JPH051532B2 - - Google Patents
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- JPH051532B2 JPH051532B2 JP60100712A JP10071285A JPH051532B2 JP H051532 B2 JPH051532 B2 JP H051532B2 JP 60100712 A JP60100712 A JP 60100712A JP 10071285 A JP10071285 A JP 10071285A JP H051532 B2 JPH051532 B2 JP H051532B2
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- light
- focus
- reflected
- reflected light
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオデイスク等のようにデイスク
上に記録された情報を光学的に読み取る光学的再
生装置、あるいはデイスクに情報を光学的に記録
再生しようとする光学的記録再生装置に係り、特
にデイスクよりの反射光を利用し、各種サーボを
かけるためのサーボ信号および再生信号を得るた
めの光学系に関するものである。
上に記録された情報を光学的に読み取る光学的再
生装置、あるいはデイスクに情報を光学的に記録
再生しようとする光学的記録再生装置に係り、特
にデイスクよりの反射光を利用し、各種サーボを
かけるためのサーボ信号および再生信号を得るた
めの光学系に関するものである。
従来の技術
一般に、ビデオデイスクや光学的記録再生装置
においては、情報を高密度に記録、再生するため
に、デイスク上の記録トラツクは、例えばその幅
が0.6μｍ、そのピツチが1.6μｍと微細なスパイラ
ルあるいは同心円の形状となつている。前記デイ
スクにはφ1μｍ以下に絞り込まれた光スポツトが
照射され、その反射光からデイスク上の情報が読
み出されている。
においては、情報を高密度に記録、再生するため
に、デイスク上の記録トラツクは、例えばその幅
が0.6μｍ、そのピツチが1.6μｍと微細なスパイラ
ルあるいは同心円の形状となつている。前記デイ
スクにはφ1μｍ以下に絞り込まれた光スポツトが
照射され、その反射光からデイスク上の情報が読
み出されている。
かかる装置においては、少くとも２つのサーボ
技術が必要である。１つはデイスクの回転に伴い
回転方向と垂直な方向にデイスクが面ブレをおこ
すが、前記録ブレに対し前記φ1μｍ以下に絞られ
た光スポツトが常にデイスク上に照射できるよう
に光学系を追従させるサーボで、このサーボはフ
オーカスサーボと呼ばれている。他方はデイスク
の回転に伴い前記記録トラツクが偏心等によりデ
イスクの半径方向に移動するが、これに対し常に
前記光スポツトが前記記録トラツク上を照射する
ように光学系を追従させるサーボで、このサーボ
はトラツキングサーボと呼ばれている。
技術が必要である。１つはデイスクの回転に伴い
回転方向と垂直な方向にデイスクが面ブレをおこ
すが、前記録ブレに対し前記φ1μｍ以下に絞られ
た光スポツトが常にデイスク上に照射できるよう
に光学系を追従させるサーボで、このサーボはフ
オーカスサーボと呼ばれている。他方はデイスク
の回転に伴い前記記録トラツクが偏心等によりデ
イスクの半径方向に移動するが、これに対し常に
前記光スポツトが前記記録トラツク上を照射する
ように光学系を追従させるサーボで、このサーボ
はトラツキングサーボと呼ばれている。
前記フオーカスおよびトラツキングサーボを行
うためのサーボ信号（誤差信号）はデイスクの反
射光より得ており、具体的な光学系としては例え
ば先に提案した特願昭59−122997号に示されてお
り、第５図にその構成を示す。すなわちデイスク
７からの反射光をガラス板（フオーカスプレー
ト）１２で略２分し、照射された６分割光検出器
１３の各出力よりフオーカスおよびトラツキング
サーボのためのサーボ信号が取り出されている。
うためのサーボ信号（誤差信号）はデイスクの反
射光より得ており、具体的な光学系としては例え
ば先に提案した特願昭59−122997号に示されてお
り、第５図にその構成を示す。すなわちデイスク
７からの反射光をガラス板（フオーカスプレー
ト）１２で略２分し、照射された６分割光検出器
１３の各出力よりフオーカスおよびトラツキング
サーボのためのサーボ信号が取り出されている。
発明が解決しようとする問題点
このような従来の構成では反射光の分離にガラ
ス板１２を用いるため、ガラス板の表面１２ａで
反射された光ビームと裏面１２ｂで反射された光
ビームとではガラス板１２より受ける収差が大き
く異る。すなわちガラス板表面１２ａで反射され
た光ビームはほとんど収差を受けないが、ガラス
板裏面１２ｂで反射された光ビームはガラス板内
を斜めに光が透過するためこの時大きな収差を受
けてしまう。従つて６分割光検出器上の光スポツ
ト１８，１９は同じ品質の光スポツトが得られず
この構成ではサーボ信号の品質が良くなかつた。
ス板１２を用いるため、ガラス板の表面１２ａで
反射された光ビームと裏面１２ｂで反射された光
ビームとではガラス板１２より受ける収差が大き
く異る。すなわちガラス板表面１２ａで反射され
た光ビームはほとんど収差を受けないが、ガラス
板裏面１２ｂで反射された光ビームはガラス板内
を斜めに光が透過するためこの時大きな収差を受
けてしまう。従つて６分割光検出器上の光スポツ
ト１８，１９は同じ品質の光スポツトが得られず
この構成ではサーボ信号の品質が良くなかつた。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、光
検出器上の光スポツトの品質を揃え、安定なサー
ボ信号が得られる光学的記録再生装置を提供する
ことを目的としている。
検出器上の光スポツトの品質を揃え、安定なサー
ボ信号が得られる光学的記録再生装置を提供する
ことを目的としている。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、反射光を
２分するのに立方型のプリズム（フオーカスプリ
ズム）を用い、前記２分された反射光の光路長が
お互い等しくなる構成にしている。
２分するのに立方型のプリズム（フオーカスプリ
ズム）を用い、前記２分された反射光の光路長が
お互い等しくなる構成にしている。
作 用
従つて前記立方型のプリズム（フオーカスプリ
ズム）より生ずる反射光の収差は等しくなり６分
割光検出器上の光スポツトは同一の品質になり、
サーボ信号が安定する。また反射光を２分するの
に立方型のプリズム（フオーカスプリズム）を用
いたため反射面の角度を45゜からずらしても前記
両光スポツトが受ける収差は等しく、かつ前記角
度が任意に選べるため、両光スポツトの間隔を任
意に設定することが可能となる。
ズム）より生ずる反射光の収差は等しくなり６分
割光検出器上の光スポツトは同一の品質になり、
サーボ信号が安定する。また反射光を２分するの
に立方型のプリズム（フオーカスプリズム）を用
いたため反射面の角度を45゜からずらしても前記
両光スポツトが受ける収差は等しく、かつ前記角
度が任意に選べるため、両光スポツトの間隔を任
意に設定することが可能となる。
実施例
第１図は本発明の一実施例を示す正面図ａと側
面図ｂで、第２図は第１図中の１５に示すフオー
カスプリズムの斜視図である。
面図ｂで、第２図は第１図中の１５に示すフオー
カスプリズムの斜視図である。
第１図の光学系において、１は例えば半導体レ
ーザからなる光源、２は半導体レーザから出た光
を集める集光レンズ、３は偏光ビームスプリツタ
で、レーザの偏光方向に応じて透過あるいは反射
する。４は光路変更のためのプリズム、５はλ／
４板、６は微小な光スポツトに絞り込むための絞
りレンズ、７はデイスク、１０はデイスクモータ
で矢印の方向にデイスクを回転させる。デイスク
上の信号トラツク９には前記光スポツトが照射さ
れ、信号の記録再生、あるいは再生のみが行なわ
れる。デイスク７より反射光はλ／４板５を再び
通り、その偏光方向が変えられ偏光ビームスプリ
ツタ３で反射される。８は凸レンズ、１１は分割
ミラー、１５はフオーカスプリズムである。デイ
スク７よりの反射光は凸レンズ８で絞られ、分割
ミラー１１で光検出器１４およびフオーカスプリ
ズム１５方向に分けられる。光検出器１４は光入
射方向からみて１４ａ，１４ｂと２分割されてお
り１４ａと１４ｂの光検出器の出力差より前記ト
ラツキングのためのサーボ信号TEが得られる。
またフオーカスプリズム１５方向に導かれた反射
光は前記フオーカスプリズムで略２分された光検
出器１３に照射される。フオーカスプリズム１５
は第２図に示す構成になつており、１５ａは、反
射光を略２分するハーフミラー、１５ｂは略100
％光を反射させる反射ミラーである。また前記両
ミラーへの光入射角θa、θbはθa＝45゜＋Δθ、θb＝
45゜-Δθになるように両ミラーの傾きが設定され
ており光検出器１３上の光スポツト１６，１７の
中心間隔ｌが前記Δθにより任意に選べる様な構
成となつている。さらに光スポツト１６をつくる
第１反射光がフオーカスプリズム内を通過する光
路長s1＝（ｐ＋ｑ）×n1（ただしn1は第１フオーカ
スプリズム１５ｐの屈折率）と、光スポツト１７
をつくる第２反射光がフオーカスプリズム内を通
過する光路長s2＝ｐ×n1＋（ｒ＋ｔ）×n2（ただし
n2は第２フオーカスプリズム１５ｑの屈折率）が
合等しく（s1＝s2）なるように側面がＬ型の形状
となつている。
ーザからなる光源、２は半導体レーザから出た光
を集める集光レンズ、３は偏光ビームスプリツタ
で、レーザの偏光方向に応じて透過あるいは反射
する。４は光路変更のためのプリズム、５はλ／
４板、６は微小な光スポツトに絞り込むための絞
りレンズ、７はデイスク、１０はデイスクモータ
で矢印の方向にデイスクを回転させる。デイスク
上の信号トラツク９には前記光スポツトが照射さ
れ、信号の記録再生、あるいは再生のみが行なわ
れる。デイスク７より反射光はλ／４板５を再び
通り、その偏光方向が変えられ偏光ビームスプリ
ツタ３で反射される。８は凸レンズ、１１は分割
ミラー、１５はフオーカスプリズムである。デイ
スク７よりの反射光は凸レンズ８で絞られ、分割
ミラー１１で光検出器１４およびフオーカスプリ
ズム１５方向に分けられる。光検出器１４は光入
射方向からみて１４ａ，１４ｂと２分割されてお
り１４ａと１４ｂの光検出器の出力差より前記ト
ラツキングのためのサーボ信号TEが得られる。
またフオーカスプリズム１５方向に導かれた反射
光は前記フオーカスプリズムで略２分された光検
出器１３に照射される。フオーカスプリズム１５
は第２図に示す構成になつており、１５ａは、反
射光を略２分するハーフミラー、１５ｂは略100
％光を反射させる反射ミラーである。また前記両
ミラーへの光入射角θa、θbはθa＝45゜＋Δθ、θb＝
45゜-Δθになるように両ミラーの傾きが設定され
ており光検出器１３上の光スポツト１６，１７の
中心間隔ｌが前記Δθにより任意に選べる様な構
成となつている。さらに光スポツト１６をつくる
第１反射光がフオーカスプリズム内を通過する光
路長s1＝（ｐ＋ｑ）×n1（ただしn1は第１フオーカ
スプリズム１５ｐの屈折率）と、光スポツト１７
をつくる第２反射光がフオーカスプリズム内を通
過する光路長s2＝ｐ×n1＋（ｒ＋ｔ）×n2（ただし
n2は第２フオーカスプリズム１５ｑの屈折率）が
合等しく（s1＝s2）なるように側面がＬ型の形状
となつている。
前記第１、第２反射光の結像位置は、前記フオ
ーカスプリズムで生ずる反射位置の差だけp1，p2
とＸ方向にズレた位置となる。前記両結像位置p1
とp2のほぼ中央の位置に光入射方向から見れば１
３ａ〜１３ｆと６分割された光検出器が置かれて
おり、分割された光検出器１３ｅ，１３ｂより幅
が広く、かつお互いの直径がほぼ等しい光スポツ
ト１６，１７が光検出器１３に照射されている。
ーカスプリズムで生ずる反射位置の差だけp1，p2
とＸ方向にズレた位置となる。前記両結像位置p1
とp2のほぼ中央の位置に光入射方向から見れば１
３ａ〜１３ｆと６分割された光検出器が置かれて
おり、分割された光検出器１３ｅ，１３ｂより幅
が広く、かつお互いの直径がほぼ等しい光スポツ
ト１６，１７が光検出器１３に照射されている。
第２図１３ａ〜１３ｆと６分割された各光検出
器の出力電流をIa〜Ifとするとフオーカスサーボ
信号FEは FE＝（Ib＋Id＋If） −（Ia＋Ic＋Ie） ……(1) より得られる。
器の出力電流をIa〜Ifとするとフオーカスサーボ
信号FEは FE＝（Ib＋Id＋If） −（Ia＋Ic＋Ie） ……(1) より得られる。
第３図はフオーカス誤差信号を得る方法につい
て説明するために第１図を簡略化した図であり、
第１図と同様の構成要素については同一の付号を
付した。第３図において、ａは絞りレンズ６とデ
イスク７面が所望の距離より近づきすぎた場合、
ｂは丁度所望の距離、すなわちデイスク面上に丁
度入射光がフオーカスされた場合（以下これをフ
オーカス位置にあると呼ぶ）、ｃは前記所望の距
離より長くなつた場合をそれぞれ示している。
て説明するために第１図を簡略化した図であり、
第１図と同様の構成要素については同一の付号を
付した。第３図において、ａは絞りレンズ６とデ
イスク７面が所望の距離より近づきすぎた場合、
ｂは丁度所望の距離、すなわちデイスク面上に丁
度入射光がフオーカスされた場合（以下これをフ
オーカス位置にあると呼ぶ）、ｃは前記所望の距
離より長くなつた場合をそれぞれ示している。
まず、第３図ａに示したように、絞りレンズ６
とデイスク７とが前記所望の距離より近づきすぎ
ると、凸レンズ８により絞られる反射光の結像位
置p1，p2は光検出器１３より遠くなる。従つてこ
の場合、光検出器上の前記第１の反射光の光スポ
ツト１６の直径より前記第２の反射光の光スポツ
ト１７の直径が小さくなり、光検出器１３ａ，１
３ｃ，１３ｅに受光される光量より光検出器１３
ｂ，１３ｄ，１３ｆに受光される光量の方が多く
なる。逆に第５図ｃに示すように絞りレンズ６と
デイスク７とが前記所望の距離より遠ざかると、
前記光スポツト１６の直径より前記光スポツト１
７の直径の方が大きくなり、光検出器１３ｂ，１
３ｄ，１３ｆに受光される光量より光検出器１３
ａ，１３ｃ，１３ｅに受光される光量の方が多く
なる。
とデイスク７とが前記所望の距離より近づきすぎ
ると、凸レンズ８により絞られる反射光の結像位
置p1，p2は光検出器１３より遠くなる。従つてこ
の場合、光検出器上の前記第１の反射光の光スポ
ツト１６の直径より前記第２の反射光の光スポツ
ト１７の直径が小さくなり、光検出器１３ａ，１
３ｃ，１３ｅに受光される光量より光検出器１３
ｂ，１３ｄ，１３ｆに受光される光量の方が多く
なる。逆に第５図ｃに示すように絞りレンズ６と
デイスク７とが前記所望の距離より遠ざかると、
前記光スポツト１６の直径より前記光スポツト１
７の直径の方が大きくなり、光検出器１３ｂ，１
３ｄ，１３ｆに受光される光量より光検出器１３
ａ，１３ｃ，１３ｅに受光される光量の方が多く
なる。
また第３図ｂに示すようにフオーカス位置にあ
る場合、前記両光スポツト１６と１７の径がほぼ
等しくなり、光検出器１３ｂ，１３ｄ，１３ｆに
受光される光量と、光検出器１３ａ，１３ｃ，１
３ｅに受光される光量とは等しくなる。従つて第
１式に示す各光検出器の出力電流の差をとればフ
オーカス誤差信号FEが得られ、 Ia＋Ic＋Ie＝Ib＋Id＋Ifとなるようにサーボを
かければフオーカスサーボが実現できる。またフ
オーカスサーボ信号はFE＝Ib−Ieよりも同様な
原理で得ることも可能である。
る場合、前記両光スポツト１６と１７の径がほぼ
等しくなり、光検出器１３ｂ，１３ｄ，１３ｆに
受光される光量と、光検出器１３ａ，１３ｃ，１
３ｅに受光される光量とは等しくなる。従つて第
１式に示す各光検出器の出力電流の差をとればフ
オーカス誤差信号FEが得られ、 Ia＋Ic＋Ie＝Ib＋Id＋Ifとなるようにサーボを
かければフオーカスサーボが実現できる。またフ
オーカスサーボ信号はFE＝Ib−Ieよりも同様な
原理で得ることも可能である。
第３図の構成において、例えば温度変動、シヨ
ツク等の環境条件の変化により、(1)光検出器１３
がＹ、Ｚ方向に変位する、(2)凸レンズ８へ入射す
る平行光が一点鎖線に示す様に角度θだけずれ
る、(3)光源１（第１図）がＹ、Ｚ方向に変位する
等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、前記
両光スポツト１６，１７はＹ、Ｚ方向に移動する
が、両光スポツト間の距離ｌが前記変位より十分
大きければ、第１式に示す。
ツク等の環境条件の変化により、(1)光検出器１３
がＹ、Ｚ方向に変位する、(2)凸レンズ８へ入射す
る平行光が一点鎖線に示す様に角度θだけずれ
る、(3)光源１（第１図）がＹ、Ｚ方向に変位する
等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、前記
両光スポツト１６，１７はＹ、Ｚ方向に移動する
が、両光スポツト間の距離ｌが前記変位より十分
大きければ、第１式に示す。
FE＝（Ib＋Id＋If）−（Ia＋Ic＋Ie）にはお互い
キヤンセルされて何等の影響はでない。前記キヤ
ンセルの１例を両光スポツト１６，１７がＺ方向
にずれた場合で説明する。例えば両光スポツトが
＋Ｚ方向にズレると各光検出器１３ａ，１３ｄに
受光される光量は増え、１３ｂ，１３ｅおよび１
３ｃ，１３ｆに受光される光量は減る。両光スポ
ツトの形状は品質的にも大きさからみても全く同
じなので、 FE＝｛（Ib−α）＋（Id＋β）＋（If−γ）｝
−｛（Ie−α）＋（Ia＋β）＋（Ic−γ）｝ ＝（Ib＋Id＋If）−（Ie＋Ia＋Ic
） となりFE変動（フオーカス位置の変化）は生じ
ない。
キヤンセルされて何等の影響はでない。前記キヤ
ンセルの１例を両光スポツト１６，１７がＺ方向
にずれた場合で説明する。例えば両光スポツトが
＋Ｚ方向にズレると各光検出器１３ａ，１３ｄに
受光される光量は増え、１３ｂ，１３ｅおよび１
３ｃ，１３ｆに受光される光量は減る。両光スポ
ツトの形状は品質的にも大きさからみても全く同
じなので、 FE＝｛（Ib−α）＋（Id＋β）＋（If−γ）｝
−｛（Ie−α）＋（Ia＋β）＋（Ic−γ）｝ ＝（Ib＋Id＋If）−（Ie＋Ia＋Ic
） となりFE変動（フオーカス位置の変化）は生じ
ない。
またデイスク上の信号トラツク９は、光検出器
１３上ではＺ軸方向と平行に投影されている。し
たがつて信号トラツクより生ずる±１次の回折光
は０次光に対してＺ軸に対称にあらわれ、光検出
器１３上では第３図ｂに示す光スポツト１６′，
１６″および１７′，１７″となつて照射される。
前記光スポツト１６′，１６″および１７′，１
７″はデイスク上で光スポツトが信号トラツクを
横切る毎（例えば検索時）に交互にその光強度が
変化し各光検出器の光出力が変化しこれがフオー
カスサーボに外乱として働く。しかし本発明の構
成によれば例えば光スポツト１６′が強くなれば
光スポツト１７′が強くなるため例え両光スポツ
ト１６，１７がＺ方向にずれても第１式に示す FE＝（Ib＋Id＋If）−（Ia＋Ic＋Ie）をとれば前
記外乱は完全にキヤンセルされフオーカスサーボ
信号FE上には外乱としてあらわれてこない。
１３上ではＺ軸方向と平行に投影されている。し
たがつて信号トラツクより生ずる±１次の回折光
は０次光に対してＺ軸に対称にあらわれ、光検出
器１３上では第３図ｂに示す光スポツト１６′，
１６″および１７′，１７″となつて照射される。
前記光スポツト１６′，１６″および１７′，１
７″はデイスク上で光スポツトが信号トラツクを
横切る毎（例えば検索時）に交互にその光強度が
変化し各光検出器の光出力が変化しこれがフオー
カスサーボに外乱として働く。しかし本発明の構
成によれば例えば光スポツト１６′が強くなれば
光スポツト１７′が強くなるため例え両光スポツ
ト１６，１７がＺ方向にずれても第１式に示す FE＝（Ib＋Id＋If）−（Ia＋Ic＋Ie）をとれば前
記外乱は完全にキヤンセルされフオーカスサーボ
信号FE上には外乱としてあらわれてこない。
以上側面がＬ型のフオーカスプリズムについて
説明してきたが、フオーカスプリズム内での反射
光の光路長s1＝（ｐ＋ｑ）×n1、s2＝ｐ×ｎ＋（ｒ
＋ｔ）×n2が比較的小さくかつ凸レンズ８の焦点
距離が十分長い時はフオーカスプリズムにより受
ける収差は少ないため、第４図に示す側面が台形
のフオーカスプリズムでも本発明の効果は期待で
きる。
説明してきたが、フオーカスプリズム内での反射
光の光路長s1＝（ｐ＋ｑ）×n1、s2＝ｐ×ｎ＋（ｒ
＋ｔ）×n2が比較的小さくかつ凸レンズ８の焦点
距離が十分長い時はフオーカスプリズムにより受
ける収差は少ないため、第４図に示す側面が台形
のフオーカスプリズムでも本発明の効果は期待で
きる。
また再生信号は例えば光検出器１４あるいは光
検出器１４と１３の出力和より得られる。
検出器１４と１３の出力和より得られる。
発明の効果
以上述べてきたように本発明の構成によれば、
２分された各反射光が受ける収差を等しくできる
ため光検出器上での光スポツトの品質は等しく安
定したフオーカスサーボ信号が得られる。また収
差に関係なく反射光を分離する面の角度を自由に
選べるため光検出器上での両光スポツト間隔ｌは
十分短かくすることが可能となり、光検出器自体
の大きさを小さくすることが可能となる。
２分された各反射光が受ける収差を等しくできる
ため光検出器上での光スポツトの品質は等しく安
定したフオーカスサーボ信号が得られる。また収
差に関係なく反射光を分離する面の角度を自由に
選べるため光検出器上での両光スポツト間隔ｌは
十分短かくすることが可能となり、光検出器自体
の大きさを小さくすることが可能となる。
また光検出器上の光スポツト１６，１７を各々
３分割する光検出器の分割方法が、デイスク上の
信号トラツクと垂直方向にあるため、両光スポツ
ト１６，１７がＺ方向に多少ずれていても、前記
分割線と平行方向に現われる±１次回折光による
外乱はフオーカスサーボ信号FE上では完全にキ
ヤンセルすることが可能となりＳ／Ｎの良いサー
ボ信号を得ることができる等の効果を有してい
る。
３分割する光検出器の分割方法が、デイスク上の
信号トラツクと垂直方向にあるため、両光スポツ
ト１６，１７がＺ方向に多少ずれていても、前記
分割線と平行方向に現われる±１次回折光による
外乱はフオーカスサーボ信号FE上では完全にキ
ヤンセルすることが可能となりＳ／Ｎの良いサー
ボ信号を得ることができる等の効果を有してい
る。
第１図は本発明の一実施例を説明するための構
成図、第２図は本発明のフオーカスプリズムの一
実施例の斜視図、第３図はフオーカスサーボ信号
の検出方法を説明するための図、第４図は本発明
のフオーカスプリズムの他の実施例の斜視図、第
５図は従来の光学的記録再生装置の構成図であ
る。 １……光源（レーザ）、６……絞りレンズ、７
……記録媒体（デイスク）、８……レンズ（凸レ
ンズ）、１３……光検出器、１５……フオーカス
プリズム、１５ａ……第１の反射面、１５ｂ……
第２の反射面、p1……第１の反射光の結像位置、
p2……第２の反射光の結像位置、θa、θb……入射
角。
成図、第２図は本発明のフオーカスプリズムの一
実施例の斜視図、第３図はフオーカスサーボ信号
の検出方法を説明するための図、第４図は本発明
のフオーカスプリズムの他の実施例の斜視図、第
５図は従来の光学的記録再生装置の構成図であ
る。 １……光源（レーザ）、６……絞りレンズ、７
……記録媒体（デイスク）、８……レンズ（凸レ
ンズ）、１３……光検出器、１５……フオーカス
プリズム、１５ａ……第１の反射面、１５ｂ……
第２の反射面、p1……第１の反射光の結像位置、
p2……第２の反射光の結像位置、θa、θb……入射
角。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源から出た光を記録媒体上に微小に絞り込
み、記録再生または再生のみする装置であつて、
前記記録媒体よりの反射光を結像する少なくとも
１つのレンズと、前記結像するまでの光路中に置
かれ、前記反射光を第１の反射光と第２の反射光
に分光するフオーカスプリズムと、前記第１およ
び第２の反射光を受光する光検出器を備え、前記
フオーカスプリズムは当該フオーカスプリズム中
の入射光を反射、および透過させる第１の反射面
と、前記第１の反射面の透過光を、前記第１の反
射光と略同一方向に反射させ、第２の反射光とす
る第２の反射面とを備え、前記両反射面の反射
率、透過率は、前記両反射光の光量が略同一にな
るように設定され、さらに前記光検出器はそれぞ
れ受光器ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆが一体化され、
前記第１、第２の反射光の両結像位置の略中間の
平面上に置かれ、ジヤストフオーカス時に、前記
第１の反射光を帯状に分割し、その中央部への光
量を検出する受光部ｂと、その両側部への光量を
検出する受光部ａ，ｃと、前記第２の反射光を帯
状に分割し、その中央部への光量を検出する受光
部ｅと、その両側部への光量を検出する受光部
ｄ，ｆから成り、受光部ｂ，ｄ，ｆの光量和と受
光部ａ，ｃ，ｅの光量和の差からフオーカス誤差
信号を得るようにしたことを特徴とする光学的記
録再生装置。 ２ 受光部を帯状に分割する方向が信号トラツク
と略垂直になるように、光検出器を配置したこと
を特徴とした特許請求の範囲第１項記載の光学的
記録再生装置。 ３ フオーカスプリズム中の第１の反射面と第２
の反射面を、前記各反射面への光入射角が各々
45゜＋Δθ、45゜−Δθ（Δθは微小任意角）なる角度
を
有して配置したことを特徴とする特許請求の範囲
第１項または第２項記載の光学的記録再生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10071285A JPS61258339A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 光学的記録再生装置 |
| US06/744,480 US4724533A (en) | 1984-06-15 | 1985-06-13 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10071285A JPS61258339A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 光学的記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61258339A JPS61258339A (ja) | 1986-11-15 |
| JPH051532B2 true JPH051532B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=14281272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10071285A Granted JPS61258339A (ja) | 1984-06-15 | 1985-05-13 | 光学的記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61258339A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH077518B2 (ja) * | 1988-08-31 | 1995-01-30 | 松下電器産業株式会社 | 自動焦点調整装置 |
| JPH0728578Y2 (ja) * | 1988-09-22 | 1995-06-28 | ソニー株式会社 | 光学ヘッド |
| US5315574A (en) * | 1988-10-28 | 1994-05-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head with polarized beam hologram |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5956234A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Sony Corp | 光学式再生装置 |
| JPS60171643A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
| JPS61198457A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Canon Inc | 光ピツクアツプ |
| JPS61198456A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Canon Inc | 光ピツクアツプ |
-
1985
- 1985-05-13 JP JP10071285A patent/JPS61258339A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5956234A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Sony Corp | 光学式再生装置 |
| JPS60171643A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
| JPS61198457A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Canon Inc | 光ピツクアツプ |
| JPS61198456A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Canon Inc | 光ピツクアツプ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61258339A (ja) | 1986-11-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |