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JPH05166992A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

Info

Publication number
JPH05166992A
JPH05166992A JP3330742A JP33074291A JPH05166992A JP H05166992 A JPH05166992 A JP H05166992A JP 3330742 A JP3330742 A JP 3330742A JP 33074291 A JP33074291 A JP 33074291A JP H05166992 A JPH05166992 A JP H05166992A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
protective frame
frame member
semiconductor
protective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3330742A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuto Tsuji
和人 辻
Junichi Kasai
純一 河西
Tetsuo Taniguchi
哲生 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3330742A priority Critical patent/JPH05166992A/en
Publication of JPH05166992A publication Critical patent/JPH05166992A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W74/00

Landscapes

  • Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は保護枠に取り付けられた状態で出荷さ
れる半導体装置に関し、保護枠により高精度の位置決め
を行うことを目的とする。 【構成】半導体装置本体16と、アウターリード14b
より外側位置に半導体装置本体16を囲繞するように配
設される枠体部18と、この枠体部18と半導体装置本
体16との間に配設れさており半導体装置本体16を枠
体部18に支持させる支持部19とを有すると共に、枠
体部18と支持部19とが金属材により一体的に形成さ
れてなる保護枠17により構成する。
(57) [Summary] [Object] The present invention relates to a semiconductor device shipped in a state of being attached to a protective frame, and an object thereof is to perform highly accurate positioning by the protective frame. [Structure] Semiconductor device body 16 and outer leads 14b
A frame body portion 18 is provided at a more outer position so as to surround the semiconductor device body 16, and the semiconductor device body 16 is provided between the frame body portion 18 and the semiconductor device body 16. The protective frame 17 has a supporting portion 19 to be supported by 18, and the frame body portion 18 and the supporting portion 19 are integrally formed of a metal material.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に係り、特に
保護枠に取り付けられた状態で出荷される半導体装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly, it relates to a semiconductor device which is shipped while attached to a protective frame.

【0002】一般に半導体装置は、製品として出荷する
際、リードフレームを切り落とし、かつアウターリード
を所定形状に折曲加工した状態で出荷している。
In general, a semiconductor device is shipped as a product with the lead frame cut off and the outer leads bent into a predetermined shape.

【0003】しかるに、近年の半導体装置の高集積化及
び多ピン化に伴いアウターリードは狭ピッチ化してきて
おり、その機械的強度は弱くなってきている。
However, the pitch of the outer leads is becoming narrower with the recent trend toward higher integration and higher pin count of semiconductor devices, and the mechanical strength thereof is becoming weaker.

【0004】そこで、所定形状に成形されたアウターリ
ードを保護するため、半導体装置本体の外周を囲繞する
よう保護枠を設けると共に、保護枠と半導体装置本体と
をサポートバーで接続し、この保護枠によりアウターリ
ードを保護することが行われている。
Therefore, in order to protect the outer lead formed in a predetermined shape, a protective frame is provided so as to surround the outer periphery of the semiconductor device body, and the protective frame and the semiconductor device body are connected by a support bar. The outer leads are protected by.

【0005】[0005]

【従来の技術】図14は、従来における半導体装置1を
示している。同図において、2は半導体装置本体であ
り、また3は半導体装置本体を保護するための樹脂で形
成された保護枠である。
2. Description of the Related Art FIG. 14 shows a conventional semiconductor device 1. In the figure, 2 is a semiconductor device main body, and 3 is a protective frame made of resin for protecting the semiconductor device main body.

【0006】半導体装置本体2は、半導体チップ(図に
現れず)を封止する樹脂パッケージ4の側部より複数の
リード5が延出した構成とされている。また、保護枠3
はリード5より外側位置で上記半導体装置本体2を囲繞
するように配設される。
The semiconductor device main body 2 has a structure in which a plurality of leads 5 extend from a side portion of a resin package 4 for encapsulating a semiconductor chip (not shown in the figure). Also, the protective frame 3
Is arranged outside the leads 5 so as to surround the semiconductor device body 2.

【0007】また、平面的に見て方形状を有するパッケ
ージ4の四隅位置からは保護枠3に向け延出するサポー
トバー6が形成されており、このサポートバー6が保護
枠3に接続されることにより、半導体装置本体2は保護
枠3に支承される構成とされていた。これにより、狭ピ
ッチとされたリード5であっても、保護枠3によりリー
ド5を保護することができる。また、図中7は後述する
位置決め用のガイドホールである。
Support bars 6 extending toward the protective frame 3 are formed from the four corners of the package 4 having a rectangular shape in plan view, and the support bars 6 are connected to the protective frame 3. As a result, the semiconductor device main body 2 is supported by the protective frame 3. Thereby, even if the leads 5 have a narrow pitch, the leads 5 can be protected by the protection frame 3. Further, reference numeral 7 in the drawing denotes a positioning guide hole described later.

【0008】従来、上記の樹脂パッケージ4,保護枠
3,サポートバー6は、樹脂パッケージ4のモールド成
型時に一体的に樹脂形成される構成とされていた。
Conventionally, the resin package 4, the protective frame 3, and the support bar 6 are formed integrally with each other when the resin package 4 is molded.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記従来の
半導体装置1では、保護枠3及びサポートバー6が樹脂
により形成されていたため、次のような問題点があっ
た。
However, in the above-described conventional semiconductor device 1, since the protective frame 3 and the support bar 6 are made of resin, there are the following problems.

【0010】上記のように、半導体装置本体2を保護枠
3により保護する構成の半導体装置1では、半導体装置
本体2を電子機器に搭載する前にサポートバー6を切り
落とし、半導体装置本体2を保護枠3から分離した状態
で電子機器に搭載する必要がある。また、この半導体装
置本体2を保護枠3から分離するプレス切断工程におい
ては、リード5の折り曲げ加工が同時に実施される(出
荷状態では、リード5は水平状態となっている)。
As described above, in the semiconductor device 1 having the structure in which the semiconductor device body 2 is protected by the protective frame 3, the support bar 6 is cut off before the semiconductor device body 2 is mounted on an electronic device to protect the semiconductor device body 2. It is necessary to mount the electronic device in a state of being separated from the frame 3. Further, in the press cutting step of separating the semiconductor device main body 2 from the protective frame 3, the bending process of the leads 5 is simultaneously performed (the leads 5 are horizontal in the shipping state).

【0011】リード5の折り曲げ加工は高精度の加工で
あり、従って半導体装置1をプレス装置の金型に高精度
に位置決めした状態で装着する必要がある。この位置決
めは保護枠3に形成されているガイドホール7を用いて
行われるが、保護枠3及びサポートバー6が樹脂により
形成された構成では、樹脂の収縮によりガイドホール7
に位置ずれが発生し、高精度の位置決めを行うことがで
きないという問題点があった。
The bending process of the lead 5 is a highly accurate process, and therefore it is necessary to mount the semiconductor device 1 on the mold of the pressing device in a highly accurately positioned state. This positioning is performed using the guide hole 7 formed in the protective frame 3, but in the configuration in which the protective frame 3 and the support bar 6 are formed of resin, the guide hole 7 is formed by contraction of the resin.
There is a problem in that a positional deviation occurs in the position, and highly accurate positioning cannot be performed.

【0012】また、樹脂パッケージ4は、リードフレー
ムに接続された状態のダイパッドに搭載された半導体チ
ップを樹脂封止することにより形成されるが、この際、
リードフレームと成型された樹脂(樹脂パッケージ4,
保護枠3,サポートバー6)との間に型ずれがあるた
め、保護枠3を基準にして半導体装置本体2の位置決め
を行うことができないという問題点があった。
The resin package 4 is formed by resin-sealing the semiconductor chip mounted on the die pad connected to the lead frame.
Lead frame and molded resin (resin package 4,
There is a problem that the semiconductor device main body 2 cannot be positioned with the protective frame 3 as a reference because of a mold deviation between the protective frame 3 and the support bar 6).

【0013】更に、前記したように従来の半導体装置1
では、出荷時において半導体装置1は保護枠3が配設さ
れており、かつリード5は水平状態となっているため、
ユーザ側で保護枠3及びサポートバー6の除去作業及び
上記高精度のリード5の折り曲げ加工を行う必要があ
り、ユーザ側の作業負担が増大するという問題点があっ
た。
Further, as described above, the conventional semiconductor device 1
Then, since the semiconductor device 1 is provided with the protective frame 3 and the leads 5 are in a horizontal state at the time of shipment,
There is a problem that the user side needs to remove the protective frame 3 and the support bar 6 and bend the highly accurate lead 5 to increase the work load on the user side.

【0014】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、保護枠により高精度の位置決めを行うことを可能
とした半導体装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to provide a semiconductor device capable of performing highly accurate positioning with a protective frame.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記の課題は、半導体素
子と、この半導体素子を搭載するダイパッドと、半導体
素子を封止する樹脂製パッケージと、半導体素子に接続
されるインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出
したアウターリードとにより構成される複数のリードと
を有する半導体装置本体と、上記アウターリードより外
側位置に半導体装置本体を囲繞するように配設される枠
体部と、この枠体部と該半導体装置本体との間に配設れ
さており半導体装置本体を上記枠体部に支持させる支持
部とを有すると共に、枠体部と支持部とが金属材により
前記ダイパッドと一体的に形成されてなる保護枠と、に
より構成されることを特徴とする半導体装置により解決
することができる。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned problems are solved by a semiconductor element, a die pad on which the semiconductor element is mounted, a resin package for sealing the semiconductor element, an inner lead connected to the semiconductor element, and a resin package. A semiconductor device main body having a plurality of leads formed by outer leads extending to the outside, a frame body portion provided outside the outer leads so as to surround the semiconductor device main body, and this frame The semiconductor device body has a support portion disposed between the body portion and the semiconductor device body and supporting the semiconductor device body on the frame body portion, and the frame body portion and the support portion are integrally formed with the die pad by a metal material. It is possible to solve the problem by a semiconductor device characterized in that it is configured by a protective frame formed in.

【0016】また、上記保護枠に半導体装置本体の位置
決めを行うためのガイドホールを形成することにより、
また、上記保護枠に折り曲げ部を形成することにより、
また、上記アウターリードを所定形状に折曲形成し、上
記折り曲げ部をアウターリードを保護する方向に折曲方
向することにより、更に、上記枠体部の一部に絶縁性の
樹脂部材を配設することにより一層効果的に解決するこ
とができる。
Further, by forming a guide hole for positioning the semiconductor device body in the protective frame,
Further, by forming a bent portion in the protective frame,
In addition, by bending the outer lead into a predetermined shape and bending the bent portion in a direction that protects the outer lead, an insulating resin member is further provided in a part of the frame body portion. By doing so, it can be solved more effectively.

【0017】また、上記課題は、半導体素子と、この半
導体素子を搭載するダイパッドと、上記半導体素子を封
止する樹脂製パッケージと、上記半導体素子と接続され
るインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出した
アウターリードとにより構成される複数のリードとを有
する半導体装置本体と、この半導体装置本体より一体的
に外側に向け延出するよう形成された金属製の支持部材
と、上記アウターリードより外側位置に上記半導体装置
本体を囲繞するように配設されると共に、上記支持部材
が固定されることによりこの支持部材を介して半導体装
置本体を支持する金属製の保護枠部材と、により構成さ
れることを特徴とする半導体装置により解決することが
できる。
Further, the above-mentioned problem is to provide a semiconductor element, a die pad on which the semiconductor element is mounted, a resin package for encapsulating the semiconductor element, an inner lead connected to the semiconductor element, and an external resin package. A semiconductor device main body having a plurality of leads configured by extending outer leads, a metal support member formed so as to integrally extend outward from the semiconductor device main body, and the outer lead A metal protective frame member that is disposed at an outer position so as to surround the semiconductor device body and that supports the semiconductor device body via the support member by fixing the support member. This can be solved by a semiconductor device characterized by the above.

【0018】また、上記保護枠部材または支持部材に上
記半導体装置本体の位置決めを行うためのガイドホール
を形成することにより、また、上記保護枠部材に折り曲
げ部を形成することにより、また、上記アウターリード
を所定形状に折曲形成し、上記折り曲げ部をアウターリ
ードを保護する方向に折曲することにより、また、上記
保護枠部材の一部に絶縁性の樹脂部材を配設することに
より、更に、上記支持部材を保護枠部材に溶接手段によ
り固定することにより一層効果的に解決することができ
る。
Further, by forming a guide hole for positioning the semiconductor device body in the protective frame member or the supporting member, and by forming a bent portion in the protective frame member, the outer member is also formed. By forming a lead into a predetermined shape and bending the bent portion in a direction that protects the outer lead, and by disposing an insulating resin member in a part of the protection frame member, Further, by fixing the support member to the protective frame member by welding means, the problem can be solved more effectively.

【0019】更に、上記課題は、半導体素子と、この半
導体素子を搭載するダイパッドと、上記半導体素子を封
止する樹脂製パッケージと、上記半導体素子と接続され
るインナーリードと樹脂製パッケージの外部に延出した
アウターリードとにより構成される複数のリードとを有
する半導体装置本体と、上記アウターリードより外側位
置に上記半導体装置本体を囲繞するように配設される枠
体部と、この枠体部と半導体装置本体との間に配設れさ
ており半導体装置本体を枠体部に支持させる支持部とを
有すると共に、上記枠体部と支持部とが金属材により一
体的に形成されてなる第1の保護枠部材と、上記枠体部
を挟んでその上部と下部に夫々と重畳するよう配設され
る第2及び第3の保護枠部材とにより構成されることを
特徴とする半導体装置により解決することができる。
Further, the above-mentioned problem is that a semiconductor element, a die pad on which the semiconductor element is mounted, a resin package for encapsulating the semiconductor element, an inner lead connected to the semiconductor element, and an external resin package are provided. A semiconductor device body having a plurality of leads including extended outer leads, a frame body portion provided outside the outer leads so as to surround the semiconductor device body, and the frame body portion. And a supporting portion for supporting the semiconductor device main body on a frame body portion, the frame body portion and the supporting portion being integrally formed of a metal material. 1. A semiconductor comprising: a first protective frame member; and second and third protective frame members that are arranged so as to overlap with each other on the upper and lower sides of the frame body portion. It can be solved by location.

【0020】また、上記第1乃至第3の保護枠部材また
は支持部材に、上記半導体装置本体の位置決めを行うた
めのガイドホールを形成することにより、また、上記第
2または第3の保護枠部材の少なくとも一方に折り曲げ
部を形成することにより、また、上記アウターリードを
所定形状に折曲形成し、上記折り曲げ部をアウターリー
ドを保護する方向に折曲することにより、また、上記第
1乃至第3の保護枠部材の一部に絶縁性の樹脂テープを
配設したことにより、また、第1乃至第3の保護枠部材
を溶接手段により一体的に固定することにより一層効果
的に解決することができる。更には、上記第1の保護枠
部材と第2の保護枠部材との溶接位置と、第1の保護枠
部材と該第3の保護枠部材との溶接位置を異なる位置に
選定し、上記第3の保護枠部材の上記第1の保護枠部材
と第2の保護枠部材との溶接位置と対向する位置に第1
の逃げ孔を形成し、上記第2の保護枠部材の上記第1の
保護枠部材と第3の保護枠部材との溶接位置と対向する
位置に第2の逃げ孔を形成し、第1及び第2の逃げ孔を
通過するようレーザ光を照射し、この第1の保護枠部材
と第2の保護枠部材、及び第1の保護枠部材と第3の保
護枠部材とをレーザ溶接する構成としても良い。
Further, by forming a guide hole for positioning the semiconductor device main body in the first to third protective frame members or supporting members, the second or third protective frame member is also provided. By forming a bent portion on at least one side of the outer lead by bending the outer lead into a predetermined shape and bending the bent portion in a direction that protects the outer lead. By arranging an insulative resin tape on a part of the third protection frame member, and by fixing the first to third protection frame members integrally by welding means, a more effective solution is provided. You can Furthermore, the welding position between the first protection frame member and the second protection frame member and the welding position between the first protection frame member and the third protection frame member are selected at different positions, The first protection frame member of the third protection frame member is located at a position facing the welding position between the first protection frame member and the second protection frame member.
To form a second escape hole at a position facing the welding position of the first protection frame member and the third protection frame member of the second protection frame member, and A configuration in which laser light is irradiated so as to pass through the second escape hole, and the first protection frame member and the second protection frame member, and the first protection frame member and the third protection frame member are laser welded. Also good.

【0021】[0021]

【作用】上記構成とされた半導体装置では、保護枠部材
及び支持部材が金属材料により構成されるため、従来の
樹脂製の保護枠に比べて保護枠部材の収縮を少なくする
ことができる。よって、ガイドホールの位置を高精度に
決めることができ、自動プレス加工時等における半導体
装置の位置決めを高精度に行うことができる。
In the semiconductor device having the above structure, since the protective frame member and the support member are made of a metal material, the contraction of the protective frame member can be reduced as compared with the conventional resin protective frame. Therefore, the position of the guide hole can be determined with high accuracy, and the semiconductor device can be positioned with high accuracy during automatic press working or the like.

【0022】また、樹脂モールドは樹脂パッケージ形成
にのみに実施され、寸法精度を要する保護枠部材及び支
持部材に樹脂はモールドされないため、樹脂による寸法
ずれが発生することもない。
Further, the resin molding is carried out only for forming the resin package, and the resin is not molded on the protective frame member and the supporting member which require dimensional accuracy, so that the dimensional deviation due to the resin does not occur.

【0023】また、支持部材を半導体装置本体に接続す
ると共に、保護枠部材を支持部と別体構造し、支持部材
を保護枠部材に固定することにより半導体装置本体を保
護枠部材に支持させる構成とすることにより、保護枠部
材を支持部材の材質に拘わらず選定することができる。
支持部材は、リードフレーム,ダイパッド等と同質の材
料とする必要がある。一方、保護枠部材は機械的強度の
強い材料とする必要がある。支持部材と保護枠部材とを
別体構造とすることにより、各部材の機能に適した材料
を選定する事が可能となる。また、支持部材を固定する
前に保護枠部材に折り曲げ部を形成することができるた
め、折り曲げ部の加工を容易に行うことができる。
Further, the supporting member is connected to the semiconductor device main body, the protective frame member is formed separately from the supporting portion, and the supporting member is fixed to the protective frame member so that the semiconductor device main body is supported by the protective frame member. With this, the protection frame member can be selected regardless of the material of the support member.
The support member needs to be made of the same material as the lead frame, die pad, and the like. On the other hand, the protective frame member needs to be made of a material having high mechanical strength. By forming the support member and the protective frame member as separate members, it is possible to select a material suitable for the function of each member. Further, since the bent portion can be formed in the protective frame member before fixing the support member, the bent portion can be easily processed.

【0024】更に、半導体装置本体が配設された第1の
保護枠部材の枠体部を挟んで、その上部と下部に重畳す
るよう第2及び第3の保護枠部材を配設することによ
り、より機械的強度を向上させることができる。
Further, by sandwiching the frame portion of the first protective frame member on which the semiconductor device main body is disposed, the second and third protective frame members are disposed so as to overlap the upper and lower portions thereof. The mechanical strength can be further improved.

【0025】また、保護枠或いは保護枠部材に折り曲げ
部を形成することにより、保護枠或いは保護枠部材の剛
性は高まり機械的強度を向上させることができる。これ
により、半導体装置本体の保護をより確実に行うことが
できる。
Further, by forming the bent portion in the protective frame or the protective frame member, the rigidity of the protective frame or the protective frame member is increased and the mechanical strength can be improved. As a result, the semiconductor device body can be protected more reliably.

【0026】また、折り曲げ部の折曲方向をアウターリ
ードの折曲方向と同方向とすることにより、上方或いは
下方に折り曲げられて突出したアウターリードを折り曲
げ部により保護することができる。
Further, by setting the bending direction of the bent portion to be the same as the bending direction of the outer lead, the outer lead which is bent upward or downward and protrudes can be protected by the bent portion.

【0027】また、枠体部の一部に絶縁性の樹脂テープ
を配設することにより、半導体装置のハンドリングを容
易に行うことができる。
Further, by disposing the insulating resin tape on a part of the frame portion, the semiconductor device can be easily handled.

【0028】[0028]

【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。図1は本発明の第1実施例である半導体装置10
を示しており、(A)は半導体装置10の部分切截平面
図であり、(B)は部分切截正面図である。半導体装置
10は、大略すると半導体装置本体16と、保護枠17
とにより構成されている。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a semiconductor device 10 according to a first embodiment of the present invention.
3A is a plan view showing a part of the semiconductor device 10, and FIG. 2B is a front view showing a part of the semiconductor device. The semiconductor device 10 roughly includes a semiconductor device body 16 and a protective frame 17.
It is composed of and.

【0029】先ず、半導体装置本体16の構成について
説明する。同図において、11は半導体素子であり、ダ
イパッド12上にダイボンディングされている。この半
導体素子11は、樹脂製のパッケージ13により封止さ
れることにより保護されている。
First, the structure of the semiconductor device body 16 will be described. In the figure, 11 is a semiconductor element, which is die-bonded on the die pad 12. The semiconductor element 11 is protected by being sealed with a resin package 13.

【0030】また図中、14はリードであり、インナー
リード14aとアウターリード14bとにより構成され
ている。インナーリード14aは半導体素子11に形成
されているボンディングパッド(図示せず)とワイヤ1
5により接続されており、またアウターリード14bは
パッケージ13の外部に延出すると共に、ガルウイング
状に成形されている。半導体装置本体16は、リード1
4がパッケージ13の四側面より延出されたQFP(Qu
ad Flat Package)タイプの半導体装置である。上記各構
成要素により半導体装置本体16が構成される。
In the figure, 14 is a lead, which is composed of an inner lead 14a and an outer lead 14b. The inner leads 14a are the bonding pads (not shown) formed on the semiconductor element 11 and the wires 1
5, the outer leads 14b extend outside the package 13 and are formed in a gull wing shape. The semiconductor device body 16 includes the lead 1
4 is the QFP (Qu
It is an ad flat package type semiconductor device. The semiconductor device main body 16 is configured by the above-described components.

【0031】一方、保護枠17は、前記したアウターリ
ード14bの先端部より外側位置において、半導体装置
本体16を囲繞するように配設される枠体部18と、こ
の枠体部18と半導体装置本体16との間に配設されて
おり半導体装置本体16を枠体部18に支持させる支持
部19とにより構成されている。
On the other hand, the protective frame 17 has a frame body portion 18 arranged so as to surround the semiconductor device body 16 at a position outside the tip portion of the outer lead 14b described above, the frame body portion 18 and the semiconductor device. The semiconductor device main body 16 is provided between the main body 16 and the supporting portion 19 for supporting the semiconductor device main body 16 on the frame body portion 18.

【0032】この枠体部18と支持部19は一体的な構
成とされており、更にこの枠体部18と支持部19はダ
イパッド12とも一体的な構成とされている。従って、
半導体装置本体16は支持部19により確実に枠体部1
8に支持される。また、支持部19は、半導体装置本体
16の四隅位置から延出するよう構成されているため、
支持部19が複数配設されるリード14の邪魔となるよ
うなことはない。
The frame body portion 18 and the support portion 19 are constructed integrally with each other, and the frame body portion 18 and the support portion 19 are also constructed integrally with the die pad 12. Therefore,
The semiconductor device body 16 is surely supported by the support portion 19 so that the frame body portion 1
Supported by 8. Further, since the support portion 19 is configured to extend from the four corner positions of the semiconductor device body 16,
It does not interfere with the lead 14 in which a plurality of supporting portions 19 are arranged.

【0033】また、枠体部18及び支持部19は共に平
板状とされており、枠体部18及び支持部19の幅寸法
は、半導体装置10の出荷後において半導体装置本体1
6支持及び保護するのに十分耐えられるよう選定されて
いる。尚、同図において20で示すのはガイドホールで
あり、枠体部18の四隅位置に夫々形成されている。
Further, the frame body portion 18 and the support portion 19 are both flat plates, and the width dimensions of the frame body portion 18 and the support portion 19 are the semiconductor device main body 1 after the semiconductor device 10 is shipped.
6 Selected to be sufficiently durable to support and protect. In the figure, 20 is a guide hole, which is formed at each of the four corners of the frame body portion 18.

【0034】上記構成において、本発明では保護枠17
を金属により構成したことを特徴とするものである。具
体的な保護枠17の材料としては鉄−ニッケル合金(Fe
-Ni合金:例えば42alloy)等が考えられる。上記のよう
に、保護枠17として金属を用いることにより、従来用
いられていた樹脂製の保護枠に比べて保護枠17の収縮
を極めて少なくすることができる。よって、ガイドホー
ル20の位置を高精度に決めることができ、ユーザにお
いて実施される自動プレス加工時(保護枠17を取り外
すために実施される)における半導体装置10の位置決
めを高精度に行うことができ、加工精度を向上でき歩留
りの向上を図ることができる。
In the above structure, the protective frame 17 is used in the present invention.
Is characterized by being composed of metal. As a specific material for the protective frame 17, an iron-nickel alloy (Fe
-Ni alloy: 42 alloy) and the like are conceivable. As described above, by using the metal as the protective frame 17, the contraction of the protective frame 17 can be extremely reduced as compared with the conventional resin protective frame. Therefore, the position of the guide hole 20 can be determined with high accuracy, and the semiconductor device 10 can be positioned with high accuracy during the automatic press working performed by the user (implemented to remove the protective frame 17). Therefore, the processing accuracy can be improved and the yield can be improved.

【0035】また、樹脂モールドはパッケージ13を形
成するためにのみに実施され、位置決めの基準となるガ
イドホール20が形成されるため寸法精度が要求される
保護枠17に樹脂はモールドされない。これにより、樹
脂製の保護枠と異なり、樹脂モールド時に寸法ずれが発
生することはなく、半導体装置10の信頼性を向上させ
ることができる。
Further, the resin molding is performed only for forming the package 13, and since the guide hole 20 serving as a positioning reference is formed, the resin is not molded on the protective frame 17 which requires dimensional accuracy. As a result, unlike the protective frame made of resin, dimensional deviation does not occur during resin molding, and the reliability of the semiconductor device 10 can be improved.

【0036】図2は第1実施例の変形例である半導体装
置21を示しており、(A)は半導体装置21の平面図
であり、(B)は部分切截正面図である。尚、同図にお
いて図1に示した構成と同一構成部分については同一符
号を付してその説明を省略する。
2A and 2B show a semiconductor device 21 which is a modification of the first embodiment. FIG. 2A is a plan view of the semiconductor device 21, and FIG. 2B is a partially cutaway front view. In the figure, the same components as those shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0037】図1に示した半導体装置10では、保護枠
17を構成する枠体部18及び支持部19の形状が共に
平板形状であった。このように、枠体部18及び支持部
19を平板形状とした場合、その機械的強度は弱く、外
力が印加された場合に容易に曲がってしまい、半導体装
置本体16を十分に保護できないおそれがある。
In the semiconductor device 10 shown in FIG. 1, the frame body portion 18 and the support portion 19 constituting the protective frame 17 are both flat plates. As described above, when the frame body portion 18 and the support portion 19 are formed into a flat plate shape, the mechanical strength thereof is weak and the frame body portion 18 and the support portion 19 are easily bent when an external force is applied, so that the semiconductor device body 16 may not be sufficiently protected. is there.

【0038】そこで、半導体装置21では、枠体部23
の外側位置及び内側位置の所定範囲を折曲して折り曲げ
部22を形成したことを特徴とするものである。このよ
うに枠体部23に折り曲げ部22を形成することによ
り、枠体部23の剛性を高めることができ、保護枠24
の機械的強度を向上させることができ、半導体装置本体
16の保護をより確実に行うことができる。
Therefore, in the semiconductor device 21, the frame portion 23
The bent portion 22 is formed by bending a predetermined range of the outer side position and the inner side position. By forming the bent portion 22 in the frame body portion 23 in this way, the rigidity of the frame body portion 23 can be increased, and the protection frame 24
The mechanical strength of the semiconductor device can be improved, and the semiconductor device body 16 can be protected more reliably.

【0039】また、前記したように半導体装置本体16
を構成するリード14はガルウイング状に成形されてい
るため下方に向け突出している。図1に示した半導体装
置10では、保護枠17が平板形状であったため、面方
向に対する半導体装置本体16の保護は出来たものの、
リード14の下方に向け突出した部位の保護を確実に行
うことができなかった。
Further, as described above, the semiconductor device body 16
Since the lead 14 constituting the above is formed in a gull wing shape, it projects downward. In the semiconductor device 10 shown in FIG. 1, since the protection frame 17 has a flat plate shape, the semiconductor device body 16 can be protected in the plane direction,
It was not possible to reliably protect the portion of the lead 14 that protruded downward.

【0040】しかるに、半導体装置21では、折り曲げ
部22をリード14の突出方向と同じ方向に向けて折曲
されており、その折り曲げ深さはリード14の突出量よ
りも若干長くなるよう設定されている。従って、半導体
装置21に図2(B)において下方から上方に向け他物
が当接したような場合でも、この他物は折り曲げ部22
の先端と当接しリード14と当接することはない。よっ
て、所定形状に成形されたリード14を確実に保護する
ことができる。
However, in the semiconductor device 21, the bent portion 22 is bent in the same direction as the protruding direction of the lead 14, and the bending depth is set to be slightly longer than the protruding amount of the lead 14. There is. Therefore, even when another object contacts the semiconductor device 21 from the lower side to the upper side in FIG.
It does not come into contact with the lead 14 and the lead 14. Therefore, the lead 14 molded into a predetermined shape can be reliably protected.

【0041】図3(A)は、図2におけるA−A断面を
示している。図2に示した半導体装置21では、折り曲
げ部22の形状を同図に示すように断面コ字状の形状と
したが、折り曲げ部22の形状はこれに限定されるもの
ではなく、同図(B)に示すように枠体部23の両側部
を上下方向に夫々折曲した形状としても良く、また、同
図(C)に示すように枠体部23の一側部のみを折曲し
た形状としても良い。
FIG. 3A shows a cross section taken along the line AA in FIG. In the semiconductor device 21 shown in FIG. 2, the bent portion 22 has a U-shaped cross section as shown in FIG. 2, but the shape of the bent portion 22 is not limited to this, and As shown in B), both side portions of the frame body portion 23 may be bent in the vertical direction, respectively, or only one side portion of the frame body portion 23 is bent as shown in FIG. It may be shaped.

【0042】図4は半導体装置21において、枠体部2
3の所定四箇所にポリイミド等の絶縁テープ25を配設
した構成を示しており、同図(A)は絶縁テープ25を
配設した半導体装置21の平面図であり、(B)は
(A)のB−B線に沿う断面図である。
FIG. 4 shows the semiconductor device 21 in which the frame 2
3 shows a structure in which insulating tapes 25 made of polyimide or the like are arranged at predetermined four positions in FIG. 3, FIG. 7A is a plan view of the semiconductor device 21 in which the insulating tapes 25 are arranged, and FIG. 3 is a sectional view taken along line BB in FIG.

【0043】上記のように枠体部23の所定位置に絶縁
テープ25を配設することにより、ハンドリング時にお
ける電気的破壊を防止することができる。即ち、ハンド
リング時にアームにより半導体装置21を把持する際、
アームが電荷を帯びている場合があり、このようなアー
ムで金属製の枠体部23を把持した場合半導体素子11
が破壊されてしまうおそれがある。しかるに、アームに
把持される部位に絶縁テープ25を配設することによ
り、このような破壊を確実に防止することができる。
By disposing the insulating tape 25 at a predetermined position of the frame portion 23 as described above, it is possible to prevent electrical breakdown during handling. That is, when the semiconductor device 21 is gripped by the arm during handling,
The arm may be charged, and when the metal frame body portion 23 is held by such an arm, the semiconductor element 11
May be destroyed. However, by disposing the insulating tape 25 at the portion gripped by the arm, such breakage can be reliably prevented.

【0044】第5図は、本発明の第2実施例である半導
体装置30を示す図であり、また図6は半導体装置30
を分解した状態を示している。尚、各図においても図1
を用いて説明した第1実施例に係る半導体装置10と同
一構成部分については同一符号を付してその説明を省略
する。
FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor device 30 according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a semiconductor device 30.
It shows the state of disassembling. In addition, in each drawing, FIG.
The same components as those of the semiconductor device 10 according to the first embodiment described with reference to FIGS.

【0045】本実施例では、第1実施例に係る半導体装
置10において一体化されていた保護枠17を構成する
枠体部18と支持部19とを分離させたことを特徴とす
るものである。具体的には、半導体装置本体16より一
体的に外側に向け延出するよう形成された金属製の支持
部材31を設けると共に、アウターリード14bより外
側位置に半導体装置本体16を囲繞するように保護枠部
材32を設け、この支持部材31と保護枠部材32とを
溶接等により一体化したことを特徴とするものである。
The present embodiment is characterized in that the frame body portion 18 and the support portion 19 constituting the protection frame 17 which are integrated in the semiconductor device 10 according to the first embodiment are separated. .. Specifically, a metal supporting member 31 formed integrally with the semiconductor device body 16 to extend outward is provided, and the semiconductor device body 16 is protected at a position outside the outer leads 14b. A frame member 32 is provided, and the support member 31 and the protective frame member 32 are integrated by welding or the like.

【0046】本実施例においても支持部材31及び保護
枠部材32は金属材料により構成されている。また、支
持部材31はダイパッド(同図には現れず)と一体化さ
れており、従ってその材質はダイパッド及びリード14
と同一材質(42alloy等)とされている。一方、保護枠部
材32は図6に示すように4本の枠構成部材32a〜3
2dにより構成されている。本実施例では、支持部材3
1と保護枠部材32を分離させて別体構成としたことに
より、支持部材31の材質に拘わらず保護枠部材32の
材質を選定すること可能となった。
Also in this embodiment, the support member 31 and the protective frame member 32 are made of a metal material. Further, the supporting member 31 is integrated with the die pad (not shown in the figure), so that the material thereof is the die pad and the leads 14.
It is made of the same material (42alloy, etc.). On the other hand, as shown in FIG. 6, the protective frame member 32 includes four frame constituent members 32a to 3a.
It is composed of 2d. In this embodiment, the support member 3
By separating 1 and the protective frame member 32 into a separate structure, the material of the protective frame member 32 can be selected regardless of the material of the support member 31.

【0047】前記したように、保護枠部材32は半導体
装置本体16を支持する必要があるため、所定の機械的
強度を持たせる必要がある。従って、上記構成とするこ
とにより保護枠部材32の材質として強度の高い材質を
選定する事が可能となり、半導体装置本体16の保護を
より確実に行うことができ、半導体装置30の信頼性を
向上させることができる。
As described above, since the protective frame member 32 needs to support the semiconductor device body 16, it must have a predetermined mechanical strength. Therefore, with the above configuration, a material having high strength can be selected as the material of the protective frame member 32, the semiconductor device main body 16 can be protected more reliably, and the reliability of the semiconductor device 30 is improved. Can be made

【0048】一方、上記した図6に示す半導体装置30
では、保護枠部材32を4本の枠構成部材32a〜32
dにより構成したが、保護枠部材32は必ずしも4本の
枠構成部材32a〜32dにより構成する必要はなく、
例えば図7に示すように、予め枠形状を有した保護枠部
材33を用いてもよい。この構成とすることにより、4
本の枠構成部材32a〜32dにより構成される保護枠
部材32に比べて溶接箇所が減るため、半導体装置の製
造工程を簡単化することができる。
On the other hand, the semiconductor device 30 shown in FIG.
Then, the protective frame member 32 is replaced with four frame component members 32a to 32.
Although it is configured by d, the protective frame member 32 does not necessarily have to be configured by the four frame component members 32a to 32d,
For example, as shown in FIG. 7, a protective frame member 33 having a frame shape in advance may be used. With this configuration, 4
Compared to the protective frame member 32 formed by the frame frame members 32a to 32d, the number of welding points is reduced, so that the semiconductor device manufacturing process can be simplified.

【0049】また、図6及び図7に示す保護枠部材3
2,33では、共にその形状が平板形状であるため、材
質的な強度は向上されたとしても形状的な強度はまだ弱
い。従って、図8に示す保護枠部材34のように折り曲
げ部35を形成することにより、保護枠部材34の剛性
を高め機械的強度をより向上させた構成としてもよい。
また前記したように、折り曲げ部35の折曲方向及び折
り曲げ深さを適宜選定することにより、リード14の保
護をより確実に行うこともできる。更に、保護枠部材3
4は支持部材31と分離した構成であるため、折り曲げ
部35を容易に加工することができ、加工性を向上させ
ることもできる。尚、同図(B)は折り曲げ部35の形
状を示すため、(A)におけるC−C断面を示してい
る。
Further, the protective frame member 3 shown in FIGS. 6 and 7
In Nos. 2 and 33, since the shapes of both are flat, even if the material strength is improved, the shape strength is still weak. Therefore, by forming the bent portion 35 like the protection frame member 34 shown in FIG. 8, the rigidity of the protection frame member 34 may be increased and the mechanical strength may be further improved.
Further, as described above, by appropriately selecting the bending direction and the bending depth of the bent portion 35, the lead 14 can be protected more reliably. Furthermore, the protective frame member 3
Since 4 is a structure separated from the support member 31, the bent portion 35 can be easily processed and the workability can be improved. It is to be noted that FIG. 6B shows a cross section taken along the line C-C in FIG.

【0050】一方、上記の図5乃至図8に示す各半導体
装置では、保護枠部材32〜34がリードフレームとは
異なる単独した部品として製造される構成であったた
め、保護枠部材32〜34と支持部材31を接合する場
合における位置決めが面倒であり、また組み立て後の精
度が低下するおそれがあった。
On the other hand, in each of the semiconductor devices shown in FIGS. 5 to 8, since the protective frame members 32 to 34 are manufactured as separate components different from the lead frame, the protective frame members 32 to 34 are formed. The positioning in the case of joining the support members 31 was troublesome, and the accuracy after assembly might be reduced.

【0051】図9に示すのは上記の問題に対処するため
の構成であり、支持部材36及び保護枠部材37を共に
リードフレーム38,39により構成したことを特徴と
するものである。同図において、(B)は(A)の断面
を示しており、(D)は(C)の断面を示している。
FIG. 9 shows a structure for coping with the above problem, which is characterized in that both the supporting member 36 and the protective frame member 37 are composed of lead frames 38, 39. In the figure, (B) shows the cross section of (A), and (D) shows the cross section of (C).

【0052】上記構成において支持部材36と保護枠部
材37の位置合わせを行うには、各リードフレーム3
8,39に形成されているガイドホール40,41を位
置合わせすれば良い。よって、支持部材36と保護枠部
材37の位置合わせを容易に、かつ高い精度で行うこと
が可能となり、この方法により製造される半導体装置の
信頼性を向上させることができる。尚、リードフレーム
38,39は従来より行われている半導体製造技術によ
り容易に製造することができるため、支持部材36及び
保護枠部材37をリードフレーム38,39で形成して
も困難を伴うものではない。
In order to align the support member 36 and the protective frame member 37 with the above structure, each lead frame 3
The guide holes 40 and 41 formed in the holes 8 and 39 may be aligned. Therefore, the support member 36 and the protective frame member 37 can be easily aligned with high accuracy, and the reliability of the semiconductor device manufactured by this method can be improved. Since the lead frames 38 and 39 can be easily manufactured by the conventional semiconductor manufacturing technique, it is difficult to form the support member 36 and the protective frame member 37 with the lead frames 38 and 39. is not.

【0053】図10は、本発明の第3実施例である半導
体装置50を示している。同図において(B)は(A)
におけるF−F線に沿う断面を示しており、(C)は
(A)におけるG−G線に沿う断面を示している。
FIG. 10 shows a semiconductor device 50 which is a third embodiment of the present invention. In the figure, (B) is (A)
3A is a cross section taken along line FF in FIG. 3A, and FIG. 3C is a cross section taken along line GG in FIG.

【0054】半導体装置50は、半導体装置本体16
と、図1で示した第1実施例に係る半導体装置10の保
護枠17と同一構成とされた第1の保護枠部材51と、
図8で示した保護枠部材34と同一構成を有する第2及
び第3の保護枠部材52,53とにより構成されてい
る。そして、第2及び第3の保護枠部材52,53は第
1の保護枠部材51を挟むように配置された上で溶接に
より接合させている。
The semiconductor device 50 comprises the semiconductor device body 16
A first protection frame member 51 having the same configuration as the protection frame 17 of the semiconductor device 10 according to the first embodiment shown in FIG.
It is composed of second and third protective frame members 52 and 53 having the same configuration as the protective frame member 34 shown in FIG. Then, the second and third protective frame members 52 and 53 are arranged so as to sandwich the first protective frame member 51 and then joined by welding.

【0055】上記構成とされた半導体装置50では、第
1の保護枠部材51を挟んで第2及び第3の保護枠部材
52,53が配設されるため、機械的強度をより向上さ
せることができる。また、第2実施例に係る半導体装置
30と同様に第1乃至第3の保護枠部材51〜53を夫
々の機能に適した材質に選定することができるため、こ
れによっても半導体装置本体16の保護をより確実に行
うことができる。
In the semiconductor device 50 having the above structure, the second and third protective frame members 52 and 53 are arranged with the first protective frame member 51 interposed therebetween, so that the mechanical strength is further improved. You can Further, similarly to the semiconductor device 30 according to the second embodiment, the first to third protection frame members 51 to 53 can be selected from materials suitable for their respective functions, which also leads to the semiconductor device main body 16 The protection can be performed more reliably.

【0056】ここで、第1乃至第3の保護枠部材51〜
53の溶接方法について説明する。本実施例では、第1
の保護枠部材51と第2の保護枠部材52との溶接位置
と、第1の保護枠部材51と第3の保護枠部材53との
溶接位置を異なる位置に選定した。
Here, the first to third protective frame members 51 to
The welding method of 53 will be described. In this embodiment, the first
The welding position between the protective frame member 51 and the second protective frame member 52 and the welding position between the first protective frame member 51 and the third protective frame member 53 were selected at different positions.

【0057】そして、第3の保護枠部材53の、上記第
1の保護枠部材51と第2の保護枠部材52との溶接位
置と対向する位置に第1の逃げ孔54を形成し、第2の
保護枠部材52の、上記第1の保護枠部材51と第3の
保護枠部材53との溶接位置と対向する位置に第2の逃
げ孔55を形成すると共に、第1及び第2の逃げ孔5
4,55を通過するようレーザ光を照射し、第1の保護
枠部材51と第2の保護枠部材52、及び第1の保護枠
部材51と第3の保護枠部材53とをレーザ溶接するこ
とにより、第1乃至第3の保護枠部材51〜53を接合
する構成とした。
Then, a first relief hole 54 is formed in the third protective frame member 53 at a position facing the welding position of the first protective frame member 51 and the second protective frame member 52, and The second escape hole 55 is formed in the second protective frame member 52 at a position facing the welding position between the first protective frame member 51 and the third protective frame member 53, and the first and second protective frame members 52 are formed. Escape hole 5
Laser light is radiated so as to pass through 4, 55, and the first protective frame member 51 and the second protective frame member 52, and the first protective frame member 51 and the third protective frame member 53 are laser-welded. As a result, the first to third protective frame members 51 to 53 are joined together.

【0058】レーザ溶接の場合、第1乃至第3の保護枠
部材51〜53を一括的に溶接することは困難で、仮に
第1乃至第3の保護枠部材51〜53を一括的に溶接し
ても溶接不良が発生し、半導体装置50の信頼性が大き
く低下してしまう。
In the case of laser welding, it is difficult to weld the first to third protective frame members 51 to 53 collectively, and it is assumed that the first to third protective frame members 51 to 53 are welded collectively. However, welding failure will occur and the reliability of the semiconductor device 50 will be greatly reduced.

【0059】しかるに、上記溶接方法により第1乃至第
3の保護枠部材51〜53を接合することにより、各保
護枠部材51〜53を確実に接合することができ、半導
体装置50の信頼性を向上させることができる。また、
そのための手段としては、単に所定位置に逃げ孔54,
55を形成するだけでよいため、上記溶接方法を行うに
際し困難を伴うものではない。
However, by joining the first to third protective frame members 51 to 53 by the above-mentioned welding method, the protective frame members 51 to 53 can be securely joined, and the reliability of the semiconductor device 50 is improved. Can be improved. Also,
As a means for that, the escape holes 54,
Since it is only necessary to form 55, there is no difficulty in performing the above welding method.

【0060】図11〜図13は本発明を種々の構造を有
する半導体装置に適用した例を示している。図11は本
発明を通常のディップタイプの半導体装置に適用した例
を示しており、図12は本発明をチップオンボードタイ
プの半導体装置に適用した例を示しており、更に図13
は本発明をTAB(Tape Automatic Bonding)タイプの
半導体装置に適用した例を示している。各図において、
(A)は本発明の第1実施例の変形例に係る構造を示し
ており、(B)は本発明の第3実施例に係る構造を示し
ている。
11 to 13 show examples in which the present invention is applied to semiconductor devices having various structures. FIG. 11 shows an example in which the present invention is applied to a normal dip type semiconductor device, and FIG. 12 shows an example in which the present invention is applied to a chip on board type semiconductor device.
Shows an example in which the present invention is applied to a TAB (Tape Automatic Bonding) type semiconductor device. In each figure,
(A) shows a structure according to a modification of the first embodiment of the present invention, and (B) shows a structure according to the third embodiment of the present invention.

【0061】尚、上記した第2及び第3実施例では詳述
しなかったが、第2及び第3実施例においても第1実施
例で実現できる種々の効果を実現できることは、上記し
た説明より明白である。
Although not described in detail in the above-mentioned second and third embodiments, various effects that can be realized in the first embodiment can be realized also in the second and third embodiments from the above description. It's obvious.

【0062】[0062]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、保護枠部材
及び支持部材が金属材料により構成されるため、従来の
樹脂に比べて保護枠部材の収縮を少なくすることができ
る。よって、ガイドホールの位置を高精度に決めること
ができ、自動プレス加工時等における半導体装置の位置
決めを高精度に行うことができる。
As described above, according to the present invention, since the protective frame member and the supporting member are made of a metal material, the contraction of the protective frame member can be reduced as compared with the conventional resin. Therefore, the position of the guide hole can be determined with high accuracy, and the semiconductor device can be positioned with high accuracy during automatic press working or the like.

【0063】また、樹脂モールドは樹脂パッケージ形成
にのみに実施され、寸法精度を要する保護枠部材及び支
持部材に樹脂はモールドされないため、樹脂による寸法
ずれが発生することもない。
Further, the resin molding is performed only for forming the resin package, and the resin is not molded on the protective frame member and the supporting member which require dimensional accuracy, so that the dimensional deviation due to the resin does not occur.

【0064】また、支持部材を半導体装置本体に接続す
ると共に、保護枠部材を支持部と別体構造し、支持部材
を保護枠部材に固定することにより半導体装置本体を保
護枠部材に支持させる構成とすることにより、保護枠部
材を支持部材の材質に拘わらず選定することができる。
支持部材は、リードフレーム,ダイパッド等と同質の材
料とする必要がある。一方、保護枠部材は機械的強度の
強い材料とする必要がある。支持部材と保護枠部材とを
別体構造とすることにより、各部材の機能に適した材料
を選定する事が可能となる。また、支持部材を固定する
前に保護枠部材に折り曲げ部を形成することができるた
め、折り曲げ部の加工を容易に行うことができる。
Further, the supporting member is connected to the semiconductor device main body, the protective frame member is formed separately from the supporting portion, and the supporting member is fixed to the protective frame member so that the semiconductor device main body is supported by the protective frame member. With this, the protection frame member can be selected regardless of the material of the support member.
The support member needs to be made of the same material as the lead frame, die pad, and the like. On the other hand, the protective frame member needs to be made of a material having high mechanical strength. By forming the support member and the protective frame member as separate members, it is possible to select a material suitable for the function of each member. Further, since the bent portion can be formed in the protective frame member before fixing the support member, the bent portion can be easily processed.

【0065】更に、半導体装置本体が配設された第1の
保護枠部材の枠体部を挟んで、その上部と下部に夫々と
重畳するよう第2及び第3の保護枠部材を配設すること
により、より機械的強度を向上させることができる。
Further, the second and third protective frame members are disposed so as to overlap the upper and lower portions of the frame body portion of the first protective frame member on which the semiconductor device main body is disposed, respectively. Thereby, the mechanical strength can be further improved.

【0066】また、保護枠或いは保護枠部材に折り曲げ
部を形成することにより、保護枠或いは保護枠部材の剛
性は高まり機械的強度を向上させることができる。これ
により、半導体装置本体の保護をより確実に行うことが
できる。
Further, by forming the bent portion in the protective frame or the protective frame member, the rigidity of the protective frame or the protective frame member is increased and the mechanical strength can be improved. As a result, the semiconductor device body can be protected more reliably.

【0067】また、折り曲げ部の折曲方向をアウターリ
ードの折曲方向と同方向とすることにより、折曲された
ことにより保護枠或いは保護枠部材より上方或いは下方
に突出したアウターリードを折り曲げ部により保護する
ことができる。
By setting the bending direction of the bent portion to be the same as the bending direction of the outer lead, the outer lead protruding upward or downward from the protective frame or the protective frame member due to the bending is bent at the bent portion. Can be protected by.

【0068】また、枠体部の一部に絶縁性の樹脂テープ
を配設することにより、半導体装置のハンドリングを容
易に行うことができる。
By disposing the insulating resin tape on a part of the frame portion, the semiconductor device can be easily handled.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例である半導体装置を示す図
である。
FIG. 1 is a diagram showing a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施例である半導体装置の変形例
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a modification of the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】折り曲げ部の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a bent portion.

【図4】図2に示す半導体装置に絶縁テープを配設した
状態を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which an insulating tape is arranged on the semiconductor device shown in FIG.

【図5】本発明の第2実施例である半導体装置を示す図
である。
FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第2実施例である半導体装置を示す分
解図である。
FIG. 6 is an exploded view showing a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】保護枠部材の他の構成例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing another configuration example of the protection frame member.

【図8】保護枠部材の他の構成例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing another configuration example of the protection frame member.

【図9】支持部材及び保護枠部材をリードフレーム構造
とした例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example in which a support member and a protection frame member have a lead frame structure.

【図10】本発明の第3実施例である半導体装置を示す
図である。
FIG. 10 is a diagram showing a semiconductor device according to a third embodiment of the present invention.

【図11】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example in which the present invention is applied to semiconductor devices having various structures.

【図12】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example in which the present invention is applied to semiconductor devices having various structures.

【図13】本発明を種々の構造を有する半導体装置に適
用した例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing an example in which the present invention is applied to semiconductor devices having various structures.

【図14】従来の半導体装置の一例を説明するための図
である。
FIG. 14 is a diagram for explaining an example of a conventional semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,21,30,50 半導体装置 11 半導体素子 12 ダイパッド 13 パッケージ 14 リード 14a インナーリード 14b アウターリード 15 ワイヤ 16 半導体装置本体 17,24 保護枠 18,23 枠体部 19 支持部 20,40,41 ガイドホール 22,35 折り曲げ部 25 絶縁テープ 31,36 支持部材 32,33,34,37 保護枠部材 38,39 リードフレーム 51 第1の保護枠部材 52 第2の保護枠部材 53 第3の保護枠部材 54 第1の逃げ孔 55 第2の逃げ孔 10, 21, 30, 50 Semiconductor device 11 Semiconductor element 12 Die pad 13 Package 14 Lead 14a Inner lead 14b Outer lead 15 Wire 16 Semiconductor device main body 17,24 Protective frame 18,23 Frame part 19 Support part 20,40,41 Guide Hole 22, 35 Bent portion 25 Insulating tape 31, 36 Support member 32, 33, 34, 37 Protective frame member 38, 39 Lead frame 51 First protective frame member 52 Second protective frame member 53 Third protective frame member 54 first escape hole 55 second escape hole

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体素子(11)と、該半導体素子
(11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
半導体素子(11)に接続されるインナーリード(14
a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
ド(14)とを有する半導体装置本体(16)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
置本体(16)を囲繞するように配設される枠体部(1
8,23)と、該枠体部(18,23)と該半導体装置
本体(16)との間に配設れさており該半導体装置本体
(16)を該枠体部(18,23)に支持させる支持部
(19)とを有すると共に、該枠体部(18,23)と
該支持部(19)とが金属材により前記ダイパッド(1
2)と一体的に形成されてなる保護枠(17,24)
と、 により構成されることを特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor element (11), a die pad (12) for mounting the semiconductor element (11), a resin package (13) for sealing the semiconductor element (11), and the semiconductor element (11). ) Inner lead (14)
a) and a semiconductor device body (16) having a plurality of leads (14) composed of outer leads (14b) extending to the outside of the resin package (13), and the outer leads (14b) A frame portion (1) arranged so as to surround the semiconductor device body (16) at an outer position.
8, 23), and the semiconductor device body (16) is disposed between the frame body portion (18, 23) and the semiconductor device body (16). The die pad (1) has a supporting part (19) for supporting the frame part (18, 23) and the supporting part (19) made of a metal material.
2) Protective frame (17, 24) formed integrally with
A semiconductor device comprising:
【請求項2】 該保護枠(17)に、該半導体装置本体
(16)の位置決めを行うためのガイドホール(20)
を形成してなることを特徴とする請求項1の半導体装
置。
2. A guide hole (20) for positioning the semiconductor device body (16) in the protective frame (17).
The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device is formed.
【請求項3】 該保護枠(24)に、折り曲げ部(2
2)を形成してなることを特徴とする請求項1又は2の
半導体装置。
3. A bent portion (2) is provided on the protective frame (24).
2. The semiconductor device according to claim 1 or 2, characterized in that
【請求項4】 該アウターリード(14b)は所定形状
に折曲形成されており、該折り曲げ部(22)は該アウ
ターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選定
されてなることを特徴とする請求項3の半導体装置。
4. The outer lead (14b) is bent and formed in a predetermined shape, and the bent portion (22) has a bending direction selected so as to protect the outer lead (14b). The semiconductor device according to claim 3, wherein the semiconductor device is a semiconductor device.
【請求項5】 該枠体部(18,24)の一部に、絶縁
性の樹脂テープ(25)を配設したことを特徴とする請
求項1乃至4の内いずれかに記載の半導体装置。
5. The semiconductor device according to claim 1, wherein an insulating resin tape (25) is provided on a part of the frame portion (18, 24). ..
【請求項6】 半導体素子(11)と、該半導体素子
(11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
半導体素子(11)と接続されるインナーリード(14
a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
ド(14)とを有する半導体装置本体(16)と、 該半導体装置本体(16)より一体的に外側に向け延出
するよう形成された金属製の支持部材(31)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
置本体(16)を囲繞するように配設されると共に、該
支持部材(31)が固定されることにより該支持部材
(31)を介して該半導体装置本体(16)を支持する
金属製の保護枠部材(32〜34,37)と、 により構成されることを特徴とする半導体装置。
6. A semiconductor element (11), a die pad (12) for mounting the semiconductor element (11), a resin package (13) for sealing the semiconductor element (11), and the semiconductor element (11). Inner lead (14)
a) and a semiconductor device body (16) having a plurality of leads (14) composed of outer leads (14b) extending to the outside of the resin package (13), and the semiconductor device body (16) The support member (31) made of metal is formed so as to extend more integrally toward the outside, and the semiconductor device main body (16) is arranged at a position outside the outer lead (14b). And a metal protective frame member (32 to 34, 37) for supporting the semiconductor device body (16) through the support member (31) by fixing the support member (31). A semiconductor device characterized by the following.
【請求項7】 該保護枠部材(32〜34,37)また
は該支持部材(31)に、該半導体装置本体(16)の
位置決めを行うためのガイドホール(20)を形成して
なることを特徴とする請求項6の半導体装置。
7. A guide hole (20) for positioning the semiconductor device body (16) is formed in the protective frame member (32 to 34, 37) or the support member (31). The semiconductor device according to claim 6, wherein the semiconductor device is a semiconductor device.
【請求項8】 該保護枠部材(34)に、折り曲げ部
(35)を形成してなることを特徴とする請求項6又は
7の半導体装置。
8. The semiconductor device according to claim 6, wherein a bent portion (35) is formed on the protective frame member (34).
【請求項9】 該アウターリード(14b)は所定形状
に折曲形成されており、該折り曲げ部(35)は該アウ
ターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選定
されてなることを特徴とする請求項8の半導体装置。
9. The outer lead (14b) is bent and formed in a predetermined shape, and the bent portion (35) has a bending direction selected so as to protect the outer lead (14b). The semiconductor device according to claim 8, wherein the semiconductor device is a semiconductor device.
【請求項10】 該保護枠部材(32〜34,37)の
一部に、絶縁性の樹脂テープ(25)を配設したことを
特徴とする請求項6乃至9の半導体装置。
10. The semiconductor device according to claim 6, wherein an insulating resin tape (25) is provided on a part of the protective frame member (32 to 34, 37).
【請求項11】 該支持部材(31)は保護枠部材(3
2〜34,37)に溶接手段により固定されることを特
徴とする請求項6乃至10の半導体装置。
11. The support member (31) is a protective frame member (3).
2. The semiconductor device according to claim 6, wherein the semiconductor device is fixed to the second to 34, 37) by welding means.
【請求項12】 半導体素子(11)と、該半導体素子
(11)を搭載するダイパッド(12)と、該半導体素
子(11)を封止する樹脂製パッケージ(13)と、該
半導体素子(11)と接続されるインナーリード(14
a)と該樹脂製パッケージ(13)の外部に延出したア
ウターリード(14b)とにより構成される複数のリー
ドとを有する半導体装置本体(16)と、 該アウターリード(14b)より外側位置に該半導体装
置本体(16)を囲繞するように配設される枠体部(1
8)と、該枠体部(18)と該半導体装置本体(16)
との間に配設れさており該半導体装置本体(16)を該
枠体部(18)に支持させる支持部(19)とを有する
と共に、該枠体部(18)と該支持部(19)とが金属
材により一体的に形成されてなる第1の保護枠部材(5
1)と、 該枠体部(18)を挟んでその上部と下部に夫々と重畳
するよう配設される第2及び第3の保護枠部材(52,
53)とにより構成されることを特徴とする半導体装
置。
12. A semiconductor element (11), a die pad (12) for mounting the semiconductor element (11), a resin package (13) for sealing the semiconductor element (11), and the semiconductor element (11). Inner lead (14)
a) and a semiconductor device body (16) having a plurality of leads composed of outer leads (14b) extending to the outside of the resin package (13), and a semiconductor device main body (16) at a position outside the outer leads (14b). A frame portion (1) arranged so as to surround the semiconductor device body (16).
8), the frame portion (18) and the semiconductor device body (16)
And a supporting portion (19) disposed between the frame body portion (18) and the frame body portion (18) for supporting the semiconductor device main body (16) on the frame body portion (18). ) And a first protective frame member (5
1) and second and third protective frame members (52, 52) which are arranged so as to overlap the upper and lower parts of the frame body part (18), respectively.
53) and a semiconductor device.
【請求項13】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
53)または該支持部(19)に、該半導体装置本体
(16)の位置決めを行うためのガイドホール(20)
を形成してなることを特徴とする請求項12の半導体装
置。
13. The first to third protective frame members (51 to 51)
53) or the supporting portion (19), a guide hole (20) for positioning the semiconductor device body (16).
13. The semiconductor device according to claim 12, wherein the semiconductor device is formed.
【請求項14】 該第2または第3の保護枠部材(5
2,53)の少なくとも一方に、折り曲げ部(35)を
形成してなることを特徴とする請求項12又は13の半
導体装置。
14. The second or third protective frame member (5)
The semiconductor device according to claim 12 or 13, characterized in that a bent portion (35) is formed on at least one of (2, 53).
【請求項15】 該アウターリード(14b)は所定形
状に折曲形成されており、該折り曲げ部(35)は該ア
ウターリード(14b)を保護する方向に折曲方向を選
定されてなることを特徴とする請求項14の半導体装
置。
15. The outer lead (14b) is bent and formed in a predetermined shape, and the bent portion (35) has a bending direction selected to protect the outer lead (14b). 15. The semiconductor device according to claim 14, wherein the semiconductor device is a semiconductor device.
【請求項16】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
53)の一部に、絶縁性の樹脂テープ(25)を配設し
たことを特徴とする請求項12乃至15の内いずれかに
記載の半導体装置。
16. The first to third protective frame members (51 to 51)
The semiconductor device according to any one of claims 12 to 15, characterized in that an insulating resin tape (25) is provided on a part of (53).
【請求項17】 該第1乃至第3の保護枠部材(51〜
53)は溶接手段により一体的に固定されてなることを
特徴とする請求項12乃至16の内いずれかに記載の半
導体装置。
17. The first to third protective frame members (51 to 51)
17. The semiconductor device according to claim 12, wherein 53) is integrally fixed by welding means.
【請求項18】 該第1の保護枠部材(51)と該第2
の保護枠部材(52)との溶接位置と、該第1の保護枠
部材(51)と該第3の保護枠部材(53)との溶接位
置を異なる位置に選定し、 該第3の保護枠部材(53)の、上記第1の保護枠部材
(51)と該第2の保護枠部材(52)との溶接位置と
対向する位置に第1の逃げ孔(54)を形成し、 該第2の保護枠部材(52)の、上記第1の保護枠部材
(51)と該第3の保護枠部材(53)との溶接位置と
対向する位置に第2の逃げ孔(55)を形成し、 該第1及び第2の逃げ孔(54,55)を通過するよう
レーザ光を照射し、該第1の保護枠部材(51)と該第
2の保護枠部材(52)、及び該第1の保護枠部材(5
1)と該第3の保護枠部材(53)とをレーザ溶接して
なることを特徴とする請求項17記載の半導体装置。
18. The first protection frame member (51) and the second protection frame member (51).
The welding position of the first protection frame member (51) and the welding position of the third protection frame member (53) are selected to be different from each other, and the third protection frame member (52) is welded to the third protection frame member (52). A first relief hole (54) is formed in the frame member (53) at a position facing a welding position between the first protection frame member (51) and the second protection frame member (52); A second relief hole (55) is formed in the second protective frame member (52) at a position facing the welding position between the first protective frame member (51) and the third protective frame member (53). And irradiating it with laser light so as to pass through the first and second escape holes (54, 55) to form the first protective frame member (51) and the second protective frame member (52), and The first protection frame member (5
18. The semiconductor device according to claim 17, wherein 1) and the third protective frame member (53) are laser-welded.
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