, LOC-TS.
It is sectional drawing of OP.
【図6】従来ピギーバッグ型の積層型半導体パッケージ
を示した斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a conventional piggybag type stacked semiconductor package.
【図7】従来積層型半導体パッケージの2個の半導体チ
ップが積層されたTSOPの断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view of a TSOP in which two semiconductor chips of a conventional stacked semiconductor package are stacked.
【図8】従来積層型半導体パッケージの4個の半導体チ
ップが積層されたSOJPの断面図である。FIG. 8 is a sectional view of an SOJP in which four semiconductor chips of a conventional stacked semiconductor package are stacked.
31,41 TABテープ 32,34,42,44 ベアーチップ 33,35,43,45 ソルダーバンプ 36,46 ソルダー 37,37′,47,47′,48,48′,49,4
9′ リードフレーム 51 接着剤 C チップセット31, 41 TAB tape 32, 34, 42, 44 Bear chip 33, 35, 43, 45 Solder bump 36, 46 Solder 37, 37 ', 47, 47', 48, 48 ', 49, 4
9'Leadframe 51 Adhesive C Chipset
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 25/07 25/18 27/00 301 B 8418−4M ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H01L 25/07 25/18 27/00 301 B 8418-4M
Claims (9)
両方側面に上下方側ベアーチップ(32,34)のソル
ダーバンプ(33,35)が夫々接着され、それら上下
方側ベアーチップ(32,34)がソルダー(36)に
より接合されてチップセット(C)が形成され、該チッ
プセット(C)に接着されたTABテープ(31)のア
ウトリードがリードフレーム(37,37′)に夫々接
着されて2個のベアーチップ(32,34)が積層され
てなる積層型半導体パッケージ。1. Solder bumps (33, 35) of upper and lower bare chips (32, 34) are respectively adhered to both side surfaces of the inner lead of the TAB tape (31), and these upper and lower bare chips (32, 34) are bonded. Are joined by a solder (36) to form a chip set (C), and the out leads of the TAB tape (31) adhered to the chip set (C) are adhered to the lead frames (37, 37 '), respectively. A stacked semiconductor package in which two bare chips (32, 34) are stacked.
リード両方側面に上下方側ベアーチップ(32,34)
のソルダーバンプ(33,35)が夫々接着されてそれ
ら上下方側ベアーチップ(32,34)がソルダー(3
6)により接合され、下方側TABテープ(41)のイ
ンナーリード両方側面に上下方側ベアーチップ(42,
44)のソルダーバンプ(43,45)が夫々接着され
てそれら上下方側ベアーチップ(42,44)がソルダ
ー(46)により接合され、前記上下方側TABテープ
(31,41)の各アウトリードが夫々リードフレーム
(47,47′)の上下方側面に接着されて4個のベア
ーチップ(32,34,42,44)が夫々積層されて
なる積層型半導体パッケージ。2. The upper and lower bare chips (32, 34) on both side surfaces of the inner lead of the upper TAB tape (31).
Solder bumps (33, 35) of the solder bumps (33, 35) are adhered to the upper and lower bare chips (32, 34) of the solder (3
6), and the upper and lower bare chips (42, 42) are attached to both side surfaces of the inner lead of the lower TAB tape (41).
44) solder bumps (43, 45) are adhered to each other, and the upper and lower bare chips (42, 44) are joined by a solder (46), and each out lead of the upper and lower TAB tapes (31, 41) Is a laminated semiconductor package in which four bare chips (32, 34, 42, 44) are laminated by being bonded to the upper and lower side surfaces of the lead frame (47, 47 '), respectively.
2)間には、接着剤(51)が塗布されてなる請求項2
記載の積層型半導体パッケージ。3. The inner bare chips (34, 4)
The adhesive (51) is applied between 2).
The laminated semiconductor package described.
ウトリードは、SOJ型のリードフレーム(47,4
7′)に夫々接着してなる請求項1又は2記載の積層型
半導体パッケージ。4. The outlead of each of the TAB tapes (31, 41) is an SOJ type lead frame (47, 4).
7. The laminated semiconductor package according to claim 1, wherein the laminated semiconductor package is adhered to each of 7 ').
ウトリードは、バッド型のリードフレーム(48,4
8′)に夫々接着してなる請求項1又は2記載の積層型
半導体パッケージ。5. The out lead of each of the TAB tapes (31, 41) is a pad type lead frame (48, 4).
The laminated semiconductor package according to claim 1, wherein the laminated semiconductor package is adhered to each of 8 ').
ウトリードは、SOP型のリードフレーム(49,4
9′)に夫々接着してなる請求項1又は2記載の積層型
半導体パッケージ。6. Out leads of each of the TAB tapes (31, 41) are SOP type lead frames (49, 4).
9. The laminated semiconductor package according to claim 1, wherein the laminated semiconductor package is adhered to each of 9 ').
にリードフレーム(37,37′)が夫々所定長さだけ
挿合して接着され、それらリードフレーム(37,3
7′)の一方側端にTABテープ(31,31)が夫々
接着され、それらTABテープ(31,31)のリード
が夫々前記上下方側ベアーチップ(32,34)のパッ
ド部位に形成したソルダーバンプ(33,35)に夫々
接着されて積層型チップセット(C)が形成され、前記
リードフレーム(37,37′)の他方側端が露出され
るように前記チップセット(C)がモールドインカプセ
レーションされてなる積層型半導体パッケージ。7. A lead frame (37, 37 ') is inserted and adhered between the upper and lower bare chips (32, 34) by a predetermined length, respectively, and these lead frames (37, 3') are adhered.
7 ') TAB tapes (31, 31) are adhered to one end of each side, and leads of the TAB tapes (31, 31) are formed on the pad portions of the upper and lower bare chips (32, 34), respectively. The chip sets (C) are molded in such that the bumps (33, 35) are adhered to each other to form a laminated chip set (C), and the other ends of the lead frames (37, 37 ') are exposed. A stacked semiconductor package that is encapsulated.
4)は、それら上下方側ベアーチップ(32,34)の
パッド位置に従い前記リードフレーム(37,37′)
の挿合される長さが可変されるようになる請求項7記載
の積層型半導体パッケージ。8. The upper and lower bare chips (32, 3)
4) is the lead frame (37, 37 ') according to the pad positions of the upper and lower bare chips (32, 34).
8. The stacked semiconductor package according to claim 7, wherein the length to be inserted is variable.
ップセットが積層形成されたチップセット(C)でな
り、該チップセット(C)の各個別チップセットのリー
ドフレームの他方側端が夫々左右側に突出して一体に連
結された後、再び一本に突出形成されそれら連結部位か
らチップセット(C)の左右側リードフレームが夫々露
出されるようにそのチップセット(C)がモールドイン
カプセレーションされてなる請求項7記載の積層型半導
体パッケージ。9. The chip set (C) is a chip set (C) in which a plurality of chip sets are stacked and formed, and the other side end of the lead frame of each individual chip set of the chip set (C) is The chipsets (C) are molded in such that the left and right leadframes of the chipsets (C) are exposed from the connecting parts after protruding to the left and right sides and integrally connected, respectively. The stacked semiconductor package according to claim 7, which is encapsulated.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1991P9124 | 1991-06-01 | ||
KR1019910009124A KR940008325B1 (en) | 1991-06-01 | 1991-06-01 | Stacked Semiconductor Packages |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05183010A true JPH05183010A (en) | 1993-07-23 |
JP2737531B2 JP2737531B2 (en) | 1998-04-08 |
Family
ID=19315348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4111755A Expired - Fee Related JP2737531B2 (en) | 1991-06-01 | 1992-04-30 | Stacked semiconductor package |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2737531B2 (en) |
KR (1) | KR940008325B1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1991
- 1991-06-01 KR KR1019910009124A patent/KR940008325B1/en not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-04-30 JP JP4111755A patent/JP2737531B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2737531B2 (en) | 1998-04-08 |
KR930001382A (en) | 1993-01-16 |
KR940008325B1 (en) | 1994-09-12 |
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