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JPH04372876A - 波形判定装置 - Google Patents

波形判定装置

Info

Publication number
JPH04372876A
JPH04372876A JP15139891A JP15139891A JPH04372876A JP H04372876 A JPH04372876 A JP H04372876A JP 15139891 A JP15139891 A JP 15139891A JP 15139891 A JP15139891 A JP 15139891A JP H04372876 A JPH04372876 A JP H04372876A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
memory
waveform data
stored
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15139891A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Kazui
数井　健司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP15139891A priority Critical patent/JPH04372876A/ja
Publication of JPH04372876A publication Critical patent/JPH04372876A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルオシロスコ
ープ等に利用する波形判定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の波形判定装置としては、
メモリに保存されている波形データについて中央演算処
理装置で良否の判定を行い、その結果を表示装置に表示
するようにした構成が知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の波形判定装置では、波形の良否結果や波形の取込回
数を保存することができないため、波形の良否の確率を
表示することができないという問題があった。
【０００４】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、波形の良否の確率を表示するようにして
使用の利便性を向上させることができるようにした波形
判定装置を提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、取り込まれた波形データを保存する第１
のメモリと、この第１のメモリに保存されている波形デ
ータの良否を判定する中央演算処理装置と、判定結果を
波形データの取込回数と共に保存する第２のメモリと、
この第２のメモリの保存内容をもとに波形の良否の確率
を表示することができる表示装置とを備えものである。
【０００６】
【作用】したがって、本発明によれば、波形データが取
り込まれると、この波形データを第１のメモリに保存し
、この保存された波形データについて中央演算処理装置
によって波形の良否判定を行い、判定結果を波形データ
の取込回数と共に第２のメモリに保存するので、これら
保存されている判定結果と波形データの取込回数により
表示装置に波形の良否判定の確率、不合格の発生頻度を
表示することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
【０００８】図１は本発明の一実施例における波形判定
装置を示す概略ブロック図である。図１において、１は
波形データを保存する第１のメモリ、２は第１のメモリ
１から読み出した波形データについてその良否を判定す
る中央演算処理装置、３は波形データの取込回数および
波形の良否の判定結果を保存する第２のメモリ、４は中
央演算処理装置２の制御により波形と判定結果を表示す
る表示装置である。
【０００９】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。波形データが取り込まれると、この波形
データが第１のメモリ１に保存される。第１のメモリ１
に保存された波形データは中央演算処理装置２により読
み出され、あらかじめ設定された判定ゾーン内に波形デ
ータがあるか否かについて判定処理が行われる。判定処
理が終了すると、判定結果は、波形データの取込回数と
共に、第２のメモリ３に保存され、表示装置４に表示さ
れる。
【００１０】表示装置４における表示の一例を図２に示
す。図２において、５は表示部、６は波形、７ａ、７ｂ
は判定ゾーン、８は確率表示である。上記のように中央
演算処理装置２で行われた波形データの良否の判定結果
は、波形データの取込回数と共に第２のメモリ３に保存
しているので、中央演算処理装置２は上記保存内容をも
とに表示部５に波形６と共に、良否の確率、不合格発生
頻度８を表示させることができる。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、波
形データが取り込まれると、この波形データを第１のメ
モリに保存し、この保存された波形データについて中央
演算処理装置によって波形の良否判定を行い、判定結果
を波形データの取込回数と共に第２のメモリに保存する
ので、これら保存されている判定結果と波形データの取
込回数により表示装置に波形の良否判定の確率、不合格
の発生頻度を表示することができる。したがって、使用
の利便性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例における波形判定装置を示す
概略ブロック図
【図２】同波形判定装置における表示装置の表示例を示
す図
【符号の説明】
１　　第１のメモリ ２　　中央演算処理装置 ３　　第２のメモリ ４　　表示装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】　　取り込まれた波形データを保存する第
    １のメモリと、この第１のメモリに保存されている波形
    データの良否を判定する中央演算処理装置と、判定結果
    を波形データの取込回数と共に保存する第２のメモリと
    、この第２のメモリの保存内容をもとに波形の良否の確
    率を表示することができる表示装置とを備えた波形判定
    装置。
JP15139891A 1991-06-24 1991-06-24 波形判定装置 Pending JPH04372876A (ja)

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JPH04372876A true JPH04372876A (ja) 1992-12-25

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