JPH05126883A - 粉体電荷計測器の校正装置 - Google Patents
粉体電荷計測器の校正装置Info
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- JPH05126883A JPH05126883A JP29138091A JP29138091A JPH05126883A JP H05126883 A JPH05126883 A JP H05126883A JP 29138091 A JP29138091 A JP 29138091A JP 29138091 A JP29138091 A JP 29138091A JP H05126883 A JPH05126883 A JP H05126883A
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 粉体受けの投下口から投下された導電性粉体
が粉体電荷計測器の測定管部と接触することなく，より
正確に粉体電荷計測器の実測値の校正を行うことのでき
る粉体電荷計測器の校正装置の提供。 【構成】 吸引式ファラデーケージ１０の校正装置１で
は，ろ斗部６と垂直方向に直管状に形成された直管部７
とより構成され所定量の導電性粉体２を入れる粉体受け
５と，直管部７と対極する円筒状の接地電極３と，その
接地電極３と粉体受け５との間に所定電圧を印加する電
源装置１８とを備え，直管部７の先端の投下口４が，投
下された導電性粉体２が測定管部１７a の略軸芯を通過
する位置に配置されている。従って，投下口４から投下
された導電性粉体２は上記測定管部１７a の内壁に接触
することがなく，上記吸引式ファラデーケージ１０によ
り計測された計測値の校正を極めて正確に行うことがで
きる。
が粉体電荷計測器の測定管部と接触することなく，より
正確に粉体電荷計測器の実測値の校正を行うことのでき
る粉体電荷計測器の校正装置の提供。 【構成】 吸引式ファラデーケージ１０の校正装置１で
は，ろ斗部６と垂直方向に直管状に形成された直管部７
とより構成され所定量の導電性粉体２を入れる粉体受け
５と，直管部７と対極する円筒状の接地電極３と，その
接地電極３と粉体受け５との間に所定電圧を印加する電
源装置１８とを備え，直管部７の先端の投下口４が，投
下された導電性粉体２が測定管部１７a の略軸芯を通過
する位置に配置されている。従って，投下口４から投下
された導電性粉体２は上記測定管部１７a の内壁に接触
することがなく，上記吸引式ファラデーケージ１０によ
り計測された計測値の校正を極めて正確に行うことがで
きる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，例えば複写機等に用い
る現像剤等の導電性粉体の帯電電荷を測定する計測器の
測定誤差を修正するための校正装置に関する。
る現像剤等の導電性粉体の帯電電荷を測定する計測器の
測定誤差を修正するための校正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】導電性粉体の帯電電荷量を測定する基本
的な装置としては，図４に示すような基準ファラデーケ
ージ１２がある。これは，接地されたシールド導体１６
の中に導体容器１７を絶縁して配置し，帯電した導電性
粉体２を導体容器１７へ，シールド導体の開口部１７c
を非接触で通過させて投入した時の導体容器１７の接地
間電位を電位計８で測定するものである。この基準ファ
ラデーケージ１２を実用的な電荷測定装置としたものと
して，図６に示す吸引式ファラデーケージ１０，或いは
図７に示すブローオフ装置１１がある。ところが，上記
したような吸引式ファラデーケージ１０，ブローオフ装
置１１等の各測定装置の機器構成の違いによって帯電電
荷量の測定値に誤差を生じているにもかかわらず，これ
まで良好な校正手段がなかった。そのため，例えば電子
写真等における分野では，トナー等の現像剤の研究開発
や品質管理を行う上で，あるいは帯電量値を規格化して
明示する上で不都合があった。そのため，現像剤等の品
質の不安定性を招き，商品の品質の信頼性を向上させる
ことができなかった。そこで，本発明者らは，上記した
課題を解決するべく，図５に示す校正装置１ a を開発
し，本願発明に先立って特願平３−１０５３９３号とし
て出願した。上記粉体電荷計測器の校正装置１a によれ
ば，水平面に対する角度θ分傾けられた粉体受け２５と
接地電極２３との間には，図示せぬ電源装置からの高圧
電圧が印加されており，粉体受け２５に収容された導電
性粉体２を粉体受け２５から少量ずつ投下させる際に，
上記印加された高圧電圧により導電性粉体２は定量の電
荷を帯びて落下していく。粉体受け２５に収容された定
量の導電性粉体２を少量ずつ投下させるために，粉体受
け２５の所要部に振動素子２６（粉体投下手段）が取り
付けられており，この振動素子２６で粉体受け２５を加
振して，この振動により導電性粉体２を少しづつ投下口
４から篩い落とすようになっている。上記粉体受け２５
に収容される導電性粉体２は，個々の粒径及び重量が比
較的小さい上，上記粉体受け２５の水平面に対する傾斜
角度θもこの導電性粉体２を収容可能な程度に比較的小
さな角度であるため，上記投下口２４から投下された導
電性粉体２の水平方向の慣性力は小さく，投下直後に垂
直に近い方向に落下する。このような校正装置１a は基
盤２７上に直立する支柱２２に上下移動可能に支持され
ており，基盤２７上に校正すべき粉体電荷計測器を設置
して，その中に定量の電荷を帯びた導電性粉体２が投下
される。
的な装置としては，図４に示すような基準ファラデーケ
ージ１２がある。これは，接地されたシールド導体１６
の中に導体容器１７を絶縁して配置し，帯電した導電性
粉体２を導体容器１７へ，シールド導体の開口部１７c
を非接触で通過させて投入した時の導体容器１７の接地
間電位を電位計８で測定するものである。この基準ファ
ラデーケージ１２を実用的な電荷測定装置としたものと
して，図６に示す吸引式ファラデーケージ１０，或いは
図７に示すブローオフ装置１１がある。ところが，上記
したような吸引式ファラデーケージ１０，ブローオフ装
置１１等の各測定装置の機器構成の違いによって帯電電
荷量の測定値に誤差を生じているにもかかわらず，これ
まで良好な校正手段がなかった。そのため，例えば電子
写真等における分野では，トナー等の現像剤の研究開発
や品質管理を行う上で，あるいは帯電量値を規格化して
明示する上で不都合があった。そのため，現像剤等の品
質の不安定性を招き，商品の品質の信頼性を向上させる
ことができなかった。そこで，本発明者らは，上記した
課題を解決するべく，図５に示す校正装置１ a を開発
し，本願発明に先立って特願平３−１０５３９３号とし
て出願した。上記粉体電荷計測器の校正装置１a によれ
ば，水平面に対する角度θ分傾けられた粉体受け２５と
接地電極２３との間には，図示せぬ電源装置からの高圧
電圧が印加されており，粉体受け２５に収容された導電
性粉体２を粉体受け２５から少量ずつ投下させる際に，
上記印加された高圧電圧により導電性粉体２は定量の電
荷を帯びて落下していく。粉体受け２５に収容された定
量の導電性粉体２を少量ずつ投下させるために，粉体受
け２５の所要部に振動素子２６（粉体投下手段）が取り
付けられており，この振動素子２６で粉体受け２５を加
振して，この振動により導電性粉体２を少しづつ投下口
４から篩い落とすようになっている。上記粉体受け２５
に収容される導電性粉体２は，個々の粒径及び重量が比
較的小さい上，上記粉体受け２５の水平面に対する傾斜
角度θもこの導電性粉体２を収容可能な程度に比較的小
さな角度であるため，上記投下口２４から投下された導
電性粉体２の水平方向の慣性力は小さく，投下直後に垂
直に近い方向に落下する。このような校正装置１a は基
盤２７上に直立する支柱２２に上下移動可能に支持され
ており，基盤２７上に校正すべき粉体電荷計測器を設置
して，その中に定量の電荷を帯びた導電性粉体２が投下
される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記校
正装置１a では，基盤２７上に設置される吸引式ファラ
デーケージ１０やブローオフ装置１１と上記粉体受け２
５の投下口２４との配置関係によっては，投下口２４か
らの投下された導電性粉体２が各電荷計測器の測定管部
１７a （図６），１７b （図７）の内側壁と接触するこ
とがある。このように，所定の帯電量を与えられた導電
性粉体２が上記測定管部１７a ，１７b と接触すると，
各粉体電荷計測器の測定誤差を正確に校正すべく創作さ
れた上記校正装置１a によっても適正に校正を行うこと
ができない。そこで，本発明の目的とするところは，粉
体受けの投下口から投下された導電性粉体が粉体電荷計
測器の測定管部と接触することなく，より正確に校正を
行うことができる粉体電荷計測器の校正装置を提供する
ことにある。
正装置１a では，基盤２７上に設置される吸引式ファラ
デーケージ１０やブローオフ装置１１と上記粉体受け２
５の投下口２４との配置関係によっては，投下口２４か
らの投下された導電性粉体２が各電荷計測器の測定管部
１７a （図６），１７b （図７）の内側壁と接触するこ
とがある。このように，所定の帯電量を与えられた導電
性粉体２が上記測定管部１７a ，１７b と接触すると，
各粉体電荷計測器の測定誤差を正確に校正すべく創作さ
れた上記校正装置１a によっても適正に校正を行うこと
ができない。そこで，本発明の目的とするところは，粉
体受けの投下口から投下された導電性粉体が粉体電荷計
測器の測定管部と接触することなく，より正確に校正を
行うことができる粉体電荷計測器の校正装置を提供する
ことにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に，本発明は，接地導体でシールドされた導体容器内に
帯電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間の
投入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器の測定管
部に，所定量の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入
する粉体電荷計測器の校正装置において，所定量の導電
性粉体を入れる粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性
粉体を少量ずつ投下させるための粉体投下手段と，前記
粉体受けの投下口と対極する近接位置に接地電極を設け
て，該接地電極と粉体受けとの間に所定電圧を印加する
電源装置とを備え，上記粉体受けの投下口の先端を，上
記投下された導電性粉体が上記測定管部の略軸芯を通過
する位置に配置したことを特徴とする。また，上記発明
の構成において，上記粉体受けの投下口の先端を，垂直
方向に直管状に形成することもできる。
に，本発明は，接地導体でシールドされた導体容器内に
帯電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間の
投入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器の測定管
部に，所定量の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入
する粉体電荷計測器の校正装置において，所定量の導電
性粉体を入れる粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性
粉体を少量ずつ投下させるための粉体投下手段と，前記
粉体受けの投下口と対極する近接位置に接地電極を設け
て，該接地電極と粉体受けとの間に所定電圧を印加する
電源装置とを備え，上記粉体受けの投下口の先端を，上
記投下された導電性粉体が上記測定管部の略軸芯を通過
する位置に配置したことを特徴とする。また，上記発明
の構成において，上記粉体受けの投下口の先端を，垂直
方向に直管状に形成することもできる。
【０００５】
【作用】本発明によれば，所定量の導電性粉体に，所定
量の電荷を与える電源装置を具備した校正装置から，校
正すべき粉体電荷計測器に上記定量の導電性粉体２に定
量の電荷を与えて供給することができる。しかも，投下
口の先端から投下された導電性粉体は，上記粉体電荷計
測器の測定管部の略軸芯を通過するので，上記測定管部
に接触することがない。従って，その時の校正すべき粉
体電荷計測器の電荷量測定値を，基準とする例えば基準
ファラデーケージによる測定値と比較して，その誤差を
電荷計測器毎に予め校正しておけば，どの電荷計測器を
用いて上記導電性粉体の電荷量を測定しても，極めて正
しい測定値を得ることができる。即ち，上記校正装置に
使用される導電性粉体を，電源装置により所定電圧を与
えられた例えば電極としての粉体受けに接触・収容させ
ることにより，上記導電性粉体は，電極と同電位とな
り，対向する接地電極と所定電圧を与えられた電極との
間に形成される一定電界中で，上記所定電圧を与えられ
た粉体受けから離脱することによって，その導電性粉体
粒子の静電容量に見合った電荷が与えられることにな
る。従って，上記定量の電荷が与えられた導電性粉体
を，校正すべき粉体電荷計測器内の測定管部へ非接触で
落下させることによって，極めて優良な校正用の基準物
質として使用することができる。
量の電荷を与える電源装置を具備した校正装置から，校
正すべき粉体電荷計測器に上記定量の導電性粉体２に定
量の電荷を与えて供給することができる。しかも，投下
口の先端から投下された導電性粉体は，上記粉体電荷計
測器の測定管部の略軸芯を通過するので，上記測定管部
に接触することがない。従って，その時の校正すべき粉
体電荷計測器の電荷量測定値を，基準とする例えば基準
ファラデーケージによる測定値と比較して，その誤差を
電荷計測器毎に予め校正しておけば，どの電荷計測器を
用いて上記導電性粉体の電荷量を測定しても，極めて正
しい測定値を得ることができる。即ち，上記校正装置に
使用される導電性粉体を，電源装置により所定電圧を与
えられた例えば電極としての粉体受けに接触・収容させ
ることにより，上記導電性粉体は，電極と同電位とな
り，対向する接地電極と所定電圧を与えられた電極との
間に形成される一定電界中で，上記所定電圧を与えられ
た粉体受けから離脱することによって，その導電性粉体
粒子の静電容量に見合った電荷が与えられることにな
る。従って，上記定量の電荷が与えられた導電性粉体
を，校正すべき粉体電荷計測器内の測定管部へ非接触で
落下させることによって，極めて優良な校正用の基準物
質として使用することができる。
【０００６】
【実施例】以下添付図面を参照して，本発明を具体化し
た実施例につき説明し，本発明の理解に供する。尚，以
下の実施例は，本発明を具体化した一例であって，本発
明の技術的範囲を限定するものではない。ここに，図１
は本発明に係る校正装置の概略構成とこの校正装置が設
置された吸引式ファラデーケージとを概略側断面に示す
構成図，図２は上記校正装置とこの校正装置が設置され
たブローオフ装置とを概略側断面に示す構成図，図３は
基準ファラデーケージと吸引式ファラデーケージ又はブ
ローオフ装置との比較測定例を示すグラフ図である。但
し，図４乃至図７に示した基準ファラデーケージ１２，
吸引式ファラデーケージ１０及びブローオフ装置１１と
共通する構成要素については，同一の符号を使用すると
共に，その詳細な説明は省略する。本実施例に係る校正
装置１は，図１に示すように，側断面ろ斗形状のろ斗部
６とこのろ斗部６の下端開口に連結して形成された垂直
方向の軸芯を有する直管部７とよりなり，定量の導電性
粉体２を収容する導電体の粉体受け５と，導電性で円筒
形状に形成され，その上部で電気絶縁性を有する例えば
合成ゴムよりなる絶縁体１３を介して上記粉体受け５の
直管部７を支持し，上記直管部７の下端の投下口４と対
極する接地電極３と，上記接地電極３と上記粉体受け５
との間に高圧の所定電圧を印加する電源装置１８とより
主として構成されている。特に，上記粉体受け５の直管
部７は，上記接地電極３と同軸芯で絶縁体１３に貫通し
て支持されており，従って粉体受け５の投下口４の先端
が接地電極３の軸芯に位置することになる。同図におい
て，上記構成の校正装置１は，吸引式ファラデーケージ
１０の垂直方向に立設された測定管部１７a の上端部
の，上記直管部７が上記測定管部１７ a と略同軸芯とな
る位置に設置されている。このような直管部７と測定管
部１７ a との配置関係は，図２に示すブローオフ装置１
１の測定管部１７b や図４に示す基準ファラデーケージ
１２のシールド導体の開口部１７c と上記直管部７との
配置関係においても同様である。また，上記直管部７の
内径は，ろ斗部６に収容された導電性粉体２を投下口４
から少量ずつ投下し得る径に設定されている。即ち，上
記所定の内径に形成された粉体受けの直管部７が，該粉
体受けに入れた導電性粉体を少量ずつ投下させるための
本発明による粉体投下手段の一例である。
た実施例につき説明し，本発明の理解に供する。尚，以
下の実施例は，本発明を具体化した一例であって，本発
明の技術的範囲を限定するものではない。ここに，図１
は本発明に係る校正装置の概略構成とこの校正装置が設
置された吸引式ファラデーケージとを概略側断面に示す
構成図，図２は上記校正装置とこの校正装置が設置され
たブローオフ装置とを概略側断面に示す構成図，図３は
基準ファラデーケージと吸引式ファラデーケージ又はブ
ローオフ装置との比較測定例を示すグラフ図である。但
し，図４乃至図７に示した基準ファラデーケージ１２，
吸引式ファラデーケージ１０及びブローオフ装置１１と
共通する構成要素については，同一の符号を使用すると
共に，その詳細な説明は省略する。本実施例に係る校正
装置１は，図１に示すように，側断面ろ斗形状のろ斗部
６とこのろ斗部６の下端開口に連結して形成された垂直
方向の軸芯を有する直管部７とよりなり，定量の導電性
粉体２を収容する導電体の粉体受け５と，導電性で円筒
形状に形成され，その上部で電気絶縁性を有する例えば
合成ゴムよりなる絶縁体１３を介して上記粉体受け５の
直管部７を支持し，上記直管部７の下端の投下口４と対
極する接地電極３と，上記接地電極３と上記粉体受け５
との間に高圧の所定電圧を印加する電源装置１８とより
主として構成されている。特に，上記粉体受け５の直管
部７は，上記接地電極３と同軸芯で絶縁体１３に貫通し
て支持されており，従って粉体受け５の投下口４の先端
が接地電極３の軸芯に位置することになる。同図におい
て，上記構成の校正装置１は，吸引式ファラデーケージ
１０の垂直方向に立設された測定管部１７a の上端部
の，上記直管部７が上記測定管部１７ a と略同軸芯とな
る位置に設置されている。このような直管部７と測定管
部１７ a との配置関係は，図２に示すブローオフ装置１
１の測定管部１７b や図４に示す基準ファラデーケージ
１２のシールド導体の開口部１７c と上記直管部７との
配置関係においても同様である。また，上記直管部７の
内径は，ろ斗部６に収容された導電性粉体２を投下口４
から少量ずつ投下し得る径に設定されている。即ち，上
記所定の内径に形成された粉体受けの直管部７が，該粉
体受けに入れた導電性粉体を少量ずつ投下させるための
本発明による粉体投下手段の一例である。
【０００７】そこで，上記した構成の校正装置１を用い
て，各粉体電荷計測器の校正方法につき以下説明する。
先ず，上記校正装置１は，基準ファラデーケージ１２
（図４）の上面に上記配置関係の所定の位置に設置され
た状態で，粉体受け５のろ斗部６に所定量の導電性粉体
２が収容される。尚，上記粉体受け５では，ろ斗部６に
収容された導電性粉体２は電荷量の測定が開始されるま
で，図外の落下防止機構により上記ろ斗部６に収容され
たままであって，上記投下口４からの落下が阻止されて
いる。そこで，上記校正装置１は，上記粉体受け５の定
量の導電性粉体２に，電源装置１８により所定の電荷を
与えつつこの導電性粉体２をファラデーケージ１６（図
４）内に投下して，その時のファラデーケージ１６の導
体容器１７の接地間電位を電位計８で計測する。この基
準ファラデーケージ１２により測定される導電性粉体２
の単位重量当りの電荷量と粉体受け５と接地電極３との
間の印加電圧との関係は図８に示されるようになる。こ
の時，上記基準ファラデーケージ１２により測定された
電荷量測定値Ｑと導電性粉体２の投下量ｘとの関係を図
３の実線の直線で示す。同図において，例えば，導電性
粉体２の投下量ｘがａである時の電荷量実測値をＱ1 と
して，これが各粉体電荷計測器の実測値の校正の基準値
となる。引き続き，図１に示す吸引式ファラデーケージ
１０（測定器Ａ）において，上記基準ファラデーケージ
１２の場合と同じ投下量ａの導電性粉体２に同じ電荷量
を与えて導電性粉体２を投下させた時の，電荷量の測定
値が図３の破線で示す直線関係に基づくＱ2 であった
時，この測定器Ａの校正値ＱＡは，ＱＡ＝（Ｑ1 ／
Ｑ2 ）・Ｑａの校正式で表すことができ，実測時の測定
値Ｑａは上記基準ファラデーケージ１２の測定値に校正
される。上記測定値Ｑａは，吸引式ファラデーケージ１
０（測定器Ａ）を用い，実際に一成分現像剤を用いた複
写機の現像ローラ（図外）から一成分現像剤を吸引しそ
の帯電量を測定した値である。また，測定器Ｂが図２に
示すようなブローオフ方式によるものであって，この測
定器Ｂによる実測時の測定値Ｑｂが図３の一点鎖線で示
す直線関係に基づくＱ 3 であった時にも，上記測定値Ｑ
ｂは上記と同様に基準値に対して校正される。この測定
器Ｂの校正値ＱＢは，ＱＢ＝（Ｑ1 ／Ｑ3 ）・Ｑｂの校
正式で表すことができる。上記測定値Ｑｂは図２に示す
ブローオフ装置１１（測定器Ｂ）を用い，実際に二成分
現像剤を用いた複写機の現像器内から二成分現像剤を取
り出し測定した値である。従って，上記校正装置１によ
れば，どの種類の計測器を用いても同一の統一された測
定結果を得ることができる。しかも，本発明の実施例装
置によれば，粉体受け５の投下口４の先端が，この先端
から投下された導電性粉体２がいずれも粉体電荷計測器
の測定管部１７a ，１７b あるいはシールド導体の開口
部１７c の略軸芯を通過する位置に配置されているの
で，上記投下された導電性粉体２が各測定管部１７a ，
１７b あるいはシールド導体の開口部１７c と接触する
ことがなく，実測値の校正を極めて正確に行うことがで
きる。また，上記導電性粉体２は，垂直方向に直管状に
形成された粉体受け５の直管部７の先端の投下口４から
投下されるので，投下された時から垂直方向に落下す
る。従って，上記導電性粉体２を測定管部の略軸芯を通
過させるための上記校正装置１と各粉体電荷計測器の配
置関係を容易に設定することができる。
て，各粉体電荷計測器の校正方法につき以下説明する。
先ず，上記校正装置１は，基準ファラデーケージ１２
（図４）の上面に上記配置関係の所定の位置に設置され
た状態で，粉体受け５のろ斗部６に所定量の導電性粉体
２が収容される。尚，上記粉体受け５では，ろ斗部６に
収容された導電性粉体２は電荷量の測定が開始されるま
で，図外の落下防止機構により上記ろ斗部６に収容され
たままであって，上記投下口４からの落下が阻止されて
いる。そこで，上記校正装置１は，上記粉体受け５の定
量の導電性粉体２に，電源装置１８により所定の電荷を
与えつつこの導電性粉体２をファラデーケージ１６（図
４）内に投下して，その時のファラデーケージ１６の導
体容器１７の接地間電位を電位計８で計測する。この基
準ファラデーケージ１２により測定される導電性粉体２
の単位重量当りの電荷量と粉体受け５と接地電極３との
間の印加電圧との関係は図８に示されるようになる。こ
の時，上記基準ファラデーケージ１２により測定された
電荷量測定値Ｑと導電性粉体２の投下量ｘとの関係を図
３の実線の直線で示す。同図において，例えば，導電性
粉体２の投下量ｘがａである時の電荷量実測値をＱ1 と
して，これが各粉体電荷計測器の実測値の校正の基準値
となる。引き続き，図１に示す吸引式ファラデーケージ
１０（測定器Ａ）において，上記基準ファラデーケージ
１２の場合と同じ投下量ａの導電性粉体２に同じ電荷量
を与えて導電性粉体２を投下させた時の，電荷量の測定
値が図３の破線で示す直線関係に基づくＱ2 であった
時，この測定器Ａの校正値ＱＡは，ＱＡ＝（Ｑ1 ／
Ｑ2 ）・Ｑａの校正式で表すことができ，実測時の測定
値Ｑａは上記基準ファラデーケージ１２の測定値に校正
される。上記測定値Ｑａは，吸引式ファラデーケージ１
０（測定器Ａ）を用い，実際に一成分現像剤を用いた複
写機の現像ローラ（図外）から一成分現像剤を吸引しそ
の帯電量を測定した値である。また，測定器Ｂが図２に
示すようなブローオフ方式によるものであって，この測
定器Ｂによる実測時の測定値Ｑｂが図３の一点鎖線で示
す直線関係に基づくＱ 3 であった時にも，上記測定値Ｑ
ｂは上記と同様に基準値に対して校正される。この測定
器Ｂの校正値ＱＢは，ＱＢ＝（Ｑ1 ／Ｑ3 ）・Ｑｂの校
正式で表すことができる。上記測定値Ｑｂは図２に示す
ブローオフ装置１１（測定器Ｂ）を用い，実際に二成分
現像剤を用いた複写機の現像器内から二成分現像剤を取
り出し測定した値である。従って，上記校正装置１によ
れば，どの種類の計測器を用いても同一の統一された測
定結果を得ることができる。しかも，本発明の実施例装
置によれば，粉体受け５の投下口４の先端が，この先端
から投下された導電性粉体２がいずれも粉体電荷計測器
の測定管部１７a ，１７b あるいはシールド導体の開口
部１７c の略軸芯を通過する位置に配置されているの
で，上記投下された導電性粉体２が各測定管部１７a ，
１７b あるいはシールド導体の開口部１７c と接触する
ことがなく，実測値の校正を極めて正確に行うことがで
きる。また，上記導電性粉体２は，垂直方向に直管状に
形成された粉体受け５の直管部７の先端の投下口４から
投下されるので，投下された時から垂直方向に落下す
る。従って，上記導電性粉体２を測定管部の略軸芯を通
過させるための上記校正装置１と各粉体電荷計測器の配
置関係を容易に設定することができる。
【０００８】
【発明の効果】以上説明したように，本発明によれば，
いずれの粉体電荷計測器に対しても同一条件下で一定量
且つ一定帯電量の導電性粉体を校正することができるの
で，各計測器の実測値を正確に校正することが可能であ
る。加えて，投下された導電性粉体が上記粉体電荷計測
器の測定管部あるいは例えばシールド導体の開口部と接
触することがなく，上記実測値の校正をより正確に行う
ことができる。本校正装置により粉体電荷計測器を校正
することによって，校正された各計測器を用いて測定さ
れた導電性粉体の電荷量は互いに比較され，これら導電
性粉体の性能比較等を行うことができるようになるの
で，例えば電子写真等におけるトナーの研究開発や製品
の品質管理面等において大なる貢献を奏するものとな
る。また，上記トナー等の粉体製品の品質の明示や規格
化を実現できる効果を奏する。
いずれの粉体電荷計測器に対しても同一条件下で一定量
且つ一定帯電量の導電性粉体を校正することができるの
で，各計測器の実測値を正確に校正することが可能であ
る。加えて，投下された導電性粉体が上記粉体電荷計測
器の測定管部あるいは例えばシールド導体の開口部と接
触することがなく，上記実測値の校正をより正確に行う
ことができる。本校正装置により粉体電荷計測器を校正
することによって，校正された各計測器を用いて測定さ
れた導電性粉体の電荷量は互いに比較され，これら導電
性粉体の性能比較等を行うことができるようになるの
で，例えば電子写真等におけるトナーの研究開発や製品
の品質管理面等において大なる貢献を奏するものとな
る。また，上記トナー等の粉体製品の品質の明示や規格
化を実現できる効果を奏する。
【図１】 本発明に係る校正装置の概略構成とこの校正
装置が設置された吸引式ファラデーケージとを概略側断
面に示す構成図。
装置が設置された吸引式ファラデーケージとを概略側断
面に示す構成図。
【図２】 上記校正装置とこの校正装置が設置されたブ
ローオフ装置とを概略側断面に示す構成図。
ローオフ装置とを概略側断面に示す構成図。
【図３】 基準ファラデーケージと吸引式ファラデーケ
ージ又はブローオフ装置との比較測定例を示すグラフ
図。
ージ又はブローオフ装置との比較測定例を示すグラフ
図。
【図４】 従前の校正装置による基準ファラデーケージ
の校正方法を示す説明図。
の校正方法を示す説明図。
【図５】 上記従前の校正装置の構成を示す斜視図。
【図６】 上記従前の構成装置による吸引式ファラデー
ケージの校正方法を示す説明図。
ケージの校正方法を示す説明図。
【図７】 上記従前の校正装置によるブローオフ装置の
校正方法を示す説明図。
校正方法を示す説明図。
【図８】 基準ファラデーケージによる測定例のグラ
フ。
フ。
１，１a …校正装置 ２…導電性粉体 ３…接地電極 ４…投下口 ５…粉体受け ６…ろ斗部 ７…直管部 １０…吸引式ファラデーケージ １１…ブローオフ装置 １２…基準ファラデーケージ １３…絶縁部 １７a ，１７b …測定管部 １７c …シールド導体の開口部 １８…電源装置
Claims (2)
- 【請求項１】 接地導体でシールドされた導体容器内に
帯電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間の
投入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器の測定管
部に，所定量の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入
する粉体電荷計測器の校正装置において，所定量の導電
性粉体を入れる粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性
粉体を少量ずつ投下させるための粉体投下手段と，前記
粉体受けの投下口と対極する近接位置に接地電極を設け
て，該接地電極と粉体受けとの間に所定電圧を印加する
電源装置とを備え，上記粉体受けの投下口の先端を，上
記投下された導電性粉体が上記測定管部の略軸芯を通過
する位置に配置したことを特徴とする粉体電荷計測器の
校正装置。 - 【請求項２】 上記粉体受けの投下口の先端が，垂直方
向に直管状に形成された請求項１記載の粉体電荷計測器
の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29138091A JPH05126883A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29138091A JPH05126883A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126883A true JPH05126883A (ja) | 1993-05-21 |
Family
ID=17768174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29138091A Pending JPH05126883A (ja) | 1991-11-07 | 1991-11-07 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05126883A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6225809B1 (en) | 1998-04-16 | 2001-05-01 | Kasuga Denki, Inc. | Static electricity measuring system |
| JP2010117227A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-05-27 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 粉体に起因する帯電の体感装置および粉体に起因する帯電の体感実験方法 |
| CN103529312A (zh) * | 2013-10-23 | 2014-01-22 | 中国矿业大学 | 一种微细粒煤粉颗粒荷质比分布测定系统 |
| CN105301373A (zh) * | 2015-12-02 | 2016-02-03 | 中国电力科学研究院 | 一种基于探针阵列的空间电荷密度测量装置 |
| CN105301371A (zh) * | 2015-12-02 | 2016-02-03 | 中国电力科学研究院 | 一种基于法拉第笼法的空间电荷密度测量装置 |
| WO2016109906A1 (zh) * | 2015-01-09 | 2016-07-14 | 兰州大学 | 颗粒分离带电量多因素分析仪 |
-
1991
- 1991-11-07 JP JP29138091A patent/JPH05126883A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US10101375B2 (en) | 2015-01-09 | 2018-10-16 | Lanzhou University | Separated particle charge multivariate analysis instrument |
| CN105301373A (zh) * | 2015-12-02 | 2016-02-03 | 中国电力科学研究院 | 一种基于探针阵列的空间电荷密度测量装置 |
| CN105301371A (zh) * | 2015-12-02 | 2016-02-03 | 中国电力科学研究院 | 一种基于法拉第笼法的空间电荷密度测量装置 |
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