JPH05142267A - 高圧電源における電流検出装置 - Google Patents
高圧電源における電流検出装置Info
- Publication number
- JPH05142267A JPH05142267A JP3306087A JP30608791A JPH05142267A JP H05142267 A JPH05142267 A JP H05142267A JP 3306087 A JP3306087 A JP 3306087A JP 30608791 A JP30608791 A JP 30608791A JP H05142267 A JPH05142267 A JP H05142267A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- current
- power supply
- high voltage
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高価な絶縁部材や高耐圧電線を不要とし、構
造簡単、安価かつ安全で、高い信頼性を得る。 【構成】 高圧電源PS1と負荷RLはグランドラインL
を共通にしている。負荷RLはリーク電流の測定を要求
されるICやトランジスタなどの被測定デバイス(DU
T)であり、その一端が高圧電源PS1に接続され、他
端が電流検出抵抗Rを介してグランドラインLに接続さ
れる。この電流検出抵抗Rの両端には、これに生じる電
位差VLを検出するための電圧検出回路DTを構成する
増幅器A2が接続され、その出力から負荷RLに流れるリ
ーク電流ILを求めるようになっている。このように電
流検出抵抗が負荷のリターン側に接続されているため
に、電圧検出回路DTには高電圧がかからない。
造簡単、安価かつ安全で、高い信頼性を得る。 【構成】 高圧電源PS1と負荷RLはグランドラインL
を共通にしている。負荷RLはリーク電流の測定を要求
されるICやトランジスタなどの被測定デバイス(DU
T)であり、その一端が高圧電源PS1に接続され、他
端が電流検出抵抗Rを介してグランドラインLに接続さ
れる。この電流検出抵抗Rの両端には、これに生じる電
位差VLを検出するための電圧検出回路DTを構成する
増幅器A2が接続され、その出力から負荷RLに流れるリ
ーク電流ILを求めるようになっている。このように電
流検出抵抗が負荷のリターン側に接続されているため
に、電圧検出回路DTには高電圧がかからない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高圧電源における電流検
出装置に係り、特にICやトランジスタなどのリーク電
流を測定するための電流検出回路の絶縁対策を改善した
ものに関する。
出装置に係り、特にICやトランジスタなどのリーク電
流を測定するための電流検出回路の絶縁対策を改善した
ものに関する。
【0002】
【従来の技術】図3に高圧電源における電流検出装置の
従来例を示す。高圧電源PS1と負荷RLはグランドライ
ンLを共通にして接続される。負荷RLの一端がグラン
ドラインLに接続され、他端が電流検出抵抗Rを介して
高圧電源PS1に接続される。電流検出回路DTは電流
検出抵抗Rと、これに生じる電位差を検出するための増
幅器A2から構成され、その出力から負荷RLに流れるリ
ーク電流を求めるようになっている。増幅器A2は検出
電圧として高々数V〜数十Vを扱うため、一般的なIC
オペアンプが用いられることが多いが、電流検出抵抗R
が高電圧ラインH(ホットラインH)側にあるため、±
B用電源PS2はフローティング電源としてある。
従来例を示す。高圧電源PS1と負荷RLはグランドライ
ンLを共通にして接続される。負荷RLの一端がグラン
ドラインLに接続され、他端が電流検出抵抗Rを介して
高圧電源PS1に接続される。電流検出回路DTは電流
検出抵抗Rと、これに生じる電位差を検出するための増
幅器A2から構成され、その出力から負荷RLに流れるリ
ーク電流を求めるようになっている。増幅器A2は検出
電圧として高々数V〜数十Vを扱うため、一般的なIC
オペアンプが用いられることが多いが、電流検出抵抗R
が高電圧ラインH(ホットラインH)側にあるため、±
B用電源PS2はフローティング電源としてある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
電流検出装置は、電流検出抵抗RがグランドラインL側
ではなくホットラインH側に介挿されている。このため
増幅器A2に高電圧が加わるので、既述したように増幅
器A2の電源にはフローティング電源が必要となり、次
のような面倒な絶縁対策を施さなければならない。
電流検出装置は、電流検出抵抗RがグランドラインL側
ではなくホットラインH側に介挿されている。このため
増幅器A2に高電圧が加わるので、既述したように増幅
器A2の電源にはフローティング電源が必要となり、次
のような面倒な絶縁対策を施さなければならない。
【0004】図4に示すように、高圧電源のグランドが
落ちている電源筐体シャーシ1上に、これから絶縁して
フローティングとするために、増幅器A2用の電源PS2
がベーク板やテフロン板等からなる絶縁板2を介して設
けられ、また同じく電流検出回路DTの実装された子基
板3が絶縁架台4を介して設けられている。増幅器A2
用の電源PS2から増幅器A2に引き出す±B電源線及び
GND線5には、シャーシグランドGNDから見て通常
数kV近くの高電圧が加わるため、この高電圧に耐える
高耐圧の電線が必要になる。これららの電線5には、実
際には、高価なUL電線と呼ばれる10k〜20kVの
高圧専用特殊電線を使用しているのが現状である。ま
た、これらの電線5がシャーシ1やその他の低電圧部に
接触して絶縁不良事故を起こさないように、電線5を束
ねてシャーシ1等から浮せるための高耐圧支持棒6等も
使われている。なお、増幅器A2は具体的には図5に示
すように、電流検出抵抗Rの両端電圧を電圧フォロア1
1、12で受けて、差動増幅器13で両出力の差を取っ
て電圧値の小さな差分電圧とし、これを更に増幅器14
で受けて、A/D変換器へ出力する構成になっているか
ら、高電圧がかかるのは、第2段の差動増幅器13のと
ころまでである。このように従来では電流検出回路用の
絶縁対策のために、絶縁部材や高価な高耐圧電線を必要
とするばかりか、取り付け構造の複雑化を余儀なくさ
れ、また高圧ゆえに点検・保守作業に危険を伴い、しか
もホコリを吸着しやすく信頼性の面にも問題があった。
落ちている電源筐体シャーシ1上に、これから絶縁して
フローティングとするために、増幅器A2用の電源PS2
がベーク板やテフロン板等からなる絶縁板2を介して設
けられ、また同じく電流検出回路DTの実装された子基
板3が絶縁架台4を介して設けられている。増幅器A2
用の電源PS2から増幅器A2に引き出す±B電源線及び
GND線5には、シャーシグランドGNDから見て通常
数kV近くの高電圧が加わるため、この高電圧に耐える
高耐圧の電線が必要になる。これららの電線5には、実
際には、高価なUL電線と呼ばれる10k〜20kVの
高圧専用特殊電線を使用しているのが現状である。ま
た、これらの電線5がシャーシ1やその他の低電圧部に
接触して絶縁不良事故を起こさないように、電線5を束
ねてシャーシ1等から浮せるための高耐圧支持棒6等も
使われている。なお、増幅器A2は具体的には図5に示
すように、電流検出抵抗Rの両端電圧を電圧フォロア1
1、12で受けて、差動増幅器13で両出力の差を取っ
て電圧値の小さな差分電圧とし、これを更に増幅器14
で受けて、A/D変換器へ出力する構成になっているか
ら、高電圧がかかるのは、第2段の差動増幅器13のと
ころまでである。このように従来では電流検出回路用の
絶縁対策のために、絶縁部材や高価な高耐圧電線を必要
とするばかりか、取り付け構造の複雑化を余儀なくさ
れ、また高圧ゆえに点検・保守作業に危険を伴い、しか
もホコリを吸着しやすく信頼性の面にも問題があった。
【0005】本発明の目的は、電流検出回路を負荷のリ
ターン側に持ってくることによって、上述した従来技術
の欠点を解消して、絶縁対策を要しない高圧電源におけ
る電流検出装置を提供することにある。
ターン側に持ってくることによって、上述した従来技術
の欠点を解消して、絶縁対策を要しない高圧電源におけ
る電流検出装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の高圧電源におけ
る電流検出装置は、負荷とグランドラインを共通にする
高圧電源を備え、高圧電源から負荷に高電圧を印加して
負荷に直列接続した電流検出抵抗の両端に生じる電位差
を検出回路で検出し、この検出出力から負荷に流れる電
流を求める高圧電源における電流検出装置において、電
流検出抵抗を負荷とグランドラインとの間に設けるよう
にしたものである。
る電流検出装置は、負荷とグランドラインを共通にする
高圧電源を備え、高圧電源から負荷に高電圧を印加して
負荷に直列接続した電流検出抵抗の両端に生じる電位差
を検出回路で検出し、この検出出力から負荷に流れる電
流を求める高圧電源における電流検出装置において、電
流検出抵抗を負荷とグランドラインとの間に設けるよう
にしたものである。
【0007】
【作用】電流検出抵抗をグランドライン側に持ってくれ
ば、検出回路には高電圧がかからない。そのためには電
流検出抵抗を最低電位であるグランドラインに介挿すれ
ばよい。しかし、グランドラインには自己系回路のみな
らず他系回路からも電流が流れ込むため、抵抗を介挿す
ることはできない。抵抗を介挿すると基準となるグラン
ドレベルが変動するため精度が大幅に落ち電流検出がで
きなくなるばかりか、回路自体も機能しなくなるからで
ある。そこで、本発明のように、電流検出抵抗を負荷の
リターン側すなわち負荷とグランドラインとの間に介挿
すると、グランドラインのグランドレベルは保持でき、
負荷で高電圧が吸収されるため検出回路にかかる電圧も
小さくなる。これに伴って検出回路周りの絶縁対策は不
要となる。
ば、検出回路には高電圧がかからない。そのためには電
流検出抵抗を最低電位であるグランドラインに介挿すれ
ばよい。しかし、グランドラインには自己系回路のみな
らず他系回路からも電流が流れ込むため、抵抗を介挿す
ることはできない。抵抗を介挿すると基準となるグラン
ドレベルが変動するため精度が大幅に落ち電流検出がで
きなくなるばかりか、回路自体も機能しなくなるからで
ある。そこで、本発明のように、電流検出抵抗を負荷の
リターン側すなわち負荷とグランドラインとの間に介挿
すると、グランドラインのグランドレベルは保持でき、
負荷で高電圧が吸収されるため検出回路にかかる電圧も
小さくなる。これに伴って検出回路周りの絶縁対策は不
要となる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図1〜図2を用いて
説明する。図1は半導体試験装置などに使用されている
リーク電流検出装置を示す。高圧電源PS1と負荷RLは
グランドラインLを共通にして接続される。高圧電源P
S1は例えば出力電圧を任意に設定できるプログラマブ
ル電源であり、中点を接地した±B電源をもつ増幅器A
1から構成されて、電流は僅かしか取れないが高圧電圧
を取り出すことができるようになっている。例えば、±
2kVで最大1mA流すことができる。負荷RLはリー
ク電流の測定を要求されるICやトランジスタなどの被
測定デバイス(DUT)であり、その一端が高圧電源P
S1の出力に接続され、他端が電流検出抵抗Rを介して
グランドラインLに接続される。電流検出回路DTを構
成する電流検出抵抗Rは負荷RLのリーク電流で生じる
電位差を高精度で検出するため、かなり大きな値をもつ
精密抵抗で構成される。DUTによって異なるが、例え
ば1μA流したとき両端に電位差が10V程度生じるよ
うに10MΩ位に設定されるのが普通である。この電流
検出抵抗Rの両端には、これに生じる電位差VLを検出
するための電圧検出回路DTを構成する増幅器A2が接
続され、その出力から負荷RLに流れるリーク電流I
L(=VL/R)を求めるようになっている。このような
構成により、高圧電源PS1から負荷RLに高電圧を印加
して負荷RLに直列接続した電流検出抵抗Rの両端に生
じる電位差VLを増幅器A2で検出し、この検出出力から
負荷に流れる電流を求める。
説明する。図1は半導体試験装置などに使用されている
リーク電流検出装置を示す。高圧電源PS1と負荷RLは
グランドラインLを共通にして接続される。高圧電源P
S1は例えば出力電圧を任意に設定できるプログラマブ
ル電源であり、中点を接地した±B電源をもつ増幅器A
1から構成されて、電流は僅かしか取れないが高圧電圧
を取り出すことができるようになっている。例えば、±
2kVで最大1mA流すことができる。負荷RLはリー
ク電流の測定を要求されるICやトランジスタなどの被
測定デバイス(DUT)であり、その一端が高圧電源P
S1の出力に接続され、他端が電流検出抵抗Rを介して
グランドラインLに接続される。電流検出回路DTを構
成する電流検出抵抗Rは負荷RLのリーク電流で生じる
電位差を高精度で検出するため、かなり大きな値をもつ
精密抵抗で構成される。DUTによって異なるが、例え
ば1μA流したとき両端に電位差が10V程度生じるよ
うに10MΩ位に設定されるのが普通である。この電流
検出抵抗Rの両端には、これに生じる電位差VLを検出
するための電圧検出回路DTを構成する増幅器A2が接
続され、その出力から負荷RLに流れるリーク電流I
L(=VL/R)を求めるようになっている。このような
構成により、高圧電源PS1から負荷RLに高電圧を印加
して負荷RLに直列接続した電流検出抵抗Rの両端に生
じる電位差VLを増幅器A2で検出し、この検出出力から
負荷に流れる電流を求める。
【0009】ところで、増幅器A2は検出電圧として高
々数V〜数十Vを扱うため、一般的なICオペアンプが
用いられることが多いことは既述した通りであり、例え
ば電源は±15Vである。本実施例では電流検出抵抗R
が負荷RLのホットライン側ではなく、リターン側に接
続されているため、増幅器A2には高電圧がかからず、
これをグランドラインLから浮せる必要はない。従っ
て、図2に示すようにフレームシャーシ1上に増幅器A
2用の電源PS2のケース15を直接ビス止めすることが
可能となる。なお、電源PS2が±15Vのときには、
検出電圧が±10Vを越えるように設計すると増幅器A
2が飽和してしまうが、特に検出電圧が±10Vの範囲
内であれば、電源ケースのみならず電源GNDをも接地
できる。また、増幅器A2を実装したプリント基板3も
絶縁架台を介在させることなく、シャーシ1に直接取り
付けることができる。更に、増幅器A2用の電源PS2か
ら増幅器A2に引き出す±B電源線及びGND線5は、
シャーシグランドGNDから見てほとんど電圧が加わら
ないため、耐圧の低い通常の安価な電線で足りる。ま
た、低圧ゆえホコリを吸着することも大幅に少なくな
る。
々数V〜数十Vを扱うため、一般的なICオペアンプが
用いられることが多いことは既述した通りであり、例え
ば電源は±15Vである。本実施例では電流検出抵抗R
が負荷RLのホットライン側ではなく、リターン側に接
続されているため、増幅器A2には高電圧がかからず、
これをグランドラインLから浮せる必要はない。従っ
て、図2に示すようにフレームシャーシ1上に増幅器A
2用の電源PS2のケース15を直接ビス止めすることが
可能となる。なお、電源PS2が±15Vのときには、
検出電圧が±10Vを越えるように設計すると増幅器A
2が飽和してしまうが、特に検出電圧が±10Vの範囲
内であれば、電源ケースのみならず電源GNDをも接地
できる。また、増幅器A2を実装したプリント基板3も
絶縁架台を介在させることなく、シャーシ1に直接取り
付けることができる。更に、増幅器A2用の電源PS2か
ら増幅器A2に引き出す±B電源線及びGND線5は、
シャーシグランドGNDから見てほとんど電圧が加わら
ないため、耐圧の低い通常の安価な電線で足りる。ま
た、低圧ゆえホコリを吸着することも大幅に少なくな
る。
【0010】特に近年では、自動車の電子化やオートマ
ティック化が進み、例えばウィンドウの開閉(パワーウ
ィンドウ)やラジオアンテナの伸縮までもが自動化さ
れ、これに伴ってそれらをコントロールするトランジス
タやICなどの電子部品に高耐圧が要求されるようにな
っている。このため半導体試験装置に要求される高耐圧
リーク電流測定仕様がますます厳しいものとなってきて
いるのが現状であり、その意味からいって本実施例の電
流検出装置は半導体試験装置に限定されるものではない
が、特に半導体試験装置に適用して大きな意義がある。
ティック化が進み、例えばウィンドウの開閉(パワーウ
ィンドウ)やラジオアンテナの伸縮までもが自動化さ
れ、これに伴ってそれらをコントロールするトランジス
タやICなどの電子部品に高耐圧が要求されるようにな
っている。このため半導体試験装置に要求される高耐圧
リーク電流測定仕様がますます厳しいものとなってきて
いるのが現状であり、その意味からいって本実施例の電
流検出装置は半導体試験装置に限定されるものではない
が、特に半導体試験装置に適用して大きな意義がある。
【0011】
【発明の効果】本発明によれば、負荷のリターン側に検
出抵抗を接続するようにしたので、電流検出回路の絶縁
対策が不要となり、構造が簡単で、安全かつ安価であ
り、信頼性も高めることができる。
出抵抗を接続するようにしたので、電流検出回路の絶縁
対策が不要となり、構造が簡単で、安全かつ安価であ
り、信頼性も高めることができる。
【図1】本発明の実施例による高圧電源における電流検
出装置の回路構成図。
出装置の回路構成図。
【図2】本実施例による電流検出装置のケース内の組立
状況を示す説明図。
状況を示す説明図。
【図3】従来例による高圧電源における電流検出装置の
回路構成図。
回路構成図。
【図4】従来例による電流検出装置のケース内の組立状
況を示す説明図。
況を示す説明図。
【図5】本発明と従来例とに共通した電流検出回路構成
図。
図。
L グランドライン PS1 高圧電源 RL 負荷 R 電流検出抵抗 DT 電流検出回路 A2 増幅器
Claims (1)
- 【請求項1】 負荷とグランドラインを共通にする高圧
電源を備え、高圧電源から負荷に高電圧を印加して負荷
に直列接続した電流検出抵抗の両端に生じる電位差を検
出回路で検出し、この検出出力から負荷に流れる電流を
求める高圧電源における電流検出装置において、 上記電流検出抵抗を負荷とグランドラインとの間に設け
たことを特徴とする高圧電源における電流検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3306087A JPH05142267A (ja) | 1991-11-21 | 1991-11-21 | 高圧電源における電流検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3306087A JPH05142267A (ja) | 1991-11-21 | 1991-11-21 | 高圧電源における電流検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05142267A true JPH05142267A (ja) | 1993-06-08 |
Family
ID=17952876
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3306087A Pending JPH05142267A (ja) | 1991-11-21 | 1991-11-21 | 高圧電源における電流検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05142267A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003057270A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Advantest Corp | 電圧印加電流測定装置及び半導体試験装置 |
JP2011226886A (ja) * | 2010-04-19 | 2011-11-10 | Miyama Electric Co Ltd | 電流検出抵抗モジュール |
-
1991
- 1991-11-21 JP JP3306087A patent/JPH05142267A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003057270A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Advantest Corp | 電圧印加電流測定装置及び半導体試験装置 |
JP4511771B2 (ja) * | 2001-08-10 | 2010-07-28 | 株式会社アドバンテスト | 電圧印加電流測定装置及び半導体試験装置 |
JP2011226886A (ja) * | 2010-04-19 | 2011-11-10 | Miyama Electric Co Ltd | 電流検出抵抗モジュール |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4719428A (en) | Storage battery condition tester utilizing low load current | |
US4087744A (en) | Device for determining a high-voltage potential in metal-encapsulated high-voltage switching installations and equipment | |
US20140021965A1 (en) | High voltage measurement systems | |
KR20120040191A (ko) | 절연 저항 측정 장치 및 절연 저항 측정 방법 | |
KR970062714A (ko) | 처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템 | |
JP3574708B2 (ja) | 実装部品の極性判別方法 | |
JP5477666B2 (ja) | 直流電圧変成器を保護する装置 | |
EP0723161A1 (en) | Trouble monitor device for bridge circuit | |
JPH05142267A (ja) | 高圧電源における電流検出装置 | |
US10983147B2 (en) | Monitoring apparatus and method for monitoring an AC voltage source, which is DC-decoupled from a reference potential | |
US5532601A (en) | Circuit integrity test system | |
EP0437214A2 (en) | Method for diagnosing an insulation deterioration of an electric apparatus | |
US6809532B2 (en) | Inspection method and inspection apparatus for semiconductor circuit | |
US7280370B2 (en) | Electronic package and circuit board having segmented contact pads | |
JP3558425B2 (ja) | 信号切換装置およびスイッチ回路 | |
JP2992955B2 (ja) | センサ装置及びその運転方法 | |
JPH0275087A (ja) | 磁気ラインセンサ | |
JP2889264B2 (ja) | 四端子測定装置 | |
EP0486114A2 (en) | Electrical testing apparatus | |
KR200210620Y1 (ko) | 피뢰기 시험장치 | |
KR100310408B1 (ko) | 감지 장치내 자체 이상점검 장치 | |
JP6527267B2 (ja) | モーター制御システム | |
JP2503841Y2 (ja) | 直流電源用保守装置 | |
Kaminaga et al. | Development of compact 500 kV 8000 A gas insulated transmission line-dust control during field jointing and method for detecting conductive particles | |
JPS6244350Y2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010417 |