[go: up one dir, main page]

JPH0454198B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0454198B2
JPH0454198B2 JP23217486A JP23217486A JPH0454198B2 JP H0454198 B2 JPH0454198 B2 JP H0454198B2 JP 23217486 A JP23217486 A JP 23217486A JP 23217486 A JP23217486 A JP 23217486A JP H0454198 B2 JPH0454198 B2 JP H0454198B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sine wave
output
trigger
wave signal
converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP23217486A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6385489A (en
Inventor
Shusaku Shimada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP23217486A priority Critical patent/JPS6385489A/en
Publication of JPS6385489A publication Critical patent/JPS6385489A/en
Publication of JPH0454198B2 publication Critical patent/JPH0454198B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は微小時間差計測回路に関し、更に詳し
くはトリガパルスが発生してからサンプリングパ
ルスが発生するまでの時間を正確に計測すること
ができる微小時間差計測回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a minute time difference measuring circuit, and more specifically to a minute time difference measuring circuit that can accurately measure the time from the generation of a trigger pulse to the generation of a sampling pulse. This invention relates to a time difference measurement circuit.

(従来の技術) デイジタルオシロスコープ等においては、繰り
返し波形をA/D変換する時にトリガポイントと
サンプリングパルス間の微小時間差を計測するこ
とが有用である。この微小時間差を計測すること
により、ランダムサンプルにより等価サンプルレ
ートを高くした場合にもプリ・トリガ(トリガポ
イント以前の観測)が可能となる。
(Prior Art) In a digital oscilloscope or the like, it is useful to measure a minute time difference between a trigger point and a sampling pulse when A/D converting a repetitive waveform. By measuring this minute time difference, pre-triggering (observation before the trigger point) is possible even when the equivalent sampling rate is increased by random sampling.

第7図は種々のサンプルモードを示す図であ
る。イはリアルタイムサンプルを、ロはシーケン
シヤルサンプルを、ハはランダムサンプルをそれ
ぞれ示す。各サンプルにおいて、波形上の数字は
サンプルの順序をそれぞれ示している。イに示す
リアルタイムサンプルの場合には、この数字が全
てであり、1回の現象の発生時に全点をサンプ
ルすることを示している。これに対し、ロに示す
シーケンシヤルサンプルの場合には、繰り返し発
生する現象を発生する毎に経時的に所定の間隔で
サンプル点をずらせて,,……とシーケン
シヤルにサンプルしていく。又、ハに示すランダ
ムサンプルの場合には、繰り返し発生する現象を
図に示すようにランダムに波形の位置をサンプル
している。従つて、ランダムサンプルはリアルタ
イムサンプルに比較して同一のサンプルレートの
A/D変速器を用いてより高速の繰り返し現象を
捕捉観測できることがわかる。又、通常のサンプ
リングオシロスコープと比較してトリガポイント
以前の現象を観測することができる。このような
ランダムサンプルを実現するためには、A/D変
換器のサンプリングパルスと、トリガポイントと
のズレの量つまり微小時間差を計測する必要があ
る。
FIG. 7 is a diagram showing various sample modes. A indicates a real-time sample, B indicates a sequential sample, and C indicates a random sample. In each sample, the numbers on the waveform indicate the order of the sample. In the case of the real-time sample shown in A, this number is the entire number, indicating that all points are sampled when a single phenomenon occurs. On the other hand, in the case of sequential sampling shown in (b), the sampling point is shifted over time at a predetermined interval each time a repeatedly occurring phenomenon occurs, and the sample is sequentially sampled. In the case of the random sample shown in C, the position of the waveform is sampled at random as shown in the figure to detect a phenomenon that occurs repeatedly. Therefore, it can be seen that, compared to real-time sampling, random sampling allows for capturing and observing repetitive phenomena at a higher speed using an A/D converter with the same sample rate. Also, compared to a normal sampling oscilloscope, it is possible to observe phenomena before the trigger point. In order to realize such random sampling, it is necessary to measure the amount of deviation between the sampling pulse of the A/D converter and the trigger point, that is, the minute time difference.

第8図は従来の微小時間差計測装置の構成例を
示す図、第9図は各部の動作を示すタイミングチ
ヤートである。入力信号とトリガ制御信号を受け
て、トリガ発生回路1は第9図イに示すようなト
リガ信号を発生する。このトリガ信号はコンデン
サCの短絡用スイツチSW1を第9図ロに示すよう
にオフにする。この時点では、電流源2に直列接
続されるスイツチSW2は第9図ホに示すようにオ
ンになつている。従つて、トリガ信号が発生した
時刻t1からコンデンサCに定電流Iが注入され、
コンデンサCの電圧Vaは第9図ヘに示すように
漸増する。
FIG. 8 is a diagram showing an example of the configuration of a conventional minute time difference measuring device, and FIG. 9 is a timing chart showing the operation of each part. Upon receiving the input signal and the trigger control signal, the trigger generation circuit 1 generates a trigger signal as shown in FIG. 9A. This trigger signal turns off the shorting switch SW1 of the capacitor C as shown in FIG. 9B. At this point, the switch SW2 connected in series with the current source 2 is turned on as shown in FIG. 9E. Therefore, a constant current I is injected into the capacitor C from time t1 when the trigger signal is generated,
The voltage Va of the capacitor C gradually increases as shown in FIG.

一方、トリガ信号は第1のDタイプフリツプフ
ロツプ3のD入力にも入つており、CLK入力に
入るA/D変換器のサンプルクロツクの最初の立
上り(時刻t2、第9図ハ参照)によりD入力デー
タ(この場合は“1”レベル)がラツチされ、そ
1出力は第9図ニに示すようにそれまでの
“1”から“0”に立下る。この1信号によりス
イツチSW2は第9図ホに示すようにオンからオフ
になる。この結果、コンデンサCへの電流Iの注
入はストツプし、この時までの電圧状態が第9図
ヘに示すように保持される。ここで、コンデンサ
Cの保持電圧Vaはt1からt2までの微小時間差Δt
に比例するから、この電圧Vaを時間差計測用
A/D変換器4でデイジタルデータに変換し、時
間差Δtを計測することができる。
On the other hand, the trigger signal is also input to the D input of the first D-type flip-flop 3, and the trigger signal is input to the CLK input at the first rising edge of the sample clock of the A/D converter (time t 2 , shown in FIG. 9). ), the D input data (in this case, level "1") is latched, and its one output falls from "1" to "0" as shown in FIG. 9D. This one signal turns the switch SW2 from on to off as shown in FIG. 9(e). As a result, the injection of current I into capacitor C is stopped, and the voltage state up to this point is maintained as shown in FIG. Here, the holding voltage Va of the capacitor C is the minute time difference Δt from t 1 to t 2
Since it is proportional to , this voltage Va can be converted into digital data by the time difference measuring A/D converter 4 and the time difference Δt can be measured.

A/D変換器4に入力されるA/Dスタート信
号は、第2のDタイプフリツプフロツプ5の2
出力から与えられる。即ち、第2のフリツプフロ
ツプ5のD入力には第1のフリツプフロツプ3の
Q1出力が入つており、CLK入力にはA/D変換
器のサンプルクロツクが入つており、第9図ハに
示すように時刻t3における立上りで2出力を
“0”から“1”に転じる。そして、この2信号
をA/D変換器4のA/Dスタート信号として用
いる。
The A/D start signal input to the A/D converter 4 is input to the second D-type flip-flop 5 .
given from the output. That is, the D input of the second flip-flop 5 is connected to the D input of the first flip-flop 3.
The Q 1 output is input, and the sample clock of the A/D converter is input to the CLK input, and the 2 output changes from “0” to “1” at the rising edge at time t 3 , as shown in Figure 9 (c). Turn to These two signals are then used as A/D start signals for the A/D converter 4.

(発明が解決しようとする問題点) 前述した従来装置の場合、微小時間差の測定精
度は主としてコンデンサC及びスイツチSW1
SW2の特性にかかつてくる。一般にコンデンサC
にはもれ抵抗直列インダクタンス、直列抵抗が存
在し、微小時間差が1nsec以下のような場合、直
列インダクタンスが大きなインピーダンスとな
り、測定精度を低下させる。又、キヤパシタンス
の容量精度とその安定度が必要であるが、一般に
高周波特性が良い高精度、高安定のコンデンサを
得ることは極めて困難であり、特性も経時的に変
化する。
(Problems to be Solved by the Invention) In the case of the conventional device described above, the measurement accuracy of minute time differences is mainly due to the capacitor C and the switch SW 1 ,
It depends on the characteristics of SW 2 . Generally capacitor C
There is a leakage resistance series inductance and a series resistance, and when the minute time difference is 1 nsec or less, the series inductance becomes a large impedance and reduces measurement accuracy. Further, capacitance accuracy and stability are necessary, but it is generally extremely difficult to obtain a highly accurate and highly stable capacitor with good high frequency characteristics, and the characteristics also change over time.

更に、従来装置の場合、スイツチSW1をオフに
する時と、スイツチSW2をオフにするタイミング
が競合してきた時に、スイツチング時の電荷注入
による測定誤差が生じる。以上の理由により、従
来の装置によれば、高精度の時間差測定を行うこ
とが困難である。
Furthermore, in the case of the conventional device, when the timing of turning off switch SW 1 and the timing of turning off switch SW 2 conflict, a measurement error occurs due to charge injection during switching. For the above reasons, it is difficult to measure time differences with high precision using conventional devices.

本発明はこのような点に鑑みてなされたもので
あつて、その目的は、高精度の時間差測定を行う
ことができる微小時間差計測装置を実現すること
にある。
The present invention has been made in view of these points, and an object thereof is to realize a minute time difference measuring device that can measure time differences with high precision.

(問題点を解決するための手段) 前記した問題点を解決する本発明は、正弦波発
振器の出力をパルス化してA/D変換器用のサン
プルクロツクとすると共に、正弦波発振器の出力
の位相をずらして余弦波をつくり、トリガ発生回
路からのトリガパルスにより正弦波及び余弦波の
同一時刻におけるそれぞれの振幅値或いは正弦波
のみの所定時間離れた時刻における2つの振幅値
を測定し、これら測定値に基づいてトリガ時刻と
サンプリング時刻との微小時間差を計測するよう
に構成したことを特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention, which solves the above problems, pulses the output of a sine wave oscillator to use it as a sample clock for an A/D converter, and also changes the phase of the output of the sine wave oscillator. A cosine wave is created by shifting the sine wave, and a trigger pulse from the trigger generation circuit is used to measure the respective amplitude values of the sine wave and cosine wave at the same time, or two amplitude values of only the sine wave at a predetermined time apart, and these measurements are performed. The present invention is characterized in that it is configured to measure a minute time difference between the trigger time and the sampling time based on the value.

(作用) クロツクパルスをつくる正弦波発振器から正弦
波と余弦波をつくり同一時刻(トリガポイント)
におけるそれぞれの振幅値或いは所定時間離れた
時刻における正弦波の2つの振幅値からトリガ時
刻とサンプリング時刻までの時間差を計測する。
(Function) A sine wave and a cosine wave are generated from the sine wave oscillator that generates the clock pulse at the same time (trigger point).
The time difference between the trigger time and the sampling time is measured from each amplitude value of the sine wave or two amplitude values of the sine wave at times separated by a predetermined time.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す構成ブロツク
図である。図において、11は基準となる正弦波
を発生させる正弦波発振器、12は該正弦波発振
器11の出力を受けて正弦波の純度を向上させる
フイルタ、13は高純度の正弦波を受けてOレベ
ルと比較し、A/D変換器のサンプルクロツクを
発生するコンパレータである。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. In the figure, 11 is a sine wave oscillator that generates a reference sine wave, 12 is a filter that receives the output of the sine wave oscillator 11 and improves the purity of the sine wave, and 13 is a filter that receives the high purity sine wave and reaches an O level. This is a comparator that generates a sample clock for the A/D converter.

14,15はフイルタ12を通過した正弦波信
号を受けるバツフア、16はバツフア14の出力
を受けるバツフア、17はバツフア16の出力を
デイジタルデータに変換する時間差計測用の第1
のA/D変換器、18はバツフア15の出力を受
けて90°位相をずらす移相器、19は該移相器1
8の出力を受けるバツフア、20はバツフア19
出力をデイジタルデータに変換する時間差計測用
の第2のA/D変換器である。尚、バツフア14
と16はなくてもよい。即ち、これらバツフア1
4と16を通過した信号は同位相であるので、後
段回路との整合性が問題にならない時には省略で
きる。
14 and 15 are buffers that receive the sine wave signal that has passed through the filter 12; 16 is a buffer that receives the output of the buffer 14; and 17 is a first buffer for time difference measurement that converts the output of the buffer 16 into digital data.
18 is a phase shifter that receives the output of the buffer 15 and shifts the phase by 90°; 19 is the phase shifter 1;
Buffer that receives the output of 8, 20 is buffer 19
This is a second A/D converter for time difference measurement that converts the output into digital data. In addition, Batsuhua 14
and 16 may be omitted. That is, these buffers 1
Since the signals passing through 4 and 16 are in the same phase, they can be omitted if consistency with subsequent circuits is not an issue.

移相器18としては、例えばデイレイラインが
用いられる。デイレイラインが用いられた場合、
その遅延時間は正弦波周波数に対して90°の位相
になるように選択する。従つて、移相器18の出
力は90°遅れることになるので90°だけ位相が遅れ
た正弦波、即ち余弦波が出力される。21は入力
信号及びトリガ制御信号を受けてトリガパルスを
発生するトリガ発生回路で、その出力は第1
(#1)及び第2(#2)のA/D変換器17,2
0にA/Dスタート信号として入つている。この
ように構成された装置の動作を第2図に示すタイ
ミングチヤートを参照して詳細に説明する。
As the phase shifter 18, for example, a delay line is used. If a day line is used,
The delay time is selected to be in phase at 90° with respect to the sine wave frequency. Therefore, since the output of the phase shifter 18 is delayed by 90 degrees, a sine wave, ie, a cosine wave, whose phase is delayed by 90 degrees is output. 21 is a trigger generation circuit that receives an input signal and a trigger control signal and generates a trigger pulse; its output is the first
(#1) and second (#2) A/D converters 17, 2
0 as the A/D start signal. The operation of the apparatus configured as described above will be explained in detail with reference to the timing chart shown in FIG.

発振器11から発生された第2図のロのf1に示
すような正弦波は、フイルタ12によりノイズ成
分が除去された後、コンパレータ13に入りOレ
ベルと比較される。この結果、コンパレータ13
は第2図イに示すようなA/D変換器のサンプル
クロツクを発生し、このサンプルクロツクはサン
プリング用A/D変換器(図示せず)にA/Dス
タート信号として与えられる。
A sine wave as shown at f1 in FIG. 2B generated by the oscillator 11 has noise components removed by the filter 12, and then enters the comparator 13 and is compared with the O level. As a result, comparator 13
generates a sample clock for the A/D converter as shown in FIG. 2A, and this sample clock is applied as an A/D start signal to a sampling A/D converter (not shown).

一方、正弦波信号はバツフア15う経て移相器
18に入り、90°位相を遅らせられる。この結果、
正弦波信号をsinωt(ω;角周波数)とすると、移
相器18の出力は sin(ωt−90°)=−cosωt となり余弦波信号が得られる。この余弦波信号を
第2図ロのf2に示す。移相器18の出力はバツフ
ア19を経て第2のA/D変換器20に入力され
る。正弦波信号はバツフア14,16を経て第1
のA/D変換器17に入力される。
On the other hand, the sine wave signal passes through the buffer 15, enters the phase shifter 18, and is delayed in phase by 90°. As a result,
If the sine wave signal is sinωt (ω; angular frequency), the output of the phase shifter 18 becomes sin(ωt−90°)=−cosωt, and a cosine wave signal is obtained. This cosine wave signal is shown at f2 in FIG. The output of the phase shifter 18 is input to a second A/D converter 20 via a buffer 19. The sine wave signal passes through buffers 14 and 16 to the first
The signal is input to the A/D converter 17 of.

ここで、時刻tにおいてトリガ発生回路21か
ら第2図ハに示すようなトリガパルスが発生した
ものとすると、2つのA/D変換器17,20は
時刻tにおける入力信号をA/D変換してデイジ
タルデータに変換する。この時の第1のA/D変
換器17の変換データをY、第2のA/D変換器
20の変換データをXとするとX,Y,ωtの間
には、第3図に示すような関係があるからコンパ
レータ13の出力を基準時間として次式が成立す
る。
Here, assuming that the trigger pulse shown in FIG. 2C is generated from the trigger generation circuit 21 at time t, the two A/D converters 17 and 20 A/D convert the input signal at time t. and convert it into digital data. If the conversion data of the first A/D converter 17 at this time is Y, and the conversion data of the second A/D converter 20 is X, then the relationship between X, Y, and ωt is as shown in FIG. Since there is a relationship, the following equation holds true using the output of the comparator 13 as the reference time.

Y=a sin ωt ……(1) X=−a cos ωt ……(2) 但し a=√22 (1),(2)式をそれぞれtについて解くと t=(1/ω)sin-1(Y/√22) ……(3) t=(1/ω)cos-1(−X/√22) ……(4) (3)又は(4)式におけるtは、求めるべき微小時間
差そのものである。従つて、(3)式又は(4)式を演算
することにより微小時間差を求めることができ
る。
Y=a sin ωt...(1) X=-a cos ωt...(2) However, a=√ 2 + 2 Solving equations (1) and (2) for t, respectively, t=(1/ω) sin -1 (Y/√ 2 + 2 ) ...(3) t=(1/ω)cos -1 (-X/√ 2 + 2 ) ...(4) t in equation (3) or (4) is , is the very minute time difference that should be found. Therefore, by calculating the equation (3) or (4), the minute time difference can be obtained.

本発明によれば、従来装置のようにコンデンサ
に電流を注入したり、スイツチで切換えたりする
必要がないので高精度に微小時間差を計測するこ
とができる。尚、トリガパルスを発生する時刻
は、第2図に示すようにX,Y共にA/D変換器
のフルスケール近辺でA/D変換が行われるべく
セツトすることにより計測精度を上げることがで
きる。
According to the present invention, unlike conventional devices, there is no need to inject current into a capacitor or to switch using a switch, so minute time differences can be measured with high precision. Furthermore, measurement accuracy can be improved by setting the time at which the trigger pulse is generated so that A/D conversion is performed near the full scale of the A/D converter for both X and Y, as shown in Figure 2. .

第4図は本発明の他の実施例を示す構成ブロツ
ク図である。第1図と同一とものは、同一の番号
を付して示す。図に示す実施例は、正弦波は1つ
で、トリガパルスを移相器で90°遅らせて、同一
正弦波信号の2点の値を測定し、等価的に正弦波
信号と余弦波信号の同時刻における値を測定する
のと同一の効果を奏しめるようにしたものであ
る。
FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. Components that are the same as those in FIG. 1 are designated by the same numbers. In the example shown in the figure, there is only one sine wave, the trigger pulse is delayed by 90 degrees using a phase shifter, and the values at two points of the same sine wave signal are measured. This is designed to have the same effect as measuring values at the same time.

図において、フイルタ12の出力(正弦波信
号)はコンパレータ13に入ると共にバツフア3
0を経て時間差計測用A/D変換器31に入る。
一方、トリガ発生回路21から出力されたトリガ
パルスはバツフア32及びオアゲート35に入
る。オアゲート35から出力されたトリガパルス
はA/D変換器31にA/Dスタート信号として
入り、時刻tにおける正弦波信号の値を測定す
る。
In the figure, the output (sine wave signal) of the filter 12 enters the comparator 13 and the buffer 3.
0 and enters the A/D converter 31 for time difference measurement.
On the other hand, the trigger pulse output from the trigger generation circuit 21 enters the buffer 32 and the OR gate 35. The trigger pulse output from the OR gate 35 enters the A/D converter 31 as an A/D start signal and measures the value of the sine wave signal at time t.

一方、ゲート32に入つたトリガパルスは、デ
イレイ回路33に入つて、ωtの90°に相当する時
間差だけ遅らされる。この遅延されたトリガパル
スは、バツフア34を経てオアゲート35に入
る。この結果、オアゲート35からは図に示すよ
うに時間差Tの2個のパルスが出力されてA/D
変換器31に与えられることになる。時間差T
は、前述したようにデイレイ回路33によつて遅
らされる遅れ時間でωtの90°に相当する時間差で
ある。最初のパルスにより、時刻tにおける正弦
波信号の値が測定され、次のパルスで時間T後に
おける正弦波信号の値が測定される。このT後の
正弦波信号の値は、とりもなおさず時刻tにおけ
る余弦波信号の値と同じであるので、最初の測定
値をY、次の測定値をXとして(3),(4)式がそのま
ま適用できる。このようにして、第4図に示す実
施例では、A/D変換器を1個にすることができ
る。
On the other hand, the trigger pulse that has entered the gate 32 enters the delay circuit 33 and is delayed by a time difference corresponding to 90° of ωt. This delayed trigger pulse passes through buffer 34 and enters OR gate 35. As a result, two pulses with a time difference T are output from the OR gate 35 as shown in the figure, and the A/D
It will be applied to converter 31. Time difference T
is a delay time delayed by the delay circuit 33 as described above, and is a time difference corresponding to 90° of ωt. The first pulse measures the value of the sinusoidal signal at time t, and the next pulse measures the value of the sinusoidal signal after time T. The value of the sine wave signal after T is the same as the value of the cosine wave signal at time t, so if the first measurement value is Y and the next measurement value is X, (3), (4) The formula can be applied as is. In this way, in the embodiment shown in FIG. 4, the number of A/D converters can be reduced to one.

又、上記の90°の遅延は、270°、450°等の遅延で
あつても、同一の原理で(3),(4)式がそのまま適用
出来る。
Furthermore, even if the delay of 90° is 270°, 450°, etc., equations (3) and (4) can be applied as they are based on the same principle.

デイジタルオシロスコープを実現する場合、第
5図に示すようにアナログ入力を複数個のサンプ
ルホールド回路と、A/D変換器を用いてシーケ
ンシヤルパルスによりA/D変換器を順次使用し
て高速サンプルレートを得る方法が公知である。
このような構成を用いた時、第4図に示す微小時
間差計測装置は図に示す複数個のA/D変換器の
うちで“空いている”1つを用いることにより時
間差計測用A/D変換器を省略することができ
る。
When realizing a digital oscilloscope, as shown in Figure 5, the analog input is converted to a high-speed sample rate by using multiple sample and hold circuits and an A/D converter using sequential pulses. There are known methods for obtaining .
When such a configuration is used, the minute time difference measuring device shown in FIG. The converter can be omitted.

第6図は、このような考え方に基づいた本発明
の他の実施例を示す構成ブロツク図である。第4
図と同一のものは同一の符号を付して示す。フイ
ルタ12を通過した正弦波信号をバツフア41を
介して高速サンプルレート回路の各チヤネル入力
に与える。そして、スイツチの切換えにより、ア
ナログ入力と正弦波信号の何れか一方をサンプル
ホールド回路に入力するようにしている。オアゲ
ート35から出力される2個のトリガパルスは高
速サンプルレート回路側の制御回路42に入る。
制御回路42は、空いているチヤネルを捜して、
空いているチヤネルに正弦波信号を入れ、2個の
正弦波信号測定値を得る。
FIG. 6 is a block diagram showing another embodiment of the present invention based on this idea. Fourth
Components that are the same as those in the figures are designated by the same reference numerals. The sine wave signal that has passed through the filter 12 is applied via a buffer 41 to each channel input of the high-speed sample rate circuit. By switching the switch, either the analog input or the sine wave signal is input to the sample and hold circuit. The two trigger pulses output from the OR gate 35 enter the control circuit 42 on the high sample rate circuit side.
The control circuit 42 searches for an empty channel and
Put a sine wave signal into the empty channel and obtain two sine wave signal measurements.

(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、
サンプルレート用のクロツクパルスをつくる正弦
波発振器から正弦波と余弦波をつくり同一時刻
(トリガポイント)における正弦波、余弦波の値
からトリガ時刻とサンプリング時刻までの時間差
を計測することによりサンプルクロツク立上り時
からトリガポイントまでの微小時間差を高精度に
計測することができる微小時間差計測装置を実現
することができる。本発明によれば、コンデンサ
に注入される電流量を測定して微小時間差を測定
する方法を用いていないので、コンデンサ、スイ
ツチによる影響を受けず、又正弦波信号の振幅の
変動の影響を全く受けない。
(Effects of the Invention) As explained in detail above, according to the present invention,
A sine wave and a cosine wave are generated from a sine wave oscillator that generates clock pulses for the sample rate, and the sample clock rises by measuring the time difference between the trigger time and the sampling time from the values of the sine wave and cosine wave at the same time (trigger point). It is possible to realize a minute time difference measuring device that can measure a minute time difference between the time and the trigger point with high precision. According to the present invention, since the method of measuring the minute time difference by measuring the amount of current injected into the capacitor is not used, it is not affected by the capacitor or switch, and is completely free from the influence of fluctuations in the amplitude of the sine wave signal. I don't accept it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す構成ブロツク
図、第2図は各部の動作を示すタイミングチヤー
ト、第3図はX,Y測定時の説明図、第4図は本
考案の他の実施例を示す構成ブロツク図、第5図
はサンプルレート回路の構成図、第6図は本発明
の他の実施例を示す構成ブロツク図、第7図は
種々のサンプルモードを示す図、第8図は従来装
置の構成ブロツク図、第9図は各部の動作を示す
タイミングチヤートである。 1,21……トリガ発生回路、2……定電流
源、3,5……フリツプフロツプ、4,17,2
0,31……A/D変換器、11……発振器、1
2……フイルタ、13……コンパレータ、14〜
16,19,30,32,34,41……バツフ
ア、18……移相器、33……デイレイ回路、3
5……オアゲート、42……制御回路、SW1
SW2……スイツチ。
Fig. 1 is a configuration block diagram showing one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a timing chart showing the operation of each part, Fig. 3 is an explanatory diagram during X, Y measurement, and Fig. 4 is another example of the present invention. FIG. 5 is a configuration block diagram showing an embodiment, FIG. 5 is a configuration diagram of a sample rate circuit, FIG. 6 is a configuration block diagram showing another embodiment of the present invention, FIG. 7 is a diagram showing various sample modes, and FIG. The figure is a configuration block diagram of a conventional device, and FIG. 9 is a timing chart showing the operation of each part. 1, 21... Trigger generation circuit, 2... Constant current source, 3, 5... Flip-flop, 4, 17, 2
0, 31... A/D converter, 11... Oscillator, 1
2...Filter, 13...Comparator, 14~
16, 19, 30, 32, 34, 41... Buffer, 18... Phase shifter, 33... Delay circuit, 3
5...OR gate, 42...control circuit, SW 1 ,
SW 2 ...Switch.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 非同期に発生するトリガ事象を検出するトリ
ガ・パルス発生回路、このトリガ事象の発生タイ
ミングを計測する為の基準となる周波数fの正弦
波信号を発生する正弦波信号発振器、この正弦波
信号発振器の出力をゼロ・レベルと比較し基準ク
ロツクを発生する基準クロツク発生器、前記トリ
ガ・パルス発生回路の出力パルスを前記正弦波信
号発振器の出力周波数fの位相角90度に相当する
時間遅延させるデイレイ回路、前記トリガ・パル
ス発生回路の出力パルスがサンプリング信号とし
て与えられて前記正弦波信号発振器の出力Yの値
をA/D変換すると共に、デイレイ回路の出力パ
ルスがサンプリング信号として与えられて前記正
弦波信号発振器の出力XをA/D変換するA/D
変換器、及びこのA/D変換器より得られる前記
YとXのデイジタル・データを基にして下式の演
算を行うことにより前記トリガ事象の発生タイミ
ングと基準クロツク間の時間差tを求める演算手
段を具備した微小時間差計測装置。 t=(1/ω)sin-1(Y/√22) 又は t=(1/ω)cos-1(−X/√22
[Claims] 1. A trigger pulse generation circuit that detects a trigger event that occurs asynchronously, a sine wave signal oscillator that generates a sine wave signal with a frequency f that is a reference for measuring the timing of occurrence of this trigger event, A reference clock generator generates a reference clock by comparing the output of the sine wave signal oscillator with a zero level, and the output pulse of the trigger pulse generation circuit corresponds to a phase angle of 90 degrees of the output frequency f of the sine wave signal oscillator. a delay circuit for delaying the time, the output pulse of the trigger pulse generation circuit is given as a sampling signal to A/D convert the value of the output Y of the sine wave signal oscillator, and the output pulse of the delay circuit is given as a sampling signal. an A/D that converts the output X of the sine wave signal oscillator into A/D;
converter and calculation means for calculating the time difference t between the trigger event occurrence timing and the reference clock by calculating the following formula based on the Y and X digital data obtained from the A/D converter. A minute time difference measurement device equipped with t=(1/ω)sin -1 (Y/√ 2 + 2 ) or t=(1/ω)cos -1 (-X/√ 2 + 2 )
JP23217486A 1986-09-30 1986-09-30 Slight time difference measuring instrument Granted JPS6385489A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23217486A JPS6385489A (en) 1986-09-30 1986-09-30 Slight time difference measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23217486A JPS6385489A (en) 1986-09-30 1986-09-30 Slight time difference measuring instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6385489A JPS6385489A (en) 1988-04-15
JPH0454198B2 true JPH0454198B2 (en) 1992-08-28

Family

ID=16935162

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23217486A Granted JPS6385489A (en) 1986-09-30 1986-09-30 Slight time difference measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6385489A (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2678071B1 (en) * 1991-06-18 1994-11-04 Thomson Csf ELECTRONIC DELAY MEASUREMENT DEVICE.
JP4578686B2 (en) * 1998-12-16 2010-11-10 マイクロソフト インターナショナル ホールディングス ビイ.ヴイ. 3D camera
JP2006133214A (en) 2004-10-04 2006-05-25 Topcon Corp Time difference measuring device, measuring method, distance measuring device and distance measuring method
JP4878127B2 (en) * 2005-06-10 2012-02-15 株式会社トプコン Time difference measuring device, distance measuring device, and distance measuring method
US7378854B2 (en) * 2005-10-28 2008-05-27 Teradyne, Inc. Dual sine-wave time stamp method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6385489A (en) 1988-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100353169C (en) Method for testing electronic component and its instrument
US5578917A (en) Repetitive digital sampling circuit using two delay lines for improved time accuracy
Huang et al. An on-chip short-time interval measurement technique for testing high-speed communication links
US4733167A (en) Measurement circuit for digital to analog converter
US20020136337A1 (en) Method and apparatus for high-resolution jitter measurement
JPH0454198B2 (en)
US7057978B2 (en) Time interval measurement device
JPS6263885A (en) Time width measuring instrument
US4181949A (en) Method of and apparatus for phase-sensitive detection
RU2338212C1 (en) Method for defining phase shift angle between two signals represented by digital readings
RU2196998C2 (en) Procedure measuring constant component of harmonic signal
JPH08122465A (en) Device of measuring time
JP2587970B2 (en) Impedance measuring device
Sounders et al. Measurement of the transient versus steady-state response of waveform recorders
RU2020579C1 (en) Device for measuring relations of amplitudes of quasisinusoidal signals
SU805418A1 (en) Device for testing aperture time of analogue storage units
RU2207579C1 (en) Digital phase-meter
SU1360550A1 (en) Device for measuring errors of a-d converters
SU1420557A1 (en) Apparatus for measuring parameters of small irregularities of elements and paths in uhf devices
SU1596269A1 (en) Digital low-frequency phase meter
RU2338213C1 (en) Method for phase shift angle defining between two signals represented by digital readings
SU798631A1 (en) Method of measuring complex-impedance components
SU1038885A1 (en) Tracking phase meter
RU2068178C1 (en) Device processing signals of resonance shf moisture meter
JPH04296668A (en) Device for measuring sampling circuit transmission characteristics