JPH046134B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH046134B2 JPH046134B2 JP12430881A JP12430881A JPH046134B2 JP H046134 B2 JPH046134 B2 JP H046134B2 JP 12430881 A JP12430881 A JP 12430881A JP 12430881 A JP12430881 A JP 12430881A JP H046134 B2 JPH046134 B2 JP H046134B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- count
- gate
- shift
- instruction signal
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K21/00—Details of pulse counters or frequency dividers
- H03K21/40—Monitoring; Error detection; Preventing or correcting improper counter operation
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
本発明は、カウンタ集積回路に関する。
従来、この種のカウンタ集積回路(IC)を使
用したパツケージ等を単体で試験する時にはカウ
ンタが取り得るすべての値を他のフリツプフロツ
プの値と組み合わせて変化させるビツト以外のビ
ツトは全て固定させることにより必要最少限のパ
ターンを与え、本カウンタの出力を使用する回路
を試験する場合にはカウンタの値を並列パスでロ
ードするかカウントアツプあるいはダウンにより
必要な値を作り出すかしなければならず、また並
列パスを設けられない場合には、カウントアツ
プ/ダウンを使用するため時間がかかり、かつ、
障害時の情報収集を容易に行うことができないと
いう欠点があつた。
本発明の目的は、前述の欠点を解決したカウン
タ集積回路を提供することにある。
前記の目的を達成するために本発明によるシフ
ト機能付きカウンタ集積回路は、第1段目の回路
群は、保持手段と、シフト指示信号に応答してシ
フトインデータを出力する入力ゲートと、該保持
手段の否定出力をカウントアツプ指示信号に応答
して出力するカウントアツプ用ゲートと、このカ
ウントアツプ用ゲートからの出力データまたは該
入力ゲートからの出力データをクロツク信号によ
り前記保持手段にラツチする手段とを含み、
第i(i≧2)段目の回路群は、保持手段と、
第i−1段目の保持手段の出力を前記シフト指示
信号に応答して出力するシフトゲートと、前記第
1段目から前記i−1段目までの保持手段の出力
と前記i段目の保持手段の否定出力と前記カウン
トアツプ指示信号との論理積をとる第1のカウン
トアツプ用ゲートと、この第1のカウントアツプ
用ゲートの否定出力と前記i番目の保持手段の出
力と前記カウントアツプ指示信号との論理積をと
る第2のカウントアツプ用ゲートと、該シフトゲ
ートからの出力データ、該第1のカウントアツプ
用ゲートからの出力データまたは該第2のカウン
トアツプ用ゲートからの出力データをクロツク信
号により前記保持手段にラツチする手段とを含
み、
カウントアツプ動作時は該シフト指示信号の発
生を停止して前記入力ゲートおよびシフトゲート
によるシフト動作を抑止し、シフト動作時は前記
カウントアツプ指示番号の発生を停止して前記カ
ウントアツプ用ゲート、前記第1のカウントアツ
プ用ゲートおよび前記第2のカウントアツプ用ゲ
ートによるカウントアツプ動作を抑止することを
特徴とする。
以下、図面を参照して本発明をさらに詳しく説
明する。
第1図は本発明によるカウンタ集積回路の一実
施例を示すブロツク図である。
図において、1−i(i=1〜4以下同じ)は
現在の値を保持するフリツプフロツプ、3−i,
4−i,5−i,7−iおよび8はアンドゲー
ト、2−iはオアゲート、6はナンドゲート、5
0−iはロードデータ信号線、51はシフトイン
データ信号線、52はカウントアツプ指示信号
線、53はシフトレジスタ指示信号線、54はロ
ード指示信号線、55はクリア指示信号線、56
はクロツク信号線、57はキヤリー出力信号線、
58−iはデータ出力信号線を示している。
本実施例において、入力ゲート5−4は、シフ
ト指示信号線53を介して与えられるシフト指示
信号に応答して、シフトインデータ信号線51を
介して与えられるシフトインデータを出力する。
カウントアツプ用ゲート4−4は、フリツプフ
ロツプ1−4からの否定出力を、カウントアツプ
指示信号線52を介して与えられるカウントアツ
プ指示信号に応答して出力する。
オアゲート2−4は、ロードデータ信号線50
−4およびアンドゲート3−4を介して与えられ
るロードデータ、入力ゲート5−4から出力され
るシフトインデータおよびカウントアツプ用ゲー
ト4−4からの出力の論理積をとり入力データ信
号線59−4に入力データを供給する。フリツプ
フロツプ1−4は、クロツク信号線56を介して
与えられるクロツク信号に応答して、入力データ
信号線59−4上のデータをラツチする。
これら第1段目の回路群とは、少し異なる構成
を第2、3、および4段目の回路群は有する。第
2段目以上の回路群は同じ構成を有する。第2段
目以上の回路群は、それぞれフリツプフロツプ1
−3,1−2、および1−1を備えている。
シフトゲート5−3,5−2および5−1は、
1段下のフリツプフロツプ1−4,1−3および
1−2の出力をシフト指示信号線53を介して与
えられるシフト指示信号に応答して出力する。
第1のカウントアツプ用ゲート4−3,4−2
および4−1は、第1段目から該当段の1段下の
フリツプフロツプ1−4,1−3および1−2の
出力と同じ段のフリツプフロツプ1−3,1−2
および1−1の否定出力と、カウントアツプ指示
信号線52を介して与えられるカウントアツプ指
示信号との論理積をとる。
第2のカウントアツプ用ゲート7−3,7−2
および7−1は、第1のカウントアツプ用ゲート
4−3,4−2および4−1の否定出力と、同じ
段のフリツプフロツプ1−3,1−2および1−
1の出力とカウントアツプ指示信号線52を介し
て与えられるカウントアツプ指示信号との論理積
をとる。
フリツプフロツプ1−iをリセツトする場合に
はクリア指示信号線55を“0”にし、クロツク
信号線56にパルスを入力する。
すると、アンドゲート3−i,4−i,5−i
および7−iの出力はすべての信号が“0”とな
るためフリツプフロツプの入力データ信号線59
−iがすべて“0”となつて、フリツプフロツプ
1−iには、クロツク信号の立上がりで“0”が
セツトされる。
次にカウンタにある特定の値をあらかじめ与え
るため並列パスによりデータロードを指示する場
合はカウントアツプ指示信号線52の信号を
“0”、クリア指示信号線55の信号を“1”、ロ
ード指示信号線54の信号を“0”としてクロツ
ク信号線56にパルスを入力する。
この場合はアンドゲート3−iは開いてロード
データ信号線50−iのデータはフリツプフロツ
プの入力信号線59−iに出力され、クロツク信
号の立上がりでロードデータが、フリツプフロツ
プ1−iにセツトされる。
第2図の波形図を用いてロード指示の時の動作
を説明すると、カウントアツプ指示信号52の信
号が“0”でシフト指示信号53の信号が“0”
でロード指示信号54の信号が“0”となつてい
る時に、クロツクパルスの立ち上がりでロード
データ信号線50−1,50−2,50−3、お
よび50−4の信号がフリツプフロツプ1−1,
1−2,1−3、および1−4にそれぞれ入力さ
れ、カウンタ出力信号線58−1,58−2,5
8−3、および58−4にその対応する値が出力
される。
さらに、カウントアツプする場合は、クリア指
示信号線55を“1”、ロード指示信号線54を
“1”、シフト指示信号線53を“0”、カウント
アツプ指示信号線52を“1”として、クロツク
信号56にパルスを入力する。
この場合は第1のカウントアツプ用ゲート4−
i、および第2のカウントアツプ用ゲート7−i
が動作して、現在の値+1の値がフリツプフロツ
プ1−iにセツトされる。
即ち4ビツトのバイナリカウンタは、表1のよ
うな配置とすると、クロツク毎にカウントアツプ
される論理は、
a3=3・(カウントアツプ条件)
a2=(a3・2+3・a2)
・(カウントアツプ条件)
a1=(a1・a2・a3+a1・(a2・a3))
・(カウントアツプ条件)
a0=(0・a1・a2・a3+a0・(1・2・3))
・(カウントアツプ条件)
と表現され、第1のカウントアツプ用ゲート4−
iと第2のカウントアツプ用ゲート7−iがこれ
らの条件を実現したゲート回路となつている。
The present invention relates to counter integrated circuits. Conventionally, when testing a single package using this type of counter integrated circuit (IC), all values that the counter can take are fixed by fixing all bits other than the bits that are changed by combining them with the values of other flip-flops. When testing a circuit that uses the output of this counter by providing the minimum required pattern, the counter value must be loaded in a parallel path or the required value must be created by counting up or down. If parallel paths cannot be provided, the use of count up/down is time consuming and
The drawback was that it was not easy to collect information in the event of a failure. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a counter integrated circuit which overcomes the above-mentioned drawbacks. In order to achieve the above object, the present invention provides a counter integrated circuit with a shift function, in which a first stage circuit group includes a holding means, an input gate for outputting shift-in data in response to a shift instruction signal, and a first stage circuit group. A count-up gate for outputting the negative output of the holding means in response to a count-up instruction signal, and means for latching the output data from the count-up gate or the output data from the input gate to the holding means using a clock signal. The i-th (i≧2) stage circuit group includes a holding means;
a shift gate that outputs the output of the holding means at the i-1st stage in response to the shift instruction signal; a first count-up gate that logically ANDs the negative output of the holding means and the count-up instruction signal; A second count-up gate that performs logical AND with the instruction signal, output data from the shift gate, output data from the first count-up gate, or output data from the second count-up gate. and means for latching the shift instruction signal to the holding means using a clock signal, and during a count-up operation, the generation of the shift instruction signal is stopped to suppress the shift operation by the input gate and the shift gate, and during the shift operation, the shift instruction signal is latched to the holding means. The present invention is characterized in that the count-up operation by the count-up gate, the first count-up gate, and the second count-up gate is suppressed by stopping generation of the instruction number. Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a counter integrated circuit according to the present invention. In the figure, 1-i (same for i=1 to 4) is a flip-flop that holds the current value, 3-i,
4-i, 5-i, 7-i and 8 are AND gates, 2-i is OR gate, 6 is NAND gate, 5
0-i is a load data signal line, 51 is a shift-in data signal line, 52 is a count-up instruction signal line, 53 is a shift register instruction signal line, 54 is a load instruction signal line, 55 is a clear instruction signal line, 56
is the clock signal line, 57 is the carry output signal line,
58-i indicates a data output signal line. In this embodiment, input gate 5 - 4 outputs shift-in data provided via shift-in data signal line 51 in response to a shift instruction signal provided via shift instruction signal line 53 . The count-up gate 4-4 outputs the negative output from the flip-flop 1-4 in response to a count-up instruction signal applied via the count-up instruction signal line 52. The OR gate 2-4 is connected to the load data signal line 50.
-4, the load data applied via the AND gate 3-4, the shift-in data output from the input gate 5-4, and the output from the count-up gate 4-4 are ANDed and the input data signal line 59- The input data is supplied to 4. Flip-flops 1-4 respond to a clock signal applied via clock signal line 56 to latch data on input data signal line 59-4. The second, third, and fourth stage circuit groups have slightly different configurations from the first stage circuit group. The circuit groups in the second and higher stages have the same configuration. Each of the circuit groups in the second stage and above is a flip-flop 1.
-3, 1-2, and 1-1. The shift gates 5-3, 5-2 and 5-1 are
The outputs of flip-flops 1-4, 1-3 and 1-2 located one stage below are outputted in response to a shift instruction signal applied via shift instruction signal line 53. First count-up gate 4-3, 4-2
and 4-1 are the outputs of the flip-flops 1-4, 1-3 and 1-2 located one stage below the relevant stage from the first stage, and the outputs of the flip-flops 1-3, 1-2 of the same stage.
AND the negative output of 1-1 and the count-up instruction signal applied via the count-up instruction signal line 52. Second count-up gate 7-3, 7-2
and 7-1 are the negative outputs of the first count-up gates 4-3, 4-2 and 4-1, and the flip-flops 1-3, 1-2 and 1-1 of the same stage.
1 and the count-up instruction signal applied via the count-up instruction signal line 52 are ANDed. When resetting the flip-flop 1-i, the clear instruction signal line 55 is set to "0" and a pulse is input to the clock signal line 56. Then, AND gate 3-i, 4-i, 5-i
Since all the signals at the output of 7-i are "0", the input data signal line 59 of the flip-flop
-i become all "0", and flip-flop 1-i is set to "0" at the rising edge of the clock signal. Next, when instructing to load data using a parallel path in order to give a certain value to the counter in advance, the signal on the count up instruction signal line 52 is set to "0", the signal on the clear instruction signal line 55 is set to "1", and the load instruction signal is set to "0". The signal on line 54 is set to "0" and a pulse is input to clock signal line 56. In this case, the AND gate 3-i is opened and the data on the load data signal line 50-i is output to the input signal line 59-i of the flip-flop, and the load data is set in the flip-flop 1-i at the rising edge of the clock signal. . To explain the operation when a load instruction is given using the waveform diagram in FIG. 2, the count-up instruction signal 52 signal is "0" and the shift instruction signal 53 signal is "0".
When the signal of the load instruction signal 54 is "0", the signals of the load data signal lines 50-1, 50-2, 50-3, and 50-4 are changed to the flip-flops 1-1, 50-4 at the rising edge of the clock pulse.
1-2, 1-3, and 1-4, respectively, and counter output signal lines 58-1, 58-2, 5
The corresponding values are output to 8-3 and 58-4. Furthermore, when counting up, the clear instruction signal line 55 is set to "1," the load instruction signal line 54 is set to "1," the shift instruction signal line 53 is set to "0," and the count up instruction signal line 52 is set to "1." A pulse is input to the clock signal 56. In this case, the first count up gate 4-
i, and second count-up gate 7-i
operates, and the value of the current value + 1 is set in flip-flop 1-i. In other words, if a 4-bit binary counter is arranged as shown in Table 1, the logic for counting up every clock is a3=3・(count-up condition) a2=(a3・2+3・a2)・(count-up condition) ) a1=(a1・a2・a3+a1・(a2・a3)) ・(count up condition) a0=(0・a1・a2・a3+a0・(1・2・3)) ・(count up condition) , first count-up gate 4-
i and the second count-up gate 7-i constitute a gate circuit that realizes these conditions.
【表】
次に、シフト動作をする場合は、シフト指示信
号線53を“1”、カウントアツプ指示信号線5
2を“0”、ロード指示信号線54を“1”、クリ
ア指示信号線55を“1”として、クロツク信号
にパルスを入力する。
この場合はシフトインデータ信号がアンドゲー
ト5−4を通り、オアゲート2−4を経て、フリ
ツプフロツプ1−4にセツトされるとともに、フ
リツプフロツプ1−1,1−2、および1−3の
出力がアンドゲート5−1,5−2、および5−
3およびオアゲート2−1,2−2、および2−
3を経てフリツプフロツプ1−1,1−2、およ
び1−3にセツトされる。フリツプフロツプ1−
1の値は、他のシフトインデータとして使用され
得る。
第2図のシフト指示の時の波形図を用いて説明
すると、クリア信号線55が“1”、ロード指示
信号線54が“1”、カウントアツプ指示信号線
52が“0”でシフト指示信号線53が“1”と
なつているクロツクパルス、およびの立ち上
がりでシフトインデータ信号線51、およびカウ
ンタ出力信号線58−4、58−3、および58
−2の出力がそれぞれフリツプフロツプ1−4,
1−3,1−2、および1−1に入力され、カウ
ンタ出力信号線58−4,58−3,58−2、
および58−1の信号が変化していく。
本発明は、以上詳しく説明したようにシフト機
能を設けることにより、本発明のカウンタ集積回
路を使用したパツケージあるいは装置の試験を容
易にし、障害時の情報を簡単に収集できる効果が
ある。[Table] Next, when performing a shift operation, set the shift instruction signal line 53 to "1" and set the count up instruction signal line 5 to "1".
2 is set to "0", the load instruction signal line 54 is set to "1", and the clear instruction signal line 55 is set to "1", and a pulse is input to the clock signal. In this case, the shift-in data signal passes through AND gate 5-4, passes through OR gate 2-4, and is set in flip-flop 1-4, and the outputs of flip-flops 1-1, 1-2, and 1-3 are ANDed. Gates 5-1, 5-2, and 5-
3 and or gate 2-1, 2-2, and 2-
3 to flip-flops 1-1, 1-2, and 1-3. Flip Flop 1-
A value of 1 may be used as other shift-in data. To explain using the waveform diagram at the time of shift instruction in FIG. 2, when the clear signal line 55 is "1", the load instruction signal line 54 is "1", and the count up instruction signal line 52 is "0", the shift instruction signal is Shift-in data signal line 51 and counter output signal lines 58-4, 58-3, and 58 at the rising edge of the clock pulse when line 53 is "1".
-2 outputs are flip-flops 1-4, respectively.
1-3, 1-2, and 1-1, and counter output signal lines 58-4, 58-3, 58-2,
and the signal 58-1 changes. By providing the shift function as described in detail above, the present invention has the effect of facilitating testing of a package or device using the counter integrated circuit of the present invention and easily collecting information in the event of a failure.
第1図は本発明によるカウンタ集積回路の一実
施例を示すブロツク図である。第2図は第1図の
回路の動作を説明するための波形図である。
1−i……フリツプフロツプ、2−i……オア
ゲート、3−i,4−i,5−i,7−i,8…
…アンドゲート、6……ナンドゲート。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a counter integrated circuit according to the present invention. FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuit of FIG. 1. 1-i...flip flop, 2-i...or gate, 3-i, 4-i, 5-i, 7-i, 8...
...And gate, 6...Nand gate.
Claims (1)
出力する入力ゲートと、 該保持手段の否定出力をカウントアツプ指示信
号に応答して出力するカウントアツプ用ゲート
と、 このカウントアツプ用ゲートからの出力データ
または該入力ゲートからの出力データをクロツク
信号により前記保持手段にラツチする手段とを含
み、 第i(i≧2)段目の回路群は、 保持手段と、 第i−1段目の保持手段の出力を前記シフト指
示信号に応答して出力するシフトゲートと、 前記第1段目から前記i−1段目までの保持手
段の出力と前記i段目の保持手段の否定出力と前
記カウントアツプ指示信号との論理積をとる第1
のカウントアツプ用ゲートと、 この第1のカウントアツプ用ゲートの否定出力
と前記i段目の保持手段の出力と前記カウントア
ツプ指示信号との論理積をとる第2のカウントア
ツプ用ゲートと、 該シフトゲートからの出力データ、該第1のカ
ウントアツプ用ゲートからの出力データまたは該
第2のカウントアツプ用ゲートからの出力データ
をクロツク信号により前記保持手段にラツチする
手段とを含み、 カウントアツプ動作時は、該シフト指示信号の
発生を停止して前記入力ゲートおよびシフトゲー
トによるシフト動作を抑止し、シフト動作時は前
記カウントアツプ指示信号の発生を停止して前記
カウントアツプ用ゲート、前記第1のカウントア
ツプ用ゲートおよび前記第2のカウントアツプ用
ゲートによるカウントアツプ動作を抑止すること
を特徴とするシフト機能付きカウンタ集積回路。[Claims] 1. The first stage circuit group includes a holding means, an input gate that outputs shift-in data in response to a shift instruction signal, and a negative output of the holding means in response to a count-up instruction signal. an i-th (i≧2) stage, the i-th (i≧2) stage comprising: a count-up gate for outputting the count-up gate; and means for latching the output data from the count-up gate or the output data from the input gate to the holding means using a clock signal; The second circuit group includes: a holding means; a shift gate that outputs the output of the i-1st stage holding means in response to the shift instruction signal; a first logical product of the output of the holding means, the negative output of the i-th holding means, and the count up instruction signal;
a second count-up gate that calculates the AND of the negative output of the first count-up gate, the output of the i-th stage holding means, and the count-up instruction signal; and means for latching the output data from the shift gate, the output data from the first count-up gate, or the output data from the second count-up gate to the holding means by a clock signal, and performs a count-up operation. During the shift operation, the generation of the shift instruction signal is stopped to inhibit the shift operation by the input gate and the shift gate, and during the shift operation, the generation of the count-up instruction signal is stopped and the count-up gate and the first A counter integrated circuit with a shift function, characterized in that the count-up operation by the count-up gate and the second count-up gate is suppressed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12430881A JPS5825722A (en) | 1981-08-07 | 1981-08-07 | Counter integrated circuit with shift function |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12430881A JPS5825722A (en) | 1981-08-07 | 1981-08-07 | Counter integrated circuit with shift function |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5825722A JPS5825722A (en) | 1983-02-16 |
JPH046134B2 true JPH046134B2 (en) | 1992-02-04 |
Family
ID=14882112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12430881A Granted JPS5825722A (en) | 1981-08-07 | 1981-08-07 | Counter integrated circuit with shift function |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5825722A (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2741708B2 (en) * | 1988-04-07 | 1998-04-22 | 富士通株式会社 | Semiconductor device |
US5372401A (en) * | 1991-03-08 | 1994-12-13 | Mazda Motor Corporation | Sliding roof for an automobile |
-
1981
- 1981-08-07 JP JP12430881A patent/JPS5825722A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5825722A (en) | 1983-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3806891A (en) | Logic circuit for scan-in/scan-out | |
US3783254A (en) | Level sensitive logic system | |
US4293919A (en) | Level sensitive scan design (LSSD) system | |
US4074851A (en) | Method of level sensitive testing a functional logic system with embedded array | |
US4063078A (en) | Clock generation network for level sensitive logic system | |
JPS60124744A (en) | Error testing and diagnosing apparatus | |
JPS6118778B2 (en) | ||
US4649539A (en) | Apparatus providing improved diagnosability | |
US5378934A (en) | Circuit having a master-and-slave and a by-pass | |
Khakbaz et al. | Concurrent error detection and testing for large PLA's | |
US3740646A (en) | Testing of non-linear circuits by accumulated result comparison | |
JPH046134B2 (en) | ||
US4667339A (en) | Level sensitive latch stage | |
JPH0769396B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPS60239836A (en) | Fault diagnosis method for logic circuits | |
US6789222B2 (en) | Single-pass methods for generating test patterns for combinational circuits | |
JP3278833B2 (en) | Logic circuit test method, test input circuit and test output circuit | |
JPS62252214A (en) | Asynchronous type counter circuit with diagnosis circuit | |
JP2572971B2 (en) | Flip-flop equivalent circuit | |
JPS6144342B2 (en) | ||
JPH01197675A (en) | Diagnosing method for logic circuit | |
JP2786017B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor integrated circuit | |
JPH0744417A (en) | Test circuit for microcomputer | |
Razavi et al. | A new balanced gate for structural testing | |
JPH0627774B2 (en) | Failure simulation method |