JPH0453094B2 - - Google Patents
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- JPH0453094B2 JPH0453094B2 JP20655586A JP20655586A JPH0453094B2 JP H0453094 B2 JPH0453094 B2 JP H0453094B2 JP 20655586 A JP20655586 A JP 20655586A JP 20655586 A JP20655586 A JP 20655586A JP H0453094 B2 JPH0453094 B2 JP H0453094B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明はワイヤボンデイング装置、特にモニタ
上の画像を見ながらボンデイングすべき位置の指
定を行うワイヤボンデイング装置に関する。
上の画像を見ながらボンデイングすべき位置の指
定を行うワイヤボンデイング装置に関する。
(従来の技術)
半導体装置の製造方法において、半導体ペレツ
ト上のボンデイグパツドとインナリードとをボン
デイグワイヤにより電気的に接続するワイヤボン
デイング工程は極めて重要な工程である。この工
程には専用のワイヤボンデイング装置が用いられ
るが、ワイヤボンデイングを行うためには、この
ワイヤボンデイング装置に対してボンデイング位
置座標の入力を行わねばならない。この座標の入
力方法として、最も一般的なのはテイーチング作
業を行う方法である。この方法は、ワイヤボンデ
イングの対象物をTVカメラによつて局部的に拡
大してモニタ上に映し出し、このモニタ上の画像
を見ながらオペレータがボンデイングすべき位置
座標を指示するという作業を行うもので、次のよ
うな手順で行われる。
ト上のボンデイグパツドとインナリードとをボン
デイグワイヤにより電気的に接続するワイヤボン
デイング工程は極めて重要な工程である。この工
程には専用のワイヤボンデイング装置が用いられ
るが、ワイヤボンデイングを行うためには、この
ワイヤボンデイング装置に対してボンデイング位
置座標の入力を行わねばならない。この座標の入
力方法として、最も一般的なのはテイーチング作
業を行う方法である。この方法は、ワイヤボンデ
イングの対象物をTVカメラによつて局部的に拡
大してモニタ上に映し出し、このモニタ上の画像
を見ながらオペレータがボンデイングすべき位置
座標を指示するという作業を行うもので、次のよ
うな手順で行われる。
第1番ワイヤの始点となるべき対象物上の点
が、モニタ画像の中心位置に映し出されるよう
に、ボンデイグ装置のXYステージを移動調整
し、調整終了時に所定の入力スイツチを操作す
ることにより、始点の座標値をボンデイグ装置
内のRAMに記憶させる。これがいわゆるテイ
ーチング作業である。
が、モニタ画像の中心位置に映し出されるよう
に、ボンデイグ装置のXYステージを移動調整
し、調整終了時に所定の入力スイツチを操作す
ることにより、始点の座標値をボンデイグ装置
内のRAMに記憶させる。これがいわゆるテイ
ーチング作業である。
続いて第1番ワイヤの終点となるべき点の座
標値についても、同様のテイーチグ作業を行
い、RAMに記憶させる。
標値についても、同様のテイーチグ作業を行
い、RAMに記憶させる。
上述の手順、を全ワイヤについて順次行
つてゆく。
つてゆく。
最後に修正、変更を行うべきワイヤについ
て、再び手順、を行い修正、変更を行う。
また、ボンデイグ位置を全体的に平行移動して
修正する場合には、手順に示したテイーチン
グ作業と同様の作業により平行移動量を設定す
ればよい。
て、再び手順、を行い修正、変更を行う。
また、ボンデイグ位置を全体的に平行移動して
修正する場合には、手順に示したテイーチン
グ作業と同様の作業により平行移動量を設定す
ればよい。
(発明が解決しようとする問題点)
上述のように、テイーチング作業ではモニタ上
の画像を見ながらオペレータがボンデイング位置
の指示を行うが、この位置合わせを行う補助とし
て照準マークが用いられる。例えば第3図は、モ
ニタ上に表示された照準マークの一例を示すもの
で、十字形に配された照準線1と矩形パターン2
によつて照準マークが構成されている。オペレー
タはこの照準マークを指標として対象物中の目標
パターンをモニタ上の中心位置に位置合わせす
る。
の画像を見ながらオペレータがボンデイング位置
の指示を行うが、この位置合わせを行う補助とし
て照準マークが用いられる。例えば第3図は、モ
ニタ上に表示された照準マークの一例を示すもの
で、十字形に配された照準線1と矩形パターン2
によつて照準マークが構成されている。オペレー
タはこの照準マークを指標として対象物中の目標
パターンをモニタ上の中心位置に位置合わせす
る。
しかしながら、従来装置には種々の目標パター
ンに対して常に最適な照準マークを表示させるの
が困難であり、位置合わせ精度が低いという問題
があつた。例えば半導体ペレツト上のボンデイン
グパツドと、インナリードの先端部とをボンデイ
ングする場合、ボンデイグパツトおよびインナリ
ード先端部をモニタ上に交互に表示させて位置指
定を行うことになるが、ボンデイングパツドとイ
ンナリードとでは形状、大きさが異なるため、同
一の照準マークを用いると精確な位置合わせがで
きないのである。
ンに対して常に最適な照準マークを表示させるの
が困難であり、位置合わせ精度が低いという問題
があつた。例えば半導体ペレツト上のボンデイン
グパツドと、インナリードの先端部とをボンデイ
ングする場合、ボンデイグパツトおよびインナリ
ード先端部をモニタ上に交互に表示させて位置指
定を行うことになるが、ボンデイングパツドとイ
ンナリードとでは形状、大きさが異なるため、同
一の照準マークを用いると精確な位置合わせがで
きないのである。
このような問題点を解決するため、所望の大き
さ、縦横比をもつた矩形パターン2を設定しうる
装置も考案されているが、ボンデイグパツドから
インナリードへと目標パターンが異なるごとに矩
形パターンの大きさ、縦横比を変える必要がある
ため、作業は頻雑で多大な労力が必要となる。
さ、縦横比をもつた矩形パターン2を設定しうる
装置も考案されているが、ボンデイグパツドから
インナリードへと目標パターンが異なるごとに矩
形パターンの大きさ、縦横比を変える必要がある
ため、作業は頻雑で多大な労力が必要となる。
そこで本発明は種々の目標パターンに対して常
に最適な照準マークを表示させることができ、容
易にかつ精確なテイーチング作業を行うことがで
きるワイヤボンデイング装置を提供することを目
的とする。
に最適な照準マークを表示させることができ、容
易にかつ精確なテイーチング作業を行うことがで
きるワイヤボンデイング装置を提供することを目
的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、ワイヤボンデイング装置において、
ワイヤボンデイングすべき対象物を局部的に拡大
した画像を生成するモニタ装置と、このモニタ装
置の入力手段として用いるカメラと対象物との相
対位置を変化させてモニタ装置で生成される画像
の視野を変える変位手段と、互いに形状、大きさ
の異なる少なくとも2種類以上の照準マークを記
憶し、これらのうちのいずれか1つをモニタ装置
上の画像にオーバラツプさせて表示する照準表示
装置と、モニタ装置上に画像として表示させる対
象物中の目標パターンに応じて、最適の照準マー
クを選択し、照準表示装置にこの選択した照準マ
ークを表示させる表示選択手段とを設け、容易に
かつ精確なテイーチング作業を行うことができる
ようにしたものである。
ワイヤボンデイングすべき対象物を局部的に拡大
した画像を生成するモニタ装置と、このモニタ装
置の入力手段として用いるカメラと対象物との相
対位置を変化させてモニタ装置で生成される画像
の視野を変える変位手段と、互いに形状、大きさ
の異なる少なくとも2種類以上の照準マークを記
憶し、これらのうちのいずれか1つをモニタ装置
上の画像にオーバラツプさせて表示する照準表示
装置と、モニタ装置上に画像として表示させる対
象物中の目標パターンに応じて、最適の照準マー
クを選択し、照準表示装置にこの選択した照準マ
ークを表示させる表示選択手段とを設け、容易に
かつ精確なテイーチング作業を行うことができる
ようにしたものである。
(作用)
本装置によれば、あらかじめ目標パターンに最
適な照準マークを各目標パターンごとに設定して
おくことができる。しかも各目標パターンをモニ
タ装置に表示したときに、設定した最適な照準マ
ークをオーバラツプさせて表示させることができ
る。従つて常に精確なテイーチング作業を容易に
行うことができる。
適な照準マークを各目標パターンごとに設定して
おくことができる。しかも各目標パターンをモニ
タ装置に表示したときに、設定した最適な照準マ
ークをオーバラツプさせて表示させることができ
る。従つて常に精確なテイーチング作業を容易に
行うことができる。
(実施例)
以下、本発明を図示する実施例に基づいて説明
する。ここでは、ボンデイングパツドとインナリ
ード先端部とを相互にボンデイングする場合を考
える。はじめにオペレータはボンデイングパツド
およびインナリード先端部それぞれについて位置
合わせに最適な照準マークを設定する。例えばボ
ンデイングパツドについては第2図aに示すよう
な正方形状パターン2aを、インナリード先端部
については第2図bに示すような円形パターン2
bを、それぞれ設定すればよい。このとき、照準
マークを表示する装置に、縦横が任意の寸法を有
する四角形および半径が任意の寸法を有する円形
のパターンを自由に表示できる機能をもたせてお
けば、オペレータは容易に最適なパターン設定を
行うことができる。このようにして各目標パター
ン(ここではボンデイングパツドとインナリード
先端部)について設定された各照準マークは、装
置内に記憶される。
する。ここでは、ボンデイングパツドとインナリ
ード先端部とを相互にボンデイングする場合を考
える。はじめにオペレータはボンデイングパツド
およびインナリード先端部それぞれについて位置
合わせに最適な照準マークを設定する。例えばボ
ンデイングパツドについては第2図aに示すよう
な正方形状パターン2aを、インナリード先端部
については第2図bに示すような円形パターン2
bを、それぞれ設定すればよい。このとき、照準
マークを表示する装置に、縦横が任意の寸法を有
する四角形および半径が任意の寸法を有する円形
のパターンを自由に表示できる機能をもたせてお
けば、オペレータは容易に最適なパターン設定を
行うことができる。このようにして各目標パター
ン(ここではボンデイングパツドとインナリード
先端部)について設定された各照準マークは、装
置内に記憶される。
装置内には、この照準マークの他に、テイーチ
ング作業の順序を示す情報も記憶される。この実
施例では、第1番目のボンデイングパツドから始
まつて、第1番目のインナリード、第2番目のボ
ンデイングパツドド第2番目のインラリード、…
と順次テイーチング作業が行われてゆく。従つて
モニタ上には、ボンデイングパツドとインナリー
ドとを交互に表示しながらテイーチング作業を行
つてゆくことになる。そこで本装置では、記憶さ
れたテイーチング作業の順序を示す情報に基づい
て照準マークも交互に変えて表示を行う。例えば
ボンデイングパツド3についての位置指定を行う
際には、第1図aに示すように正方形状パターン
2aを選択して表示させ、インナリード4aまた
は4bについての位置指定を行う際には、第1図
bに示すように円形パターン2bを選択して表示
させる。このようにして、位置指定のための入力
操作に同期させて2つの照準マークを交互に切換
えて表示させるようにすれば、ボンデイングパツ
ド3の位置指定時には、これに最適の正方形状パ
ターン2aを用いた位置合わせができ、インナリ
ード4a,4bの位置指定時には、これに最適の
円形パターン2bを用いた位置合わせができるこ
とになる。しかも照準マークの切換えは、テイー
チング作業の順序を示す情報に基づいて自動的に
行われるため、煩雑な操作は一切必要ない。
ング作業の順序を示す情報も記憶される。この実
施例では、第1番目のボンデイングパツドから始
まつて、第1番目のインナリード、第2番目のボ
ンデイングパツドド第2番目のインラリード、…
と順次テイーチング作業が行われてゆく。従つて
モニタ上には、ボンデイングパツドとインナリー
ドとを交互に表示しながらテイーチング作業を行
つてゆくことになる。そこで本装置では、記憶さ
れたテイーチング作業の順序を示す情報に基づい
て照準マークも交互に変えて表示を行う。例えば
ボンデイングパツド3についての位置指定を行う
際には、第1図aに示すように正方形状パターン
2aを選択して表示させ、インナリード4aまた
は4bについての位置指定を行う際には、第1図
bに示すように円形パターン2bを選択して表示
させる。このようにして、位置指定のための入力
操作に同期させて2つの照準マークを交互に切換
えて表示させるようにすれば、ボンデイングパツ
ド3の位置指定時には、これに最適の正方形状パ
ターン2aを用いた位置合わせができ、インナリ
ード4a,4bの位置指定時には、これに最適の
円形パターン2bを用いた位置合わせができるこ
とになる。しかも照準マークの切換えは、テイー
チング作業の順序を示す情報に基づいて自動的に
行われるため、煩雑な操作は一切必要ない。
以上、本発明をボンデイングパツドとインナリ
イードとについての位置指定を行う例について説
明したが、本発明はこのような実施例だけに限定
されるわけではなく、例えば位置合わせ用の特殊
なパターンについての位置指定にも利用できる。
あらかじめ設定する照準マークの数も、上述の実
施例のように2つに限定されるわけではなく、目
標パターンの種類に応じて3以上記憶させること
も可能である。
イードとについての位置指定を行う例について説
明したが、本発明はこのような実施例だけに限定
されるわけではなく、例えば位置合わせ用の特殊
なパターンについての位置指定にも利用できる。
あらかじめ設定する照準マークの数も、上述の実
施例のように2つに限定されるわけではなく、目
標パターンの種類に応じて3以上記憶させること
も可能である。
以上のとおり本発明によれば、ワイヤボンデイ
ング装置において、少なくとも2種類以上の照準
マークを記憶させておき、モニタ上に表示された
目標パターンに応じて最適の照準マークを選択し
て表示させるようにしたため、種々の目標パター
ンに対して常に最適な照準マークを表示させるこ
とができ、容易にかつ精確なテイーチング作業が
可能になる。
ング装置において、少なくとも2種類以上の照準
マークを記憶させておき、モニタ上に表示された
目標パターンに応じて最適の照準マークを選択し
て表示させるようにしたため、種々の目標パター
ンに対して常に最適な照準マークを表示させるこ
とができ、容易にかつ精確なテイーチング作業が
可能になる。
第1図は本発明に係るワイヤボンデイング装置
によるテイーチング作業の説明図、第2図は本発
明に係るワイヤボンデイング装置における照準マ
ークの設定状態を示す説明図、第3図は従来のワ
イヤボンデイング装置における照準マークの設定
状態を示す説明図である。 1……照準線、2……矩形パターン、2a……
正方形状パターン、2b……円形パターン、3…
…ボンデイングパツド、4a,4b……インナリ
ード。
によるテイーチング作業の説明図、第2図は本発
明に係るワイヤボンデイング装置における照準マ
ークの設定状態を示す説明図、第3図は従来のワ
イヤボンデイング装置における照準マークの設定
状態を示す説明図である。 1……照準線、2……矩形パターン、2a……
正方形状パターン、2b……円形パターン、3…
…ボンデイングパツド、4a,4b……インナリ
ード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ワイヤボンデイングすべき対象物を局部的に
拡大した画像を生成するモニタ装置と、前記モニ
タ装置の入力手段として用いるカメラと前記対象
物との相対位置を変化させて前記モニタ装置で生
成される画像の視野を変える変位手段と、互いに
形状および/または大きさの異なる少なくとも2
種類以上の照準マークを記憶し、これらのうちの
いずれか1つを前記モニタ装置上の画像にオーバ
ラツプさせて表示する照準表示装置と、前記モニ
タ装置上に画像として表示させる前記対象物中の
目標パターンに応じて、最適の照準マークを選択
し、前記照準表示装置にこの選択した照準マーク
を表示させる表示選択手段と、を備えることを特
徴とするワイヤボンデイング装置。 2 照準表示装置が縦横の所望の寸法値である四
角形の照準マークを表示できることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のワイヤボンデイング
装置。 3 目標パターンが、半導体ペレツト上の第1の
パターンと、リードフレーム側の第2のパターン
とから構成され、照準表示装置が前記第1のパタ
ーンの位置決めに適した第1の照準マークと前記
第2のパターンの位置決めに適した第2の照準マ
ークとを記憶していることを特徴とする特許請求
の範囲第1項または第2項記載のワイヤボンデイ
ング装置。 4 第1のパターンがボンデイングパツド、第2
のパターンがインナリードであることを特徴とす
る特許請求の範囲第3項記載のワイヤボンデイン
グ装置。 5 選択手段が第1の照準マークと第2の照準マ
ークとを交互に選択して表示させることを特徴と
する特許請求の範囲第4項記載のワイヤボンデイ
ング装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206555A JPS6362242A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | ワイヤボンディング装置 |
EP19870307230 EP0262777B1 (en) | 1986-09-02 | 1987-08-14 | Wire bonding device |
DE8787307230T DE3785129T2 (de) | 1986-09-02 | 1987-08-14 | Drahtverbindungsvorrichtung. |
US07/092,369 US4855928A (en) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | Wire bonding device |
KR1019870009698A KR900007688B1 (ko) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | 와이어본딩장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206555A JPS6362242A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | ワイヤボンディング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6362242A JPS6362242A (ja) | 1988-03-18 |
JPH0453094B2 true JPH0453094B2 (ja) | 1992-08-25 |
Family
ID=16525330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61206555A Granted JPS6362242A (ja) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | ワイヤボンディング装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4855928A (ja) |
EP (1) | EP0262777B1 (ja) |
JP (1) | JPS6362242A (ja) |
KR (1) | KR900007688B1 (ja) |
DE (1) | DE3785129T2 (ja) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3708795C2 (de) * | 1987-03-18 | 1995-08-03 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Verfahren zur Größenselektion in Videoechtzeit |
EP0341944A3 (en) * | 1988-05-10 | 1991-06-26 | Gec Plessey Telecommunications Limited | Improvements in or relating to methods of and apparatus for registration |
US4972311A (en) * | 1988-08-15 | 1990-11-20 | Kulicke And Soffa Industries Inc. | X-Y table error mapping apparatus and method |
JP2534132B2 (ja) * | 1989-05-15 | 1996-09-11 | 株式会社新川 | ボンデイング方法 |
JPH039540A (ja) * | 1989-06-07 | 1991-01-17 | Shinkawa Ltd | ワイヤボンデイング方法 |
JPH07111998B2 (ja) * | 1989-08-18 | 1995-11-29 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
JP2668734B2 (ja) * | 1989-10-23 | 1997-10-27 | 株式会社新川 | ワイヤボンデイング方法 |
US5043589A (en) * | 1990-05-18 | 1991-08-27 | Trigon/Adcotech | Semiconductor device inspection apparatus using a plurality of reflective elements |
JPH081920B2 (ja) * | 1990-06-08 | 1996-01-10 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング装置 |
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US5119436A (en) * | 1990-09-24 | 1992-06-02 | Kulicke And Soffa Industries, Inc | Method of centering bond positions |
JP2913565B2 (ja) * | 1991-01-31 | 1999-06-28 | 株式会社新川 | ワイヤループ曲がり検査方法及びその装置 |
US5216277A (en) * | 1991-10-31 | 1993-06-01 | National Semiconductor Corporation | Lead frames with location eye point markings |
JPH07144180A (ja) * | 1992-08-21 | 1995-06-06 | Supply Control:Kk | 洗浄器 |
JP2823454B2 (ja) * | 1992-12-03 | 1998-11-11 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング装置 |
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US5532739A (en) * | 1993-10-06 | 1996-07-02 | Cognex Corporation | Automated optical inspection apparatus |
US5548326A (en) * | 1993-10-06 | 1996-08-20 | Cognex Corporation | Efficient image registration |
DE69311347T2 (de) * | 1993-11-30 | 1997-09-18 | Sgs Thomson Microelectronics | Einrichtung für die elektrische Verbindung von integrierten Schaltungen |
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JP4547117B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2010-09-22 | 株式会社雄島試作研究所 | 位置決め機構の制御装置 |
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TWI221648B (en) * | 2002-03-19 | 2004-10-01 | Esec Trading Sa | Method and device for determining the vectorial distance between the capillary and the image recognition system of a wire bonder |
US8777086B2 (en) * | 2012-04-20 | 2014-07-15 | Asm Technology Singapore Pte. Ltd. | Image-assisted system for adjusting a bonding tool |
US12118726B2 (en) * | 2021-01-15 | 2024-10-15 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Intelligent pattern recognition systems for wire bonding and other electronic component packaging equipment, and related methods |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5080763A (ja) * | 1973-11-14 | 1975-07-01 | ||
US4163212A (en) * | 1977-09-08 | 1979-07-31 | Excellon Industries | Pattern recognition system |
US4233625A (en) * | 1978-11-03 | 1980-11-11 | Teledyne, Inc. | Television monitoring system for automatically aligning semiconductor devices during manufacture |
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EP0041870B1 (en) * | 1980-06-10 | 1986-12-30 | Fujitsu Limited | Pattern position recognition apparatus |
JPS57157378A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Hitachi Ltd | Setting method of binary-coded threshold level |
JPS5951536A (ja) * | 1982-09-14 | 1984-03-26 | Fujitsu Ltd | パタ−ン認識方法及びその装置 |
US4672557A (en) * | 1983-03-26 | 1987-06-09 | Disco Abrasive Systems, Ltd. | Automatic accurate alignment system |
JPS61102747A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-21 | Marine Instr Co Ltd | ワイヤ−ボンダ−の認識パタ−ン変更方法 |
JPS61190953A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd | ワイヤボンダ |
US4750836A (en) * | 1986-09-18 | 1988-06-14 | Rca Corporation | Method of measuring misalignment between superimposed patterns |
-
1986
- 1986-09-02 JP JP61206555A patent/JPS6362242A/ja active Granted
-
1987
- 1987-08-14 EP EP19870307230 patent/EP0262777B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-14 DE DE8787307230T patent/DE3785129T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-02 KR KR1019870009698A patent/KR900007688B1/ko not_active Expired
- 1987-09-02 US US07/092,369 patent/US4855928A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900007688B1 (ko) | 1990-10-18 |
DE3785129D1 (de) | 1993-05-06 |
KR880004565A (ko) | 1988-06-07 |
DE3785129T2 (de) | 1993-07-15 |
EP0262777A2 (en) | 1988-04-06 |
EP0262777B1 (en) | 1993-03-31 |
JPS6362242A (ja) | 1988-03-18 |
EP0262777A3 (en) | 1989-08-23 |
US4855928A (en) | 1989-08-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |