JPH0462408A

JPH0462408A - 測定機の制御テーブル作成装置

Info

Publication number: JPH0462408A
Application number: JP17305690A
Authority: JP
Inventors: Kenji Matsumoto; 賢治松本; Toshihiro Sada; 俊弘佐田
Original assignee: Mitutoyo Corp; Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Current assignee: Mitutoyo Corp; Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date: 1990-06-30
Filing date: 1990-06-30
Publication date: 1992-02-27

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コ本発明は、ホストコンピュータと複数の計測機とが通信
回線を介して相互に接続された計測データネットワーク
システム等に使用され、測定作業を指示する基になる制
御テーブルを作成するための測定機の制御テーブル作成
装置に関する。

［従来の技術］近年、各種測定機で測定された測定データを集中管理す
ることにより、設計部門、製造部門及び品質管理部門等
の各種部門でこれらのデータを共有し、有効活用する計
測データネットワークシステムが開発されている。この
種のシステムでは、端末測定機としてＣＮ　Ｃ（Ｃｏｍ
ｐｕｔｅｒ　ＮｕｍｅｒｉｃａｌＣｏｎｔｒｏｌ　）三
次元測定機のような高度な測定機からディジタルデータ
の出力機能を有するディジタルノギス及びディジタルマ
イクロメータのような小型の測定器まで種々の測定機器
が端末測定機として使用される。

この種のシステムで測定を行なう場合、測定依頼者は、
例えばホストコンピュータから測定指示を与える。そし
て、測定作業者は、測定機側に設置された端末から上記
測定指示を確認し、最適な測定機と測定工程とを選択し
て測定作業を行なっている。

［発明が解決しようとする課題］しかしながら、上述した従来のシステムでは、測定作業
者が測定指示に基づいて作業手順を自ら判断しなければ
ならないため、測定作業者の負担が大きり、測定作業の
効率が悪いうえ、測定ミスが生じ易いという問題点があ
る。特に測定機としてＣＮＣ三次元測定機を選択する場
合、測定作業者は、測定指示に基づいて測定手順を与え
るためのコマンドを作成し、これを三次元測定機に入力
するという煩雑な作業を行なわなければならず、測定作
業者の負担は更に大きくなるという問題点がある。

また、三次元測定機による自動計測を例にとると、同じ
測定指示であっても、使用する三次元測定機が異なれば
、自動計測のためのコマンドも異なったものとなるため
、測定機を変える度に新たにコマンドを作成し入力をし
直さなければならない。したがって、コマンド入力作業
に多くの時間が費やされてしまうという問題点もある。

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
測定依頼者及び測定作業者の負担を大幅に軽減すると共
に効率が良い測定作業を指示する制御テーブルを作成す
ることが可能な測定機の制御テーブル作成装置を提供す
ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］本発明に係る測定機の制御テーブル作成装置は、測定対
象、測定箇所及び使用測定機等の測定指示情報からなる
測定記述を入力すると共に入力された複数の測定記述を
統合及びソート処理して測定記述テーブルを作成する測
定記述テーブル作成手段と、前記測定箇所を特定する図
面情報を作成する図面情報作成手段と、前記測定記述と
前記図面情報とを関連付けると共に前記測定記述に基づ
く測定作業によって得られた測定データの格納場所とな
るデータテーブルを作成するデータテーブル作成手段と
、前記測定記述テーブル作成手段で作成された測定記述
テーブルに従って前記測定記述を測定機に対するコマン
ドに展開すると共に前記データテーブルで関連付けされ
た前記図面情報と測定作業に必要なメツセージと前記測
定データの格納場所とを前記コマンドに付加して測定機
の制御、前記メツセージの表示及び測定データの転送制
御を行うための制御テーブルを作成する制御テーブル作
成手段とを有することを特徴とする。

［作用コ本発明によれば、測定依頼者が測定記述を入力すると、
測定記述テーブル作成手段は、これを適宜統合及びソー
ト処理することにより、測定作業効率を高める順序に並
べ換えて測定記述テーブルを作成する。

また、測定依頼者の操作に基づき図面情報作成手段によ
って測定箇所を特定する図面情報が生成されると、この
図面情報がデータテーブルによって前記測定記述と関連
付けされる。

更に、制御テーブル作成手段は、前記作成された測定記
述テーブルに基づいてコマンド展開を行い、このコマン
ドに前記データテーブルを通じて前記図面情報を付加す
ると共に、ガイドメツセージ等の必要な情報を付加する
ことにより制御テーブルを作成する。

このため、本発明によれば、生成された制御テーブルを
測定端末側で利用すると、測定依頼者が測定の際の作業
効率を全く考慮せずに測定記述を自由に入力した場合で
も、作業効率が高い測定指示がなされると共に、付加さ
れた図面情報及びメツセージ等を活用して、極めて分か
りゃすい測定指示を測定作業者に与えることができる。

しかも、この発明によれば、測定依頼者は、測定記述の
形態で作業指示を与えるので、測定機毎に異なるコマン
ドを全く意識する必要がなく、また、測定機が変わった
場合でも、−度作成された測定記述テーブル及びデータ
テーブルを活用することができるので、測定依頼者及び
測定作業者に何ら負担がかかることはない。

また、各テーブル及び図面情報等を個別に保存すること
により、測定技術の資産化を図ることができ、これらを
他の測定にも利用することで、測定作業のより一層の効
率化を図ることができる。

従って、本発明によれば、測定依頼者及び測定作業者の
負担を大幅に軽減すると共に、測定作業効率を向上させ
ることができる。

［実施例コ以下、添付の図面を参照して本発明の実施例に係る制御
テーブル作成装置及びこれを使用した計測データネット
ワークシステムについて説明する。

第２図は、上記計測データネットワークシステムの構成
を示すブロック図である。

ホストコンピュータ２０は、通信コントローラ２１を介
して複数の端末装置２２１，２２□、・・・２２．１と
接続されている。各端末装置２２＋、２２２、・・・、
２２．、には、夫々測定機２３１゜２３□、・・・、２
３、が接続されている。ホストコンピュータ２０は、外
部記憶装置と特定のプログラムとを含み、測定依頼者が
測定作業者に対して作業指示を与えるための機能と、測
定データを吸い上げて所定の統計処理を行う機能を有す
る。また、ホストコンピュータ２ｏには、図面入力装置
２４が接続されている。そして、この図面入力装置２４
とホストコンピュータ２ｏとで制御テーブル作成装置が
構成されている。

第１図は、この制御テーブル作成装置の更に詳細な機能
ブロック図である。

この装置は、大きく分けて２つの情報の入力を行なう。

１つは、制御テーブルの中心的データを構成し、測定依
頼者が測定作業者に対して測定指示を行なうための測定
記述であり、他の１つは、測定自体には直接関係ないが
システムの効率的な運用と、データの有効活用とを図る
ための付加情報である図面情報及び統計・演算指定情報
である。

また、この装置は、これらの情報の入力部は付は及び編
集を行なって測定記述テーブル、要素データテーブル及
び相関データテーブルを生成する機能と、生成された３
つのテーブルの関連付けを行なう機能と、関連付けされ
たテーブルを展開して制御テーブルを生成する機能の３
つの機能を有している。

第１図において、測定記述テーブル作成部１は、測定依
頼者が測定対象、使用測定機及び測定要素等を指示する
ための測定記述を入力及び編集して測定記述テーブルを
作成するための手段であり、例えば第３図に示すように
、データを入力するキーボード及びマウス等の入力部３
１と、表枠、入力データ及びメツセージ等を表示する表
示部３２と、測定記述テーブル作成のための編集機能を
有する測定記述エディタ３３とを有している。測定記述
エディタ３３は、更に測定記述入力編集部３４、入力情
報チエツク部３５、組込み編集部３６、測定記述統合部
３７、測定記述ソート部３８及びワーキングメモリ３９
を備えている。

測定記述テーブル作成部１で作成された測定記述テーブ
ルは、測定記述テーブル記憶部２に記憶されるようにな
っている。また、測定記述テーブル作成部１には、測定
記述テーブル記憶部２に既に登録済みの測定記述テーブ
ルが必要に応じて供給されるようになっている。

図面入力装置２４は、図面情報を読み込むための装置で
、例えばイメージスキャナ等によって構成されている。

この図面入力装置２４に入力された図面情報は、図面情
報作成部３に入力されている。図面情報作成部３は、第
４図に示すように、図面入力装置２４によって読み込ん
だ１枚の元図から、元図の切り出し、拡大、縮小、移動
及び回転等の機能によって各投影面の図面を複数枚作成
する図面情報エディタ４１と、読み込んだ元図を記憶す
る元図データ記憶部４２と、作成された各投影面の図面
データを記憶する各面図データ記憶部４３と、各面図に
付加される矢印情報等の付加情報を記憶する付加情報記
憶部４４と、前記各図面の編集と付加情報の入力のため
の入力部４５と、図面編集用の画面を表示する表示部４
６とを備えたものとなっている。

図面情報作成部８で作成された図面情報は、図面情報記
憶部４に記憶されるようになっている。

統計Φ演算指定情報入力部５は、測定データから、平均
値、ヒストグラム及びｘ−Ｒ管理図のような統計データ
を作成するための指示を与える情報を入力するための手
段である。

この統計・演算指定情報入力部５で入力された統計・演
算指定情報は、統計・演算指定情報記憶部６に記憶され
るようになっている。

測定記述テーブル作成部１で作成された測定記述テーブ
ルのうち、要素に関するデータ及び相関に関するデータ
は、夫々要素データテーブルジェネレータ７及び相関デ
ータテーブルジェネレータ８に入力されている。また、
要素データテーブルジェネレータフには、図面情報作成
部３で作成された図面情報と統計・演算指定情報入力部
５によって入力された統計・演算指定情報とが与えられ
ている。要素データテーブルジェネレータ７は、これら
の情報を測定記述テーブルの要素データ部分に付加して
要素データテーブルを作成するものとなっている。作成
された要素データテーブルは、要素データテーブル記憶
部９に格納されるようになっている。また、相関データ
テーブルジェネレータ８は、入力された測定記述テーブ
ルの相関に関するデータに基づいて相関データテーブル
を作成する。作成された相関データテーブルは相関デー
タテーブル記憶部１０に記憶されるようになっている。

これら作成された３つのテーブル、即ち測定記述テーブ
ル、要素データテーブル及び相関データテーブルは、制
御テーブルジェネレータ１１に供給されている。制御テ
ーブルジェネレータ１１は、例えば第５図に示すように
構成されている。即ち、測定記述テーブルを構成する各
測定記述は、番号順にコマンド展開部５１とガイドメツ
セージ選択部５２とに供給されている。コマンド展開部
５１は、測定記述で指定された測定機が三次元測定機の
場合、測定機側コマンド展開テーブル記憶部１２に記憶
されたコマンド展開テーブル１２ａ、１２　ｂ＋　　１
２　ＣＩ　・・・のうちの対応する測定機のテーブルを
選択してＣＮＣのコマンドに展開する。また、ガイドメ
ツセージ選択部５２は、測定記述及び展開されたコマン
ドに基づいてガイドメツセージ辞書５３から対応する測
定作業者へのメツセージを選択する。そして、前記コマ
ンド、ガイドメツセージ並びに要素データテーブル記憶
部９及び相関データテーブル１０の必要情報とが情報統
合処理部５４へ与えられ、ここで組み付けられて制御テ
ーブルが作成されるようになっている。

作成された制御テーブルは、制御テーブル記憶部１３に
格納されると共に、第２図に示す通信コントローラ２１
を介して各端末装置２２．〜２２□に供給されるように
なっている。

次に、このように構成された本実施例に係る制御テーブ
ル作成装置の動作について説明する。

この計測データネットワークシステムでは、測定記述テ
ーブルを使用して測定依頼者が測定指示を行なう。測定
記述テーブルは、例えば、第６図に示すようなテーブル
で、ヘッダ部６１と本表６２とに分かれている。

ヘッダ部６１には、測定対象の品名、品番、般公差、使
用測定機及び測定機に関係するパラメータ等が記述され
る。また、本表６２には、測定作業に直接必要な定義要
素、投影面、表示面、第１要素の名称、出力指定、特別
指定、コメント、第２要素の名称、相関の出力指定等が
記述される。

本表６２のうち、定義要素の欄には、測定要素ではない
が測定の都合上必要な要素を定義するための情報、例え
ば三次元測定機で測定を行なう場合の基準面及び原点等
の情報が記述される。ここで、ＸＹ、Ｙ、ＯＲＧは夫々
ＸＹ平面、Ｙ軸及び原点を示している。

投影面の欄には、三次元測定機で測定を行なう場合の投
影面を指示する情報が記述される。ここで、ｘｙ、ｙｚ
、ｚｘ等は、夫々ＸＹ面、７２面及びＺＸ面が投影面で
あることを示している。

表示面の欄には、測定対象のどの方向から見た図面を端
末装置２２．〜２２．．に表示するかを示す情報が記述
される。この情報は、投影面と同一の場合には省略する
ことができる。

第１要素の名称欄には、測定すべき要素、例えばＮα１
１の円及びＮα１３の線等の要素が記号で記述される。

ここで、ＰＬｉ＋　　ＣＩ　ｉ＋　　ｓｐｉ、ｐ’ｒｉ
。

ＬＩｉ＋ＣＹｉ等は、夫々Ｎαｉの線、円、球、点、投
影線及び円筒を示している。

第１要素の出力指定の柳には、第１要素の名称欄で指定
された要素の中の測るべき項目、例えば直径り、Ｘ座標
、Ｙ座標及びＸ座標等の記号と、設計値と、誤差上限許
容値と、誤差下限許容値とが記述される。

特別指定欄には、使うべき測定機及びプローブ等の情報
が記述される。

コメント欄には、測定作業者に伝えたい注意事項等が記
述される。

第２要素の名称欄には、例えば円と円との中心間距離等
のように、２個の要素の指定が必要な場合に、測定すべ
き第２要素を定義する記号が記述される。

相関の出力指定欄には、第１要素と第２要素とで決まる
関係のうち測るべき項目、例えば距離及び角度等の記号
と、設計値と、誤差上限許容値と、誤差下限許容値とが
記述される。

次に、この測定記述テーブルの作成方法について説明す
る。

先ず、第３図に示した測定記述テーブル作成部１の測定
記述エディタ３３を起動する。測定記述エディタ３３で
は、測定記述入力編集部３４が起動され、これによって
表示部３２上に測定記述テーブルの表枠のみが表示され
る。測定依願者は、入力部３１を操作して、表枠内の必
要箇所に、測定指示を与えるのに必要な測定記述を入力
していく。なお、このとき、測定記述の入力作業は、測
定順序及び測定機等には拘りなく自由に行なうことがで
きる。

また、過去に作成した測定記述テーブルを利用してテー
ブル作成を行なう場合には、測定依頼者は、入力部３１
によって組込み編集部３６を起動し、測定記述テーブル
記憶部２に格納されている測定記述テーブルのうち利用
したいテーブルを指定する。このとき、例えば表示部３
２にはマルチウィンドウが形成され、１つのウィンドウ
に現在編集中のテーブルが表示され、他の１つのウィン
ドウに上記指定されたテーブルが表示されることにより
、両ウィンドウ間のデータの移動を容品にしてテーブル
作成を効率的に行なうことができる。

これにより、過去のデータを有効利用することができる
。

測定記述テーブルに全ての項目が記述されたら、測定記
述エディタ３３は、入力情報チエツク部３５を起動する
。これにより、要素名、山カ記号及びパラメータの入力
誤り及び矛盾等がないかがチエツクされる。

この段階では、各測定記述は、測定順序及び測定機等に
拘りなくばらばらに配置されているので、次に、これを
測定効率を考慮した順序に並べ換える編集作業が行なわ
れる。

先ず、測定記述テーブルの中に過去に作成された測定記
述テーブルの特定の部分を利用するという指示がある場
合には、組込み編集部２６を起動して、測定記述テーブ
ル記憶部２にアクセスし、その部分に必要なデータを組
込む。

続いて、測定記述統合部２７が起動され、第７図に示す
ように、同じ測定要素で異なる出力記号が別々に入力さ
れている場合に、その出力記号が１つの記述にまとめら
れる。図示の例では、同図（ａ）に示すような、Ｎ［１
１１の円のｘ、ｙ、ｚ座標を求めるという記述と、Ｎ（
Ｉｌｌの円の直径りを求めるという記述とを、同図（ｂ
）に示すような、Ｎα１１の円のｘ、ｙ、ｚ座標及び直
径りを求めるという記述に統合している。

最後に、測定記述ソート部２８が起動され、測定記述が
測定効率を考慮した順番に並べ換えられる。ソートは例
えば次の基準によって行われる。

■使用される測定機毎に測定記述をまとめる。

■三次元測定機の場合、使用するプローブ毎に測定記述
をまとめる。

■三次元測定機の場合、投影面毎に測定記述をまとめる
。

■実際に測定する要素と、計算で求まる要素とに測定記
述をまとめる。

■三次元測定機におけるプローブ及び投影機におけるレ
ンズ等の検出部が最短移動距離で測定できるように測定
記述をまとめる。

■ユーザの指定により、特定の要素についてのみ優先的
に測定するように測定記述をまとめる。

このような基準に基づいて測定記述のソートを実行する
ことにより、例えば第８図に示すような測定効率を考慮
しない測定記述テーブル８１から、測定効率を考慮した
測定記述テーブル８２が生成される。

以上の方法で生成された測定記述テーブルは、測定記述
テーブル記憶部２に格納されると共に、要素データテー
ブルジェネレータ７、相関データテーブルジェネレータ
８及び制御テーブルジェネレータ１１に供給される。

要素データテーブルジェネレータ７及び相関データテー
ブルジェネレータ８は、作成された測定記述テーブルか
ら測定データをホストコンピュータ２０上に格納するた
めの記憶装置上の物理領域であるデータエリアを生成す
る。なお、測定データは、一つの要素で決定される例え
ば点の座標及び円の直径等の要素データと、２つの要素
で決定される例えば２点間の距離及び２つの円の中心間
距離等の相関データとに大別される。したがって、要素
データテーブルジェネレータ７は、要素データのデータ
エリアである要素データテーブルを、また、相関データ
テーブルジェネレータ８は、相関データのデータエリア
である相関データテーブルを夫々作成する。要素データ
テーブルジェネレータ７で作成される要素データテーブ
ルは、また、測定記述テーブルと、図面情報と、統計Φ
演算指定情報とを関連付け、制御テーブル作成時にこれ
らの情報を組付けするテーブルでもある。

第９図は、要素データテーブルの一例を示す模式図であ
る。即ち、要素データテーブルは、索引部９１と木表９
２とにより構成される。索引部９１には、測定記述テー
ブルに記述された第１要素及び第２要素の名称から対応
する要素データのデータエリアへのポインタ（メモリＮ
（１）が格納される。また、木表９２は、メモリＮα（
＝各要素）と対応させてその測定データが格納されるデ
ータエリア９３と、対応する要素の測定指示に対してど
の図面を表示し、矢印の位置及び形態がどのようなもの
かを示す表示データ９４と、統計・演算指定を行うため
のデータ９５とから構成され、データ９４．９５が測定
記述に関連付けされる部分に相当する。なお、表示デー
タ９４は図面情報作成部３で作成され、統計・演算指定
データは統計・演算指定情報入力部５から入力される。

また、相関データテーブルも、第１０図に示すように、
索引部１０１と木表１０２とにより構成されている。索
引部１０１には、測定記述テーブルで相関棟の中身が存
在する行について第１要素及び第２要素の名称から対応
する相関データへのポインタ（メモリＮ（１）が格納さ
れる。また、木表１０２には、メモリＮα（＝各要素）
と対応させてその測定データが格納される。

一方、測定依頼者は、測定記述テーブルの作成に付随し
て、測定対象の図面情報をイメージスキャナ等の図面入
力装置２４から取り込むことができる。図面情報がＣＡ
Ｄデータの場合には、ＣＡＤシステムから直接データを
取り込むようにしてもよい。

図面情報が図面入力装置２４によって読み込まれると、
この図面情報は、第４図の図面情報エディタ４１を介し
て元図データとして元図データ記憶部４２に格納される
。元図データが格納されたら、図面情報エディタ４１は
、表示部４６に第１１図（ａ）に示すような元図データ
を表示する。

続いて、図面情報エディタ４１は、要素データテーブル
記憶部９から順番に送られてくる要素名と図面の情報を
、第１１図に示すように、画面の特定部分に表示し、必
要な図面の修正と、矢印記号の指定とを測定依願者に促
す。第１１図（ａ）の例では、測定依頼者が図面ＭＳ（
全体図）として元図データそのものを登録し、例えば入
力部４５のマウス等の操作によって４つの矢印のうちの
一つを選択して要素名ＰＬＩＩの位置を特定している。

また、例えば図面としてＸＹ１要素名として５ＰＩＩが
送られてくると、測定依頼者は、マウス等を操作して、
元図データからＸＹ面の投影図の部分のみを切り出し、
例えば第１１図（ｂ）に示すように、適当に拡大して図
面名ＸＹとして登録すると共に、矢印とその位置を指定
する。同様の操作で、他の図面及び他の要素についても
図面情報の登録が行われる。

これにより、図面情報エディタ４１は、例えば第１２図
に示すように、図面名１２１と２値図形データ１２２と
が対になった各面図データを作成し、これを各面図デー
タ記憶部４３に格納すると共に、第１３図に示すように
、要素名称、図面、矢印種類並びに矢印の画面上におけ
るＸ座標及びＸ座標の対応を示す付加情報を作成し、こ
れを付加情報記憶部４４に格納する。作成された各面図
データと付加情報は、図面情報として図面情報記憶部４
に格納されると共に、要素データテーブルジェネレータ
７に転送され、ここで要素データテーブルに組込まれる
。

また、統計・演算指定情報入力部５から入力された統計
−演算指定情報も、統計・演算指定情報記憶部６に格納
されると共に、要素データテーブルジェネレータフに転
送され、ここで第９図に示すように、要素データテーブ
ルに組込まれる。

このようにして作成された要素データテーブルと、相関
データテーブルと、測定記述テーブルとは、制御テーブ
ルジェネレータ１１に供給され、ここで制御テーブルの
作成に供される。

第１４図は、制御テーブル作成手順を示す流れ図である
。

先ず、測定記述テーブル記憶部２から測定記述を１行分
入力する（Ｓｌ）。測定記述における測定機の指定欄が
三次元測定機である場合には（Ｓ２）、第５図に示した
制御データテーブルジェネレータ１１のコマンド展開部
５１によって携１定記述をＣＮＣのコマンドに展開する
（Ｓ３）。

このとき、測定機の機種によってコマンドが異なるので
、その機種に対応するコマンド展開テーブル１２　ａｌ
　　ｌ　２　ｂ、！　２　ｃを参照してコマンド展開が
行われる。このコマンド展開は、例えば基準面指定動作
のコマンド展開、投影面が変わったときのコマンド展開
、第１要素、第２要素及び相関出力指定のコマンド展開
、定義要素のコマンド展開の順に実行される。コマンド
展開が終了すると、ガイドメツセージ選択部５２がガイ
ドメツセージ辞書５３を検索し、測定記述及び展開され
たコマンドに対応するガイドメツセージがあるか否かを
調べ、ガイドメツセージがある場合には、それを選択す
る（Ｓ４）。

一方、制御テーブルジェネレータ１１には、要素データ
テーブルの索引部から測定記述の要素名をキーとして要
素データのメモリＮαと、図面情報と、統計・演算指定
情報とが供給されている。また、制御テーブルジェネレ
ータ１１には、相関データテーブルの索引部から測定記
述の要素名をキーとして要素データのメモリＮαが供給
されている。

そして、これらの情報と、コマンド展開部５１で展開さ
れたコマンドと、ガイドメツセージ選択部５２で選択さ
れたガイドメツセージとが、情報統合処理部５４によっ
て組み付けられ（Ｓ１５）、測定記述テーブルの１行分
の制御テーブルのデータが作成される。これを、測定記
述テーブルの全ての行について実行すると、第１５図に
示すような制御テーブルが作成されることになる。

この制御テーブルは、第２図の通信コントローラ２１を
介して端末装置２２□〜２２．、のうちの対応する端末
装置２２ｋに供給される。端末装置２２にでは、制御テ
ーブルを１ステツプずつ順番に実行し、測定機２３８の
動作を制御すると共に、第１６図に示すように、必要な
ガイドメツセージ及び図面情報等を表示して、測定作業
者に測定指示を与える。なお、第１６図（ａ）、（ｂ）
は、夫々第１５図に示した制御テーブルのステップＮ（
ＩＯ／１Ｇ、　Ｏ／１４を実行した際の測定端末２２に
の表示形態を示している。

従って、測定作業者は、このようなガイドメツセージと
図面及び測定箇所を示す矢印とを確認しながら測定作業
を進めていけば良いので、測定作業者の負担は大幅に軽
減されることになる。

［発明の効果コ以上述べたように本発明によれば、測定依頼者は測定の
際の作業効率を全く考慮せずに測定記述を自由に入力す
ることができる。また、測定依頼者は、測定記述の形態
で作業指示を与えるので、測定機毎に異なるコマンドを
全く意識する必要がなく、測定機が変わった場合でも、
−度作成された測定記述テーブル及びデータテーブルを
再度活用することができる。このため、測定依頼者の負
担を大幅に軽減するとことができる。

また、この装置によれば、測定記述テーブルに基づいて
展開されたコマンドに、データテーブルを通じて図面情
報が付加されると共に、ガイドメツセージが付加される
ので、これを測定端末側で利用すると、作業効率が高い
測定指示が行われ、付加された図面情報及びメツセージ
情報等を活用して、極めて分かりやすい測定指示を測定
作業者に与えることができる。このため、測定作業者の
負担も軽減し、効率良い測定作業を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第１６図は本発明の実施例に係る制御テーブ
ル作成装置を説明するための図で、第１図は同制御テー
ブル作成装置のブロック図、第２図は同制御テーブル作
成装置が使用される計測データネットワークシステムの
ブロック図、第３図は測定記述テーブル作成部のブロッ
ク図、第４図は図面情報作成部のブロック図、第５図は
制御テーブルジェネレータのブロック図、第６図は測定
記述テーブルを示す模式図、第７図は測定記述テーブル
作成装置における測定記述統合処理を示す模式図、第８
図は同装置における測定記述ソート処理を示す模式図、
第９図は要素データテーブルを示す模式図、第１０図は
相関データテーブルを示す模式図、第１１図は図面情報
作成部での表示画面を示す模式図、第１２図は各面図デ
ータを示す模式図、第１３図は付加情報を示す模式図、
第１４図は制御テーブルジェネレータでの処理を示す流
れ図、第１５図は制御テーブルを示す模式図、第１６図
は同計測データネットワークシステムの端末装置での表
示画面を示す模式図である。１；測定記述テーブル作成装置、２：測定記述テーブル
記憶部、３；図面情報作成部、４；図面情報記憶部、５
；統計・演算指定情報入力部、６；統計・演算指定情報
記憶部、７；要素データテーブルジェネレータ、８；相
関データテーブルジェネレータ、９；要素データテーブ
ル記憶部、１０；相関データテーブル記憶部、１１；制
御テーブルジェネレータ、１２；測定機種別コマンド展
開テーブル記憶部、１３；制御テーブル記憶部、２０；
ホストコンピュータ、２１：通信コントローラ、２２Ｉ〜２２．；端末装置、２３１〜２３．、；測定機
、２４；図面入力装置、３１，４５；入力部、３２．４
６；表示部、３３１測定記述エデイタ、４１；図面情報
エディタ、４２；元図データ記憶部、４３：各面図デー
タ記憶部、４４；付加情報記憶部、５１；コマンド展開
部、５２；ガイドメツセージ選択部、５３；ガイドメツ
セージ辞書、５４；情報統合処理部

Claims

【特許請求の範囲】

（１）測定対象、測定箇所及び使用測定機等の測定指示
情報からなる測定記述を入力すると共に入力された複数
の測定記述を統合及びソート処理して測定記述テーブル
を作成する測定記述テーブル作成手段と、前記測定箇所
を特定する図面情報を作成する図面情報作成手段と、前
記測定記述と前記図面情報とを関連付けると共に前記測
定記述に基づく測定作業によって得られた測定データの
格納場所となるデータテーブルを作成するデータテーブ
ル作成手段と、前記測定記述テーブル作成手段で作成さ
れた測定記述テーブルに従って前記測定記述を測定機に
対するコマンドに展開すると共に前記データテーブルで
関連付けされた前記図面情報と測定作業に必要なメッセ
ージと前記測定データの格納場所とを前記コマンドに付
加して測定機の制御、前記メッセージの表示及び測定デ
ータの転送制御を行うための制御テーブルを作成する制
御テーブル作成手段とを有することを特徴とする測定機
の制御テーブル作成装置。
（２）前記図面情報の基になる元図を前記図面情報作成
手段に供給するための図面入力手段を更に備えたことを
特徴とする請求項１に記載の測定機の制御テーブル作成
装置。
（３）前記制御テーブル作成手段は、測定機の種類に応
じて前記測定記述からコマンド展開を行うコマンド展開
手段と、前記測定記述及び前記展開されたコマンドに付
加されるべきガイドメッセージを予め用意されたいくつ
かのガイドメッセージから選択するガイドメッセージ選
択手段と、前記コマンド展開手段で展開されたコマンド
と前記ガイドメッセージ選択手段で選択されたガイドメ
ッセージと前記データテーブルで関連付けされた前記図
面情報とを統合する情報統合処理手段とを有するもので
あることを特徴とする請求項１又は２に記載の測定機の
制御テーブル作成装置。
（４）測定データの統計・演算を指定する統計・演算指
定情報を入力する統計・演算指定情報入力手段を更に備
え、前記データテーブル作成手段は、前記統計・演算指
定情報と前記測定記述とを関連付ける機能を有し、前記
制御テーブル作成手段は、前記展開されたコマンドに前
記統計・演算指定情報を付加するものであることを特徴
とする請求項１乃至３に記載の測定機の制御テーブル作
成装置。