JPH04283679A - 光波測距装置 - Google Patents
光波測距装置Info
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- JPH04283679A JPH04283679A JP3072598A JP7259891A JPH04283679A JP H04283679 A JPH04283679 A JP H04283679A JP 3072598 A JP3072598 A JP 3072598A JP 7259891 A JP7259891 A JP 7259891A JP H04283679 A JPH04283679 A JP H04283679A
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- Japan
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- light
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/32—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
- G01S17/36—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated with phase comparison between the received signal and the contemporaneously transmitted signal
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被測距物（目標物）
までの距離を測定するに用いられる光波測距装置に関す
る。
までの距離を測定するに用いられる光波測距装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の光波測距装置においては、出射光
と反射光とを用いて光学的に距離を測定する装置として
、例えば図３に示すような構成を有するものがある。
と反射光とを用いて光学的に距離を測定する装置として
、例えば図３に示すような構成を有するものがある。
【０００３】このような従来の光波測距装置は、基準発
振回路１からの基準信号に従った発光信号でバッファ・
ゲート回路２を通して駆動する発光素子３の光出力（Ｌ
１）を、目標物Ｐに向け出射する。
振回路１からの基準信号に従った発光信号でバッファ・
ゲート回路２を通して駆動する発光素子３の光出力（Ｌ
１）を、目標物Ｐに向け出射する。
【０００４】この目標物Ｐから反射された反射光Ｌ２は
、受光素子４に入射されて受光され、この受光素子４の
出力は、自動利得制御用増幅器（ＡＧＣ・ＡＭＰ）また
はゲイン固定の交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）、図示の例
では自動利得制御用増幅器５を介して交流増幅器６に入
力されて増幅されるとともに、この増幅された信号出力
は、波形整形回路７を介してデジタル式のミックスダウ
ン回路８に入力されるようになっている。
、受光素子４に入射されて受光され、この受光素子４の
出力は、自動利得制御用増幅器（ＡＧＣ・ＡＭＰ）また
はゲイン固定の交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）、図示の例
では自動利得制御用増幅器５を介して交流増幅器６に入
力されて増幅されるとともに、この増幅された信号出力
は、波形整形回路７を介してデジタル式のミックスダウ
ン回路８に入力されるようになっている。
【０００５】このミックスダウン回路８は、前記基準発
振回路１からの基準信号と局部発振器９からの局部発振
信号との差に従って位相情報のみを変化させることなく
周波数を低くする動作を行うようになっているもので、
このように周波数変換された前記基準発振回路１からの
基準信号出力と反射光Ｌ２の信号出力とを中央処理装置
（ＣＰＵ）１０に入力し、位相の差をカウントすること
により、目標物Ｐまでの距離を測定してなる構成を有す
る。
振回路１からの基準信号と局部発振器９からの局部発振
信号との差に従って位相情報のみを変化させることなく
周波数を低くする動作を行うようになっているもので、
このように周波数変換された前記基準発振回路１からの
基準信号出力と反射光Ｌ２の信号出力とを中央処理装置
（ＣＰＵ）１０に入力し、位相の差をカウントすること
により、目標物Ｐまでの距離を測定してなる構成を有す
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光波測距装置では、増幅度によって位相遅延
が異なるために、膨大な量の位相補正データが必要であ
り、ゲインに対する位相誤差を補償することが不可能で
あり、正確な距離の測定が行えないといった問題があっ
た。
うな従来の光波測距装置では、増幅度によって位相遅延
が異なるために、膨大な量の位相補正データが必要であ
り、ゲインに対する位相誤差を補償することが不可能で
あり、正確な距離の測定が行えないといった問題があっ
た。
【０００７】
【発明の目的】この発明の目的は、ゲインに対する位相
誤差の補償を可能にし、正確な距離の測定を行うことが
できるようにした光波測距装置を提供することにある。
誤差の補償を可能にし、正確な距離の測定を行うことが
できるようにした光波測距装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、この発明は、基準発振回路からの基準信号に従
った発光信号で駆動する発光素子の光出力を被測距物に
向け出射し、この被測距物から反射された反射光を受光
素子で受光して、この受光素子の出力を増幅器で増幅し
、波形整形回路を介してミックスダウン回路に入力する
とともに、このミックスダウン回路にて周波数変換され
た前記反射光の信号出力と基準発振回路からの基準信号
出力の位相差を検出してなる光波測距装置において、前
記受光素子の出力をラダー抵抗式の減衰回路に接続し、
この減衰回路の各ラダーの接続点をマルチプレクサにそ
れぞれ選択的に切り換え可能に接続するとともに、この
マルチプレクサにて選択された信号を前記増幅器により
増幅して前記波形整形回路を介してミックスダウン回路
に入力してなる一方、前記増幅器の出力振幅を検出する
信号振幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてあ
る一定値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げる
ように前記マルチプレクサを切り換え制御することを特
徴としたものである。
ために、この発明は、基準発振回路からの基準信号に従
った発光信号で駆動する発光素子の光出力を被測距物に
向け出射し、この被測距物から反射された反射光を受光
素子で受光して、この受光素子の出力を増幅器で増幅し
、波形整形回路を介してミックスダウン回路に入力する
とともに、このミックスダウン回路にて周波数変換され
た前記反射光の信号出力と基準発振回路からの基準信号
出力の位相差を検出してなる光波測距装置において、前
記受光素子の出力をラダー抵抗式の減衰回路に接続し、
この減衰回路の各ラダーの接続点をマルチプレクサにそ
れぞれ選択的に切り換え可能に接続するとともに、この
マルチプレクサにて選択された信号を前記増幅器により
増幅して前記波形整形回路を介してミックスダウン回路
に入力してなる一方、前記増幅器の出力振幅を検出する
信号振幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてあ
る一定値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げる
ように前記マルチプレクサを切り換え制御することを特
徴としたものである。
【０００９】また、この発明は、マルチプレクサの信号
通過経路に応じて位相補正データを持ち、これらの位相
補正データを用いて測距データを補正するようにしてな
る一方、複数の減衰回路の１つを基準チャンネルとし、
この基準チャンネルに対するチャンネル間誤差のみをメ
モリに記憶して、チャンネル間補償を行うように構成し
てなるものである。
通過経路に応じて位相補正データを持ち、これらの位相
補正データを用いて測距データを補正するようにしてな
る一方、複数の減衰回路の１つを基準チャンネルとし、
この基準チャンネルに対するチャンネル間誤差のみをメ
モリに記憶して、チャンネル間補償を行うように構成し
てなるものである。
【００１０】
【作用】すなわち、この発明は、受光素子の出力をラダ
ー抵抗式の減衰回路に接続し、この減衰回路の各ラダー
の接続点をマルチプレクサにそれぞれ選択的に切り換え
可能に接続するとともに、このマルチプレクサにて選択
された信号を増幅器により増幅して波形整形回路を介し
てミックスダウン回路に入力するようになっているため
に、ミックスダウン回路が基準発振回路からの基準信号
と局部発振器からの信号との差に従って位相情報のみを
変化させることなく周波数を低くする動作を行い、この
ミックスダウン回路にて周波数変換された反射光の信号
出力と基準信号出力の位相の差をカウントすることによ
り、時間差による高精度の距離の測定が可能になる。
ー抵抗式の減衰回路に接続し、この減衰回路の各ラダー
の接続点をマルチプレクサにそれぞれ選択的に切り換え
可能に接続するとともに、このマルチプレクサにて選択
された信号を増幅器により増幅して波形整形回路を介し
てミックスダウン回路に入力するようになっているため
に、ミックスダウン回路が基準発振回路からの基準信号
と局部発振器からの信号との差に従って位相情報のみを
変化させることなく周波数を低くする動作を行い、この
ミックスダウン回路にて周波数変換された反射光の信号
出力と基準信号出力の位相の差をカウントすることによ
り、時間差による高精度の距離の測定が可能になる。
【００１１】また、増幅器の出力振幅を検出する信号振
幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてある一定
値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように
マルチプレクサを切り換え制御するようになっているた
めに、受光素子の受光量が変化しても、減衰回路の振幅
が一定値に保たれ、波形歪や増幅器のスリューレート等
による伝達時間の変化が防止される。
幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてある一定
値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように
マルチプレクサを切り換え制御するようになっているた
めに、受光素子の受光量が変化しても、減衰回路の振幅
が一定値に保たれ、波形歪や増幅器のスリューレート等
による伝達時間の変化が防止される。
【００１２】さらに、マルチプレクサの信号通過経路に
応じて位相補正データを持ち、これらの位相補正データ
を用いて測距データを補正するようになっているために
、ゲインに対する位相誤差の補償が可能になる。
応じて位相補正データを持ち、これらの位相補正データ
を用いて測距データを補正するようになっているために
、ゲインに対する位相誤差の補償が可能になる。
【００１３】また、複数の減衰回路の１つを基準チャン
ネルとし、この基準チャンネルに対するチャンネル間誤
差のみをメモリに記憶して、チャンネル間補償を行うよ
うになっているために、マルチプレクサを信号振幅に応
じて切り換えた場合でも、正確な測距値が得られる。
ネルとし、この基準チャンネルに対するチャンネル間誤
差のみをメモリに記憶して、チャンネル間補償を行うよ
うになっているために、マルチプレクサを信号振幅に応
じて切り換えた場合でも、正確な測距値が得られる。
【００１３】
【実施例】以下、この発明を図１及び図２に示す一実施
例を参照しながら説明する。なお、この発明に係る図示
の実施例において、図３に示す従来の光波測距装置と構
成が重複する部分は同一符号を用いて説明する。
例を参照しながら説明する。なお、この発明に係る図示
の実施例において、図３に示す従来の光波測距装置と構
成が重複する部分は同一符号を用いて説明する。
【００１４】すなわち、この発明に係る光波測距装置は
、図１及び図２に示すように、受光素子４の出力をＡＣ
結合してラダー抵抗式の減衰回路（ＡＴＴ回路）５１へ
接続されるようになっていて、このＡＴＴ回路５１の各
ラダーの接続点からそれぞれマルチプレクサ５２に接続
されて入力切換え信号により選択的に切り換え可能にな
っている。この場合、前記ＡＴＴ回路５１の前段にバッ
ファ回路を設けても良い。
、図１及び図２に示すように、受光素子４の出力をＡＣ
結合してラダー抵抗式の減衰回路（ＡＴＴ回路）５１へ
接続されるようになっていて、このＡＴＴ回路５１の各
ラダーの接続点からそれぞれマルチプレクサ５２に接続
されて入力切換え信号により選択的に切り換え可能にな
っている。この場合、前記ＡＴＴ回路５１の前段にバッ
ファ回路を設けても良い。
【００１５】このマルチプレクサ５２にて選択された信
号は、前記交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）６により増幅さ
れ、従前と同様に波形整形回路７を通してデジタルミッ
クスダウン回路８へ入力されるようになっている。
号は、前記交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）６により増幅さ
れ、従前と同様に波形整形回路７を通してデジタルミッ
クスダウン回路８へ入力されるようになっている。
【００１６】前記マルチプレクサ５２は、基準発振回路
１からの基準信号と局部発振器９からの信号との差に従
って位相情報のみを変化させることなく周波数を低くす
る動作を行うようになっているものである。
１からの基準信号と局部発振器９からの信号との差に従
って位相情報のみを変化させることなく周波数を低くす
る動作を行うようになっているものである。
【００１７】そして、前記ミックスダウン回路８にて周
波数変換された基準発振回路１からの基準信号出力と反
射光Ｌ２の信号出力をＣＰＵ１０に入力し、位相の差を
カウントすることにより、高精度の計測を可能にしてい
る。
波数変換された基準発振回路１からの基準信号出力と反
射光Ｌ２の信号出力をＣＰＵ１０に入力し、位相の差を
カウントすることにより、高精度の計測を可能にしてい
る。
【００１８】この場合、例えば基準信号の出力を１．２
ＭＨｚ、局部発振信号の出力を１．１９９０４ＭＨｚを
用いることにより、９６０Ｈｚの同位相信号に変換する
ことが可能である。
ＭＨｚ、局部発振信号の出力を１．１９９０４ＭＨｚを
用いることにより、９６０Ｈｚの同位相信号に変換する
ことが可能である。
【００１９】ところが、このような構成においては、目
標物Ｐまでの測距は可能であるが、目標物Ｐまでの距離
により受光素子４の受光量が変化し、それに従って、従
前ではＡＭＰ回路の振幅変化が生じ、大振幅になってし
まう。
標物Ｐまでの測距は可能であるが、目標物Ｐまでの距離
により受光素子４の受光量が変化し、それに従って、従
前ではＡＭＰ回路の振幅変化が生じ、大振幅になってし
まう。
【００２０】このように、ＡＭＰ回路が大振幅になって
しまった場合には、波形歪、ＡＭＰのスリューレート等
により伝達時間が変化し、正確な位相測定が望めない。
しまった場合には、波形歪、ＡＭＰのスリューレート等
により伝達時間が変化し、正確な位相測定が望めない。
【００２１】このため、この発明においては、前記ＡＣ
・ＡＭＰ６の出力振幅を検出する信号振幅検出回路１１
を設け、この信号振幅検出回路１１にてある一定値以上
の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように前記マ
ルチプレクサ５２を切り換え制御するような構成となっ
ている。
・ＡＭＰ６の出力振幅を検出する信号振幅検出回路１１
を設け、この信号振幅検出回路１１にてある一定値以上
の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように前記マ
ルチプレクサ５２を切り換え制御するような構成となっ
ている。
【００２２】また、このような構成を採用しても、高速
周波数の信号が、信号の経路を変えたり、経由する素子
を変化させると、伝達遅延時間が変化してしまい、正確
な測定を期待することができない。
周波数の信号が、信号の経路を変えたり、経由する素子
を変化させると、伝達遅延時間が変化してしまい、正確
な測定を期待することができない。
【００２３】そこで、この発明では、上記のように信号
振幅を規定した場合には、マルチプレクサ５２の切り換
えにより、プリント基板のパターンや、経由素子が変化
するが、チャンネル間の後れ時間はある一定の値となる
ことに鑑み、マルチプレクサ５２の信号通過経路に応じ
て位相補正データを持ち、これらの位相補正データを用
いて測距データを補正する。
振幅を規定した場合には、マルチプレクサ５２の切り換
えにより、プリント基板のパターンや、経由素子が変化
するが、チャンネル間の後れ時間はある一定の値となる
ことに鑑み、マルチプレクサ５２の信号通過経路に応じ
て位相補正データを持ち、これらの位相補正データを用
いて測距データを補正する。
【００２４】さらに、複数のＡＴＴ回路５１の１つを基
準チャンネルとし、この基準チャンネルに対するチャン
ネル間誤差のみをＣＰＵ１０のＲＯＭに記憶して、チャ
ンネル間補償を行うように構成してなるものである。
準チャンネルとし、この基準チャンネルに対するチャン
ネル間誤差のみをＣＰＵ１０のＲＯＭに記憶して、チャ
ンネル間補償を行うように構成してなるものである。
【００２５】すなわち、初期に基準信号を入力したとき
の各チャンネル間固有の実後れ時間をメモリに記憶して
おくことにより、マルチプレクサ５２を信号振幅に応じ
て切り換えた場合でも、初期に記憶した値を加減するこ
とにより、正確な値を得ることが可能になり、これによ
って、従来不可能であったゲイン切換えに対する広範囲
の測定範囲を電気的に達成することが可能になる。
の各チャンネル間固有の実後れ時間をメモリに記憶して
おくことにより、マルチプレクサ５２を信号振幅に応じ
て切り換えた場合でも、初期に記憶した値を加減するこ
とにより、正確な値を得ることが可能になり、これによ
って、従来不可能であったゲイン切換えに対する広範囲
の測定範囲を電気的に達成することが可能になる。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明は、受光素子の出力をラダー抵抗式のＡＴＴ回路に接
続し、このＡＴＴ回路の各ラダーの接続点をマルチプレ
クサにそれぞれ選択的に切り換え可能に接続するととも
に、このマルチプレクサにて選択された信号を増幅器に
より増幅して波形整形回路を介してミックスダウン回路
に入力するようになっていることから、時間差による高
精度の距離の測定を行うことができる。
明は、受光素子の出力をラダー抵抗式のＡＴＴ回路に接
続し、このＡＴＴ回路の各ラダーの接続点をマルチプレ
クサにそれぞれ選択的に切り換え可能に接続するととも
に、このマルチプレクサにて選択された信号を増幅器に
より増幅して波形整形回路を介してミックスダウン回路
に入力するようになっていることから、時間差による高
精度の距離の測定を行うことができる。
【００２７】また、増幅器の出力振幅を検出する信号振
幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてある一定
値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように
マルチプレクサを切り換え制御するようになっているた
めに、受光素子の受光量が変化しても、ＡＴＴ回路の振
幅が一定値に保たれ、波形歪や増幅器のスリューレート
等による伝達時間の変化を防止することができる。
幅検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてある一定
値以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように
マルチプレクサを切り換え制御するようになっているた
めに、受光素子の受光量が変化しても、ＡＴＴ回路の振
幅が一定値に保たれ、波形歪や増幅器のスリューレート
等による伝達時間の変化を防止することができる。
【００２８】さらに、マルチプレクサの信号通過経路に
応じて位相補正データを持ち、これらの位相補正データ
を用いて測距データを補正するようになっているために
、ゲインに対する位相誤差の補償ができる。
応じて位相補正データを持ち、これらの位相補正データ
を用いて測距データを補正するようになっているために
、ゲインに対する位相誤差の補償ができる。
【００２９】また、複数のＡＴＴ回路の１つを基準チャ
ンネルとし、この基準チャンネルに対するチャンネル間
誤差のみをメモリに記憶して、チャンネル間補償を行う
ようになっているために、マルチプレクサを信号振幅に
応じて切り換えた場合でも、正確な測距値を得ることが
できる。
ンネルとし、この基準チャンネルに対するチャンネル間
誤差のみをメモリに記憶して、チャンネル間補償を行う
ようになっているために、マルチプレクサを信号振幅に
応じて切り換えた場合でも、正確な測距値を得ることが
できる。
【図１】この発明に係る光波測距装置の一実施例を示す
概略的ブロック図である。
概略的ブロック図である。
【図２】同じく受光素子の出力に接続されるＡＴＴ回路
及びマルチプレクサの概略的説明図である。
及びマルチプレクサの概略的説明図である。
【図３】従来の光波測距装置を示す概略的ブロック図で
ある。
ある。
１・・・基準発振器、３・・・発光素子、４・・・受光
素子、５１・・・減衰回路（ＡＴＴ回路）、５２・・・
マルチプレクサ、６・・・交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）
、７・・・波形整流回路、８・・・ミックスダウン回路
、９・・・局部発振器、１０・・・中央処理装置（ＣＰ
Ｕ）、１１・・・信号振幅検出回路、Ｌ１・・・出射光
、Ｌ２・・・反射光。
素子、５１・・・減衰回路（ＡＴＴ回路）、５２・・・
マルチプレクサ、６・・・交流増幅器（ＡＣ・ＡＭＰ）
、７・・・波形整流回路、８・・・ミックスダウン回路
、９・・・局部発振器、１０・・・中央処理装置（ＣＰ
Ｕ）、１１・・・信号振幅検出回路、Ｌ１・・・出射光
、Ｌ２・・・反射光。
Claims (3)
- 【請求項１】基準発振回路からの基準信号に従った発光
信号で駆動する発光素子の光出力を被測距物に向け出射
し、この被測距物から反射された反射光を受光素子で受
光して、この受光素子の出力を増幅器で増幅し、波形整
形回路を介してミックスダウン回路に入力するとともに
、このミックスダウン回路にて周波数変換された前記反
射光の信号出力と基準発振回路からの基準信号出力の位
相差を検出してなる光波測距装置において、前記受光素
子の出力をラダー抵抗式の減衰回路に接続し、この減衰
回路の各ラダーの接続点をマルチプレクサにそれぞれ選
択的に切り換え可能に接続するとともに、このマルチプ
レクサにて選択された信号を前記増幅器により増幅して
前記波形整形回路を介してミックスダウン回路に入力し
てなる一方、前記増幅器の出力振幅を検出する信号振幅
検出回路を設け、この信号振幅検出回路にてある一定値
以上の振幅が検出されたときに、振幅を下げるように前
記マルチプレクサを切り換え制御するように構成したこ
とを特徴とする光波測距装置。 - 【請求項２】マルチプレクサの信号通過経路に応じて位
相補正データを持ち、これらの位相補正データを用いて
測距データを補正するようにしたことを特徴とする請求
項１記載の光波測距装置。 - 【請求項３】複数の減衰回路の１つを基準チャンネルと
し、この基準チャンネルに対するチャンネル間誤差のみ
をメモリに記憶して、チャンネル間補償を行うようにし
たことを特徴とする請求項１記載の光波測距装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3072598A JPH04283679A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光波測距装置 |
| US07/846,811 US5204732A (en) | 1991-03-12 | 1992-03-06 | Optical distance measuring apparatus |
| CA002062662A CA2062662A1 (en) | 1991-03-12 | 1992-03-11 | Optical distance measuring apparatus |
| DE69213054T DE69213054T2 (de) | 1991-03-12 | 1992-03-11 | Optischer Entfernungsmesser |
| EP92104182A EP0503594B1 (en) | 1991-03-12 | 1992-03-11 | Optical distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3072598A JPH04283679A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光波測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04283679A true JPH04283679A (ja) | 1992-10-08 |
Family
ID=13494001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3072598A Pending JPH04283679A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光波測距装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5204732A (ja) |
| EP (1) | EP0503594B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04283679A (ja) |
| CA (1) | CA2062662A1 (ja) |
| DE (1) | DE69213054T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5491329A (en) * | 1993-12-03 | 1996-02-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photodetecting apparatus having intensity tuneable light irradiating unit |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5633706A (en) * | 1993-12-27 | 1997-05-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Optical distance measurement apparatus and method |
| US5512998A (en) * | 1994-06-22 | 1996-04-30 | The Titan Corporation | Contactless method and system for determining static and dynamic characteristics of target objects |
| US6100540A (en) * | 1999-02-22 | 2000-08-08 | Visidyne, Inc. | Laser displacement measurement system |
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