JPH04280661A - Manufacture of semiconductor device lead frame - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 8
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 abstract 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置用リードフレ
ームの製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing lead frames for semiconductor devices.
【0002】0002
【従来の技術】半導体装置用リードフレームは金属材を
プレス加工するか、化学的にエッチング加工して製造し
ている。いずれの場合にも、通常はうるべきリードフレ
ームの最終形状までプレス加工等によって形状形成して
リードフレームブランクを形成した後、必要なめっきを
行い、さらにはインナーリードが変形しないように絶縁
性のテープ片をインナーリードに貼着するようにしてい
る。しかしながら昨今は多ピン化の傾向にありリードが
細くなっていることから、上記のようにリードフレーム
の最終形態まで加工した後、めっき等の後工程を行うと
インナーリードが変形するおそれがあるので、インナー
リード先端とステージとの間の加工を行わず、この間は
金属材で繋げたまま必要なめっきを施し、またテープ片
の貼着などを行った後、最後にこの間の形状加工を行う
ようにしている。2. Description of the Related Art Lead frames for semiconductor devices are manufactured by pressing metal materials or by chemically etching them. In either case, the final shape of the lead frame is usually formed by pressing, etc. to form a lead frame blank, and then the necessary plating is performed, and insulating material is applied to prevent the inner leads from deforming. A piece of tape is attached to the inner lead. However, in recent years, there has been a trend towards increasing the number of pins and the leads are becoming thinner, so if you perform post-processes such as plating after processing the lead frame to its final form as described above, there is a risk that the inner leads may become deformed. , no processing is performed between the tip of the inner lead and the stage, the necessary plating is applied while the inner lead tip and the stage are connected with a metal material, and the shape of this space is processed after pasting the tape piece etc. I have to.
【0003】0003
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにインナーリード先端側をステージに繋げたままに
すると、インナーリード先端には必要なボンディングエ
リアを確保するためにコイニング加工を施すが、、この
コイニングによるインナーリードの伸びを吸収できず、
リードの反り等の変形が生じる問題点がある。このため
、インナーリード先端を連結片で繋げてこの連結片はス
テージとはフリー状態にし、この状態でコイニング、め
っき、テープ片の貼着などの必要工程を行い、最後に連
結片を分離するようにする方法もある。この方法によれ
ば、連結片で繋がったインナーリードはステージに対し
てフリー状態にあるから、インナーリード先端にコイニ
ング加工を施しても、このコイニング加工による伸びが
吸収され、リードの変形を防止できる。しかしながら、
プレス加工による場合、最後に連結片を分離する際、連
結片がフリー状態にあるため、連結片を除去するための
金型のダイ穴を連結片よりも大きなものに設定して連結
片のかじりを防止する必要があるが、この場合には逆に
分離された連結片がダイ穴内で引っ掛かりがなく、プレ
スのポンチの上昇と共に金型面上にまいあがる、いわゆ
るカス上がりの減少が生じ易く、ポンチを損傷したり、
製品に打痕を生じさせる問題点がある。そこで本発明は
上記問題点を解決すべくなされたものであり、その目的
とするところは、コイニング加工によるインナーリード
の伸びを効果的に吸収し、変形のないリードフレームを
製造できる半導体装置用リードフレームの製造方法を提
供するにある。[Problem to be Solved by the Invention] However, if the tip end of the inner lead is left connected to the stage as described above, the coining process is performed on the tip of the inner lead to ensure the necessary bonding area. Unable to absorb the growth of the inner lead due to coining,
There is a problem that deformation such as warping of the lead occurs. For this reason, the tip of the inner lead is connected with a connecting piece, and this connecting piece is made free from the stage, and the necessary processes such as coining, plating, and pasting of tape pieces are performed in this state, and finally the connecting piece is separated. There is also a way to do it. According to this method, the inner lead connected by the connecting piece is in a free state with respect to the stage, so even if the tip of the inner lead is coined, the elongation due to the coining process is absorbed and deformation of the lead can be prevented. . however,
In the case of press working, when the connecting piece is finally separated, the connecting piece is in a free state, so the die hole of the mold for removing the connecting piece is set to be larger than the connecting piece, and the connecting piece is scraped. However, in this case, the separated connecting pieces do not get caught in the die hole and tend to fly up onto the mold surface as the punch of the press rises, resulting in a reduction in so-called scrap lifting. damage the punch,
There is a problem in that it causes dents on the product. Therefore, the present invention has been made to solve the above problems, and its purpose is to provide a lead for semiconductor devices that can effectively absorb the elongation of the inner lead due to the coining process and produce a lead frame without deformation. To provide a method for manufacturing frames.
【0004】0004
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、半導体装置用リ
ードフレームの製造方法において、複数群のインナーリ
ードの各群のインナーリード先端が連結片により連結さ
れ、該連結片が指示片を介して半導体素子搭載用のステ
ージもしくは該ステージのサポートバーに連結されたリ
ードフレームブランクを形成するブランク成形工程と、
該リードフレームブランクのインナーリード先端をコイ
ニングするコイニング工程と、前記リードフレームブラ
ンクの必要部にめっきを施すめっき工程と、インナーリ
ード間に絶縁性のテープ片を貼着するテープ貼着工程と
、インナーリード先端を連結片から分離し前記指示片を
ステージもしくはサポートバーから分離する連結片の除
去工程とを具備することを特徴としている。ブランク成
形工程において連結片に連結片のほぼ全長に及ぶスリッ
トを形成するようにすると好適である。リードフレーム
ブランクに熱処理を施して内部残留応力を除去すると好
適である。ブランク成形工程がプレス加工による場合に
特に効果的である。Means for Solving the Problems The present invention has the following configuration to achieve the above object. That is, in a method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device, the inner lead tips of each group of a plurality of inner leads are connected by a connecting piece, and the connecting piece is connected to a stage for mounting a semiconductor element or a stage for mounting a semiconductor element through an indicator piece. a blank forming process forming a lead frame blank connected to the support bar;
a coining process of coining the tips of the inner leads of the lead frame blank; a plating process of plating necessary parts of the lead frame blank; a tape pasting process of pasting pieces of insulating tape between the inner leads; The present invention is characterized by comprising a connecting piece removal step of separating the lead tip from the connecting piece and separating the indicator piece from the stage or support bar. It is preferable to form a slit extending almost the entire length of the connecting piece in the blank forming process. Preferably, the lead frame blank is heat treated to remove internal residual stresses. This is particularly effective when the blank forming process is by press working.
【0005】[0005]
【作用】本発明に係る半導体装置用リードフレームの製
造方法によれば、第1工程のブランク成形工程において
、各群毎のインナーリードの先端を連結片により連結し
、この連結片を指示片によってステージもしくはサポー
トバーに接続しているので、インナーリード先端にコイ
ニング加工を施した際のリードの伸びが連結片が屈曲す
ることによって効果的に吸収され、リードの変形を防止
できる。この連結片にスリットを設ければ、リードが伸
びることによるステージ側からの抵抗もスリットの効果
により吸収され、リードの変形を防止できるのである。
また連結片の除去工程では、インナーリードと連結片と
の間および指示片とステージもしくはサポートバーとの
間、すなわち連結片の両サイドにおいて切断するので、
プレス金型によって連結片の分離を行う場合に、ダイ穴
を切断すべき連結片および指示片の大きさに形成すれば
よいから、分離された連結片(および指示片)が、当該
ダイ穴内壁に当接指示されて金型上方にまいあがること
がなく、ポンチの損傷、打痕の発生などを防止できる。[Operation] According to the method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to the present invention, in the first blank forming step, the tips of the inner leads of each group are connected by a connecting piece, and this connecting piece is connected by an indicator piece. Since it is connected to the stage or support bar, the elongation of the lead when coining is applied to the tip of the inner lead is effectively absorbed by the bending of the connecting piece, and deformation of the lead can be prevented. By providing a slit in this connecting piece, the resistance from the stage side due to the extension of the lead can be absorbed by the effect of the slit, and deformation of the lead can be prevented. In addition, in the process of removing the connecting piece, cutting is performed between the inner lead and the connecting piece and between the indicator piece and the stage or support bar, that is, on both sides of the connecting piece.
When separating the connecting pieces using a press mold, the die hole can be formed to the size of the connecting piece and the indicator piece to be cut, so the separated connecting piece (and the indicator piece) can be attached to the inner wall of the die hole. This prevents the punch from flying upwards due to contact with the mold, which prevents damage to the punch and the occurrence of dents.
【0006】[0006]
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。
第1工程;プレス加工
図1はプレス加工により形成されたリードフレームブラ
ンク10を示す。このブランク成形工程は、順送型によ
るプレス金型によって金属帯状部材を順次打ち抜き、図
示のリードフレームブランク10を形成する。12はそ
のインナーリード、14はステージ、16はサポートバ
ーである。インナーリード12の外方にはアウターリー
ド(図示せず)がインナーリードに連続して形成される
。その他リードフレームブランク10にはダムバーなど
公知の要素が形成される。本実施例では、クワッドタイ
プのリードフレームブランクを示し、その各4方の各1
群のインナーリード10先端が連結片18によって連結
されている。この連結片18は指示片20によってステ
ージ14に接続されている。また連結片18には連結片
18のほぼ全長に及んでスリット22が形成されている
。支持片20は幅狭に形成されていて、連結片18のほ
ぼ中央部とステージ14の対応する辺のほぼ中央部を連
結しており、また支持辺20が接続するステージ14の
辺の指示片20の両脇には浅い切欠部24を形成してい
る。したがって連結片18と指示片20とは極めて幅狭
の部位によって接続している。また、連結片18と支持
片20との接続部をさらに幅狭に形成し、インナーリー
ド先端をコイニングする際のリードの伸び等による変形
を極力吸収するために、該支持片20のスリット22側
に切り欠き部を設けてもよい。
第2工程;熱処理
上記のようにして形成したリードフレームブランク10
に熱処理を施してプレス加工によって生じた内部残留応
力を除去する。この熱処理条件は、金属材の種類、リー
ドフレームブランク10の形状等によって異なるが、N
2 雰囲気中で熱処理を行う。
第3工程;コイニング
次に、インナーリード12の先端にコイニング加工を施
す。このコイニング加工はインナーリード12先端をプ
レスして平坦にすると共に必要なボンディングエリアを
確保するものである。
第4工程;めっき
次いで、インナーリード12、ステージ14等に銀めっ
き、金めっきなどの必要なめっきを行う。このめっきは
ワイヤボンディング性、ダイ付け性を向上させるための
ものである。
第5工程;テープ貼着
次に、図1に示すように、インナーリード12先端間に
、ポリイミド樹脂等からなる絶縁性、耐熱性を有するテ
ープ片28を貼着する。これにより連結片18除去後に
おいてもインナーリード12がテープ片28によって固
定されているので変形が防止できる。
第6工程;連結片除去
次いでインナーリード12先端と連結片18との間を切
断し、指示片20とステージ14との間を切断して連結
片18を分離しインナーリード12の先端の形状を形成
する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings. First step: Pressing FIG. 1 shows a lead frame blank 10 formed by pressing. In this blank forming process, metal strip members are sequentially punched out using a progressive press die to form the lead frame blank 10 shown in the drawing. 12 is its inner lead, 14 is a stage, and 16 is a support bar. Outer leads (not shown) are formed outside the inner leads 12 and are continuous with the inner leads. In addition, known elements such as a dam bar are formed on the lead frame blank 10. In this example, a quad-type lead frame blank is shown, with one on each of the four sides.
The tips of the inner leads 10 of the group are connected by a connecting piece 18. This connecting piece 18 is connected to the stage 14 by an indicator piece 20. Further, a slit 22 is formed in the connecting piece 18 over almost the entire length of the connecting piece 18. The support piece 20 is formed narrowly and connects approximately the center of the connecting piece 18 and the approximately center of the corresponding side of the stage 14, and also has an indicator piece on the side of the stage 14 to which the support side 20 connects. Shallow notches 24 are formed on both sides of 20. Therefore, the connecting piece 18 and the indicator piece 20 are connected through an extremely narrow portion. In addition, the connecting portion between the connecting piece 18 and the supporting piece 20 is made narrower, and the slit 22 side of the supporting piece 20 is designed to absorb as much deformation as possible due to elongation of the lead when coining the tip of the inner lead. A notch may be provided in the. Second step: Heat treatment Lead frame blank 10 formed as described above
Heat treatment is applied to remove internal residual stress caused by press working. This heat treatment condition varies depending on the type of metal material, the shape of the lead frame blank 10, etc.
2 Perform heat treatment in an atmosphere. Third step: Coining Next, the tip of the inner lead 12 is subjected to a coining process. This coining process presses the tips of the inner leads 12 to make them flat and to secure the necessary bonding area. Fourth step: Plating Next, necessary plating such as silver plating or gold plating is performed on the inner leads 12, stage 14, etc. This plating is for improving wire bonding properties and die attachment properties. Fifth step: Attaching the tape Next, as shown in FIG. 1, an insulating and heat-resistant tape piece 28 made of polyimide resin or the like is attached between the tips of the inner leads 12. As a result, even after the connecting piece 18 is removed, the inner lead 12 is fixed by the tape piece 28, so that deformation can be prevented. Sixth step: Removal of the connecting piece Next, cut between the tip of the inner lead 12 and the connecting piece 18, cut between the indicator piece 20 and the stage 14, separate the connecting piece 18, and determine the shape of the tip of the inner lead 12. Form.
【0007】第1工程のブランク成形工程において、各
群毎のインナーリード12の先端を連結片18により接
続し、この連結片18にスリット22を形成し、さらに
連結片18を指示片20によってステージ14に接続し
ているので、第3工程のコイニング加工を施した際のリ
ードの伸びが連結片18が屈曲することによって効果的
に吸収され、リードの変形を防止できる。この連結片1
8は指示片20を介してステージ14にも接続している
が、指示片20が幅狭であること、また連結片18にス
リット22が設けられていることから、リードが伸びる
ことによるステージ14側からの抵抗もスリット22の
効果により吸収され、リードの変形を防止できるのであ
る。第2工程の熱処理によって、プレス加工によるリー
ドフレームブランク12内に残留する応力が解放され、
後工程で連結片18が分離された際、残留応力によるリ
ードの変形を防止する。第6工程の連結片18の除去工
程では、インナーリード12と連結片18との間および
指示片20とステージ14との間、すなわち連結片18
の両サイドにおいて切断するので、プレス金型によって
連結片18の分離を行う場合に、ダイ穴を切断すべき連
結片18および指示片20の大きさに形成すればよいか
ら、分離された連結片18(および指示片20)が、当
該ダイ穴内壁に当接指示されて金型上方にまいあがるこ
とがなく、ポンチの損傷、打痕の発生などを防止できる
。また、指示片20両脇のステージ14の辺に切欠部2
4を設けているので、指示辺20を切断する金型の切断
線がステージ14の辺と多少のミスマッチングしても支
障なく切断が行える。In the first blank forming step, the tips of the inner leads 12 of each group are connected by a connecting piece 18, a slit 22 is formed in the connecting piece 18, and the connecting piece 18 is further moved to a stage by an indicator piece 20. 14, the elongation of the lead during the coining process in the third step is effectively absorbed by the bending of the connecting piece 18, and deformation of the lead can be prevented. This connecting piece 1
8 is also connected to the stage 14 via the indicator piece 20, but since the indicator piece 20 is narrow and the connecting piece 18 is provided with a slit 22, the stage 14 due to the extension of the lead. Resistance from the sides is also absorbed by the effect of the slits 22, and deformation of the leads can be prevented. The heat treatment in the second step releases stress remaining in the lead frame blank 12 due to press working,
When the connecting piece 18 is separated in a later process, deformation of the lead due to residual stress is prevented. In the sixth step of removing the connecting piece 18, between the inner lead 12 and the connecting piece 18 and between the indicator piece 20 and the stage 14, that is, the connecting piece 18
Since the cutting is performed on both sides of the connecting piece 18, when separating the connecting piece 18 using a press die, the die hole can be formed to the size of the connecting piece 18 and the indicator piece 20 to be cut. 18 (and the indicator piece 20) are not directed to come into contact with the inner wall of the die hole and fly upwards of the mold, thereby preventing damage to the punch and occurrence of dents. In addition, notches 2 are provided on the sides of the stage 14 on both sides of the indicator piece 20.
4, even if the cutting line of the mold for cutting the indicating side 20 is slightly mismatched with the side of the stage 14, cutting can be performed without any problem.
【0008】図2は他の実施例を示す。本実施例では連
結片18にスリットを設けていない他は上記実施例と同
じである。スリットを設けずとも、連結片18を幅狭な
ものにすることによってコイニング加工によるインナー
リード12の伸びを十分に吸収することができ、リード
の変形を防止できる。FIG. 2 shows another embodiment. This embodiment is the same as the above embodiment except that the connecting piece 18 is not provided with a slit. Even without providing a slit, by making the connecting piece 18 narrow, it is possible to sufficiently absorb the elongation of the inner lead 12 due to the coining process, thereby preventing deformation of the lead.
【0009】上記各実施例では連結片18を指示片20
を介してステージ14に連結するようにしたが、指示片
を介してサポートバー16に連結するようにしてもよい
(図示せず)。この場合にも上記と同様の作用効果を奏
する。第1工程のブランク成形工程では必ずしもプレス
加工でなくともよく、化学的なエッチング加工によるの
であってもよい。また上記の各工程のうち、第2工程の
熱処理、第3工程のコイニング加工、第4工程のめっき
工程は必ずしも上記順でなくともよく、任意の順に変更
できる。また上記実施例ではクワッドタイプの例で説明
したが、DIPタイプ、その他のタイプのリードフレー
ムの製造にも適用しうることはもちろんである。In each of the above embodiments, the connecting piece 18 is replaced by the indicator piece 20.
In this embodiment, the support bar 14 is connected to the stage 14 through the support bar 16, but the support bar 16 may be connected to the support bar 16 through an indicator piece (not shown). In this case as well, the same effects as described above are achieved. The blank forming step of the first step does not necessarily have to be press working, but may be chemical etching. Further, among the above steps, the heat treatment in the second step, the coining process in the third step, and the plating step in the fourth step do not necessarily have to be in the above order, and can be changed in any order. Further, although the above embodiments have been explained using an example of a quad type, it is of course applicable to manufacturing DIP type and other types of lead frames.
【0010】0010
【発明の効果】本発明に係る半導体装置用リードフレー
ムの製造方法によれば、上述したように、第1工程のブ
ランク成形工程において、各群毎のインナーリードの先
端を連結片により接続し、この連結片を指示片によって
ステージもしくはサポートバーに接続しているので、イ
ンナーリード先端にコイニング加工を施した際のリード
の伸びが連結片が屈曲することによって効果的に吸収さ
れ、リードの変形を防止できる。この連結片にスリット
を設ければ、リードが伸びることによるステージ側から
の抵抗もスリットの効果により吸収され、リードの変形
を防止できるのである。また連結片の除去工程では、イ
ンナーリードと連結片との間および指示片とステージも
しくはサポートバーとの間、すなわち連結片の両サイド
において切断するので、プレス金型によって連結片の分
離を行う場合に、ダイ穴を切断すべき連結片および指示
片の大きさに形成すればよいから、分離された連結片(
および指示片)が、当該ダイ穴内壁に当接指示されて金
型上方にまいあがることがなく、ポンチの損傷、打痕の
発生などを防止できる。According to the method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to the present invention, as described above, in the first blank forming step, the tips of the inner leads of each group are connected by connecting pieces, Since this connecting piece is connected to the stage or support bar by the indicator piece, the elongation of the lead when coining is applied to the tip of the inner lead is effectively absorbed by the bending of the connecting piece, preventing deformation of the lead. It can be prevented. By providing a slit in this connecting piece, the resistance from the stage side due to the extension of the lead can be absorbed by the effect of the slit, and deformation of the lead can be prevented. In addition, in the process of removing the connecting piece, the connecting piece is cut between the inner lead and the connecting piece and between the indicator piece and the stage or support bar, that is, on both sides of the connecting piece, so when separating the connecting piece using a press mold. Since the die hole can be formed to the size of the connecting piece and the indicator piece to be cut, the separated connecting piece (
and the indicator piece) are directed to come into contact with the inner wall of the die hole and do not fly upwards of the mold, thereby preventing damage to the punch and occurrence of dents.
【図1】第1の実施例を示したリードフレームブランク
の部分平面図である。FIG. 1 is a partial plan view of a lead frame blank showing a first embodiment.
【図2】リードフレームブランクの他の実施例を示した
部分平面図である。FIG. 2 is a partial plan view showing another embodiment of a lead frame blank.
10 リードフレームブランク 12 インナーリード 14 ステージ 16 サポートバー 18 連結片 20 指示片 22 スリット 28 テープ片 10 Lead frame blank 12 Inner lead 14 Stage 16 Support bar 18 Connecting piece 20 Instruction piece 22 Slit 28 Piece of tape
Claims (4)
法において、複数群のインナーリードの各群のインナー
リード先端が連結片により連結され、該連結片が指示片
を介して半導体素子搭載用のステージもしくは該ステー
ジのサポートバーに連結されたリードフレームブランク
を形成するブランク成形工程と、該リードフレームブラ
ンクのインナーリード先端をコイニングするコイニング
工程と、前記リードフレームブランクの必要部にめっき
を施すめっき工程と、インナーリード間に絶縁性のテー
プ片を貼着するテープ貼着工程と、インナーリード先端
を連結片から分離し前記指示片をステージもしくはサポ
ートバーから分離する連結片の除去工程とを具備するこ
とを特徴とする半導体装置用リードフレームの製造方法
。1. In a method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device, the inner lead tips of each group of a plurality of groups of inner leads are connected by a connecting piece, and the connecting piece is connected to a stage or a stage for mounting a semiconductor element through an indicator piece. a blank forming process for forming a lead frame blank connected to a support bar of the stage; a coining process for coining the inner lead tips of the lead frame blank; and a plating process for plating necessary parts of the lead frame blank. The method includes a tape attaching step of attaching an insulating tape piece between the inner leads, and a connecting piece removal step of separating the inner lead tip from the connecting piece and separating the indicator piece from the stage or support bar. A method for manufacturing lead frames for semiconductor devices.
結片のほぼ全長に及ぶスリットを形成する工程を含むこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体装置用リードフレ
ームの製造方法。2. The method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, further comprising the step of forming a slit extending substantially over the entire length of the connecting piece in the blank forming step.
して内部残留応力を除去する熱処理工程を含むことを特
徴とする請求項1または2記載の半導体装置用リードフ
レームの製造方法。3. The method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, further comprising a heat treatment step of subjecting the lead frame blank to heat treatment to remove internal residual stress.
ある請求項1、2、または3記載の半導体装置用リード
フレームの製造方法。4. The method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, wherein the blank forming step is a press working step.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6871291A JP2955043B2 (en) | 1991-03-09 | 1991-03-09 | Method for manufacturing lead frame for semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6871291A JP2955043B2 (en) | 1991-03-09 | 1991-03-09 | Method for manufacturing lead frame for semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04280661A true JPH04280661A (en) | 1992-10-06 |
JP2955043B2 JP2955043B2 (en) | 1999-10-04 |
Family
ID=13381673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6871291A Expired - Lifetime JP2955043B2 (en) | 1991-03-09 | 1991-03-09 | Method for manufacturing lead frame for semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2955043B2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0604205A2 (en) * | 1992-12-23 | 1994-06-29 | Shinko Electric Industries Co. Ltd. | Lead frame and method for manufacturing it |
US6326678B1 (en) * | 1993-09-03 | 2001-12-04 | Asat, Limited | Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance |
US6552417B2 (en) | 1993-09-03 | 2003-04-22 | Asat, Limited | Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance |
-
1991
- 1991-03-09 JP JP6871291A patent/JP2955043B2/en not_active Expired - Lifetime
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US6326678B1 (en) * | 1993-09-03 | 2001-12-04 | Asat, Limited | Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance |
US6552417B2 (en) | 1993-09-03 | 2003-04-22 | Asat, Limited | Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance |
US6724071B2 (en) | 1993-09-03 | 2004-04-20 | Asat, Limited | Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2955043B2 (en) | 1999-10-04 |
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