JPH05172741A - Spectroscopic scanning microscope - Google Patents
Spectroscopic scanning microscopeInfo
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- JPH05172741A JPH05172741A JP34457391A JP34457391A JPH05172741A JP H05172741 A JPH05172741 A JP H05172741A JP 34457391 A JP34457391 A JP 34457391A JP 34457391 A JP34457391 A JP 34457391A JP H05172741 A JPH05172741 A JP H05172741A
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- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】走査型光学顕微鏡において、構成を大きく変え
ずに分光機能を付加する。
【構成】光源1、レンズ40、41、検出器31の光学
系をもつ走査光学顕微鏡の検出光学系に直視プリズム8
0及び直視プリズム80で分光された光60、61を分
離検出する光検出器32を使用する。
【効果】直視プリズムは中心波長に対して偏角を零にで
きるので、中心で検出される光で形成される画像は従来
の走査光学顕微鏡のものと同じであり、走査光学顕微鏡
の構成はほとんど変わらない。
(57) [Abstract] [Purpose] To add a spectral function to a scanning optical microscope without significantly changing the configuration. [Structure] A direct-view prism 8 is provided in a detection optical system of a scanning optical microscope having an optical system of a light source 1, lenses 40 and 41, and a detector 31.
The photodetector 32 that separates and detects the light 60 and 61 split by the 0 and the direct-view prism 80 is used. [Effect] Since the direct-view prism can make the deviation angle to the center wavelength zero, the image formed by the light detected at the center is the same as that of the conventional scanning optical microscope, and the configuration of the scanning optical microscope is almost the same. does not change.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、分光型走査顕微鏡、更
に詳しくいえば、走査光学顕微鏡に、光源、又は試料か
ら発生する光を分光する分光機能を付加した分光型走査
顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spectroscopic scanning microscope, and more particularly to a spectroscopic scanning microscope in which a scanning optical microscope is provided with a spectroscopic function for dispersing light generated from a light source or a sample.
【0002】[0002]
【従来の技術】走査光学顕微鏡に分光機能を付加する最
も簡単な方法として、走査光学顕微鏡の検出光学系の光
路に光学フィルタを挿入する方法がある。この方法は共
焦点タイプの走査光学顕微鏡で実際行われており、アプ
ライド・オプチクス第29巻、(1990年)第489
頁から494頁(Applied Optics,29
(1990)PP489−494)に詳しく述べられて
いる。また、走査光学顕微鏡の構成を大きく変えずに、
分光機能を実現する方法として、本発明者等は色収差の
大きいレンズを共焦点光学顕微鏡のピンホールの前に使
用する分光型走査顕微鏡を発明した(特願昭63−12
667、特開平1ー188816)。2. Description of the Related Art The simplest method of adding a spectral function to a scanning optical microscope is to insert an optical filter in the optical path of a detection optical system of the scanning optical microscope. This method is actually performed in a confocal type scanning optical microscope, and Applied Optics Vol. 29, (1990) 489.
Pages 494 (Applied Optics, 29
(1990) PP489-494). Also, without significantly changing the configuration of the scanning optical microscope,
As a method for realizing the spectral function, the present inventors have invented a spectral scanning microscope in which a lens having large chromatic aberration is used in front of a pinhole of a confocal optical microscope (Japanese Patent Application No. 63-12).
667, JP-A-1-188816).
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記検出光学系の光路
に光学フィルタを挿入する分光型走査顕微鏡は光学フィ
ルタの特性は固定されるため、観察試料から発生する蛍
光の波長に応じて、光学フィルタを準備する必要があ
る。そのため、最適の光学フィルタを選択する煩わしさ
がある。また、同時に複数の波長の光による試料の観察
像を得るためには光を分割する必要が有り、難しい。色
収差の大きいレンズを共焦点光学顕微鏡のピンホールの
前に使用する分光型走査顕微鏡は、波長に応じて、ピン
ホール(検出器)を光学軸上を移動させればよいので、
走査光学顕微鏡の構成を大きく変更すること無く、分光
機能を持たせることができるが、反面、同時に異なる波
長の試料像を得ることができない。また、一般的には走
査光学顕微鏡に分光器を配置することが考えられが、分
光器からの出力光は、走査顕微鏡の光学軸から大きく変
位するため、検出器などの装置を光学軸から離れた位置
に配置せざるを得ず、従来の走査光学顕微鏡の構成を大
きく変えることになる。 従って、本発明の主な目的
は、従来の走査光学顕微鏡の構成を大きく変えることな
く、分光機能をもつ付加することにあり、走査顕微鏡を
実現することである。本発明の他の目的は、分光機能を
持ち、検出器を光学軸上に配置でき、かつ同時に、異な
る波長の光像を得ることのできるより小型の分光型走査
顕微鏡を実現することである。In the spectroscopic scanning microscope in which an optical filter is inserted in the optical path of the detection optical system, the characteristics of the optical filter are fixed, so that the optical filter is adjusted according to the wavelength of fluorescence emitted from the observation sample. Need to prepare. Therefore, it is troublesome to select the optimum optical filter. Further, in order to obtain an observation image of the sample with light of a plurality of wavelengths at the same time, it is necessary to divide the light, which is difficult. A spectroscopic scanning microscope that uses a lens with large chromatic aberration before the pinhole of a confocal optical microscope can move the pinhole (detector) on the optical axis according to the wavelength.
Although the spectroscopic function can be provided without largely changing the configuration of the scanning optical microscope, it is impossible to obtain sample images of different wavelengths at the same time. In addition, it is generally considered to dispose a spectroscope on the scanning optical microscope, but the output light from the spectroscope is largely displaced from the optical axis of the scanning microscope. Inevitably, it would have to be placed in a different position, which would greatly change the configuration of the conventional scanning optical microscope. Therefore, a main object of the present invention is to realize a scanning microscope by adding a spectroscopic function to the scanning optical microscope without largely changing the configuration of the conventional scanning optical microscope. Another object of the present invention is to realize a smaller spectroscopic scanning microscope having a spectroscopic function, in which a detector can be arranged on the optical axis, and at the same time, optical images of different wavelengths can be obtained.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すため
に、本発明は、分光型走査顕微鏡を光源からの光の焦点
位置に観察物体(試料)を配置する試料保持機構と、上
記光を収束光にして上記試料に照射する光学系と上記試
料又は上記収束光を走査する走査機構と、上記試料から
の透過光又は反射光を分光する直視プリズムと、上記直
視プリズムで分光された光を検出する光検出器と、上記
試料における上記光の照射位置と上記光検出器の出力と
を対応付けて表示する表示手段とを含んで構成した。In order to achieve the above object, the present invention provides a sample holding mechanism for arranging an observation object (sample) at a focus position of light from a light source in a spectroscopic scanning microscope, and the above light. An optical system that irradiates the sample as converged light, a scanning mechanism that scans the sample or the converged light, a direct-view prism that separates the transmitted light or reflected light from the sample, and a light that is split by the direct-view prism. It is configured to include a photodetector for detecting, and a display unit for displaying the irradiation position of the light on the sample and the output of the photodetector in association with each other.
【0005】[0005]
【作用】走査光学顕微鏡の光検出系に直視プリズムを使
用することにより、直視プリズムによる分光前後の光学
系の光軸をほぼ同一に保つことができるので、走査光学
顕微鏡の限られた鏡筒内に直視プリズム、光検出器を配
置できるため、従来の走査光学顕微鏡の光学系を大きく
変える必要なく、容易に分光機能を実現できる。走査光
学顕微鏡の光学系は図2に示すように、光源1からの出
射光をレンズ40で観察物体(試料)2に絞り込み、プ
ローブ光5とする。観察物体2を通過した光はレンズ4
1で集められ、物体2の情報を含んだ検出光60として
光検出器30で検出される。一方、観察物体2は走査機
構70で走査される。制御回路71は移動機構70及び
表示装置72を制御し、物体2の走査位置で得られた信
号を画像として表示装置72に表示する。By using the direct-view prism in the light detection system of the scanning optical microscope, the optical axes of the optical system before and after the light-splitting by the direct-view prism can be kept almost the same, so that the inside of the limited barrel of the scanning optical microscope can be maintained. Since the direct-view prism and the photodetector can be arranged in the optical axis, the spectroscopic function can be easily realized without requiring a large change in the optical system of the conventional scanning optical microscope. As shown in FIG. 2, the optical system of the scanning optical microscope narrows the light emitted from the light source 1 to the observation object (sample) 2 with the lens 40 and makes it the probe light 5. The light that has passed through the observation object 2 is a lens 4
1 is collected by the photodetector 30 as detection light 60 including the information of the object 2. On the other hand, the observation object 2 is scanned by the scanning mechanism 70. The control circuit 71 controls the moving mechanism 70 and the display device 72, and displays the signal obtained at the scanning position of the object 2 on the display device 72 as an image.
【0006】本発明の分光型走査顕微鏡は、図2で示し
た走査光学顕微鏡の検出光学系に直視プリズムを挿入し
たので、光源1からの光の波長に対して、直視プリズム
の偏角は零となっている。光源からの光の波長と異なる
蛍光が光源からの光によって発生するような観察物体を
使用した場合には、蛍光は光軸から少しずれ、光軸と直
行する平面で、光源からの光の波長の集光される平面と
同一平面に集光されるようになる。これら光源からの光
と蛍光を上記同一平面に配置されたアレイディテクタで
検出すれば、蛍光による観察物体の画像及び光源からの
光透過光による観察物体の画像を撮ることができる。ま
た、アレイディテクタの画素の位置に対する波長の校正
を行っておけば、ある一つの観察場所において分光を行
うことも可能となる。以上述べたように、直視プリズム
は中心波長(例えば光源からの光の波長)に対して偏角
を零にすることができるので、中心波長及び直視プリズ
ム出分光された光を検出する検出器を従来の走査光学顕
微鏡の鏡筒を大きく変えること無くに簡単に装着でき
る。In the spectroscopic scanning microscope of the present invention, since the direct-view prism is inserted in the detection optical system of the scanning optical microscope shown in FIG. 2, the deviation angle of the direct-view prism with respect to the wavelength of the light from the light source 1 is zero. Has become. When using an observation object in which fluorescence from the light source emits fluorescence that is different from the wavelength of the light from the light source, the fluorescence is slightly offset from the optical axis and is a plane perpendicular to the optical axis. The light will be condensed on the same plane as that on which the light is condensed. By detecting the light from the light source and the fluorescence with the array detector arranged on the same plane, it is possible to take an image of the observation object by the fluorescence and an image of the observation object by the light transmitted from the light source. Also, if the wavelength of the pixel position of the array detector is calibrated, it is possible to perform the spectroscopy at a certain observation place. As described above, the direct-view prism can make the deviation angle to zero with respect to the central wavelength (for example, the wavelength of the light from the light source). The conventional scanning optical microscope can be easily mounted without changing the lens barrel significantly.
【0007】[0007]
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。 実施例1 図1は、本発明による分光型光学走査顕微鏡の第1の実
施例の構成を示すブロック図である。レーザ光源1から
出射されたレーザ光は、レンズ40により観察物体2上
に収束されてプローブ光5として照射される。すなわ
ち、観察物体2はレーザ光の焦点位置に設置される。観
察物体2は、プローブ光5により励起されて蛍光を発生
する。観察物体2を透過した光は、蛍光と共にレンズ4
1で収束され、直視プリズム80を経て検出光60とし
て光検出器31の検出面に照射される。その際、レーザ
光60は直視プリズム80によって偏向されない。蛍光
の波長は、レーザ光60の波長と異なるので、直視プリ
ズム80によって偏向された蛍光61となる。光検出器
31は、光学軸上の焦点位置に設置される。観察物体2
は走査機構(ステージ)70によって用紙に垂直な面を
移動される。制御回路71は走査機構70及び表示装置
72を制御し、試料2の走査位置で得られた信号を画像
として表示装置72に表示する。光検出器31でレーザ
光60及び蛍光61を分離して検出することによって、
蛍光だけによる観察物体2の画像、透過光だけによる観
察物体2の画像を得ることができる。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a first embodiment of a spectroscopic optical scanning microscope according to the present invention. The laser light emitted from the laser light source 1 is converged on the observation object 2 by the lens 40 and is emitted as the probe light 5. That is, the observation object 2 is installed at the focus position of the laser light. The observation object 2 is excited by the probe light 5 to generate fluorescence. The light transmitted through the observation object 2 is combined with the fluorescent light by the lens 4
The light is converged at 1, and is irradiated onto the detection surface of the photodetector 31 as detection light 60 via the direct-view prism 80. At that time, the laser light 60 is not deflected by the direct-view prism 80. Since the wavelength of the fluorescent light is different from the wavelength of the laser light 60, the fluorescent light 61 is deflected by the direct-view prism 80. The photodetector 31 is installed at the focal position on the optical axis. Observation object 2
Is moved by a scanning mechanism (stage) 70 on a surface perpendicular to the paper. The control circuit 71 controls the scanning mechanism 70 and the display device 72, and displays the signal obtained at the scanning position of the sample 2 on the display device 72 as an image. By separating and detecting the laser light 60 and the fluorescence 61 with the photodetector 31,
It is possible to obtain an image of the observation object 2 based on only fluorescence and an image of the observation object 2 based on only transmitted light.
【0008】直視プリズム80は、従来知られているも
ので、3角プリズムを複数個組み合わせて、特定波長の
光(例えば、フラウンホーハセンのd線)の振れを0に
し、ほかの波長の光をその両側に分散させるもの、普
通、鉛ガラス(フリントガラス)とクラウンガラスとを
3又は5個組み合わせたものが使用できるが、それに限
らない。光源1からのレーザ光等の特定波長の光(中心
光)に対して偏角を零にすることができ、他の蛍光など
の光を分光する機能を持つものであればよい。上述のよ
うに、本実施例では、直視プリズム80は光源1からの
レーザ光に対して偏角を零にすることができるので、光
学軸上に直視プリズム80、光検出器31を配置でき、
鏡筒を大きく変更する必要がない。The direct-view prism 80 is conventionally known, and a plurality of triangular prisms are combined to reduce the deflection of light of a specific wavelength (for example, Fraunhofer's d-line) to 0, and other wavelengths. However, the present invention is not limited to this, but a combination of 3 or 5 pieces of lead glass (flint glass) and crown glass can be used. It suffices that the deflection angle can be made zero with respect to light of a specific wavelength (center light) such as laser light from the light source 1 and that it has a function of dispersing light such as other fluorescence. As described above, in the present embodiment, since the direct-view prism 80 can make the deviation angle to the laser light from the light source 1 zero, the direct-view prism 80 and the photodetector 31 can be arranged on the optical axis.
There is no need to change the lens barrel.
【0009】実施例2 図3は本発明による分光型走査顕微鏡の第2の実施例の
構成を示すブロック図である。本実施例では、観察物体
の透過光を平行光束にし、平行光束に直視プリズムを配
置して、テレセントリック光学系に構成したものであ
る。図3において図1の構成要素と同一機能、構成部に
は同一番号を付している。レンズ40及び41の配置及
び焦点距離の設定によって、レンズ41の透過光は平行
光となる。透過光中に直視プリズム80がレンズ42の
前焦点に配設されている。直視プリズム80は光源から
のレーザ光60とレーザ光によって励起された螢光61
をそれらの波長の差により分光する。検出器32は、検
出面近くにスリットを配したものを使用している。本実
施例は、レンズ41と42の距離をある程度自由に設定
できるので、鏡筒の軸長に関して装置の設計が容易にな
る。検出器32をレンズ42の後焦点面で移動させる構
成にすることによって、検出波長を変えることができ
る。また、上記スリットはピンホールに代えてもよい。Embodiment 2 FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the second embodiment of the spectral scanning microscope according to the present invention. In this embodiment, the transmitted light of the observation object is made into a parallel light flux, and a direct-view prism is arranged in the parallel light flux to constitute a telecentric optical system. In FIG. 3, the same functions and components as those of FIG. 1 are designated by the same reference numerals. By the arrangement of the lenses 40 and 41 and the setting of the focal length, the light transmitted through the lens 41 becomes parallel light. The direct-view prism 80 is disposed at the front focal point of the lens 42 in the transmitted light. The direct-view prism 80 includes a laser light 60 from a light source and a fluorescent light 61 excited by the laser light.
Are separated by their wavelength difference. The detector 32 has a slit arranged near the detection surface. In this embodiment, the distance between the lenses 41 and 42 can be freely set to some extent, which facilitates the design of the device with respect to the axial length of the lens barrel. The detection wavelength can be changed by arranging the detector 32 to move in the back focal plane of the lens 42. The slit may be replaced with a pinhole.
【0010】実施例3 図4は本発明による分光型走査顕微鏡の第3の実施例の
構成を示すブロック図である。 本実施例は、光源11
として赤、緑、青色の複数の光波長を発生するレーザ光
源11を使用して構成されたものである。レーザ光源1
1からのレーザ光は、レンズ43、ピンホール91及び
レンズ44によってコリメートされ、平行光束となる。
平行光束の光路に半透鏡90が配置されている。半透鏡
90を通過したレーザ光はレンズ45で観察物体20上
に集光される。観察物体20上で反射された光の一部
は、レンズ45によって平行光束にされ、半透鏡90に
よって反射され、直視プリズム80で赤色光62、緑色
光63の及び青色光64に分光される。分光された3色
の光はレンズ42でアレイ検出器31に照射され、検出
される。アレイ検出器31からの3色の光62、63及
び64に対応するそれぞれの出力は表示装置72のカラ
ー表示のためのRGB信号として使用される。70は観
察物体20を走査するための走査機構であり、移動機構
70及び表示装置72は制御回路71で制御される。本
実施例は、観察物体20の構成部分の波長の違いによる
反射率の差を利用して、観察物体20の構成をカラー表
示できる。なお、上記実施例ではレーザ光源11とし
て、赤、緑、青色の複数の光波長を発生するレーザ光源
を使用したが、光源として波長が広域に分布した白色光
源を使用し、光学フィルタを設けたり、検出器31の近
くに、波長に応じた位置にスリットを配置して、赤、
緑、青色に対応する信号を選択するように構成してもよ
い。Embodiment 3 FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a third embodiment of the spectral scanning microscope according to the present invention. In this embodiment, the light source 11
The laser light source 11 that generates a plurality of light wavelengths of red, green, and blue is used as the above. Laser light source 1
The laser light from No. 1 is collimated by the lens 43, the pinhole 91 and the lens 44, and becomes a parallel light flux.
A semitransparent mirror 90 is arranged in the optical path of the parallel light flux. The laser light that has passed through the semi-transparent mirror 90 is condensed on the observation object 20 by the lens 45. A part of the light reflected on the observation object 20 is collimated by the lens 45, reflected by the semitransparent mirror 90, and split into the red light 62, the green light 63, and the blue light 64 by the direct-view prism 80. The arrayed detectors 31 are irradiated with the separated light of three colors by the lens 42 and detected. The respective outputs corresponding to the three color lights 62, 63 and 64 from the array detector 31 are used as RGB signals for color display of the display device 72. Reference numeral 70 denotes a scanning mechanism for scanning the observation object 20, and the moving mechanism 70 and the display device 72 are controlled by the control circuit 71. In the present embodiment, the configuration of the observation object 20 can be displayed in color by utilizing the difference in reflectance due to the difference in the wavelength of the components of the observation object 20. In the above embodiment, the laser light source 11 is a laser light source that generates a plurality of light wavelengths of red, green, and blue. However, a white light source having a wide wavelength distribution is used as a light source, and an optical filter is provided. , A slit is arranged near the detector 31 at a position according to the wavelength, and red,
You may comprise so that the signal corresponding to green and blue may be selected.
【0011】[0011]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の分光型走
査顕微鏡によれば、直視プリズムと分光された光を検出
する光検出器を使用することにより、従来の走査光学顕
微鏡の構成を大きく変えずに、走査光学顕微鏡に分光機
能を簡単に付設できる効果があり、通常の分光器を使用
するものと比較して簡便である。As described above, according to the spectroscopic scanning microscope of the present invention, the structure of the conventional scanning optical microscope can be greatly increased by using the direct-view prism and the photodetector for detecting the dispersed light. There is an effect that the spectroscopic function can be easily attached to the scanning optical microscope without changing, and it is simpler than that using an ordinary spectroscope.
【図1】本発明による分光型走査顕微鏡の第1の実施例
の構成ブロック図である。FIG. 1 is a configuration block diagram of a first embodiment of a spectral scanning microscope according to the present invention.
【図2】走査光学顕微鏡の一般的な構成図である。FIG. 2 is a general configuration diagram of a scanning optical microscope.
【図3】本発明による分光型走査顕微鏡の第2の実施例
の構成ブロック図である。FIG. 3 is a configuration block diagram of a second embodiment of the spectral scanning microscope according to the present invention.
【図4】本発明による分光型走査顕微鏡の第3の実施例
の構成ブロック図である。FIG. 4 is a configuration block diagram of a third embodiment of a spectral scanning microscope according to the present invention.
1…照射光源、 2…観察物体 30…光検出器 31…アレイディテクタ 40、41…レンズ 5…プローブ光 60…検出光 61…蛍光 70…走査機構 71…制御回路 72…表示装置 80…直視プリズム 90…半透鏡。 1 ... Irradiation light source, 2 ... Observing object 30 ... Photodetector 31 ... Array detector 40, 41 ... Lens 5 ... Probe light 60 ... Detection light 61 ... Fluorescence 70 ... Scanning mechanism 71 ... Control circuit 72 ... Display device 80 ... Direct-view prism 90 ... Semi-transparent mirror.
Claims (6)
機構と、上記光を収束して上記試料に照射する光学系と
上記試料又は上記収束光を走査する走査機構と、上記試
料からの光を分光する直視プリズムと、上記直視プリズ
ムで分光された光を検出する光検出器と、上記試料にお
ける上記光の照射位置と上記光検出器の出力とを対応付
けて表示する表示手段とを含んで構成されたことを特徴
とする分光型走査顕微鏡。1. A mechanism for arranging a sample at a focal position of light from a light source, an optical system for converging the light to irradiate the sample, a scanning mechanism for scanning the sample or the converged light, and A direct-view prism for splitting the light of, a photodetector for detecting the light split by the direct-view prism, a display means for displaying the irradiation position of the light in the sample and the output of the photodetector in association with each other. A spectroscopic scanning microscope comprising:
て、上記光検出器として移動可能なスリット又はピンホ
ールの受光面を有する光検出器を用いたことを特徴とす
る分光型走査顕微鏡。2. The spectroscopic scanning microscope according to claim 1, wherein a photodetector having a movable slit or pinhole light receiving surface is used as the photodetector.
て、上記試料からの光を分光する直視プリズムが上記試
料に照射する光学系の光学軸上のに配置され、上記試料
の透過光を分光するように配置されたことを特徴とする
分光型走査顕微鏡。3. The spectroscopic scanning microscope according to claim 1, wherein a direct-view prism which disperses light from the sample is arranged on an optical axis of an optical system for irradiating the sample, and disperses transmitted light of the sample. The spectroscopic scanning microscope is characterized by being arranged as follows.
て、上記試料からの光を分光する直視プリズムが上記試
料から反射された反射光を分光するように配置されたこ
とを特徴とする分光型走査顕微鏡。4. The spectroscopic scanning microscope according to claim 1, wherein a direct-view prism that disperses light from the sample is arranged to disperse reflected light reflected from the sample. Scanning microscope.
て、上記光検出器としてアレイディテクタを使用したこ
とを特徴とする分光型走査顕微鏡。5. The spectroscopic scanning microscope according to claim 1, wherein an array detector is used as the photodetector.
て、上記光源として複数の光波長を発生する光源を使用
し、上記表示手段が上記光検出器からの出力に基づきカ
ラー表示する手段で構成されたことを特徴とする分光型
走査顕微鏡。6. The spectroscopic scanning microscope according to claim 5, wherein a light source for generating a plurality of light wavelengths is used as the light source, and the display means is means for displaying in color in accordance with the output from the photodetector. A spectroscopic scanning microscope characterized in that
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34457391A JPH05172741A (en) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | Spectroscopic scanning microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34457391A JPH05172741A (en) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | Spectroscopic scanning microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05172741A true JPH05172741A (en) | 1993-07-09 |
Family
ID=18370321
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34457391A Pending JPH05172741A (en) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | Spectroscopic scanning microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05172741A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07311089A (en) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Toppan Printing Co Ltd | Spectral characteristics measuring device |
JP2004170977A (en) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and arrangement for optically grasping a sample at a resolution depth |
JP2005091615A (en) * | 2003-09-16 | 2005-04-07 | Olympus Corp | Microscope |
JP2006510886A (en) * | 2002-12-19 | 2006-03-30 | カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Methods and arrangements for optical inspection and / or optical processing of samples |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP34457391A patent/JPH05172741A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07311089A (en) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Toppan Printing Co Ltd | Spectral characteristics measuring device |
JP2004170977A (en) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and arrangement for optically grasping a sample at a resolution depth |
JP2006510886A (en) * | 2002-12-19 | 2006-03-30 | カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Methods and arrangements for optical inspection and / or optical processing of samples |
JP2005091615A (en) * | 2003-09-16 | 2005-04-07 | Olympus Corp | Microscope |
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