JPH051393A - 銀銅合金メツキ浴及び銀銅合金ロウ材 - Google Patents
銀銅合金メツキ浴及び銀銅合金ロウ材Info
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Landscapes
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外観が良好で且つ銅の含有比率が高く、更に
厚さが20〜100μm程度の良好な合金析出被膜を得
ることができる銀銅合金メッキ浴を提供し、且つ電気・
電子工業部品のロウ付けの好適な銀銅合金ロウ材を得ん
とするものである。 【構成】 銀銅合金メッキ浴は可溶性の銀錯塩及び銅錯
塩を含み、且つ添加剤としてポリイミン及び/又はポリ
アミンを含んでいるものである。また、銀銅合金ロウ材
は、前記銀銅合金メッキ浴を使用した銀銅メッキにより
得られるものである。
厚さが20〜100μm程度の良好な合金析出被膜を得
ることができる銀銅合金メッキ浴を提供し、且つ電気・
電子工業部品のロウ付けの好適な銀銅合金ロウ材を得ん
とするものである。 【構成】 銀銅合金メッキ浴は可溶性の銀錯塩及び銅錯
塩を含み、且つ添加剤としてポリイミン及び/又はポリ
アミンを含んでいるものである。また、銀銅合金ロウ材
は、前記銀銅合金メッキ浴を使用した銀銅メッキにより
得られるものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は銀銅合金メッキ浴及び
銀銅合金ロウ材に関するものである。
銀銅合金ロウ材に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より電気・電子工業部品、例えばセ
ラミックパッケージのロウ付け用の銀銅合金層を形成す
るために銀銅合金箔が採用されているが、箔の取扱いが
面倒で位置ズレが生じ易く、コスト的にも不利であると
いう問題点がある。しかも、ロウ材として銀銅合金箔を
採用する場合には、技術的にも30μm以下の薄い箔を
製造するのが困難であるため、一般的に比較的厚い箔が
用いられているが、箔が厚すぎるとロウ付け時にロウが
多く流れすぎによる後工程への障害、電子部品等におけ
るファインピッチ化されたリード同士の短絡等を招くお
それもあった。
ラミックパッケージのロウ付け用の銀銅合金層を形成す
るために銀銅合金箔が採用されているが、箔の取扱いが
面倒で位置ズレが生じ易く、コスト的にも不利であると
いう問題点がある。しかも、ロウ材として銀銅合金箔を
採用する場合には、技術的にも30μm以下の薄い箔を
製造するのが困難であるため、一般的に比較的厚い箔が
用いられているが、箔が厚すぎるとロウ付け時にロウが
多く流れすぎによる後工程への障害、電子部品等におけ
るファインピッチ化されたリード同士の短絡等を招くお
それもあった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そして、このような銀
銅合金箔の欠点を解決する方法として銀銅合金メッキが
考えれる。しかしながら、このような銀と銅を同時析出
させる銀銅合金メッキを考えた場合、それらの単純塩か
らでは両者の平衡電位の差が大きく且つ分極も小さいた
め、銀と銅との合金を同時に析出させることが大変に困
難である。
銅合金箔の欠点を解決する方法として銀銅合金メッキが
考えれる。しかしながら、このような銀と銅を同時析出
させる銀銅合金メッキを考えた場合、それらの単純塩か
らでは両者の平衡電位の差が大きく且つ分極も小さいた
め、銀と銅との合金を同時に析出させることが大変に困
難である。
【0004】このように、単純塩からの析出が困難な場
合、合金メッキを可能にする一般的な方法としては、錯
イオン化が考えられる。錯イオン化の主な効果は、適当
な錯化剤を選択することによって銀と銅の平衡電位を近
づけ、且つそれと共にカソード分極を大きくすることに
よって銀銅合金析出を可能にすることである。
合、合金メッキを可能にする一般的な方法としては、錯
イオン化が考えられる。錯イオン化の主な効果は、適当
な錯化剤を選択することによって銀と銅の平衡電位を近
づけ、且つそれと共にカソード分極を大きくすることに
よって銀銅合金析出を可能にすることである。
【0005】銀銅合金メッキを可能にする錯化剤として
は、a)シアン、b)ヨウ素、c)コハク酸イミド、
d)ピロリン酸、などが考えられる。そこで、代表的な
錯体浴の例として、銀を10g/l、銅を60g/l含
有したシアン浴から常温においてメッキを行ったとこ
ろ、電流密度の上昇と共に析出物中の銅の含有率が増加
し、5ASDの電流密度では、およそ銀70%、銅30
%の合金析出物が得られた。しかし、この得られた合金
析出物は、ロウ付けに適した銀:銅比率〔銀:銅=70
〜95:5〜30〕を一応具備しているものの、外観が
いわゆる「ヤケ」の状態を呈しており、30μmのめっ
き厚では析出物が粉状となり、ロウ付け用としての使用
に供することができなかった。この傾向は合金析出物の
銅の含有量が多くなるほど、またメッキが厚くなるほど
顕著になるものであった。
は、a)シアン、b)ヨウ素、c)コハク酸イミド、
d)ピロリン酸、などが考えられる。そこで、代表的な
錯体浴の例として、銀を10g/l、銅を60g/l含
有したシアン浴から常温においてメッキを行ったとこ
ろ、電流密度の上昇と共に析出物中の銅の含有率が増加
し、5ASDの電流密度では、およそ銀70%、銅30
%の合金析出物が得られた。しかし、この得られた合金
析出物は、ロウ付けに適した銀:銅比率〔銀:銅=70
〜95:5〜30〕を一応具備しているものの、外観が
いわゆる「ヤケ」の状態を呈しており、30μmのめっ
き厚では析出物が粉状となり、ロウ付け用としての使用
に供することができなかった。この傾向は合金析出物の
銅の含有量が多くなるほど、またメッキが厚くなるほど
顕著になるものであった。
【0006】銀銅のシアン浴では、銀及び銅は浴中で、
一般的に「Ag(CN)2 - 」及び「Cu(CN)3 2- (条件によっ
てはCu(CN)2 - 又はCu(CN)4 3- 」の形で存在し、銀のカ
ソード分極は単純塩に比べて大きくなり、合金化にとっ
て好ましい傾向を示す。しかし一方で、平衡電位につい
ては共に卑に移行するが、その差は実用的な範囲で銀銅
濃度、遊離シアン濃度、pH、温度、をどのように変化
させても、銀は銅に比べて300mV以上も貴である。
一般的に「Ag(CN)2 - 」及び「Cu(CN)3 2- (条件によっ
てはCu(CN)2 - 又はCu(CN)4 3- 」の形で存在し、銀のカ
ソード分極は単純塩に比べて大きくなり、合金化にとっ
て好ましい傾向を示す。しかし一方で、平衡電位につい
ては共に卑に移行するが、その差は実用的な範囲で銀銅
濃度、遊離シアン濃度、pH、温度、をどのように変化
させても、銀は銅に比べて300mV以上も貴である。
【0007】そのため、低い電流密度では銅が析出する
電位に達せず、銀が優先的に析出する。また、銅が析出
する条件になると、銀はすでに限界電流に達しており、
濃度律速で析出が進み、いわゆる「デンドライト」或い
は「粉状」の析出物になってしまう。この傾向はシアン
浴以外の錯塩についても同様である。従って、従来はロ
ウ付けに適した良好な銀銅合金被膜をメッキにより得る
ことはできなかった。
電位に達せず、銀が優先的に析出する。また、銅が析出
する条件になると、銀はすでに限界電流に達しており、
濃度律速で析出が進み、いわゆる「デンドライト」或い
は「粉状」の析出物になってしまう。この傾向はシアン
浴以外の錯塩についても同様である。従って、従来はロ
ウ付けに適した良好な銀銅合金被膜をメッキにより得る
ことはできなかった。
【0008】この発明はこのような従来の技術に着目し
てなされたものであり、外観が良好で且つ銅の含有比率
が高く、更に厚さが20〜100μm程度の良好な合金
析出被膜を得ることができる銀銅合金メッキ浴を提供
し、且つこの銀銅合金メッキ浴を使用した銀銅合金メッ
キにより電気・電子工業部品のロウ付けの好適な銀銅合
金ロウ材を得んとするものである。
てなされたものであり、外観が良好で且つ銅の含有比率
が高く、更に厚さが20〜100μm程度の良好な合金
析出被膜を得ることができる銀銅合金メッキ浴を提供
し、且つこの銀銅合金メッキ浴を使用した銀銅合金メッ
キにより電気・電子工業部品のロウ付けの好適な銀銅合
金ロウ材を得んとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明に係る銀銅合金
メッキ浴は、上記の目的を達成するために、可溶性の銀
錯塩及び銅錯塩を含み、且つ添加剤としてポリイミン及
び/又はポリアミンを含んでいるものである。また、こ
の発明に係る銀銅合金ロウ材は、前記銀銅合金メッキ浴
を使用した銀銅メッキにより得られるものである。
メッキ浴は、上記の目的を達成するために、可溶性の銀
錯塩及び銅錯塩を含み、且つ添加剤としてポリイミン及
び/又はポリアミンを含んでいるものである。また、こ
の発明に係る銀銅合金ロウ材は、前記銀銅合金メッキ浴
を使用した銀銅メッキにより得られるものである。
【0010】可溶性の銀錯塩としては、具体的にはシア
ン化銀カリウム、ヨウ化銀、ピロリン酸銀、銀カリウム
スクシンイミドなどが好適であり、その含有量としては
1〜200g/lが好ましい。
ン化銀カリウム、ヨウ化銀、ピロリン酸銀、銀カリウム
スクシンイミドなどが好適であり、その含有量としては
1〜200g/lが好ましい。
【0011】また、可溶性の銅錯塩としては、具体的に
はシアン化第一銅、シアン化銅カリウム、ヨウ化銅、ピ
ロリン酸銅、銅カリウムスクシンイミドなどが好適であ
り、その含有量としては1〜400g/lが好ましい。
はシアン化第一銅、シアン化銅カリウム、ヨウ化銅、ピ
ロリン酸銅、銅カリウムスクシンイミドなどが好適であ
り、その含有量としては1〜400g/lが好ましい。
【0012】そして、ポリイミン及び/又はポリアミン
の含有量としては0.01〜200g/lが好ましい。
これらポリイミン及び/又はポリアミンを浴中に添加す
ることにより、外観が良好で且つ銅の含有率の高い合金
析出被膜を得ることができるようになる。なぜならば、
これらポリイミン及び/又はポリアミンの存在により、
銀のカソード分極が更に大きくなり、銀の限界電流にな
るカソード電流を更に卑にもって行くことができるた
め、結果として銀の限界電流が現れる前に、銅を析出さ
せることが可能となるからである。
の含有量としては0.01〜200g/lが好ましい。
これらポリイミン及び/又はポリアミンを浴中に添加す
ることにより、外観が良好で且つ銅の含有率の高い合金
析出被膜を得ることができるようになる。なぜならば、
これらポリイミン及び/又はポリアミンの存在により、
銀のカソード分極が更に大きくなり、銀の限界電流にな
るカソード電流を更に卑にもって行くことができるた
め、結果として銀の限界電流が現れる前に、銅を析出さ
せることが可能となるからである。
【0013】この銀銅合金メッキ浴は上記成分の他に、
電導塩としてホウ酸、クエン酸、酒石酸、リン酸などを
0.1〜200g/l含有して良く、またその他に各種
光沢剤やpH調製剤などを添加してもよい。
電導塩としてホウ酸、クエン酸、酒石酸、リン酸などを
0.1〜200g/l含有して良く、またその他に各種
光沢剤やpH調製剤などを添加してもよい。
【0014】更に、この銀銅合金メッキ浴にシアン化亜
鉛、ヨウ化亜鉛などの可溶性の亜鉛錯塩を1〜400g
/l添加して、銀−銅−亜鉛合金を析出させることも可
能である。
鉛、ヨウ化亜鉛などの可溶性の亜鉛錯塩を1〜400g
/l添加して、銀−銅−亜鉛合金を析出させることも可
能である。
【0015】前記銀銅合金メッキ浴を使用した銀銅合金
メッキにより得られる銀銅合金被膜は、電気・電子工業
部品のロウ材として大変好適である。たとえば、セラミ
ックパッケージ、真空封入遮断器、センサー等の、メタ
ライズしたセラミックスと金属をロウ付けするのに最適
である。また、この他にも、工業用部品で従来銀ロウに
て接着していた部品のロウ付けに好適である。
メッキにより得られる銀銅合金被膜は、電気・電子工業
部品のロウ材として大変好適である。たとえば、セラミ
ックパッケージ、真空封入遮断器、センサー等の、メタ
ライズしたセラミックスと金属をロウ付けするのに最適
である。また、この他にも、工業用部品で従来銀ロウに
て接着していた部品のロウ付けに好適である。
【0016】
【実施例】実施例1
*銀銅合金メッキ浴組成:
・シアン化銀カリウム(Ag量)─────────10g/l
・シンア化銅(Cu量)────────────100g/l
・ポリエチレンイミン(PEI)─────────10g/l
【0017】
*操作条件:
・メッキ方式─────────────────浸漬メッキ
・浴温度─────────────────────25℃
・pH──────────────────────8.0
・電流密度───────────────1、2、3ASD
・メッキ時間───────────80、40、30min
【0018】上記の合金メッキ浴を使用して、42合金
製のテストピースの表面に銀銅合金の析出層を形成する
メッキ試験を行った。そして、比較例として、上記合金
浴組成からポリエチレンイミン(PEI)を抜いた組成
の合金浴を用いて同様のメッキ試験を行った。
製のテストピースの表面に銀銅合金の析出層を形成する
メッキ試験を行った。そして、比較例として、上記合金
浴組成からポリエチレンイミン(PEI)を抜いた組成
の合金浴を用いて同様のメッキ試験を行った。
【0019】
【0020】得られた析出層はPEIを添加したもの
は、優れた外観品質を呈し、いわゆる「ヤケ」などの発
生は全くなかった。一方、PEIを添加しない浴からは
「ヤケ」の発生が見られ、その傾向は電流密度の増加と
共に顕著になった。
は、優れた外観品質を呈し、いわゆる「ヤケ」などの発
生は全くなかった。一方、PEIを添加しない浴からは
「ヤケ」の発生が見られ、その傾向は電流密度の増加と
共に顕著になった。
【0021】また、得られた合金被膜中の銀と銅の含有
比率は、上記第1表に示す如く、PEIを添加した方が
銅の含有比率が高かった。
比率は、上記第1表に示す如く、PEIを添加した方が
銅の含有比率が高かった。
【0022】そして、PEIを添加した浴から得られた
合金被膜の厚さは、平均して50μmあり、ロウ付け用
の合金被膜として使用可能なものであった。
合金被膜の厚さは、平均して50μmあり、ロウ付け用
の合金被膜として使用可能なものであった。
【0023】そして、前記のようにして銀銅合金被膜を
下面に施した42合金製のテストピースを上にして、該
銀銅合金被膜をサンドイッチする状態で、別の42合金
製のテストピースを下側へ重ね合わせた。そして、重ね
合わせた一対の各テストピースを、それぞれ還元雰囲気
中において前記第1表に記載した加熱温度でもってロウ
付けしてみた。結果は全て良好なロウ付け性を示した。
ロウ付けしたテストピース同士をペンチで引きはがして
みたところ、合金箔を使用した場合と同等のロウ付け強
度が得られていることもわかった。
下面に施した42合金製のテストピースを上にして、該
銀銅合金被膜をサンドイッチする状態で、別の42合金
製のテストピースを下側へ重ね合わせた。そして、重ね
合わせた一対の各テストピースを、それぞれ還元雰囲気
中において前記第1表に記載した加熱温度でもってロウ
付けしてみた。結果は全て良好なロウ付け性を示した。
ロウ付けしたテストピース同士をペンチで引きはがして
みたところ、合金箔を使用した場合と同等のロウ付け強
度が得られていることもわかった。
【0024】実施例2
先の実施例で示したPEIを添加した銀銅合金メッキ浴
と、添加しない銀銅合金メッキ浴の両方を使用して、温
度36℃、電流密度10、12、15ASD、メッキ時
間8、7、6min、流速100m/min、で噴射式
高速メッキを行った。
と、添加しない銀銅合金メッキ浴の両方を使用して、温
度36℃、電流密度10、12、15ASD、メッキ時
間8、7、6min、流速100m/min、で噴射式
高速メッキを行った。
【0025】
【0026】この実施例2で得られた析出層も、PEI
を添加した方は全て優れた外観品質を呈し、いわゆる
「ヤケ」などの発生は全くなかった。一方、PEIを添
加しない方は「ヤケ」等の発生が見られた。
を添加した方は全て優れた外観品質を呈し、いわゆる
「ヤケ」などの発生は全くなかった。一方、PEIを添
加しない方は「ヤケ」等の発生が見られた。
【0027】また、得られた合金被膜中の銀と銅の含有
比率を調べたところ、上記第2表に示す如く、先の実施
例と同様に、PEIを添加した方が銅の含有比率が高か
った。
比率を調べたところ、上記第2表に示す如く、先の実施
例と同様に、PEIを添加した方が銅の含有比率が高か
った。
【0028】そして、得られた合金被膜の厚さは、平均
して50μmあり、ロウ付け用の合金被膜として使用可
能なものであった。
して50μmあり、ロウ付け用の合金被膜として使用可
能なものであった。
【0029】そして、このようにして銀銅合金被膜を片
面に施した42合金製のテストピースを、第2表に記載
した加熱温度でもって、別の42合金製のテストピース
と先の実施例と同じ要領でロウ付けしてみた。結果は先
の実施例と同様に優れたロウ付け性及びロウ付け強度を
示した。
面に施した42合金製のテストピースを、第2表に記載
した加熱温度でもって、別の42合金製のテストピース
と先の実施例と同じ要領でロウ付けしてみた。結果は先
の実施例と同様に優れたロウ付け性及びロウ付け強度を
示した。
【0030】
【発明の効果】この発明に係る銀銅合金メッキ浴は、以
上説明してきた如き内容のものなので、外観が良好で且
つ銅の含有比率が高く、更に厚さが十分なロウ材として
好適な合金析出被膜を得ることができる。また、この発
明に係る銀銅合金ロウ材は、電気・電子工業部品のロウ
付け、特にセラミックパッケージ、真空封入遮断器、セ
ンサー等の、メタライズしたセラミックスと金属とのロ
ウ付けに最適である。
上説明してきた如き内容のものなので、外観が良好で且
つ銅の含有比率が高く、更に厚さが十分なロウ材として
好適な合金析出被膜を得ることができる。また、この発
明に係る銀銅合金ロウ材は、電気・電子工業部品のロウ
付け、特にセラミックパッケージ、真空封入遮断器、セ
ンサー等の、メタライズしたセラミックスと金属とのロ
ウ付けに最適である。
Claims (5)
- 【請求項1】 可溶性の銀錯塩及び銅錯塩を含み、且つ
添加剤としてポリイミン及び/又はポリアミンを含んで
いることを特徴とする銀銅合金メッキ浴。 - 【請求項2】 可溶性の銀錯塩が、銀シアン化物である
請求項1記載の銀銅合金メッキ浴。 - 【請求項3】 可溶性の銅錯塩が、銅シアン化物である
請求項1記載の銀銅合金メッキ浴。 - 【請求項4】 可溶性の亜鉛錯塩を添加した請求項1記
載の銀銅合金メッキ浴。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかの銀銅合金メッ
キ浴を使用した銀銅合金メッキにより得られる電気・電
子工業部品用の銀銅合金ロウ材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8733991A JPH051393A (ja) | 1990-07-19 | 1991-03-28 | 銀銅合金メツキ浴及び銀銅合金ロウ材 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18932290 | 1990-07-19 | ||
JP2-189322 | 1990-07-19 | ||
JP8733991A JPH051393A (ja) | 1990-07-19 | 1991-03-28 | 銀銅合金メツキ浴及び銀銅合金ロウ材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH051393A true JPH051393A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=26428630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8733991A Pending JPH051393A (ja) | 1990-07-19 | 1991-03-28 | 銀銅合金メツキ浴及び銀銅合金ロウ材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH051393A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012214899A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Swatch Group Research & Development Ltd | 18カラット3n金合金およびこれの析出方法 |
KR101403456B1 (ko) * | 2012-05-17 | 2014-06-03 | 서울대학교산학협력단 | 전해 도금을 이용한 구리-은 합금 코팅 및 전자 소자용 배선 형성 방법 |
CN107962317A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-04-27 | 常州菲胜图自动化仪器有限公司 | 一种水基免清洗型助焊剂 |
CN109545696A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-03-29 | 哈尔滨工业大学 | 一种采用单相纳米银铜合金焊膏制备低温连接高温服役接头的方法 |
JP2020097213A (ja) * | 2018-09-21 | 2020-06-25 | ザ・スウォッチ・グループ・リサーチ・アンド・ディベロップメント・リミテッド | 銀面を有する基材に対する曇りから銀を保護する層を接着させて材料を作る方法 |
DE102020112059A1 (de) | 2020-05-05 | 2021-11-11 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Hohlschraube |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55134191A (en) * | 1979-04-04 | 1980-10-18 | Engelhard Min & Chem | Silver or silver alloy plating bath |
JPS573773A (en) * | 1980-06-11 | 1982-01-09 | Hitachi Ltd | Manufacture of ceramic sealed structure |
JPS60248893A (ja) * | 1984-05-23 | 1985-12-09 | Kaoru Aotani | 銀−銅−亜鉛合金めつき浴 |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP8733991A patent/JPH051393A/ja active Pending
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