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JPH04315951A - 逆反射スクリーンによる表面検査装置 - Google Patents

逆反射スクリーンによる表面検査装置

Info

Publication number
JPH04315951A
JPH04315951A JP8249291A JP8249291A JPH04315951A JP H04315951 A JPH04315951 A JP H04315951A JP 8249291 A JP8249291 A JP 8249291A JP 8249291 A JP8249291 A JP 8249291A JP H04315951 A JPH04315951 A JP H04315951A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
inspection
reflected
half mirror
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8249291A
Other languages
English (en)
Inventor
Junji Haga
潤二 芳賀
Yoshiichi Mori
森 芳一
Shigeto Adachi
成人 足立
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
Priority to JP8249291A priority Critical patent/JPH04315951A/ja
Publication of JPH04315951A publication Critical patent/JPH04315951A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,自動車外板,プラスチ
ック面などの表面検査方法に関し,詳しくは,逆反射ス
クリーンを用いて検査対象物表面の欠陥部分を明暗画像
として強調することで,欠陥部分を発見する表面検査方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】逆反射スクリーンを利用した表面検査方
法として,特開昭62−502358号に示されるもの
があり,その要旨は次の通りである。この検査方法に用
いる検査装置は,図8に示すように逆反射スクリーン3
0,カメラ31,光源32の基本要素により構成される
。検査対象物33の表面を,逆反射スクリーン30と光
源32の間に置き,光源32の光が検査対象物33の表
面に当り,反射して逆反射スクリーン30に向かうよう
な相対的位置に配置する。検査対象物33で反射し逆反
射スクリーン30に入ってきた光は,入射光軸とほぼ同
じ方向に反射し,再び検査対象物33の表面で反射して
,光源32のやや上方に配置されたカメラ31に捕えら
れる。これによって検査対象物33の表面の凹凸変化が
光学的に強調された画像をカメラ31に捕えることがで
き,平滑であるべき表面の欠陥場所を容易に発見するこ
とができる。
【0003】この検出原理を図9及び図10を用いて説
明する。図9は検査対象物33の表面に欠陥のない場合
を示し,図10は欠陥のある場合を示している。逆反射
スクリーン30は,その表面にビーズ状の反射球34が
密設されており,各反射球34は入射光に対し図示する
ような指向性の反射パターンを有している。図9に示す
ように,表面に欠陥がない場合,光源方向から来た光は
,検査対象物33の表面で逆反射スクリーン30の方向
に反射する。光源近傍の光源よりやや上に設置されたカ
メラ31は,図中のカメラビューイング方向から,検査
対象物33表面に向いており,逆反射スクリーン30か
らの反射光が,検査対象物33で再反射する光を捕えて
いる。いま検査対象物33表面のA,B,Cの各点をカ
メラ31から見るとき,欠陥のない平面では,逆反射ス
クリーン30の各反射球34の角度αで反射される同じ
強さの光を見ていることになり,カメラ31は濃淡変化
のない中間的な明るさをもった面として捕える。
【0004】一方,図10のように検査対象物33の表
面に欠陥がある場合,カメラ31は欠陥のないA点では
前記と同様に逆反射スクリーン30の反射球の角度αか
らの光を捕えるが,B点(カメラ側から見て下り坂)で
は,反射角γの強い光を捕え,またC点(カメラ側から
見て上り坂)では,角度βの弱い光を捕えることになる
。従って,B点の下り坂では明るく,C点の上り坂では
暗く見えることになる。逆反射スクリーン30の反射球
34の反射パターンの指向性の幅は,約±1度と鋭いた
め,欠陥の微妙な傾きでも,明暗の変化量が激しく,欠
陥の凹凸が強調されて観測されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来例装置を検査
対象物33の表面欠陥の発見だけを目的とするならば,
その要求は満たされるが,欠陥部分の形状を定量化しよ
うとする場合には,次のような問題点が生じる。まず,
光源32からの光が直接,欠陥部分に当たる光路を考え
ると,欠陥部分が凹部である場合には,その凹部からの
反射光が逆反射スクリーン30から反射されて検査対象
物33に戻り,再反射した光をカメラ31が捕えるとき
,凹部が凹面鏡的な役割りをする結果,欠陥部の明暗像
の先に,欠陥凹部の影響による明るい疑似像が生じる。 また,欠陥部分が凸部であるときは,凸部が凸面鏡的な
役割をするため,同じ位置に暗い疑似像が生じる。 疑似像は欠陥のない場所に,あたかもそこに欠陥がある
がごときに現れるので,欠陥検査上において,疑似像が
生じる位置にも欠陥が有るように誤認することになる。
【0006】このような欠陥部分による疑似像の発生は
,欠陥部分が少ない場合であれば欠陥像と疑似像を識別
することができるが,プラスチック板などのように表面
全体に微小なうねりが分布しているような検査対象物で
あるとき,多数の疑似像が欠陥像にオーバラップして除
去できないノイズとなってしまい,欠陥形状の定量化は
不可能となる。また,上記従来例装置において,光源3
2とカメラ31の位置が同一位置にないことに起因する
検査不能領域が発生する問題点がある。これは図7に光
路図として示すように,光源32からの光が検査対象物
33の表面で反射して逆反射スクリーン30に向かい,
反射されて再び検査対象物33に当る,その再反射光を
カメラ31で捕えるとき,検査対象物33のカメラ31
側の端部は逆反射スクリーン30からの反射光が当らな
いダークバンド部分Hを生ずる。例えば,図11に示す
ような自動車ドア36の表面検査をするにおいて,図中
手前(下)をカメラ31及び光源32の側とし,奥(上
)を逆反射スクリーン30の側とすると,図示するよう
に手前の端辺37と開口部38,39から奥方向の,検
査対象物33の表面以外の反射が混入する部分は検査で
きないことになる。これは,光源32がカメラ31の下
方に設置されることによる影響である。光源32をカメ
ラ31の上方に設置すると,前記と逆の端にダークバン
ドHが発生し,検査できない領域となる。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明は,表面にビーズ状の反射球を密設した逆反射
スクリーンと,光源と,検査対象物とを,前記光源から
の光が逆反射スクリーンで反射され検査対象物の表面で
再反射した後,光源の近傍に配置したカメラで捕える逆
反射スクリーンによる表面検査装置において,前記光源
と,前記逆反射スクリーンと,前記検査対象物との間の
光路に前記検査対象物に平行なハーフミラーを配置し,
光源からの光が前記ハーフミラーに当って反射し,逆反
射スクリーンに向かい反射してハーフミラーに戻り,ハ
ーフミラーを透過して検査対象物に当るように配置した
ことを特徴とする逆反射スクリーンによる表面検査装置
として構成されている。
【0008】
【作用】上記構成によれば,光源からの光はハーフミラ
ーに当って反射し逆反射スクリーンに向かうので,ハー
フミラーの表面が充分に平坦であれば,光源からの光の
ビームパターンは一様に逆反射スクリーンで反射され,
ハーフミラーを透過して検査対象物に照射されることに
なる。従って,カメラで検査対象物からの反射光を捕え
るときには,検査対象物表面の傾きにのみ影響を受けた
明暗像を捕えることになり,疑似像の発生がなくなる。 また,ハーフミラーの面積を検査対象物に透過光のみを
与えるに充分な大きさのものにすれば,検査対象物から
の反射光を捕えるカメラはハーフミラーの透過光だけで
照射された画像を捕えることになるので,検査不能領域
の発生はなくなる。
【0009】
【実施例】次に,具体的に逆反射スクリーンによる表面
検査装置の一実施例を示す。図1は実施例の構成を示す
説明図である。図1に示すように,検査対象物5とハー
フミラー15は平行に配置され,光源3,逆反射スクリ
ーン1は,逆反射スクリーン1への入射光と反射光の角
度αが約1度となるように配置される。このときカメラ
2は,光源3の下方に配されている。この逆反射スクリ
ーン1,カメラ2,光源3の相対的位置の決定は次のよ
うになされる。
【0010】図2の光路図に示すように,カメラ2と逆
反射スクリーン1の位置を固定しておき,光源3を上下
移動させたとき,カメラ2で撮像した画像が最大輝度と
なる光源3の位置は,逆反射スクリーン1の入射光と反
射光の角度がα=0°となる位置(図1に破線で示す位
置)である。この位置から幾何学的に計算した距離だけ
光源の位置を下げれば,逆反射スクリーン1の入射光と
反射光の角度αは1度となる。上記のように配置したと
き,検査対象物5は,光源3からの光がハーフミラー1
5の表面で反射して逆反射スクリーン1に向かい反射し
て,ハーフミラー15を透過した光を受けることになる
。従って,ハーフミラー15の反射表面が充分に平坦で
あれば,検査対象物5は一様な明るさで照射される。 ハーフミラー15が配置されない従来構成にしたときの
光路を図4に示し,欠陥部分による疑似像が発生する状
況を説明し,本実施例により前記乱れた疑似像の発生が
なくなる訳を以下に説明する。
【0011】図4において,光源からの光は検査対象物
5で反射されて逆反射スクリーン1に向かい,その光は
逆反射スクリーン1の表面に密設された反射球7で反射
されて再び検査対象物5に戻り再反射するので,その再
反射光をカメラ2で捕える。このときのカメラ2が捕え
る検査対象物5からの再反射光は,図示するような光路
となる。逆反射スクリーン1の反射球7は,入射光線に
対し図示するような指向性をもった反射パターンである
ので,カメラ2が捕える画像は,検査対象物5の表面に
欠陥がないときは,明暗変化のない中間的な明るさをも
った面として捕える。検査対象物5の表面に凹の欠陥が
あるときには,図4に示すように,欠陥のないA点の再
反射光が反射球7の角度αでの反射光であるのを基準に
すると,欠陥部分のC点(カメラ側から見て下り坂)で
は,反射球7の角度γの強い光を受けてA点より明るく
なり,同じく欠陥部分のB点(カメラ側から見て上り坂
)では,反射球7の角度βの弱い光を受けてA点より暗
くなるので,欠陥部分が検出しやすくなる。このとき光
源3からの光を欠陥部分が凹面鏡的な役割をして反射す
る集中光は,図4に示すように逆反射スクリーン1のX
点の反射球7で反射され,カメラ2から見ると検査対象
物5のY点にA点より明るい画像として現れ,あたかも
Y点にも欠陥があるがごとき疑似像を出現させる。以上
の状態をカメラ2で捕えた画像は,図5に示すようにな
り,中央部に明暗変化した欠陥像Dと,その上方に疑似
像Qが表示される。このとき,欠陥部分が凹部でなく凸
部であったときは,欠陥部分は凸面鏡的な役割をするの
で,図6に示すように疑似像Q´は,光が戻ってこない
ので丸形の暗部として現れる。
【0012】上記のように,疑似像は検査対象物5の表
面で反射した光を逆反射スクリーン1によって再び検査
対象物に戻して照射する光路をとることにより発生する
ものであるが,本実施例装置によれば,光源3からの光
はハーフミラー15によって反射される光で検査対象物
5は照射されるので,カメラ2が捕える検査対象物5の
表面反射光は欠陥像は捕えても,疑似像を発生させるこ
とはない。
【0013】次に,検査不能領域をなくす構成について
説明する。図3に示すようにハーフミラー15の面積を
,検査対象物5をその透過光で照射するに充分な大きさ
にすると,従来装置の欠点であった検査表面の検査不能
領域の発生をなくすことができる。検査不能領域である
ダークバンドの発生は,先に説明したように,カメラ2
と光源3の位置が同一位置にできないことに起因するも
ので,検査対象物5の表面で反射した光を逆反射スクリ
ーン1で反射して検査対象物5を照射し,検査対象物5
の表面からの再反射光をカメラ2で捕えると,光路のず
れにより再反射光を捕えられない部分,即ちダークバン
ドが発生したが,図3に示す実施例装置によれば,この
ダークバンドの発生をなくすことができる。
【0014】従来装置の配置とは異なり,光源からの光
路の途中にハーフミラー15が配置されているので,光
源からの光はハーフミラー15によって反射され逆反射
スクリーン1に向かい,逆反射スクリーン1によって反
射され,ハーフミラー15を透過した光で検査対象物5
は照射される。ハーフミラー15の面積が検査対象物5
の表面を一様に照射できる大きさであれば,検査対象物
5からの反射光を捕えるカメラ2は,検査表面をあます
ところなく捕えることができる。これは,従来装置にお
いて,検査対象物5の反射光を逆反射スクリーン1で戻
して照射することによる光路のずれとは関係なく,検査
対象物5の照射はハーフミラー15の反射光に依存させ
ているため,ハーフミラー15の面積さえ充分に大きな
ものとすればよいことになる。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば,光源からの光はハーフ
ミラーに当って反射し逆反射スクリーンに向かうので,
ハーフミラーの表面が充分に平坦であれば,光源からの
光のビームパターンは一様に逆反射スクリーンで反射さ
れ,ハーフミラーを透過して検査対象物に照射されるこ
とになる。従って,カメラで検査対象物からの反射光を
捕えるときには,検査対象物表面の傾きにのみ影響を受
けた明暗像を捕えることになり,疑似像の発生はなくな
る。また,ハーフミラーの面積を検査対象物に透過光の
みを与えるに充分な大きさのものにすれば,検査対象物
からの反射光を捕えるカメラはハーフミラーの透過光だ
けで照射された画像を捕えることになるので,検査不能
領域の発生はなくなる。よって本発明は,従来例の課題
であった欠陥部分の影響による疑似像の発生と,光源と
カメラとの位置が同一でないことに起因する検査不能領
域とをなくし,逆反射スクリーンによる表面検査をより
完璧なものにする効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明に関る一実施例の逆反射スクリーン
による検査装置の構成を示す説明図。
【図2】  実施例装置の配置関係を示す説明図。
【図3】  検査不能領域をなくす実施態様の説明図。
【図4】  ハーフミラーがないときの光路図
【図5】
  欠陥部分が凹部であるときの疑似像発生の画像図。
【図6】  欠陥部分が凸部であるときの疑似像発生の
画像図。
【図7】  検査不能領域の発生を説明する光路図。
【図8】  従来例装置の構成図。
【図9】  従来例装置における欠陥部分のない場合の
光路図。
【図10】  従来例装置における欠陥部分のある場合
の光路図。
【図11】  従来例装置における検査不能領域を示す
説明図。
【符号の説明】
1…逆反射スクリーン 2…カメラ 3…光源 5…検査対象物 7…反射球 15…ハーフミラー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  表面にビーズ状の反射球を密設した逆
    反射スクリーンと,光源と,検査対象物とを,前記光源
    からの光が逆反射スクリーンで反射され検査対象物の表
    面で再反射した後,光源の近傍に配置したカメラで捕え
    る逆反射スクリーンによる表面検査装置において,前記
    光源と,前記逆反射スクリーンと,前記検査対象物との
    間の光路に前記検査対象物に平行なハーフミラーを配置
    し,光源からの光が前記ハーフミラーに当って反射し,
    逆反射スクリーンに向かい反射してハーフミラーに戻り
    ,ハーフミラーを透過して検査対象物に当るように配置
    したことを特徴とする逆反射スクリーンによる表面検査
    装置。
JP8249291A 1991-04-15 1991-04-15 逆反射スクリーンによる表面検査装置 Pending JPH04315951A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8249291A JPH04315951A (ja) 1991-04-15 1991-04-15 逆反射スクリーンによる表面検査装置

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JP8249291A JPH04315951A (ja) 1991-04-15 1991-04-15 逆反射スクリーンによる表面検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04315951A true JPH04315951A (ja) 1992-11-06

Family

ID=13775995

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8249291A Pending JPH04315951A (ja) 1991-04-15 1991-04-15 逆反射スクリーンによる表面検査装置

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JP (1) JPH04315951A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022074228A (ja) * 2020-11-04 2022-05-18 株式会社ヒューテック 欠陥検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022074228A (ja) * 2020-11-04 2022-05-18 株式会社ヒューテック 欠陥検査装置

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