JPH0448090A - Etching device - Google Patents
Etching deviceInfo
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- JPH0448090A JPH0448090A JP15800690A JP15800690A JPH0448090A JP H0448090 A JPH0448090 A JP H0448090A JP 15800690 A JP15800690 A JP 15800690A JP 15800690 A JP15800690 A JP 15800690A JP H0448090 A JPH0448090 A JP H0448090A
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- etching
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- etched
- etching solution
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は印刷配線板等のエツチング液のスプレーにより
エツチング加工を行う装置に関し、特に大サイズの被エ
ツチング物(以下基板と称する)を全面均一に高精度な
エツチングを行って産業上微細高精度な配線板を得るた
めのものに関する。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to an apparatus for etching printed wiring boards and the like by spraying an etching liquid, and particularly for etching large-sized objects (hereinafter referred to as substrates) uniformly over the entire surface. This invention relates to a method for obtaining industrially fine and highly accurate wiring boards by performing highly accurate etching.
[従来の技術]
従来のエツチング装置は第3図に示すように構成されて
いる。チャンバー1内の上下にスプレーノズル2を配置
してあり、チャンバー1内のエツチング液3をスプレー
ポンプP1によりスプレーノズル2に供給するようにし
てあり、チャンバー1内のエツチング液3を循環ポンプ
P2により循環するようにしである。チャンバー1内に
はエツチング液3を冷却する冷却器4やエツチング液3
を加熱する温度調節ヒータ5を配置しである。スプレー
ノズル2は第3図の紙面と直交する方向に複数@並べて
スプレーノズル2群としであると共に第3図の左右方向
(基板を搬送する方向)1こ複数個並べである。しかし
て第3図矢印へ方向1こ基板を供給すると、基板の上下
にスプレーノズル2からエツチング液3がスプレーされ
て基板のエツチングがされる。[Prior Art] A conventional etching apparatus is constructed as shown in FIG. Spray nozzles 2 are arranged above and below in the chamber 1, and the etching liquid 3 in the chamber 1 is supplied to the spray nozzles 2 by a spray pump P1.The etching liquid 3 in the chamber 1 is supplied to the spray nozzles 2 by a circulation pump P2. It is designed to circulate. Inside the chamber 1 are a cooler 4 for cooling the etching liquid 3 and an etching liquid 3.
A temperature control heater 5 is arranged to heat the temperature. A plurality of spray nozzles 2 are lined up in a direction perpendicular to the paper plane of FIG. 3 to form two groups of spray nozzles, and a plurality of spray nozzles 2 are lined up in a left-right direction (direction in which the substrate is conveyed) in FIG. 3. When the substrate is fed in the direction indicated by the arrow in FIG. 3, the etching liquid 3 is sprayed from the spray nozzle 2 on the top and bottom of the substrate, thereby etching the substrate.
[発明が解決しようとする課題]
ところが、従来のエツチング装置でスプレーノズル2か
らエツチング液3をスプレーしてエツチングするとき、
基板が大サイズとなった場合、基板の上面、下面、基板
の中央部(基板の搬送方向と直交する方向の中央部)、
両端部(基板の搬送方向と直交する方向の両端部)でエ
ツチングスピードが異なり、基板面の位置によりライン
幅がばらつくという問題点があった。[Problems to be Solved by the Invention] However, when performing etching by spraying the etching liquid 3 from the spray nozzle 2 with a conventional etching device,
When the board becomes large, the top surface, the bottom surface, the center of the board (the center in the direction perpendicular to the board transport direction),
There was a problem in that the etching speed was different at both ends (both ends in the direction perpendicular to the direction of transport of the substrate), and the line width varied depending on the position on the substrate surface.
すなわち大サイズの基板に対してはスプレーノズル2を
搬送方向と直交する方向に首振りを行−・、基板全面に
エツチング液が均一に当たるようにエツチングを行って
いた。しかし二のようにして基板全面に均一にスプレー
ができたとしても。基板の上面については中央部で、下
面につ−1では両端部でエツチングが遅れ、ライン幅が
太く仕上がってしまうという欠点があった。また基板の
厚みの薄い場合、基板の搬送を確実に行うために搬送コ
ロを多数設置する必要がある。このような場合、コロが
物理的に障害となって、特に上記の欠点が大きく現れて
いた。この問題点は基板の上面につり・て特に大きかっ
た。That is, for large-sized substrates, etching was performed by swinging the spray nozzle 2 in a direction perpendicular to the conveying direction so that the etching solution uniformly applied to the entire surface of the substrate. However, even if you can spray the entire surface of the board uniformly as shown in step 2. Etching is delayed at the center of the upper surface of the substrate, and at both ends of the lower surface, resulting in a thick line. Further, when the substrate is thin, it is necessary to install a large number of conveyance rollers to ensure the conveyance of the substrate. In such a case, the rollers become a physical obstacle, and the above-mentioned drawbacks are especially noticeable. This problem was particularly severe on the top surface of the substrate.
原因は、上面については基板に当たったエツチング液は
基板の上面を伝って端から落下するため、中央部が溜ま
l′)易く、下面につ−1では必ずしも基板のi部から
落下しないため、逆に両端部にエツチング液が溜まりや
すいという傾向がみられるからである。従って、エツチ
ング液の液溜まり部分は新鮮な液が基板表面と接触しづ
ら−・ため、この部分のエツチングが遅れ、ラインが太
ると−・う欠点が現れたものと考えられる。The reason for this is that on the top surface, the etching solution that hits the substrate travels along the top surface of the substrate and falls from the edge, so it tends to accumulate in the center, whereas on the bottom surface, it does not necessarily fall from the i part of the substrate. On the contrary, there is a tendency for the etching solution to accumulate at both ends. Therefore, it is difficult for fresh etching solution to come into contact with the substrate surface in the pooled area of the etching solution, and this is considered to be the reason for the delay in etching in this area, resulting in thick lines.
本発明は叙述の点に鑑みてなされたものであって、本発
明の目的とするところは大サイズの基板についても全面
的に均一なエツチングを行り・、エツチング加工により
微細高精度な回路板をgl遺することがでさるエツチン
グ装置を提供するにある。The present invention has been made in view of the above points, and the purpose of the present invention is to perform uniform etching over the entire surface even on large-sized boards, and to form fine, high-precision circuit boards through etching processing. It is possible to provide a suitable etching device.
[、!1題を解決するための手段]
上記目的を達成するため本発明エツチング装置は、多数
のスプレーノズルを取り付けたチャン/イー内で被エツ
チング物を搬送し、連続的にエツチングする装置におい
て、被エツチング物の搬送方向に対して直交する方向に
スプレーノズル群を被エツチング物の中央部と両端部に
分けて夫々温度の異なるエツチング液の供給を行うよう
にして成ることを特徴とする。[,! Means for Solving Problem 1] In order to achieve the above object, the etching apparatus of the present invention transports the object to be etched in a channel/e equipped with a large number of spray nozzles and continuously etches the object to be etched. The present invention is characterized in that the spray nozzle group is divided into the central part and both ends of the object to be etched in a direction perpendicular to the direction of transport of the object, and etching liquids having different temperatures are supplied to each part.
また高温のエツチング液を被エツチング物の上面の搬送
方向と直交する方向の中央部にスプレーすると共に低温
のエツチング液を被エツチング物の残りの部分にスプレ
ーするようにしたことを特徴とすることも好ましい。さ
らに高温のエツチング液を被エツチング物の上面の中央
部及び被エツチング物の下面の両′4部にスプレーする
と共に低温のエツチング液を被エツチング物の残りの部
分にスプレーするようにしたことを特徴とすることも好
ましい。Another feature is that the high-temperature etching solution is sprayed onto the center of the upper surface of the object to be etched in the direction perpendicular to the conveyance direction, and the low-temperature etching solution is sprayed onto the remaining portion of the object. preferable. Furthermore, the high-temperature etching solution is sprayed onto the central part of the top surface of the object to be etched and the lower surface of the object to be etched, and the low-temperature etching solution is sprayed onto the remaining portion of the object. It is also preferable to
[作用]
エツチング遅れが生じやすい部分に高温のエツチング液
をスプレーしてエツチングすることにより被エツチング
物(基板)の全面に亘って均一なエツチングができる。[Function] By spraying a high temperature etching solution onto the areas where etching delays are likely to occur, uniform etching can be achieved over the entire surface of the object to be etched (substrate).
[実施例]
エツチング装置の全体の構造は第3図に示す従来例と基
本的には同じであるので説明を省略し、異なる点だけ述
べる。基板6の搬送方向と直交する方向に複数@(本実
施例の場合4個)のスプレーノズル2を並べである0本
笑施例の場合、基板6の上面側のスプレーノズル2のう
ち中央部(基板の搬送方向と直交する方向の中央@)の
スプレーノズル2aL:第1図矢印Bのように高温のエ
ツチングe、3が供給され、基板6の上面側の両端部(
基板の搬送方向と直交する方向の両端部)のスプレーノ
ズル2b及び基板6の下面側のスプレーノズル2bに第
1図矢印Cのように低温のエツチング液3が供給される
ようになっている。スブレ−7ズル2bにはスプレーポ
ンプP、にて低温のエツチング液3が供給され、スプレ
ーノズル2aには加温槽7及びスプレーポンプPcを介
して高温のエツチング液3が供給されるようになってい
る。高温のエツチングwL3の温度としては例えば48
℃であり、低温エツチング液3の温度としては例えば4
0℃である。しがして基板6を搬送して基板6の上下面
にエツチング液3をスプレーしてエツチングをするとき
エツチング液3が溜まりやすい基板6の上面の中央部に
高温のエツチング液3をスプレーして基板6の上面の中
央部のエツチングを促進でき、結果的に基板6の全面に
均一なエツチングができる。[Embodiment] Since the overall structure of the etching apparatus is basically the same as the conventional example shown in FIG. 3, the explanation will be omitted and only the different points will be described. In the case of an embodiment in which a plurality of spray nozzles 2 (four in this embodiment) are arranged in a direction perpendicular to the conveyance direction of the substrate 6, the central part of the spray nozzles 2 on the upper surface side of the substrate 6 is arranged. Spray nozzle 2aL (at the center @ in the direction perpendicular to the substrate conveyance direction): High temperature etching e, 3 is supplied as shown by arrow B in FIG.
Low-temperature etching liquid 3 is supplied to the spray nozzles 2b at both ends (in a direction perpendicular to the direction of substrate transport) and to the spray nozzles 2b on the lower surface of the substrate 6, as indicated by arrow C in FIG. Low-temperature etching liquid 3 is supplied to spray pump P to nozzle 2b of spray nozzle 7, and high-temperature etching liquid 3 is supplied to spray nozzle 2a via heating tank 7 and spray pump Pc. ing. For example, the temperature of high temperature etching wL3 is 48
℃, and the temperature of the low-temperature etching solution 3 is, for example, 4℃.
It is 0°C. However, when the substrate 6 is transported and etched by spraying the etching liquid 3 on the upper and lower surfaces of the substrate 6, the high temperature etching liquid 3 is sprayed on the center part of the upper surface of the substrate 6 where the etching liquid 3 tends to accumulate. Etching of the central portion of the upper surface of the substrate 6 can be promoted, and as a result, uniform etching can be achieved over the entire surface of the substrate 6.
上記実施例の場合、基板6の上面の中央部に対応するス
プレーノズル2から高温のエツチング液をスプレーした
が、基板6の下面の両端部に対応するスプレー7ズル2
からも高温のエツチング液をスプレーして基板6の下面
のエツチング液3の溜まりやすい両端部のエツチングの
促進をすると一層全面に亘って均一にエツチングできる
。また基板6の上面の中央部にスプレーするエツチング
[3の温度と基板6の下面の両jI部にスプレーするエ
ツチングwL3の温度を変えてもよい6例えば基板6の
上面の中央部にスプレーするエツチング液3の温度を4
8℃とし、基板6の下面の両端部にスプレーするエツチ
ング液3の温度を44℃とし、その他の部分にスプレー
するエツチング液3の温度を40℃とする。このように
エツチング液3の溜まりやすさに応じてエツチング液3
の温度を変えると一層均一なエツチングができる。In the case of the above embodiment, the high temperature etching solution was sprayed from the spray nozzle 2 corresponding to the center part of the upper surface of the substrate 6, but the spray nozzle 2 corresponding to both ends of the lower surface of the substrate 6 sprayed the high temperature etching solution.
By spraying a high-temperature etching solution from above to promote etching at both ends of the lower surface of the substrate 6 where the etching solution 3 tends to accumulate, more uniform etching can be achieved over the entire surface. In addition, the temperature of etching [3] sprayed on the center of the top surface of the substrate 6 and the temperature of etching wL3 sprayed on both parts of the bottom surface of the substrate 6 may be changed. Temperature of liquid 3 is 4
The temperature of the etching liquid 3 sprayed onto both ends of the lower surface of the substrate 6 is set to 44°C, and the temperature of the etching liquid 3 sprayed onto other parts is set to 40°C. In this way, adjust the amount of etching solution 3 depending on how easily the etching solution 3 accumulates.
Even more uniform etching can be achieved by changing the temperature.
[発明の効果]
本発明は叙述の如く被エツチング物の搬送方向に対して
直交する方向にスプレーノズル群を被エツチング物の中
央部と両端部に分けて夫々温度の異なるエツチング液の
供給を行うようにしたので、エツチング液が溜まったり
してエツチングの遅くなる部分に高温のエツチング液を
スプレーしてエツチングを促進することができるもので
あって、大サイズの被エツチング物(基板)でも均一な
エツチングができて産業用の微細高精度なプリント板が
エツチング加工により製造できるものである。[Effects of the Invention] As described above, the present invention divides the spray nozzle group into the center and both ends of the object to be etched in a direction perpendicular to the direction of conveyance of the object to be etched, and supplies etching liquids having different temperatures to each part. This makes it possible to accelerate etching by spraying high-temperature etching solution on areas where etching solution accumulates and slows down etching, and even large-sized objects (substrates) can be etched uniformly. Etching is possible, and fine, high-precision printed boards for industrial use can be manufactured by etching.
また本発明の請求項2記載の発明にあっては、高温のエ
ツチング液を被エツチング物の上面の搬送方向と直交す
る方向の中央部にスプレーすると共に低温のエツチング
液を被エツチング物の残りの部分にスプレーするように
したので、エツチング液の溜まりやすい被エツチング物
の上面に高温のエツチング液をスプレーしてエツチング
を促進して被エツチング物の全面に亘って均一にエツチ
ングができるものである。さらに本発明のa求項3記載
の発明にあっては、高温のエツチング液を被エツチング
物の上面の中央部及び被エツチング物の下面の両端部に
スプレーすると共に低温のエツチング液を被エツチング
物の残りの部分にスプレーするようにしたので、エツチ
ング液の溜まりやすい被エツチング物の上面の中央部と
下面の両端部に高温のエツチング液をスプレーして一層
被エッチング物の全面に亘って均一なエツチングができ
るものである。In the second aspect of the present invention, a high temperature etching solution is sprayed onto the center of the upper surface of the object to be etched in a direction perpendicular to the conveying direction, and a low temperature etching solution is applied to the remaining part of the object to be etched. Since the etching solution is sprayed onto a portion, the hot etching solution is sprayed onto the upper surface of the object to be etched where the etching solution tends to accumulate, thereby promoting etching and uniformly etching the entire surface of the object to be etched. Furthermore, in the invention described in claim 3 of the present invention, a high temperature etching solution is sprayed onto the center of the upper surface of the object to be etched and both ends of the lower surface of the object to be etched, and a low temperature etching solution is sprayed onto the object to be etched. By spraying the hot etching solution onto the remaining part of the object, the hot etching solution is sprayed onto the center of the top surface and both ends of the bottom surface of the object, where etching solution tends to accumulate. It can be etched.
第1図は本発明の一実施例を説明する斜視図、第2図は
同上の概略側断面図、第3図は従来例の概略正断面図で
あって、1はチャンバー 2はスプレーノズルである。
代理人 弁理士 石 1)長 七FIG. 1 is a perspective view illustrating an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic side sectional view of the same, and FIG. 3 is a schematic front sectional view of a conventional example, where 1 is a chamber and 2 is a spray nozzle. be. Agent Patent Attorney Ishi 1) Choshichi
Claims (1)
で被エッチング物を搬送し、連続的にエッチングする装
置において、被エッチング物の搬送方向に対して直交す
る方向にスプレーノズル群を被エッチング物の中央部と
両端部に分けて夫々温度の異なるエッチング液の供給を
行うようにして成ることを特徴とするエッチング装置。 [2]高温のエッチング液を被エッチング物の上面の搬
送方向と直交する方向の中央部にスプレーすると共に低
温のエッチング液を被エッチング物の残りの部分にスプ
レーするようにしたことを特徴とする請求項1記載のエ
ッチング装置。 [3]高温のエッチング液を被エッチング物の上面の中
央部及び被エッチング物の下面の両端部にスプレーする
と共に低温のエッチング液を被エッチング物の残りの部
分にスプレーするようにしたことを特徴とする請求項1
記載のエッチング装置。[Scope of Claims] [1] In an apparatus for conveying and continuously etching an object to be etched in a chamber equipped with a large number of spray nozzles, a group of spray nozzles is arranged in a direction perpendicular to the direction of conveyance of the object to be etched. An etching apparatus characterized in that an etching solution is divided into a central part and both ends of an object to be etched, and etching liquids having different temperatures are supplied to each part. [2] A high-temperature etching solution is sprayed onto the central part of the upper surface of the object to be etched in a direction perpendicular to the conveying direction, and a low-temperature etching solution is sprayed onto the remaining part of the object to be etched. An etching apparatus according to claim 1. [3] High temperature etching solution is sprayed onto the center of the top surface of the object to be etched and both ends of the bottom surface of the object to be etched, while low temperature etching solution is sprayed onto the remaining portion of the object to be etched. Claim 1
Etching apparatus described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15800690A JPH0448090A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15800690A JPH0448090A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0448090A true JPH0448090A (en) | 1992-02-18 |
Family
ID=15662199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15800690A Pending JPH0448090A (en) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | Etching device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0448090A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7527743B2 (en) * | 2002-10-16 | 2009-05-05 | Lg Display Co., Ltd. | Apparatus and method for etching insulating film |
-
1990
- 1990-06-15 JP JP15800690A patent/JPH0448090A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7527743B2 (en) * | 2002-10-16 | 2009-05-05 | Lg Display Co., Ltd. | Apparatus and method for etching insulating film |
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