JPH04326739A - ダイボンド方法およびダイボンド装置 - Google Patents
ダイボンド方法およびダイボンド装置Info
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- JPH04326739A JPH04326739A JP9661391A JP9661391A JPH04326739A JP H04326739 A JPH04326739 A JP H04326739A JP 9661391 A JP9661391 A JP 9661391A JP 9661391 A JP9661391 A JP 9661391A JP H04326739 A JPH04326739 A JP H04326739A
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- frame
- bonding
- lead frame
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/741—Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
- H01L24/743—Apparatus for manufacturing layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/741—Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
- H01L2224/743—Apparatus for manufacturing layer connectors
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置を製造する際
に使用するダイボンド装置に関し、特に、ダイボンド部
に溶融状態の半田が酸化するのを抑制するガスを供給す
る構造に関するものである。
に使用するダイボンド装置に関し、特に、ダイボンド部
に溶融状態の半田が酸化するのを抑制するガスを供給す
る構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、リードフレームに半導体チップを
ボンディングするダイボンド装置としては、リードフレ
ーム搬送部をトンネル構造とし、その中に雰囲気ガスを
供給する構造のものがある。この種の従来のダイボンド
装置を図2によって説明する。図2は従来のダイボンド
装置の断面図で、同図において1はリードフレーム、2
はこのリードフレーム1のダイパッドとしてのフレーム
パッドで、このフレームパッド2の上面(ダイボンド面
)には半田3が設けられている。4は前記リードフレー
ム1を支承すると共にその長手方向へ搬送する際のガイ
ドとなるプラテンで、このプラテン4の上部にはリード
フレーム搬送部が形成され、下部にはヒートブロック5
が取付けられている。また、このプラテン4には、リー
ドフレーム1をプラテン4上で図2において例えば左か
ら右へ平行移動させて移送するフレーム搬送ユニット(
図示せず)が設けられている。なお、6はヒートブロッ
ク5に内蔵されたヒーター、7は温度を測定するための
熱電対である。すなわち、プラテン4上に載置されたリ
ードフレーム1は、ヒーター6から伝導される熱によっ
て所定温度に加熱され、フレームパッド2上の半田が溶
融することになる。8はリードフレーム1を上から押圧
してフレームパッド2をプラテン4の上部伝熱面に密着
させるためのフレーム押えで、このフレーム押え8は中
央部にチップ挿入用開口部8aが設けられており、加圧
装置(図示せず)によってプラテン4上で上下するよう
に構成されている。9は半導体チップ、10は前記半導
体チップ9を下端部で保持しかつプラテン4上のフレー
ムパッド2に移載するためのボンディングコレットで、
このボンディングコレット10はボンディングヘッド部
(図示せず)によって昇降自在に設けられている。 なお、このボンディングコレット10は、下降動作によ
って前記フレーム押え8の開口部8a内に挿入される。 11は前記プラテン4のリードフレーム搬送部を覆って
装置外部に対して隔絶させるための雰囲気カバーで、こ
の雰囲気カバー11は、下方へ向けて開口するトンネル
部12がプラテン4のリードフレーム搬送部と対向する
位置に形成されたカバー本体13と、このカバー本体1
3の上部のガス通路形成用凹陥部13aを閉塞する蓋体
14とから構成されている。また、この雰囲気カバー1
1におけるボンディング位置(ボンディングコレット1
0が昇降する位置)と対応する部分は、フレーム押え8
を挿入できるように開口されている。前記カバー本体1
3に蓋体14を密着させることによって形成される空間
(凹陥部13a)には、還元ガスおよび不活性ガスから
なる雰囲気ガスを供給するガス供給装置(図示せず)が
連通されている。そして、凹陥部13a内に供給された
雰囲気ガスは、カバー本体13の凹陥部13aとトンネ
ル部12とを連通する連通孔13bを通ってトンネル部
12に導かれるように構成されている。前記雰囲気ガス
は、フレームパッド2上で溶融した半田3が酸化するの
を抑制するために供給されている。なお、15はカバー
本体13のフレーム押え側端部にトンネル部12の内外
を連通するように形成されたカバー側ガス通路、16は
フレーム押え8にその内外を連通するように形成された
フレーム押え側ガス通路で、トンネル部12内に供給さ
れた雰囲気ガスはこれらのガス通路15,16を通って
フレーム押え8内にも導入される。
ボンディングするダイボンド装置としては、リードフレ
ーム搬送部をトンネル構造とし、その中に雰囲気ガスを
供給する構造のものがある。この種の従来のダイボンド
装置を図2によって説明する。図2は従来のダイボンド
装置の断面図で、同図において1はリードフレーム、2
はこのリードフレーム1のダイパッドとしてのフレーム
パッドで、このフレームパッド2の上面(ダイボンド面
)には半田3が設けられている。4は前記リードフレー
ム1を支承すると共にその長手方向へ搬送する際のガイ
ドとなるプラテンで、このプラテン4の上部にはリード
フレーム搬送部が形成され、下部にはヒートブロック5
が取付けられている。また、このプラテン4には、リー
ドフレーム1をプラテン4上で図2において例えば左か
ら右へ平行移動させて移送するフレーム搬送ユニット(
図示せず)が設けられている。なお、6はヒートブロッ
ク5に内蔵されたヒーター、7は温度を測定するための
熱電対である。すなわち、プラテン4上に載置されたリ
ードフレーム1は、ヒーター6から伝導される熱によっ
て所定温度に加熱され、フレームパッド2上の半田が溶
融することになる。8はリードフレーム1を上から押圧
してフレームパッド2をプラテン4の上部伝熱面に密着
させるためのフレーム押えで、このフレーム押え8は中
央部にチップ挿入用開口部8aが設けられており、加圧
装置(図示せず)によってプラテン4上で上下するよう
に構成されている。9は半導体チップ、10は前記半導
体チップ9を下端部で保持しかつプラテン4上のフレー
ムパッド2に移載するためのボンディングコレットで、
このボンディングコレット10はボンディングヘッド部
(図示せず)によって昇降自在に設けられている。 なお、このボンディングコレット10は、下降動作によ
って前記フレーム押え8の開口部8a内に挿入される。 11は前記プラテン4のリードフレーム搬送部を覆って
装置外部に対して隔絶させるための雰囲気カバーで、こ
の雰囲気カバー11は、下方へ向けて開口するトンネル
部12がプラテン4のリードフレーム搬送部と対向する
位置に形成されたカバー本体13と、このカバー本体1
3の上部のガス通路形成用凹陥部13aを閉塞する蓋体
14とから構成されている。また、この雰囲気カバー1
1におけるボンディング位置(ボンディングコレット1
0が昇降する位置)と対応する部分は、フレーム押え8
を挿入できるように開口されている。前記カバー本体1
3に蓋体14を密着させることによって形成される空間
(凹陥部13a)には、還元ガスおよび不活性ガスから
なる雰囲気ガスを供給するガス供給装置(図示せず)が
連通されている。そして、凹陥部13a内に供給された
雰囲気ガスは、カバー本体13の凹陥部13aとトンネ
ル部12とを連通する連通孔13bを通ってトンネル部
12に導かれるように構成されている。前記雰囲気ガス
は、フレームパッド2上で溶融した半田3が酸化するの
を抑制するために供給されている。なお、15はカバー
本体13のフレーム押え側端部にトンネル部12の内外
を連通するように形成されたカバー側ガス通路、16は
フレーム押え8にその内外を連通するように形成された
フレーム押え側ガス通路で、トンネル部12内に供給さ
れた雰囲気ガスはこれらのガス通路15,16を通って
フレーム押え8内にも導入される。
【0003】次に、上述したように構成された従来のダ
イボンド装置を使用して半導体チップ9をリードフレー
ム1にダイボンドさせる手順について説明する。ダイボ
ンドを行うには、先ず、リードフレーム1をプラテン4
上のリードフレーム搬送部に装填し、フレーム搬送ユニ
ットによってトンネル部12内を移送させる。一方、上
昇位置にあるボンディングコレット10に半導体チップ
9を保持させる。なお、雰囲気カバー11には雰囲気ガ
スを予め供給し、トンネル部12に雰囲気ガスを充満さ
せておく。リードフレーム1を移送させると、トンネル
部12内を移送される際にプラテン4の熱がフレームパ
ッド2に伝わり、フレームパッド2上の半田3が溶け始
める。その際、トンネル部12内には雰囲気ガスが充満
している関係から、溶融した半田3がそこで酸化するよ
うなことは抑制される。そして、フレームパッド2がボ
ンディング位置に到達した時点でリードフレーム1を停
止させ、フレーム押え8を下降させてリードフレーム1
をプラテン4に押し付ける。この際、フレームパッド2
はプラテン4に密着し、プラテン4から十分に熱が伝え
られて半田3が完全に溶融する。しかる後、ボンディン
グコレット10を下降させて半導体チップ9をフレーム
パッド2に移載させる。このように半導体チップ9をフ
レームパッド2に半田付けしてダイボンド工程が終了す
る。
イボンド装置を使用して半導体チップ9をリードフレー
ム1にダイボンドさせる手順について説明する。ダイボ
ンドを行うには、先ず、リードフレーム1をプラテン4
上のリードフレーム搬送部に装填し、フレーム搬送ユニ
ットによってトンネル部12内を移送させる。一方、上
昇位置にあるボンディングコレット10に半導体チップ
9を保持させる。なお、雰囲気カバー11には雰囲気ガ
スを予め供給し、トンネル部12に雰囲気ガスを充満さ
せておく。リードフレーム1を移送させると、トンネル
部12内を移送される際にプラテン4の熱がフレームパ
ッド2に伝わり、フレームパッド2上の半田3が溶け始
める。その際、トンネル部12内には雰囲気ガスが充満
している関係から、溶融した半田3がそこで酸化するよ
うなことは抑制される。そして、フレームパッド2がボ
ンディング位置に到達した時点でリードフレーム1を停
止させ、フレーム押え8を下降させてリードフレーム1
をプラテン4に押し付ける。この際、フレームパッド2
はプラテン4に密着し、プラテン4から十分に熱が伝え
られて半田3が完全に溶融する。しかる後、ボンディン
グコレット10を下降させて半導体チップ9をフレーム
パッド2に移載させる。このように半導体チップ9をフ
レームパッド2に半田付けしてダイボンド工程が終了す
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、このように
構成された従来のダイボンド装置では、雰囲気カバー1
1にフレーム押え挿入用の開口部を設けなければならな
い。この開口部の開口幅はチップサイズに比較して大き
いため、その開口部から外気が侵入してボンディング雰
囲気を乱してしまう。このため、チップサイズが大きく
なるにしたがって接合剤としての半田が酸化しやすくな
るという問題があった。半田が酸化すると、濡れ性が低
下して良好な接合状態が得られなくなってしまう。
構成された従来のダイボンド装置では、雰囲気カバー1
1にフレーム押え挿入用の開口部を設けなければならな
い。この開口部の開口幅はチップサイズに比較して大き
いため、その開口部から外気が侵入してボンディング雰
囲気を乱してしまう。このため、チップサイズが大きく
なるにしたがって接合剤としての半田が酸化しやすくな
るという問題があった。半田が酸化すると、濡れ性が低
下して良好な接合状態が得られなくなってしまう。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係るダイボンド
方法は、ダイパッドに半田が予め設けられたリードフレ
ームを、半導体チップ保持用ボンディングコレットに上
下移動自在に取付けられかつダイパッドを囲む箱蓋状フ
レーム押えによって加熱台に押し付け、次いで、このフ
レーム押え内の空気を酸化防止用雰囲気ガスに置換し、
しかる後、フレーム押えでリードフレームを押圧した状
態でボンディングコレットを下げ、半導体チップをダイ
パッド上に載せて半田付けするものである。本発明に係
るダイボンド装置は、ダイパッドに半田が予め設けられ
たリードフレームを支承するヒータ内蔵式加熱台と、半
導体チップを保持してボンディング部上で昇降させるボ
ンディングコレットと、このボンディングコレットに押
圧部材を介して下側へ付勢された状態で上下移動自在に
取付けられ、かつ前記ダイパッドの側方および上方を囲
む箱蓋状に形成され、前記リードフレームを加熱台に押
し付けるフレーム押えとを備えてなり、前記フレーム押
えの内面および加熱台のダイパッド対接部近傍に、ガス
を吸引して酸化防止用雰囲気ガスを供給するガス置換装
置のガス通路を開口させたものである。
方法は、ダイパッドに半田が予め設けられたリードフレ
ームを、半導体チップ保持用ボンディングコレットに上
下移動自在に取付けられかつダイパッドを囲む箱蓋状フ
レーム押えによって加熱台に押し付け、次いで、このフ
レーム押え内の空気を酸化防止用雰囲気ガスに置換し、
しかる後、フレーム押えでリードフレームを押圧した状
態でボンディングコレットを下げ、半導体チップをダイ
パッド上に載せて半田付けするものである。本発明に係
るダイボンド装置は、ダイパッドに半田が予め設けられ
たリードフレームを支承するヒータ内蔵式加熱台と、半
導体チップを保持してボンディング部上で昇降させるボ
ンディングコレットと、このボンディングコレットに押
圧部材を介して下側へ付勢された状態で上下移動自在に
取付けられ、かつ前記ダイパッドの側方および上方を囲
む箱蓋状に形成され、前記リードフレームを加熱台に押
し付けるフレーム押えとを備えてなり、前記フレーム押
えの内面および加熱台のダイパッド対接部近傍に、ガス
を吸引して酸化防止用雰囲気ガスを供給するガス置換装
置のガス通路を開口させたものである。
【0006】
【作用】ダイパッド上の半田は、フレーム押えでリード
フレームを加熱台に押圧固定することによって外気に対
して隔絶されることになり、雰囲気ガス中でダイパッド
に濡れ拡がる。
フレームを加熱台に押圧固定することによって外気に対
して隔絶されることになり、雰囲気ガス中でダイパッド
に濡れ拡がる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1によって詳細
に説明する。図1は本発明のダイボンド方法を実施する
際に使用するダイボンド装置の断面図である。同図にお
いて前記図2で説明したものと同一もしくは同等部材に
ついては、同一符号を付し詳細な説明は省略する。図1
において、21はリードフレーム1を加熱台としてのプ
ラテン4に押し付けて固定するためのフレーム押えで、
このフレーム押え21は、下方に開口する箱蓋状に形成
され、後述するガイド22内に上下動自在に嵌合支持さ
れている。また、このフレーム押え21の開口幅は、ボ
ンディング位置に位置決めされたリードフレーム1をフ
レーム押えで押圧した際に、フレームパッド2の4方が
囲まれる寸法に設定されている。さらに、フレーム押え
21の上板となる部分には、フレーム押え21内外を連
通するガス通路21aが複数穿設されている。なお、半
導体チップ9を保持するボンディングコレット10は、
前記フレーム押え21を貫通して上下に延設されている
。
に説明する。図1は本発明のダイボンド方法を実施する
際に使用するダイボンド装置の断面図である。同図にお
いて前記図2で説明したものと同一もしくは同等部材に
ついては、同一符号を付し詳細な説明は省略する。図1
において、21はリードフレーム1を加熱台としてのプ
ラテン4に押し付けて固定するためのフレーム押えで、
このフレーム押え21は、下方に開口する箱蓋状に形成
され、後述するガイド22内に上下動自在に嵌合支持さ
れている。また、このフレーム押え21の開口幅は、ボ
ンディング位置に位置決めされたリードフレーム1をフ
レーム押えで押圧した際に、フレームパッド2の4方が
囲まれる寸法に設定されている。さらに、フレーム押え
21の上板となる部分には、フレーム押え21内外を連
通するガス通路21aが複数穿設されている。なお、半
導体チップ9を保持するボンディングコレット10は、
前記フレーム押え21を貫通して上下に延設されている
。
【0008】前記ガイド22はフレーム押え21と同様
にして下向き有底筒状に形成され、その上板となる部分
がボンディングヘッド部23に固定されている。このガ
イド22の下端開口部にはフレーム押え21の突起21
bが当接するストッパー22aが一体に設けられており
、内側上部にはボンディングコレット10が取付けられ
ている。24はフレーム押え21を下方へ付勢するため
の圧縮コイルばねで、フレーム押え21の上板とガイド
22の上板との間に弾装されている。25は前記ガイド
22内に還元ガスおよび不活性ガスからなる雰囲気ガス
を供給するための雰囲気ガス供給口で、この雰囲気ガス
供給口25にはガス供給装置(図示せず)に連通された
ガス供給管26が接続されている。なお、本実施例で使
用する雰囲気カバー11は、フレーム押え挿入用の開口
部が従来のものより幅広に形成され、ガイド22が挿入
できるように構成されている。このようにガイド22に
嵌合支持されたフレーム押え21は、その下端がリード
フレーム1に当接するまでは図1に示すように突起21
bがストッパー22aに当接するように圧縮コイルばね
24によって押される。また、フレーム押え21の下端
がリードフレーム1に当接した状態でボンディングヘッ
ド部23を下降動作させると、ボンディングコレット1
0と共にガイド22が下降するが、フレーム押え21は
圧縮コイルばね24が縮む関係からリードフレーム1に
当接した位置に留まる。すなわち、フレーム押え21の
下端をリードフレーム1に当接させた状態でボンディン
グコレット10,ガイド22を下降させることで、リー
ドフレーム1を圧縮コイルばね24のばね力によってプ
ラテン4に押し付けることができる。
にして下向き有底筒状に形成され、その上板となる部分
がボンディングヘッド部23に固定されている。このガ
イド22の下端開口部にはフレーム押え21の突起21
bが当接するストッパー22aが一体に設けられており
、内側上部にはボンディングコレット10が取付けられ
ている。24はフレーム押え21を下方へ付勢するため
の圧縮コイルばねで、フレーム押え21の上板とガイド
22の上板との間に弾装されている。25は前記ガイド
22内に還元ガスおよび不活性ガスからなる雰囲気ガス
を供給するための雰囲気ガス供給口で、この雰囲気ガス
供給口25にはガス供給装置(図示せず)に連通された
ガス供給管26が接続されている。なお、本実施例で使
用する雰囲気カバー11は、フレーム押え挿入用の開口
部が従来のものより幅広に形成され、ガイド22が挿入
できるように構成されている。このようにガイド22に
嵌合支持されたフレーム押え21は、その下端がリード
フレーム1に当接するまでは図1に示すように突起21
bがストッパー22aに当接するように圧縮コイルばね
24によって押される。また、フレーム押え21の下端
がリードフレーム1に当接した状態でボンディングヘッ
ド部23を下降動作させると、ボンディングコレット1
0と共にガイド22が下降するが、フレーム押え21は
圧縮コイルばね24が縮む関係からリードフレーム1に
当接した位置に留まる。すなわち、フレーム押え21の
下端をリードフレーム1に当接させた状態でボンディン
グコレット10,ガイド22を下降させることで、リー
ドフレーム1を圧縮コイルばね24のばね力によってプ
ラテン4に押し付けることができる。
【0009】27はボンディング位置に位置決めされた
フレームパッド10の周辺の空気を吸い出すための吸引
通路で、この吸引通路27は、プラテン4のフレームパ
ッド対接部近傍に開口してプラテン4に上下に貫通する
ように穿設されたプラテン側透孔28と、ヒートブロッ
ク5の上面に形成された凹溝29と、ヒートブロック5
に上下に貫通するように穿設されたヒートブロック側透
孔30とから構成されている。そして、ヒートブロック
側透孔30の下側開口部には、前記ガス供給装置と共に
ガス置換装置を構成する吸引装置(図示せず)が連通さ
れる。
フレームパッド10の周辺の空気を吸い出すための吸引
通路で、この吸引通路27は、プラテン4のフレームパ
ッド対接部近傍に開口してプラテン4に上下に貫通する
ように穿設されたプラテン側透孔28と、ヒートブロッ
ク5の上面に形成された凹溝29と、ヒートブロック5
に上下に貫通するように穿設されたヒートブロック側透
孔30とから構成されている。そして、ヒートブロック
側透孔30の下側開口部には、前記ガス供給装置と共に
ガス置換装置を構成する吸引装置(図示せず)が連通さ
れる。
【0010】次に、このように構成されたダイボンド装
置を使用して本発明に係るダイボンド方法を説明する。 リードフレーム1に半導体チップ9を半田付けしてボン
ディングするには、先ず、従来と同様にしてリードフレ
ーム1をプラテン4上のリードフレーム搬送部に装填し
、フレーム搬送ユニットによってトンネル部12内を移
送させる。一方、ボンディングコレット10には、ボン
ディングヘッド部23を上昇させた状態で半導体チップ
9を保持させる。そして、フレーム押え21がリードフ
レーム1に当接しない程度までガイド22およびボンデ
ィングコレット10を下降させておく。なお、雰囲気カ
バー11には雰囲気ガスを予め供給し、トンネル部12
に雰囲気ガスを充満させておく。次に、フレームパッド
2がボンディング位置に位置づけられるようにリードフ
レーム1を位置決めし、ボンディングヘッド部23を下
降動作させる。フレーム押え21がリードフレーム1に
当接しても引き続き下降動作させることで、リードフレ
ーム1は圧縮コイルばね24のばね力によってプラテン
4に押し付けられる。また、フレーム押え21がリード
フレーム1に当接した際にはガス供給装置および吸引装
置を作動させる。これらの装置が始動すると、ガイド2
2内に送り込まれた雰囲気ガスがガス通路21aを通っ
てフレーム押え21内に上側から供給されると共に、フ
レーム押え21内空間の空気が下側から吸引通路27を
介して吸引されることになり、フレーム押え21内の空
気が雰囲気ガスに置換されることになる。ガス置換作業
が終了した後、ボンディングヘッド23を引き続き下降
動作させて半導体チップ9をフレームパッド2に移載さ
せる。このように半導体チップ9をフレームパッド2に
半田付けしてダイボンド工程が終了する。
置を使用して本発明に係るダイボンド方法を説明する。 リードフレーム1に半導体チップ9を半田付けしてボン
ディングするには、先ず、従来と同様にしてリードフレ
ーム1をプラテン4上のリードフレーム搬送部に装填し
、フレーム搬送ユニットによってトンネル部12内を移
送させる。一方、ボンディングコレット10には、ボン
ディングヘッド部23を上昇させた状態で半導体チップ
9を保持させる。そして、フレーム押え21がリードフ
レーム1に当接しない程度までガイド22およびボンデ
ィングコレット10を下降させておく。なお、雰囲気カ
バー11には雰囲気ガスを予め供給し、トンネル部12
に雰囲気ガスを充満させておく。次に、フレームパッド
2がボンディング位置に位置づけられるようにリードフ
レーム1を位置決めし、ボンディングヘッド部23を下
降動作させる。フレーム押え21がリードフレーム1に
当接しても引き続き下降動作させることで、リードフレ
ーム1は圧縮コイルばね24のばね力によってプラテン
4に押し付けられる。また、フレーム押え21がリード
フレーム1に当接した際にはガス供給装置および吸引装
置を作動させる。これらの装置が始動すると、ガイド2
2内に送り込まれた雰囲気ガスがガス通路21aを通っ
てフレーム押え21内に上側から供給されると共に、フ
レーム押え21内空間の空気が下側から吸引通路27を
介して吸引されることになり、フレーム押え21内の空
気が雰囲気ガスに置換されることになる。ガス置換作業
が終了した後、ボンディングヘッド23を引き続き下降
動作させて半導体チップ9をフレームパッド2に移載さ
せる。このように半導体チップ9をフレームパッド2に
半田付けしてダイボンド工程が終了する。
【0011】したがって、本発明によれば、フレームパ
ッド2上の半田3は、フレーム押え21でリードフレー
ム1をプラテン4に押圧固定することによって外気に対
して隔絶され、雰囲気ガス中で溶融してフレームパッド
2に濡れ拡がる。このため、溶融された半田3が空気中
の酸素によって酸化されるのを可及的抑えた状態で、半
導体チップ9を半田付けすることができる。
ッド2上の半田3は、フレーム押え21でリードフレー
ム1をプラテン4に押圧固定することによって外気に対
して隔絶され、雰囲気ガス中で溶融してフレームパッド
2に濡れ拡がる。このため、溶融された半田3が空気中
の酸素によって酸化されるのを可及的抑えた状態で、半
導体チップ9を半田付けすることができる。
【0012】なお、本実施例ではガイド22側から雰囲
気ガスを供給し、プラテン4側からフレーム押え21内
の空気を吸引する構造としたが、供給側と吸引側とを逆
に設けてプラテン4側から雰囲気ガスを供給し、ガイド
22側から空気を吸引する構造とすることもできる。ま
た、本実施例ではボンディング時にフレーム押え21を
ガイド22に対して相対的に上昇させて逃がす機構を圧
縮コイルばね24によって構成したが、圧縮コイルばね
24の代わりに、リニアモータ等のアクチュエータをボ
ンディングヘッド部用駆動装置の他に装着させることも
できる。このようにしても前記実施例と同等の効果が得
られる。さらにまた、本実施例ではフレーム押え21が
リードフレーム1に当接してからガス置換装置(ガス供
給装置および吸引装置)を始動させたが、半田3が速や
かに溶融するような場合には、フレーム押え21でリー
ドフレーム1を押圧固定したのと略同時にフレーム押え
21内が雰囲気ガスで充満されるように、リードフレー
ム1にフレーム押え21が当接する前にガス置換装置を
始動させておく。
気ガスを供給し、プラテン4側からフレーム押え21内
の空気を吸引する構造としたが、供給側と吸引側とを逆
に設けてプラテン4側から雰囲気ガスを供給し、ガイド
22側から空気を吸引する構造とすることもできる。ま
た、本実施例ではボンディング時にフレーム押え21を
ガイド22に対して相対的に上昇させて逃がす機構を圧
縮コイルばね24によって構成したが、圧縮コイルばね
24の代わりに、リニアモータ等のアクチュエータをボ
ンディングヘッド部用駆動装置の他に装着させることも
できる。このようにしても前記実施例と同等の効果が得
られる。さらにまた、本実施例ではフレーム押え21が
リードフレーム1に当接してからガス置換装置(ガス供
給装置および吸引装置)を始動させたが、半田3が速や
かに溶融するような場合には、フレーム押え21でリー
ドフレーム1を押圧固定したのと略同時にフレーム押え
21内が雰囲気ガスで充満されるように、リードフレー
ム1にフレーム押え21が当接する前にガス置換装置を
始動させておく。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るダイボ
ンド方法は、ダイパッドに半田が予め設けられたリード
フレームを、半導体チップ保持用ボンディングコレット
に上下移動自在に取付けられかつダイパッドを囲む箱蓋
状フレーム押えによって加熱台に押し付け、次いで、こ
のフレーム押え内の空気を酸化防止用雰囲気ガスに置換
し、しかる後、フレーム押えでリードフレームを押圧し
た状態でボンディングコレットを下げ、半導体チップを
ダイパッド上に載せて半田付けするものであり、また、
本発明に係るダイボンド装置は、ダイパッドに半田が予
め設けられたリードフレームを支承するヒータ内蔵式加
熱台と、半導体チップを保持してボンディング部上で昇
降させるボンディングコレットと、このボンディングコ
レットに押圧部材を介して下側へ付勢された状態で上下
移動自在に取付けられ、かつ前記ダイパッドの側方およ
び上方を囲む箱蓋状に形成され、前記リードフレームを
加熱台に押し付けるフレーム押えとを備えてなり、前記
フレーム押えの内面および加熱台のダイパッド対接部近
傍に、ガスを吸引して酸化防止用雰囲気ガスを供給する
ガス置換装置のガス通路を開口させたものであるため、
ダイパッド上の半田は、フレーム押えでリードフレーム
を加熱台に押圧固定することによって外気に対して隔絶
されることになり、雰囲気ガス中でダイパッドに濡れ拡
がることになる。したがって、溶融された半田が空気中
の酸素によって酸化されるのを可及的抑えた状態で、換
言すれば良好な半田付け状態をもって半導体チップを半
田付けすることができる。このため、半導体チップが大
型であっても半田付け部の品質の高い半導体装置を得る
ことができる。また、フレーム押え内の空気が強制的に
雰囲気ガスに置換されるため、ボンディング時にリード
フレームが停止している時間を可及的短縮することがで
きる関係から、プロセス時間を短縮して生産性を高める
ことができるという効果もある。
ンド方法は、ダイパッドに半田が予め設けられたリード
フレームを、半導体チップ保持用ボンディングコレット
に上下移動自在に取付けられかつダイパッドを囲む箱蓋
状フレーム押えによって加熱台に押し付け、次いで、こ
のフレーム押え内の空気を酸化防止用雰囲気ガスに置換
し、しかる後、フレーム押えでリードフレームを押圧し
た状態でボンディングコレットを下げ、半導体チップを
ダイパッド上に載せて半田付けするものであり、また、
本発明に係るダイボンド装置は、ダイパッドに半田が予
め設けられたリードフレームを支承するヒータ内蔵式加
熱台と、半導体チップを保持してボンディング部上で昇
降させるボンディングコレットと、このボンディングコ
レットに押圧部材を介して下側へ付勢された状態で上下
移動自在に取付けられ、かつ前記ダイパッドの側方およ
び上方を囲む箱蓋状に形成され、前記リードフレームを
加熱台に押し付けるフレーム押えとを備えてなり、前記
フレーム押えの内面および加熱台のダイパッド対接部近
傍に、ガスを吸引して酸化防止用雰囲気ガスを供給する
ガス置換装置のガス通路を開口させたものであるため、
ダイパッド上の半田は、フレーム押えでリードフレーム
を加熱台に押圧固定することによって外気に対して隔絶
されることになり、雰囲気ガス中でダイパッドに濡れ拡
がることになる。したがって、溶融された半田が空気中
の酸素によって酸化されるのを可及的抑えた状態で、換
言すれば良好な半田付け状態をもって半導体チップを半
田付けすることができる。このため、半導体チップが大
型であっても半田付け部の品質の高い半導体装置を得る
ことができる。また、フレーム押え内の空気が強制的に
雰囲気ガスに置換されるため、ボンディング時にリード
フレームが停止している時間を可及的短縮することがで
きる関係から、プロセス時間を短縮して生産性を高める
ことができるという効果もある。
【図1】本発明のダイボンド方法を実施する際に使用す
るダイボンド装置の断面図である。
るダイボンド装置の断面図である。
【図2】従来のダイボンド装置の断面図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム
2 フレームパッド
3 半田
4 プラテン
5 ヒートブロック
9 半導体チップ
10 ボンディングコレット
21 フレーム押え
22 ガイド
24 圧縮コイルばね
26 ガス供給管
27 吸引通路
Claims (2)
- 【請求項1】 ダイパッドに半田が予め設けられたリ
ードフレームを、半導体チップ保持用ボンディングコレ
ットに上下移動自在に取付けられかつダイパッドを囲む
箱蓋状フレーム押えによって加熱台に押し付け、次いで
、このフレーム押え内の空気を酸化防止用雰囲気ガスに
置換し、しかる後、フレーム押えでリードフレームを押
圧した状態でボンディングコレットを下げ、半導体チッ
プをダイパッド上に載せて半田付けすることを特徴とす
るダイボンド方法。 - 【請求項2】 ダイパッドに半田が予め設けられたリ
ードフレームを支承するヒータ内蔵式加熱台と、半導体
チップを保持してボンディング部上で昇降させるボンデ
ィングコレットと、このボンディングコレットに押圧部
材を介して下側へ付勢された状態で上下移動自在に取付
けられ、かつ前記ダイパッドの側方および上方を囲む箱
蓋状に形成され、前記リードフレームを加熱台に押し付
けるフレーム押えとを備えてなり、前記フレーム押えの
内面および加熱台のダイパッド対接部近傍に、ガスを吸
引して酸化防止用雰囲気ガスを供給するガス置換装置の
ガス通路を開口させたことを特徴とするダイボンド装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9661391A JPH04326739A (ja) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | ダイボンド方法およびダイボンド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9661391A JPH04326739A (ja) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | ダイボンド方法およびダイボンド装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04326739A true JPH04326739A (ja) | 1992-11-16 |
Family
ID=14169710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9661391A Pending JPH04326739A (ja) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | ダイボンド方法およびダイボンド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04326739A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06252183A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Nec Corp | 半導体素子実装ステージ |
EP0606522A3 (en) * | 1993-01-12 | 1996-04-10 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device and method of manufacturing and mounting semiconductor devices. |
WO2001091175A1 (en) * | 2000-05-26 | 2001-11-29 | Casem (Asia) Pte Ltd | Method and device for bleed out control in solder bonding |
KR20180007674A (ko) * | 2016-07-13 | 2018-01-23 | 파스포드 테크놀로지 주식회사 | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
-
1991
- 1991-04-26 JP JP9661391A patent/JPH04326739A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0606522A3 (en) * | 1993-01-12 | 1996-04-10 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device and method of manufacturing and mounting semiconductor devices. |
EP0817254A3 (en) * | 1993-01-12 | 1998-01-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and methods for producing and mounting the semiconductor device |
US5770468A (en) * | 1993-01-12 | 1998-06-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Process for mounting a semiconductor chip to a chip carrier by exposing a solder layer to a reducing atmosphere |
JPH06252183A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Nec Corp | 半導体素子実装ステージ |
WO2001091175A1 (en) * | 2000-05-26 | 2001-11-29 | Casem (Asia) Pte Ltd | Method and device for bleed out control in solder bonding |
KR20180007674A (ko) * | 2016-07-13 | 2018-01-23 | 파스포드 테크놀로지 주식회사 | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
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