JPH05165962A - 均一粒状物質の個数判定法 - Google Patents
均一粒状物質の個数判定法Info
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- JPH05165962A JPH05165962A JP3335018A JP33501891A JPH05165962A JP H05165962 A JPH05165962 A JP H05165962A JP 3335018 A JP3335018 A JP 3335018A JP 33501891 A JP33501891 A JP 33501891A JP H05165962 A JPH05165962 A JP H05165962A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質の個数
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンの輪郭構成画素の位置情
報を基に各パターンの内部を対象として再２値化を行な
って、当該パターンの内部のみを抽出し、抽出したパタ
ーンに対してラベリング処理を行なうことにより対象物
質の個数を求め、その対象物質の個々の重心位置間の最
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が
接着しているものと判定することとなり、任意に分散し
て存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその
個数とともに高精度で確実に判定するようにしたもので
ある。
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンの輪郭構成画素の位置情
報を基に各パターンの内部を対象として再２値化を行な
って、当該パターンの内部のみを抽出し、抽出したパタ
ーンに対してラベリング処理を行なうことにより対象物
質の個数を求め、その対象物質の個々の重心位置間の最
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が
接着しているものと判定することとなり、任意に分散し
て存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその
個数とともに高精度で確実に判定するようにしたもので
ある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プラスチック製均一粒
状物質の個数をその外観から判定する、均一粒状物質の
個数判定法に関する。
状物質の個数をその外観から判定する、均一粒状物質の
個数判定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、文字、図形等のパターンマッチン
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来方法は、対象画像
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
【０００４】本発明は、任意に分散して存在する均一粒
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判
定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象
の下方から投光してその透過光を多値画像として撮像
し、その多値画像を２値画像に変換し、変換された画像
中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位
置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンの内部
を対象として再２値化を行なって、当該パターンの内部
のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリング処
理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その対象
物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求めた最
近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最近接
距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着せず
に単独で存在しているものと判定し、最近接距離が基準
距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判定す
るようにしたものである。
は、任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判
定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象
の下方から投光してその透過光を多値画像として撮像
し、その多値画像を２値画像に変換し、変換された画像
中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位
置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンの内部
を対象として再２値化を行なって、当該パターンの内部
のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリング処
理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その対象
物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求めた最
近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最近接
距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着せず
に単独で存在しているものと判定し、最近接距離が基準
距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判定す
るようにしたものである。
【０００６】請求項２に記載の本発明は、任意に分散し
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンに対してラベリング処理を行ない、ラベ
リングされた画素で囲まれたラベリングされなかった部
分の個数とその重心位置を求め、その対象物質の個々の
重心位置間の最近接距離を求め、求めた最近接距離を予
め定めておいた基準距離と比較し、最近接距離が基準距
離を超えているならば粒状物質が接着せずに単独で存在
しているものと判定し、最近接距離が基準距離以下であ
れば粒状物質が接着しているものと判定するようにした
ものである。
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンに対してラベリング処理を行ない、ラベ
リングされた画素で囲まれたラベリングされなかった部
分の個数とその重心位置を求め、その対象物質の個々の
重心位置間の最近接距離を求め、求めた最近接距離を予
め定めておいた基準距離と比較し、最近接距離が基準距
離を超えているならば粒状物質が接着せずに単独で存在
しているものと判定し、最近接距離が基準距離以下であ
れば粒状物質が接着しているものと判定するようにした
ものである。
【０００７】
【作用】請求項１に記載の本発明によれば、画像中の各
パターンの輪郭構成画素の位置情報を基に各パターンの
内部を対象として再２値化を行なって、当該パターンの
内部のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリン
グ処理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その
対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求め
た最近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最
近接距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着
せずに単独で存在しているものと判定し、最近接距離が
基準距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判
定することとなり、任意に分散して存在する均一粒状物
質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
パターンの輪郭構成画素の位置情報を基に各パターンの
内部を対象として再２値化を行なって、当該パターンの
内部のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリン
グ処理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その
対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求め
た最近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最
近接距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着
せずに単独で存在しているものと判定し、最近接距離が
基準距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判
定することとなり、任意に分散して存在する均一粒状物
質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
【０００８】請求項２に記載の本発明によれば、画像中
の各パターンについて、ラベリングされた画素で囲まれ
たラベリングされなかった部分の個数とその重心位置を
求め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を
求め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離と
比較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒状
物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、最
近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着してい
るものと判定することにより、任意に分散して存在する
均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数ととも
に高精度で確実に判定することができる。
の各パターンについて、ラベリングされた画素で囲まれ
たラベリングされなかった部分の個数とその重心位置を
求め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を
求め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離と
比較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒状
物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、最
近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着してい
るものと判定することにより、任意に分散して存在する
均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数ととも
に高精度で確実に判定することができる。
【０００９】尚、本発明において、「ラベリング処理」
とは、同じ連結成分に属する全ての画素に同じラベル
（番号）を割り当て、異なった連結成分には異なったラ
ベルを割り当てる操作である。
とは、同じ連結成分に属する全ての画素に同じラベル
（番号）を割り当て、異なった連結成分には異なったラ
ベルを割り当てる操作である。
【００１０】
【実施例】図１は本発明に係る判定方法の第１実施例を
実施するための装置の一例を示す模式図、図２は判定方
法のアルゴリズムを示すフローチャート、図３は入力画
像の一例を示す模式図、図４は図３の入力画像に対して
粒子の中心部だけを抽出した例を示す模式図、図５は最
近接距離から接着の有無の判定法を説明する模式図、図
６は本発明に係る判定方法の第２実施例を実施するため
の装置の一例を示す模式図、図７は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図８は入力画像の一例を示
す模式図、図９は図８の入力画像に対して粒子の中心部
だけを抽出した例を示す模式図、図１０は最近接距離か
ら接着の有無の判定法を説明する模式図である。
実施するための装置の一例を示す模式図、図２は判定方
法のアルゴリズムを示すフローチャート、図３は入力画
像の一例を示す模式図、図４は図３の入力画像に対して
粒子の中心部だけを抽出した例を示す模式図、図５は最
近接距離から接着の有無の判定法を説明する模式図、図
６は本発明に係る判定方法の第２実施例を実施するため
の装置の一例を示す模式図、図７は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図８は入力画像の一例を示
す模式図、図９は図８の入力画像に対して粒子の中心部
だけを抽出した例を示す模式図、図１０は最近接距離か
ら接着の有無の判定法を説明する模式図である。
【００１１】（第１実施例）（図１〜図５参照） 図１の判定装置１００の撮像部１０において、１２は硝
子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物であ
り、照明装置１１により照射されている。その透過光
を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤカメ
ラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２０に入力さ
れる。
子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物であ
り、照明装置１１により照射されている。その透過光
を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤカメ
ラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２０に入力さ
れる。
【００１２】この粒子を下方から投光すると、粒子の中
心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は
光が屈折することにより影となる。
心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は
光が屈折することにより影となる。
【００１３】処理装置２０内のＡ／Ｄ変換回路２１で、
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、ＣＰＵ
２２を介して画像メモリ２３に送られる。２値化回路２
４は所定のレベルにより多値信号を２値信号に変換す
る。ＲＡＭは作業用のメモリとして用いられる。
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、ＣＰＵ
２２を介して画像メモリ２３に送られる。２値化回路２
４は所定のレベルにより多値信号を２値信号に変換す
る。ＲＡＭは作業用のメモリとして用いられる。
【００１４】処理装置２０にて処理された結果は、モニ
タ等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及び
接着している粒子数が出力される。
タ等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及び
接着している粒子数が出力される。
【００１５】以下、処理装置２０内の処理手順を図２に
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
【００１６】ここでは、まず粒子の中心部分だけを抽出
することを目的とする。入力画像は濃度値の高い順に、
背景、粒子の中心部、粒子の周辺部の３つから構成され
ている。目的の粒子の中心部のみを抽出するには濃度ヒ
ストグラムを利用することが一般に良く行なわれてい
る。然しながら、本対象では背景と粒子中心部の濃度差
が極めて小さく、両者を分離することは困難である。そ
こで次に示す(1) 〜(3)のステップにより抽出する。
することを目的とする。入力画像は濃度値の高い順に、
背景、粒子の中心部、粒子の周辺部の３つから構成され
ている。目的の粒子の中心部のみを抽出するには濃度ヒ
ストグラムを利用することが一般に良く行なわれてい
る。然しながら、本対象では背景と粒子中心部の濃度差
が極めて小さく、両者を分離することは困難である。そ
こで次に示す(1) 〜(3)のステップにより抽出する。
【００１７】(1) 入力された多値画像に対し、２値化回
路２４で２値画像に変換する。 (2) ２値画像をラスタ走査し、未処理パターンをみつ
け、その境界を追跡してその輪郭構成画素の位置情報を
ＲＡＭに格納する。
路２４で２値画像に変換する。 (2) ２値画像をラスタ走査し、未処理パターンをみつ
け、その境界を追跡してその輪郭構成画素の位置情報を
ＲＡＭに格納する。
【００１８】(3) 各パターンに対してその位置情報から
パターンの内部を対象として画像メモリ２３にある入力
された多値画像を再２値化して、粒子の中心部分のみを
抽出する（図４参照）。このとき、異物が混在していた
としても異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しない
ため、異物を分離できる。 (4) 抽出したパターンに対してラベリング処理を行ない
個数をカウントする。
パターンの内部を対象として画像メモリ２３にある入力
された多値画像を再２値化して、粒子の中心部分のみを
抽出する（図４参照）。このとき、異物が混在していた
としても異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しない
ため、異物を分離できる。 (4) 抽出したパターンに対してラベリング処理を行ない
個数をカウントする。
【００１９】(5) その対象物質の個々の重心位置間の最
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が
接着しているものと判定する（図５参照）。尚、上述の
基準距離は、測定対象となる粒子のサイズに応じて予め
定められる。
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が
接着しているものと判定する（図５参照）。尚、上述の
基準距離は、測定対象となる粒子のサイズに応じて予め
定められる。
【００２０】上記(1) 〜(5) により、図３の入力画像に
対し、表１の出力結果を得た。
対し、表１の出力結果を得た。
【表１】
【００２１】（第２実施例）（図６〜図１０参照） 図６の判定装置２００における撮像部１１０において、
１１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の
対象物であり、照明装置１１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１１３で撮像し、その画像信号が処理装置
１２０に入力される。
１１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の
対象物であり、照明装置１１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１１３で撮像し、その画像信号が処理装置
１２０に入力される。
【００２２】この粒子を下方から投光すると、粒子の中
心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は
光が屈折することにより影となる。
心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は
光が屈折することにより影となる。
【００２３】処理装置１２０内のＡ／Ｄ変換回路１２１
で、入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更
に２値化回路１２２において所定のレベルにより２値信
号に変換され、ＣＰＵ１２４を介して画像メモリ１２３
に送られる。ＲＡＭ１２５は作業用のメモリとして用い
られる。
で、入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更
に２値化回路１２２において所定のレベルにより２値信
号に変換され、ＣＰＵ１２４を介して画像メモリ１２３
に送られる。ＲＡＭ１２５は作業用のメモリとして用い
られる。
【００２４】処理装置１２０にて処理された結果は、モ
ニタ等の出力部１３０に送られ、対象物１１２の全粒子
数及び接着している粒子数が出力される。
ニタ等の出力部１３０に送られ、対象物１１２の全粒子
数及び接着している粒子数が出力される。
【００２５】以下、処理装置１２０内の処理手順を図７
に示すフローチャートに基づき、図８の入力画像を例と
して説明する。
に示すフローチャートに基づき、図８の入力画像を例と
して説明する。
【００２６】(1) ２値画像をラスタ走査し、ラベリング
処理を行なう。このとき、ラベリングされた画素（粒子
の周辺部、異物）で囲まれたラベリングされなかった画
素（粒子中心部）を抽出してその個数とその重心位置を
求める（図９参照）。このとき、異物が混在していたと
しも、異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないた
め，異物を分離できる。
処理を行なう。このとき、ラベリングされた画素（粒子
の周辺部、異物）で囲まれたラベリングされなかった画
素（粒子中心部）を抽出してその個数とその重心位置を
求める（図９参照）。このとき、異物が混在していたと
しも、異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないた
め，異物を分離できる。
【００２７】(2) その対象物質の個々の重心位置間の最
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば、粒状物質
が接着しているものと判定する（図１０参照）。尚、上
述の基準距離は、測定対象となる粒子のサイズに応じて
予め定められる。
近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた
基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えている
ならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと
判定し、最近接距離が基準距離以下であれば、粒状物質
が接着しているものと判定する（図１０参照）。尚、上
述の基準距離は、測定対象となる粒子のサイズに応じて
予め定められる。
【００２８】上記(1) 、(2) により、図８の入力画像に
対し、表２の出力結果を得た。
対し、表２の出力結果を得た。
【表２】
【００２９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、任意に分
散して存在する均一粒状物質の個数を、異物が存在して
いたとしても接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
散して存在する均一粒状物質の個数を、異物が存在して
いたとしても接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
【図１】図１は本発明に係る判定方法の第１実施例を実
施するための装置の一例を示す模式図である。
施するための装置の一例を示す模式図である。
【図２】図２は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】図３は入力画像の一例を示す模式図である。
【図４】図４は図３の入力画像に対して粒子の中心部だ
けを抽出した例を示す模式図である。
けを抽出した例を示す模式図である。
【図５】図５は最近接距離から接着の有無の判定法を説
明する模式図である。
明する模式図である。
【図６】図６は本発明に係る判定方法の第２実施例を実
施するための装置の一例を示す模式図である。
施するための装置の一例を示す模式図である。
【図７】図７は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図８】図８は入力画像の一例を示す模式図である。
【図９】図９は図８の入力画像に対して粒子の中心部だ
けを抽出した例を示す模式図である。
けを抽出した例を示す模式図である。
【図１０】図１０は最近接距離から接着の有無の判定法
を説明する模式図である。
を説明する模式図である。
１００、２００ 判定装置 １０、１１０ 撮像部 １１、１１１ 照明装置 １２、１１２ 対象物 １３、１１３ ＣＣＤカメラ ２０、１２０ 処理装置 ２１、１２１ Ａ／Ｄ変換回路 ２２、１２２ ２値化回路 ２３、１２３ 画像メモリ ２４、１２４ ＣＰＵ ２５、１２５ ＲＡＭ ３０、１３０ 出力部
Claims (2)
- 【請求項１】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であっ
て、判定対象の下方から投光してその透過光を多値画像
として撮像し、その多値画像を２値画像に変換し、変換
された画像中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構
成画素の位置情報を記憶し、その位置情報を基に各パタ
ーンの内部を対象として再２値化を行なって、当該パタ
ーンの内部のみを抽出し、抽出したパターンに対してラ
ベリング処理を行なうことにより対象物質の個数を求
め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を求
め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離と比
較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒状物
質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、最近
接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着している
ものと判定することを特徴とする均一粒状物質の個数判
定法。 - 【請求項２】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であっ
て、判定対象の下方から投光してその透過光を２値画像
として撮像し、撮像された画像中の各パターンに対して
ラベリング処理を行ない、ラベリングされた画素で囲ま
れたラベリングされなかった部分の個数とその重心位置
を求め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離
を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離
と比較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒
状物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、
最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着して
いるものと判定することを特徴とする均一粒状物質の個
数判定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335018A JPH05165962A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335018A JPH05165962A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165962A true JPH05165962A (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=18283824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3335018A Pending JPH05165962A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05165962A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3246239A1 (de) * | 1981-12-14 | 1983-06-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd., Minami-Ashigara, Kanagawa | Endoskop-system mit einer festkoerper-abbildungseinrichtung |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP3335018A patent/JPH05165962A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3246239A1 (de) * | 1981-12-14 | 1983-06-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd., Minami-Ashigara, Kanagawa | Endoskop-system mit einer festkoerper-abbildungseinrichtung |
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