[go: up one dir, main page]

JPH05148639A - Magnetron cathode electrode - Google Patents

Magnetron cathode electrode

Info

Publication number
JPH05148639A
JPH05148639A JP30805491A JP30805491A JPH05148639A JP H05148639 A JPH05148639 A JP H05148639A JP 30805491 A JP30805491 A JP 30805491A JP 30805491 A JP30805491 A JP 30805491A JP H05148639 A JPH05148639 A JP H05148639A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
magnet assembly
electrode
magnetron cathode
cathode electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30805491A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naokichi Hosokawa
直吉 細川
Kiyoushiyoku Kin
京植 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anelva Corp filed Critical Anelva Corp
Priority to JP30805491A priority Critical patent/JPH05148639A/en
Publication of JPH05148639A publication Critical patent/JPH05148639A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

PURPOSE:To move the distribution of magnetic lines of force on a target surface and to form a uniform thin film on the surface of a large-sized rectangular substrate by moving a magnet assembly in a prescribed locus on the rear surface of the target assembly of the magnetron cathode electrode of a sputtering device. CONSTITUTION:The target assembly 22 provided with the flat planar target of a relatively wide area on the magnetron cathode electrode 20 in a sputtering chamber is disposed and the magnet assembly 32 is disposed on the rear surface thereof to form the distribution of the magnetic lines of force in an annular tunnel form on the front surface of the target at the time of forming the thin film with the target by sputtering on the surface of the large-sized substrate with the sputtering device. The sputtering is executed while the electrode assembly 32 is moved along the prescribed locus in the internal space 38 of the electrode 20 by a driving motor system 42. The magnetic field region of the target surface is moved by the movement of the magnet assembly 32 and the target surface is uniformly bombarded with the discharge gaseous ions of Ar, etc., by which the nonuniformity of the target consumption is ameliorated and the uniform thin film is formed on the large-sized substrate.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はマグネトロンカソード電
極に係り、特に、面積が比較的に広い基板面に均一厚み
で且つ均質な薄膜を作製し、またターゲット全面を有効
に利用し均一に消費するマグネトロンカソード電極の構
造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetron cathode electrode, and in particular, it produces a thin film having a uniform thickness and a uniform thickness on a substrate surface having a relatively large area, and effectively uses the entire surface of the target to uniformly consume it. It relates to the structure of a magnetron cathode electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】スパッタリングによる薄膜作製では、使
用される電極の方式について従来各種の方式が知られて
いる。その中で、工業的には、膜形成速度の大きいこと
が最大の理由となってマグネトロン方式が最も多く使用
されている。マグネトロン方式の電極についても、多様
な電極形状が存在する。各種電極形状については、例え
ばJ.L.VossenとW.Kernが編集し1978年にアカデミック・
プレス(Academic Press)から出版された「ティン・フ
ィルム・プロセスズ( ThinFilm Processes)」の75
頁乃至173頁、又は日本学術振興会薄膜第131委員
会が編集し、1983年にオーム社より出版された「薄膜ハ
ンドブック」の186頁乃至189頁に詳述されてい
る。それらの中で矩形平面を有するターゲットを備えた
平板状マグネトロン(Planar magnetron)が工業的に最
も有力である。
2. Description of the Related Art Various methods have been conventionally known for the method of electrodes used in thin film production by sputtering. Among them, industrially, the magnetron method is most often used because the high film forming speed is the main reason. There are various electrode shapes for magnetron type electrodes. The various electrode shapes were edited by JL Vossen and W. Kern, for example, in 1978 in Academic
75 of "ThinFilm Processes" published by Academic Press
Pp. To 173, or pp. 186 to 189 of the "Thin Film Handbook" edited by the Japan Society for the Promotion of Science, Thin Film 131st Committee and published by Ohmsha in 1983. Among them, the planar magnetron with a target having a rectangular plane is industrially the most powerful.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】矩形平板状のマグネト
ロンカソード電極を用いたスパッタリング装置で大面積
の基板上に薄膜を形成する場合には、既に知られるよう
に、装置の巨大化、ターゲットが不均一に消耗すること
の不経済性、ターゲット面における不均一イオン衝撃と
プラズマ空間密度分布の不均一性に起因する基板内スパ
ッタリング膜の不均質性、及びターゲット面における不
均一イオン衝撃に伴うパーティクル発生等の問題が存在
した。
As is already known, when a thin film is formed on a large-area substrate by a sputtering device using a rectangular flat plate-shaped magnetron cathode electrode, the device becomes large and the target is unsatisfactory. Unevenness of uniform consumption, non-uniform ion bombardment on target surface and non-uniformity of sputtering film in substrate due to non-uniformity of plasma spatial density distribution, and particle generation due to non-uniform ion bombardment on target surface There was such a problem.

【0004】本発明者らは、かかる問題に鑑みて、先に
特許出願(特願平3−194298号)を行い、矩形平
板状マグネトロンカソードにおけるターゲットの不均一
衝撃に伴う問題を解決すべく、ターゲットに対する基板
の相対的位置関係を並進関係とする並進移送方式によら
ず、比較的大型の矩形基板に静止対向状態で薄膜を形成
する電極構造を提案した。この特許出願では、単独でマ
グネトロンカソードとしての機能を有する磁石ユニット
を複数備え、これらの磁石ユニットを相互に隣接させて
構成するユニット磁石組立体をマグネトロンカソード電
極内に組込み、且つユニット磁石組立体を、全体とし
て、矩形マグネトロンカソード面に対してほぼ平行に振
動運動を行いながら動作させる構成とその操作方法が開
示されている。
In view of such a problem, the present inventors first filed a patent application (Japanese Patent Application No. 3-194298) to solve the problem associated with non-uniform impact of a target in a rectangular flat plate magnetron cathode. We proposed an electrode structure that forms a thin film on a relatively large rectangular substrate in a stationary opposing state, regardless of the translational transfer method in which the relative positional relationship of the substrate to the target is translational. In this patent application, a plurality of magnet units independently having a function as a magnetron cathode are provided, and a unit magnet assembly configured by adjoining these magnet units to each other is incorporated into a magnetron cathode electrode, and a unit magnet assembly is provided. As a whole, there is disclosed a configuration in which the rectangular magnetron cathode is operated while performing an oscillating motion substantially parallel to the cathode surface, and a method of operating the same.

【0005】本発明の目的は、先に提案したスパッタリ
ング装置のマグネトロンカソード電極構造の他の構成例
を提供するものであり、ターゲットの不均一イオン衝撃
による問題を解決し、比較的に大型の矩形基板に、ター
ゲットに対する基板の相対的位置関係を並進関係とする
並進移動方式を用いることなく静止対向状態で薄膜形成
するマグネトロンカソード電極を提供することにある。
An object of the present invention is to provide another configuration example of the magnetron cathode electrode structure of the previously proposed sputtering apparatus, which solves the problem caused by non-uniform ion bombardment of the target and has a relatively large rectangular shape. An object of the present invention is to provide a magnetron cathode electrode for forming a thin film on a substrate in a stationary facing state without using a translational movement method in which a relative positional relationship of the substrate to a target is a translational relationship.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係るマグネトロ
ンカソード電極は、薄膜を形成するスパッタリング装置
に適用され、薄膜が形成される基板に対向する比較的に
広い平面を有する平板状ターゲットを備えるものであ
り、ターゲットの表面近傍に環状トンネル形態の磁力線
分布を形成する磁石組立体をターゲットの裏側に配置
し、この磁石組立体を電極内部の空間で所定の軌道に沿
って移動させる駆動機構と、磁石組立体の形態を保持し
且つ軌道形状に応じて磁石組立体の形態を局部的に変形
させるリンク機構とを備え、磁石組立体の形態に対応し
て磁力線分布が形成され且つ磁石組立体の移動に伴いタ
ーゲット表面上で磁力線分布が移動するように構成され
る。磁力線分布は、閉じた環状トンネルの領域を形成
し、この領域は広い面積のターゲットの表面を所定速度
で移動する。環状トンネルの領域には、電子のドリフト
運動が発生する。前記構成において、好ましくは、磁石
組立体は、複数の磁石が一列に配置された中央磁極群
と、この中央磁極群を囲むように配列された複数の磁石
からなる外周磁極群とから構成される。この中央磁極群
と外周磁極群との間に磁力線が分布し、この磁力線の分
布によって前記の環状トンネル形状の領域が形成され
る。
A magnetron cathode electrode according to the present invention is applied to a sputtering apparatus for forming a thin film, and is provided with a flat target having a relatively wide flat surface facing a substrate on which the thin film is formed. A magnet assembly that forms a magnetic field distribution in the form of an annular tunnel near the surface of the target is arranged on the back side of the target, and a drive mechanism that moves this magnet assembly along a predetermined trajectory in the space inside the electrode, A link mechanism that retains the shape of the magnet assembly and locally deforms the shape of the magnet assembly according to the orbital shape, forms a magnetic field distribution corresponding to the shape of the magnet assembly, and The magnetic field line distribution is configured to move on the surface of the target along with the movement. The magnetic field line distribution forms a region of a closed annular tunnel, which moves at a predetermined speed over the surface of a large area target. Electron drift motion occurs in the area of the annular tunnel. In the above configuration, preferably, the magnet assembly includes a central magnetic pole group in which a plurality of magnets are arranged in a row, and an outer peripheral magnetic pole group including a plurality of magnets arranged so as to surround the central magnetic pole group. .. The magnetic force lines are distributed between the central magnetic pole group and the outer magnetic pole group, and the distribution of the magnetic force lines forms the annular tunnel-shaped region.

【0007】[0007]

【作用】本発明では、磁石組立体が、ターゲットの表面
近傍に環状のトンネル形状を有した磁界領域を形成する
ようにターゲット裏面側の電極ハウジング内に配置され
ると共に、駆動機構によって所定の軌道を移動するリン
ク機構の上に設置されている。従って、磁石組立体はリ
ンク機構の移動に伴い、前記所定の軌道を移動する。磁
石組立体は、中央磁極群と外周磁極群とからなり、局部
的に変形可能な構造を有している。このため、軌道に沿
って移動するときに、曲線部が存在してもその軌道に合
致するように変形する。前記の所定の軌道は、ターゲッ
トの裏側の電極ハウジング内部に所要形状にて形成され
る。軌道は、ターゲットに広く行き渡る形状に形成さ
れ、タイミングベルトとこれを支持する複数の支持プー
リとこれを駆動する1つの駆動プーリによって形成され
る。
According to the present invention, the magnet assembly is arranged in the electrode housing on the rear surface side of the target so as to form a magnetic field region having an annular tunnel shape near the surface of the target, and a predetermined trajectory is provided by the drive mechanism. It is installed on the link mechanism that moves. Therefore, the magnet assembly moves along the predetermined track as the link mechanism moves. The magnet assembly includes a central magnetic pole group and an outer magnetic pole group, and has a locally deformable structure. Therefore, when moving along the trajectory, the curved portion is deformed so as to match the trajectory. The predetermined track is formed in a desired shape inside the electrode housing on the back side of the target. The track is formed in a shape that widely extends to the target, and is formed by the timing belt, a plurality of support pulleys that support the timing belt, and one drive pulley that drives the timing belt.

【0008】駆動機構及びリンク機構により磁石組立体
が、前記軌道に沿って移動すると、磁石組立体によりタ
ーゲットの表面上に形成される局部的に形状を変形しな
がら磁界領域も移動する。こうして電子ドリフト発生領
域がターゲット表面上を広く移動する。磁界領域の移動
速度が充分に大きいと、ターゲット表面の大部分を比較
的に短時間のうちに常にイオン衝撃に晒すことができ
る。従って、電極ハウジング内の磁石組立体の移動軌跡
を適切に設定することにより、適切な矩形基板と矩形タ
ーゲットの組み合わせにおいて、基板を静止状態で基板
表面に均一な厚みの薄膜を形成することができる。
When the magnet assembly is moved along the track by the drive mechanism and the link mechanism, the magnetic field region is also moved while locally deforming the shape formed on the surface of the target by the magnet assembly. In this way, the electron drift generation region widely moves on the target surface. If the moving speed of the magnetic field region is sufficiently high, most of the target surface can always be exposed to ion bombardment in a relatively short time. Therefore, by appropriately setting the movement locus of the magnet assembly in the electrode housing, it is possible to form a thin film having a uniform thickness on the substrate surface in a stationary state of the substrate in an appropriate combination of the rectangular substrate and the rectangular target. ..

【0009】[0009]

【実施例】図1〜図11に基づいて本発明の最適な実施
例を説明する。図1はスパッタリング装置の全体構成を
示す概略図、図2はマグネトロンカソード電極の要部の
内部構造を示す断面図である。図1においてスパッタリ
ング装置は、基板トレイ挿入室1と、トレイに装着され
た基板の面に薄膜を作製するスパッタリング室2と、基
板トレイ取出し室3とが直列的に連結されて、構成され
る。各室1,2,3は、それぞれ独立に、排気系を有
し、真空状態を維持・管理される。基板トレイ挿入室1
とスパッタリング室2との間にはゲートバルブ4が配設
され、スパッタリング室2と基板トレイ取出し室3との
間にはゲートバルブ5が配設される。スパッタリング室
2は、薄膜を作製している間、真空状態に保持されてい
る。また基板トレイ挿入室1と基板トレイ取出し室3
は、それぞれ、リークバルブ6,7により大気に開放さ
れ、また排気パイプ8,9を経由して排気ポンプ(図示
せず)で矢印10,11の方向へ排気される。図1にお
ける基板トレイ挿入室1の左端は入り口扉12であり、
基板トレイ取出し室3の右端は出口扉13である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An optimum embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic view showing the overall structure of a sputtering apparatus, and FIG. 2 is a sectional view showing the internal structure of the main part of a magnetron cathode electrode. In FIG. 1, the sputtering apparatus is configured by serially connecting a substrate tray insertion chamber 1, a sputtering chamber 2 for forming a thin film on the surface of a substrate mounted on the tray, and a substrate tray unloading chamber 3. Each of the chambers 1, 2 and 3 independently has an exhaust system, and maintains and manages a vacuum state. Substrate tray insertion chamber 1
A gate valve 4 is disposed between the sputtering chamber 2 and the sputtering chamber 2, and a gate valve 5 is disposed between the sputtering chamber 2 and the substrate tray unloading chamber 3. The sputtering chamber 2 is kept in a vacuum state while forming a thin film. Also, the substrate tray insertion chamber 1 and the substrate tray unloading chamber 3
Are opened to the atmosphere by leak valves 6 and 7, respectively, and are exhausted in the directions of arrows 10 and 11 by exhaust pumps (not shown) via exhaust pipes 8 and 9. At the left end of the substrate tray insertion chamber 1 in FIG.
The right end of the substrate tray take-out chamber 3 is an exit door 13.

【0010】基板が装着されたトレイ14は、入り口扉
12から基板トレイ挿入室1に送り込まれる。トレイ1
4は基板を保持する手段である。基板は、径が大きく、
比較的に大型の基板である。その後、基板トレイ挿入室
1の内部は入り口扉12とゲートバルブ4を閉じた状態
で排気される。基板トレイ挿入室1の内部の圧力が充分
に低下した時点でゲートバルブ4が開かれ、トレイ14
はレール(図示せず)に案内されて矢印15の方向に搬
送され、スパッタリング室2に送り込まれる。スパッタ
リング室2では、後述される薄膜作製機構により、トレ
イ14に装着された基板で且つ静止状態にある当該基板
の表面に対してスパッタリング法により薄膜が形成され
る。薄膜形成後、開いたゲートバルブ5を経由して、ト
レイ14は基板トレイ取出し室3に送り込まれる。トレ
イ14が基板トレイ取出し室3に移送された後に、ゲー
トバルブ5が閉じられ、且つリークバルブ7が開かれ、
トレイ14に装着された基板は大気中に置かれることに
なる。そして、取出し扉13を開いてトレイ14を取出
す。スパッタリング室2では、図示しないボンベからガ
ス導入管16を経て矢印18aの方向にガスが導入さ
れ、同じく、図示しない排気ポンプにより排気口17を
経て矢印18bの方向に排気される。この結果、導入ガ
ス流量と排気ガス流量が均衡した状態でスパッタリング
室2は放電状態に維持され、且つスパッタリングを行う
のに適した10-3〜10-2Torrの範囲の予め決められた
一定圧力に保たれる。スパッタリング室2内の入り口側
には、基板加熱ランプ19が配設される。基板加熱ラン
プ19は、必要に応じて配設される。この基板加熱ラン
プ19の熱線輻射により、薄膜を形成する前段階で、基
板の温度を高めることができる。スパッタリング室2の
後段側には、矩形平面を有する大型のターゲットを備え
るマグネトロンカソード電極20(以下、電極20とい
う)が絶縁体21を介して配設されている。電極20の
上部には、ターゲット組立体22を取り付けている。図
1中、ターゲット組立体22の上面がターゲット面にな
っている。また電極20には、電源24と電極電源間給
電線25と電源アース間結線26からなる電源系23が
接続され、この構成により電力が供給される。
The tray 14 on which the substrate is mounted is sent from the entrance door 12 to the substrate tray insertion chamber 1. Tray 1
Reference numeral 4 is a means for holding the substrate. The substrate has a large diameter,
It is a relatively large substrate. Then, the inside of the substrate tray insertion chamber 1 is exhausted with the entrance door 12 and the gate valve 4 closed. When the pressure inside the substrate tray insertion chamber 1 has dropped sufficiently, the gate valve 4 is opened and the tray 14
Is guided by rails (not shown), conveyed in the direction of arrow 15, and fed into the sputtering chamber 2. In the sputtering chamber 2, a thin film is formed by a sputtering method on the surface of the substrate mounted on the tray 14 and in a stationary state by a thin film forming mechanism described later. After forming the thin film, the tray 14 is fed into the substrate tray take-out chamber 3 via the opened gate valve 5. After the tray 14 is transferred to the substrate tray unloading chamber 3, the gate valve 5 is closed and the leak valve 7 is opened.
The substrate mounted on the tray 14 is placed in the atmosphere. Then, the take-out door 13 is opened and the tray 14 is taken out. In the sputtering chamber 2, gas is introduced from a cylinder (not shown) through the gas introduction pipe 16 in the direction of arrow 18a, and is similarly exhausted by an exhaust pump (not shown) through the exhaust port 17 in the direction of arrow 18b. As a result, the sputtering chamber 2 is maintained in a discharge state with the introduced gas flow rate and the exhaust gas flow rate balanced, and a predetermined constant pressure in the range of 10 -3 to 10 -2 Torr suitable for performing sputtering. Kept in. A substrate heating lamp 19 is arranged on the entrance side of the sputtering chamber 2. The substrate heating lamp 19 is provided as needed. By the heat ray radiation of the substrate heating lamp 19, the temperature of the substrate can be raised before the thin film is formed. A magnetron cathode electrode 20 (hereinafter, referred to as an electrode 20) including a large target having a rectangular flat surface is arranged on the rear side of the sputtering chamber 2 with an insulator 21 interposed therebetween. A target assembly 22 is attached to the upper portion of the electrode 20. In FIG. 1, the upper surface of the target assembly 22 is the target surface. A power supply system 23 including a power supply 24, a power supply line 25 between electrode power supplies, and a power supply earth connection line 26 is connected to the electrode 20, and power is supplied by this configuration.

【0011】スパッタリング室2で、トレイ14は電極
20に対して静止し、この状態でトレイ14上の基板は
ターゲット組立体22のターゲット面に対面する。基板
の対向表面には、ターゲット組立体22から飛来するス
パッタリング粒子が堆積し、基板上に薄膜が形成され
る。図1における例では、1個のトレイ14と1個の電
極20の組み合わせが示されているが、スパッタリング
室2において電極20は任意の数を設けることができ
る。なお、スパッタリング室2の壁部はアース配線27
でアースされている。
In the sputtering chamber 2, the tray 14 stands still with respect to the electrode 20, and in this state, the substrate on the tray 14 faces the target surface of the target assembly 22. Sputtered particles flying from the target assembly 22 are deposited on the opposing surface of the substrate to form a thin film on the substrate. In the example in FIG. 1, a combination of one tray 14 and one electrode 20 is shown, but any number of electrodes 20 can be provided in the sputtering chamber 2. The wall of the sputtering chamber 2 has a ground wire 27.
Grounded in.

【0012】図2を参照して電極20の構造を具体的に
詳しく説明する。電極20は、電極ハウジング31と、
電極ハウジング31の内部に配設される磁石組立体32
と、前記のターゲット組立体22とから構成される。3
3はスパッタリング室2を形成する容器の壁部を部分的
に示す。電極20は、壁部33に形成された開口部34
に前述の絶縁体21を介して取り付けられる。電極20
は、ターゲット組立体22のターゲット面が真空室側に
露出するように、開口部34に取り付けられる。取付け
のための固定具又はクランプ機構等は図示されていな
い。
The structure of the electrode 20 will be described in detail with reference to FIG. The electrode 20 includes an electrode housing 31 and
Magnet assembly 32 disposed inside the electrode housing 31
And the target assembly 22 described above. Three
Reference numeral 3 partially shows the wall of the container forming the sputtering chamber 2. The electrode 20 has an opening 34 formed in the wall 33.
Is attached via the above-mentioned insulator 21. Electrode 20
Is attached to the opening 34 so that the target surface of the target assembly 22 is exposed to the vacuum chamber side. Fixtures for attachment or clamp mechanisms etc. are not shown.

【0013】ターゲット組立体22は、ターゲット板3
5とターゲット押え治具36とターゲット裏板37から
なり、図示されない結合具により電極ハウジング31に
固定される。
The target assembly 22 includes the target plate 3
5, a target pressing jig 36, and a target back plate 37, which are fixed to the electrode housing 31 by a coupling tool (not shown).

【0014】電極ハウジング31の内部に形成された凹
状空間38には、前述の磁石組立体32と、この磁石組
立体32を支持するリンク機構40と、磁石組立体及び
リンク機構を全体として凹状空間内で移動させる駆動部
41とが組み込まれる。電極ハウジング31の下側外部
には駆動モータ系42が取り付けられる。
In the concave space 38 formed inside the electrode housing 31, the above-mentioned magnet assembly 32, the link mechanism 40 for supporting the magnet assembly 32, and the magnet assembly and the link mechanism as a whole are concave spaces. A drive unit 41 for moving the inside is incorporated. A drive motor system 42 is attached to the outside of the lower side of the electrode housing 31.

【0015】図2及び図3〜図7を参照して磁石組立体
32、リンク機構40、駆動部41の各々の詳細な構成
を説明する。
The detailed construction of each of the magnet assembly 32, the link mechanism 40, and the drive section 41 will be described with reference to FIGS. 2 and 3 to 7.

【0016】図3は図2におけるA−A線の矢印方向か
ら見た磁石組立体32の平面図である。磁石組立体32
は、中央に位置する線に沿って配列された中央磁極群3
2Aと、中央磁極群32Aを囲む如く配列された外周磁
極群32Bとから構成される。中央磁極群32Aは、複
数の中央ユニット磁石61を線上に配列することにより
構成され、外周磁極群32Bは、中央ユニット磁石の個
数よりも多い複数の外周ユニット磁石71を閉曲線上に
配列することにより構成される。
FIG. 3 is a plan view of the magnet assembly 32 as seen from the direction of arrow AA in FIG. Magnet assembly 32
Is a central magnetic pole group 3 arranged along a line located in the center.
2A and an outer peripheral magnetic pole group 32B arranged so as to surround the central magnetic pole group 32A. The central magnetic pole group 32A is configured by arranging a plurality of central unit magnets 61 on a line, and the outer peripheral magnetic pole group 32B is configured by arranging a plurality of outer peripheral unit magnets 71, which are larger than the number of central unit magnets, on a closed curve. Composed.

【0017】中央ユニット磁石61の外観斜視図を図5
に示す。この図で明らかなように、中央ユニット磁石6
1は、上部に配設される永久磁石62と、その下部に配
設され接着剤で固定されたヨーク63及び磁石固定板6
4から構成される。永久磁石62は例えばストロンチウ
ムバリウムフェライトによって形成され、そのN極がタ
ーゲット側に向くように配置される。ヨーク63は例え
ば軟鉄のような軟磁性高透磁率材料で作られ、永久磁石
62のS極側の面に固定され、且つ両側にアーム65が
形成される。磁石固定板64は、中央ユニット磁石61
を後述するリニアチェインに固定するための部材であ
る。永久磁石62は所要の厚みを有し、その平面形状
は、一方の辺部が曲線的に膨出し、反対側の他方の辺部
が曲線的に凹んだ三日月形状となっている。かかる形状
は、隣接する他の中央ユニット磁石の永久磁石との関係
において移動の際の隣接関係を、接触等の支障が生じな
い滑らかなものとしている。
An external perspective view of the central unit magnet 61 is shown in FIG.
Shown in. As can be seen in this figure, the central unit magnet 6
Reference numeral 1 denotes a permanent magnet 62 disposed on the upper portion, a yoke 63 disposed on the lower portion thereof and fixed with an adhesive, and a magnet fixing plate 6.
It is composed of 4. The permanent magnet 62 is formed of, for example, strontium barium ferrite, and is arranged so that its N pole faces the target side. The yoke 63 is made of, for example, a soft magnetic high magnetic permeability material such as soft iron, is fixed to the surface of the permanent magnet 62 on the S pole side, and has arms 65 formed on both sides. The magnet fixing plate 64 is the central unit magnet 61.
Is a member for fixing to a linear chain described later. The permanent magnet 62 has a required thickness, and its planar shape is a crescent shape in which one side part bulges in a curved line and the other side part on the opposite side is curvedly recessed. Such a shape makes the adjoining relationship between other adjacent central unit magnets in relation to the permanent magnet smooth when moving, without causing any trouble such as contact.

【0018】外周ユニット磁石71の外観斜視図を図6
に示す。外周ユニット磁石71は、上部に配置される永
久磁石72と、永久磁石の下面に接着されたヨーク73
と、側面に接着された磁石固定版74から構成される。
永久磁石72の材質は、前記の永久磁石62と同じであ
る。ただし、永久磁石72の上面はS極となるように配
置される。ヨーク73を形成する材質は、前記のヨーク
63と同じである。ヨーク73に設けられるアーム75
は、片側の面のみに設けられる。ヨーク73のアーム7
5は、電極への組み付け状態では、前記のヨーク63の
アーム65と対向する状態で取り付けられる。磁石固定
板74は、外周ユニット磁石71を、後述する周回チェ
ーンに固定するための部材である。
FIG. 6 is an external perspective view of the outer peripheral unit magnet 71.
Shown in. The outer peripheral unit magnet 71 includes a permanent magnet 72 arranged on the upper portion and a yoke 73 bonded to the lower surface of the permanent magnet.
And a magnet fixing plate 74 adhered to the side surface.
The material of the permanent magnet 72 is the same as that of the permanent magnet 62. However, the upper surface of the permanent magnet 72 is arranged so as to have a south pole. The material forming the yoke 73 is the same as that of the yoke 63. Arm 75 provided on the yoke 73
Is provided on only one surface. Arm 7 of the yoke 73
The electrode 5 is attached so as to face the arm 65 of the yoke 63 when assembled to the electrode. The magnet fixing plate 74 is a member for fixing the outer peripheral unit magnet 71 to a revolving chain described later.

【0019】図3において中央磁極群32Aは例えば1
1個の中央ユニット磁石61からなり、外周磁極群32
Bは例えば34個の外周ユニット磁石71からなる。中
央磁極群のすべての中央ユニット磁石61のターゲット
側の面はN極になっており、外周磁極群のすべての外周
ユニット磁石71のターゲット側の面はS極になってい
る。かかる例は一例であり、形成しようとする磁力線に
応じてユニット磁石は任意の個数、任意の組合せで作る
ことができる。
In FIG. 3, the central magnetic pole group 32A is, for example, 1
It consists of one central unit magnet 61, and the outer magnetic pole group 32
B consists of, for example, 34 peripheral unit magnets 71. The target side surfaces of all the central unit magnets 61 of the central magnetic pole group are N poles, and the target side surfaces of all the outer peripheral unit magnets 71 of the outer magnetic pole group are S poles. Such an example is an example, and the unit magnets can be made in an arbitrary number and in an arbitrary combination according to the magnetic field lines to be formed.

【0020】図4を参照して、磁石組立体32を移動さ
せるためのリンク機構40を説明する。図4は、図2に
おけるB−B線の矢印方向から見たリンク機構の平面図
である。リンク機構40はリニアチェイン43と周回チ
ェイン44から構成される。リニアチェイン43には、
例えばTO型クレセントチェイン(商品名;椿本チェイ
ン製)を使用する。このリニアチェインは、一点鎖線が
示すような三日月型のトッププレート45を設けてい
る。中央ユニット磁石61は、このトッププレート45
の上に配設される。周回チェイン44は、所定の間隔で
アタッチメント46が取り付けており、このアタッチメ
ント46のそれぞれに前記の外周ユニット磁石71が取
り付けられる。リニアチェイン43及び周回チェイン4
4の各ブッシュは、ほぼ同じ水平面に配置される。リニ
アチェイン43と周回チェイン44との間には、複数の
スペーサスプロケット47が配設され、両者の間隔を等
間隔に維持する。図示例では、2個のスペーサスプロケ
ット47が図示されている。スペーサスプロケットの数
については、リニアチェイン43と周回チェイン44の
距離が近付きすぎないように、またリンク機構全体が局
部的に変形しながら磁石組立体32を移動させることが
できるように、適切な個数に選択される必要がある。図
2に示す如く、スペーサスプロケット47の軸はリニア
チェイン43のブッシュに固定され、且つ回転できるよ
うに構成される。この構成はリニアチェインとしてホロ
ーピッチチェインを用いることにより可能である。
A link mechanism 40 for moving the magnet assembly 32 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a plan view of the link mechanism as seen from the direction of the arrow of line BB in FIG. The link mechanism 40 is composed of a linear chain 43 and a circulating chain 44. In the linear chain 43,
For example, a TO type crescent chain (trade name; manufactured by Tsubakimoto Chain) is used. This linear chain is provided with a crescent-shaped top plate 45 as indicated by the one-dot chain line. The central unit magnet 61 is the top plate 45.
Is disposed on. Attachments 46 are attached to the orbiting chain 44 at predetermined intervals, and the outer peripheral unit magnets 71 are attached to each of the attachments 46. Linear chain 43 and loop chain 4
The bushes 4 are arranged in substantially the same horizontal plane. A plurality of spacer sprockets 47 are arranged between the linear chain 43 and the orbiting chain 44 to maintain the distance between them at equal intervals. In the illustrated example, two spacer sprockets 47 are illustrated. The number of spacer sprockets should be an appropriate number so that the linear chain 43 and the orbiting chain 44 are not too close to each other and the magnet assembly 32 can be moved while the entire link mechanism is locally deformed. Must be selected for. As shown in FIG. 2, the shaft of the spacer sprocket 47 is fixed to the bush of the linear chain 43 and is configured to be rotatable. This configuration is possible by using a hollow pitch chain as the linear chain.

【0021】なお図2に示す如く、リニアチェイン43
の下部側にはアタッチメント48が取り付けられる。リ
ニアチェイン43は、このアタッチメント48を介し全
体として後述する駆動部41の一部を構成するタイミン
グベルト49に固定される。一方、周回チェイン44の
下部にはアタッチメント50が設けられ、このアタッチ
メント50には移動支持板51が固定される。
As shown in FIG. 2, the linear chain 43
An attachment 48 is attached to the lower side of the. The linear chain 43 is fixed to the timing belt 49, which constitutes a part of the drive unit 41 described later as a whole, via the attachment 48. On the other hand, an attachment 50 is provided below the orbiting chain 44, and a moving support plate 51 is fixed to the attachment 50.

【0022】図2及び図7を参照して、駆動部41の構
成、及び電極ハウジング31内の凹状空間38における
磁石組立体32と駆動部41の位置関係を説明する。
With reference to FIGS. 2 and 7, the structure of the drive unit 41 and the positional relationship between the magnet assembly 32 and the drive unit 41 in the concave space 38 in the electrode housing 31 will be described.

【0023】81は駆動ベースプレートであり、駆動ベ
ースプレート81は電極ハウジング31の内部に固定さ
れる。駆動ベースプレート81はリンク機構40を支持
し、磁石組立体32を滑らかに移動させるのを補助す
る。駆動ベースプレート81には複数のガイドスプロケ
ット82がそれぞれ回転軸を介して取り付けられてい
る。複数のガイドスプロケット82のそれぞれは、リン
ク機構40の周回チェイン44のブッシュに接触する。
所定位置に複数配置されたガイドスプロケット82は全
体として、リンク機構40を介して磁石組立体32を一
定の軌道に乗せ、凹状空間38内を移動させる。
Reference numeral 81 is a drive base plate, and the drive base plate 81 is fixed inside the electrode housing 31. The drive base plate 81 supports the link mechanism 40 and assists in smoothly moving the magnet assembly 32. A plurality of guide sprockets 82 are attached to the drive base plate 81 via rotary shafts. Each of the plurality of guide sprockets 82 contacts the bush of the orbiting chain 44 of the link mechanism 40.
The plurality of guide sprockets 82 arranged at predetermined positions as a whole put the magnet assembly 32 on a fixed path through the link mechanism 40 and move it in the concave space 38.

【0024】図2に示す如く、駆動ベースプレート81
にはスライドボール83が埋設される。このスライドボ
ール83の上には、周回チェイン44の下部の移動支持
板51が載置される。スライドボール83は、磁石組立
体及びリンク機構の全体を支持しながら、平滑な移動を
可能にする。
As shown in FIG. 2, the drive base plate 81
A slide ball 83 is embedded in the. On the slide ball 83, the moving support plate 51 below the orbital chain 44 is placed. The slide ball 83 enables smooth movement while supporting the entire magnet assembly and link mechanism.

【0025】電極ハウジングの底部には、回転軸を備え
た複数の位置決めプーリ84と1個の駆動プーリ85が
取り付けられる。そして、それらの外周に沿ってタイミ
ングベルト49が張られている。駆動プーリ85は、電
極ハウジング31に支持枠86を介して固定されたモー
タ87と、軸シールされた回転駆動軸88とからなる駆
動モータ系42によって回転する。前述の如く、タイミ
ングベルト49は、リンク機構40のリニアチェイン4
3のアタッチメント48に固定されている。従って、駆
動モータ系42を動作させることにより、タイミングベ
ルト49を電極ハウジング内で回転移動させることがで
きる。磁石組立体32は、タイミングベルト49と一体
化されているので、タイミングベルト49と共に移動す
る。
A plurality of positioning pulleys 84 having a rotating shaft and one drive pulley 85 are mounted on the bottom of the electrode housing. Then, the timing belt 49 is stretched along the outer circumference thereof. The drive pulley 85 is rotated by a drive motor system 42 including a motor 87 fixed to the electrode housing 31 via a support frame 86 and a rotary drive shaft 88 that is axially sealed. As described above, the timing belt 49 is used for the linear chain 4 of the link mechanism 40.
It is fixed to the attachment 48 of No. 3. Therefore, by operating the drive motor system 42, the timing belt 49 can be rotationally moved within the electrode housing. Since the magnet assembly 32 is integrated with the timing belt 49, it moves together with the timing belt 49.

【0026】なお図示されていないが、空間38には電
極ハウジング31の外部から冷却水を導入し、ターゲッ
ト裏板37に接触させ、その後外部に排出させるように
構成される。これにより、放電を行う際、ターゲットの
表面に発生する熱を冷却水を媒体として外部に放出す
る。電極ハウジング31とターゲット裏板37の間の気
密はOリング91によって保持され、電極20と絶縁体
21との間の気密はOリング92によって保持され、絶
縁体21と真空容器の壁部33との気密はOリング93
によって保持される。またターゲットにおける真空側の
露出面のうち、本来スバッタリングすべき面以外の面が
望ましくないイオン衝撃を受けるのを防止するため、シ
ールド部材94が開口部の周辺にボルト等により真空容
器壁の内面に固定されている。
Although not shown, cooling water is introduced into the space 38 from the outside of the electrode housing 31, is brought into contact with the target back plate 37, and is then discharged to the outside. As a result, when discharging is performed, the heat generated on the surface of the target is released to the outside by using the cooling water as a medium. The airtightness between the electrode housing 31 and the target back plate 37 is maintained by an O-ring 91, the airtightness between the electrode 20 and the insulator 21 is maintained by an O-ring 92, and the insulator 21 and the wall portion 33 of the vacuum container are retained. Airtightness is O ring 93
Held by Further, in order to prevent a surface other than the surface to be originally sluttered from the exposed surface on the vacuum side of the target from being subjected to undesired ion bombardment, the shield member 94 is attached to the periphery of the opening portion of the vacuum container wall by a bolt or the like. It is fixed on the inner surface.

【0027】図8及び図9を参照して磁石組立体32に
おける磁束分布について説明する。中央磁極群32Aの
上面はN極であり、外周磁極群32Bの上面はS極であ
るので、中央磁極群32Aから出発して外周磁極群32
Bに達する磁力線100が形成される。図示例では有限
の本数の磁力線しか示していないが、実際には無限であ
る。この結果、電極20のターゲット表面では、中央磁
極群32Aの上面に対向するターゲット裏板部分に対応
するターゲット表面領域から磁力線が出て、その周囲の
ターゲット表面領域に入り、外周磁極群32Bに到達す
る磁力線が、環状のトンネル状経路の領域を形成する。
この状態で、スパッタリング電極に負の電圧を印加する
と、ターゲット表面に形成される垂直な電界と、前記磁
力線の磁界とで、電子は、ターゲット表面を磁力線の形
成する閉じたトンネル経路に沿って環状のドリフト運動
を行う。このドリフト運動により、低電圧大電流の放電
が発生するので、高速度でスパッタリング膜を作製する
ことができる。
The magnetic flux distribution in the magnet assembly 32 will be described with reference to FIGS. 8 and 9. Since the upper surface of the central magnetic pole group 32A is the N pole and the upper surface of the outer peripheral magnetic pole group 32B is the S pole, the outer peripheral magnetic pole group 32 starts from the central magnetic pole group 32A.
Magnetic field lines 100 reaching B are formed. Although only a finite number of magnetic force lines are shown in the illustrated example, it is actually infinite. As a result, on the target surface of the electrode 20, magnetic force lines are emitted from the target surface area corresponding to the target back plate portion facing the upper surface of the central magnetic pole group 32A, enter the surrounding target surface area, and reach the outer magnetic pole group 32B. The magnetic field lines that form form an area of an annular tunnel-like path.
When a negative voltage is applied to the sputtering electrode in this state, electrons are annularly formed on the target surface along a closed tunnel path formed by the magnetic field lines due to the vertical electric field formed on the target surface and the magnetic field of the magnetic field lines. Do a drift exercise. Due to this drift motion, low-voltage and large-current discharge occurs, so that the sputtering film can be produced at a high speed.

【0028】磁石組立体32は、前述の如く駆動モータ
系42、タイミングベルト49、リンク機構40等によ
って、タイミングベルト49の配置経路に沿って移動す
る。図10において101は駆動ベースプレート81の
上の磁石組立体32の移動経路を示す。磁石組立体32
は時計回りで移動する。この移動経路101において磁
石組立体32は移動経路の形態に応じて変形する。10
2〜104はそれぞれ磁石組立体の形状に応じてトンネ
ル経路が変形することにより形成される電子のドリフト
運動を示している。
The magnet assembly 32 is moved along the arrangement path of the timing belt 49 by the drive motor system 42, the timing belt 49, the link mechanism 40, etc. as described above. In FIG. 10, reference numeral 101 denotes a movement path of the magnet assembly 32 on the drive base plate 81. Magnet assembly 32
Moves clockwise. In the moving path 101, the magnet assembly 32 is deformed according to the form of the moving path. 10
2 to 104 respectively show drift motions of electrons formed by deformation of the tunnel path according to the shape of the magnet assembly.

【0029】電子のドリフト運動の速度は非常に大き
く、実用的なスパッタリング電極の寸法では、環状の軌
跡を一周するのに1ミリ秒以下と推定される。これに対
してタイミングベルト49の移動速度は比較的に遅く、
例えば速くてもせいぜい1分間に数十回程度であるか
ら、磁石組立体32が電極ハウジング内を一周して元の
位置に戻るには、いかに速くても1秒以上かかる。
The velocity of the electron drift motion is very high, and it is estimated that it takes 1 millisecond or less to complete one round of the circular locus in the practical size of the sputtering electrode. On the other hand, the moving speed of the timing belt 49 is relatively slow,
For example, it takes several tens of times per minute at the fastest, so that it takes one second or more at the fastest for the magnet assembly 32 to make one round in the electrode housing and return to the original position.

【0030】図10の図示例では、ドリフト運動する電
子の閉じた軌跡は102〜104の3個しか示されてい
ないが、実際、磁石組立体32は回転移動するので、連
続的に無限の数の軌跡が形成される。図11に、ターゲ
ット表面におけるイオン衝撃を受け、スパッタエッチン
グされて薄膜の形成に寄与する領域105を示す。中央
磁石群32Aの中心線の移動軌跡101の周囲に比較的
に幅の広い領域が有効に利用される。
In the illustrated example of FIG. 10, only three closed trajectories of the drifting electrons 102 to 104 are shown, but in fact, since the magnet assembly 32 is rotationally moved, a continuous infinite number is obtained. Is formed. FIG. 11 shows a region 105 which is subjected to ion bombardment on the target surface and is sputter-etched to contribute to the formation of a thin film. A relatively wide area is effectively used around the movement locus 101 of the center line of the central magnet group 32A.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明によれば、スパッタリング装置に
おいて特に比較的に大面積の矩形基板に静止状態で薄膜
を形成することができる。この場合、基板並進のための
緩衝空間が不要となるためスパッタリング装置自体は比
較的に小型に作ることができる。電子ドリフトを発生す
る領域をターゲットの表面上で移動させ、矩形ターゲッ
トをほぼ全面的にイオン衝撃できるので、ターゲットの
利用効率を高め、ターゲット消耗の不均一性が改善され
ると共に、基板に形成される膜の膜質が均質になり且つ
膜厚が均一になる。またイオン衝撃領域の拡大に伴いタ
ーゲットの表面に堆積する膜が抑制され、この膜に起因
して発生するパーティクルも抑制される。
According to the present invention, a thin film can be formed in a stationary state on a rectangular substrate having a relatively large area in a sputtering apparatus. In this case, since the buffer space for translating the substrate is not necessary, the sputtering apparatus itself can be made relatively small. By moving the region where electron drift occurs on the surface of the target and ion bombarding the rectangular target almost entirely, the utilization efficiency of the target is improved, the non-uniformity of target consumption is improved, and it is formed on the substrate. The film quality is uniform and the film thickness is uniform. In addition, the film deposited on the surface of the target is suppressed as the ion bombardment area is expanded, and particles generated due to this film are also suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】スパッタリング装置の実施例を示す構成図であ
る。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a sputtering apparatus.

【図2】本発明に係るマグネトロンカソード電極の実施
例を示す断面図である。
FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment of a magnetron cathode electrode according to the present invention.

【図3】磁石組立体の平面図である。FIG. 3 is a plan view of a magnet assembly.

【図4】リンク機構の平面図である。FIG. 4 is a plan view of the link mechanism.

【図5】中央磁極群の中央ユニット磁石の外観斜視図で
ある。
FIG. 5 is an external perspective view of a central unit magnet of the central magnetic pole group.

【図6】外周磁極群の外周ユニット磁石の外観斜視図で
ある。
FIG. 6 is an external perspective view of an outer peripheral unit magnet of an outer peripheral magnetic pole group.

【図7】駆動部の構成、及び電極ハウジング内の凹状空
間における磁石組立体と駆動部の位置関係を示す平面図
である。
FIG. 7 is a plan view showing a configuration of a drive unit and a positional relationship between the magnet assembly and the drive unit in a concave space inside the electrode housing.

【図8】中央磁極群と外周磁極群の間の磁力線分布を示
す要部断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of relevant parts showing a distribution of magnetic force lines between a central magnetic pole group and an outer magnetic pole group.

【図9】中央磁極群と外周磁極群の間の磁力線分布を示
す外観斜視図である。
FIG. 9 is an external perspective view showing a magnetic force line distribution between a central magnetic pole group and an outer magnetic pole group.

【図10】ターゲット表面上の電子ドリフト発生軌跡の
移動経路を示す平面図である。
FIG. 10 is a plan view showing a movement path of an electron drift generation trajectory on a target surface.

【図11】ターゲット表面上のスパッタエッチングされ
る領域を示す平面図である。
FIG. 11 is a plan view showing a region to be sputter-etched on the target surface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板トレイ挿入室 2 スパッタリング室 3 基板トレイ取出し室 14 トレイ 20 マグネトロンカソード電極 22 ターゲット組立体 23 電源系 31 電極ハウジング 32 磁石組立体 32A 中央磁極群 32B 外周磁極群 38 凹状空間 40 リング機構 41 駆動部 42 駆動モータ系49 タイミング
ベルト
1 Substrate Tray Insertion Chamber 2 Sputtering Chamber 3 Substrate Tray Extraction Chamber 14 Tray 20 Magnetron Cathode Electrode 22 Target Assembly 23 Power Supply System 31 Electrode Housing 32 Magnet Assembly 32A Central Magnetic Pole Group 32B Peripheral Magnetic Pole Group 38 Recessed Space 40 Ring Mechanism 41 Drive Unit 42 Drive motor system 49 Timing belt

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 薄膜を形成するスパッタリング装置に適
用され、前記薄膜が形成される基板に対向する比較的に
広い平面を有するターゲットを備えるマグネトロンカソ
ード電極であり、前記ターゲットの表面近傍に環状トン
ネル形態の磁力線分布を形成する磁石組立体と、前記磁
石組立体を電極内部の空間で所定の軌道に沿って移動さ
せる駆動機構と、前記磁石組立体の形態保持と局部的変
形を行うリンク機構を備え、前記磁石組立体の形態に対
応して前記磁力線分布が形成され且つ前記磁石組立体の
移動に伴い前記ターゲット表面上で前記磁力線分布が移
動することを特徴とするマグネトロンカソード電極。
1. A magnetron cathode electrode applied to a sputtering apparatus for forming a thin film, comprising a target having a relatively wide flat surface facing a substrate on which the thin film is formed, wherein the magnetron cathode electrode has an annular tunnel shape near the surface of the target. A magnet assembly that forms a magnetic field distribution, a drive mechanism that moves the magnet assembly along a predetermined trajectory in the space inside the electrode, and a link mechanism that maintains the shape of the magnet assembly and locally deforms the magnet assembly. A magnetron cathode electrode, wherein the magnetic force line distribution is formed according to the form of the magnet assembly, and the magnetic force line distribution moves on the target surface as the magnet assembly moves.
【請求項2】 請求項1記載のマグネトロンカソード電
極において、前記磁石組立体は、複数の磁石が一列に配
置された中央磁極群と、この中央磁極群を囲むように配
列された複数の磁石からなる外周磁極群から構成される
ことを特徴とするマグネトロンカソード電極。
2. The magnetron cathode electrode according to claim 1, wherein the magnet assembly includes a central magnetic pole group in which a plurality of magnets are arranged in a row, and a plurality of magnets arranged so as to surround the central magnetic pole group. A magnetron cathode electrode comprising:
JP30805491A 1991-11-22 1991-11-22 Magnetron cathode electrode Pending JPH05148639A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30805491A JPH05148639A (en) 1991-11-22 1991-11-22 Magnetron cathode electrode

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30805491A JPH05148639A (en) 1991-11-22 1991-11-22 Magnetron cathode electrode

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05148639A true JPH05148639A (en) 1993-06-15

Family

ID=17976334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30805491A Pending JPH05148639A (en) 1991-11-22 1991-11-22 Magnetron cathode electrode

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05148639A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006132806A3 (en) * 2005-06-06 2007-04-12 Applied Materials Inc Multiple scanning magnetrons
JP2008081807A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
WO2009057715A1 (en) * 2007-10-31 2009-05-07 Canon Anelva Corporation Magnetron unit, magnetron sputtering apparatus and method for manufacturing electronic device
JP2009114507A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
JP2009149929A (en) * 2007-12-19 2009-07-09 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
US20110031116A1 (en) * 2009-08-07 2011-02-10 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Magnetron sputtering target assembly and coating apparatus having same
CN103924200A (en) * 2013-12-30 2014-07-16 上海天马有机发光显示技术有限公司 Thin film deposition apparatus
CN109112480A (en) * 2018-09-25 2019-01-01 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 A kind of CrB2The preparation method of coating

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006132806A3 (en) * 2005-06-06 2007-04-12 Applied Materials Inc Multiple scanning magnetrons
JP2008081807A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
JP4657184B2 (en) * 2006-09-28 2011-03-23 株式会社アルバック Sputtering equipment
WO2009057715A1 (en) * 2007-10-31 2009-05-07 Canon Anelva Corporation Magnetron unit, magnetron sputtering apparatus and method for manufacturing electronic device
US7785449B2 (en) 2007-10-31 2010-08-31 Canon Anelva Corporation Magnetron unit, magnetron sputtering apparatus, and method of manufacturing electronic device
JP2009114507A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
JP2009149929A (en) * 2007-12-19 2009-07-09 Ulvac Japan Ltd Sputtering equipment
US20110031116A1 (en) * 2009-08-07 2011-02-10 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Magnetron sputtering target assembly and coating apparatus having same
CN103924200A (en) * 2013-12-30 2014-07-16 上海天马有机发光显示技术有限公司 Thin film deposition apparatus
CN103924200B (en) * 2013-12-30 2017-07-04 上海天马有机发光显示技术有限公司 A kind of film deposition apparatus
CN109112480A (en) * 2018-09-25 2019-01-01 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 A kind of CrB2The preparation method of coating

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5458759A (en) Magnetron sputtering cathode apparatus
US5382344A (en) Sputtering apparatus
JP6412984B2 (en) Apparatus and method for carousel atomic layer deposition
US7347919B2 (en) Sputter source, sputtering device, and sputtering method
JP3700793B2 (en) Vacuum processing apparatus, method for processing substrate in vacuum processing apparatus, and lock for vacuum processing apparatus
US6641702B2 (en) Sputtering device
JP7158098B2 (en) Film forming apparatus and method for manufacturing electronic device
JPS63282269A (en) Method for depositing metal coating on body
GB1559269A (en) Treatment of a workpiece
TWI554629B (en) Film forming device
JPH05148639A (en) Magnetron cathode electrode
KR101188361B1 (en) Target module and sputtering apparatus
JP5411481B2 (en) Magnetron sputtering equipment
US20070138009A1 (en) Sputtering apparatus
JP2555004B2 (en) Sputtering equipment
US5753089A (en) Sputter coating station
KR101430653B1 (en) Inline sputtering apparatus
JP2617439B2 (en) Sputtering equipment
KR101780945B1 (en) In-line sputtering system
JPS6086272A (en) sputtering device
JP4392895B2 (en) Sputtering equipment
JP2001207258A (en) Rotating magnet, and inline type sputtering system
JPH05230648A (en) Sputtering device
JP2001226771A (en) Film deposition system
CN118773564A (en) A vacuum coating machine